JP5614938B2 - 半導体発光素子 - Google Patents

半導体発光素子 Download PDF

Info

Publication number
JP5614938B2
JP5614938B2 JP2009044203A JP2009044203A JP5614938B2 JP 5614938 B2 JP5614938 B2 JP 5614938B2 JP 2009044203 A JP2009044203 A JP 2009044203A JP 2009044203 A JP2009044203 A JP 2009044203A JP 5614938 B2 JP5614938 B2 JP 5614938B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
electrode
semiconductor layer
light
side electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009044203A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010199395A (ja
Inventor
量平 広瀬
量平 広瀬
佐野 雅彦
雅彦 佐野
史大 井上
史大 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nichia Corp
Original Assignee
Nichia Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nichia Corp filed Critical Nichia Corp
Priority to JP2009044203A priority Critical patent/JP5614938B2/ja
Publication of JP2010199395A publication Critical patent/JP2010199395A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5614938B2 publication Critical patent/JP5614938B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Led Devices (AREA)

Description

本発明は、半導体発光素子に関し、特に、取出し効率と発光の均一性を共に高めた半導体発光素子に関する。
従来の半導体発光素子において、発光むらを改善させるために、外部電源と接続するpパッド電極から細長いp側電極を延伸させたものが知られている(例えば、特許文献1参照)。さらに発光むらを改善するために、pパッド電極から伸びる直線状のp側電極と、nパッド電極から伸びるn側電極とを交互に配列した半導体発光素子が知られている(例えば、特許文献2〜4参照)。
また、発光領域内部に設けられたn側電極を、延伸部を設けたp側電極で囲んだ半導体発光素子も知られている(例えば、特許文献5〜8参照)。
別の形態の発光素子では、n側電極を発光領域のp型半導体層上に絶縁膜を介して設け、p型半導体層に形成した複数のビアを介してn側電極とn型半導体層とを複数箇所で接続したものが知られている(例えば、特許文献9参照)。また、p型半導体層にp側電極を複数設けた発光素子も知られている(例えば、特許文献10の図17(a)参照)。
特開2007−281426号公報 特開2002−319704号公報 特開2001−345480号公報 特開2000−164930号公報 特開2005−183910号公報 特開平7−254732号公報 特開平7−30153号公報 特開2003−179263号公報 特開2004−47988号公報 特開2004−56109号公報
発光素子は、p側電極の直下で強く発光するが、その発光の一部はp側電極に吸収される。特許文献1〜8のようにp側電極を延伸すると、発光素子の発光部における発光むらが抑制できる効果はあるものの、p側電極の面積が広くなるため、発光の吸収量が増加する。その結果、発光効率が低くなる問題がある。
特許文献10は、比較的小面積のp側電極を複数設けるので、p側電極の面積を小さく抑えることができる。しかしながら、発光素子の実装時に、p側電極と外部電極との配線が複雑になる恐れがある。
そこで、本発明は発光むらを抑制しながら、光取出し効率を高めた半導体発光素子を提供することを目的とする。
本発明の半導体発光素子は、第2導電型層、発光層及び第1導電型層を順に積層した発光部と、前記第2導電型層に接続された第2電極と前記第1導電型層上に透光性電極を有し該透光性電極に接続された第1電極とからなる電極対と、を備えた半導体発光素子であって、前記半導体発光素子を上面から見て、前記第1電極は、前記第2電極を囲むように形成された延伸部を含み、前記延伸部の下部に、絶縁膜を備えると共に、前記透光性電極と電気的に接続される第1接続部を2つ以上有し、前記第2電極は、少なくとも2つの前記第1接続部を結ぶ領域に、前記第2導電型半導体層と電気的に接続される第2接続部を有することを特徴とする。
本発明によれば、第1電極が延伸部を有し、延伸部の下部に絶縁膜を備えることで、延伸部における発光吸収を抑制することができる。さらに、本発明によれば、延伸部と透光性電極とが電気的に接続されている第1接続部を2つ以上有し、それらの接続部を結ぶ領域に第2電極が形成されていることで、光取り出し面における発光むらが大幅に改善される。このように、本発明の半導体発光素子は、発光むらを抑制しながら、光取り出し効率を高めることができる。本発明において「発光むら」とは、光取出し面側から見たときに、発光部の発光が不均一に見えることであり、例えば光が他と比べて暗部があるものなどをいい、発光むらが改善されるとは、発光部の発光が均一に近づくことをいう。
