JP5858166B2 - クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents
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Description
本発明は、ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS)、液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/MS)等、クロマトグラフと質量分析計とを組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置に関し、さらに詳しくは、質量分析計において既知の化合物に対する選択イオンモニタリング(SIM)測定、多重反応モニタリング(MRM)測定(「選択反応モニタリング(SRM)測定」ということもある)等の測定を行うクロマトグラフ質量分析装置に関する。
試料に含まれる様々な成分の定性や定量を行うために、ガスクロマトグラフ(GC)や液体クロマトグラフ(LC)等のクロマトグラフと四重極型質量分析計等の質量分析計とを組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置が広く利用されている。一般に、クロマトグラフ質量分析装置を利用して既知化合物の定量分析を行う場合には、予め指定された1乃至複数の特定の質量電荷比m/zを持つイオンのみを選択的に繰り返し検出するSIM測定法が用いられる。
また、GCやLC等のクロマトグラフと三連四重極型質量分析計とを組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置を利用して既知化合物の定量分析を行う場合には、1段目の四重極マスフィルタにおいて特定の質量電荷比を持つイオン(プリカーサイオン)を選択し、コリジョンセルでそのイオンを衝突誘起解離(CID)により開裂させ、それにより生成されたプロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を持つイオンを2段目の四重極マスフィルタにおいて選択して検出するMRM測定法が利用されている。MRM測定法では、2段階の四重極マスフィルタにより夾雑成分の影響を除去することができるので、信号のS/Nを向上させることができ、より高感度な定量が行えるという利点がある。
いずれにしても、クロマトグラフ質量分析装置を用いてSIM測定やMRM測定による定量分析を行う際には、測定条件の一つとして、複数の目的化合物の保持時間にそれぞれ合わせてその目的化合物に対応する質量電荷比値を設定しておく必要がある。例えば特許文献1、2に記載のクロマトグラフ質量分析装置では、測定対象である化合物に関する情報を記載した化合物テーブルを分析者が作成しておくと、該化合物テーブルの記載情報に基づいて測定条件であるパラメータテーブルを自動的に作成する機能が備えられている。従来のクロマトグラフ質量分析装置における、こうしたパラメータテーブル自動作成機能について、具体例を挙げて説明する。
図13は化合物テーブルの一例である。図示するように、化合物テーブルには、化合物毎に、化合物名、予測される保持時間、プロセス時間、定量イオンの質量電荷比、確認イオンの質量電荷比などの情報が含まれる。定量イオンはその化合物を最も特徴付けるイオンである。また、確認イオンはその化合物を特徴付ける、定量イオンとは別の質量電荷比を持つイオンである。この確認イオンは一般に、マススペクトル上において確認イオンピークの信号強度と定量イオンピークの信号強度との相対比率を用い、定量イオンのクロマトグラムピークが目的化合物由来のものであることを確認するために利用される。保持時間は液体クロマトグラフのカラムから溶出する時間の予測値である。また、プロセス時間は予測保持時間を中心としてその化合物を測定すべき時間範囲を指定するためのパラメータであり、ピーク幅や保持時間の変動を吸収できるようなマージンを含めて必要な時間幅が設定される。したがって、或る化合物の保持時間が変動した場合であっても、該化合物の保持時間±プロセス時間の範囲内に、その化合物のピークが確実に現れる。クロマトグラム上における或る化合物のピークと保持時間及びプロセス時間との関係を図14に示す。
測定メソッドのパラメータテーブルの自動作成処理では、上記のような化合物テーブルに基づいて測定時間を適宜に区切ったセグメントの設定が行われる。セグメントは測定対象のイオン条件などの測定条件を設定するための最小時間単位であり、このセグメント毎に測定条件を切り替えることが可能である。
従来のパラメータテーブル自動作成処理では、測定対象である化合物の保持時間の間隔が充分に空いている時刻にセグメントの境界が自動的に設定される。具体的には、
[或る化合物Xの保持時間+A]<[保持時間が次に大きな化合物X+1の保持時間−A] (ただし、±A:プロセス時間) …(1)
という条件式を満たす場合に、化合物Xに対する溶出時間範囲(保持時間±A)と化合物X+1に対する溶出時間範囲とが重ならない時間位置、典型的には、化合物Xの保持時間と化合物X+1の保持時間との中間の時間位置にセグメント境界が設定され、該境界により測定時間は別のセグメントに分割される。
[或る化合物Xの保持時間+A]<[保持時間が次に大きな化合物X+1の保持時間−A] (ただし、±A:プロセス時間) …(1)
という条件式を満たす場合に、化合物Xに対する溶出時間範囲(保持時間±A)と化合物X+1に対する溶出時間範囲とが重ならない時間位置、典型的には、化合物Xの保持時間と化合物X+1の保持時間との中間の時間位置にセグメント境界が設定され、該境界により測定時間は別のセグメントに分割される。
図15はセグメント分割手法を説明するためのクロマトグラムであり、(a)に示すように化合物Xと化合物X+1の溶出時間範囲の一部が重なっている場合にはセグメント境界は設定されない。つまりは、この場合、化合物Xと化合物X+1とは同じセグメントに属することになる。一方、(b)に示すように化合物Xと化合物X+1の溶出時間範囲に重なりがない場合には、化合物Xの保持時間と化合物X+1の保持時間との中間にセグメント境界が定められる。したがって、化合物Xと化合物X+1とは別のセグメントに属することになる。こうしたアルゴリズムに従って、化合物テーブルに列記されている全ての化合物(又は分析者により指定された一部の化合物)についてセグメントを定めることができる。
