JP5654248B2 - 多点測定方法及び測量装置 - Google Patents
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Description
(10[ns]/Tb)×(10000×Tb/(10000×Tb+0.5[s]))×100=0.01%
Tb=50E−6[s](20KHz)
と求められる。
(50E−6[s])×10000[回]=0.5秒となる。
=0.01%
=0.01%
=0.01%
4 托架部
5 望遠鏡部
6 表示部
7 操作入力部
8 第1望遠鏡
9 第1撮像部
10 照星照門
11 第2望遠鏡
12 第2撮像部
13 水平駆動部
14 水平測角部
15 鉛直駆動部
17 測距部
18 発光駆動部
21 制御装置
22 制御演算部
23 記憶部
24 画像処理部
25 撮像部選択部
26 画像記憶部
Claims (9)
- 所定パルス幅のパルス測距光を測定点に、所定の発光周期で所定発光回数照射して測定点からの反射パルス光を受光し、複数の測定点を順次測定する多点測定方法に於いて、次の測定点迄の移動時間を求め、該移動時間はパルス光の照射を停止し、前記パルス測距光を前記所定発光回数照射した場合に、
前記所定パルス幅に前記所定発光回数を乗じたパルス幅合計時間と、パルス測距光照射時間と前記移動時間の和との比が、パルスレーザダイオードの最大デューティ比を超えない様にパルス測距光の発光周期を設定して測定点の測距を実行することを特徴とする多点測定方法。 - 前記所定発光回数は、測定点に対してパルス測距光を照射して粗測定を行い、該粗測定の測距結果に基づき設定される請求項1の多点測定方法。
- 前記所定発光回数は、前測定で設定された発光回数である請求項1の多点測定方法。
- 前記パルス測距光を測定点に所定発光回数照射して測距を行い、次の測定点に移動する迄の前記移動時間は発光を停止するバースト測定モードと、パルス測距光を最大デューティ比を超えない周期で連続して発光する連続測定モードとを有し、前記発光周期が予め定めたリミット周期値を超える場合は、連続測定モードによる測定が実行される請求項1の多点測定方法。
- 多点測定が行われる測定対象物について撮像し、前記測定点は撮像された画像上に設定され、前記移動時間は測定点間の画角と測定点間を移動する速度により求められる請求項1の多点測定方法。
- 測定対象物を撮像する撮像部と、所定パルス幅のパルス測距光を所定周期で射出する発光部と、前記測定対象物にパルス測距光を所定発光回数照射し、測定対象物からの反射光を受光して測距を行う測距部と、前記発光部を駆動する発光駆動部と、前記撮像部と前記測距部とを一体に回転駆動する駆動部と、前記撮像部及び測距部の回転角を検出する測角部と、前記撮像部の撮像を制御し、前記発光駆動部の発光を制御し、前記駆動部の回転駆動を制御する制御装置とを具備し、
前記撮像部は少なくとも測定対象物を含む画像を撮像し、該画像中で複数の測定点が設定され、該制御装置は前記複数の測定点について測定順序を設定し、該測定順序に従い複数の測定点について順次測定を実行する場合に、予め1つの測定点から次の測定点迄の移動時間を前記画像中の画角と前記駆動部による回転速度に基づき演算し、
該移動時間はパルス光の照射を停止し、前記パルス測距光を前記所定発光回数照射した場合に、前記所定パルス幅に前記所定発光回数を乗じたパルス幅合計時間と、パルス測距光照射時間と前記移動時間の和との比が、パルスレーザダイオードの最大デューティ比を超えない様にパルス測距光の発光周期を設定して測定点の測距を実行することを特徴とする測量装置。 - 前記制御装置は、測定点に対してパルス測距光を照射して粗測定を行い、該粗測定の測距結果に基づき前記所定発光回数を設定する請求項6の測量装置。
- 前記制御装置は、設定した前記所定発光回数で測距を行った後、次の測定点を測定する場合、前記所定発光回数を保持して発光回数を設定する請求項6の測量装置。
- 前記制御装置は、前記パルス測距光を測定点に所定発光回数照射して測距を行い、次の測定点に移動する迄の前記移動時間は発光を停止するバースト測定モードと、パルス測距光を最大デューティ比を超えない周期で連続して発光する連続測定モードとを択一的に実行可能であり、前記パルス測距光の発光周期が予め定めたリミット周期値を超える場合は、連続測定モードによる測定を実行する請求項6の測量装置。
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Family Applications (1)
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