第1の実施形態に係る半導体発光素子を示す概略平面図である。 図1のA−A線における概略断面図である。 図1のB−B線における概略断面図である。 第1の実施形態に係る半導体発光素子の変形例を示す概略平面図である。 第1の実施形態に係る半導体発光素子の変形例を示す概略平面図である。 第2の実施形態に係る半導体発光素子を示す概略平面図である。 第2の実施形態に係る半導体発光素子の変形例を示す概略平面図である。 第2の実施形態に係る半導体発光素子の変形例を示す概略平面図である。
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を詳細に説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向や位置を示す用語(例えば、「上」、「下」、「右」、「左」及び、それらの用語を含む別の用語)を用いる。それらの用語の使用は図面を参照した発明の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本発明の技術的範囲が限定されるものではない。また、複数の図面に表れる同一符号の部分は同一の部分又は部材を示す。また発明を理解しやすくするために、実施形態を分けて説明するが、これらの実施形態はそれぞれ独立するものではなく、共有できるところは他の実施形態の説明を適用できる。
<第1の実施形態>
図1、図2A及び図2Bに示すように、本願発明に係る半導体発光素子1は、基板3の上に第2導電型層(n型半導体層)11、発光層12及び第1導電型層(p型半導体層)13を順に積層した発光部10を備えている。発光部10は、p型半導体層13及び発光層12を部分的に除去してn型半導体層11を露出させた切欠き部15(図1では切り欠きされた方向に対して垂直方向に長い楕円形)を備えている。
本実施の形態の半導体発光素子1は、第2電極(n側電極)30と第1電極(p側電極)40とから成る電極対20を1組備えている。またp側電極40はp型半導体層13上に備えた透光性電極70と接続されている。n側電極30は、切欠き部15に露出したn型半導体層11に電気的に接続されて、第2接続部35を形成している(図1及び図2A参照)。n側電極30は、切欠き部15からp側半導体層13の上面に伸びて、外部電極(図示せず)と接続される。そして、n側電極30とp型半導体層13と間には絶縁膜60が形成されており、n側電極30とp型半導体層13との短絡を防止している(図1及び図2B参照)。
図1に示すように、p側電極40は、p型半導体層13上に備えた透光性電極70の表面の一部に形成されている。p側電極40は、n側電極30を囲むように形成された延伸部41を含んでいる。そして、図2A及び図2Bに示すように、延伸部41の下部、すなわち延伸部41と透光性電極70との間に、絶縁膜50が形成されている。この絶縁膜50には、2つ以上(図1では2つ)の開口部51が形成され、この開口部51の内側で、延伸部41と透光性電極70(p型半導体層13)とが接触して第1接続部45を形成している。この第1接続部45は、少なくとも延伸部41の一部と透光性電極70とが電気的に接続されていればよい。絶縁膜50に設けた開口部51内に第1接続部45を形成する他にも、例えば、延伸部41の一部を絶縁膜50の幅よりも広い幅で設けて、その幅広領域において、延伸部41と透光性電極70とを絶縁膜50の周囲で接続して第1接続部45を形成することもできる。
この半導体発光素子1によれば、延伸部41と、p型半導体層13上に有する透光性電極70と、の間に絶縁膜50が形成されるので、発光層12から延伸部41に入射する光が減少するので、延伸部41での発光吸収が抑制される。よって、半導体発光素子1の光取出し効率が向上する。
また、少なくとも2つ以上(図1では2つ)の第1接続部45を有することで、それぞれの第1接続部45から電流が透光性電極70に流れ、さらにp型半導体層13に流れることで、発光層12の面内における発光むらを、ひいては光取出し部での発光むらを改善することができる。さらに、半導体発光素子を上面から見て、少なくとも2つ以上の第1接続部45を結ぶ領域55内に第2接続部35が形成されている(つまり、領域55内にn側電極30が形成されている)ので、1つのn側電極30に向かってそれぞれの第1接続部45から電流が流れて、n側電極30の周囲を広く発光させることができる。その結果、n側電極30周囲の非発光領域(いわゆる暗部)が減少し、発光むらを効果的に抑えることができる。図1においては、第1接続部45が2つ設けられており、この2つの第1接続部45を結ぶ領域55(斜線部分)内にn側電極が配置されているので、領域55において発光むらを抑えることができる。
第1接続部45の大きさは、延伸部41での発光吸収を抑制するために、できるだけ小さく設けることが好ましい。本実施形態のように第1接続部45が2つであって、これらの第1接続部45を結ぶ領域55にn側電極30が配置される場合、2つの第1接続部45の延伸方向における長さの総和は、延伸部41の延伸方向における長さの少なくとも半分以下に設定することが好ましい。また各第1接続部45の面積は、少なくともp側電極から透光性電極70に電流が流れればよく、できるだけ小さく設けることが好ましい。
