JP5806942B2 - 荷電粒子線装置及び演算装置 - Google Patents
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Description
[システム構成]
図1に、収差補正器を搭載するSEMシステムの概略構成を示す。本実施の形態は、4極子−8極子系の電磁界重畳型収差補正器を搭載するSEMとその制御システムについて説明する。
図2に、本実施の形態に係る収差補正手順の一例を示す。なお、以下の説明では、多極子が磁極により構成されているものとし、収差補正器4の制御には電流を使用するものと仮定する。勿論、電極で構成された多極子であっても、同様の手順により収差補正を実現することができる。
図3に、寄生収差調整量評価部16が、寄生収差の調整に必要な電流を決定するまでに実行する処理手順の概要を示す。なお、以下の説明では、説明を分かり易くするため、収差補正の対象である多極子成分が1つであるものとする。具体的には、補正対象とする多極子成分は、収差補正器4の1段目を構成する8極子であるものとする。また、この場合、寄生収差調整量評価部16は、寄生2極子場の調整電流量を求めるものと仮定する。
以上説明したように、本実施の形態に係るSEMシステムにおいては、収差補正器4を構成する多極子の場強度(印加電流値)と寄生収差調整量の対応関係が非線形的に変化する場合でも、場強度(印加電流値)の現在値と収差補正量に応じた最適な寄生収差調整量を求めて収差補正器4に与えることができる。これにより、従来装置に比べ、収差補正に付随して発生する寄生収差の発生量を効果的に抑制することができる。
[システム構成]
図6に、実施の形態2に係るSEMシステムの概略構成を示す。図6には、図1との対応部分に同一符号を付して示している。本実施の形態に係るSEMシステムも、4極子−8極子系の電磁界重畳型収差補正器を搭載するものとする。後述するように、本実施の形態にSEMシステムは、収差補正器4の各多極子に与えられる多極子制御量の現在値(電源値)の測定履歴と収差量の測定履歴を記録し、当該測定履歴を参照して各時点において最適な寄生収差調整量を算出する。
図9に、本実施の形態に係る収差補正手順の一例を示す。以下では、本実施の形態に係る補正動作の詳細を、実施の形態1との相違点を中心に説明する。なお、以下の説明においても、多極子が磁極により構成されているものとし、収差補正器4の制御には電流を使用するものと仮定する。勿論、電極で構成された多極子であっても、同様の手順により収差補正を実現することができる。
本実施の形態に係る寄生収差調整量評価部16は、(1) 多極子に印加される電流変化量Δmに比例する寄生収差調整量と、(2) 現在までの寄生収差調整量の累積値と、(3)次回調整対象とする収差の調整用に印加されている調整値の現在値とその直前値との間の変化率に基づいて算出される寄生収差調整量との合計値を算出し、当該合計値に基づいて最終的な寄生収差調整量Δxを決定する。この関係を計算式で表すと次式となる。
図10に、ステップS97(図9)で実行される寄生収差調整電流の算出処理の具体例を示す。寄生収差調整量評価部16は、収差補正量評価部15から次回収差補正時に電流値を変化させる多極子の情報(本実施の形態では、収差補正器4の1段目を構成する8極子)と、収差補正量評価部15で算出された電流変化量Δmとを入力する。
図11に、制御コンピュータ101に接続される不図示の表示装置に表示されるGUI画面例を示す。このGUI画面を通じ、操作者は、自動補正による収差補正の実行状況を確認することができる。例えば操作者は、補正経過表示部111の参照により、補正状況を確認できる。また、操作者は、自動補正条件設定部112の参照により、自動補正の収束状態に応じて式(1)の定数パラメータK0 〜K2 を調節することができる。また、操作者は、メッセージ表示部113の参照により、現在の自動補正の詳細状況を確認することができる。また、操作者は、GUI画面に配置された自動補正開始ボタン114、自動補正一時停止ボタン115、自動補正アンドゥボタン116、自動補正停止ボタン117を用いて自動補正の動作を制御することができる。
本実施の形態に係るSEMシステムは、収差補正器4に印加する電流量の履歴や収差の履歴を記憶しているため、収差補正器4に現われる寄生収差の特性が経時的に変化する場合にも、収差補正器4の状況に応じた最適な調整を自動実行することができる。
本発明は、上述した実施の形態に限定されるものでなく、様々な変形例が含まれる。実際、上述した実施の形態は、本発明を分かり易く説明するために、詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成要素を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施の形態の構成要素の一部を他の実施の形態の構成要素に置き換えることも可能であり、ある実施の形態の構成要素に他の実施の形態の構成要素を加えることも可能である。また、各実施の形態の構成要素の一部について、他の構成要素の追加・削除・置換をすることが可能である。
2…コンデンサレンズ
3…偏向コイル
4…収差補正器
5…走査コイル
6…対物レンズ
7…試料台
8…試料
9…検出器
10…画像形成部
11…画像表示装置
12…メモリ
13…収差係数評価部
14…収差補正対象判断部
15…収差補正量評価部
16…寄生収差調整量評価部
17…収差係数変換テーブル
18…寄生収差調整量テーブル
19…収差補正器電源測定部
20…収差補正器電源制御部
21…収差補正器電源
22…収差係数測定結果記憶部
23…収差補正器電源履歴記憶部
100…SEMカラム
101…制御コンピュータ
102…収差補正器電源部
111…補正経過表示部
112…自動補正条件設定部
113…メッセージ表示部
114…自動補正開始ボタン
115…自動補正一時停止ボタン
116…自動補正アンドゥボタン
117…自動補正停止ボタン
Claims (15)
- 荷電粒子線装置において、
荷電粒子線を放出する荷電粒子源と、
前記荷電粒子線を収束するコンデンサレンズと、
複数段の多極子で構成され、光学系の収差を補正する収差補正器と、
前記多極子に印加する制御電源を発生する収差補正器制御電源と、
前記光学系の収差係数を測定する収差係数評価部と、
