JP5530327B2 - プラスチック材料の水分除去方法 - Google Patents
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Description
ところで、プラスチック中の水分量の測定は従来から一般にカール・フィッシャー法で行われている。カール・フィッシャー法は水分を揮発させることによる重量変化を測定する乾燥減量法に比べて水分に特化して検出できるため、水分量測定としてより正確である。カール・フィッシャー法による水分測定の技術として特許文献1及び2を挙げる。
本発明は、上記問題を解消するためになされたものであり、その目的は、プラスチック中の水分含量を正確かつ迅速に測定できるプラスチック材料の水分除去方法を提供することにある。
また、手段5に記載の発明では、一定量ごとのプラスチック材料の供給を受けて、処理容器内でプラスチック材料の加熱処理を行いそのプラスチック材料内の水分を除去して処理単位ごとに下流に搬送するプラスチック材料の水分除去方法であって、前記処理容器の下流位置に配置された測定用通路において含水状態が明確でかつ少なくとも2種類の異なる含水状態の同種のプラスチックに対して各々発振装置から50GHz〜1000GHzの帯域の電磁波を照射し、前記プラスチックに吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して前もって複数の第1の測定値を取得し、得られた複数の前記第1の測定値と複数の含水状態との関係から関数を導きだす一方、前記測定用通路に含水状態が明確ではない前記プラスチック又は前記プラスチックとは異なるプラスチック材料(以下、これらを測定対象プラスチック材料とする)を収容し、発振装置から前記帯域の前記電磁波を照射し、前記測定対象プラスチック材料に吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して第2の測定値を取得し、前記第2の測定値を前記関数に適用して含水状態が明確ではない前記プラスチックの対応した含水状態を算出するとともに、前記関数に適用した第2の測定値に対応する含水状態が前記測定対象プラスチック材料の所定の含水状態以下に達していないと判断した場合には前記プラスチック材料を再び前記処理容器の上流に移送するように制御することをその要旨とする。
また、手段6に記載の発明では手段4又は5に記載の発明の構成に加え、前記関数に適用した第2の測定値に対応する含水状態が前記測定対象プラスチック材料の所定の含水状態以下に達していないと判断した場合にはその旨を外部に報知する報知手段を備えていることをその要旨とする。
また、手段7に記載の発明では手段1〜6に記載の発明の構成に加え、前記処理容器内での前記測定対象プラスチック材料の加熱処理は真空引き処理を伴うことをその要旨とする。
次いで、測定用通路において基準プラスチックと同じ材質であるが含水状態が明確ではないプラスチック又は基準プラスチックとは異なる材質のプラスチック材料(以下、このプラスチックを測定対象プラスチック材料とする)に発振装置から前記と同じ帯域の電磁波を照射し、前記プラスチックに吸収されなかった残余の電磁波を測定し、同様に第2の測定値を得る。そして、第2の測定値と第1の測定値とを比較する。つまり第1の測定値を基準に第2の測定値に基づいて測定対象プラスチック材料の含水状態を想定する。データ化する場合には一般に差分を得ることとなる。
このとき、第2の測定値を第1の測定値と同条件で測定して第1の測定値と同じであればこの測定対象プラスチック材料は基準プラスチックと同じ含水状態であると言える。また、誤差に含まれる程度であれば使用目的にもよるが、基準プラスチックに準じて取り扱うこともできる。異なる組成のプラスチックであっても第1の測定値を使用できるような係数を与えることで測定可能である。更に、測定値から基準プラスチックよりも含水率が少ない、又は逆に含水率が多いことがわかり、製品のチェックを行うことが可能となる。
次いで、測定用通路において測定対象プラスチック材料に発振装置から前記と同じ帯域の電磁波を照射し、前記プラスチックに吸収されなかった残余の電磁波を測定し、同様に第2の測定値を得る。そして、第2の測定値を関数に適用して測定対象プラスチック材料の対応した含水状態を算出する。
