JP5604076B2 - 光通信モジュール及び光通信モジュールの制御方法 - Google Patents

光通信モジュール及び光通信モジュールの制御方法 Download PDF

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Description

本発明は、光通信モジュール及び光通信モジュールの制御方法に関する。
光通信モジュールの小型化、低電力化、低コスト化を実現するために、光通信モジュールに搭載する光モジュールを小型化、低電力化、低コスト化する技術が開発されている。例えば伝送距離が40km以上の中長距離用の光通信モジュールには外部変調用素子を備えた1550nm帯の光モジュールが用いられており、特に小型化が望まれるプラガブル(Pluggable)のフォームファクター(Form Factor)では、外部変調用素子として電界吸収を利用する電界吸収型光変調素子を搭載した光モジュールが用いられている。
電界吸収型光変調素子は、温度等の環境変化に応じて光吸収特性が変化するため、例えば下記の特許文献1に記載されているように、光モジュールに電界吸収型光素子の温度を一定に保つ温度制御回路を設けているものがある。
特開2000−91695号公報
しかしながら、光モジュールに温度制御回路を設けると、温度制御のために消費電力が大きくなるほか、光モジュールが大型化し、さらにはコストもかかってしまっていた。
そこで、本発明では、光モジュールに温度制御回路を設けずに良好な光伝送特性が得られる光通信モジュール及び光通信モジュールの制御方法を提供することをその目的の一つとする。
上記目的を達成するために、本発明の一態様に係る光通信モジュールは、レーザーを発光するレーザー発光素子と、変調信号とバイアス電圧とに基づいて変調した電圧に応じて前記レーザー発光素子により発光されるレーザーを吸収する電界吸収型光変調素子と、前記電界吸収型光変調素子の温度と相関して変化するデータを検出する検出手段と、少なくともバイアス電圧と前記データとの関係を定めた関係データに基づいて、前記検出手段により検出されるデータに対応するバイアス電圧を設定する設定手段と、を含むこととする。
また、本発明の他の一態様に係る光通信モジュールでは、前記検出手段により検出されるデータは、前記電界吸収型光変調素子の温度と正の相関があり、前記関係データは、前記データが増加するにつれ、前記バイアス電圧が増加するように定めることとする。
また、本発明の他の一態様に係る光通信モジュールでは、前記検出手段は、前記レーザー発光素子に供給される電流を検出し、前記設定手段は、バイアス電圧と前記供給される電流との関係を定めた関係データに基づいて、前記検出手段により検出される電流に対応するバイアス電圧を設定することとする。
また、本発明の他の一態様に係る光通信モジュールでは、前記検出手段は、前記光通信モジュールの温度を検出し、前記設定手段は、バイアス電圧と前記検出される温度との関係を定めた関係データに基づいて、前記検出手段により検出される温度に対応するバイアス電圧を設定することとする。
また、本発明の他の一態様に係る光通信モジュールでは、前記関係データは、前記レーザー発光素子に供給する電流を制御する電流設定値と前記検出される温度との関係を定め、前記設定手段は、前記検出手段により検出される温度に対応する電流設定値を設定することとする。
また、本発明の他の一態様に係る光通信モジュールでは、前記レーザー発光素子の後方光出力を受光する受光素子と、前記検出手段により検出されるデータを変数とした式と、前記受光素子により検出される光出力とを乗算した関数により前記光通信モジュールからの出力光強度を算出する手段と、をさらに含むこととする。
また、本発明の他の一態様に係る光通信モジュールでは、前記関係データは、変調信号の振幅、クロスポイント、及びバイアス電圧と前記検出されるデータとの関係を定め、前記設定手段は、前記検出手段により検出されるデータに対応する振幅、クロスポイント、及びバイアス電圧を設定することとする。
