JP5556890B2 - 四重極型質量分析装置 - Google Patents
四重極型質量分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5556890B2 JP5556890B2 JP2012527517A JP2012527517A JP5556890B2 JP 5556890 B2 JP5556890 B2 JP 5556890B2 JP 2012527517 A JP2012527517 A JP 2012527517A JP 2012527517 A JP2012527517 A JP 2012527517A JP 5556890 B2 JP5556890 B2 JP 5556890B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass
- voltage
- charge ratio
- quadrupole
- offset
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/421—Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
- H01J49/4215—Quadrupole mass filters
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
また、本発明の他の目的は、質量電荷比範囲全般に亘る高い質量分解能の均一性を、ユーザの手を煩わせることなく自動的に達成することができる四重極型質量分析装置を提供することである。
a)質量電荷比に応じた電圧設定データを記憶しておくとともに、質量走査の際に質量電荷比に応じた直流電圧を変化させるための制御パラメータとして、高周波電圧の振幅に対する直流電圧の比を決めるゲイン、質量電荷比に依らず走査速度に応じて異なるオフセット電圧を決める共通オフセット、走査速度に依らず質量走査の範囲内の複数の質量電荷比に対してそれぞれ異なるオフセット電圧を設定する質量対応オフセット、をそれぞれ記憶しておく記憶手段と、
b)質量走査の実行時に少なくとも、質量電荷比の変化に応じて前記記憶手段から取得した電圧設定データをデジタル/アナログ変換しつつ前記記憶手段から取得したゲインを乗じた電圧、その時点での走査速度に応じて前記記憶手段から取得した共通オフセットをデジタル/アナログ変換した電圧、及び、質量電荷比の変化に応じて前記記憶手段から取得した質量対応オフセットをデジタル/アナログ変換した電圧、を加算して前記四重極マスフィルタに印加する直流電圧を生成する直流電圧生成手段と、
を含むことを特徴としている。
以上の処理により、制御データ記憶部52に格納すべき、「ゲイン」、「共通オフセット」、「質量対応オフセット」のテーブル中の値が全て埋まる。
2…四重極マスフィルタ
21〜24…ロッド電極
3…検出器
4…データ処理部
5…四重極駆動部
51…四重極電圧制御部
52…制御データ記憶部
53…直流電圧発生部
531、532、533…D/A変換器
534、535、536、537…加算器
538…反転アンプ
54…高周波電圧発生部
55…トランス
56…検波部
C…イオン光軸
Claims (2)
- 試料をイオン化するイオン源と、4本の電極から構成される四重極マスフィルタと、該四重極マスフィルタを通過させるイオンの質量電荷比に応じた直流電圧と高周波電圧とを加算した電圧を生成して該四重極マスフィルタに印加する四重極駆動手段と、前記四重極マスフィルタを通過したイオンを検出する検出器と、を具備する四重極型質量分析装置において、前記四重極駆動手段は、
a)質量電荷比に応じた電圧設定データを記憶しておくとともに、質量走査の際に質量電荷比に応じた直流電圧を変化させるための制御パラメータとして、高周波電圧の振幅に対する直流電圧の比を決めるゲイン、質量電荷比に依らず走査速度に応じて異なるオフセット電圧を決める共通オフセット、走査速度に依らず質量走査の範囲内の複数の質量電荷比に対してそれぞれ異なるオフセット電圧を設定する質量対応オフセット、をそれぞれ記憶しておく記憶手段と、
b)質量走査の実行時に少なくとも、質量電荷比の変化に応じて前記記憶手段から取得した電圧設定データをデジタル/アナログ変換しつつ前記記憶手段から取得したゲインを乗じた電圧、その時点での走査速度に応じて前記記憶手段から取得した共通オフセットをデジタル/アナログ変換した電圧、及び、質量電荷比の変化に応じて前記記憶手段から取得した質量対応オフセットをデジタル/アナログ変換した電圧、を加算して前記四重極マスフィルタに印加する直流電圧を生成する直流電圧生成手段と、
を含むことを特徴とする四重極型質量分析装置。
- 請求項1に記載の四重極型質量分析装置であって、
含有成分が既知である所定の試料を前記イオン源に供給し、前記四重極マスフィルタを通過させるイオンの質量電荷比を複数段階に切り替えながら、該質量電荷比が固定された状態で前記直流電圧生成手段に与える質量対応オフセットを変化させつつ前記検出器による検出信号をモニタし、複数段階に切り替えられる質量電荷比において質量分解能が揃うように各質量電荷比に対する質量対応オフセットを決定する調整手段をさらに備えることを特徴とする四重極型質量分析装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2010/063358 WO2012017548A1 (ja) | 2010-08-06 | 2010-08-06 | 四重極型質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2012017548A1 JPWO2012017548A1 (ja) | 2013-09-19 |
JP5556890B2 true JP5556890B2 (ja) | 2014-07-23 |
Family
ID=45559079
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012527517A Active JP5556890B2 (ja) | 2010-08-06 | 2010-08-06 | 四重極型質量分析装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8772707B2 (ja) |
EP (1) | EP2602809B1 (ja) |
JP (1) | JP5556890B2 (ja) |
CN (1) | CN103069540B (ja) |
WO (1) | WO2012017548A1 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6022383B2 (ja) * | 2013-03-11 | 2016-11-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析システム、及び方法 |
CN103594325A (zh) * | 2013-11-27 | 2014-02-19 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种用于多路分段离子阱的射频直流耦合驱动电路 |
AU2015218336B2 (en) | 2014-02-14 | 2019-08-15 | Perkinelmer U.S. Llc | Systems and methods for automated optimization of a multi-mode inductively coupled plasma mass spectrometer |
US9490115B2 (en) * | 2014-12-18 | 2016-11-08 | Thermo Finnigan Llc | Varying frequency during a quadrupole scan for improved resolution and mass range |