つまり、第2の測定値の関数上の位置に基づいて、あるいは関数上の任意の点を基準値として第2の測定値のその基準点に対する関係に基づいて測定対象プラスチックがどのような含水状態であるかを判断することが可能となる。
例えば、複数の第1の測定値に基づいてf(x)=ax+bで表される一次関数が導かれたとする。第2の測定値をxに代入することで含水状態が明確ではないプラスチックの含水状態であるf(x)が求められることとなる。また、第1の測定値ではないf(x)上の基準値に対して第2の測定値の大小を判断することで基準値に対して含水率が少ない、又は逆に含水率が多いことがわかるため、製品のチェックを行うことが可能となる。
これによって、処理容器内で加熱処理を行った測定対象プラスチック材料が所定の乾燥状態にあるかどうかを迅速に測定することが可能である。
また、上記において第2の測定値に基づいて得られた測定対象プラスチック材料の含水状態が所定の含水状態以下に達していないと判断した場合には処理容器の上流に移送することがよい。再度乾燥工程に還流させるためである。
また、上記において第2の測定値に基づいて得られた測定対象プラスチック材料の含水状態が所定の含水状態以下に達していないと判断した場合にはその旨を報知手段によって外部に報知することがよい。これによって十分な乾燥がされなかったことを作業者が容易に認識できる。
また、上記において処理容器内での前記プラスチック材料の加熱処理は真空引き処理を伴うことが乾燥速度や乾燥度の向上からよい。
このように50GHz〜1000GHzの帯域の電磁波をプラスチックに照射した、残余の電磁波を含水状態のパラメータとするのは、50GHz〜1000GHzの帯域の電磁波(つまりテラヘルツ波とミリ波)が水分に吸収される性質があり、なおかつ水分が沸騰することもなく、プラスチックに照射してもプラスチックの物理的性質に影響がないためである。吸収量はプラスチック中の水分含量と正の相関関係、つまりプラスチック中の水分が多いとそれだけ、電波が多く吸収される性質に基づいている。従って、吸収後の残余の電磁波はプラスチック中の水分含量と負の相関関係となる。
プラスチックとしては水分吸収特性があれば熱硬化性でも熱可塑性でもどちらも測定可能である。また、プラスチックの形状は問わない。材料としてはペレット形状が考えられるが、製品化したプラスチックであれば種々の形状が考えられる。
(実施例1)
図1は本実施例に使用する装置の模式図である。
発振機11と受信機12の経路上に測定対象となるプラスチック13が配置される。プラスチック13はその形状が粒状や粉状である場合には電波が透過可能で水分の吸収のない例えばステンレス製のトレイ等に収容し、大型の自立できる外形を有するものであればそのまま安定したベース上に載置する。発振機11は図示しない発振回路、増幅回路、制御部、操作部等から構成されており、所定の周波数のテラヘルツ波を指向性のあるホーンアンテナ14から照射する。受信機12は図示しない受信回路、増幅回路、制御部、操作部等から構成されており、指向性のあるホーンアンテナ15から電波を受信する。この実施例1では発振機11から発振されたテラヘルツ波をプラスチック13に照射し、プラスチック13に吸収させるとともに吸収されずに透過された残余のテラヘルツ波を受信機12で受信して測定するというものである。
1.デフォルト状態での測定
まず、プラスチック13を間に配置しない状態で発振機11からのテラヘルツ波を受信機12に受信させ、プラスチック13によるテラヘルツ波の吸収がないデフォルトの状態の受信量を念のため測定する。
2.基準プラスチックの測定
カール・フィッシャー法によってプラスチック13の含水率を測定し、この含水率が明確なプラスチック13を基準プラスチックとして発振機11からテラヘルツ波を照射し、プラスチック13に吸収させてその残余のテラヘルツ波を受信機12で受信して第1の測定値を測定する。測定値は透過強度として得られる。
尚、デフォルト状態での測定値からこの測定された残余のテラヘルツ波の測定値を減じることで吸収されたテラヘルツ波の吸収量が算出される。
3.測定対象プラスチックの測定