図16は図13に示した化合物テーブルに基づいて自動的に作成される測定メソッドのパラメータテーブルの一例である。パラメータテーブルでは、一つの化合物に対する測定条件が「測定イベント」として1行にまとめられている。各測定イベントには、化合物名のほか、当該化合物の測定が行われるセグメントの番号(以下セグメント番号は「#」を付して記す)、測定開始時間、測定終了時間、イベント時間、測定イオンの質量電荷比、ドウェル(Dwell)時間などを含む。測定イオンの質量電荷比には、測定対象の化合物の、定量イオンの質量電荷比m/z-1及び確認イオンの質量電荷比m/z-2が設定される。測定開始時間及び測定終了時間はそのセグメントの開始時刻及び終了時刻である。イベント時間は測定イベントの繰り返しの単位時間である。またドウェル時間は実際に検出器がイオンを取り込んで積算する時間、つまりデータ収集時間である。
図13及び図16の例では、化合物Tと次に保持時間が大きな化合物Uとの間で上記条件式(1)を満たす充分な時間間隔が存在するので、そこにセグメント境界が設定され、その境界の前方はセグメント#1、後方はセグメント#2となる。化合物A〜Tは全て、測定開始時間が10.000[min]、測定終了時間が11.458[min]であるセグメント#1の期間中に測定するように割り当てられる。図5は、図16で示されるセグメントと化合物との対応関係を横軸を時間として表した模式図である。
イベント時間は、予め設定されるループ時間と呼ばれる測定点時間間隔と、一つのセグメントにおいて測定される化合物の数とから自動的に算出される。図16はループ時間が300[msec]に設定されている場合の例である。各化合物由来のイオンをループ時間300[msec]の間隔で測定する必要があり、セグメント#1では測定対象の化合物は20種類あるため、各化合物に割り当てられるイベント時間は、300[msec]/20=15[msec]となる。一方、セグメント#2では測定対象の化合物は化合物Uの1種類のみあるため、該化合物にはループ時間と同じ300[msec]がイベント時間として割り当てられる。
上述したようにドウェル時間は実際に検出器がイオンを取り込む時間であり、イベント時間はこのドウェル時間のほか、四重極マスフィルタへの印加電圧が変更されたときに電圧が安定するまでの待ち時間(以下「電圧安定待ち時間」という)を含む。また、ドウェル時間は1回のイベント時間中に測定すべきイオンの数にも依る。したがって、各イオンに対するドウェル時間Tdは、次の(2)式により求まる。
Td=(イベント時間−電圧安定待ち時間)/[測定対象イオン数] …(2)
図16の例では、一つの測定対象イオン当たりの電圧安定待ち時間を1[msec]としており、その結果、各イオンに対するドウェル時間Tdは(15-1×2)/2=6.5[msec]、である。
Td=(イベント時間−電圧安定待ち時間)/[測定対象イオン数] …(2)
図16の例では、一つの測定対象イオン当たりの電圧安定待ち時間を1[msec]としており、その結果、各イオンに対するドウェル時間Tdは(15-1×2)/2=6.5[msec]、である。
ドウェル時間が短すぎると、検出器により得られる信号強度データにはドリフトやノイズなどの外的要因の影響が相対的に現れ易くなり、充分な測定再現性を確保することが困難になる。したがって、正確な定量を行うためには、ドウェル時間を或る程度以上長く確保する必要がある。ドウェル時間を長くするにはイベント時間を長くする必要があり、できる限りセグメントの区切りを増やして一つのセグメントに割り当てられる測定対象化合物の数を減らすことが望ましい。しかしながら、上述した従来のパラメータテーブル自動作成アルゴリズムでは、保持時間が近い化合物が多数あった場合に細かくセグメントを設定することができず、一つのセグメントに多数の化合物が割り当てられてしまう。その結果、各イオンに対するドウェル時間は必然的に短くなってしまい、充分な測定再現性や測定感度を得ることができずに定量精度が低下することがあった。実際上、図13、図16の例では、化合物A〜Tが一つのセグメントに割り当てられることになり、その結果、ドウェル時間は短くなっている。
一方、長いドウェル時間を確保するために、分析者(ユーザ)が自ら、つまり手動操作により、セグメントを細かく分割することも可能である。しかしながら、単にセグメントを細分化しただけでは、一部の化合物において、保持時間±Aで決まる溶出時間範囲の一部がセグメント境界に掛かってしまいその溶出時間範囲の一部においてデータ収集を行えなくなるおそれがある。そうした場合、夾雑成分の影響等によってその化合物の保持時間が変動すると(即ち、図14中に点線で示したようにピーク位置がずれると)、クロマトグラム上で該化合物に対応したピークの一部が欠けてしまい、ピーク面積が正確に求まらないために定量性を大きく損なうことになる。
また、長いドウェル時間を確保するためにループ時間自体を長くすることも考えられるが、ループ時間を長くすると、測定時間間隔が広がってしまい一つのピークを構成するデータ点数が少なくなる。その結果、ピークトップを適切に捉えられない、ピークの立ち上がり・立ち下がりのカーブの形状の近似性が悪化する、といった問題があり、やはりピーク面積の精度が落ちて定量性の低下に繋がる。
本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、測定対象化合物の全てについて、各化合物由来のイオンそれぞれに対するドウェル時間、ループ時間、さらには保持時間を中心とする溶出時間範囲ができるだけ要求値を満たすように適切にセグメントを設定することにより、高精度の定量分析を行うことができるクロマトグラフ質量分析装置を提供することにある。
上記課題を解決するために成された本発明は、試料中の複数の化合物を時間方向に分離するクロマトグラフと、該クロマトグラフで分離された化合物由来のイオンを質量電荷比に応じて分離して検出する質量分析装置と、を組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置であって、前記質量分析装置は、目的化合物に対応するクロマトグラムピークの前後で1乃至複数の特定の質量電荷比に対する選択イオンモニタリング(SIM)測定又は多重反応モニタリング(MRM)測定を実行するクロマトグラフ質量分析装置において、
a)測定対象である化合物毎に少なくとも、予測される保持時間又は溶出時間範囲、測定すべき1又は複数の質量電荷比、を特定する情報を含む化合物テーブルを記憶しておく化合物テーブル保持部と、
b)前記化合物テーブルに挙げられている各化合物についてSIM測定又はMRM測定を実行するために、該化合物テーブルに含まれる情報に基づいて、測定対象である化合物毎に少なくとも、実際の測定開始時間及び測定終了時間、並びに測定する質量電荷比を特定する情報を含む測定条件テーブルを作成する測定条件情報作成部と、
を備え、前記測定条件情報作成部は、
b1)前記化合物テーブルに含まれる各化合物の溶出時間範囲が重ならない時間位置に境界を定めることで測定時間単位であるセグメントを設定し、各セグメントにそれぞれ1又は複数の測定対象の化合物を割り当てる1次セグメント設定部と、
