JP5634744B2

JP5634744B2 - Ｘ線診断装置、画像処理装置及びプログラム

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Publication number: JP5634744B2
Application number: JP2010110996A
Authority: JP
Inventors: 真弥勝間田; 鈴木　克己; 克己鈴木
Original assignee: Hitachi Medical Corp
Current assignee: Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Priority date: 2010-05-13
Filing date: 2010-05-13
Publication date: 2014-12-03
Anticipated expiration: 2030-05-13
Also published as: JP2011235010A

Description

本発明は、Ｘ線診断装置、画像処理装置及びプログラムに係り、特に長尺撮影の画像接合技術に関する。

長尺撮影とは、１つのＸ線検出器の検出領域を超える連続した被検体を複数の検出器、もしくは1つの検出器によって複数回撮影し接合（又は接続ともいう）する撮影手法を指す。これらの撮影手法のうち、１つの検出器を用いて長尺撮影を行う場合、検出器を複数回移動させ撮影を行い、撮影した複数のＸ線画像を保存し、保存した複数の画像を接合し、1つの長尺画像を作成する。ここで、複数枚の画像を一枚の画像に接合する手法として、例えば、特許文献１には、画像処理によって脊椎が撮影された領域を抽出し、脊椎領域の相関の高い位置を探索し接合位置を導出する医用画像処理装置が開示されている。

特開２００８−０６７９１６号公報

上記特許文献１では、被検体の体の動きがない場合は位置合わせができても、連続する複数の画像の重ね合わせ領域に、例えば被検体の体動に起因する画像の歪みがある場合には、体の動きにより位置ずれが生じた画像領域の位置を合わせることは出来なかった。そのため、被検体の呼吸等の動きによって、重ね合わせ領域において骨や横隔膜等の境界(エッジ)が二重に表示されてしまう問題があり、その結果重ね合わせ領域の診断が行い難い長尺画像（接合画像ともいう）となるという問題があった。

本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、連続する複数の画像の重ね合わせ領域に被検体の体の動きがある場合にも、その重ね合わせ領域において画像が二重に表示されない長尺画像を作成するＸ線診断装置、画像処理装置及びプログラムを提供することである。

上記問題を解決するために、本発明に係るＸ線診断装置は、Ｘ線を照射するＸ線照射手段と、前記Ｘ線照射手段から照射されたＸ線を検出し電気信号へ変換するＸ線検出手段と、前記Ｘ線検出手段から得られた電気信号に基づく複数の画像を、各画像の一部分を重ね合わせて接合する位置を設定する接合位置設定手段と、少なくとも一方の画像に含まれる重ね合わせ領域の画素位置を修正する画素位置修正手段と、前記複数の画像を、前記修正が行われた重ね合わせ領域において接合した長尺画像を作成する長尺画像作成手段と、を備えることを特徴とする。

また、本発明に係る画像処理装置は、医用画像撮像装置により得られた複数の画像を、各画像の一部分を重ね合わせて接合する位置を設定する接合位置設定手段と、少なくとも一方の画像に含まれる重ね合わせ領域の画素位置を修正する画素位置修正手段と、前記複数の画像を、前記修正が行われた重ね合わせ領域において接合した長尺画像を作成する長尺画像作成手段と、を備えることを特徴とする。

また、本発明に係る画像処理プログラムは、医用画像撮像装置により得られた複数の画像を、各画像の一部分を重ね合わせて接合する位置を設定するステップと、少なくとも一方の画像に含まれる重ね合わせ領域の画素位置を修正するステップと、前記複数の画像を、前記修正が行われた重ね合わせ領域において接合した長尺画像を作成するステップと、をコンピュータに実行させることを特徴とする。

本発明によれば、重ね合わせ領域内の画素位置を修正してから複数の画像を繋ぎ合わせるため、重ね合わせ領域内で被検体、例えば骨等のエッジ部分を一致させることで、被検体が二重に描出されなくなり、長尺画像の画像品質を向上させることができる。

