JP5697433B2 - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents
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Description
(1)合焦時はA像及びB像が重なって同じ像となるため、A画素とB画素のレベル差はケラレ形状によるものが支配的となる。
(2)近傍画素同士のケラレ形状は極めて類似している。
この2つの原理から、本実施例では、欠陥画素位置の値を以下のように求める。すなわち、欠陥画素の近傍に位置する近傍画素であるA画素とB画素の画素値の比(レベル比)を、欠陥画素と同じマイクロレンズの対面する側の画素値に掛けることで第二の補間値とする。そして、焦点状態(合焦度)に応じて第一の補間値と第二の補間値をなだらかに切り替える。
ODD:基準値x[n]=(x[n+1]/x[n+3])*x[n−1]
図14を参照して、上記の演算式と画素位置の対応を説明する。EVENのタイミングでは、x[n]がB画素、対応するA画素がx[n+1]、隣のA画素がx[n+3]、B画素がx[n+2]となる。一方、ODDのサイクルでは、x[n]がA画素となり、対応するB画素がx[n−1]となる。また、隣のA画素がx[n+2]、B画素がx[n+1]となる。このように回路2005は、A画素とB画素が交互に配置されているため、サイクル毎に演算式が変化するように構成されている。図4に示される回路だけでも本実施例として機能するが、隣の画素が低輝度である場合やノイズが多い場合には、影響を受ける可能性がある。このため、本実施例では後段の回路において上下左右から算出した値の平均値が用いられる。
104…第一の欠陥補間回路
107…第二の欠陥補間回路
106…合焦度評価部
109…ミキシング回路
Claims (9)
- 撮像光学系の異なる瞳領域を通過した第一光束及び第二光束をそれぞれ光電変換する第一画素及び第二画素を含む撮像素子を用いて得られた画像を処理する画像処理装置であって、
特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍であって前記第一画素と同色の前記第一画素の画素値を用いて、また、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍であって前記第二画素と同色の前記第二画素の画素値を用いて該欠陥画素を補間する第一欠陥補間手段と、
特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を前記特定の第一画素と同一マイクロレンズ内の前記第二画素に掛けることによって該欠陥画素を補間し、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を前記特定の第二画素と同一マイクロレンズ内の前記第一画素に掛けることによって該欠陥画素を補間する第二欠陥補間手段と、
複数の前記第一画素及び複数の前記第二画素の出力を用いて合焦度を評価する合焦度評価手段と、
前記合焦度評価手段により評価された前記合焦度に基づいて、前記第一欠陥補間手段の出力と前記第二欠陥補間手段の出力の合成比を変える合成比変更手段と、
前記合成比変更手段の出力を用いて撮影画像を生成する信号処理手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記合成比変更手段は、前記合焦度評価手段により評価された前記合焦度が第一の合焦度の場合には、前記第二欠陥補間手段の出力の比を第一の値とし、前記合焦度が前記第一の合焦度よりも大きい第二の合焦度の場合には、前記第二欠陥補間手段の出力の比を前記第一の値よりも大きい第二の値とすることを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記合成比変更手段は、前記合焦度評価手段により評価された前記合焦度が高くなるにつれて前記第二欠陥補間手段の出力の比を大きくし、該合焦度が低くなるにつれて前記第一欠陥補間手段の出力の比を大きくするように、第一欠陥補間手段の出力と第二欠陥補間手段の出力の合成比をなだらかに変えることを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記合焦度はデフォーカス量であり、
前記合成比変更手段は、前記デフォーカス量がゼロの場合に前記第二欠陥補間手段の出力を100%とし、該デフォーカス量が所定値以上の場合に前記第一欠陥補間手段の出力を100%とするように前記合成比を変えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記合成比変更手段は、被写界深度が第一の深度の場合には、前記第二欠陥補間手段の出力の比を第一の値とし、被写界深度が前記第一の深度よりも深い第二の深度の場合には、前記第二欠陥補間手段の出力の比を前記第一の値よりも大きい第二の値とすることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記合成比変更手段は、被写界深度が浅くなるにつれて前記第一欠陥補間手段の比を大きくし、該被写界深度が深くなるにつれて前記第二欠陥補間手段の比を大きくするように、該第一欠陥補間手段の出力と該第二欠陥補間手段の出力の前記合成比を変えることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記合焦度評価手段は、前記第一光束及び前記第二光束の位相差を利用して前記合焦度を評価することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記合焦度評価手段は、前記第一欠陥補間手段の出力を利用して前記合焦度を評価することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 撮像光学系の異なる瞳領域を通過した第一光束及び第二光束をそれぞれ光電変換する第一画素及び第二画素を含む撮像素子を用いて得られた画像を処理する画像処理方法であって、
特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍であって前記第一画素と同色の前記第一画素の画素値を用いて、また、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍であって前記第二画素と同色の前記第二画素の画素値を用いて該欠陥画素を補間する第一欠陥補間ステップと、
複数の前記第一画素及び複数の前記第二画素の出力を用いて合焦度を評価する合焦度評価ステップと、
特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を前記特定の第一画素と同一マイクロレンズ内の前記第二画素に掛けることによって該欠陥画素を補間し、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を前記特定の第二画素と同一マイクロレンズ内の前記第一画素に掛けることによって該欠陥画素を補間する第二欠陥補間ステップと、
前記合焦度評価ステップにより評価された前記合焦度に基づいて、前記第一欠陥補間ステップで得られた出力と前記第二欠陥補間ステップで得られた出力の合成比を変える合成比変更ステップと、
前記合成比変更ステップで得られた出力を用いて撮影画像を生成する信号処理ステップと、
を有することを特徴とする画像処理方法。
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