また、本発明の一態様に係る光通信モジュールの制御方法は、レーザーを発光するレーザー発光素子と、変調信号とバイアス電圧とに基づいて変調した電圧に応じて前記レーザー発光素子により発光されるレーザーを吸収する電界吸収型光変調素子と、を含む光通信モジュールの制御方法であって、前記電界吸収型光変調素子の温度と相関して変化するデータを検出する検出ステップと、少なくともバイアス電圧と前記データとの関係を定めた関係データに基づいて、前記検出ステップで検出されるデータに対応するバイアス電圧を設定する設定ステップと、を含むこととする。
本発明の一態様によれば、電界吸収型光変調素子の温度を一定に保つ回路を設けずに光通信モジュールからの光出力波形を適切に制御できる。
本発明の一態様によれば、電界吸収型光変調素子の温度変化に応じて光通信モジュールからの光出力波形を適切に制御できる。
本発明の一態様によれば、レーザー発光素子に供給される電流に応じて光通信モジュールからの光出力波形を適切に制御できる。
本発明の一態様によれば、光通信モジュールの温度に応じて光通信モジュールからの光出力波形を適切に制御できる。
本発明の一態様によれば、光通信モジュールの温度に応じてレーザー発光素子に供給する電流を制御して、光通信モジュールからの光出力波形を適切に制御できる。
本発明の一態様によれば、光通信モジュールからの光出力強度を精度良く算出できる。
本発明の一態様によれば、変調信号の振幅とクロスポイントを固定とする場合に比べて、光通信モジュールからの光出力波形を細かく制御できる。
第1の実施形態に係る中長距離伝送用の光通信モジュールの構成を示す機能ブロック図である。 光モジュールの内部回路図である。 EA部の温度に応じた消光特性の一例を示す図である。 IFモニター値とバイアス電圧設定値との関係を示す関係データの一例を示す図である。 IFモニター値とバイアス電圧との関係の一例を示す図である。 第1の実施形態に係る光通信モジュールの40kmの光通信伝送特性TDPを示す図である。 第1の実施形態に係る光通信モジュールの光出力強度PFと実際の光出力との比較結果を示す図である。 第2の実施形態に係る光通信モジュールの構成を示す機能ブロック図である。 温度モニター値とバイアス電圧設定値との対応関係を示す関係データの一例を示す図である。 第2の実施形態に係る光通信モジュールの40kmの光通信伝送特性TDPを示す図である。 第2の実施形態に係る光通信モジュールの光出力強度PFと実際の光出力との比較結果を示す図である。
以下、本発明を実施するための好適な実施の形態(以下、実施形態という)を、図面に従って説明する。
図1には、本発明の第1の実施形態に係る中長距離伝送用の光通信モジュール1の構成を示す機能ブロック図を示した。図1に示されるように、光通信モジュール1は、制御部5、光モジュール10、電流源18、IFモニター部20、IMPDモニター部22、変調部24、バイアス電圧制御部26、メモリ28、モニター値出力部30を備えている。
制御部5は、信号を処理するプロセッサを含み、光通信モジュール1の各部を制御するものである。例えば、制御部5は、IFモニター部20やIMPDモニター部22等から出力されるモニター値を取得し、当該取得したモニター値に基づいて電流源18、変調部24、バイアス電圧制御部26等の設定値を制御する処理等を行う。
光モジュール10は、レーザー部12、EA部14及びMPD16を含み、送信データに基づいて変調した光信号を送信するモジュールである。
レーザー部12は、電流源18から流入する駆動電流に応じて発光する素子である。レーザー部12の前端面より出射される前方出射光はEA部14に入力し、またレーザー部12の後端面より出射される後方出射光はMPD16に入力する。
EA部14は、バイアス電圧制御部26により発生されるバイアス電圧と変調部24により発生される変調信号とに基づく駆動電圧に応じて、レーザー部12により発光されるレーザー光を吸収して強度変調した光信号を出力する電界吸収型光変調素子である。
図2には、光モジュール10の内部回路図を示した。図2に示されるように、レーザー部12のカソード端子とEA部14のカソード端子が接合され、EA部14とインピーダンス整合用の回路が並列接続されている。レーザー部12のカソード端子とEA部14のカソード端子とを光通信モジュール1のパッケージに接続してアース電位としてよい。このレーザー部12のカソード端子とEA部14のカソード端子との接合部位が基準電位であり、EA_Biasは基準電位aを基準としたEA部14のアノード端子の直流電位として表される。例えばEA_Biasは、消費電力や素子の特性に応じて−3V〜0Vの範囲内を動作範囲としてよい。
