JP5674639B2 - 発光素子及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は発光素子及びその製造方法に関するものである。
発光素子(Light Emitting Device: LED)は電流を光に変換する半導体素子として、赤色LEDの商品化をきっかけに緑色LEDとともに情報通信機器などの電子装置の光源として用いられている。
発光素子の発光効率を向上させるための方法としては次の二種が提案されている。1つは、発光層において注入された電子と正孔の発光結合確率を増大させることで、内部量子効率を高める方法と、他の1つは、発光層から形成された光が効果的に外部に抽出されるように、光抽出効率を増大させる方法がある。
しかしながら、光抽出効率を増大させるために正孔注入層の界面に凹凸を形成する方法は、内部量子効率を増大させることができない問題点がある。従って、内部量子効率を向上させながら、同時に光抽出効率を向上させることができる方法が求められている。
本発明は内部量子効率と光抽出効率を向上させることができる発光素子及びその製造方法を提供する。
本発明の発光素子は第1導電型半導体層と、前記第1導電型半導体層上に発光層と、前記発光層上に保護層と、前記保護層上にナノ層と、前記ナノ層上に第2導電型半導体層と、を含む。
また、本発明の発光素子の製造方法は第1導電型半導体層を形成する段階と、前記第1導電型半導体層上に発光層を形成する段階と、前記発光層上に保護層を形成する段階と、前記保護層上にナノ層を形成する段階と、前記ナノ層上に第2導電型半導体層を形成する段階と、を含む。
本発明の発光素子及びその製造方法は、光抽出効率を増大させると共に内部量子効率を増大させることで、光素子の外部量子効率を極大化して高光度の窒化ガリウム発光素子を提供することができる。
第1実施例に係わる発光素子の断面図。 第2実施例に係わる発光素子の断面図。 第3実施例に係わる発光素子の断面図。
以下、添付された図面を参照して本発明を詳しく説明する。
本発明の実施例の説明において、各層(膜)、領域、パターン又は構造物が基板、各層(膜)、領域、パッド又はパターンの「上」に又は「下」に形成されると記載される場合、「上」と「下」は直接又は他の層を介在して形成されるものも含む。また、各層の「上」又は「下」の基準は図面を基準として説明する。なお、図面において、各層の厚さや大きさは、説明の便宜及び明確性を図り、誇張、省略又は概略的に図示されている。また、各構成要素の大きさは実際の大きさを全面的に反映するものではない。
<第1実施例>
図1は第1実施例に係わる発光素子の断面図である。
第1実施例に係わる発光素子は、図1のように、第1導電型半導体層11と、前記第1導電型半導体層11上に形成された発光層13と、前記発光層13上に形成された保護層15と、前記保護層15上に形成されたナノ層17と、前記ナノ層17上に形成された第2導電型半導体層19を含む。
前記第1導電型半導体層11は電子注入層からなり、前記第2導電型半導体層19は正孔注入層からなる。また前記第1導電型半導体層11は正孔注入層からなり、前記第2導電型半導体層19は電子注入層からなる。以下、前記第1導電型半導体層11が電子注入層からなり、前記第2導電型半導体層19が正孔注入層から形成されたものを例として説明するが、これに限定されるものではない。
前記第1導電型半導体層11、前記発光層13、前記第2導電型半導体層19は窒化物半導体層からなることができ、これに限定されるものではない。前記窒化物半導体層はIII‐V族窒化物半導体層からなることができる。前記発光層13は単一量子井戸構造、または多重量子井戸構造からなることができる。
前記第2導電型半導体層19の上部表面は凹凸形状に形成される。これによって、前記発光層13から発光された光を外部に抽出する光抽出効率を向上させることができる。
前記保護層15はアルミニウムを含むIII‐V族窒化物半導体層を少なくとも1つ含むように形成される。前記ナノ層17は所定の形状にパターニングされて形成される。前記ナノ層17が形成されない領域では、下部に位置する前記保護層15が露出する。これによって、以後形成される第2導電型半導体層19は前記保護層15と接して形成される。
前記ナノ層17は、外部刺激によって容易に電子が放出される負の誘電率を有する金属の1つ以上を含んでなることができる。