b2)前記1次セグメント設定部により設定された各セグメントにおいて、当該セグメントに割り当てられた化合物の数と、予め与えられた各イオンの測定点時間間隔であるループ時間と、一つの化合物について測定すべきイオンの数と、に基づいて、一つの化合物に由来する一つのイオン当たりのデータ収集時間であるドウェル時間を計算し、該ドウェル時間が予め与えられたドウェル時間下限値を下回るか否か判定する1次判定部と、
b3)前記1次判定部により、或る一つのセグメントにおいて計算されたドウェル時間が予め与えられたドウェル時間下限値を下回ると判定された場合に、ドウェル時間が該下限値以上となるように、当該一つのセグメントを強制的に複数のセグメントに分割した上で、その新たに定められたセグメント境界を跨るような溶出時間範囲を持つ化合物については、そのセグメント境界を挟む両側のセグメントでそれぞれ測定を行うように該化合物を割り当てるべくセグメント再分割及び化合物の再割当てを実行するセグメント分割処理部と、
を有することを特徴としている。
a)測定対象である化合物毎に少なくとも、予測される保持時間又は溶出時間範囲、測定すべき1又は複数の質量電荷比、を特定する情報を含む化合物テーブルを記憶しておく化合物テーブル保持部と、
b)前記化合物テーブルに挙げられている各化合物についてSIM測定又はMRM測定を実行するために、該化合物テーブルに含まれる情報に基づいて、測定対象である化合物毎に少なくとも、実際の測定開始時間及び測定終了時間、並びに測定する質量電荷比を特定する情報を含む測定条件テーブルを作成する測定条件情報作成部と、
を備え、前記測定条件情報作成部は、
b1)前記化合物テーブルに含まれる各化合物の溶出時間範囲が重ならない時間位置に境界を定めることで測定時間単位であるセグメントを設定し、各セグメントにそれぞれ1又は複数の測定対象の化合物を割り当てる1次セグメント設定部と、
b2)前記1次セグメント設定部により設定された各セグメントにおいて、当該セグメントに割り当てられた化合物の数と、予め与えられた各イオンの測定点時間間隔であるループ時間と、一つの化合物について測定すべきイオンの数と、に基づいて、一つの化合物に由来する一つのイオン当たりのデータ収集時間であるドウェル時間を計算し、該ドウェル時間が予め与えられたドウェル時間下限値を下回るか否か判定する1次判定部と、
b3)前記1次判定部により、或る一つのセグメントにおいて計算されたドウェル時間が予め与えられたドウェル時間下限値を下回ると判定された場合に、ドウェル時間が該下限値以上となるように、当該一つのセグメントを強制的に複数のセグメントに分割した上で、その新たに定められたセグメント境界を跨るような溶出時間範囲を持つ化合物については、そのセグメント境界を挟む両側のセグメントでそれぞれ測定を行うように該化合物を割り当てるべくセグメント再分割及び化合物の再割当てを実行するセグメント分割処理部と、
を有することを特徴としている。
本発明において、或る化合物の「溶出時間範囲」とはその化合物の予測保持時間から前後に、ピーク幅、ピークの位置変動などを見込んで定められた所定の時間幅を確保して設定された時間範囲である。該時間幅はマージンをどの程度考慮するかにより変わるから、予めデフォルトとして定めておいてもよいが、分析者が入力設定できるようにしてもよい。該時間幅がデフォルトで定まっている場合には、保持時間が決まれば溶出時間範囲は一義的に決まるから、化合物テーブル中で各化合物に対応付けて溶出時間範囲を定めておくことができる。また、化合物テーブル中で各化合物に対応付けて保持時間のみが定められている場合には、その保持時間とデフォルトの又は外部から指示された時間幅とから各化合物の溶出時間範囲を算出可能である。また、「予め与えられた各イオンの測定点時間間隔であるループ時間」及び「予め与えられたドウェル時間下限値」についても、予めデフォルトとして定めておいてもよいが、分析者が入力設定できるようにしてもよい。
本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において、1次セグメント設定部は、化合物テーブルに含まれる各化合物の溶出時間範囲が重ならない時間位置に境界を定めて該境界で時間を区切ることでセグメントを設定し、各セグメントにそれぞれ1又は複数の測定対象の化合物を割り当てる。このときには、一つの化合物の溶出時間範囲がセグメント境界を跨ぐことはないから、一つの化合物は一つのセグメントのみに割り当てられる。また、保持時間が近い化合物が多ければ、一つのセグメントに多数の化合物が割り当てられるし、逆に時間的に前後に保持時間が近い化合物が存在しなければ、一つのセグメントに一つのみの化合物が割り当てられることになる。
上述したように、各化合物由来のイオンはループ時間で決まる測定時間間隔毎に必ず測定する必要がある。そのため、一つのセグメントに割り当てられた化合物の数が多いと、一つの化合物に対し割り当てられる測定時間(上述のイベント時間)が短くなり、これに伴いドウェル時間も短くなる。そこで、1次判定部は、各セグメントにおいて、当該セグメントに割り当てられた化合物の数と、予め与えられているループ時間と、一つの化合物について測定すべきイオンの数と、に基づいて、ドウェル時間を計算する。そして、算出されたドウェル時間がドウェル時間下限値を下回るか否か判定する。
算出されたドウェル時間がドウェル時間下限値以上であるセグメントについては何ら問題はないが、算出されたドウェル時間がドウェル時間下限値未満であると、当該セグメントに割り当てられている化合物由来のイオンを測定する際に、充分なSN比や感度が得られない可能性がある。そこでセグメント分割処理部は、算出されたドウェル時間がドウェル時間下限値を下回るセグメントについて、まず、そのセグメントを強制的に複数のセグメントに分割する。
セグメント再分割により新たに定められたセグメント境界は、1次セグメント設定部においてセグメント境界を定める際の条件を満たさない。そのため、分割前の当該セグメントに割り当てられている化合物のうちの少なくとも一つの化合物の溶出時間範囲は、新たに定められたセグメント境界を跨ぐことになる。そこで、その新たに定められたセグメント境界を跨るような溶出時間範囲を持つ化合物については、そのセグメント境界を挟む両側のセグメントでそれぞれ測定を行うように該化合物を割り当てる。このときには、一つの化合物は一つのセグメントのみでなく、時間的に隣接する複数のセグメントに割り当てられることになる。それによって、ピークの位置ずれが生じた場合でも、ピークを構成するデータの一部が得られずにピーク欠けが起こることを回避することができる。
一つのセグメントを強制的に複数に分割し、化合物を再割り当てすることにより、各セグメントに割り当てられる化合物の数は減る筈である。したがって、セグメント再分割及び化合物の再割当ての実行前に比べればドウェル時間は長くなり、ドウェル時間下限値以上となる可能性が高まる。一般的には、一つのセグメントを強制的に分割する際の分割数が多ければ、一つのセグメント当たりの化合物数が少なくなる可能性がそれだけ高く、ドウェル時間は長くなる傾向にある。ただし、一つのセグメントを強制的に複数に分割したときでも確実にドウェル時間がドウェル時間下限値以上となるとは限らない。