次いで、含水率が不明確なプラスチック13を測定対象プラスチックとして発振機11からテラヘルツ波を照射し、プラスチック13に吸収させてその残余のテラヘルツ波を受信機12で受信して第2測定値を測定し、基準プラスチックの第1の測定値と照合する。例えば、基準プラスチックの測定値と同じ、あるいは一定の誤差内であれば基準プラスチックと同じ含水率として取り扱うことが可能である。あるいは、数値から基準プラスチックよりも含水率が少ない、又は逆に含水率が多いことがわかり、製品のチェックを行うことが可能である。
また、基準プラスチックと測定対象プラスチックは同じ組成(材質)であっても、組成が異なっていても構わない。例えば、比較的性質の似ているプラスチックであれば、同じプラスチックとして取り扱うことは可能であり、異なっていてもその異なっている方向(ベクトル)を修正するような係数を与えることで基準プラスチックに値に適用することは可能であるからである。以下の実施例でも同様である。
図2は実施例1の装置のバリエーションである。実施例2では発振機11と受信機12を隣接配置し、発振機11及び受信機12のホーンアンテナ14,15の前方方向の所定位置にプラスチック13を配置する構成とされている。ホーンアンテナ14,15は反射角に応じて多少内向きの角度に調整されている。実施例2の装置では、テラヘルツ波をプラスチック13に照射した際の反射波はテラヘルツ波のプラスチック13への吸収率との負の相関関係があり、プラスチック13の含水率が上がると反射波は減り、含水率が下がると反射波も相対的に増えるという傾向となるためである。
このような装置でも実施例1と同様の測定が可能である。
(実施例3)
図3は実施例1及び2の装置のバリエーションである。実施例3では発振機11と受信機12を隣接配置し、発振機11及び受信機12のホーンアンテナ14,15の前方方向の所定位置にプラスチック13を配置する構成とされている。プラスチック13の側方には散乱板16が配設されている。実施例3の装置では、前記プラスチック内でテラヘルツ波を散乱させ、その散乱波を散乱板16で反射させて受信機12のホーンアンテナ15方向に指向させるという構成である。散乱波も反射波と同様にテラヘルツ波のプラスチック13への吸収率との負の相関関係があり、プラスチック13の含水率が上がると散乱波は減り、含水率が下がると散乱波も相対的に増えるという傾向となるためである。
このような装置でも実施例1と同様の測定が可能である。
次に、上記実施例1をより具体化した実施例4について説明する。
図4は本実施例に使用する装置の模式図である。テラヘルツ波を照射する発振機21の照射経路上には第1のレンズ22、放物面鏡23、試料ケース24、第2のレンズ25及び受信機26が直列に配置されている。
発振機21は図示しない発振回路、増幅回路、制御部、操作部等から構成されており、所定の周波数のテラヘルツ波を指向性のあるホーンアンテナ26から照射する。第1のレンズ22はホーンアンテナ26から照射された放射状に拡散するテラヘルツ波を平行な射出方向に修正する。放物面鏡23はテラヘルツ波の減衰を抑制しつつ射出方向を(ここでは90度)変化させる。放物面鏡は必要に応じて複数配置することも可能である。
試料ケース24内には測定対象の粒状のプラスチックが封入されるようになっている。
本実施例4では含水率のみ異なる3種類の粒状のアクリル樹脂A〜Cを用意した。2種類あるいは4種類以上とすることも自由である。これらアクリル樹脂A〜Cはカール・フィッシャー法によってその含水率が測定されている。これらアクリル樹脂A〜Cに対して上記実施例1と同様の操作で発振機21から94GHzの波長のテラヘルツ波を照射してアクリル樹脂A〜Cについてそれぞれ第1の測定値(透過強度)を得た。その結果を表1に示す。表1において吸収量はブランク値から透過強度を減じることで得られる。
また、表1の結果に基づいて、表2のようにこのアクリル樹脂についてテラヘルツ波の透過強度と当該アクリル樹脂の含水率との関係に相関関係が得られる。透過強度と含水率とは概ねきれいな相関関係にある。これらの値について標準偏差を求め、ばらつきを調整すべく正規化を実行して
一次関数:f(x)=ax+b