例えば、前記ナノ層17は伝導性電子を含む単一金属、或いは前記単一金属を含む金属合金または前記単一金属を含む金属窒化物からなることができる。例えば、前記ナノ層17は白金(Pt)、パラジウム(Pd)、クロム(Cr)、ニッケル(Ni)、チタニウム(Ti)、タンタル(Ta)、タングステン(W)、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、金(Au)、銅(Cu)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、鉄(Fe)、亜鉛(Zn)、錫(Sn)、コバルト(Co)、ルテニウム(Ru)、ジルコニウム(Zr)、バナジウム(V)、ハフニウム(Hf)、モリブデン(Mo)を含むグループから選択されるいずれか1つの単一金属、或いは前記単一金属を含む金属合金または前記単一金属を含む金属窒化物からなることができる。
本実施例によれば、ナノ層であるナノマスクによって第2導電型半導体層の表面形状を制御する。これによって、伝導性ナノマスクを用いることで、発光素子に低い電気抵抗特性を提供することができる。また、ナノマスクが持つ表面プラズモンと発光層内のエキシトンの間の相互作用によって、内部量子効率を著しく高めることができる。
従って、本発明の発光素子及びその製造方法は、従来の窒化ガリウム薄膜表面形状の制御技術の根本的問題点を効果的に克服し、光抽出効率の増大と共に内部量子効率を増大させることで、光素子の外部量子効率を極大化して高光度の窒化ガリウム発光素子を提供することができる。
<第2実施例>
図2は第2実施例に係わる発光素子の断面図である。第2実施例は水平型発光素子に対する断面図だが本発明がこれに限定されるものではない。以下図2を参照して第2実施例に係わる発光素子構造と製造方法を説明する。
基板20上に第1導電型半導体層21を形成する。前記第1導電型半導体層21は電子注入層からなることができる。前記電子注入層は、高品質な電子伝導性窒化ガリウム系の薄膜層(AlxInyGa1-x-yN、0≦x、y≦1)からなることができる。前記基板20は、異種基板の場合はSi、サファイア、SiC、ZnO或いは他の金属酸化物を用いることができ、同種基板の場合はGaN基板などを用いることができる。前記第1導電型半導体層21は単一層、または組成が異なる多重層からなることができる。
次に、前記第1導電型半導体層21上に発光層23を形成する。前記発光層23は窒化物半導体層からなることができる。前記発光層23は前記第1導電型半導体層21と第2導電型半導体層29を通じて注入された電子と正孔が結合して光を生成する層である。前記発光層23は窒化ガリウム系の単一薄膜層或は多重薄膜層からなることができる。電子と正孔が結合して光を生成する量子井戸の半導体エネルギーバンドギャップは量子障壁のエネルギーバンドギャップより小さく構成される。エネルギーバンドギャップの大きさは量子井戸と量子障壁に用いられる窒化ガリウム系薄膜層の組成を調節することで制御することができる。
次に、前記発光層23上に保護層25を形成する。前記保護層25はナノ層27の形成段階における化学的或は熱的エッチング及び酸化或は汚染より前記発光層23を保護する。
前記保護層25は窒化物半導体層からなることができるが、これに限定されるものではない。例えば、前記保護層25は窒化ガリウム系の単一薄膜層または組成が異なる多重層からなることができる。また、前記保護層25はアルミニウム(Al)を含む窒化ガリウム系の薄膜からなることができる。また、前記保護層25が多重層からなる場合、少なくとも1つの層はアルミニウム(Al)を含む窒化ガリウム系の薄膜からなることができる。
前記保護層25の厚さは100nm以下にすることができる。前記保護層25の厚さが薄いほど、前記ナノ層27の表面プラズモンと前記発光層23内のエキシトンの間の発光相互作用がより大きくなる。これによって、前記発光層23での内部発光効率はより増大する。表面プラズモンはナノ層27である金属箔膜表面で起きる電子の集団的振動である。
前記発光層23内で電子/正孔ペア、即ちエキシトンのエネルギーが金属の表面プラズモンエネルギーと等しい時、前記発光層23内のエキシトンは窒化ガリウムと隣接している金属の表面プラズモンと強く相互作用する。この時、前記発光層23内電子/正孔ペアは効果的に金属の表面プラズモンを励起させ、また励起されたプラズモンは効果的に光を放出する。
このような前記発光層23内のエキシトンと金属表面プラズモンガンの強い相互作用は、結果的に前記発光層23内でエキシトンの自発的な発光結合速度を高めることで、発光素子の内部発光量子効率を大きく増大させることができる。