本実施形態に係るＸ線診断装置の構成例を示す模式図本実施形態に係るＸ線診断装置による長尺画像作成処理の流れを示すフローチャート本実施形態に係る画素位置修正処理の流れを示すフローチャート重ね合わせ領域の導出処理を示す説明図小領域を基に、関心点及び関心領域の設定処理を示す説明図走査領域（関心領域の走査方向）を示す説明図画素位置修正処理を示す説明図射影変換の概念図

以下、本発明のＸ線診断装置の実施の形態について、図面を用いて説明する。なお、以下の説明において、同一の構成要素には同一の符号を付し、重複した説明を省略する。

図１は、本実施形態に係るＸ線診断装置１０の構成例を示す模式図である。Ｘ線診断装置１０は、Ｘ線を照射するＸ線発生器１と、Ｘ線発生器１から照射されたＸ線を検出し電気信号へ変換するＸ線検出器２と、Ｘ線検出器２から得られたＸ線の強度を示す電気信号に基づいて長尺撮影画像を作成する画像処理装置３と、長尺撮影画像を出力（表示）する出力装置４と、を備える。画像処理装置３は、Ｘ線検出器２から電気信号を受け取って記憶する画像記憶装置３１と、画像記憶装置３１に保存した複数枚の画像の接合位置を検出して設定する接合位置設定部３２と、接合位置設定部３２により設定された接合位置において、接合される複数の画像が重なり合う領域（以下「重ね合わせ領域」という）の画素位置を修正する画素位置修正部３３と、画素位置修正後の複数の画像を接合した長尺画像を作成する長尺画像作成部３４と、を備える。

画像記憶装置３１は、磁気ディスクや不揮発性、又は揮発性メモリなど、被検体の透過Ｘ線の強度に応じた電気信号を一時的又は固定的に記憶する装置により構成される。

接合位置設定部３２、画素位置修正部３３、長尺画像作成部３４は、これらの機能を実行する画像処理プログラムと、演算・制御装置（例えばＣＰＵ）、記憶装置（例えばメモリ）、及び入出力装置からなるハードウェアと、により構成され、これらが協働することにより、画像処理プログラムの機能が実現される。

次に図２乃至図８に基づいて、本実施形態に係るＸ線診断装置により長尺画像を作成する処理の流れを説明する。図２は、本実施形態に係るＸ線診断装置による長尺画像作成処理の流れを示すフローチャートである。図３は、本実施形態に係る画素位置修正処理の流れを示すフローチャートである。図４は、重ね合わせ領域の導出処理を示す説明図である。図５は、小領域を基に、関心点及び関心領域の設定処理を示す説明図である。図６は、走査領域（関心領域の走査方向）を示す説明図である。図７は、画素位置修正処理を示す説明図である。図８は、射影変換の概念図である。

以下の説明では、Ｘ線診断装置１０が、Ｘ線検出器２を被検体に対して重なり部分を持たせながら異なる位置にずらして２枚の画像（図４の画像Ａ、画像Ｂ）を撮像し、これら２枚の画像を接合して長尺画像を作成する処理を例に説明する。画像Ａ、画像Ｂは、被検体の体軸方向に沿って重なり部分を持たせて撮影した画像であり、画像Ａの下部領域（足側）と、画像Ｂの上部領域（頭側）とは、それぞれ被検体の同一部位が撮影された領域が含まれる。この同一部位が撮影された領域を重ね合わせて接合し、長尺画像を作成する。以下、図２のステップに沿って説明する。

(ステップＳ１)
Ｘ線撮像が行なわれる（Ｓ１）。Ｘ線診断装置１０は、Ｘ線発生器１とＸ線検出器２との間に位置する被検体（図示を省略）の同一部位を重複させて、Ｘ線発生器１とＸ線検出器２とを相対移動させて連続撮影を行い、複数の画像（本実施形態では図４の画像Ａと画像Ｂとに相当する）を撮像して電気信号を出力し、画像記憶装置３１へ送信する。画像記憶装置３１は、その電気信号に基づく画像Ａ、画像Ｂを保存する。