そこで本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において好ましくは、一つのセグメントを強制的に複数に分割するセグメント再分割及び化合物の再割当てを実行したあとに、その再分割により生成された各セグメントにおいてドウェル時間を再計算し、該ドウェル時間が予め与えられたドウェル時間下限値を下回るか否か判定する2次判定部を有し、
セグメント分割処理部は、前記2次判定部により、再計算されたドウェル時間がドウェル時間下限値を下回ると判定された場合には、分割前の一つのセグメントを強制的に分割する分割数又は分割の位置を変更してセグメント再分割及び化合物の再割当てをやり直す構成とするとよい。
セグメント分割処理部は、前記2次判定部により、再計算されたドウェル時間がドウェル時間下限値を下回ると判定された場合には、分割前の一つのセグメントを強制的に分割する分割数又は分割の位置を変更してセグメント再分割及び化合物の再割当てをやり直す構成とするとよい。
この構成によれば、2次判定部によるドウェル時間の判定とセグメント分割処理部にセグメント再分割及び化合物の再割当てとを繰り返すことによって、ドウェル時間がドウェル時間下限値以上となるような適切な条件を見つけることができる可能性が高まる。
また、一つのセグメントを強制的に複数に分割する手法としては、例えば、当該セグメントに割り当てられている複数の化合物を、保持時間が隣接する既定の個数の化合物毎に分けることで、新たなセグメント境界を定めるようにすることができる。また、化合物の個数ではなく、例えば2分割、3分割等、分割数を指定して一つのセグメントを強制的に複数に分割するようにしてもよい。
分割後の一つのセグメントに含まれる化合物の個数を定めてセグメント再分割を実行する場合、まず化合物の個数の初期値を適宜指定し、セグメント再分割及び化合物の再割当てをやり直す毎に、化合物の個数を初期値から順に増加又は減少させるようにするとよい。前述したように、一つのセグメントに割り当てられる化合物の数が少ないほどドウェル時間は長くなる傾向にあるから、ドウェル時間のみを考えるのであれば、分割数は多いほうがよい。ところが、セグメントの総数や測定条件テーブルの行数(各セグメントに割り当てられている化合物の数の累積数)には装置の仕様上の制約があるのが一般的であって、セグメントの分割数を増やしすぎるとこの制約条件を満たせなくなる。
そこで、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において、セグメント分割処理部は、ドウェル時間がドウェル時間下限値以上であるとともに、セグメントの総数及び/又は測定条件テーブルの行数が既定値以内に収まるように、セグメント再分割及び化合物の再割当てを実行するとよい。
また、例えば、保持時間が近い化合物の数が異常に多い、或いは、ドウェル時間下限値やループ時間などの設定値が不適切である、といった場合には、どのようにセグメントを分割し直しても、指定された条件を満たせないことがある。そこで本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において好ましくは、指定された条件を満たせない場合又は満たせない可能性が高いと判断した場合に、条件を変更するように注意を喚起する注意喚起部をさらに備える構成とするとよい。具体的には、例えばドウェル時間やループ時間などを分析者が入力設定する構成の場合には、そうした入力設定が適切でないことを示す注意喚起表示を表示画面上に出力するとよい。
本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置によれば、保持時間が近い測定対象化合物が多数ある場合であっても、分析者(ユーザ)が煩雑な計算や操作・作業を行うことなく、測定対象である全ての化合物由来のイオンに対するドウェル時間が要求値以上となるような測定メソッドのパラメータテーブルが自動的に作成される。これにより、分析者の負担を軽減しつつ、全ての測定対象化合物について充分に高い測定再現性や測定感度を確保しつつデータを収集することができ、それによって、クロマトグラム上のピーク面積等から計算される定量値の精度や再現性を向上させることができる。
以下、本発明の第1実施例である液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/MS)について、添付図面を参照して説明する。
図1は第1実施例によるLC/MSの要部の構成図である。本実施例のLC/MSは、試料中に含まれる各種化合物を時間方向に分離する液体クロマトグラフ部(LC部)1と、分離された各種化合物を質量分析する質量分析部(MS部)2と、を含む。
LC部1は、移動相を貯留した移動相容器11、移動相を吸引して一定流量で送り出す送液ポンプ12、所定タイミングで試料を移動相中に注入するインジェクタ13、試料中の各種化合物を時間方向に分離するカラム14、を含む。
MS部2は、カラム14から溶出する化合物を含む溶出液を大気雰囲気中にエレクトロスプレーしてイオン化するスプレーノズル21、試料中の化合物由来のイオンを真空雰囲気中に案内する加熱キャピラリ22、イオンを収束させつつ後段に輸送するイオンガイド23、24、特定の質量電荷比を持つイオンのみを通過させる四重極マスフィルタ25、及び、四重極マスフィルタ25を通り抜けてきたイオンを検出する検出器26、を含む。
MS部2の検出器26で得られる検出信号は図示しないA/D変換器でデジタル値に変換されたあと、データ処理部3に入力される。データ処理部3は所定の演算処理を行うことによりマススペクトルやクロマトグラムを作成したり定量分析を遂行したりする。制御部4はLC部1、MS部2、データ処理部3の動作をそれぞれ制御する。この制御部4は本発明に特徴的な機能ブロックとしての測定メソッド生成部41を含み、また制御部4には、化合物テーブルや測定メソッドパラメータテーブルが格納される記憶部5、分析者(ユーザ)が操作するキーボードやポインティングデバイスなどの入力部6、分析者が入力設定した情報や分析結果を表示するための表示部7が接続されている。
なお、データ処理部3及び制御部4は、CPU、メモリなどを含んで構成されるパーソナルコンピュータ(PC)をハードウエアとし、PCに予めインストールされた制御/処理ソフトウエアを該PCで実行することによりその機能を実現することができる。
なお、データ処理部3及び制御部4は、CPU、メモリなどを含んで構成されるパーソナルコンピュータ(PC)をハードウエアとし、PCに予めインストールされた制御/処理ソフトウエアを該PCで実行することによりその機能を実現することができる。
本実施例のLC/MSにより、試料に含まれる既知化合物の定量分析を行う際の動作の一例を簡単に説明する。この場合、MS部2の四重極マスフィルタ25は、定量対象である化合物(以下、目的化合物という)由来のイオンの質量電荷比を選択的に通過させるようにSIM測定モードで駆動される。