本実施例は、パターニングされたナノメートルサイズの前記ナノ層27の表面プラズモンが効果的に前記発光層23の内部発光量子効率を増大させることができるように、前記保護層25の厚さは100nm或はその以下にすることができる。なお、前記保護層25の結晶性が良く効果的に前記発光層23を保護できるのであれば、その厚さは10nm或はその以下にすることができる。
また、第2実施例は、前記ナノ層27を利用して、前記保護層25上に選択的に表面凹凸を有する第2導電型半導体層29を高温で成長させることができる。この時、前記保護層25の厚さが5nm以下の場合には、熱化学的エッチングより前記発光層23を効果的に保護できなくなる。
次に、前記保護層25上にナノ層27を形成する。前記ナノ層27は伝導性金属ナノマスクからなることができるが、これに限定されるものではない。前記ナノ層27は金属ナノ層からなることができる。
例えば、前記ナノ層27は伝導性電子を有する単一金属、或はその単一金属元素の少なくとも1つ以上を含む金属合金或は金属窒化物などからなることができる。
第2実施例で、前記伝導性電子を有する単一金属物質として白金(Pt)、パラジウム(Pd)、クロム(Cr)、ニッケル(Ni)、チタニウム(Ti)、タンタル(Ta)、タングステン(W)、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、金(Au)、銅(Cu)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、鉄(Fe)、亜鉛(Zn)、錫(Sn)、コバルト(Co)、ルテニウム(Ru)、ジルコニウム(Zr)、バナジウム(V)、ハフニウム(Hf)、モリブデン(Mo)等を用いることができる。
前記ナノ層27をなす物質は前記発光層23から放出される光の波長に応じて選択することができる。第2実施例では、紫外線及び可視光線領域の光の波長に対して前記ナノ層27は白金、パラジウム、クロム、ニッケル、コバルト、亜鉛、ガリウム、アルミニウム、銀、金、銅を含むグループから選択される物質からなることができる。或は、前記ナノ層27は前記グループから少なくとも1つの物質が含まれる金属合金、または金属窒化物からなることができる。
銀のプラズモンエネルギーは約3.76電子ボルト(eV)である。しかし、銀が窒化ガリウムと隣接している時は、その表面プラズモンエネルギーは略3電子ボルト程となる。この時、3電子ボルトは光の波長として約410nmに対応するエネルギーである。表面プラズモンエネルギーは隣接している金属と誘電体の誘電率によって決定される。
金の場合は窒化ガリウムと隣接している時、その表面プラズモンエネルギーは約2.2電子ボルト(略560nm波長)以下である。アルミニウムの場合はその表面プラズモンエネルギーが略5電子ボルト(略250nm波長)程となる。
従って、前記ナノ層27の形成において、光の波長が400nm程或はその以下の発光素子の場合には、アルミニウム、或はアルミニウムを含む金属合金、またはアルミニウムを含む金属窒化物を用いることができる。
光の波長が400〜500nm領域である発光素子の場合は、銀、または銀を含む金属合金により前記ナノ層27を形成することができる。光の波長が500nm以上の発光素子の場合は、金または金を含む金属合金により前記ナノ層27を形成することができる。
前記ナノ層27は薄膜成長装備内、または薄膜成長装備の外で更なる工程を通じて形成することができる。
先ず、薄膜成長装備内で形成する方法は、前記保護層25を成長させた後、該当金属物質の原料を装備の内部に注入してナノメートルサイズの金属粒子を形成する方法である。
ナノ金属粒子の大きさは1nm〜300nm程にすることができる。金属粒子の大きさが300nm以上の場合には、後で成長される高品質の正孔注入層の面積が減少し、これによって、素子の信頼性が低下する。金属粒子の大きさが1nm以下の場合には、正孔注入層表面の凹凸が効果的に形成されない。
成長装備の温度が高い場合金属粒子の粒子形状は半球形状となる。成長温度が低い場合金属元素は前記保護層25上に薄膜形態に形成される。このようなナノメートルサイズの薄膜形態の金属層は、成長装備の温度を上げて熱処理をすることで、ナノメートルサイズの金属粒子に変換させることができる。
次に、成長装備の外で前記ナノ層27を形成する方法は、一般的なパターン製作工程によって行うことができる。即ち、誘電物質パターンの形成及び金属蒸着工程などによって形成することができる。
この場合、前記ナノ層27は一定パターンを有するように形成される。外部金属蒸着工程によって前記保護層25上にナノメートルサイズの金属薄膜層を蒸着した場合は、熱処理工程によって薄膜層を金属粒子形態に転換させることができる。