を導くことができる。表2における破線が一次関数のイメージである。ここに、a,bは対象となるプラスチックやテラヘルツ波の波長等の測定条件によって定まる固有の変数である。
そして、同様の条件で含水率のみ異なる他の粒状のアクリル樹脂について第2の測定値(透過強度)を求め、f(x)に適用することでその含水率の不明なアクリル樹脂の含水率を正確に算出することが可能である。また、ある基準とする含水率を設定したい場合に、このf(x)の任意の点をそれに設定することで、同時に含水率に対応した透過強度、つまり測定値を得ることができる。また、f(x)の任意の点を基準値としてその基準値に対して第2の測定値の大小を判断することもできる。
このような構成であれば単にある含水率よりも低いか高いかという判断だけではなく、所定の範囲の含水率内に入っていなければならないような場合を測定する場合であっても迅速かつ正確なプラスチックの含水率の測定が可能となる。また、実際に測定していない一次関数上の任意の点を基準値として不明なアクリル樹脂の含水率を算出することも可能となる。
次に、上記実施例1〜実施例4をより具体化した実施例5について説明する。
図5は本実施例5のプラスチック材料の供給システム(以下、供給システムとする)を簡略化した模式図である。水分除去システムはペレット形状のプラスチック材料を収容するタンク装置31と、同タンク装置31からプラスチック材料の供給を受けてプラスチック材料の加熱乾燥を行う水分除去システムとしての乾燥装置32と、乾燥後のプラスチック材料の供給を受けて成型品を成形する成形機33から構成されている。
タンク装置31は基本的に外気が導入されないようにプラスチック材料が収容され、フレキシブルホース35を介してブロア装置36の駆動によってプラスチック材料を乾燥装置32に供給する。
フレキシブルホース52は筐体38外部において第1及び第2の分岐ホース52A.52Bに分岐され、第1の分岐ホース52Aはホッパ51に接続され、第2の分岐ホース52Bは前記タンク装置31に接続されている。フレキシブルホース52の分岐付近には分岐点を挟んで第4及び第5のシャッタ装置54、55がそれぞれ配設されている。アキュムレータ47内のプラスチック材料はブロア装置58の駆動によって第1又は第2の分岐ホース52A,52Bのいずれかの方向に送出される。本実施例5では第4及び第5のシャッタ装置54、55は図示しないリミットスイッチの入切によってそれぞれの分岐ホース52A,52Bに面した位置にシャッタを進出させプラスチック材料の通過を規制する。そのため、第4のシャッタ装置54が開放され、第5のシャッタ装置55が閉鎖されている状態ではプラスチック材料は成形機33方向に送出され、逆に第4のシャッタ装置54が閉鎖され、第5のシャッタ装置55が開放されている状態ではプラスチック材料はタンク装置31方向に送出される。
また、本発明に特化してコントローラ61内のメモリには水分検出装置52,59についてそれぞれの測定条件下での各種プラスチック材料とその材料ごとのテラヘルツ波の吸収特性と当該プラスチック材料の含水率との関係が記憶されている。具体的には上記実施例4のような一次関数上のしきい値となるある含水率に対応した透過強度を基準値とし、その基準値よりも大きな値かどうかを判断することが考えられる。また、上記実施例1〜3のようなある含水率が明確なプラスチック材料の透過強度を基準値とし、その基準値よりも大きな値かどうかを判断することが考えられる。本実施例5では各水分検出装置52,59においてそれぞれ受信側で基準値以上を検出できない場合には所定の乾燥度に達していないと判断するものとする。
以下に、コントローラ61の実行する制御の概要について供給システムの動作とともに説明する。
乾燥装置32側のレベルセンサ42の検出信号に基づいて、乾燥装置32内のホッパ39に貯留されたプラスチック材料が少ないと判断すると、コントローラ61はこれを補充すべくタンク装置31側を制御する。
コントローラ61はブロア装置36を一定時間駆動させてタンク装置31からプラスチック材料をホッパ39に供給させる。
成形機33側のレベルセンサ57の検出信号に基づいて、成形機33内のホッパ55に貯留されたプラスチック材料が少ないと判断すると判断すると、コントローラ61はこれを補充すべく乾燥装置32側を制御する。