前記収差係数に基づいて収差補正量を計算する収差補正量評価部と、
前記収差補正器制御電源から前記多極子に印加されている前記制御電源の現在値を測定する収差補正器電源測定部と、
前記制御電源の測定値と前記収差補正量に基づいて、前記多極子に印加する前記制御電源の大きさを与える電源制御値を算出する演算装置と
を有することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
前記演算装置は、
前記制御電源の測定値と前記収差補正量に基づいて、前記収差補正量に相当する前記制御電源の印加時に発生する寄生収差調整量を算出する寄生収差調整量評価部と、
前記収差補正量と前記寄生収差調整量を加算して、前記電源制御値を算出する収差補正器電源制御部と
を有することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項2に記載の荷電粒子線装置において、
前記寄生収差調整量は、前記収差補正器の電気的及び/又は機械的ずれにより発生する
寄生2極子場又は寄生4極子場を調整する
ことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項2に記載の荷電粒子線装置において、
前記寄生収差調整量評価部は、前記収差補正量と、各収差補正量の印加時に発生する寄生2極子場又は寄生4極子場の調整に必要な寄生収差調整量の対応関係を示すデータを記憶保持する
ことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項4に記載の荷電粒子線装置において、
前記寄生収差調整量評価部は、前記制御電源の測定値の近傍範囲の前記対応関係を近似する関数を求め、当該関数に従って前記寄生収差調整量を算出する
ことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
前記複数段の多極子は、それぞれが回転対称でない磁場及び/又は電場を発生する
ことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 荷電粒子線装置において、
荷電粒子線を放出する荷電粒子源と、
前記荷電粒子線を収束するコンデンサレンズと、
複数段の多極子で構成され、光学系の収差を補正する収差補正器と、
前記多極子に印加する制御電源を発生する収差補正器制御電源と、
前記光学系の収差係数を測定する収差係数評価部と、
前記収差係数の測定履歴を記録保存する収差係数測定結果記憶部と、
前記収差係数に基づいて収差補正量を算出する収差補正量評価部と、
前記収差補正器制御電源から前記多極子に印加されている前記制御電源の現在値を測定する収差補正器電源測定部と、
前記制御電源の測定履歴を記録保存する収差補正器電源履歴記憶部と、
前記収差係数の測定履歴と、前記制御電源の測定履歴と、前記収差補正量に基づいて、前記多極子に印加する前記制御電源の大きさを与える電源制御値を算出する演算装置と
を有することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項7に記載の荷電粒子線装置において、
前記演算装置は、
前記収差係数の測定履歴と、前記制御電源の測定履歴と、前記収差補正量に基づいて、前記収差補正量に相当する前記制御電源の印加時に発生する寄生収差調整量を算出する寄生収差調整量評価部と、
前記収差補正量と前記寄生収差調整量を加算して、前記電源制御値を算出する収差補正器電源制御部と
を有することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項8に記載の荷電粒子線装置において、
前記寄生収差調整量評価部は、
(1) 前記収差補正量と、
(2) 前記光学系に残存する寄生2極子場又は寄生4極子場の大きさと、
(3) 次回調整対象とする多極子場に印加する前記制御電源が前回変更された時の直前回との変更量と、
(4) 次回調整対象とする多極子場に印加する前記制御電源が前回変更された時に寄生2極子場又は寄生4極子場に生じた変化量と
に基づいて前記寄生収差調整量を算出する
ことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項7に記載の荷電粒子線装置において、
前記複数段の多極子は、それぞれが回転対称でない磁場及び/又は電場を発生する
ことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項7に記載の荷電粒子線装置において、
前記演算装置は、収差補正の実行状況を画面表示する
ことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 複数段の多極子で構成され、荷電粒子線装置における光学系の収差を補正する収差補正器に印加する制御電源の大きさを与える電源制御値を算出する演算装置において、
前記光学系について測定された収差係数に基づいて収差補正量を算出する収差補正量評価部と、
前記多極子に印加されている前記制御電源の現在値と前記収差補正量に基づいて、前記収差補正量に相当する前記制御電源の印加時に発生する寄生収差調整量を算出する寄生収差調整量評価部と
を有することを特徴とする演算装置。 - 請求項12に記載の演算装置において、
前記収差補正量と前記寄生収差調整量を加算して、前記電源制御値を算出する
収差補正器電源制御部
を有することを特徴とする演算装置。 - 複数段の多極子で構成され、荷電粒子線装置における光学系の収差を補正する収差補正器に印加する制御電源の大きさを与える電源制御値を算出する演算装置において、
前記光学系について測定された収差係数に基づいて収差補正量を計算する収差補正量評価部と、
前記収差係数の測定履歴と、前記多極子に印加されている前記制御電源の測定履歴と、前記収差補正量に基づいて、前記収差補正量に相当する前記制御電源の印加時に発生する寄生収差調整量を算出する寄生収差調整量評価部と、
を有することを特徴とする演算装置。 - 請求項14に記載の演算装置において、
前記収差補正量と前記寄生収差調整量を加算して、前記電源制御値を算出する収差補正器電源制御部
を有することを特徴とする演算装置。
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