JP5672975B2 - 可変利得増幅器 - Google Patents

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Description

本発明は、可変利得増幅器に関する。
送受信装置には、利得の調整が可能な可変利得増幅器が設けられている。例えば、移動体通信の携帯端末には、アンテナで受信した高周波信号を増幅する可変利得増幅器が設けられている。この可変利得増幅器は、受信した信号が微弱な場合には大きな利得で受信信号を増幅し、受信した信号が大きい場合には、出力が飽和しないように小さな利得で受信信号を増幅する。
また、携帯端末には、アンテナから送信する高周波信号を増幅する可変利得増幅器が設けられている。この可変利得増幅器は、基地局に到達する信号が微弱な場合には大きな利得で送信信号を増幅し、基地局に到達する信号が大きい場合には小さな利得で送信信号を増幅する。
このような可変利得増幅器は、入力信号を増幅するエミッタ接地トランジスタと、このエミッタ接地トランジスタに接続された複数の並列カスコードトランジスタ(縦積みトランジスタ)を有している。更に、この可変利得増幅器は、上記複数のカスコードトランジスタの一部に接続された出力負荷と、各カスコードトランジスタのON/OFFを制御するゲート電位制御回路とを有している。
このゲート電位制御回路により、上記エミッタ接地トランジスタにより増幅された入力信号(以下、増幅信号と呼ぶ)のうち出力負荷に流れる電流の割合を制御することで、利得(入力信号と出力信号の強度比)を調整する。
特開2007−259297号公報
しかし、出力負荷に流れる増幅信号の割合が変化すると出力負荷両端の電圧が変化して、出力負荷に接続されたカスコードトランジスタのソース・ドレイン間電圧が変動する。その結果、当該カスコードトランジスタの内部抵抗が変化して、実際の利得と所望の利得との間に誤差が生じてしまう。このように、従来の可変利得増幅器には、利得誤差が生じるという問題がある。そこで、本発明は、このような問題を解決することを課題とする。
上記の問題を解決するために、本装置の一観点によれば、入力信号がゲートに供給されるソース接地トランジスタと、前記ソース接地トランジスタのドレインにソースが接続された複数の第1のカスコードトランジスタと、前記ソース接地トランジスタのドレインにソースが接続された第2のカスコードトランジスタと、前記複数の第1のカスコードトランジスタのドレインにソースが接続され、ゲートに定電圧が印加される第1のゲート接地トランジスタと、前記第1のゲート接地トランジスタのドレインに接続された出力負荷とを有し、前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタは、前記ソース接地トランジスタのドレイン電流が一定になり且つ前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される前記ドレイン電流の割合が変化するように、導通状態または非導通状態にされる可変利得増幅器が提供される。
本装置によれば、可変利得増幅器の利得誤差を抑制することができる。
実施の形態の可変利得増幅器の回路図である。 可変利得増幅器の一例を示す回路図である。 複数の第1のカスコードトランジスタおよび出力負荷に対応する小信号等価回路である(その1)。 複数の第1のカスコードトランジスタおよび出力負荷に対応する小信号等価回路である(その2)。 一般的な可変利得増幅器の小信号等価回路である。
以下、図面にしたがって本発明の実施の形態について説明する。但し、本発明の技術的範囲はこれらの実施の形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された事項とその均等物まで及ぶものである。尚、図面が異なっても対応する部分には同一符号を付し、その説明を省略する。
(1)構造
図1は、本実施の形態の可変利得増幅器2の回路図である。
可変利得増幅器2は、図1に示すように、入力信号がゲートに供給されるソース接地トランジスタM0と、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1(以下、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1と呼ぶ)と、第2のカスコードトランジスタMb0と、第1のゲート接地トランジスタMc0と、出力負荷R0とを有している。
ここで、複数の第1のカスコードトランジスタMa0, Ma1のソースSには、ソース接地トランジスタM0のドレインDが接続されている。
また、第2のカスコードトランジスタMb0のソースにも、ソース接地トランジスタM0のドレインDが接続されている。第1のゲート接地トランジスタMc0のソースには、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のドレインが接続されている。また、出力負荷R0の一端には、第1のゲート接地トランジスタMc0のドレインが接続されている。出力負荷R0の他端には、電源電圧AVDが供給される。一方、ソース接地トランジスタM0のソースには、接地面GRが接続され、接地電位が供給される。
更に、可変利得増幅器2は、第2のゲート接地トランジスタMd0と、第1の電圧補償負荷R1と、第3のカスコードトランジスタMb1と、第3のゲート接地トランジスタMd1と、第2の電圧補償負荷R2とを有している。
ここで、第2のゲート接地トランジスタMd0のソースには、第2のカスコードトランジスタMb0のドレインが接続されている。また、第1の電圧補償負荷R1の一端には、第2のゲート接地トランジスタMd0のドレインが接続されている。第1の電圧補償負荷R1の他端には、電源電圧AVDが供給される。
第3のカスコードトランジスタMb1のソースには、ソース接地トランジスタM0のドレインが接続されている。第3のゲート接地トランジスタMd1のソースには、第3のカスコードトランジスタMb1のドレインが接続されている。また、第2の電圧補償負荷R2の一端には、第3のゲート接地トランジスタMd1のドレインが接続されている。第2の電圧補償負荷R2の他端には、電源電圧AVDが供給される。
第1のゲート接地トランジスタMc0、第2のゲート接地トランジスタMd0、および第3のゲート接地トランジスタMd1のゲートは、夫々、第1の電圧端子P1に接続されている。この第1の電圧端子P1には、第1の定電圧VG1が供給される。ここで、定電圧とは接地面GRとの間の電位差であって、一定の値を有する直流電圧のことである(以下、同様)。
また、可変利得増幅器2は、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1、第2のカスコードトランジスタMb0、および第3のカスコードトランジスタMb1それぞれのON/OFFを、個別に制御するカスコードトランジスタ制御回路4を有している。このカスコードトランジスタ制御回路4は、第1のスイッチ素子SWa0と、第2のスイッチ素子SWa1と、第3のスイッチ素子SWb0と、第4のスイッチ素子SWb1とを有している。
第1のスイッチ素子SWa0の両端は、夫々、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1の一方(以下、第1のカスコードトランジスタMa0と呼ぶ)のゲートおよび第2の電圧端子P2に接続されている。この第2の電圧端子P2には、定電圧VG2が供給される。同様に、第2乃至第4のスイッチ素子SWa1,SWb0,SWb1の両端も、夫々、対応するカスコードトランジスタのゲートと第2の電圧端子P2に接続されている。