第2実施例によれば、前記ナノ層27をなす物質は金属窒化物を含むことができる。金属窒化物は単一金属或は金属合金を、成長装備内で窒素ガス雰囲気下に露出させる窒化処理工程によって形成することができる。第2実施例によれば、前記窒化処理工程は前記ナノ層27の一部または全部を金属窒化物に転換させることができる。
次に、前記ナノ層27上に第2導電型半導体層29を形成する。前記第2導電型半導体層29は正孔注入層からなることができる。前記第2導電型半導体層29は前記ナノ層27の間に露出された前記保護層25上に形成することができる。
この時、前記第2導電型半導体層29の上部表面に凹凸が形成されるようにすることができる。前記第2導電型半導体層29の表面凹凸は前記発光層23から生成された光が効果的に薄膜の外に抽出されるようにし、素子の光抽出効率を著しく向上させることができる。
窒化ガリウム系の正孔注入層は、前記ナノ層27上に蒸着されず、前記ナノ層27の間で露出された前記保護層25上に優先的に形成される。そして、前記正孔注入層は、その厚さが前記ナノ層27をなす金属粒子の高さより大きくなる時、厚さの増加と共に側面成長も行われる。正孔注入層のこのような側面成長は、金属ナノ粒子の一部または全体を覆うことができる。この時、正孔注入層の上部表面に凹凸が形成される。
一方、正孔注入層の上部表面に凹凸を形成するための方法として、シリコン窒化物(SiN)或はマグネシウム窒化物(MgN)等の絶縁体ナノマスクを用いることもできる。しかし、このような絶縁体ナノマスクを用いる場合には、凹凸を形成することはできるが素子の作動電圧を増加させる問題点がある。
従って、本発明は、絶縁体ナノマスクではなく、金属ナノマスクを利用して正孔注入層表面に凹凸を形成する。これによって、本発明によれば発光素子の作動電圧をより低下させることができるという利点がある。
本発明によれば、正孔注入層は金属の表面プラズモンエネルギーよりも大きいエネルギーバンドギャップを有し、P-型伝導性の金属酸化物からなることができる。例えば、P-型伝導性の金属酸化物としてはp-型亜鉛酸化物を用いることができる。
また、本発明は、正孔を均一かつ効果的に注入するために、表面凹凸を有する正孔注入層の上に透明金属酸化物層を形成することができる。透明金属酸化物としては亜鉛酸化物(ZnO)、ニッケル酸化物(NiO)またはインジウム錫酸化物(InSnO)等を用いることができる。
前記発光層23から放出される光を吸収せずに正孔を効果的に均一に素子内に注入するために前記透明伝導性金属酸化物層を用いる場合は、表面凹凸を有する正孔注入層の最上位の層に0.25nm〜10nmの厚さの窒化物半導体オーミック層(図示しない)を形成することができる。前記窒化物半導体オーミック層は窒化ガリウム系の単一層或は多重層からなることができる。前記窒化物半導体オーミック層はインジウム(In)を含む窒化ガリウム系の物質からなることができる。前記窒化物半導体オーミック層はn-型ドーパントシリコン(Si)またはp-型ドーパントマグネシウム(Mg)を含むことができる。また、前記第1導電型半導体層21の上には第1電極22が形成され、前記第2導電型半導体層29の上には第2電極24が形成される。
本発明の発光素子は伝導性のパターニングされたナノ層を用いることで、発光素子に低い電気抵抗特性を提供することができる。また、パターニングされたナノ層が持つ表面プラズモンと発光層内のエキシトンの間の相互作用によって、内部量子効率を著しく高めることができる。
従って、本発明の発光素子は、従来のp-型窒化ガリウム薄膜表面形状の制御技術の根本的問題点を効果的に克服し、光抽出効率の増大と共に内部量子効率を増大させることで、光素子の外部量子効率を極大化して高光度の窒化ガリウム発光素子を提供することができる。
<第3実施例>
図3は第3実施例に係わる発光素子の断面図である。図3は垂直型発光素子に対する断面図であるが、本発明はこれに限定されるものではない。以下、図3を参照して第3実施例に係わる発光素子の製造方法を説明する。第3実施例は、第1導電型半導体層31がN型半導体層である例であるが、本発明はこれに限定されるものではない。
第3実施例では、窒化物半導体薄膜の成長に有機金属化学気相蒸着を用いることができるが、これに限定されるものではない。基板としてはサファイアを用いることができるが、これに限定されるものではない。アンモニアを窒素源とし、水素と窒素をキャリヤガスとして用いることができる。ガリウムとインジウム、アルミニウムは有機金属ソースを用いることができる。n-型ドーパントはシリコン(Si)を、及びp-型ドーパントはマグネシウム(Mg)を用いることができるが、これに限定されるものではない。
