JP5577838B2 - バッテリパック、電子機器及びバッテリパックの検査方法 - Google Patents
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Description
1.情報処理装置の構成
2.バッテリパックの構成
3.バッテリパックの検査手法
[情報処理装置の外観構成]
図1(a)及び(b)に、本発明の一実施形態に係る情報処理装置の外観斜視図を示す。なお、図1(a)は、情報処理装置の後述する表示画面側の外観斜視図であり、図1(b)は、情報処理装置の表示画面とは反対側の外観斜視図である。
次に、本実施形態の情報処理装置100の内部構成を、図2を参照しながら説明する。なお、図2は、情報処理装置100のハードウェアのブロック構成図である。ただし、図2では、説明の便宜上、後述する本実施形態に係るバッテリパック20の検査手法で必要となる構成部のみを示す。
図3に、本発明の一実施形態に係る情報処理装置100に用いるバッテリパック20の内部構成を示す。バッテリパック20は、複数の電池セルブロック22と、マイクロコンピュータ24(以下、略してマイコン24という)が搭載された制御基板23と、入出力ポート25とを備える。
次に、上記実施形態で説明したバッテリパック20及びそれを備える情報処理装置100におけるバッテリパック20の検査手法の一例を説明する。
本実施形態では、例えば、初期不良、制御基板23の消費電流異常(コンデンサリーク)、電極の溶接不良、電池セル中点の半田付け不良、電池セル30内の異物混入(コンタミ)、電池セル30の破損(穴空き)等の異常事象を検出する。
次に、本実施形態のバッテリパック20の検査手法の具体例を、図4を参照しながら説明する。図4は、本実施形態で行うバッテリパック20の検査手法の手順を示すフローチャートである。
ΔV/h=(Vout−Vin)/(Tout_max)
ΔV_all/h=(Vout_all−Vin_all)/(Tout_max)
本発明のバッテリパック20の検査手法の手順は、上述した図4に示す例に限定されず、次のように変更してもよい。なお、下記各種変形例においても、上記実施形態と同様の効果が得られる。
Claims (7)
- 充放電可能な電池と、
対応する電子機器本体から取り外された状態における前記電池の電圧降下に関する情報を取得して記憶するマイクロコンピュータと
を備え、
前記電池の電圧降下に関する情報が、前記対応する電子機器本体から取り外された状態の期間における、所定時刻の第1電圧と、前記所定時刻から所定期間毎に繰り返して取得され且つ前記所定期間毎に更新される第2電圧と、前記所定期間毎に更新される、前記所定時刻と前記第2電圧が取得された時刻との間の非装着時間とを含み、
前記マイクロコンピュータは、前記対応する電子機器本体から取り外された状態が発生する度に、前記電池の電圧降下に関する情報を記憶し、前記対応する電子機器本体から取り外された状態の期間が最長であるときの前記電池の電圧降下に関する情報を、バッテリパックの異常判定用のデータセットとして記憶する
バッテリパック。 - さらに、複数の前記電池から構成される電池セルブロックを複数備え、
前記マイクロコンピュータが、前記対応する電子機器本体から取り外された状態において、前記電池の電圧降下に関する情報として前記電池セルブロック毎の電圧降下に関する情報を取得して記憶する
請求項1に記載のバッテリパック。 - 電子機器本体と、
充放電可能な電池と、前記電子機器本体から取り外された状態における前記電池の電圧降下に関する情報を取得して記憶するマイクロコンピュータとを有するバッテリパックと、
を備え、
前記電池の電圧降下に関する情報が、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態の期間における、所定時刻の第1電圧と、前記所定時刻から所定期間毎に繰り返して取得され且つ前記所定期間毎に更新される第2電圧と、前記所定期間毎に更新される、前記所定時刻と前記第2電圧が取得された時刻との間の非装着時間とを含み、
前記マイクロコンピュータは、前記バッテリパックが電子機器本体から取り外された状態が発生する度に、前記電池の電圧降下に関する情報を記憶し、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態の期間が最長であるときの前記電池の電圧降下に関する情報を、バッテリパックの異常判定用のデータセットとして記憶し、
前記電子機器本体は、
前記バッテリパックが装着されるバッテリパック装着部と、