A)まず、コントローラ61は過去の第2のシャッタ装置46の開放の履歴と第4及び第5のシャッタ装置54,55の状態からアキュムレータ47内にプラスチック材料があると判断すると、第3のシャッタ装置48の開放及び閉鎖を実行させ、アキュムレータ47内のすべてのプラスチック材料をフレキシブルホース52方向に流下させる。同時に第4のシャッタ装置54側を開放させ、第5のシャッタ装置55側を閉鎖させるとともにブロア装置58を一定時間駆動させてプラスチック材料をすべて第1の分岐ホース52A側に送出させる。
B)そして、次のロット分のプラスチック材料を乾燥させるためにコントローラ61は設定されたタイミングで第1のシャッタ装置40の開放及び閉鎖を実行させ、一定量のプラスチック材料をホッパ39から加熱用ホッパ43内に落下させる。そして、前もって設定された時間及び温度条件で熱風出力部44を駆動させてプラスチック材料を乾燥させる。そして乾燥時間が経過した段階でコントローラ61は第2のシャッタ装置46の開放及び閉鎖を実行させ乾燥の終了したプラスチック材料をアキュムレータ47内に落下させる。
ここで、アキュムレータ47内のプラスチック材料が所定の含水率以下ではない、つまり乾燥装置32での乾燥が成形機33で使用できるほどには十分ではないという検出結果の場合にはブザーからその旨を報知するとともに、第2のシャッタ装置46の閉鎖後に第3のシャッタ装置48の開放及び閉鎖を実行させ、アキュムレータ47内のすべてのプラスチック材料をフレキシブルホース52に流下させる。同時に第5のシャッタ装置55を開放させ、第4のシャッタ装置54を閉鎖させるとともにブロア装置58を一定時間駆動させてプラスチック材料をすべてタンク装置31側に送出させる(戻す)。
D)これに対して、第1の水分検出装置52の水分検出の結果、乾燥装置32での乾燥が十分であると判断した場合には次の2つのいずれかの処理がなされる。
i)レベルセンサ57からの検出信号に基づいて、成形機33内のホッパ55に貯留されたプラスチック材料が依然として少ないと判断されている場合には、上記A)と同様にプラスチック材料をすべて第1の分岐ホース52A側に送出させ、続いてB)に移行させる。
ii)レベルセンサ57からの検出信号がなければ一旦アキュムレータ47内に貯留状態で待機させる。
F)また、A)において第1の分岐ホース52Aを経由して成形機33のホッパ55に貯留されたプラスチック材料に対してコントローラ61は所定タイミング(例えば5分ごと)に第1の水分検出装置52を駆動させて成形機本体56方向に導かれるプラスチック材料の水分検出を実行させる。これによって最終段階でもプラスチック材料が所定の乾燥状態にあるかどうかをチェックすることができる。
(1)実機においてリアルタイムにプラスチック材料の含水量を測定して、製品に反映できるため不良品率が非常に下がることとなる。
(2)成形材料としてプラスチック材料の含水量が一定以下にあるかどうかをタンク装置31、乾燥装置32及び成形機33の各段階でチェックでき、成形材料として不適格なプラスチック材料を確実に排除できる。
(3)従来では、製品を見てその仕上がりからプラスチック材料の含水量が高かったという判断をしても、どの段階で不適格な材料となったかはわからないため、原因となるプラスチック材料はすべて不良と判定しなければならなかった。しかし、このように数値に基づいて、あるロットの含水量が不適格であると言い切れるため、無駄に原料を廃棄する必要もなく、原因を早期につきとめて、対策をとることも迅速に行うことができる。
(4)カールフィッシャー法とは異なり測定に供したプラスチック材料はそのまま実際の材料として使用できるため、測定のためにプラスチック材料を無駄にすることがない。
・実施例4では実測値に基づいて一次関数を正規化して求めるようにしていたが、正規化を実行するまでもなければ平均値をとることで一次関数を算出するようにしてもよい。2点のみを測定した場合には平均値をとる必要もない。