先ず、基板(図示しない)を用意して第1導電型半導体層31を形成する。前記第1導電型半導体層31はn-型窒化物半導体電子注入層からなることができるが、これに限定されるものではない。
次に、前記第1導電型半導体層31上に発光層33を形成する。前記発光層33は窒化インジウムガリウム/窒化ガリウム(InGaN/GaN)多重量子井戸構造からなることができる。
次に、前記発光層33上に保護層35を形成する。前記保護層35は窒化物半導体層からなることができるが、これに限定されるものではない。前記保護層35は窒化ガリウム/窒化アルミニウムガリウム/窒化ガリウムの多重層からなることができる。
次に、前記保護層35上にナノ層37を形成する。前記ナノ層37は銀からなることができるが、これに限定されるものではない。以後、800〜900℃で熱処理を行うことができる。
次に、前記ナノ層37上に第2導電型半導体層39を形成する。前記第2導電型半導体層39として、表面凹凸を有するP-型窒化ガリウム層を成長させることができるが、これに限定されるものではない。さらに、その上にオーミック特性を向上させるための窒化インジウムガリウム層を形成することができる。また、ホールを均一かつ容易に注入するために前記第2導電型半導体層39の上に第2透明層43を形成することができる。
次に、レーザー工程などによって基板を除去する。そして、露出された前記第1導電型半導体層31の表面を一部エッチングして、表面欠陥を除去することができる。続いて、露出された前記第1導電型半導体層31に第1電極層を形成する。
前記第1電極層は第1透明層41、反射層45、結合層47、第2基板49等を含むことができる。例えば、第1透明層41はITO、IZO(In-ZnO)、GZO(Ga-ZnO)、AZO(Al-ZnO)、AGZO(Al-Ga ZnO)、IGZO(In-Ga ZnO)、IrOx、RuOx、RuOx/ITO、Ni/IrOx/Au、及びNi/IrOx/Au/ITOの少なくとも1つを含んでなることができ、このような材料に限定されない。
前記反射層45はAl、Ag、またはAlやAgを含む合金を含む金属層からなることができる。また、前記結果物をシリコン(Si)または金属などの伝導性支持台である第2基板49上に、結合層47により結合することができる。前記結合層47は共融金属を含むことができる。そして、前記結果物に第1電極32と第2電極34を形成することができる。
本発明の発光素子は伝導性ナノ粒子を用いることで、発光素子に低い電気抵抗特性を提供することができる。また、ナノマスクが持つ表面プラズモンと発光層内のエキシトンガンの相互作用は、内部量子効率を著しく高めることができる。本発明の発光素子は光抽出効率の増大と共に内部量子効率を増大させることで、光素子の外部量子効率を極大化できる。
本発明の発光素子は水平型発光素子及び垂直型発光素子に適用することができる。
以上、本発明を実施例を中心に説明したが、これらの実施例は例示であり、本発明を限定するものではない。本発明の精神と範囲を遺脱することなく、多様な変形と応用が可能であることは、当業者によって自明である。例えば、本発明の実施例に具体的に示された各構成要素は変形して実施することができるものであり、このような変形と応用に係る差異点も、添付の特許請求の範囲で規定する本発明の範囲に含まれるものである。

Claims (7)

  1. 第1導電型半導体層と、前記第1導電型半導体層上に発光層と、前記発光層上に保護層と、前記保護層上にナノ層と、前記ナノ層上に第2導電型半導体層と、を含み、
    前記ナノ層はナノ構造物を有する層であり、
    前記第2導電型半導体層の上部表面が凹凸形状に形成され、
    前記保護層は窒化物半導体層を含み、
    前記ナノ構造物は前記第2導電型半導体層によって露出されず、
    前記第2導電型半導体層は、前記ナノ層上に位置する凹部、及び、前記ナノ層の間に位置する凸部を有する発光素子。
  2. 前記保護層は5nm〜100nmの厚さに形成される請求項に記載の発光素子。
  3. 前記第2導電型半導体層は前記保護層と接する請求項1又は2に記載の発光素子。
  4. 前記第1導電型半導体層は電子注入層であり、前記第2導電型半導体層は正孔注入層である請求項1〜のいずれかに記載の発光素子。
  5. 前記第1導電型半導体層は正孔注入層であり、前記第2導電型半導体層は電子注入層である請求項1〜のいずれかに記載の発光素子。