なお、本明細書において、「少なくとも2つの第1接続部45を結ぶ領域55に、第2導電型半導体層(n型半導体層)11と電気的に接続される第2接続部35を有する」とは、領域55の内部にn側電極30の少なくとも一部が形成され、かつ領域55の内部においてn側電極30がn型半導体層11と通電している(すなわち、領域55内に第2接続部35の少なくとも一部が設けられている)ことを意味している。特に図1に示すように、n側電極30の先端部が領域55の内部に形成されているのが好ましい。
また、図1のように、第1接続部45(開口部51)が延伸部41の先端近傍に形成されているのが好ましい。延伸部41の先端は、p側電極40の給電位置から最も遠い部分である。よって、延伸部41の先端に第1接続部45を設けると、発光部10の広範囲に電流を拡散することができる。その結果、半導体発光素子1の発光むらを抑えることができる。
なお、図1では、絶縁膜50の先端近傍に形成された開口部51を介して、第1接続部45を設ける形態を示している。しかしながら、開口部51を形成せずに、延伸部41の先端に第1接続部45を設けてもよい。例えば、図7のように、延伸部41の長手方向において延伸部41を絶縁膜50よりも長く形成すれば、延伸部41の先端は、絶縁膜50を越えて透光性電極70に接触し、第1接続部45が形成される。
延伸部41は、n側電極30を囲むように形成されていれば、どのような形状に延伸することもできる。特に、延伸部41が略U字状(図1では上下が逆向きのU字状に描かれている)であるのが好ましい。
図1において、上側から下向きに伸びるp側電極40は、左右に分岐したのちに弧を描きながら下方向に延びている。「U字状の延伸部41」とは、図1のp側電極40において、左右に分岐して下方向に伸びている部分を指している。
複数の第1接続部45(開口部51)を形成するときに、第1接続部45とn側電極30との距離をほぼ等しくすると、各第1接続部45からn側電極30に流れる電流の電流密度が同程度になる。よって、第1接続部45とn側電極30との間の輝度がほぼ一定にできる利点がある。そして、延伸部41を略U字状に形成することにより、第1接続部45の形成位置に関係なく、第1接続部45とn側電極30との距離をほぼ等しくすることができる。
すなわち、延伸部41をU字状にすることにより、任意の位置に第1接続部45(開口部51)を形成しても、発光むらを抑えることができる。
第2電極(n側電極)30は第2配線(n側配線)37を備えることが好ましい。本明細書における「n側配線37」とは、切欠き部15に設けられたn側電極30から延びる配線部分を指す。n側配線37を設けることにより、外部電源と接続されるパッド(図示せず)と、パッドから離れた位置(例えば領域55内)に形成されたn側電極30との間を、電気的に接続することができる。よって、領域55内に第2接続部35を設けることが比較的容易になる。
n側配線37は、発光する領域(主に、領域55)の外側まで設けることが好ましい。具体的には、図1のように、切欠き部15が発光部10内に孤立して形成されている場合(つまり、切欠き部15の周囲が、全てp型半導体層13で囲まれている場合)、n側配線37は、p型半導体層13の上に形成されることになる。n側電極30とp型半導体層13との短絡を防止するために、n側配線37とp型半導体層13と間に、絶縁膜60を介在させるとよい(図2B参照)。また、絶縁膜60により、発光層12からn側配線37に入射する光が減少するので、n側配線37での発光吸収が抑制される。よって、半導体発光素子1の光取出し効率が向上する効果も得られる。
また、別の例としては、切欠き部15が発光部10の外側まで連続して設けられている場合(図示せず)、n側配線37は、切欠き部15に(すなわち、n型半導体層11の上に)形成することができる。n側配線37とn型半導体層11との間は絶縁する必要はないので、それらの間には絶縁膜を介在させても、させなくてもよい。特に、絶縁膜を介在させると、発光層12からn側配線37に入射する光を減少させて、n側配線37での発光吸収を抑制することができる。すなわち、絶縁膜を介在させることにより、半導体発光素子1の光取出し効率が向上する効果が得られる。
なお、切欠き部15を形成するには、発光層12を除去する必要がある。よって、切欠き部15の面積をできるだけ小さくすると、発光層12の面積を広くすることができる。特に、図1のように、切欠き部15を孤立して形成すると、切欠き部15の面積は、第2接続部35の形成に必要な面積まで縮小可能なため、発光部10の面積を広くするのに有利である。
図1の半導体発光素子1を応用して、大面積化に適した半導体発光素子を形成することもできる。図3及び図4を参照しながら、半導体発光素子1の応用例を詳細に説明する。
図3に示すように、本発明の半導体発光素子1では、1つの発光部10に、n側電極30とp側電極40とから成る電極対50を複数形成してもよい。図1と同様に、電極対50のp側電極40の2本の延伸部41の先端近傍には、第1接続部45(開口部51)がそれぞれ形成されている。また、2つの第1接続部45を結ぶ領域55の内部には、n側電極30が形成されている。なお図3では、第1接続部45、開口部51及び領域55は1つ(上側)の電極対50のみに図示されているが、実際には、それらの構成は、全ての電極対50に形成されている。
特に、大面積の半導体発光素子1を形成する場合には、複数の電極対50を形成することにより、半導体発光素子1の全体を発光させることができる。よって、大面積の半導体発光素子1であっても、発光むらを抑えることができる。
図3には、2つのnパッド33と、2つのpパッド43とが図示されている。これらのパッド3、43は、半導体発光素子1と外部電源との接続の際に、ワイヤ等をボンディングする部分である。
1つのnパッド33には、隣接する電極対20のn側電極30から、それぞれ1本(合計2本)のn側配線37が接続されている。そして、全ての(図3では3つの)n側電極30が、nパッド33とn側配線37によって接続されている。