また、可変利得増幅器2は、結合コンデンサC1とバイアス抵抗Rinを有している。結合コンデンサC1の両端には、夫々、ソース接地トランジスタM0のゲートと入力端子INが接続されている。バイアス抵抗Rinの両端には、夫々、ソース接地トランジスタM0のゲートと第3の電圧端子P3が接続されている。ここで、入力端子INには、入力信号が供給される。一方、第3の電圧端子P3には、第3の定電圧VG3が供給される。
上述した各トランジスタ(ソース接地トランジスタM0等)は、例えば、MOS電界効果トランジスタ(metal oxide semiconductor filed effect transistor)である。これらのトランジスタは、同一シリコン基板上に形成され、略同じ厚さのゲート酸化膜と、略同じ長さのチャネル長を有することが好ましい。但し、各トランジスタのチャネル幅は、後述するように必ずしも一定ではない。上記各トランジスタがn型MOS電界効果トランジスタである場合には、AVD>VG1>VG2>VG3である。一方、上記各トランジスタがp型MOS電界効果トランジスタである場合には、AVD<VG1<VG2<VG3である。
第1乃至第4のスイッチ素子SWa0, SWa1, SWb0, SWb1は、例えばMOSトランスファーゲートである。また、各負荷(出力負荷R0、第1の電圧補償負荷R1、および第2の電圧補償負荷R2)は、例えば抵抗素子である。
(2)動作
図2は、可変利得増幅器2aの一例を示す回路図である。この可変利得増幅器2aは、本実施の形態の可変利得増幅器2と略同じ構造を有している。但し、可変利得増幅器2aには、第1乃至第3のゲート接地トランジスタMc0,Md0,Md1、および第1及び第2の電圧補償負荷R1,R2は含まれていない。
本実施の形態の可変利得増幅器2の可変利得動作は、可変利得増幅器2aと略同じである。従って、まず、可変利得増幅器2aの可変利得動作を説明し、同時にその問題点を説明する。
可変利得増幅器2aの各トランジスタは、ゲートに印加される第2及び第3の定電圧VG2, VG3と電源電圧AVDにより、飽和状態で動作するようにバイアスされる。この状態で、入力端子INに微少な入力信号が供給され、結合コンデンサC1を介して、ソース接地トランジスタM0のゲートに入力信号が印加される。これにより、ソース接地トランジスタM0のドレイン電流に信号成分が発生し、この信号成分が第1乃至第3のカスコードトランジスタMa0,Ma1,Mb0,Mb1に供給される。この信号成分の振る舞いは、小信号等価回路により説明することができる。
図3および4は、複数の第1のカスコードトランジスタMa0, Ma1および出力負荷R0に対応する小信号等価回路である。図3は、一方の第1のカスコードトランジスタMa0が導通状態(ON状態)であり、他方の第1のカスコードトランジスタMa1が非導通状態(OFF状態)である場合(以下、状態aと呼ぶ)の小信号等価回路6aである。図4は、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1が、共に導通状態である場合(以下、状態bと呼ぶ)の小信号等価回路6bある。
状態aに対応する図3の小信号等価回路6aでは、第1のカスコードトランジスタMa0の小信号等価回路8aに出力負荷R0が直列接続されている。第1のカスコードトランジスタMa0の小信号等価回路8aは、並列接続された小信号電流源12aと内部抵抗10aとを有している。出力負荷R0の一端(電源電圧AVD側の端子)は、図3に示すように、交流的に接地されている。
ここで、小信号電流源12aの出力電流の大きさは、gm×(Vg−Vs)である。gmは、第1のカスコードトランジスタMa0の相互コンダクタンスである。VgおよびVsは、夫々、第1のカスコードトランジスタMa0のゲート電位およびソース電位である。尚、上付き「*」を有する変数(例えば、Vg)は、対応する電気量(例えば、ゲート電位Vg)の小信号成分である。
図3の回路に対応する回路方程式を解析すると、次式が得られる。
Figure 0005672975
ここで、Is0 は、第1のカスコードトランジスタMa0のソース電流である。R0は、出力負荷R0の抵抗値である。r0は、内部抵抗10aの抵抗値である。
導通状態の第1のカスコードトランジスタMa0のゲートには、定電圧VG2が印加されている。従って、Vg=0になる。この式を式(1)に代入すると、次式が得られる。
Figure 0005672975
式(2)は出力負荷R0を含んでいるが、出力負荷R0の抵抗値は、通常50Ω程度である。一方、トランジスタの内部抵抗r0は、通常,数kΩ(例えば、3.5kΩ)である。すなわち、r0>>R0である。従って、式(2)は、以下のように近似することができる。
Figure 0005672975
従って、第1のカスコードトランジスタMa0だけが導通した状態aに対応する小信号等価回路6aは、式(3)の右辺で表される抵抗値を有する抵抗素子と等価である。
両方の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1が導通した状態bに対応する図4の小信号等価回路6bでは、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1それぞれに対応する小信号等価回路8a,8bが並列に接続され、この並列回路に出力負荷R0が直列接続されている。
図4の回路に対応する回路方程式を解析すると、次式が得られる。
Figure 0005672975
ここで、Is0 は、一方の第1のカスコードトランジスタMa0のソース電流である。Is1 は、他方の第1のカスコードトランジスタMa1のソース電流である。gm1は、他方の第1のカスコードトランジスタMa1の相互コンダクタンスである。r1は、他方の第1のカスコードトランジスタMa1の内部抵抗値である。
従って、両方の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1が導通した状態bに対応する小信号等価回路6bは、並列接続された2つの抵抗素子と等価である。式(4)の分母の最初の項が、一方の第1のカスコードトランジスタMa0に対応する抵抗素子の抵抗値である。式(4)の分母の2番目の項が、他方の第1のカスコードトランジスタMa1に対応する抵抗素子の抵抗値である。
また、以上の説明から明らかなように、導通状態の第2のカスコードトランジスタMb0の小信号等価回路も、抵抗素子と等価になる。この抵抗素子の抵抗値は、式(3)右辺のgmおよびr0に、第2のカスコードトランジスタMb0の相互コンダクタンスおよび内部抵抗値を代入して得られる値である。第3のカスコードトランジスタMb1についても同様である。
以上の説明から明らかなように、導通状態の各カスコードトランジスタMa0,Ma1,Mb0,Mb1と電源電圧AVDと間の回路は、抵抗素子(以下、等価抵抗素子と呼ぶ)と等価になる。従って、一般的な可変利得増幅器2aの小信号等価回路は、簡単な回路になる。