送液ポンプ12によりカラム14に略一定流量で移動相が送給されている状態で、インジェクタ13はその移動相中に試料を注入する。注入された試料は移動相の流れに乗ってカラム14に導入され、カラム14を通過する間に試料中の各種化合物は時間的に分離される。試料注入時点を基準として所定の時間が経過した時点付近(つまり、目的化合物の保持時間近傍)でカラム14出口から目的化合物は溶出し、該目的化合物はMS部2のスプレーノズル21に達して該化合物由来のイオンが生成される。このイオンは加熱キャピラリ22、イオンガイド23、24を経て四重極マスフィルタ25に導入される。四重極マスフィルタ25はその目的化合物由来の特定の質量電荷比をもつイオンのみを選択的に通過させ、通過したイオンは検出器26に到達して検出される。データ処理部3は検出器26から得られる検出信号に基づくデータにより、上記特定の質量電荷比におけるイオン強度と時間経過との関係を示すマスクロマトグラム(抽出イオンクロマトグラムとも呼ばれる)を作成する。
試料に目的化合物が含まれていれば、上記マスクロマトグラム上で目的化合物の保持時間近傍にピークが現れる。そこでデータ処理部3は、マスクロマトグラム上で目的化合物由来のピークを抽出し、そのピーク面積値を計算する。そして、予め標準試料等を測定した結果により作成してあるピーク面積値と目的化合物の濃度(含有量)との関係を示す検量線を参照し、目的化合物の濃度を算出する。定量対象の化合物が複数ある場合には、化合物毎に異なる質量電荷比に対するSIM測定を行って得られたデータに基づきマスクロマトグラムを作成し、上記と同様にそれぞれ目的化合物由来のピークの面積値を求め、その面積値から当該化合物の濃度を算出する。
本実施例のLC/MSにおいて、制御部4は、記憶部5の測定メソッドパラメータテーブル格納部52に格納されているパラメータテーブルに従って、LC部1、MS部2及びデータ処理部3の動作を制御する。特に多成分一斉分析のように、試料に含まれる多数の化合物を1回の試料注入で以て定量する場合、パラメータテーブルを分析者自身が手作業で作成するのは大変煩雑でありミスも生じ易い。そのため、制御部4は、化合物テーブルからパラメータテーブルを自動的に作成する測定メソッド生成部41を備えており、この測定メソッド生成部41は従来のパラメータテーブル自動生成とは異なる特徴的な機能を有している。
以下、この測定メソッド生成部41を中心に実行される、特徴的な測定メソッドパラメータテーブル作成処理について、より詳しくは、特徴的な自動セグメント分割処理について詳細に説明する。
図3及び図4は、測定メソッドパラメータテーブル作成処理の中で特徴的である自動セグメント分割処理時のフローチャートである。ここでは、図13に示した化合物テーブルが予め化合物テーブル格納部51に格納されており、この化合物テーブルを対象としパラメータテーブルを自動的に作成する場合を例に挙げて説明する。
図3及び図4は、測定メソッドパラメータテーブル作成処理の中で特徴的である自動セグメント分割処理時のフローチャートである。ここでは、図13に示した化合物テーブルが予め化合物テーブル格納部51に格納されており、この化合物テーブルを対象としパラメータテーブルを自動的に作成する場合を例に挙げて説明する。
分析者は測定メソッドパラメータテーブル作成処理に先立って、入力部6より、ドウェル時間下限値D、ループ時間R、及びプロセス時間±Aなどを測定条件として入力設定する(ステップS1)。具体的には、分析者が入力部6で所定の操作を実行すると、図2に示すような入力設定画面100が表示部7の画面上に表示される。そこで分析者は、テキスト入力欄101にそれぞれ適宜の数値を入力する。この例では、Dwell時間Dが10[msec]、ループ時間Rが300[msec]、プロセス時間±Aが±0.1[min]である。このDwell時間Dは上記ドウェル時間下限値であり、以下、ドウェル時間下限値Dと記す。
上記入力設定が終了した状態で、分析者が「自動作成」ボタン102をクリック操作すると、測定メソッド自動作成処理の実行が指示される(ステップS2)。この指示を受けて測定メソッド生成部41は、指定された化合物テーブルを化合物テーブル格納部51から読み出し、まず、該化合物テーブルに掲載されている各化合物の保持時間と設定されたプロセス時間とに基づいて、従来と同様に、測定時間全体又はその一部を適宜に区切ったセグメントを設定する(ステップS3)。具体的には、(1)式に示した条件式を満たすような保持時間が隣接する二つの化合物を探索し、その二つの化合物の保持時間の中間点をセグメント境界として時間を区切る。既に述べたように、図13に示した化合物テーブルでは、化合物Tと化合物Uという二つの化合物が条件式(1)を満たすから、化合物T、Uの保持時間の中間点である11.458(min)にセグメント境界を設定し、その境界の前方をセグメント#1、後方をセグメント#2とする。このときのセグメントと化合物との関係は上述した図5に示すようになる。このステップS3の処理は本発明における1次セグメント設定部における処理に相当する。
次に、上記のように1次的にセグメント分割が実施された状態で、各セグメントにおいてイベント時間及び各イオンのドウェル時間を計算する(ステップS4)。イベント時間は、ステップS1で入力設定されたループ時間Rをそのセグメントに割り当てられている化合物の数で除することで得られる。例えば図5においてセグメント#1には20個の化合物が割り当てられているため、イベント時間は、300[msec]/20=15[msec]、である。また、一つの化合物に対し測定対象イオンは二つ(定量イオンm/z-1、確認イオンm/z-2)であるから、電圧安定待ち時間が1[msec]であるとすると、各イオンに対するドウェル時間は(15-2)/2=6.5[msec]、となる。一方、セグメント#2には1個の化合物しか割り当てられていないため、イベント時間は、300[msec]/1=300[msec]、であり、各イオンに対するドウェル時間は(300-2)/2=149[msec]、となる。
次いで、測定メソッド生成部41においては、変数nを1に設定し(ステップS5)、ステップS4で計算されたセグメント#nのドウェル時間がステップS1で入力設定されたドウェル時間下限値D以上であるか否かを判定する(ステップS6)。そして、セグメント#nのドウェル時間がドウェル時間下限値D以上であれば、当該セグメントについてはステップS7〜S12の処理、つまりはセグメントの細分化処理を実施することなくステップS6からS13へと進む。ステップS5の後に最初にステップS6を実行するときにはn=1であるから、セグメント#1についてドウェル時間がドウェル時間下限値D以上であるか否かを判定する。このステップS6の処理は本発明における1次判定部の処理に相当する。