また、1つのpパッド43には、隣接する電極対20のp側電極40から、それぞれ1本(合計2本)の第1配線(p側配線)47が接続されている。そして、全ての(図3では3つの)p側電極40が、pパッド43とp側配線47によって接続されている。
n側配線37及びp側配線47を上述のように接続することにより、複数の電極対50が並列に接続される。
なお、隣接する2つのn側電極30は、nパッド33と接続する前に、互いのn側配線37によって接続されてもよい。また、隣接する2つのp側電極40も、pパッド43と接続する前に、互いのp側配線47によって接続されてもよい。
複数の電極対50は、直列に接続することもできる(図示せず)。2つの電極対20を直列接続する例を具体的に説明する。2つの電極対20を隣接配置し、一方の電極対20のn側電極30と、他方の電極対20のp側電極40とを、n側配線37及びp側配線47を介して接続する。そして、一方の電極対20のp側電極40は、p側配線47を介してpパッド43と接続する。他方の電極対20のn側電極30は、n側配線37を介してnパッド33と接続する。3つ以上の電極対20を直列接続する場合も同様に接続すればよく、隣接する電極対20のn側電極30とp側電極40とを接続し、両端に位置するn側電極30とp側電極40とを、それぞれnパッド33及びpパッド43と接続する。
1つの発光部10に複数の電極対20を形成する場合には、図3のように並列に接続するのがより好ましい。電極対20を並列にすると、全ての電極対20の周囲の発光の強度がほぼ等しくなるので、発光部10の発光むらを抑制することができる。
図4に示すように、本発明の半導体発光素子1では、複数の発光部10を備えることができる。そのような半導体発光素子1は、特に、大面積の半導体発光素子1を形成するのに適している。複数の発光部10を形成し、各発光部10を発光させることにより、大面積の半導体発光素子1であっても発光むらを抑えることができる。
図4には、図3に示した「複数(3つ)の電極対50を備えた発光部10」を、さらに複数(3つ)備えた半導体発光素子1を図示している。nパッド33は、一番下の発光部10の下縁部に形成され、pパッド43は、一番上の発光部10の上縁部に設けられている。まん中の発光部10には、いずれのパッド33、43も形成されていない。
また、隣り合う発光部10と発光部10との間から、基板3が露出されている。
図4では、横方向(各発光部10内)に配列した3つの電極対20は、図3と同様に並列に接続されている。
そして、縦方向(隣接する発光部10間)に配列した3つの電極対20は、直列に接続される。つまり、縦方向に隣接する電極対20の一方に含まれるn側電極30(例えば、一番上の発光部10のn側電極30)と、他方に含まれるp側電極40(例えば、まん中の発光部10のp側電極40)とが、n側配線37及びp側配線47を介して接続されている。そして、一番上の発光部10のp側電極40は、p側配線47を介してpパッド43に接続さる。また、一番下の発光部10のn側電極30は、n側配線37を介してnパッド33に接続される。
なお、縦方向(隣接する発光部10間)に配列した3つの電極対20も、並列に接続することもできる(図示せず)。つまり、縦方向に並んだ電極対20の全てのn側電極30が、それぞれのn側配線37を介して接続され、全てのp側電極40が、それぞれのp側配線47を介して接続されてもよい。そして、いずれかのn側配線37がnパッド33に接続され、いずれかのp側配線47がpパッド43に接続される。
複数の発光部10に複数の電極対20を形成する場合には、並列に接続するのがより好ましい。電極対20を並列にすると、全ての電極対20の周囲の発光の強度がほぼ等しくなるので、発光部10の発光むらを抑制することができる。
図3及び図4では、n側配線37及びp側配線47の下側に絶縁膜が形成される(図示せず)。絶縁膜により、n側配線37及びp側配線47は、その下にあるn型半導体層11、p型半導体層13、及び透光性電極70と絶縁される。なお、図4の発光部10間のように、基板13の上にn側配線37及びp側配線47を形成する場合にも、n側配線37及びp側配線47と基板13との間に絶縁膜を形成するのが好ましい。
pパッド43は、発光部10の上側に形成されてもよいが、特に、発光部10の外側に形成されるのが好ましい。pパッド43を発光部10の外側に形成すると、発光層12からの光をpパッド43が吸収するのを防ぐことができる。さらに、pパッド43によって発光層12からの光が遮られるのを防止する効果も得られる。
上面図(図3及び図4)における具体的なpパッド43の形成位置としては、発光素子1の端部が最も好ましい。
また、断面図における具体的なpパッド43の形成位置としては、基板3上又はn型半導体層11上が挙げられる。これらの位置は、直下に発光層12を含まないので、発光の吸収や遮光の影響を少なくできる。なお、n型半導体層11上にpパッド43を形成する場合には、絶縁膜等を介して絶縁する必要がある。
さらに、光吸収の抑制と遮光の低減のために、発光部10の上側に形成されるp側配線47の長さをできるだけ短くするのが好ましい。例えば、図3では、隣接する電極対20のp側電極40は、p側配線47やpパッド43を介して並列接続されるが、その際に、p側配線47の長さができるだけ短くなるように配線するのが好ましい。具体例としては、隣接する電極対20のそれぞれのp側電極40から、最近接の発光部10の縁部までp側配線47を延ばし、発光部10外側で互いのp側配線47を接続する。