(ステップＳ２)
接合位置設定部３２は、画像記憶装置３１に格納された画像Ａ、画像Ｂの接合位置を設定する（Ｓ２）。接合位置設定処理は、ユーザから接合位置の入力を求めても良いし、撮影した複数枚の画像Ａ、Ｂから、画像処理装置３０を用いた画像処理によって導出してもよい。この画像処理の一例として、例えば、図４に示すように、画像Ａの下部の一部領域からなる領域５０と、画像Ｂの上部にあって、かつ領域５０よりも広い面積を有する探索範囲５１と、を定義する。そして、領域５０を探索範囲５１内においてずらしながら、探索範囲５１において最も濃度相関値が高い位置を探し、そのときの探索範囲５１に対する領域５０の位置を確保するように、画像Ａと画像Ｂとを重ね合わせた位置を接合位置として設定し、このとき画像Ａ、画像Ｂにおいて重なりあう領域を、各画像の重ね合わせ領域５０及び重ね合わせ領域５２として求める。接合位置検出のアルゴリズムは、上記に限らず、画像Ａと画像Ｂとの凡その接合位置及び重ね合わせ領域が検出できるものであれば、いかなるものを用いてもよい。

（ステップＳ３）
画像位置修正部３３は、接合領域検出部３２が設定した接合位置における画像Ａの重ね合わせ領域５０と、画像Ｂの重ね合わせ領域５２との画素位置の修正を行う（Ｓ３）。以下の画素位置修正処理では、重ね合わせ領域５０を小領域に分割する。一方、重ね合わせ領域５２内において、小領域毎に、その小領域と最も相関が高い走査領域を求める。そして、小領域と走査領域の双方を射影変換して画素位置を修正し、重ね合わせ領域５０と重ね合わせ領域５２とを一致させる。次に図３の順に沿って、画素位置修正部３３による画素位置修正処理について説明する。

（ステップＳ３０１）
画素位置修正部３３は、２つの画像の重ね合わせ領域のうち、一方の画像の重ね合わせ領域、例えば画像Ａの重ね合わせ領域５０を、小領域に分割する小領域分割処理を行う（Ｓ３０１）。この小領域は、後述するステップＳ３０３における射影投影を行う単位領域となる。

画素位置修正部３３は、まず図４に示すように、重なり合う２つの画像Ａ、Ｂのそれぞれから、重ね合わせ領域５０、５２を抜き出す。次に、図５（ａ）に示すように、どちらか一方の画像領域、例えば重ね合わせ領域５０を、一辺の長さがｄ_１からなる正方形状の小領域５７（図５の右下斜め斜線の領域に相当する）に分割する。図５（ａ）では、重ね合わせ領域５０内に点線で描写した横線５３ｈと縦線５３ｖとをピッチｄ_１で複数本設定して、重ね合わせ領域５０を複数の小領域５７に分割する。なお、このときの一辺の長さｄ_１は、重ね合わせ領域５０の画像サイズに比例して変更してもよい。

（ステップＳ３０２）
画像位置修正部３３は、ステップＳ３０１で分割した各小領域の全ての頂点の画素について、もう一方の画像領域、すなわち画像Ｂの重ね合わせ領域５２の画素のうち、最も関連性が高い画素を探索する相関値導出処理を行う（Ｓ３０２）。

画像位置修正部３３は、小領域の各頂点、すなわち図５（ａ）の点線５３ｈ、５３ｖの交点の全てを関心点５４として設定し、その周辺に一辺の長さがｄ_２となる正方形状の関心領域５５を設定する。サイズｄ_２は、2×ｄ_１のサイズでも良いし、計算コストを下げるためにそれ以下にしてもよい。

