JP5524185B2 - 高剛性を有する回転可能なスパッタリングマグネトロン - Google Patents
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Description
ε=ρ(x)M(x)=E・Iy
・E:用いられる材料のヤング率(N/mm2)
・Iy:曲げの方向yにおけるチューブの幾何学的モーメント(mm4)、すなわち、
Iy=∬y2dA
(ただし、積分の範囲は、チューブの直交断面の全体に及ぶものとする)
・M(x):チューブの長さに沿った面「x」における局部的な曲げモーメント
・ρ(x):曲げモーメントM(x)によって生じる面「x」の局部的な曲率半径
現在利用可能な最先端技術のCADソフトウエアによって、剛性率は、極めて正確に数値的に計算されることが可能である。
−磁石をターゲット表面に接近して配置させることができるので、同じターゲット材料の厚みに対して、ターゲット表面の磁場が増大するという利点、
−管の肉厚が薄いことによって、該管がターゲット材料の熱膨張に対してより容易に応じるので、熱応力が減少するという利点(厚肉の管は、この熱膨張に対して大きな耐性を有しているので、ターゲット材料に過剰な圧縮応力(従って、亀裂)をもたらすかまたはターゲット管からターゲット材料の剥離をもたらすことになる)、および
−冷却されねばならない未使用の材料が少ないので、良好な冷却効率が得られるという利点、
がもたらされることになる。
Claims (15)
- 回転可能なターゲット内に挿入可能なスパッタリングマグネトロン(100,200、300)であって、1つまたは複数の冷媒通路(218,218’)と長形の磁場発生器(224,226,226’,226”)とを有するチューブ(102,202)を備え、前記冷媒通路および前記磁場発生器が前記チューブの内側に配設されているものにおいて、
前記チューブは、その曲げ剛性を増大させるべく全長に亘って延在する複数の区画(114,214,116,116’,216,216’,118,118’,218,218’,112,212)を有する内部多壁構造の単体チューブ(102,104)からなり、前記区画の1つ(114,214)の内部に前記磁場発生器が取り付けられ、かつ、前記区画の少なくとも1つ(218,218’)が冷媒通路を形成していることを特徴とするスパッタリングマグネトロン。 - 前記チューブは、押出成形、鋳造、フライス加工、または溶接によって形成された単体チューブからなることを特徴とする請求項1に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記チューブは、アルミニウム合金の押出成形によって形成されていることを特徴とする請求項2に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記磁場発生器は、前記チューブよりも低い曲げ剛性を有し、かつ、前記磁場発生器と前記チューブの外壁との間の距離を調整するために、前記磁場発生器が、前記磁場発生器の区画の内側に調整可能に取り付けられていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記磁場発生器と前記チューブの前記外壁との間の前記距離を調整するために、前記チューブの全長に亘って分散配置された個別の支持体(228;328)をさらに備えていることを特徴とする請求項4に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記支持体は、前記磁場発生器と前記チューブの外壁との間の距離の調整を容易にするために、前記支持体に対する前記磁場発生器の長手方向の変位が許容されるようになっていることを特徴とする請求項5に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記支持体は、機械的手段、電気的手段、流体的手段、または空圧的手段によって、調整可能であることを特徴とする請求項5〜6のいずれか一項に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記支持体は、調整可能なネジ手段(232)、調整可能なスライド手段、またはシムまたはワッシャー(234)によって、機械的に調整可能であることを特徴とする請求項7に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記支持体は、前記マグネトロンの外側から調整可能であることを特徴とする請求項5〜8のいずれか一項に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記1つまたは複数の冷媒通路(318,318’,218,218’,518,518’)は、前記チューブの外壁に隣接した区画であることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記冷媒通路は、前記ターゲットと前記マグネトロンとの間の摩擦を低減すべく、少なくとも前記磁場発生器の前方で、前記チューブと前記ターゲットとの間に冷媒流を生じさせるように長さ方向に配置された多数の出口孔(217,217’,317,317’,517;517’’)を有することを特徴とする請求項10に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 冷媒の回収および排出用の戻り通路は、前記チューブ内のさらに他の区画(316,316’)、または、前記チューブの全長に亘って延在する前記外壁の長手方向凹部(103,203)によって形成されていることを特徴とする請求項10〜11のいずれか一項に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 前記マグネトロンと前記ターゲットとの間の摩擦を低減すべく、前記チューブの外壁に組み込まれた軸受手段(236,236’,236’’,236’’’,352)をさらに備え、前記ターゲットの使用期間の少なくとも一部において、前記ターゲットが、前記軸受手段を介して支持されるように構成されていることを特徴とする請求項1〜12のいずれか一項に記載のスパッタリングマグネトロン。
- 請求項13に記載のスパッタリングマグネトロンと回転可能なターゲットとを備えた物理蒸着装置であって、前記ターゲットは、ターゲット管(241,341)と、その上に堆積されたターゲット材料と、を備え、前記ターゲット管は、600GNmm2よりも低い曲げ剛性を有していることを特徴とする物理蒸着装置。
- 前記ターゲット管(241,341)の厚みは、3.8mm未満であることを特徴とする請求項14に記載の物理蒸着装置。
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