図5は、一般的な可変利得増幅器2aの小信号等価回路14である。この小信号等価回路14は、ソース接地トランジスタM0に対応する小信号等価回路16と、導通状態の第1乃至第3のカスコードトランジスタMa0,Ma1,Mb0,Mb1に対応する等価抵抗素子14a,14b,14c,14dを有している。小信号等価回路14は、更に、これら等価抵抗素子14a,14b,14c,14dにそれぞれ直列接続され、対応するカスコードトランジスタの導通/非導通状態に応じて開閉するスイッチ素子SWa,SWb,SWc,SWdを有している。
ここで、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1に対応する等価抵抗素子14a,14bの一端は、図5に示すように、互いに接続されている。これにより、等価抵抗素子14a,14bに流れる電流は合流して、負荷電流I になる。この負荷電流I は出力負荷R0(図2参照)に供給され、出力負荷R0の両端に小信号電圧を発生させる。この小信号電圧が出力端子OUTから出力され、出力信号になる。尚、出力負荷R0は、近似式(3)を導出する際に無視されので、小信号等価回路14には存在してない。
ソース接地トランジスタM0に対応する小信号等価回路16は、図5に示すように、並列接続された小信号電流源18と内部抵抗20とを有している。こここで、小信号電流源18の電流値は、入力端子INに供給される入力信号の電圧Vin にその相互コンダクタンスgmを乗じた値(=gm・Vin )である。
等価抵抗素子14a,14b,14c,14dの抵抗値は、式(3)に基づいて得られる値である。例えば、式(3)の右辺のgmおよびr0に第2のカスコードトランジスタMb0の相互コンダクタンスおよび内部抵抗値を代入することで、第2のカスコードトランジスタMb0に対応する等価抵抗素子14cの抵抗値が得られる。
スイッチ素子SWa,SWb,SWc,SWdは、カスコードトランジスタ制御回路4(図示せず)の対応するスイッチ素子SWa0,SWa1,SWb0,SWb0の開閉に応答して開閉する。
ここで、第1乃至第3のカスコードトランジスタMa0,Ma1,Mb0,Mb1は、同一基板上に形成され、略同じ厚さのゲート酸化膜と、略同じ長さのチャネルを有することが好ましい。この場合、第1乃至第3のカスコードトランジスタそれぞれの相互コンダクタンスは、それぞれのカスコードトランジスタのチャネル幅Wに比例する。また、第1乃至第3のカスコードトランジスタそれぞれの内部抵抗値は、それぞれのカスコードトランジスタのチャネル幅Wに反比例する。従って、図5の各等価抵抗素子14a,14b,14c,14ddそれぞれのコンダクタンス(抵抗値の逆数)は、式(3)から明らかなように、それぞれのカスコードトランジスタのチャネル幅Wに比例する。
次に、この小信号等価回路14を用いて、一般的な可変利得増幅器2aの可変利得動作を説明する。ここでは、第1乃至第3のカスコードトランジスタMa0,Ma1,Mb0,Mb1のチャンル幅の比が1:1:2:3であるとする。この場合、各等価抵抗素子14a,14b,14c,14dのコンダクタンス(=抵抗値の逆数)の比は、1:1:2:3になる。今、スイッチ素子SWa、スイッチ素子SWb、およびSWcだけが閉じている場合(以下、状態Aと呼ぶ)と、スイッチ素子SWaとスイッチ素子SWdだけが閉じている場合(以下、状態Bと呼ぶ)を比較する。尚、状態A及びBは、それぞれ小信号等価回路14の状態a及びbに対応している。
状態Aの場合、閉じられたスイッチ素子SWa,SWb,SWcに接続された等価抵抗素子14a,14b,14cのコンダクタンスの和は、等価抵抗素子14aのコンダクタンスの4倍(=1+1+2)になる。状態Bの場合、閉じられたスイッチ素子SWa,SWdに接続された等価抵抗素子14a,14dのコンダクタンスの和は、等価抵抗素子14aのコンダクタンスの4倍(=1+3)になる。従って、状態A及びBいずれの場合でも、(ソース接地トランジスタM0に対応する)小信号等価回路16に並列接続される等価抵抗素子のコンダクタンスの和は変わらない。このため、状態Aにおける小信号等価回路16の出力電流Iと、状態Bにおける出力電流Iは同じになる。尚、小信号等価回路16の出力電流Iは、ソース接地トランジスタM0のドレイン電流に含まれる信号成分(交流成分)である。
状態Aでは、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1に対応する2つの等価抵抗素子14a,14bに電流が流れる。ここで、等価抵抗素子14aと等価抵抗素子14bのコンダクタンスの比は、1:1である。従って、負荷電流I は、等価抵抗素子14aに流れる電流の2倍(=1+1)になる。一方、状態Bでは、等価抵抗素子14bに対応するスイッチSWbが開いているので、等価抵抗素子14bには電流が流れない。従って、負荷電流I は、等価抵抗素子14aに流れる電流の1倍(=1)である。
従って、状態Aと状態Bにおける負荷電流I の強度比は、2:1である。上述したように、負荷電流I により負荷抵抗R0の両端に発生する電圧が出力信号になる。従って、状態Aと状態Bにおける出力信号の強度比は2:1になる。すなわち、状態Aの利得(入力信号強度に対する出力信号強度の比)は、状態Bの利得より6dB(=20×log2)高くなる。このような動作により、一般的な可変利得増幅器2aでは、可変利得が実現される。本実施の形態の可変利得増幅器2でも、同様の動作により、可変利得が実現される。
以上の動作では、出力負荷R0に供給される、ソース接地トランジスタM0の出力電流Iが変化して、可変利得動作が実現される。ここで、出力電流Iの制御は、カスコードトランジスタ制御回路4のスイッチ素子SWa0,SWa1,SWb0,SWb1の開閉により行われる。
スイッチ素子SWa0,SWa1,SWb0,SWb1のいずれかが閉じられると、接続先のカスコードトランジスタのゲートに定電圧VG2が印加される。これにより、接続先のカスコードトランジスタが導通状態になる。一方、スイッチ素子SWa0,SWa1,SWb0,SWb1のいずれかが開くと接続先のカスコードトランジスタのゲートが開放され、接続先のカスコードトランジスタは非導通状態になる。
スイッチ素子SWa0,SWa1,SWb0,SWb1は、ソース接地トランジスタM0のドレイン電流が一定になり且つ複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1に供給される上記ドレイン電流の割合が変化するように開閉される。すると、ソース接地トランジスタM0の出力電流I(小信号電流)が一定になり且つ複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1に供給される上記出力電流Iの割合が変化する。これにより、出力負荷R0に供給される上記出力電流Iが変化して、可変利得動作が実現される。
ところで、出力負荷R0には小信号成分である負荷電流I だけでなく、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のドレイン電流の直流成分も供給される。このため、出力負荷R0の両端には直流電圧が発生して、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のドレイン電位が低下する(すなわち、電圧降下)。一方、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のソース電位は、そのゲートに印加される定電位VG2より当該トランジスタの閾値Vthだけ低い電位(=VG2−Vth)に略固定される。従って、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のソース・ドレイン間電圧は、出力負荷の電圧降下により低下する。