ステップS6でNoと判定された場合には、セグメント#nのドウェル時間はドウェル時間下限値の要求を満たさないので、ドウェル時間を増やすために当該セグメントの細分化を試みる。図5の例では、上述したようにセグメント#1におけるドウェル時間は6.5[msec]であるため、ドウェル時間下限値D=10.0[msec]を下回る。したがって、n=1においてはステップS6からS7へと進むことになる。ステップS7においては、当該セグメント#nに割り当てられている化合物の全てについて、保持時間が小さい順にc個ずつの化合物が含まれるように強制的に一つのセグメント#nを細分化する。ここで、cの初期値は「1」でもよいが、一般にc=1では小さすぎて後述するセグメント総数の条件を満たさない場合が多いので、cの初期値は2〜5程度とするとよい。ここでは一例としてcの初期値を「4」と定めている。
即ち、図5の例では、セグメント#1には全部で20個の化合物A〜Tが割り当てられているから、保持時間が小さい順に4個ずつの化合物をまとめて新たなセグメント境界を設定し、セグメント#1を再分割する。その結果、図6に示すように、再分割前の一つのセグメント#1は五つに分割され、その新たなセグメントにはそれぞれ異なる4個ずつの化合物が割り当てられる。セグメント境界はその前後の化合物の保持時間の中間の時間に設定すればよい。
ステップS7の処理により一つのセグメントに割り当てられる化合物の数は当然少なくなるが、強制的にセグメント境界を設定したわけであるから、一部の化合物の溶出時間範囲はセグメント境界を跨ぐことになる。例えば化合物Aの溶出時間範囲は10.222±0.1[min](つまりは10.122〜10.322[min])であるが、再分割により生成されたセグメント#1と#2との境界は10.260[min]であるから、化合物Aの溶出時間範囲はセグメント#1と#2との境界を跨ぐ。したがって、図5に示されているように、再分割後のセグメント#1でのみ化合物Aの測定を行うとすると、化合物Aのピークが位置ずれを起こしたときにピークの一部(後部)が欠損するおそれがある。そこで、保持時間±Aである溶出時間範囲が新たに設定されたセグメント境界を跨ぐような化合物については、その境界を挟んだ二つのセグメントの両方でそれぞれ測定を行うように化合物の割当てを調整する(ステップS8)。
例えば、上述した化合物Aの溶出時間範囲は新たに生成されたセグメント#1と#2との境界を跨ぐから、セグメント#1だけでなくセグメント#2にも化合物Aを割り当てる。また、化合物F、Gの溶出時間範囲は、新たに生成されたセグメント#1と#2との境界のみならず、新たに生成されたセグメント#2と#3との境界も跨ぐ。したがって、セグメント#1〜#3の三つのセグメントに化合物F、Gをそれぞれ割り当てる。図6の例に対し、こうした化合物の再割当てを分割前のセグメント#1に含まれる全ての化合物について行うと、セグメントと化合物との関係は図7に示すようになる。当然のことながら、化合物の再割当てを行うと、一つのセグメントに割り当てられる化合物の数は増える(例えば図6、図7の例では新セグメント#1では化合物数は4→7に増加)が、たとえピークの位置がずれてもピークを欠損なく再現できるので、定量性を損なうことがない。
次に、セグメント#nを細分化することで生成された新たなセグメントの全てにおいて、それぞれ計算されるドウェル時間がドウェル時間下限値以上であるか否かを判定する(ステップS9)。図7の例では、新たなセグメント#1に割り当てられている化合物数は7であるから、イベント時間は、300[msec]/7=42[msec]、である。一つの化合物に対し測定対象イオンは二つであるから、各イオンに対するドウェル時間は(42-2)/2=20[msec]、となる。また、新たなセグメント#2に割り当てられている化合物数は10であるから、イベント時間は300[msec]/10=30[msec]、ドウェル時間は(30-2)/2=14[msec]、となる。他のセグメントも含め、分割前のセグメント#1から新たに生成されたセグメント全てでドウェル時間はドウェル時間下限値以上である。したがって、ステップS9からS11へと進むことになる。
次に、その時点でのセグメントの総数とイベントの総数とを計算し、それぞれ装置に予め定められているセグメント数上限値、イベント数上限値以下に収まっているか否かを判定する(ステップS11)。この例では、セグメント数上限値は128、イベント数上限値は512であり、これらは装置の仕様上の制約に基づくものであるから、装置によってその上限値は相違する。セグメント総数及びイベント総数がそれぞれセグメント数上限値及びイベント数上限値を超えてしまった場合、仮にドウェル時間がドウェル時間上限値以上であったとしてもそうした測定は実現不可能である。そこで、ステップS11でNoと判定された場合には、セグメント再分割のための化合物数のパラメータcを1だけ増加させ(ステップS12)ステップS7に戻って、セグメント#nの再分割及び化合物の再割当てをやり直す。cの値を増加させると、通常、セグメント分割数は減るため、ドウェル時間は短くなる可能性はあるものの、その代わりにセグメント総数やイベント総数は少なくなる。したがって、cを順次増加させてゆくと、ドウェル時間がドウェル時間下限値以上を保ちつつ、セグメント総数及びイベント総数がそれぞれセグメント数上限値及びイベント数上限値以内に収まる状態を見出すことができる。
図7の例では、最初にステップS11にきたときにセグメント総数は6、イベント総数は7+10+10+7+6+1=41である。したがって、ステップS11ではYesと判定されステップS13へと進む。ステップS13では、再分割前のセグメント#nが最終セグメントであるか否かを判定し、最終セグメントでなければ変数nをインクリメントして(ステップS13)ステップS6へと戻る。したがって、ステップS3で設定された全てのセグメントについて時間順に処理が遂行され、最終セグメントまでくるとステップS13でYesと判定されて処理が終了する。
上述したようにn=1であるセグメント#1の再分割処理及び化合物の再割当てが終了し、ステップS13に至ると、このセグメント#1は最終セグメントではないため、n=2になってステップS6へと戻る。再分割処理前のセグメント#2においてはドウェル時間はドウェル時間下限値を大きく超えているから、ステップS6からS13と進み、ステップS13でYesと判定されて全処理を終了する。