図3は、EA部14の温度に応じた消光特性の一例を示す図である。図3に示すように、EA部14の温度が変化するに伴いEA部14の消光特性は変化する。例えば温度T,T,Tの関係をT<T<Tとすると、EA部14の消光比の変化が急峻な箇所がEA_Biasの大きい方にシフトしていく(すなわち基準電位側にシフトしていく)。
MPD16は、レーザー部12の後端面から出射される後方出射光を受光するモニター用のフォトダイオードである。MPD16には、受光した後方出射光の強度に応じて電流が流れる。
IMPDモニター部22は、レーザー部12の後端面から出射される後方出射光の受光に伴いMPD16に流れる電流を検知し、検知した電流を電圧変換したMPDモニター値を制御部5に出力する。
電流源18は、レーザー部12に供給する駆動電流IFを発生する回路である。駆動電流IFは、制御部5により設定されるIF_SETに応じて制御される。例えば、IF_SETはIMPDモニター部22により検知される電圧と、基準電圧との差に応じて設定されることとしてもよい。
IFモニター部20は、制御部5により設定されたIF_SETに応じて電流源18からレーザー部12に供給される駆動電流を検出する回路である。IFモニター部20により検出された駆動電流のモニター値(IFモニター値)は制御部5に出力される。
変調部24は、設定された振幅及びクロスポイントに基づいて変調信号を発生するものである。振幅は制御部5により設定されるVmod_SETにより制御され、クロスポイントは制御部5により設定されるVdut_SETにより制御される。
バイアス電圧制御部26は、EA部14に印加するバイアス電圧を発生するものである。バイアス電圧は、制御部5により設定されるVEAB_SETにより制御される。
EA部14の温度制御を行わずに、IF_SET、Vmod_SET、Vdut_SET、VEAB_SETの各設定値を固定とした場合には、図3に示すような温度に応じたEA部14の消光特性の変化により光通信モジュール1からの光出力波形が乱れてしまう。特に、中長距離伝送に関する特性の劣化は大きく、通信ダウンを引き起こす要因となってしまう。そこで、本発明の第1の実施形態では、IFモニター部20により検出される駆動電流IFの大きさに応じてEA_Biasを制御し、良好な光出力波形を維持することとする。以下、具体的な制御について説明する。
メモリ28は、光通信モジュール1の内部で検出されるデータと、少なくとも電流源18、変調部24、バイアス電圧制御部26のうち1つに設定する設定値との関係を定めた関係データを格納するものであり、例えば不揮発性メモリにより構成されることとしてよい。第1の実施形態においては、IFモニター部20により検出されるIFモニター値と、バイアス電圧制御部26に設定するVEAB_SETとの関係を定めた関係データがメモリ28に格納されていることとする。
関係データは、複数の温度毎における、IFモニター値と、当該温度におけるEA部14の消光特性に応じて決定したEA_Biasの値とを用いて、IFモニター値とVEAB_SETとの関係を定めたデータとしてよい。関係データは、IFモニター値毎に対応するVEAB_SETを定めたルックアップテーブルとして構成してもよいし、IFモニター値とVEAB_SETとの関係を数式(多項式等)で表したデータを用いることとしてもよい。
本実施形態では、制御部5は、IFモニター値が増加するとEA_Biasが大きくなるように制御することとする。これは、EA部14の温度とIFモニター値とは正の相関があり(すなわちEA部14の温度が上がるとIFモニター値が増加する)、EA部14の温度が上がった場合にはEA部14の消光比の変化が急峻な箇所がEA_Biasの大きい方にシフトしていくため、それに合わせてバイアス電圧をシフトさせることで出力信号の波形の乱れを抑えられるためである。
