JP5590523B2 - オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置 - Google Patents
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Description
光位相変調ユニット22は、図1に示すように、光位相変調器48とその制御ユニット50を有している。光位相変調器48は、制御ユニット50の出力信号52にしたがって入射光の位相を変調して出射する。光位相変調器48は、例えば、強誘電体結晶ニオブ酸リチウム(LiNbO3:LN)等の光学結晶からなる光導波路を有している。光位相変調器48は、このような光導波路に電圧を印加することでその屈折率を変化させ、出射光の位相を変調する。
次に、OCT装置2の動作を説明する。
時間と共に波長が連続的に変化する可変波長光6を発生する。波長の初期値は、例えば1530nmである。一方、波長の最終値は、例えば、1570nmである。
4・・・可変波長光発生ユニット
16・・・干渉計ユニット
20・・・断層像導出ユニット
22・・・光位相変調ユニット
Claims (3)
- 時間と共に波長が変化する可変波長光を発生する可変波長光発生ユニットと、
前記可変波長光を参照光と測定光に分岐し、前記測定光を測定対象に照射して後方散乱光を発生させ、前記後方散乱光と前記参照光を結合して干渉光を生成する干渉計ユニットと、
前記干渉光の強度を測定し、測定した前記強度と前記波長の関係に基づいて前記測定対象の断層像を導出する断層像導出ユニットとを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、
前記干渉計ユニットは、変調前と変調後の前記参照光の位相差φが次式
φ=m・k−2π・n
(ただし、位相差φの単位はrad、mは0以外の調整可能な定数、kは波数、nは整数)で表されるように前記参照光を変調する光位相変調ユニットを有することを
特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。 - 請求項1に記載のオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、
前記光位相変調ユニットは、前記参照光の前記位相差φが2π(rad)又は−2π(rad)に達すると0(rad)に戻るように、前記参照光を変調することを
特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。 - 請求項1又は2に記載のオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、
前記干渉計ユニットは、前記可変波長光を前記測定光と前記参照光に分岐する光分岐器と、前記測定光を測定対象に照射し且つ前記測定光が前記測定対象により後方散乱されて発生した後方散乱光を捕捉する光照射/捕捉ユニットと、前記参照光と前記後方散乱光を
結合して前記干渉光を生成する光結合器とを有し、
前記光位相変調ユニットは、前記光分岐器と前記光結合光の間に配置されていることを、
特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。
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