この実施例のアルゴリズムでは、ステップS12においてcの値を増加させてセグメント再分割及び化合物の再割当てを繰り返す場合、ドウェル時間は短くなることはあっても長くなることは期待できない。即ち、cが初期値であるときのドウェル時間が最長である。したがって、ステップS9でNoと判定された場合にはドウェル時間がドウェル時間下限値以上となるようなパラメータを見つけられないので、表示部7の画面上に注意喚起表示を出力した後にそのまま待機する(ステップS10)。この表示を見た分析者は、例えば図2に示した入力設定画面100に戻って例えばドウェル時間下限値を変更する等の適宜の処置を行って再度パラメータテーブル自動作成を指示するか、或いは、要求されるドウェル時間下限値を下回るセグメントが一部存在することを了解した上でパラメータテーブル自動作成を継続するか否かを指示できるようにする。分析者が後者を指示した場合、ステップS11へ進んで処理を継続する。即ち、この場合には、要求されるドウェル時間下限値を満たさないものの、ドウェル時間をできる限り長くしたパラメータテーブル自動作成を試みることができる。
図8は図13に示した化合物テーブルに基づいて自動的に作成される測定メソッドのパラメータテーブルの一例である。図16に示したパラメータテーブルと比較すれば分かるように、全ての化合物A〜Uについてドウェル時間は10[msec]以上を確保しており、充分に高いSN比のデータに基づいてピーク面積を算出可能であるといえる。それによって、従来のLC/MSと比較して高精度の定量が可能である。
続いて、第1実施例とは自動セグメント分割処理のアルゴリズムが相違する第2実施例の自動セグメント分割処理について説明する。図9はこの第2実施例のLC/MSにおける自動セグメント分割処理時のフローチャートであり、第1実施例における図4のフローチャートに対応するものである。即ち、ステップS1〜S4の処理は第1実施例と共通であるので説明を省略する。また、図9中のステップS5、S6の処理内容も第1実施例における図4中の各ステップと同じである。
第1実施例における自動セグメント分割処理アルゴリズムでは、セグメント再分割の際に比較的小さな初期値cを設定し、セグメント総数やイベント総数が上限値を超えてしまっている場合にはcの値を順次増やすようにしていた。このアルゴリズムの利点は、ドウェル時間が最長になるようなセグメント再分割を最初に実行し徐々にドウェル時間を短くしてゆくことで、セグメント総数やイベント総数が与えられた条件を満たす範囲でできるだけドウェル時間を長くすることが可能な点である。その結果、定量精度の点で非常に有利である。
これに対し、第2実施例における自動セグメント分割処理アルゴリズムでは、セグメント再分割の際に比較的大きな初期値aを設定し、ドウェル時間がドウェル時間下限値を下回る場合には、aの値を順次減らして(ステップS23)ドウェル時間を順次増加させる。即ち、ステップS4で計算されたセグメント#nのドウェル時間がドウェル時間下限値Dを下回ると判定された場合(ステップS6でNo)には、セグメント#nのドウェル時間はドウェル時間下限値の要求を満たさないので、ドウェル時間を増やすために当該セグメントの細分化を試みる。そこで、当該セグメント#nに割り当てられている化合物の全てについて、保持時間が小さい順にa個ずつの化合物が含まれるように強制的に一つのセグメント#nを細分化する。ここで、aの初期値は、例えば当該セグメントに割り当てられている化合物の数の1/2程度の値に設定される。図5の例では、セグメント#1に割り当てられている化合物の数は20であるので、一例としてaの初期値は「11」に定められている。
即ち、図5の例では、セグメント#1には全部で20個の化合物A〜Tが割り当てられているから、保持時間が小さい順に11個ずつの化合物をまとめて新たなセグメント境界を設定し、セグメント#1を再分割する。その結果、図10に示すように、再分割前の一つのセグメント#1は二つに分割され、その新たなセグメントにはそれぞれ異なる11個の化合物(化合物A〜K)、及び9個の化合物(化合物L〜T)が割り当てられる。セグメント境界はその前後の化合物K、Lの保持時間の中間の時間に設定すればよい。
この場合にも強制的にセグメント境界を設定したわけであるから、一部の化合物の溶出時間範囲はセグメント境界を跨ぐことになる。そこで、ピークが位置ずれを起こしたときでもピークが欠損しないように、保持時間±Aである溶出時間範囲が新たに設定されたセグメント境界を跨ぐような化合物については、その境界を挟んだ二つのセグメントの両方でそれぞれ測定を行うように化合物の割当てを調整する(ステップS21)。
図10の例では、化合物J〜Mの溶出時間範囲は新たに生成されたセグメント#1と#2との境界を跨ぐから、セグメント#1だけでなくセグメント#2にもそれら化合物を割り当てる。図10の例に対し、こうした化合物の再割当てを分割前のセグメント#1に含まれる全ての化合物について行うと、セグメントと化合物との関係は図11に示すようになる。
次に、セグメント#nを細分化することで生成された新たなセグメントの全てにおいてそれぞれ計算されるドウェル時間がドウェル時間下限値以上であるか否かを判定する(ステップS22)。図11の例において、新たなセグメント#1では割り当てられている化合物数は13であるから、イベント時間は、300[msec]/13=23[msec]、である。一つの化合物に対し測定対象イオンは二つであるから、各イオンに対するドウェル時間は(23-2)/2=10.5[msec]、となる。新たなセグメント#2では割り当てられている化合物数は11であるから、イベント時間は300[msec]/11=27[msec]、ドウェル時間は(27-2)/2=12.5[msec]、となる。分割前のセグメント#1から新たに生成されたセグメント全てでドウェル時間はドウェル時間下限値以上である。したがって、ステップS22からS24へと進むことになる。
次に、その時点でのセグメントの総数とイベントの総数とを計算し、それぞれ装置に予め定められているセグメント数上限値、イベント数上限値以下に収まっているか否かを判定する(ステップS24)。図11の例では、セグメント総数は3、イベント総数は13+11+1=25である。したがって、ステップS24ではYesと判定されステップS13へと進むことになる。
仮にステップS22においてNoと判定されれば、aは1だけ減少され(ステップS23)ステップS20へと戻る。したがって、ステップS20〜23の繰り返しにより、再分割により生成されるセグメント数が増加してゆき、それに伴いドウェル時間が長くなってステップS22でYesとなる。この場合には、ドウェル時間がドウェル時間下限値以上であってもセグメント総数、イベント総数が上限値を超えれば(ステップS24でNo)、注意喚起表示が出力されて待機状態となる。また、図9には現れていないが、aの最小値は1であるから、aが1になってもステップS22でNoと判定される場合には、やはり注意喚起表示が出力される。
図12は図13に示した化合物テーブルに基づいて自動的に作成される測定メソッドのパラメータテーブルの一例である。図8と比較するとドウェル時間は全体的に短いが、それでも全ての化合物A〜Uについてドウェル時間は10[msec]以上を確保しており、充分に高いSN比のデータに基づいてピーク面積を算出可能であるといえる。