よく知られているように、トランジスタの内部抵抗値は、ソース・ドレイン間電圧が低下すると小さくなる。従って、上述したように第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のソース・ドレイン間電圧が低下すると、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1に対応する等価抵抗素子14a,14bのコンダクタンスは大きくなる(式(3)参照)。
一方、第2及び第3のカスコードトランジスタMb0,Mb1は直接電源電圧AVDに接続されているので、そのドレイン電位は電源電圧AVDに固定されている。このため、第2及び第3のカスコードトランジスタMb0,Mb1の内部抵抗値は一定であり、これらのトランジスタに対応する等価抵抗素子14c,14dのコンダクタンスは殆ど変化しない。
以上のように、一部の等価抵抗素子の抵抗値だけが低下するので、各等価抵抗素子に流れる、ソース接地トランジスタM0の出力電流Iの割合が変化する。このため、一般的な可変利得増幅器2aの利得には、誤差が生じる。尚、このような利得誤差を、以後、静的利得誤差と呼ぶ。
更に、一般的な可変利得増幅器2aでは、利得を変化させることでも、利得誤差が発生する。利得を変化させるために、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1の導通状態を変化させると、出力負荷R0に流れる直流電流が変化する。すると、第1のカスコードトランジスタMa0の内部抵抗値が変化して、利得が、図5の小信号等価回路に基づく設計値とは異なった値になる。すなわち、利得に誤差が生じる。このような利得誤差を、以後、動的利得誤差と呼ぶ。
―動的利得誤差の抑制―
そこで、本実施の形態の可変利得増幅器2では、図1に示すように、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1と電源電圧AVDの間に第1のゲート接地トランジスタMc0が設けられている。これにより、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のドレイン電位の変動が抑制される。
第1のゲート接地トランジスタMc0のソース電位は、そのゲートに印加される第1の定電圧VG1より、(第1のゲート接地トランジスタMc0の)閾値Vthだけ低い電位(=VG1−Vth)に略固定される。ところで、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のドレイン電位は、図1の回路図から明らかなように、第1のゲート接地トランジスタMc0のソース電位と同じになる。従って、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のドレイン電位は、略一定の値(=VG1−Vth)に固定されている。また、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のソース電位は、ゲートに印加される定電圧VG2により略一定の値に固定されている。このため、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のソース・ドレイン間電圧は、略一定になる。故に、出力負荷R0に流れる電流が変化しても、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1の内部抵抗値は殆ど変化しない。従って、動的利得誤差が抑制される。
―静的利得誤差の抑制―
更に、本実施の形態では、図1に示すように、第2のカスコードトランジスタMb0と電源電圧AVDの間に第2のゲート接地トランジスタMd0が設けられている。これにより、第2のカスコードトランジスタMb0のドレイン電位が、第2のカスコードトランジスタMb0のゲートに印加される第1の定電圧VG1から、第2のゲート接地トランジスタMd0の閾値だけ低い値になる。
上述したように、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のドレイン電位は、第1の定電圧VG1より、第1のゲート接地トランジスタMc0の閾値だけ低い値である。ここで、MOSトランジスタの閾値は、略一定である。
従って、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のドレイン電位と第2のカスコードトランジスタMb0のドレイン電位は略等しくなる。また、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のソース電位と第2のカスコードトランジスタMb0のソース電位は、それぞれのゲートに印加される定電圧VG2により略等しい値に固定される。故に、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のソース・ドレイン間電圧と、第2のカスコードトランジスタMb0のソース・ドレイン間電圧が略等しくなり、静的利得誤差が抑制される。
同様に、第3のゲート接地トランジスタMd1を設けることにより、第3のカスコードトランジスタMd1による静的利得誤差が抑制される。尚、第1乃至第3のゲート接地トランジスタMc0,Md0,Md1は、他のトランジスタと同様、飽和状態にバイアスされる。
―残留利得誤差の抑制―
上述したように、ゲートに定電圧が印加されたトランジスタのソース電位は、ゲート電位よりその閾値だけ低い値に略固定される。しかし、僅かではあるが、ドレイン電位が変化すると、ソース電位も変化する。従って、第2のゲート接地トランジスタMd0が直接電源電圧AVDに接続されていると、第1のゲート接地トランジスタMc0と第2のゲート接地トランジスタMd0のソース電位に僅かな相違が生じて、利得に誤差が生じる。すなわち、第2及び第3のゲート接地トランジスタMd0,Md1を設けても、静的利得誤差が僅かに残留する。
そこで、本実施の形態では、図1に示すように、第2のゲート接地トランジスタMd0と電源電圧AVDの間に第1の電圧補償負荷R1を設けることで、この残留利得誤差を抑制する。第1の電圧補償負荷R1を設けるとその電圧降下により、第2のゲート接地トランジスタMd0のドレイン電位が、第1のゲート接地トランジスタMc0のドレイン電位に近づく。これにより、第1のゲート接地トランジスタMc0と第2のゲート接地トランジスタMd0のソース電位の差が縮小して、残留利得誤差が抑制される。
また、可変利得増幅器2には、第3のゲート接地トランジスタMd1と電源電圧AVDの間にも第2の電圧補償負荷R2が設けられている。これにより、第3のゲート接地トランジスタMd1による残留利得誤差が抑制される。
ところで、本実施の形態では、第3のゲート接地トランジスタMd1のチャネル幅が、第2のゲート接地トランジスタMd0のチャネル幅より広くなっている。従って、第2の電圧補償負荷R2には、第1の電圧補償負荷R1より多くの電流が流れる。従って、第1の電圧補償負荷R1と第2の電圧補償負荷R2の抵抗値が同じ場合、第2のゲート接地トランジスタMd0のドレイン電位と第3のゲート接地トランジスタMd1は同じにならない。このため、残留利得誤差の抑制が不十分になる。