・実施例5ではとにかくプラスチック材料は乾燥していることがよい、ということでコントローラ61は第1の水分検出装置52の水分検出においてもある基準値よりも測定値が大きければ含水率が低いということである基準値をしきい値と考えているが、「ある所定の含水率が好ましい」場合には実施例4のような一次関数を得てその直線上の2つの基準値間に測定値があることする制御であっても構わない。
・実施例5においてタンク装置31にも水分検出装置を設けるようにしてもよい。この場合においてある値よりも乾燥していると判断した場合には乾燥装置32にプラスチック材料を送出せずに、直接成形機33に送出するような設計とすることが可能である。
・上記実施例5ではプラスチック材料をブロア装置36,58で送るような構造であってが、エアポンプ装置を使用した真空吸引方式で送ることも可能である。
・プラスチック材料を送出するさいにはフレキシブルホース35,52以外に溶接配管を使用してもよい。
・上記実施例5ではプラスチック材料の含水量が高い場合にタンク装置31還流させていたが、還流させずに(もちろん成形機33側には送出せず)アキュムレータ47から外部に排出させるような構成でもよい。
・上記実施例5ではプラスチック材料の含水量が高い場合にタンク装置31還流させていたが、これはホッパ39に戻すように構成してもよい。
・上記実施例5の供給システムの構成や制御は一例であって、他の構成で実現することも可能である。
・上記実施例5では加熱乾燥器を一例として挙げたが、乾燥装置32を加熱と同時に真空引きをして乾燥度を向上させる方式の水分除去システムとして構成するようにしてもよい。
その他、本発明はその趣旨を逸脱しない範囲において変更した態様で実施することは構わない。
Claims (7)
- 一定量ごとのプラスチック材料の供給を受けて、処理容器内でプラスチック材料の加熱処理を行いそのプラスチック材料内の水分を除去して処理単位ごとに下流に搬送するプラスチック材料の水分除去方法であって、
前記処理容器の下流位置に配置された測定用通路に含水状態が明確なプラスチック材料を収容し、発振装置から50GHz〜1000GHzの帯域の電磁波を照射し、前記プラスチック材料に吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して前もって第1の測定値を取得し、前記測定用通路に含水状態が明確ではない前記プラスチック又は前記プラスチックとは異なるプラスチック材料(以下、これらを測定対象プラスチック材料とする)を収容し、発振装置から前記帯域の前記電磁波を照射し、前記測定対象プラスチック材料に吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して第2の測定値を取得し、前記第1の測定値と前記第2の測定値とを比較して含水状態が明確ではない前記プラスチック材料の含水状態を算出するとともに、前記第1の測定値と前記第2の測定値との比較に基づいて得られた含水状態が、前記測定対象プラスチック材料の所定の含水状態以下に達していないと判断した場合には下流に搬送させないように制御することを特徴とするプラスチック材料の水分除去方法。 - 一定量ごとのプラスチック材料の供給を受けて、処理容器内でプラスチック材料の加熱処理を行いそのプラスチック材料内の水分を除去して処理単位ごとに下流に搬送するプラスチック材料の水分除去方法であって、
前記処理容器の下流位置に配置された測定用通路に含水状態が明確なプラスチック材料を収容し、発振装置から50GHz〜1000GHzの帯域の電磁波を照射し、前記プラスチック材料に吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して前もって第1の測定値を取得し、前記測定用通路に含水状態が明確ではない前記プラスチック又は前記プラスチックとは異なるプラスチック材料(以下、これらを測定対象プラスチック材料とする)を収容し、発振装置から前記帯域の前記電磁波を照射し、前記測定対象プラスチック材料に吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して第2の測定値を取得し、前記第1の測定値と前記第2の測定値とを比較して含水状態が明確ではない前記プラスチック材料の含水状態を算出するとともに、前記第1の測定値と前記第2の測定値との比較に基づいて得られた含水状態が、前記測定対象プラスチック材料の所定の含水状態以下に達していないと判断した場合には前記プラスチック材料を再び前記処理容器の上流に移送するように制御することを特徴とするプラスチック材料の水分除去方法。 - 前記第1の測定値と前記第2の測定値との比較に基づいて得られた含水状態が、前記測定対象プラスチック材料の所定の含水状態以下に達していないと判断した場合にはその旨を外部に報知する報知手段を備えていることを特徴とする請求項1又は2に記載のプラスチック材料の水分除去方法。