また、nパッド33も、発光部10の上側に形成されてもよいが、特に発光部10の外側に形成されるのが好ましい。nパッド33を発光部10の外側に形成すると、発光層12からの光をnパッド33が吸収するのを防ぐことができる。さらに、pパッド43によって発光層12からの光が遮られるのを防止する効果も得られる。
上面図(図3及び図4)における具体的なnパッド33の形成位置としては、発光素子1の端部が最も好ましい。
また、断面図における具体的なnパッド33の形成位置としては、基板3上又はn型半導体層11上が挙げられる。これらの位置は、直下に発光層12を含まないので、発光の吸収や遮光の影響を少なくできる。
また、p型半導体層13はp型窒化物半導体層であり、n型半導体層11はn型窒化物半導体層にすることができる。
p型の窒化物半導体層は、n型の窒化物半導体層に比べて非常に抵抗が高いので、電流が面内に広がりにくい。しかしながら、本発明では、p型半導体層13の表面に透光性電極70を有しており、この透光性電極70が、p型半導体層13の面内に電流を広げる補助として機能するので、発光層12に流れる電流も、面内に均一に流れやすくなる。よって、本発明は、p型半導体層13をp型窒化物半導体層から形成するのに好適である。
次に、各構成部材について詳述する。
(基板3)
基板3は、半導体結晶をエピタキシャル成長させるのに適した材料から形成される。窒化物半導体のエピタキシャル成長に適した基板3としては、C面、A面、R面のいずれかを主面とするサファイア(A1)やスピネル(MgA12)のような絶縁性基板、またSiC(6H、4H、3C)、シリコン、ZnS、ZnO、GaAs、ダイヤモンド;LiNbO、NdGaO等の酸化物基板、窒化物半導体基板(GaN、AlN等)等が挙げられる。また、半導体成長面がオフアングルした基板、或いは凹凸構造が設けられた基板であってもよい。なお、基板3は、最終的に除去することもできる。さらに、透光性を有する基板であれば、半導体素子構造を積層した主面に対向するもう一方の主面側を光取り出し面とすることも可能である。
(発光部10)
半導体発光素子1を構成する発光部10としては、いわゆる発光ダイオード、レーザーダイオードなどが好適である。発光部10の形状は特に限定されず、例えば、円形、楕円形、多角形又はこれに近い形状のものを利用することができる。特に、三角形、四角形、六角形などの形状であると、半導体発光素子1を形成する際に、複数の発光部10を緻密に配置できるので好ましい。
発光部10の構造としては、MIS接合、PIN接合、PN接合等のホモ構造、ヘテロ結合あるいはダブルヘテロ結合のものが挙げられる。また、半導体活性層12を量子効果が生ずる薄膜に形成させた単一量子井戸構造、多重量子井戸構造としてもよい。活性層12には、Si、Ge等のドナー不純物及び/又はZn、Mg等のアクセプター不純物がドープされる場合もある。得られる半導体発光素子1の発光波長は、半導体の材料、混晶比、活性層12のInGaNのIn含有量、活性層12にドープする不純物の種類を変化させる等によって、紫外領域から赤外領域まで変化させることができる。
発光部10に含まれるn型半導体層11、活性層12及びp型半導体層13は、例えば、InN、AlN、GaN、InGaN、AlGaN、InGaAlN等の窒化物半導体、III−V族化合物半導体、II−VI族化合物半導体等、種々の半導体から形成することができる。特に、n型半導体層11、活性層12p型半導体層13は、窒化物半導体から形成するのが好ましい。
窒化物半導体から成る発光部10の具体例としては、例えば、AlGaNよりなるバッファ層、アンドープGaN層、Siドープn型GaNよりなるn側コンタクト層、GaN層とInGaN層とを交互に積層させた超格子構造のn側クラッド層、GaN層とInGaN層とを交互に積層させた多重量子井戸構造の発光層、MgドープAlGaN層とMgドープInGaN層とを交互に積層させた超格子構造のp側クラッド層、MgドープGaNよりなるp側コンタクト層を含むことができる。
(電極30、40)
電極30、40は、第1接続部45及び第2接続部35を形成する際に、n型半導体層11もしくは透光性電極70と接続される。よって、第1接続部45及び第2接続部35が低抵抗な状態で接続できるように、電極30、40の材料が選択される。電極30、40を積層構造で設ける場合、例えばAu、Pt、Pd、Rh、Ni、W、Mo、Cr、Tiのいずれかの金属またはこれらの合金やそれらの組み合わせとすることができる。具体的な一例として、窒化物半導体層や透光性電極70と接続する側からTi/Rh/Au、W/Pt/Au、Rh/Pt/Au、W/Pt/Au/Ni、Pt/Au、Ti/Rhなどを用いて構成することができる。
(透光性電極70)
発光部上の第2導電型半導体層に設けられる透光性電極70は、第2導電型半導体層の全面に設けられることが好ましい。発光層12からの光は、この透光性電極70を通って外部に放出される。そのため、透光性電極70には、特に、発光層で発生する光の波長域における光透過率が大きい材料が好適に用いられる。例えば、透光性電極70としては、In、Zn、Sn、Ga、W、Tiから選択される少なくとも1種を含む導電性の酸化物、具体的には、ITO、IZO、ZnO、In、SnO、TiO及びこれらの複合酸化物が挙げられる。
(絶縁膜50、60)
絶縁膜50、60は、p型半導体層13よりも屈折率の小さい材料から形成するのが好ましい。これにより、p型半導体層13側から入射した光は、p型半導体層13と絶縁膜50、60との界面で全反射が起こりやすくなる。よって、絶縁膜50、60の上側に形成されたn側電極30(n側配線37を含む)及びp側電極40(p側配線47を含む)に入射する発光を効果的に低減して、それらの電極30、40に吸収される発光を低減することができる。その結果、半導体発光素子1の発光の取出し効率を向上させることができる。