以上のように、この第2実施例のLC/MSにおいても第1実施例と同様に、ユーザにより指定されたドウェル時間、ループ時間、及びプロセス時間を満たすように、自動的にセグメント分割が実行され、各セグメントに測定対象化合物が割り当てられる。こうして作成された測定メソッドパラメータテーブルに従ってSIM測定を実行することにより、全ての測定対象化合物について欠けのない正確なクロマトグラムピークが得られるので、高精度な定量を行うことができる。
なお、上記実施例は本発明の一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜変形や修正、追加を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。
例えば上記実施例では、ドウェル時間が条件を満たさないセグメントを細分化する際に、保持時間が近い化合物を所定数(第1実施例ではc個、第2実施例ではa個)集めて新たなセグメントとしていたが、化合物の個数ではなく、一つのセグメントの分割数を決めて強制的に再分割するようにしてもよい。また、それ以外のアルゴリズムに従って再分割を行ってもよい。
例えば上記実施例では、ドウェル時間が条件を満たさないセグメントを細分化する際に、保持時間が近い化合物を所定数(第1実施例ではc個、第2実施例ではa個)集めて新たなセグメントとしていたが、化合物の個数ではなく、一つのセグメントの分割数を決めて強制的に再分割するようにしてもよい。また、それ以外のアルゴリズムに従って再分割を行ってもよい。
また例えば上記実施例のLC/MSではMS部2はシングルタイプの四重極型質量分析計であるが、MS部2が三連四重極型の質量分析計であるLC/MS/MSにおいて、SIM測定と同様に、化合物毎に溶出時間範囲や測定対象質量電荷比などの測定条件を設定する必要があるMRM測定を行う場合に本発明を適用できることは当然である。
また、LCの代わりにGCを用いたGC/MSやGC/MS/MSに本発明を適用可能なことも明らかである。
また、LCの代わりにGCを用いたGC/MSやGC/MS/MSに本発明を適用可能なことも明らかである。
1…LC部
11…移動相容器
12…送液ポンプ
13…インジェクタ
14…カラム
2…MS部
21…スプレーノズル
22…加熱キャピラリ
23、24…イオンガイド
25…四重極マスフィルタ
26…検出器
3…データ処理部
4…制御部
41…測定メソッド生成部
5…記憶部
51…化合物テーブル格納部
52…測定メソッドパラメータテーブル格納部
6…入力部
7…表示部
100…入力設定画面
101…テキスト入力欄
102…「自動作成」ボタン
11…移動相容器
12…送液ポンプ
13…インジェクタ
14…カラム
2…MS部
21…スプレーノズル
22…加熱キャピラリ
23、24…イオンガイド
25…四重極マスフィルタ
26…検出器
3…データ処理部
4…制御部
41…測定メソッド生成部
5…記憶部
51…化合物テーブル格納部
52…測定メソッドパラメータテーブル格納部
6…入力部
7…表示部
100…入力設定画面
101…テキスト入力欄
102…「自動作成」ボタン
Claims (3)
- 試料中の複数の化合物を時間方向に分離するクロマトグラフと、該クロマトグラフで分離された化合物由来のイオンを質量電荷比に応じて分離して検出する質量分析装置と、を組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置であって、前記質量分析装置は、目的化合物に対応するクロマトグラムピークの前後で1乃至複数の特定の質量電荷比に対する選択イオンモニタリング(SIM)測定又は多重反応モニタリング(MRM)測定を実行するクロマトグラフ質量分析装置において、
a)測定対象である化合物毎に少なくとも、予測される保持時間又は溶出時間範囲、測定すべき1又は複数の質量電荷比、を特定する情報を含む化合物テーブルを記憶しておく化合物テーブル保持部と、
b)前記化合物テーブルに挙げられている各化合物についてSIM測定又はMRM測定を実行するために、該化合物テーブルに含まれる情報に基づいて、測定対象である化合物毎に少なくとも、実際の測定開始時間及び測定終了時間、並びに測定する質量電荷比を特定する情報を含む測定条件テーブルを作成する測定条件情報作成部と、
を備え、前記測定条件情報作成部は、
b1)前記化合物テーブルに含まれる各化合物の溶出時間範囲が重ならない時間位置に境界を定めることで測定時間単位であるセグメントを設定し、各セグメントにそれぞれ1又は複数の測定対象の化合物を割り当てる1次セグメント設定部と、
b2)前記1次セグメント設定部により設定された各セグメントにおいて、当該セグメントに割り当てられた化合物の数と、予め与えられた各イオンの測定点時間間隔であるループ時間と、一つの化合物について測定すべきイオンの数と、に基づいて、一つの化合物に由来する一つのイオン当たりのデータ収集時間であるドウェル時間を計算し、該ドウェル時間が予め与えられたドウェル時間下限値を下回るか否か判定する1次判定部と、
b3)前記1次判定部により、或る一つのセグメントにおいて計算されたドウェル時間が予め与えられたドウェル時間下限値を下回ると判定された場合に、ドウェル時間が該下限値以上となるように、当該一つのセグメントを強制的に複数のセグメントに分割した上で、その新たに定められたセグメント境界を跨るような溶出時間範囲を持つ化合物については、そのセグメント境界を挟む両側のセグメントでそれぞれ測定を行うように該化合物を割り当てるべくセグメント再分割及び化合物の再割当てを実行するセグメント分割処理部と、
を有することを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
- 請求項1に記載のクロマトグラフ質量分析装置であって、
前記測定条件情報作成部は、一つのセグメントを強制的に複数に分割するセグメント再分割及び化合物の再割当てを実行したあとに、その再分割により生成された各セグメントにおいてドウェル時間を再計算し、該ドウェル時間が予め与えられたドウェル時間下限値を下回るか否か判定する2次判定部をさらに有し、
前記セグメント分割処理部は、前記2次判定部により、再計算されたドウェル時間がドウェル時間下限値を下回ると判定された場合に、分割前の一つのセグメントを強制的に分割する分割数又は分割の位置を変更してセグメント再分割及び化合物の再割当てをやり直すことを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。 - 請求項2に記載のクロマトグラフ質量分析装置において、
前記セグメント分割処理部は、該当する一つのセグメントに割り当てられている複数の化合物を、保持時間が隣接する既定の個数の化合物毎に分けることで、新たなセグメント境界を定めることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
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