図4には、IFモニター値とバイアス電圧設定値(VEAB_SET)との関係を示す関係データの一例を示した。図4に示されるように、IFモニター値とVEAB_SETとは、IFモニター値が増加すると、VEAB_SETの値は減少する関係とする。これは、EA_Biasは、VEAB_SETの逆数に比例して設定されるためである。なお、図4に示したIFモニター値とVEAB_SETとの関係は、例えばIFモニター値とVEAB_SETとの離散的なサンプルデータを順次接続して生成してもよいし、これらのサンプルデータから最小二乗法を用いて線形の関係式を生成することとしてもよい。もちろん、IFモニター値とVEAB_SETとの関係はEA部14の特性に応じて定めることとしてよく、両者の関係は線形に限られず非線形であっても構わない。
図5には、IFモニター値とバイアス電圧(EA_Bias)との関係の一例を示した。図5に示したIFモニター値とバイアス電圧との関係は、図4に示した関係データに基づくものであり、IFモニター値が増加するとバイアス電圧も増加する関係となっている。
図6には、第1の実施形態に係る光通信モジュール1の40kmの光通信伝送特性TDP(dB)を示した。図6に示した例は、図4に示すIFモニター値とバイアス電圧設定値との関係に基づいて光通信伝送特性TDPを測定した例である。図6に示されるように、EA部14の温度を一定に保つ温度制御回路を具備しない光通信モジュール1であっても、40km光通信伝送特性について要求される仕様(例えば3dB以下)を満足することが可能となる。
また、上記の実施形態では、関係データには少なくともIFモニター値とバイアス電圧設定値との関係を定めておくこととしたが、IFモニター値とバイアス電圧設定値に加えて、IFモニター値と変調信号の振幅(Vmod_SET)及び/又は変調信号のクロスポイント(Vdut_SET)との関係を定めておくこととしてもよい。
モニター出力部30は、制御部5により算出された光モジュール10からの光出力強度を表示装置に出力するものである。本実施形態では、制御部5は、光出力強度PFを以下の式(1)〜(3)に基づいて算出し、モニター出力部30に出力することとする。
PF=(Acoef・IF_mon+Bcoef)・MPD_mon ・・・(1)
ここで、IF_monは、IFモニター部20で検出されたIFモニター値であり、MPD_monは、IMPDモニター部22で検出されたMPDモニター値であるとする。また、Acoef及びBcoefは光通信モジュール毎に算出、設定される係数である。Acoef及びBcoefは例えば以下のようにして算出することとしてよい。
まず、温度条件が異なる2つの条件において、光通信モジュール1から出力される光出力強度を測定し、そのときのIFモニター値とMPDモニター値とを記憶する。ここでは第1の条件において得られたIFモニター値、MPDモニター値、光出力強度をIF1、MPD1、PF1、第2の条件において得られたIFモニター値、MPDモニター値、光出力強度をIF2、MPD2、PF2とすると、AcoefとBcoefとはそれぞれ以下の式(2)、(3)により表される。
coef=(PF2/MPD2−PF1/MPD1)/(IF2−IF1) ・・・(2)
coef=(PF2/MPD2)−Acoef・IF2 ・・・(3)
図7には、上記式(1)〜(3)に基づいて算出される光出力強度PFと実際の光出力との比較結果を示した。図7に示されるように、IFモニター値に基づいて算出された光出力強度は実際の光出力に十分対応するものとなっている。なお、本実施形態では、光出力強度PFをIF_monの一次式と、MPD_monとを乗じて算出することとしたが、IF_monを含む式は多項式であっても構わない。なお、IF_monの式を多項式とする場合には、その次数に応じて温度条件が異なる条件数を増やしてAcoefとBcoefを算出することとする。
以上説明した本発明の第1の実施形態によれば、温度制御回路を設けずに省電力、小型化が可能でかつEA部14の温度が変化しても良好な光伝送特性を有する光通信モジュールを得ることができる。