p型半導体層13がGaNに代表される窒化物半導体層(n=2.5〜2.6)から成る場合、絶縁膜50、60は、屈折率が2.5未満(n<2.5)の材料が適している。
さらに、絶縁膜50、60は、透光性電極70よりも屈折率の小さい材料から形成するのが好ましい。これにより、透光性電極70の上に絶縁膜50、60が形成された場所において、透光性電極70と絶縁膜50、60との界面で全反射が起こりやすくなる。よって、絶縁膜50、60の上側に形成されたn側電極30(n側配線37を含む)及びp側電極40(p側配線47を含む)に入射する発光を効果的に低減して、それらの電極30、40に吸収される発光を低減することができる。その結果、半導体発光素子1の発光の取出し効率を向上させることができる。
透光性電極70がITO(屈折率:n=2.1〜2.2)である場合、絶縁膜50、60に適した材料には、SiO(n=1.46)、Al(n=1.6)などがある。
<第2の実施形態>
図5は、延伸部41に第1接続部45(開口部51)を3つ設けた点で、第1の実施形態と異なる。第1接続部45を3つ以上設けると、それらを結ぶ領域55が多角形となるため、領域55の面積は、主に第1接続部45の配置に依存する。よって、本実施の形態では、第1接続部45の寸法が小さくても、十分な面積の領域55を確保できる。
なお、第1の実施形態(図1参照)では、第1接続部45を2つだけ設けているので、第1接続部45を結んだ領域55の面積は、第1接続部45の寸法(例えば、延伸部41の延伸方向における第1接続部45の長さ)に依存する。よって、第1の実施形態では、領域55の面積を確保しながら、第1接続部45の寸法を小さくすることが難しい。
このように、本実施形態では、領域55の面積を確保しながら第1接続部45(開口部51)の寸法を小さくできるので、延伸部41と透光性電極70(p型半導体層13)との間に備える絶縁膜50を大きく設けることができる。よって、延伸部41での発光吸収をさらに抑制することができる。
また、本実施形態も、第1の実施形態と同様に、領域55の内部にn側電極30の第2接続部35の少なくとも一部が含まれているので、n側電極30周囲の暗部が減少し、発光むらを抑えることができる。
本実施形態では、第1接続部45(開口部51)の個数は、3つ以上であれば任意に選択できる。また、第1接続部45の配置は任意に設計することができる。一例として、図6〜図7に、5つの第1接続部45の配置例を示す。
図6〜図7に示す半導体発光素子1では、5つの第1接続部45を設けている。まず、2本の延伸部41の先端に、第1接続部45(451)を各々1つ(合計2つ)形成する。そして、2つの延伸部41のほぼ中央の位置に第1接続部45(452)を1つ形成する。第1接続部452から湾曲して左右に延びる延伸部41に、さらに第1接続部45(453)を各々1つ(合計2つ)形成する。第1接続部453は、湾曲した延伸部41に沿って、中央の第1接続部452と端部の第1接続部451との間に位置することになる。
ここで、図6では、第1接続部453は、延伸部41に沿って測定したときに、隣接する中央の第1接続部452と端部の第1接続部541との間隔が等しくなるように配置されている。一方、図7では、図6に比べると、第1接続部453が先端の第1接続部451寄りに配置されている。
なお、図6〜図7では、第1接続部45は左右対称の位置に配置されているが、これに限定されず、左右非対称に配置しても構わない。また、形成する第1接続部45の個数によっては、中央の第1接続部452を形成しなくてもよい。
図6〜図7のいずれの半導体発光素子1でも、領域55の内側にn側電極30の第2接続部35の少なくとも一部が含まれているので、n側電極30周囲の暗部が減少し、発光むらを抑えることができる。特に、図6のように開口部51を等間隔に形成すると、発光むらが最も小さくできる。
なお、開口部51の形状は、図3〜図5では円形にされているが、これに限定されない。第1接続部45は、少なくともp側電極から透光性電極70に電流が流れればよく、楕円形、多角形等の任意の形状にすることができる。
上述の第1及び第2の実施形態では、第1導電型半導体層がp型半導体層13から成り、第2導電型半導体層がn型半導体層11から成る半導体発光素子1を説明してきた。しかしながら、特に限定する場合を除いて、本発明は、第1導電型半導体層がn型半導体層から成り、第2導電型半導体層がp型半導体層から成る半導体発光素子も含むものと理解されるべきである。この場合、第1電極がn側電極、第2電極はp側電極となる。
また、本発明で使用される透光性電極70は、第1導電型半導体層が高抵抗の場合(例えばp型窒化物半導体層から成る場合)に、第1導電型半導体層の面内に沿って電流を拡げるのに非常に有効である。しかしながら、第1導電型半導体層の抵抗がそれほど高くなく、第1導電型半導体層の内部で十分に電流を拡げることができる場合等には、透光性電極70を設けなくてもよい。
本発明の半導体発光素子は、照明用光源、各種インジケーター用光源、車載用光源、ディスプレイ用光源、液晶のバックライト用光源、センサー用光源、信号機、車載部品、看板用チャンネルレター等、種々の光源に使用することができる。
1 半導体発光素子
3 基板
10 発光部
11 第1導電型層(n型半導体層)
12 発光層
13 第2導電型層(p型半導体層)
15 切欠き部
20 電極対
30 第1電極(n側電極)
33 nパッド
35 第2接続部
37 第2配線(n側配線)
40 第2電極(p側電極)
41 延伸部
43 pパッド
45 第1接続部
47 第1配線(p側配線)
50、60 絶縁膜
51 開口部
55 領域
70 透光性電極