US10211040B2 (en) | 2014-11-07 | 2019-02-19 | The Trustees Of Indiana University | Frequency and amplitude scanned quadrupole mass filter and methods |
CN106601581B (zh) * | 2015-10-14 | 2018-05-11 | 北京理工大学 | 降低线性离子阱中空间电荷效应的***和方法 |
EP3493241A4 (en) * | 2016-07-27 | 2019-10-23 | Shimadzu Corporation | MASS SPECTROMETER |
CN110720133B (zh) * | 2017-06-29 | 2022-05-06 | 株式会社岛津制作所 | 四极杆质谱分析装置 |
WO2019060538A1 (en) | 2017-09-20 | 2019-03-28 | The Trustees Of Indiana University | METHODS FOR LIPOPROTEIN RESOLUTION BY MASS SPECTROMETRY |
WO2019140233A1 (en) | 2018-01-12 | 2019-07-18 | The Trustees Of Indiana University | Electrostatic linear ion trap design for charge detection mass spectrometry |
WO2019236140A1 (en) | 2018-06-04 | 2019-12-12 | The Trustees Of Indiana University | Charge detection mass spectrometry with real time analysis and signal optimization |
CN112703579A (zh) | 2018-06-04 | 2021-04-23 | 印地安纳大学理事会 | 用于高通量电荷检测质谱分析的离子阱阵列 |
AU2019281715B2 (en) | 2018-06-04 | 2024-06-13 | The Trustees Of Indiana University | Apparatus and method for capturing ions in an electrostatic linear ion trap |
WO2019236143A1 (en) | 2018-06-04 | 2019-12-12 | The Trustees Of Indiana University | Apparatus and method for calibrating or resetting a charge detector |
WO2019236139A1 (en) | 2018-06-04 | 2019-12-12 | The Trustees Of Indiana University | Interface for transporting ions from an atmospheric pressure environment to a low pressure environment |
JP7285023B2 (ja) | 2018-11-20 | 2023-06-01 | ザ・トラスティーズ・オブ・インディアナ・ユニバーシティー | 単一粒子質量分光分析のためのオービトラップ |
KR20210097731A (ko) | 2018-12-03 | 2021-08-09 | 더 트러스티즈 오브 인디애나 유니버시티 | 정전 선형 이온 트랩을 이용하여 다수의 이온을 동시에 분석하기 위한 장치 및 방법 |
GB2583092B (en) * | 2019-04-15 | 2021-09-22 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Mass spectrometer having improved quadrupole robustness |
WO2020219527A1 (en) | 2019-04-23 | 2020-10-29 | The Trustees Of Indiana University | Identification of sample subspecies based on particle charge behavior under structural change-inducing sample conditions |
US20220301846A1 (en) * | 2019-05-23 | 2022-09-22 | Universite De Strasbourg | Method and system for filtering ions defined by a targeted charge to mass ratio |
JPWO2023079761A1 (ja) * | 2021-11-08 | 2023-05-11 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05332994A (ja) * | 1992-05-26 | 1993-12-17 | Shimadzu Corp | 質量分析方法 |
JP2007323838A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Shimadzu Corp | 四重極型質量分析装置 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3784814A (en) * | 1970-03-14 | 1974-01-08 | Nippon Electric Varian Ltd | Quadrupole mass spectrometer having resolution variation capability |
US4008388A (en) * | 1974-05-16 | 1977-02-15 | Universal Monitor Corporation | Mass spectrometric system for rapid, automatic and specific identification and quantitation of compounds |
JPS5932216A (ja) * | 1982-08-17 | 1984-02-21 | Sony Corp | ディジタル信号処理回路及びディジタルフィルタ |
WO1992009097A1 (en) * | 1990-11-19 | 1992-05-29 | Nikkiso Company Limited | Fourier-transform mass spectrometer |
JPH0656752B2 (ja) * | 1990-11-30 | 1994-07-27 | 株式会社島津製作所 | 四重極質量分析装置 |
JPH0713742A (ja) * | 1993-06-25 | 1995-01-17 | Mitsubishi Electric Corp | 乗算装置 |
US5712480A (en) * | 1995-11-16 | 1998-01-27 | Leco Corporation | Time-of-flight data acquisition system |
US6914548B2 (en) * | 2000-04-28 | 2005-07-05 | Mcgill University | Programmable DC voltage generator |
JP2001343362A (ja) * | 2000-05-31 | 2001-12-14 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
JP2002033075A (ja) * | 2000-07-18 | 2002-01-31 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
US7385187B2 (en) * | 2003-06-21 | 2008-06-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use |