画素位置修正部３３は、関心領域５５と同一形状の領域（以下、この領域を「走査領域」という）５６を、他方の画像領域、すなわち重ね合わせ領域５２に設定する。画素位置修正部３３は、図６に示すように、走査領域５６を重ね合わせ領域５２内で左右方向及び上下方向に走査しながら、各位置において関心領域５５と、走査領域５６とを比較して相関を求める。このときの相関の高さの基準は、関心領域５５及び走査領域５６のそれぞれの画素値の偏差でも良いし、それぞれの領域の画素値の平均値や中央値等の特徴量の差が小さいものを使っても良い。

図７は、関心点及び関心領域と、関心領域に最も相関が高い走査領域とその走査領域における関心点との関係を示す説明図である。画像Ａの重なり領域５０内の関心点をP₁(i_n,j_n）と示し、その座標を(x1i_n,y1j_n）とする。なお、(i_n,j_n）は、画素の配列番号を表す。本ステップの処理を図７の４つの関心点P₁(1,1）、P₁(1,2)、P₁(2,1）、P₁(2,2)を例に説明する。なお、以下の説明では４つの関心点についてのみ説明するが、全ての小領域の頂点に対して同様の処理を行う。

画素位置修正部３３は、４つの関心点P₁(1,1）、P₁(1,2)、P₁(2,1）、P₁(2,2)のそれぞれに対して、関心領域５５ａ、５５ｂ、５５ｃ、５５ｄを設定する。そして、各関心領域について最も相関が高い走査領域を求める。図７では、関心領域５５ａ、５５ｂ、５５ｃ、５５ｄのそれぞれと最も相関が高い走査領域として５６ａ、５６ｂ、５６ｃ、５６ｄが求められる。

（ステップＳ３０３）
画素位置修正部３３は、各走査領域の中心点、すなわち、各関心領域に対する関心点に相当する点を、関心点に対して最も相関が高い画素P₂(i_n,j_n）として求める（Ｓ３０３）。図７では、各走査領域５６ａ、５６ｂ、５６ｃ、５６ｄの中心点となる画素P₂ (1,1）、P₂ (1,2)、P₂ (2,1）、P₂ (2,2)が、各関心点P₁(1,1）、P₁(1,2)、P₁(2,1）、P₁(2,2)に対して最も相関が高い画素として求められる。以下、画素P₂(i_n,j_n）の座標を(x2i_n,y2j_n）で表す。

（ステップＳ３０４）
画素位置修正部３３は、各関心点と、それぞれの関心点に対して相関が最も高い画素と、を一致させるように移動する画素補正処理を施すために、まず、各関心点及びその関心点と最も相関が高い画素の座標を一致させるための修正座標を求める（Ｓ３０４）。

画素位置修正部３３は、それぞれの関心点P₁(i_n,j_n）の座標(x1i_n,y1j_n）と、相関値の高い座標（ステップＳ３０２で求めた中心点）の座標P₂(i_n,j_n）の座標(x2i_n,y2j_n）と、の差SubtractionPoint(i_n,j_n)を、下式（１）により求める。
SubtractionPoint(i_n,j_n)＝(x1i_n-x2i_n,y1j_n-y2j_n）・・・（1）
但し、 (x１i_n,y１j_n）：関心点P₁(i_n,j_n)の座標
(x2i_n,y2j_n）：最も相関が高い画素P_２(i_n,j_n)の座標

次に、画素位置修正部３３は、関心点P₁(i_n,j_n)の座標(x1i_n,y1j_n）に対し、導出した座標の差に重み付けを行って関心点の座標に加えた座標修正後の画素P’₁(i_n,j_n）の座標(x’1i_n,y’1j_n）を求める。他方の画像（重ね合わせ領域５２）については、関心点P₁(i_n,j_n)と最も相関が高い画素P₂(i_n,j_n）の座標(x2i_n,y2j_n）に対し、座標の差を符号反転した値に重み付けを行い、画素P₂(i_n,j_n）の座標(x2i_n,y2j_n）に加えた座標修正後の画素P’₂(i_n,j_n)の座標を求める。