Claims (5)

  1. 基板と、
    前記基板上において、n型窒化物半導体層、発光層及びp型窒化物半導体層を順に積層した発光部と、
    前記n型窒化物半導体層に接続されたn側電極と、前記p型窒化物半導体層上に設けた透光性電極に接続されたp側電極と、からなる電極対と、
    を備えた半導体発光素子であって、
    前記半導体発光素子を上面から見て、
    前記p側電極は、前記基板上であって前記発光部の外側に、外部と接続されるパッド部を備え、前記パッド部から延伸し前記発光部上で前記n側電極を囲むように形成された略U字状の延伸部を含み、
    前記延伸部は、その下部に絶縁膜を備えると共に、前記略U字状の延伸部の2つの先端に対応する位置を含む少なくとも3か所において前記透光性電極と電気的に接続される3以上の第1接続部を有し、
    前記n側電極は、前記3以上の第1接続部を結ぶ領域に、前記n型窒化物半導体層と電気的に接続される第2接続部を有し、当該第2接続部と各第1接続部との間の距離が略等しいことを特徴とする半導体発光素子。
  2. 前記n側電極は、n側配線を含み、
    n側配線の下部に、絶縁膜を備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体発光素子。
  3. 前記発光部に前記電極対が複数形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体発光素子。
  4. 複数の前記発光部を有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の半導体発光素子。
  5. 前記絶縁膜が、前記透光性電極より屈折率の小さい材料からなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の半導体発光素子。
JP2009044203A 2009-02-26 2009-02-26 半導体発光素子 Expired - Fee Related JP5614938B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009044203A JP5614938B2 (ja) 2009-02-26 2009-02-26 半導体発光素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009044203A JP5614938B2 (ja) 2009-02-26 2009-02-26 半導体発光素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010199395A JP2010199395A (ja) 2010-09-09
JP5614938B2 true JP5614938B2 (ja) 2014-10-29