そこで、可変利得増幅器2では、第1の電圧補償負荷R1の抵抗値と第2電圧補償負荷R2の抵抗値が、第2のゲート接地トランジスタMd0のチャネル幅と第3のゲート接地トランジスタMd1のチャネル幅に反比例している(下記表3参照)。これにより、第1の電圧補償負荷R1と第2の電圧補償負荷R2の電圧降下が同じになるので、残留利得誤差が十分に抑制される。
尚、第2の電圧補償負荷R2の抵抗値を第1の電圧補償負荷R1の抵抗値より小さくするだけでも、残留利得誤差を抑制することができる。
以上の動作を確認するため、図1に示す可変利得増幅器2を回路シミュレータにより解析した。まず各トランジスタのパラメータ値(チャネル長等)を適宜定め、次に状態Aおよび状態Bの双方についてシミュレーションを行った。ここで、状態Aは、両方の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1と第2のカスコードトランジスタMb0のゲートに定電圧VG2が印加されて、これらのトランジスタが導通した状態である。状態Bは、片方の第1のカスコードトランジスタMa0と第3のカスコードトランジスタMb1のゲートに定電圧VG2が印加されて、これらのトランジスタが導通した状態である。
Figure 0005672975
Figure 0005672975
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表1には、状態Aのシミュレーションにより得られた各トランジスタの相互コンダクタンスと内部抵抗値が示されている。また、表2には、状態Bのシミュレーションにより得られた各トランジスタの相互コンダクタンスと内部抵抗値が示されている。表3には、シミュレーションに用いた出力負荷R0等の抵抗値が示されている。
表1および2に示すように、導通状態のトランジスタの相互コンダクタンスはそのゲート幅に比例し、内部抵抗値はゲート幅に反比例する。一方、非導通状態のトランジスタの相互コンダクタンスは略零になる。また、非導通状態のトランジスタの内部抵抗値は、ON状態の内部抵抗値より二桁以上大きくなっている。
表1及び2に示すように、第1のカスコードトランジスタMa0の内部抵抗値は、動作状態が状態Aから状態Bに変化しても、殆ど変化しない。そして、シミュレーションによる状態Aの利得は、状態Bの利得より6.0dB高くなる。この利得差は、小信号等価回路14に基づく設計値に一致している。すなわち、本実施の形態の可変利得増幅器2によれば、利得誤差は殆ど発生しない。
一方、図2に示す一般的な可変利得増幅器2aについてシミュレーションを行うと、状態Aにおける第1のカスコードトランジスタMa0の内部抵抗値は3.30kΩになる。一方、状態Bにおける第1のカスコードトランジスタMa0の内部抵抗値は、2.98kΩになる。そして、状態Aにおける利得は、状態Bにおける利得差より5.7dB高くなる。すなわち、一般的な可変利得増幅器2aでは、0.3dB程度の利得誤差が発生する。
このように、一般的な可変利得増幅器2aは、利得誤差を発生させる。しかし、本実施の形態の可変利得増幅器2によれば、このような利得誤差を抑制することができる。
以上のように、本実施の形態では、第1のゲート接地トランジスタMc0、第2のゲート接地トランジスタMd0、第3のゲート接地トランジスタMd1、第1の電圧補償負荷R1、および第2の電圧補償負荷R2を設けることにより、利得誤差を抑制している。しかし、第1の電圧補償負荷R1および第2の電圧補償負荷R2を、省略してもよい。これら負荷を省略しても、静的利得誤差および動的利得誤差は抑制されるので、利得誤差は小さくなる。
更に、第2のゲート接地トランジスタMd0および第3のゲート接地トランジスタMd1を省略してもよい。これらのトランジスタを省略しても、動的利得誤差は抑制されるので、利得誤差は小さくなる。
次に、各トランジスタが送出する電流の流れに従って、可変利得増幅器2の動作を説明する。まず、入力信号がソース接地トランジスタM0のゲートに供給される。次に、ソース接地トランジスタM0の第1のドレイン電流の一部または全部が、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1のソースに供給される。そして、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1に供給される部分を除いた第1のドレイン電流の一部または全部が、第2のカスコードトランジスタMb0のソースに供給される。更に、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1および第2のカスコードトランジスタMb0に供給される部分を除いた第1のドレイン電流が、第3のカスコードトランジスタMb1のソースに供給される。
次に、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1の第2のドレイン電流が、ゲートに定電圧VG1が供給された第1のゲート接地トランジスタMc0のソースに供給される。その後、第1のゲート接地トランジスタMc0の第3のドレイン電流が出力負荷R0に供給され、出力負荷R0の両端に出力信号が発生する。
一方、第2のカスコードトランジスタMb0の第4のドレイン電流は、ゲートに定電圧VG1が供給された第2のゲート接地トランジスタMd0のソースに供給される。次に、第2のゲート接地トランジスタMd0の第5のドレイン電流が、第1の電圧補償負荷R1に供給され、その後電源電圧AVDに吸収される。
同様に、第3のカスコードトランジスタMb1の第6のドレイン電流が、ゲートに定電圧VG1が供給された第3のゲート接地トランジスタMd1のソースに供給される。次に、第3のゲート接地トランジスタMd1の第7のドレイン電流が、第2の電圧補償負荷R2に供給され、その後電源電圧AVDに吸収される。
ここで、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1、第2のカスコードトランジスタMb0、および第3のカスコードトランジスタMb1は、カスコードトランジスタ制御回路4により、ゲートに定電圧VG2が供給されて導通状態にされる。この時、各カスコードトランジスタは、ソース接地トランジスタM0の第1のドレイン電流が一定になるように、導通状態または非導通状態にされる。更に、各カスコードトランジスタは、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1に供給される上記第1のドレイン電流の割合が変化するように、導通状態または非導通状態にされる。これにより、可変利得増幅器2の利得が制御される。
そして、第1乃至第3のゲート接地トランジスタと第1及び第2の電圧補償負荷により、第1乃至第3のカスコードトランジスタMa0, Ma1, Mb0,Mb1のドレイン・ソース間電位が略同じ値に保たれ、利得誤差が抑制される。
可変利得増幅器2は、図1に示すように、第2のカスコードトランジスタMb0に加え、第3のカスコードトランジスタMb1を有している。しかし、第3のカスコードトランジスタMb1は、省略することができる。