US20050080571A1 (en) * | 2003-10-10 | 2005-04-14 | Klee Matthew S. | Mass spectrometry performance enhancement |
US20050080578A1 (en) * | 2003-10-10 | 2005-04-14 | Klee Matthew S. | Mass spectrometry spectral correction |
JP4907196B2 (ja) * | 2005-05-12 | 2012-03-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析用データ処理装置 |
US7560688B2 (en) * | 2005-10-14 | 2009-07-14 | Washington State University | Mass analysis of mobility selected ion populations |
EP1949411A1 (en) * | 2005-11-16 | 2008-07-30 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
WO2007083403A1 (ja) * | 2006-01-20 | 2007-07-26 | Shimadzu Corporation | 四重極型質量分析装置 |
US7501621B2 (en) * | 2006-07-12 | 2009-03-10 | Leco Corporation | Data acquisition system for a spectrometer using an adaptive threshold |
KR20090072870A (ko) * | 2007-12-29 | 2009-07-02 | 삼성전자주식회사 | 아날로그 비교 기준전압 생성회로, 그 생성 방법, 상기생성 회로를 포함하는 아날로그 디지털 변환 장치, 상기변환 장치를 포함하는 이미지센서 |
JP4735775B2 (ja) * | 2008-05-22 | 2011-07-27 | 株式会社島津製作所 | 四重極型質量分析装置 |
-
2010
- 2010-08-06 EP EP10855638.2A patent/EP2602809B1/en active Active
- 2010-08-06 US US13/813,894 patent/US8772707B2/en active Active
- 2010-08-06 WO PCT/JP2010/063358 patent/WO2012017548A1/ja active Application Filing
- 2010-08-06 JP JP2012527517A patent/JP5556890B2/ja active Active
- 2010-08-06 CN CN201080068523.XA patent/CN103069540B/zh active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05332994A (ja) * | 1992-05-26 | 1993-12-17 | Shimadzu Corp | 質量分析方法 |
JP2007323838A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Shimadzu Corp | 四重極型質量分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2012017548A1 (ja) | 2012-02-09 |
EP2602809A4 (en) | 2015-07-08 |
US8772707B2 (en) | 2014-07-08 |
EP2602809A1 (en) | 2013-06-12 |
CN103069540A (zh) | 2013-04-24 |
US20130200261A1 (en) | 2013-08-08 |
JPWO2012017548A1 (ja) | 2013-09-19 |
CN103069540B (zh) | 2015-11-25 |
EP2602809B1 (en) | 2018-01-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5556890B2 (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
JP4665970B2 (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
JP4735775B2 (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
US8735807B2 (en) | Forward and reverse scanning for a beam instrument | |
CN103460332B (zh) | 三级四极型质谱仪 | |
JP4730482B2 (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
JP5152335B2 (ja) | 四重極型質量分析装置及び四重極型質量分析装置の調整方法 | |
JP2010092630A (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
JP4941437B2 (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
JP5664368B2 (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
CN111954916A (zh) | 用于功率发生器的自适应控制 | |
US7890074B2 (en) | Data acquisition system | |
JPH0294242A (ja) | 四重極質量分析装置 | |
JPH11289792A (ja) | インバータ装置 | |
GB2307559A (en) | Voltage measuring arrangement with an AC/DC converter and calibration means | |
JP2002033075A (ja) | 質量分析装置 | |
JP5012965B2 (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
JP2002044974A (ja) | トルクリプル補正方法およびモータ制御回路 | |
JP2023161647A (ja) | 質量分析装置 | |
JP2004200130A (ja) | 四重極質量分析計の電圧制御方法及び電圧制御回路装置 | |
JP5000584B2 (ja) | 電流センサ | |
JP2000314662A (ja) | フーリエ分光器 | |
JP3658784B2 (ja) | コンバージェンス補正回路 | |
JPS5941271B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JPH07296766A (ja) | 四重極型質量分析計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131210 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140210 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140520 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5556890 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |