JP5704711B2 - 蛍光x線検出装置及び蛍光x線検出方法 - Google Patents
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Description
(実施の形態1)
図1は、実施の形態1に係る蛍光X線検出装置の構成例を示すブロック図である。図中には、X線の軌道を矢印で示している。蛍光X線検出装置は、X線を放射するX線管(X線源)11、第1X線レンズ12、第2X線レンズ22、蛍光X線を検出するX線検出器(検出手段)21、試料Sが載置される試料台(試料保持部)3を備えている。図中には、X線を矢印で示している。試料台3は、水平面上に試料Sを載置することが可能であり、試料Sを載置した状態で水平面内及び鉛直方向に移動することが可能なXYZステージである。
図7は、実施の形態2に係る蛍光X線検出装置の一部分の構成を示す模式的斜視図である。試料台3は、試料Sが載置される載置面31を有している。載置面31は、試料Sを支持するための平面である。本実施の形態においては、第1X線レンズ12及び第2X線レンズ22は、第1X線レンズ12の光軸を載置面31上に投影した線と第2X線レンズ22の光軸を載置面31上に投影した線とが交差するような位置に配置されている。図7中には、第1X線レンズ12の光軸及び第2X線レンズ22の光軸を矢印付きの実線で示しており、各光軸を載置面31上に投影した線を破線で示している。通常、試料Sは平板状に形成されているので、載置面31上と同様に、試料Sの表面においても、第1X線レンズ12の光軸を載置面31上に投影した線と第2X線レンズ22の光軸を載置面31上に投影した線とは交差するようになっている。蛍光X線検出装置のその他の部分の構成は、実施の形態1と同様である。
図9は、実施の形態3に係る蛍光X線検出装置の一部分の構成を示す模式的斜視図である。本実施の形態においては、第2X線レンズ22は、光軸が載置面31に直交するような位置に配置されており、第1X線レンズ12は、光軸が載置面31に斜交するような位置に配置されている。図9中には、第1X線レンズ12の光軸及び第2X線レンズ22の光軸を矢印付きの実線で示している。通常、試料Sは平板状に形成されているので、第2X線レンズ22の光軸は試料Sの表面に直交する。試料Sで発生した蛍光X線の内、表面にほぼ直交する方向に出射した蛍光X線が第2X線レンズ22へ入射し、X線検出器21で検出されることとなる。蛍光X線検出装置のその他の部分の構成は、実施の形態1と同様である。
12 第1X線レンズ
13 焦点
14 集中スポット(第1空間)
2 検出ユニット
21 X線検出器(検出手段)
22 第2X線レンズ
23 焦点
24 取り込みスポット(第2空間)
3 試料台(試料保持部)
31 載置面
41 分析処理部
42 検出ユニット駆動部
43 試料台駆動部
44 制御部
5 検出領域
Claims (6)
- X線源と、該X線源からのX線を、焦点を含む特定の大きさの第1空間に集中させる第1X線レンズと、試料へのX線の照射によって発生する蛍光X線の内、焦点を含む特定の大きさの第2空間からの蛍光X線を集光する第2X線レンズとを備え、前記第1空間と前記第2空間とを重ねておき、前記第2X線レンズが集光した蛍光X線を検出する蛍光X線検出装置において、
前記第1X線レンズの焦点の位置と、前記第2X線レンズの焦点の位置とを、前記第1空間及び前記第2空間の少なくとも一部が重なる範囲内で離隔してあること
を特徴とする蛍光X線検出装置。 - 前記第1X線レンズの焦点の位置、及び/又は前記第2X線レンズの焦点の位置を移動させることにより、前記第1空間及び前記第2空間が重なった部分の大きさを制御する手段を更に備えること
を特徴とする請求項1に記載の蛍光X線検出装置。
- 試料を保持する試料保持部と、
前記第1空間及び前記第2空間が重なった部分の前記試料保持部に対する相対位置を変更する手段を更に備えること
を特徴とする請求項1又は2に記載の蛍光X線検出装置。 - 試料を支持するための平面上に前記第1X線レンズの光軸を投影した線と、前記平面上に前記第2X線レンズの光軸を投影した線とが交差するように、前記第1X線レンズ及び前記第2X線レンズを配置してあること
を特徴とする請求項1乃至3の何れか一つに記載の蛍光X線検出装置。 - 試料を支持するための平面に対して、前記第1X線レンズ及び前記第2X線レンズの内の一方の光軸が直交し、他方の光軸が斜交するように、前記第1X線レンズ及び前記第2X線レンズを配置してあること
を特徴とする請求項1乃至3の何れか一つに記載の蛍光X線検出装置。 - X線源と、該X線源からのX線を、焦点を含む特定の大きさの第1空間に集中させる第1X線レンズと、試料へのX線の照射によって発生する蛍光X線の内、焦点を含む特定の大きさの第2空間からの蛍光X線を集光する第2X線レンズと、該第2X線レンズが集光した蛍光X線を検出する検出手段とを備える蛍光X線検出装置により、前記第1空間と前記第2空間とが重なる状態で蛍光X線を検出する方法において、
前記第1X線レンズの焦点の位置と、前記第2X線レンズの焦点の位置とを、前記第1空間及び前記第2空間の少なくとも一部が重なる範囲内で離隔しておき、
前記第1空間と前記第2空間との重なりの部分が試料内に含まれる状態で、前記X線源から試料へX線を照射し、
X線の照射により試料から発生した蛍光X線を前記検出手段で検出すること
を特徴とする蛍光X線検出方法。
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