この時の重み付けは、重ね合わせ領域５０（及び重ね合わせ領５２）の縦方向マトリクスの半分を中心に、関心点P_１(i_n,j_n)を設けた画像（画像Ａの重ね合わせ領域５０）の重み付けを１から０に向けて、他方の画像P₂(i_n,j_n)（画像Ｂの重ね合わせ領域５２）を０から１に向けて線形な重み付けを行う。これらの重み付けを行って、画素P₁(i_n,j_n)、P₂(i_n,j_n)の座標修正後の座標(x2i_n,y2j_n）の式にすると、式（２）（３）の様になる。

(x’1i_n,y’1j_n）=(x１i_n,y１j_n）+A(y)・ SubtractionPoint(i_n,j_n)・・・（２）
(x’2i_n,y’2j_n）=(x2i_n,y2j_n）+(-(1- A(y)))・ SubtractionPoint(i_n,j_n) ・・・（３）
但し、(x’1i_n,y’1j_n）:座標修正後の画素P’₁(i_n,j_n)の座標
(x’2i_n,y’2j_n）:座標修正後の最も相関が高い画素P’_２(i_n,j_n)の座標
A(y)：重み付け係数

なお、式（２）（３）では、P₁は図１の画像Ａの様に重ね合わせ領域５０が画像の下部にあるときの画素、P₂は、図１の画像Ｂの様に重ね合わせ領域５２が画像の上部にあるときの画素を用いた場合を示している。重ね合わせ領域５０、５２の位置関係が逆の場合は、SubtractionPoint(i_n,j_n)に掛かる係数A(y)と-(1-A(y))が式(２)と(３)で逆になる。また、重み付け係数は、下式（４）により求める。
A(y)=-1/Height+1・・・（４）
但し、Height：重ね合わせ領域５０（または５２）のyマトリクスサイズ
ｙ：重ね合わせ領域５０（または５２）P(i,j)のy成分の最大値を代入する

（ステップＳ３０５）
画素位置修正部３３は、関心点により定義される小領域、及びその小領域の頂点と最も相関が高い画素により定義される領域（以下「比較領域」という）と、を一致させるよう、小領域及び比較領域を射影変換する画素補正処理を施すために、まず、各関心点及びその関心点と最も相関が高い画素の座標を一致させるための修正座標を求める（Ｓ３０５）。

画素位置修正部３３は、P₁(i_n,j_n）で囲まれた領域を、同じ対応配列番号で囲まれたP’₁ (i_n,j_n）に、射影変換を行う。図７では、画像Ａの重ね合わせ領域５０内にある４つの関心点P₁(1,1）、P₁(1,2)、P₁(2,1）、P₁(2,2)により囲まれた正方形状の小領域５７を、これらの各関心点P₁(1,1）、P₁(1,2)、P₁(2,1）、P₁(2,2)の座標修正後の画素P’₁(1,1）、P’₁(1,2)、P’₁(2,1）、P’₁(2,2)で囲まれた領域５８に射影変換する。この射影変換により、図８に示すように、小領域５７は領域５８に射影変換される。

射影変換は、一般的な射影変換の式（５）（６）を使用する。
x’=(a1x+b1y+c1)/(a0x+b0y+１)・・・（５）
y’=(a2x+b2y+c2)/(a0x+b0y+１)・・・（６）
但し、x：ｘ軸の座標
ｙ：ｙ軸の座標
x’：射影変換後のｘ座標
ｙ’：射影変換後のｙ座標

式（５）（６）に含まれる８つの変数a0,a1,a2,b0,b1,b2,c1,c2,は、式(５)（６）のx,yに４つの関心点P₁(1,1）、P₁(1,2)、P₁(2,1）、P₁(2,2)の座標(x１i_n,y１j_n）を代入し、x’,y’に座標修正後の座標の４つの点P’₁(1,1）、P’₁(1,2)、P’₁(2,1）、P’₁(2,2)の座標(x’1i_n,y’1j_n）を代入して得られる8つの式からなる連立方程式により導出する。