  6. 前記第1導電型半導体層の下に第1電極層を含む請求項1〜のいずれかに記載の発光素子。
  7. 第1導電型半導体層を形成する段階と、前記第1導電型半導体層上に発光層を形成する段階と、前記発光層上に保護層を形成する段階と、前記保護層上にナノ層を形成する段階と、前記ナノ層上に第2導電型半導体層を形成する段階と、を含み、
    前記ナノ層はナノ構造物を有する層であり、
    前記第2導電型半導体層の上部表面が凹凸形状に形成され、
    前記保護層は窒化物半導体層を含み、
    前記ナノ構造物は前記第2導電型半導体層によって露出されず、
    前記第2導電型半導体層は、前記ナノ層上に位置する凹部、及び、前記ナノ層の間に位置する凸部を有する発光素子の製造方法。
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Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101008285B1 (ko) * 2005-10-28 2011-01-13 주식회사 에피밸리 3족 질화물 반도체 발광소자
KR101033298B1 (ko) * 2008-04-11 2011-05-09 광주과학기술원 산화아연계 발광 다이오드
US8685767B2 (en) 2009-12-08 2014-04-01 Lehigh University Surface plasmon dispersion engineering via double-metallic AU/AG layers for nitride light-emitting diodes
US20110187264A1 (en) * 2010-01-29 2011-08-04 Fujifilm Corporation Light emitting device
JP2011216555A (ja) * 2010-03-31 2011-10-27 Furukawa Electric Co Ltd:The 発光素子
KR101206405B1 (ko) * 2010-07-29 2012-11-29 인하대학교 산학협력단 다중 활성층과 금속 나노입자를 이용한 발광다이오드 구조
CN103038909B (zh) 2010-08-06 2015-07-29 株式会社日本有机雷特显示器 有机el元件及其制造方法
WO2012017496A1 (ja) 2010-08-06 2012-02-09 パナソニック株式会社 発光素子、発光素子を備えた発光装置および発光素子の製造方法
JP5677432B2 (ja) * 2010-08-06 2015-02-25 パナソニック株式会社 有機el素子、表示装置および発光装置
CN103038908B (zh) 2010-08-06 2016-01-06 株式会社日本有机雷特显示器 发光元件、具备发光元件的发光装置以及发光元件的制造方法
WO2012017497A1 (ja) * 2010-08-06 2012-02-09 パナソニック株式会社 有機el素子
WO2012026695A2 (en) 2010-08-27 2012-03-01 Seoul Opto Device Co., Ltd. Light emitting diode with improved luminous efficiency
CN102104101A (zh) * 2010-11-21 2011-06-22 太原理工大学 一种表面等离子体发光二极管及其制作方法
CN102640318B (zh) * 2010-11-29 2015-12-16 株式会社日本有机雷特显示器 有机发光元件的制造方法、有机发光元件、发光装置、显示面板以及显示装置
TWI416765B (zh) * 2011-01-17 2013-11-21 Light emitting diodes
JP5676652B2 (ja) 2011-01-21 2015-02-25 パナソニック株式会社 有機el素子
US8314439B2 (en) * 2011-02-11 2012-11-20 Sharp Kabushiki Kaisha Light emitting diode with nanostructures and method of making the same
TWM436224U (ja) * 2011-10-28 2012-08-21 Rgb Consulting Co Ltd
