JP5675461B2 - プローブ、測定装置、および、回路基板 - Google Patents
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Description
このような構成によれば、適切な誘電体を選択することで、高周波信号を正確に測定することが可能となる。
このような構成によれば、簡潔な構造によって、精度良くL成分を構成することができる。
このような構成によれば、Q値を調整し、インピーダンス特性の信号周波数付近の傾きを緩やかにすることで、精度良く測定を行うことができる。
このような構成によれば、高周波信号を正確に測定することが可能となる。
このような構成によれば、高周波信号を正確に測定することが可能となる。
このような構成によれば、高周波信号を正確に測定することが可能となる。
図1は、本発明の実施形態に係るプローブの構成例を示す図である。この図において、プローブ10は、誘電体ブロック11、導体板12,13、および、グランドピン14を有し、プローブ10と図示しない測定装置とを接続する接続ケーブル20の先端に設けられている。
つぎに、本実施形態の動作について説明する。なお、以下では、図1に示す回路の信号線32の特性インピーダンスは50Ωであり、信号の周波数は30GHzであり、プローブの減衰率は電圧比で1:10であり、測定装置の入力抵抗は50Ωであるとして説明する。
以上の実施形態は一例であって、本発明が上述したような場合のみに限定されるものでないことはいうまでもない。例えば、以上の実施形態では、誘電体ブロック11と導体板13等を用いてインダクタとキャパシタを構成するようにしたが、例えば、コンデンサ素子や、コイル素子を用いてLC直列共振回路を構成するようにしてもよい。なお、コンデンサ素子およびコイル素子として、チップコンデンサおよびチップコイルを用いた場合、チップ抵抗とは異なり、これらの素子は高周波特性を予め考慮して素子が構成されているので、チップ抵抗の場合のように特性が乱れることが少なく、安定したインピーダンスを得ることができる。なお、コンデンサ素子およびコイル素子のいずれか一方のみを採用し、他方を図1の構成としてもよい。
11 誘電体ブロック
12 導体板(LC共振回路)
12a 主板(C成分)
12b 副板(L成分)
13 導体板
14 グランドピン(接地機構)
20 接続ケーブル
22 外側導体
24 中心導体
30 基板
32 信号線
33,34 グランドパッド
Claims (6)
- 測定対象から信号を取得し、接続ケーブルを介して測定装置に供給するプローブにおいて、
前記測定対象と前記接続ケーブルの間に設けられたLC直列共振回路を有し、かつ、前記測定対象のグランド配線と、前記接続ケーブルの外側導体とを接続するための接地機構を有し、
当該LC直列共振回路の共振周波数は、測定対象となる信号の周波数とは異なる周波数であって、前記信号の周波数における前記LC直列共振回路のインピーダンスと前記測定装置の入力インピーダンスとの比が、当該プローブの所望の減衰比と等しくなるように設定され、
前記LC直列共振回路のC成分は、前記信号が伝播される信号線と対向する位置に配置された導体板と、前記信号線と前記導体板との間に配置された誘電体ブロックと、を有している
ことを特徴とするプローブ。 - 前記LC直列共振回路のL成分は、前記導体板に一端が接続され、他端が前記接続ケーブルの中心導体に接続されたマイクロストリップラインを有していることを特徴とする請求項1に記載のプローブ。
- 前記LC直列共振回路は、Q値を調整するための抵抗成分を有していることを特徴とする請求項1又は2に記載のプローブ。
- 請求項1乃至3のいずれか1項に記載するプローブを備えることを特徴とする測定装置。
- 請求項1乃至3のいずれか1項に記載するプローブの測定対象となる回路基板であって、測定を行う際に前記接地機構が接触されるグランド構造を有することを特徴とする回路基板。
- 前記グランド構造は、測定対象となる信号線の近傍に配置されたグランドパッドであることを特徴とする請求項5に記載の回路基板。
Priority Applications (1)
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JP2011074054A JP5675461B2 (ja) | 2011-03-30 | 2011-03-30 | プローブ、測定装置、および、回路基板 |
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Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0619097Y2 (ja) * | 1988-08-19 | 1994-05-18 | アクゾ・カシマ株式会社 | 高周波測定用プローブ |
JP2941961B2 (ja) * | 1990-12-26 | 1999-08-30 | 株式会社フジクラ | ロードブレーク用エルボーの部分放電検出方法及び装置 |
JPH04295781A (ja) * | 1991-03-25 | 1992-10-20 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 磁場検出ヘッド |
JPH07280838A (ja) * | 1994-04-04 | 1995-10-27 | Sony Tektronix Corp | プローブ装置 |
JP3311698B2 (ja) * | 1998-11-19 | 2002-08-05 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 回路基板の導通検査装置、導通検査方法、導通検査用治具および記録媒体 |
CN1235056C (zh) * | 2000-05-19 | 2006-01-04 | Oht株式会社 | 电路基板导通检查装置、导通检查方法及导通检查用夹具 |
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2011
- 2011-03-30 JP JP2011074054A patent/JP5675461B2/ja active Active
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JP2012208019A (ja) | 2012-10-25 |
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