次に、本発明の第2の実施形態に係る光通信モジュール1について説明する。図8には、第2の実施形態に係る光通信モジュール1の構成を示す機能ブロック図を示した。図8に示されるように、光通信モジュール1は、制御部5、光モジュール10、電流源18、IFモニター部20、IMPDモニター部22、変調部24、バイアス電圧制御部26、メモリ28、モニター値出力部30、そして温度モニター部32を備えている。第1の実施形態と第2の実施形態とでは、第2の実施形態に係る光通信モジュール1が温度モニター部32を有している点で第1の実施形態に係る光通信モジュール1と相違し、他の構成は共通しているため、共通点についての説明は省略し、以下相違点について説明する。
温度モニター部32は、光通信モジュール1の温度を検出するものであり、例えば光通信モジュール1内に設けられたサーミスタの抵抗値の変化に基づいて光通信モジュール1の温度を検出することとしてよい。温度モニター部32は、光モジュール10の周囲温度を検出することとしてもよいし、光通信モジュール1のパッケージ内の他の部分の温度を検出することとしてもよい。温度モニター部32により検出された温度モニター値は制御部5に出力され、制御部5では温度モニター部32から入力された温度モニター値に基づいてIF_SET、Vmod_SET、Vdut_SET、VEAB_SETのうち一部又は全部の値を制御することとしてよい。
第2の実施形態では、メモリ28に温度モニター値とVEAB_SETとの関係を対応づけた関係データを格納することとし、制御部5は温度モニター部32により検出される温度モニター値に応じてVEAB_SETの設定値を読み出して、EA_Biasの値を変化させることとする。
本実施形態では、制御部5は、温度モニター値が増加するとEA_Biasが大きくなるように制御することとする。これは、光モジュール10の温度と温度モニター値とは正の相関があり(すなわちEA部14の温度が上がると温度モニター値が増加する)、EA部14の温度が上がった場合にはEA部14の消光比の変化が急峻な箇所がEA_Biasの大きい方にシフトしていくため、それに合わせてバイアス電圧をシフトさせることで出力信号の波形の乱れを抑えられるためである。
図9には、温度モニター値とバイアス電圧設定値(VEAB_SET)との対応関係を示す関係データの一例を示した。図9に示されるように、温度モニター値とVEAB_SETとは、温度モニター値が増加すると、VEAB_SETの値は減少する関係とする。これは、EA_Biasは、VEAB_SETの逆数に比例して設定されるためである。なお、図9に示した温度モニター値とVEAB_SETとの関係は、例えば温度モニター値とVEAB_SETとの離散的なサンプルデータを順次接続して生成してもよいし、これらのサンプルデータから最小二乗法を用いて線形の関係式を生成することとしてもよい。もちろん、温度モニター値とVEAB_SETとの関係はEA部14の特性に応じて定めることとしてよく、両者の関係は線形に限られず非線形であっても構わない。
図10には、第2の実施形態に係る光通信モジュール1の40kmの光通信伝送特性TDP(dB)を示した。図10に示した例は、図9に示す温度モニター値とバイアス電圧設定値との関係に基づいて光通信伝送特性TDPを測定した例である。図10に示されるように、EA部14の温度を一定に保つ温度制御回路を具備していない光通信モジュール1であっても、40km光通信伝送特性について要求される仕様を満足することが可能となる。
また、上記の実施形態では、関係データには少なくとも温度モニター値とバイアス電圧設定値との関係を定めておくこととしたが、温度モニター値とバイアス電圧設定値に加えて、IF_SET、Vmod_SET、Vdut_SETのうち少なくとも1つとの関係を定めておくこととしてもよい。
第2の実施形態では、制御部5は、光出力強度PFを以下の式(4)〜(6)に基づいて算出し、モニター出力部30に出力することとしてよい。
PF=(Acoef・T_mon+Bcoef)・MPD_mon ・・・(4)
ここで、Th_monは、温度モニター部32で検出された温度モニター値であり、MPD_monは、IMPDモニター部22で検出されたMPDモニター値であることとする。また、Acoef及びBcoefは光通信モジュール毎に算出、設定する係数である。Acoef及びBcoefは例えば以下のようにして算出することとしてよい。