前記バッテリパック装着部に装着された前記バッテリパックに記憶された前記異常判定用のデータセットを読み出し、該読み出した異常判定用のデータセットに基づいて前記バッテリパックに異常が有るか否かを判定する異常判定部とを有し、
前記異常判定部は、前記バッテリパックから読み出した前記異常判定用のデータセットに含まれる前記第1電圧、前記第2電圧及び前記非装着時間に基づいて、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態の期間における前記バッテリパックの電圧降下率を算出し、該電圧降下率に基づいて、前記バッテリパックに異常が有るか否かを判定する
電子機器。 - 前記バッテリパックは、さらに、複数の前記電池から構成される電池セルブロックを複数有し、
前記マイクロコンピュータは、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態において、前記電池の電圧降下に関する情報として前記電池セルブロック毎の電圧降下に関する情報を取得して記憶し、
前記異常判定部は、前記バッテリパックから読み出した前記異常判定用のデータセットに基づいて、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態の期間におけるバッテリパック全体の第1の電圧降下率及び電池セルブロック毎の第2の電圧降下率を算出し、該第1の電圧降下率及び該第2の電圧降下率に基づいて、前記バッテリパックに異常が有るか否かを判定する
請求項3に記載の電子機器。 - 前記電子機器本体から取り外された際の前記バッテリパックの残充電量が、前記バッテリパックの放電特性において電圧が残充電量の低下とともに直線的に低下する領域内の残充電量である
請求項3又は4に記載の電子機器。 - 充放電可能な電池及びマイクロコンピュータを有するバッテリパックと、該バッテリパックが装着されるバッテリパック装着部及び該バッテリパック装着部に装着された該バッテリパックに異常が有るか否かを判定する異常判定部を有する電子機器本体とを備える電子機器の前記バッテリパックの前記マイクロコンピュータが、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態において、所定時刻の第1電圧と、前記所定時刻から所定期間毎に繰り返して取得され且つ前記所定期間毎に更新される第2電圧と、前記所定期間毎に更新される、前記所定時刻と前記第2電圧が取得された時刻との間の非装着時間とを含む前記電池の電圧降下に関する情報を取得して記憶するステップと、
前記マイクロコンピュータが、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態が発生する度に、前記電池の電圧降下に関する情報を記憶し、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態の期間が最長であるときの前記電池の電圧降下に関する情報を、バッテリパックの異常判定用のデータセットとして記憶するステップと、
前記異常判定部が、前記バッテリパックが前記電子機器本体に取り付けられた後、前記バッテリパックに記憶された前記異常判定用のデータセットを、前記バッテリパック装着部を介して読み出すステップと、
前記異常判定部が、前記バッテリパックから読み出した前記異常判定用のデータセットに含まれる前記第1電圧、前記第2電圧及び前記非装着時間に基づいて、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態の期間における前記バッテリパックの電圧降下率を算出し、該電圧降下率に基づいて、前記バッテリパックに異常が有るか否かを判定するステップと
を含むバッテリパックの検査方法。 - 前記バッテリパックは、さらに、複数の前記電池から構成される電池セルブロックを複数有し、
前記マイクロコンピュータが前記電池の電圧降下に関する情報を取得して記憶するステップが、前記マイクロコンピュータが前記電池セルブロック毎の電圧降下に関する情報を取得して記憶するステップを含み、
前記異常判定部が前記バッテリパックに異常が有るか否かを判定するステップが、
前記異常判定部が前記バッテリパックから読み出した前記異常判定用のデータセットに基づいて、前記バッテリパックが前記電子機器本体から取り外された状態の期間におけるバッテリパック全体の第1の電圧降下率及び電池セルブロック毎の第2の電圧降下率を算出するステップと、
前記異常判定部が、算出された前記第1の電圧降下率及び前記第2の電圧降下率に基づいて、前記バッテリパックに異常が有るか否かを判定するステップとを含む
請求項6に記載のバッテリパックの検査方法。
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