同様に、画素位置修正部３３は、関心点P₁(1,1）、P₁(1,2)、P₁(2,1）、P₁(2,2)に対応する最も相関が高い４つの画素P₂(1,1）、P₂ (1,2)、P₂ (2,1）、P₂ (2,2)により囲まれた比較領域５９についても、小領域５７と同様、座標修正後の画素P’₂ (1,1）、P’₂ (1,2)、P’₂ (2,1）、P’₂(2,2)で囲まれた領域５８’に射影変換する。この領域５８’は、小領域５７を射影変換した領域５８と一致する。この射影変換により、画像Ａの重ね合わせ領域５０は、小領域５７単位で重ね合わせ領域５０’に変換され、画像Ｂの重ね合わせ領域５２は、比較領域５９単位で、領域５０’と同一の座標系からなる重ね合わせ領域５２’に変換される。

（ステップＳ４）
長尺画像作成処理部３４は、射影変換を行った重ね合わせ領域５０’と重ね合わせ領域５２’とが重なるように画像Ａ及び画像Ｂの位置合わせを行い、長尺画像の濃度値を、重ね合わせ領域５０’と重ね合わせ領域５２’とにおいて一致する画素の画素値の平均値や、座標修正量算出と同様に、式（４）の重み付けを行って和を使用して求める。

そして、濃度・コントラストを補正した複数枚の画像（画像Ａ、画像Ｂ）を接合する（Ｓ４）。接合は、公知である手法の様に、重なる接合領域に重みをつけて補正しても良いし、重なる領域を持つ一方の画像を使用しても良い。

（ステップＳ５）
最後に、長尺画像をＤ／Ａ変換して表示する（Ｓ５）。長尺画像の出力装置は、モニタ、フィルムプリンタ、でも良いし、データとしてサーバーや、記録媒体へ保存してもよい。

本実施形態によれば、複数の画像を接続して長尺画像を作成する場合に、おおよその重ね合わせ位置が判明している各画像の重ね合わせ領域に対し、その重ね合わせ領域に含まれる画像の歪みを各画像において修正してから接続することにより、被検体が二重に表示されるという不具合の発生を防ぐことができる。これにより、長尺画像における重ね合わせ領域の画像品質の向上を図ることができる。

また、本実施形態のように、接合する各画像の重ね合わせ領域の画素位置を補正することにより、一方の画像の重ね合わせ領域のみの画素位置を修正する場合に比べて、重ね合わせ領域と、それに続く領域との画素位置のずれ量が少なくなるため、長尺画像において重ね合わせ領域（接合領域）とそれに続く領域とが滑らかになる。そのため、長尺画像の画像品質を向上させることができる。

なお、本実施形態では、接合する複数の画像の双方について画素位置の修正を行ったが、画素位置のずれが少なく、一方の画像の重なり領域に対してのみ画素位置の修正を行っても、重ね合わせ領域とそれに続く画像領域とが診断に差し障りない程度に滑らかであるときには、どちらか一方の画像の重なり領域に対してのみ画素位置の修正を行ってもよい。

また、上記実施形態では、重み付けを、重ね合わせ領域のｙ方向のマトリクスサイズを用いて行ったが、ｘ方向のマトリクスサイズを用いてｘ方向に線形の重み付けを行ってもよい。また、座標修正量を、ｘ座標に対してはｘ方向の線形の重みを用い、ｙ座標に対してはｙ方向の線形の重みを用いてもよい。

１：Ｘ線発生器、２：Ｘ線検出器、３：画像処理装置、４：出力装置、１０：Ｘ線診断装置、３１：画像記憶装置、３２：接合位置設定部、３３：画素位置修正部、３４：長尺画像作成部

Claims

Ｘ線を照射するＸ線照射手段と、
前記Ｘ線照射手段から照射されたＸ線を検出し電気信号へ変換するＸ線検出手段と、
前記Ｘ線検出手段から得られた電気信号に基づく複数の画像を各画像の一部分を重ね合わせて接合する位置を設定する接合位置設定手段と、
前記複数の画像に含まれる重ね合わせ領域のうち、少なくとも一方の重ね合せ領域の画素位置を修正する画素位置修正手段と、
前記複数の画像を、前記修正が行われた重ね合わせ領域において接合した長尺画像を作成する長尺画像作成手段と、を備え、
前記画素位置修正手段は、
前記複数の画像のうちの一方の画像に含まれる前記重ね合わせ領域に、複数の横線と複数の縦線とを設定し、前記縦線と横線で区切られた複数の小領域に分割する手段と、
前記分割した小領域の頂点の画素が、前記複数の画像のうちの他方の画像に含まれる重ね合わせ領域のどの画素と最も関連性が高いかを探索する相関値導出手段と、
前記小領域の頂点の画素と、これに対応する前記最も関連性の高い画素の少なくとも一方の座標を変換して、両画素の座標を一致させる座標変換手段と、を備えることを特徴とするＸ線診断装置。
前記相関値導出手段が、
前記小領域の頂点の画素ごとに、前記頂点の画素を含む関心領域を設定し、
前記他方の画像に前記関心領域と対応する形状の走査領域を設定し、前記関心領域と前記走査領域の相関を求める動作を、前記走査領域を複数の位置に移動させながら行って、前記関心領域と最も関連性の高い走査領域を抽出し、
この抽出された走査領域内の点を、前記頂点の画素と最も相関が高い画素とすることを特徴とする請求項１に記載のＸ線診断装置。
前記座標変換手段は、前記小領域の頂点の画素と、これに対応する前記最も関連性の高い画素の双方に対して座標変換を行い、座標を一致させる、
ことを特徴とする請求項１または２に記載のＸ線診断装置。
前記座標変換手段は、前記小領域の頂点の画素の座標と前記最も関連性の高い画素の座標との差分に対し、前記重ね合わせ領域のサイズに基づく重み付け係数を乗算した座標修正量を用いて、前記小領域の頂点の画素の座標及び前記最も関連性の高い画素の座標を修正し、その修正後の座標を用いて座標変換処理を行う、
ことを特徴とする請求項３に記載のＸ線診断装置。
医用画像撮像装置により得られた複数の画像を、各画像の一部分を重ね合わせて接合する位置を設定する接合位置設定手段と、
前記複数の画像に含まれる重ね合わせ領域のうち、少なくとも一方の重ね合わせ領域の画素位置を修正する画素位置修正手段と、
前記複数の画像を、前記修正が行われた重ね合わせ領域において接合した長尺画像を作成する長尺画像作成手段と、を備え、
前記画素位置修正手段は、
前記複数の画像のうちの一方の画像に含まれる重ね合わせ領域に、複数の横線と複数の縦線とを設定し、前記縦線と横線で区切られた複数の小領域に分割する手段と、
前記分割した小領域の頂点の画素が、前記複数の画像のうちの他方の画像に含まれる重ね合わせ領域のどの画素と最も関連性が高いかを探索する相関値導出手段と、
前記小領域の頂点の画素と、これに対応する前記最も関連性の高い画素の少なくとも一方の座標を変換して、両画素の座標を一致させる座標変換手段と、を備える、
ことを特徴とする画像処理装置。
医用画像撮像装置により得られた複数の画像を、各画像の一部分を重ね合わせて接合する位置を設定する接合位置設定ステップと、
前記複数の画像に含まれる重ね合わせ領域のうち、一方の画像に含まれる重ね合わせ領域に、複数の横線と複数の縦線とを設定し、前記縦線と横線で区切られた複数の小領域に分割する分割ステップと、
前記分割した小領域の頂点の画素が、前記複数の画素のうちの他方の画像に含まれる重ね合わせ領域のどの画素と最も関連性が高いかを探索する相関値導出ステップと、
前記小領域の頂点の画素と、これに対応する前記最も関連性の高い画素の少なくとも一方の座標を変換して、両画素の座標を一致させる座標変換ステップと、
前記複数の画像を、前記修正が行われた重ね合わせ領域において接合した長尺画像を作成する長尺画像作成ステップと、
をコンピュータに実行させることを特徴とする画像処理プログラム。