- 一定量ごとのプラスチック材料の供給を受けて、処理容器内でプラスチック材料の加熱処理を行いそのプラスチック材料内の水分を除去して処理単位ごとに下流に搬送するプラスチック材料の水分除去方法であって、
前記処理容器の下流位置に配置された測定用通路において含水状態が明確でかつ少なくとも2種類の異なる含水状態の同種のプラスチックに対して各々発振装置から50GHz〜1000GHzの帯域の電磁波を照射し、前記プラスチックに吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して前もって複数の第1の測定値を取得し、得られた複数の前記第1の測定値と複数の含水状態との関係から関数を導きだす一方、前記測定用通路に含水状態が明確ではない前記プラスチック又は前記プラスチックとは異なるプラスチック材料(以下、これらを測定対象プラスチック材料とする)を収容し、発振装置から前記帯域の前記電磁波を照射し、前記測定対象プラスチック材料に吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して第2の測定値を取得し、前記第2の測定値を前記関数に適用して含水状態が明確ではない前記プラスチックの対応した含水状態を算出するとともに、前記関数に適用した第2の測定値に対応する含水状態が前記測定対象プラスチック材料の所定の含水状態以下に達していないと判断した場合には下流に搬送させないように制御することを特徴とするプラスチック材料の水分除去方法。 - 一定量ごとのプラスチック材料の供給を受けて、処理容器内でプラスチック材料の加熱処理を行いそのプラスチック材料内の水分を除去して処理単位ごとに下流に搬送するプラスチック材料の水分除去方法であって、
前記処理容器の下流位置に配置された測定用通路において含水状態が明確でかつ少なくとも2種類の異なる含水状態の同種のプラスチックに対して各々発振装置から50GHz〜1000GHzの帯域の電磁波を照射し、前記プラスチックに吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して前もって複数の第1の測定値を取得し、得られた複数の前記第1の測定値と複数の含水状態との関係から関数を導きだす一方、前記測定用通路に含水状態が明確ではない前記プラスチック又は前記プラスチックとは異なるプラスチック材料(以下、これらを測定対象プラスチック材料とする)を収容し、発振装置から前記帯域の前記電磁波を照射し、前記測定対象プラスチック材料に吸収されなかった残余の前記電磁波を測定して第2の測定値を取得し、前記第2の測定値を前記関数に適用して含水状態が明確ではない前記プラスチックの対応した含水状態を算出するとともに、前記関数に適用した第2の測定値に対応する含水状態が前記測定対象プラスチック材料の所定の含水状態以下に達していないと判断した場合には前記プラスチック材料を再び前記処理容器の上流に移送するように制御することを特徴とするプラスチック材料の水分除去方法。 - 前記関数に適用した第2の測定値に対応する含水状態が前記測定対象プラスチック材料の所定の含水状態以下に達していないと判断した場合にはその旨を外部に報知する報知手段を備えていることを特徴とする請求項4又は5に記載のプラスチック材料の水分除去方法。
- 前記処理容器内での前記測定対象プラスチック材料の加熱処理は真空引き処理を伴うことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のプラスチック材料の水分除去方法。
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