例えば、第3のカスコードトランジスタMb1を省略し、第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1および第2のカスコードトランジスタMb0のチャネル幅を略同じにする。このような回路において、まず、両方の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1を導通状態にし、第2のカスコードトランジスタMb0を非導通状態にする。次に、一方の第1のカスコードトランジスタMa0と第2のカスコードトランジスタMb0を導通状態にし、他方の第1のカスコードトランジスタMa1を非導通状態にする。すると、最初の状態で出力負荷R0に流れる電流は、後の状態で出力負荷R0に流れる電流の2倍になる。従って、利得差6dBの可変利得動作が実現される。
尚、以上の例では、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1および第2のカスコードトランジスタMb0が、ソース接地トランジスタM0のドレイン電流が一定になるように導通状態または非導通状態にされる。更に、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1および第2のカスコードトランジスタMb0が、複数の第1のカスコードトランジスタMa0,Ma1に供給される上記ドレイン電流の割合が変化するように、導通状態または非導通状態にされる。
以上の例では、図1に示すように、第2のカスコードトランジスタMb0は単数である。しかし、第2のカスコードトランジスタMb0は、複数であってもよい。同様に、第3のカスコードトランジスタMb1も、複数であってもよい。更に、第1のカスコードトランジスタの数が、3以上の複数であってもよい。
また、以上の例では、出力負荷R0、第1の電圧補償負荷R1、および第2の電圧補償負荷R2が抵抗素子である。しかし、これらの負荷は、抵抗素子には限られない。これらの負荷は、例えば、ドレインにゲートが接続されたダイオード接続トランジスタであってもよい。
以上の実施の形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1)
入力信号がゲートに供給されるソース接地トランジスタと、
前記ソース接地トランジスタのドレインにソースが接続された複数の第1のカスコードトランジスタと、
前記ソース接地トランジスタのドレインにソースが接続された第2のカスコードトランジスタと、
前記複数の第1のカスコードトランジスタのドレインにソースが接続され、ゲートに定電圧が印加される第1のゲート接地トランジスタと、
前記第1のゲート接地トランジスタのドレインに接続された出力負荷とを有し、
前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタは、前記ソース接地トランジスタのドレイン電流が一定になり且つ前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される前記ドレイン電流の割合が変化するように、導通状態または非導通状態にされる
可変利得増幅器。
(付記2)
付記1に記載の可変利得増幅器において、
更に、前記第2のカスコードトランジスタのドレインにソースが接続され、ゲートに前記定電圧が印加される第2のゲート接地トランジスタを有することを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記3)
付記2に記載の可変利得増幅器において、
更に、前記第2のゲート接地トランジスタのドレインに接続された第1の電圧補償負荷を有することを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記4)
付記3に記載の可変利得増幅器において、
更に、前記ソース接地トランジスタのドレインにソースが接続された第3のカスコードトランジスタと、
前記第3のカスコードトランジスタのドレインにソースが接続されゲートに前記定電圧が印加される第3のゲート接地トランジスタと、
前記第3のゲート接地トランジスタのドレインに接続された第2の電圧補償負荷とを有し、
前記第3のカスコードトランジスタは、前記第1のドレイン電流が一定になり且つ前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される前記第1のドレイン電流の割合が変化するように、前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタと共に導通状態または非導通状態にされ、
前記第3のゲート接地トランジスタのチャネル幅は、前記第2のゲート接地トランジスタのチャネル幅より広く、
前記第2の電圧補償負荷の抵抗値は、前記第1の電圧補償負荷の抵抗値より小さいことを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記5)
付記4に記載の可変利得増幅器において、
前記第1の電圧補償負荷の抵抗値と前記第2電圧補償負荷の抵抗値は、前記第2のゲート接地トランジスタのチャネル幅と前記第3のゲート接地トランジスタのチャネル幅に反比例することを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記6)
付記1乃至5のいずれか1項に記載の可変利得増幅器において、
前記第1乃至第3のカスコードトランジスタは、ゲートに定電圧が印加されて、導通状態にされることを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記7)
付記1乃至6項のいずれか1項に記載の可変利得増幅器において、
前記ソース接地トランジスタ、前記第1乃至第3のカスコードトランジスタ、及び前記第1乃至第3のゲート接地トランジスタは、飽和状態で動作するようにバイアスされることを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記8)
入力信号がゲートに供給されるソース接地トランジスタと、
前記ソース接地トランジスタの第1のドレイン電流の一部または全部がソースに供給される複数の第1のカスコードトランジスタと、
前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される部分を除いた前記第1のドレイン電流がソースに供給される第2のカスコードトランジスタと、
前記複数の第1のカスコードトランジスタの第2のドレイン電流がソースに供給され、ゲートに定電圧が供給される第1のゲート接地トランジスタと、
前記第1のゲート接地トランジスタの第3のドレイン電流が供給される出力負荷とを有し
前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタは、前記第1のドレイン電流が一定になり且つ前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される前記第1のドレイン電流の割合が変化するように、導通状態または非導通状態にされる
可変利得増幅器。
(付記9)
付記8に記載の可変利得増幅器において、
更に、前記第2のカスコードトランジスタの第4のドレイン電流がソースに供給され、ゲートに前記定電圧が供給される第2のゲート接地トランジスタを有することを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記10)
付記9に記載の可変利得増幅器において、
更に、前記第2のゲート接地トランジスタの第5のドレイン電流が供給される第1の電圧補償負荷を有することを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記11)
付記10に記載の可変利得増幅器において、
更に、前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタに供給される部分を除いた前記第1のドレイン電流がソースに供給される第3のカスコードトランジスタと、
前記第3のカスコードトランジスタの第6のドレイン電流がソースに供給されゲートに前記定電圧が供給される第3のゲート接地トランジスタと、
前記第3のゲート接地トランジスタの第7のドレイン電流が供給される第2の電圧補償負荷とを有し、
前記第3のカスコードトランジスタは、前記第1のドレイン電流が一定になり且つ前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される前記第1のドレイン電流の割合が変化するように、前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタと共に導通状態または非導通状態にされ、
前記第3のゲート接地トランジスタのチャネル幅は、前記第2のゲート接地トランジスタの第2のチャネル幅より広く、
前記第2の電圧補償負荷の抵抗値は、前記第1の電圧補償負荷の抵抗値より小さいことを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記12)
付記11に記載の可変利得増幅器において、
前記第1の電圧補償負荷の抵抗値と前記第2電圧補償負荷の抵抗値は、前記第2のゲート接地トランジスタのチャネル幅と前記第3のゲート接地トランジスタのチャネル幅に反比例することを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記13)
付記8乃至12のいずれか1項に記載の可変利得増幅器において、
前記第1乃至第3のカスコードトランジスタは、ゲートに定電圧が供給されて、導通状態にされることを
特徴とする可変利得増幅器。
(付記14)
付記8乃至13項のいずれか1項に記載の可変利得増幅器において、
前記ソース接地トランジスタ、前記第1乃至第3のカスコードトランジスタ、及び前記第1乃至第3のゲート接地トランジスタは、飽和状態で動作するようにバイアスされることを
特徴とする可変利得増幅器。
2・・・可変利得増幅器
4・・・カスコードトランジスタ制御回路
M0・・・ソース接地トランジスタ
Ma0,Ma1・・・第1のカスコードトランジスタ
Mb0・・・第2のカスコードトランジスタ
Mc0・・・第1のゲート接地トランジスタ
R0・・・出力負荷
Md0・・・第2のゲート接地トランジスタ
R1・・・第1の電圧補償負荷
Mb1・・・第3のカスコードトランジスタ
Md1・・・第3のゲート接地トランジスタ
R2・・・第2の電圧補償負荷

Claims (8)

  1. 入力信号がゲートに供給されるソース接地トランジスタと、
    前記ソース接地トランジスタのドレインにソースが接続された複数の第1のカスコードトランジスタと、
    前記ソース接地トランジスタのドレインにソースが接続された第2のカスコードトランジスタと、
    前記複数の第1のカスコードトランジスタのドレインにソースが接続され、ゲートに定電圧が印加される第1のゲート接地トランジスタと、
    前記第1のゲート接地トランジスタのドレインに接続された出力負荷と、
    前記第2のカスコードトランジスタのドレインにソースが接続され、ゲートに前記定電圧が印加される第2のゲート接地トランジスタとを有し、
    前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタは、前記ソース接地トランジスタのドレイン電流が一定になり且つ前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される前記ドレイン電流の割合が変化するように、導通状態または非導通状態にされる
    可変利得増幅器。
  2. 請求項1に記載の可変利得増幅器において、
    更に、前記第2のゲート接地トランジスタのドレインに接続された第1の電圧補償負荷を有することを
    特徴とする可変利得増幅器。
  3. 請求項2に記載の可変利得増幅器において、
    更に、前記ソース接地トランジスタのドレインにソースが接続された第3のカスコードトランジスタと、
    前記第3のカスコードトランジスタのドレインにソースが接続されゲートに前記定電圧が印加される第3のゲート接地トランジスタと、
    前記第3のゲート接地トランジスタのドレインに接続された第2の電圧補償負荷とを有し、
    前記第3のカスコードトランジスタは、前記第1のドレイン電流が一定になり且つ前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される前記第1のドレイン電流の割合が変化するように、前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタと共に導通状態または非導通状態にされ、
    前記第3のゲート接地トランジスタのチャネル幅は、前記第2のゲート接地トランジスタのチャネル幅より広く、
    前記第2の電圧補償負荷の抵抗値は、前記第1の電圧補償負荷の抵抗値より小さいことを
    特徴とする可変利得増幅器。
  4. 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の可変利得増幅器において、
    前記第1乃至第3のカスコードトランジスタは、ゲートに定電圧が印加されて、導通状態にされることを
    特徴とする可変利得増幅器。
  5. 入力信号がゲートに供給されるソース接地トランジスタと、
    前記ソース接地トランジスタの第1のドレイン電流の一部または全部がソースに供給される複数の第1のカスコードトランジスタと、
    前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される部分を除いた前記第1のドレイン電流がソースに供給される第2のカスコードトランジスタと、
    前記複数の第1のカスコードトランジスタの第2のドレイン電流がソースに供給され、ゲートに定電圧が供給される第1のゲート接地トランジスタと、
    前記第1のゲート接地トランジスタの第3のドレイン電流が供給される出力負荷
    前記第2のカスコードトランジスタの第4のドレイン電流がソースに供給され、ゲートに前記定電圧が供給される第2のゲート接地トランジスタとを有し、
    前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタは、前記第1のドレイン電流が一定になり且つ前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される前記第1のドレイン電流の割合が変化するように、導通状態または非導通状態にされる
    可変利得増幅器。
  6. 請求項5に記載の可変利得増幅器において、
    更に、前記第2のゲート接地トランジスタの第5のドレイン電流が供給される第1の電圧補償負荷を有することを
    特徴とする可変利得増幅器。
  7. 請求項6に記載の可変利得増幅器において、
    更に、前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタに供給される部分を除いた前記第1のドレイン電流がソースに供給される第3のカスコードトランジスタと、
    前記第3のカスコードトランジスタの第6のドレイン電流がソースに供給されゲートに前記定電圧が供給される第3のゲート接地トランジスタと、
    前記第3のゲート接地トランジスタの第7のドレイン電流が供給される第2の電圧補償負荷とを有し、
    前記第3のカスコードトランジスタは、前記第1のドレイン電流が一定になり且つ前記複数の第1のカスコードトランジスタに供給される前記第1のドレイン電流の割合が変化するように、前記複数の第1のカスコードトランジスタおよび前記第2のカスコードトランジスタと共に導通状態または非導通状態にされ、
    前記第3のゲート接地トランジスタのチャネル幅は、前記第2のゲート接地トランジスタの第2のチャネル幅より広く、
    前記第2の電圧補償負荷の抵抗値は、前記第1の電圧補償負荷の抵抗値より小さいことを
    特徴とする可変利得増幅器。
  8. 請求項5乃至7のいずれか1項に記載の可変利得増幅器において、
    前記第1乃至第3のカスコードトランジスタは、ゲートに定電圧が供給されて、導通状態にされることを
    特徴とする可変利得増幅器。
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013063212A1 (en) * 2011-10-27 2013-05-02 Marvell World Trade Ltd. Systems and methods for performing multi-modal power amplification
GB2504662A (en) * 2012-06-27 2014-02-12 Lime Microsystems Ltd A low-noise amplifier with programmable gain and constant input impedance
US9184707B2 (en) * 2013-01-17 2015-11-10 Qualcomm Incorporated Amplifier with switchable common gate gain buffer
US8903343B2 (en) 2013-01-25 2014-12-02 Qualcomm Incorporated Single-input multiple-output amplifiers with independent gain control per output
US8975968B2 (en) 2013-01-25 2015-03-10 Qualcomm Incorporated Amplifiers with improved isolation
US9059665B2 (en) 2013-02-22 2015-06-16 Qualcomm Incorporated Amplifiers with multiple outputs and configurable degeneration inductor
JP6229369B2 (ja) * 2013-08-21 2017-11-15 三菱電機株式会社 電力増幅器
JP6361190B2 (ja) * 2014-03-14 2018-07-25 ソニー株式会社 増幅器、及び、その駆動方法、並びに、電子回路システム
JP6436163B2 (ja) * 2014-03-28 2018-12-12 株式会社ソシオネクスト 低雑音増幅器
KR102585866B1 (ko) * 2016-06-21 2023-10-06 삼성전기주식회사 공통 게이트 증폭 회로 및 그것을 이용한 전력 증폭기
US10284160B2 (en) * 2016-08-31 2019-05-07 Skyworks Solutions, Inc. Amplifier with improved return loss and mismatch over gain modes
US10374555B2 (en) * 2016-09-14 2019-08-06 Skyworks Solutions, Inc. Radio-frequency amplifier having active gain bypass circuit
JP2019153944A (ja) * 2018-03-05 2019-09-12 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 増幅回路、撮像装置、および、増幅回路の制御方法
WO2019215973A1 (ja) * 2018-05-11 2019-11-14 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 増幅器
WO2020172827A1 (zh) * 2019-02-27 2020-09-03 华为技术有限公司 一种可变增益放大器
CN111628738B (zh) * 2020-05-20 2023-07-11 电子科技大学 一种v波段cmos功率放大器
CN113890491B (zh) * 2021-12-03 2022-03-25 南京燧锐科技有限公司 一种低漏电放大器偏置电路
CN116032269B (zh) * 2023-03-28 2023-07-25 中国电子科技集团公司第十研究所 一种电流量化矢量插值阵列和有源矢量调制架构

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62183207A (ja) * 1986-02-07 1987-08-11 Hitachi Ltd 利得可変増幅器
US6472936B1 (en) * 2001-05-14 2002-10-29 National Semiconductor Corporation Low-noise gain switching circuit using tapped inductor
US6710657B2 (en) * 2001-10-12 2004-03-23 Anadigics, Inc. Gain control circuit with well-defined gain states
JP4273729B2 (ja) 2002-09-18 2009-06-03 ソニー株式会社 可変利得増幅器
US7276976B2 (en) * 2004-12-02 2007-10-02 Electronics And Telecommunications Research Institute Triple cascode power amplifier of inner parallel configuration with dynamic gate bias technique
JP4719044B2 (ja) * 2006-03-22 2011-07-06 株式会社東芝 増幅回路
JP4354465B2 (ja) * 2006-03-24 2009-10-28 シャープ株式会社 可変利得増幅器及びこの可変利得増幅器を備えた通信装置
US7602239B2 (en) * 2007-09-06 2009-10-13 Mediatek Inc. Variable gain amplifier circuits
JP5093149B2 (ja) * 2009-02-24 2012-12-05 富士通セミコンダクター株式会社 可変利得増幅器

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