まず、温度条件が異なる2条件において、光通信モジュール1から出力される光出力強度を測定し、そのときの温度モニター値とMPDモニター値とを記憶する。ここでは第1の条件において得られた温度モニター値、MPDモニター値、光出力強度をTh1、MPD1、PF1、第2の条件において得られた温度モニター値、MPDモニター値、光出力強度をTh2、MPD2、PF2とすると、AcoefとBcoefはそれぞれ以下の式(5)、(6)により表される。
coef=(PF2/MPD2−PF1/MPD1)/(Th2−Th1) ・・・(5)
coef=(PF2/MPD2)−Acoef・Th2 ・・・(6)
図11には、上記式(4)〜(6)に基づいて算出される光出力強度PFと実際の光出力との比較結果を示した。図11に示されるように、温度モニター値に基づいて算出された光出力強度は実際の光出力に十分対応するものとなっている。なお、本実施形態では、光出力強度PFをTh_monの一次式と、MPD_monとを乗じて算出することとしたが、Th_monを含む式は多項式であっても構わない。なお、Th_monの式を多項式とする場合には、その次数に応じて温度条件が異なる条件数を増やしてAcoefとBcoefを算出することとする。
温度モニター部32に要する電力及びスペースは、EA部14の温度を一定に保つ温度制御回路に比べて小さいため、本発明の第2の実施形態によれば、温度制御回路を設けずに省電力、小型化が可能でかつ良好な光伝送特性を有した光通信モジュールを得ることができる。
なお、本発明は上記の実施形態に限定されるものではない。例えば上記の実施形態では、IFモニター値と温度モニター値を用いてバイアス電圧を制御することとしたが、IFモニター値と温度モニター値に限らず、EA部14に流れる電流等のEA部14の温度変化に相関するデータであれば他のデータを用いることとしてよい。
1 光通信モジュール、5 制御部、10 光モジュール、12 レーザー部、14 EA部、16 MPD、18 電流源、20 IFモニター部、22 IMPDモニター部、24 変調部、26 バイアス電圧制御部、28 メモリ、30 モニター値出力部、32 温度モニター部。

Claims (9)

  1. レーザーを発光するレーザー発光素子と、
    前記レーザー発光素子の後方光出力を受光する受光素子と、
    前記受光素子に流れる電流を検知するモニター手段と、
    変調信号とバイアス電圧とに基づいて変調した電圧に応じて前記レーザー発光素子により発光されるレーザーを吸収する電界吸収型光変調素子と、
    前記電界吸収型光変調素子の温度と相関して変化するデータを検出する検出手段と、
    少なくともバイアス電圧と前記データとの関係を定めたメモリに格納された関係データに基づいて、前記検出手段により検出されるデータに対応するバイアス電圧を設定する設定手段と、
    前記モニター手段により検知される前記受光素子に流れる電流と前記検出手段により検出されるデータに基づいて出力光強度を算出する算出手段と、
    前記算出手段により算出された出力光強度を出力するモニター出力手段と、
    を含むことを特徴とする光通信モジュール。
  2. 前記検出手段により検出されるデータは、前記電界吸収型光変調素子の温度と正の相関があり、
    前記関係データは、前記データが増加するにつれ、前記バイアス電圧が増加するように定める
    ことを特徴とする請求項1に記載の光通信モジュール。
  3. 前記検出手段は、前記レーザー発光素子に供給される駆動電流を検出し、
    前記設定手段は、バイアス電圧と駆動電流との関係を定めた関係データに基づいて、前記検出手段により検出される駆動電流に対応するバイアス電圧を設定する
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の光通信モジュール。
  4. 前記検出手段は、前記光通信モジュールの温度を検出し、
    前記設定手段は、バイアス電圧と前記検出される温度との関係を定めた関係データに基づいて、前記検出手段により検出される温度に対応するバイアス電圧を設定する
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の光通信モジュール。
  5. 前記関係データは、前記レーザー発光素子に供給する電流を制御する電流設定値と前記検出される温度との関係を定め、
    前記設定手段は、前記検出手段により検出される温度に対応する電流設定値を設定する
    ことを特徴とする請求項4に記載の光通信モジュール。
  6. 前記算出手段は、前記検出手段により検出される駆動電流のモニター値をIF_mon、前記モニター手段により検知された電流を電圧変換したモニター値をMPD_monとした場合に、前記光通信モジュールからの出力光強度PFを以下の式(1)により算出し、
    PF=(Acoef・IF_mon+Bcoef)・MPD_mon (1)
    それぞれ温度条件が異なる第1及び第2の条件において、第1の条件において得られた前記光通信モジュールからの光出力強度をPF1、そのときのIF_monの値をIF1、MPD_monの値をMPD1とし、第2の条件において得られた前記光通信モジュールからの光出力強度をPF2、そのときのIF_monの値をIF2、MPD_monの値をMPD2とした場合に、AcoefとBcoefとはそれぞれ以下の式(2)及び(3)により算出される
    coef=(PF2/MPD2−PF1/MPD1)/(IF2−IF1) (2)
    coef=(PF2/MPD2)−Acoef・IF2 (3)
    ことを特徴とする請求項3に記載の光通信モジュール。
  7. 前記算出手段は、前記検出手段により検出される温度のモニター値をT_mon、前記モニター手段により検知された電流を電圧変換したモニター値をMPD_monとした場合に、前記光通信モジュールからの出力光強度PFを以下の式(4)により算出し、
    PF=(Acoef・T_mon+Bcoef)・MPD_mon (4)
    それぞれ温度条件が異なる第1及び第2の条件において、第1の条件において得られた前記光通信モジュールからの光出力強度をPF1、そのときのT_monの値をTh1、MPD_monの値をMPD1とし、第2の条件において得られた前記光通信モジュールからの光出力強度をPF2、そのときのT_monの値をTh2、MPD_monの値をMPD2とした場合に、AcoefとBcoefとはそれぞれ以下の式(5)及び(6)により算出される
    coef=(PF2/MPD2−PF1/MPD1)/(Th2−Th1) (5)
    coef=(PF2/MPD2)−Acoef・Th2 (6)
    ことを特徴とする請求項4又は5に記載の光通信モジュール。
  8. 前記関係データは、変調信号の振幅、クロスポイント、及びバイアス電圧と前記検出されるデータとの関係を定め、
    前記設定手段は、前記検出手段により検出されるデータに対応する振幅、クロスポイント、及びバイアス電圧を設定する
    ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の光通信モジュール。
  9. レーザーを発光するレーザー発光素子と、前記レーザー発光素子の後方光出力を受光する受光素子と、前記受光素子に流れる電流を検知するモニター手段と、変調信号とバイアス電圧とに基づいて変調した電圧に応じて前記レーザー発光素子により発光されるレーザーを吸収する電界吸収型光変調素子と、を含む光通信モジュールの制御方法であって、
    前記電界吸収型光変調素子の温度と相関して変化するデータを検出する検出ステップと、
    少なくともバイアス電圧と前記データとの関係を定めたメモリに格納された関係データに基づいて、前記検出ステップで検出されるデータに対応するバイアス電圧を設定する設定ステップと、
    前記モニター手段により検知される前記受光素子に流れる電流と前記検出ステップで検出されるデータに基づいて出力光強度を算出するステップと、
    前記算出された出力光強度を出力するステップと、
    を含むことを特徴とする光通信モジュールの制御方法。
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