SG11201508811YA (en) * 2013-04-26 2015-11-27 Agency Science Tech & Res High speed surface plasmon coupled light emitting diodes
KR102042444B1 (ko) * 2013-05-02 2019-12-02 엘지이노텍 주식회사 발광소자
KR102261948B1 (ko) * 2014-06-30 2021-06-08 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 이를 구비하는 조명 시스템
CN106206269B (zh) * 2016-07-26 2019-09-17 山东大学 一种利用半导体极性场提高热电子注入效率的方法
CN106199786B (zh) * 2016-08-29 2019-05-03 上海交通大学 金属微纳米结构及端面具有金属微纳米结构的光纤
KR101935892B1 (ko) 2016-10-05 2019-01-07 이화여자대학교 산학협력단 인광 발광 구조체 및 이의 제조방법
CN106972090A (zh) * 2017-04-14 2017-07-21 华南理工大学 一种弧线形n电极及垂直结构led芯片
CN110018534A (zh) * 2019-04-19 2019-07-16 国家纳米科学中心 一种产生双激子的等离激元纳米腔及其制备方法与应用

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7554109B2 (en) * 2003-09-05 2009-06-30 Dot Metrics Technology, Inc. Quantum dot optoelectronic devices with nanoscale epitaxial lateral overgrowth and methods of manufacture
KR100718101B1 (ko) 2003-10-29 2007-05-14 삼성에스디아이 주식회사 나노 금속 입자를 이용한 전계 발광 소자
US20050285128A1 (en) * 2004-02-10 2005-12-29 California Institute Of Technology Surface plasmon light emitter structure and method of manufacture
KR20060016665A (ko) * 2004-08-18 2006-02-22 삼성전자주식회사 냉장고
JP4371956B2 (ja) * 2004-09-02 2009-11-25 シャープ株式会社 窒化物系化合物半導体発光素子およびその製造方法
KR100682873B1 (ko) * 2004-12-28 2007-02-15 삼성전기주식회사 반도체 발광 소자 및 그 제조 방법
KR20060081190A (ko) 2005-01-07 2006-07-12 삼성에스디아이 주식회사 전계 발광 소자 및 이의 제조 방법
KR20060089971A (ko) * 2005-02-03 2006-08-10 엘지전자 주식회사 광출력을 향상시키는 구조를 발광 소자에 형성하는 방법
KR100706507B1 (ko) * 2005-06-02 2007-04-11 엘지전자 주식회사 디지털 비디오 녹화 및 재생 장치에서의 복수의 타이틀복사 방법
KR100862516B1 (ko) * 2005-06-02 2008-10-08 삼성전기주식회사 발광 다이오드
JP4749803B2 (ja) * 2005-08-26 2011-08-17 住友化学株式会社 半導体積層基板およびその製造方法
KR101008285B1 (ko) * 2005-10-28 2011-01-13 주식회사 에피밸리 3족 질화물 반도체 발광소자
KR100833489B1 (ko) 2006-02-21 2008-05-29 한국전자통신연구원 실리콘 나노 점을 이용한 반도체 발광 소자 및 그 제조방법
JP5232969B2 (ja) * 2006-03-23 2013-07-10 豊田合成株式会社 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子の製造方法

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