Family

ID=42823803

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009044203A Expired - Fee Related JP5614938B2 (ja) 2009-02-26 2009-02-26 半導体発光素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5614938B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5428684B2 (ja) * 2009-09-11 2014-02-26 豊田合成株式会社 半導体発光素子
JP5087097B2 (ja) 2010-03-08 2012-11-28 株式会社東芝 半導体発光素子
JP5776203B2 (ja) * 2011-02-14 2015-09-09 日亜化学工業株式会社 発光素子
JP5549629B2 (ja) * 2011-03-30 2014-07-16 サンケン電気株式会社 発光素子
KR101888604B1 (ko) * 2011-10-28 2018-08-14 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 및 발광 소자 패키지
KR101871372B1 (ko) * 2011-10-28 2018-08-02 엘지이노텍 주식회사 발광 소자
JP5948915B2 (ja) * 2012-02-02 2016-07-06 日亜化学工業株式会社 半導体発光素子
JP6070406B2 (ja) * 2013-05-16 2017-02-01 日亜化学工業株式会社 発光素子
CN110047865B (zh) * 2013-09-03 2024-02-23 晶元光电股份有限公司 具有多个发光结构的发光元件
JP2015109332A (ja) * 2013-12-04 2015-06-11 シャープ株式会社 半導体発光素子
JP6384175B2 (ja) * 2014-07-25 2018-09-05 日亜化学工業株式会社 半導体発光素子
JP6149878B2 (ja) 2015-02-13 2017-06-21 日亜化学工業株式会社 発光素子
CN113851933A (zh) * 2021-09-18 2021-12-28 常州纵慧芯光半导体科技有限公司 一种垂直腔面发射激光器

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4810746B2 (ja) * 2000-03-31 2011-11-09 豊田合成株式会社 Iii族窒化物系化合物半導体素子
JP4089194B2 (ja) * 2001-09-28 2008-05-28 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体発光ダイオード
JP4148494B2 (ja) * 2001-12-04 2008-09-10 シャープ株式会社 窒化物系化合物半導体発光素子およびその製造方法
JP2003243709A (ja) * 2002-02-15 2003-08-29 Matsushita Electric Works Ltd 半導体発光素子
JP3912219B2 (ja) * 2002-08-01 2007-05-09 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体発光素子
JP2006073618A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Toyoda Gosei Co Ltd 光学素子およびその製造方法
US7573074B2 (en) * 2006-05-19 2009-08-11 Bridgelux, Inc. LED electrode
WO2008026902A1 (en) * 2006-08-31 2008-03-06 Epivalley Co., Ltd. Iii-nitride semiconductor light emitting device
JP4882792B2 (ja) * 2007-02-25 2012-02-22 日亜化学工業株式会社 半導体発光素子

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010199395A (ja) 2010-09-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5614938B2 (ja) 半導体発光素子
JP5652234B2 (ja) 半導体発光素子
KR100974923B1 (ko) 발광 다이오드
KR100706944B1 (ko) 질화물계 반도체 발광소자
KR101654340B1 (ko) 발광 다이오드
US8525212B2 (en) Light emitting diode having electrode extensions
US8076688B2 (en) Light emitting diode having extensions of electrodes for current spreading
KR101138951B1 (ko) 발광다이오드
JP5326225B2 (ja) 窒化物半導体発光素子
JP2004221529A (ja) 発光ダイオード
KR100701975B1 (ko) 발광 소자
JP5141086B2 (ja) 半導体発光素子
JP4635985B2 (ja) 発光ダイオード
KR100812737B1 (ko) 플립칩용 질화물계 발광소자
US20130146906A1 (en) Ultraviolet semiconductor light emitting device
EP2226859A2 (en) Semiconductor light emitting device
JP2013258177A (ja) Iii族窒化物半導体発光素子
JP2013098211A (ja) 半導体発光素子
JP6994663B2 (ja) 発光素子
WO2016152397A1 (ja) 窒化物半導体発光素子
KR20110015094A (ko) 균일한 전류밀도 특성을 갖는 발광 다이오드
KR100721142B1 (ko) 질화물계 반도체 발광소자
JP2016054308A (ja) 半導体発光素子
KR101106135B1 (ko) 균일한 전류밀도 특성을 갖는 발광 다이오드
KR100769719B1 (ko) 질화물계 반도체 발광소자

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130122

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130325

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130521

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130722

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130813

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131112

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20140106

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20140117

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140909

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5614938

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees