JP5512052B2 - 非接触吸着盤 - Google Patents

非接触吸着盤 Download PDF

Info

Publication number
JP5512052B2
JP5512052B2 JP2013542287A JP2013542287A JP5512052B2 JP 5512052 B2 JP5512052 B2 JP 5512052B2 JP 2013542287 A JP2013542287 A JP 2013542287A JP 2013542287 A JP2013542287 A JP 2013542287A JP 5512052 B2 JP5512052 B2 JP 5512052B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
holder
porous pad
pad
sealed space
suction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013542287A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2013129599A1 (ja
Inventor
清隆 藤平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tanken Seal Seiko Co Ltd
Original Assignee
Tanken Seal Seiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tanken Seal Seiko Co Ltd filed Critical Tanken Seal Seiko Co Ltd
Priority to JP2013542287A priority Critical patent/JP5512052B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5512052B2 publication Critical patent/JP5512052B2/ja
Publication of JPWO2013129599A1 publication Critical patent/JPWO2013129599A1/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67712Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manipulator (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Jigs For Machine Tools (AREA)

Description

本発明は、非接触吸着盤に関し、詳細には、吸着面において、加圧空気によるワークの浮上と吸引によるワークの吸着とが同時に行われる非接触吸着盤に関する。
半導体ウエハ、FPD用ガラス基材等の厚さが極めて薄いワークを取扱う装置として、所謂真空ピンセットが知られている。しかしながら、真空ピンセットは、ワークに接触した状態で、ワークを取り扱うため、ワークに応力を与える等の問題がある。
また、FPD用ガラス基材等の厚さが極めて薄いワークに応力等を与えることなく非接触で取り扱う装置として、多孔質板の細孔から加圧空気を噴出させワークを浮上させて、多孔質板上で搬送する装置が提案されている(例えば、特許文献1、2)。
特開2008−110852号公報 特開2011−084352号公報
特許文献1および2の装置は、多孔質材料の板状体(ステージ)からエアを噴出させ、板状体上でワークを浮上させる一方、板状体の一部からエアを吸引することにより、厚さが極めて薄いワークを、平面性維持しつつ、ステージ上を非接触状態で搬送している。
上述した半導体ウエハ、FPD用ガラス基材等の厚さが極めて薄いワークの処理工程では、ワークを搬送路上を搬送する以外に、ワークをステージ上の所定位置の保持すること、ワークを或る位置で持ち上げて他の位置に移動させること等が必要となる。
しかしながら、特許文献1および2の装置は、このような要請に応えることができなかった。
一方、薄いワークを非接触で下向きに吸着保持できる装置として、所謂「ベルヌーイの原理」を利用したベルヌーイチャッキングが提案されている。このベルヌーイチャッキングは、エアコンプレッサからの加圧空気を、チャッキングの下面に形成された凹部内で旋回させながら下面に沿って吹き出させることにより、凹部の真下の領域で吸着力を、その周囲で浮力を生じさせ、半導体ウエハ等の薄いワークをチャッキングの下側面に非接触で吸着保持する装置である。
しかしながら、このベルヌーイチャッキングは、形成できる凹部の数が制限されるため、吸引力・浮力の発生が局所的となり、比較的、サイズが大きな薄いワークを、反り、歪み等の無い平らな状態で吸着保持することができなかった。
本発明は、このような問題点を解決するためになされたものであり、厚さが薄いワークを所定位置に保持吸着、または下向きに保持吸着することができる非接触吸着盤を提供することを目的とする。
本発明によれば、
薄板状の被吸着物を非接触状態で吸着する非接触吸着盤であって、
厚さ方向に貫通して延びる複数の通気孔が吸着固定領域に形成された板状の多孔質パッドと、
前記多孔質パッドの裏面に隣接して配置され、加圧空気が導入される第1密閉空間と、
前記第1密閉空間と隔離され、減圧される第2密閉空間と、
前記第2密閉空間と前記通気孔とを連通させる連通手段と、
表面が前記多孔質パッドの裏面側に積層され、該多孔質パッドの裏面との間に前記第1密閉空間を構成する凹所を備えた板状のホルダと、
前記ホルダの裏面側に積層され、該ホルダの裏面との間に第2密閉空間を形成するベースと、を備え、
前記ホルダが、一端が前記積層時に前記多孔質パッドの通気孔に接続され他端が該ホルダの裏面に開口し前記連通手段として機能する複数の連通孔と、前記複数の通気孔の裏面側開口端の位置で前記多孔質パッドの裏面に当接する平坦な頂部を備え前記ホルダの略全面にわたって配列された複数の島状の突出部を備え、
前記連通孔が前記突出部を貫通して延び、
前記突出部の間の空間が前記第1密閉空間とされている、
ことを特徴とする非接触吸着盤が提供される。
このような構成によれば、例えば、第1密閉空間を加圧空気源に連通させ、第2密閉空間を吸引減圧源に連通させることにより、多孔質パッドの表面の細孔から加圧空気を噴出させつつ、多孔質パッドの表面の通気孔から空気を吸引することができる。この結果、多孔質パッドの表面上に、ワークを、吸引により所定位置に保持しながら加圧空気で浮上させることができる。この結果、半導体ウエハ等の厚さが薄いワークを、上方を向いた多孔質パッドの表面上の所定位置に非接触で保持吸着、または下方を向けた多孔質パッドの表面の下側で下向きに非接触で保持吸着することができる。
吸引圧力(減圧)と給気圧力(加圧)を独立して調整できるため、把持力と浮上力を制御可能としている。そのため、浮上隙間の調整も可能である。
本発明の他の好ましい態様によれば、
前記多孔質パッドの裏面側に積層され、前記多孔質パッドの通気孔に対応する貫通孔を備えた板状のホルダを備え、
さらに、前記ホルダの裏面側に積層され、該ホルダの裏面との間に第2密閉空間を形成するベースを備え、
前記多孔質パッドの裏面に前記ホルダとの間に前記第1密閉空間を構成する凹所が形成され、
前記多孔質パッドの通気孔が前記ホルダの貫通孔に連結され前記連通手段として機能する。
本発明の他の好ましい態様によれば、
前記ホルダと前記ベースとの間に配置される環状部を有する枠部材を備え、
前記第2密閉空間が、前記環状部の内部空間によって形成される。
本発明の他の好ましい態様によれば、
前記多孔質パッドの凹所に、前記ホルダの表面に当接する平坦な頂部を備えた複数の島状の突出部を備え、
前記多孔質パッドの通気孔が、前記島状の突出部を貫通している。
本発明の他の好ましい態様によれば、
前記通気孔が、前記多孔質パッドの表面全体に分散して配置されている。
このような構成によれば、多孔質パッドの通気孔から均一に加圧空気を噴出させることができる。
本発明の他の好ましい態様によれば、
前記多孔質パッドが、多孔質カーボンで形成されている。
本発明によれば、厚さが薄いワークを所定位置に保持吸着、または下向きに保持吸着することができる非接触吸着盤が提供される。
本発明の第1実施形態の非接触吸着盤の分解斜視図である。 図1の非接触吸着盤の多孔質パッドの上面図である。 図1の非接触吸着盤の多孔質パッドの底面図である。 図3のIV−IV線に沿った断面の一部分を拡大した面面である。 図1の非接触吸着盤のホルダの上面図である。 図1の非接触吸着盤のホルダの底面図である。 図1の非接触吸着盤のベースの上面図である。 非接触吸着盤のホルダの変形例の底面図である。 非接触吸着盤のホルダのもう一つの変形例の底面図である。 図1の非接触吸着盤によるワークWの吸着固定(非接触吸着)の状態を説明するための模式的な断面図である。 図1の非接触吸着盤を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送の各工程を示す図面である。 図1の非接触吸着盤を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送の各工程を示す図面である。 図1の非接触吸着盤を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送の各工程を示す図面である。 図1の非接触吸着盤を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送の各工程を示す図面である。 図1の非接触吸着盤を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送の各工程を示す図面である。 図1の非接触吸着盤を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送の各工程を示す図面である。 図1の非接触吸着盤を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送の各工程を示す図面である。 図1の非接触吸着盤を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送の各工程を示す図面である。 図1の非接触吸着盤を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送の各工程を示す図面である。 本発明の第2実施形態の非接触吸着盤の上方からの分解斜視図である。 本発明の第2実施形態の非接触吸着盤の下方からの分解斜視図である。 他の構成を有する多孔質パッドの上面図である。 他の構成を有する多孔質パッドの上面図である。 他の構成を有する多孔質パッドの上面図である。 他の構成を有するベースの上面図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態の非接触吸着盤について説明する。
先ず、本発明の第1実施形態の非接触吸着盤の構成について説明する。図1は、本発明の第1実施形態の非接触吸着盤1の分解斜視図である。
本実施形態の非接触吸着盤1は、半導体ウエハ、FPD用ガラス基材等の薄板状の被吸着物(ワーク)、例えば、厚さ100μm以下の半導体ウエハを非接触状態で吸着する非接触吸着盤である。非接触吸着盤1は、図1に示されているように、上面にワークの吸着領域を備えた円板状の多孔質パッド2と、多孔質パッド2を下側(裏側)から保持する略円板状のパッドホルダ4と、ホルダ4の裏側に連結される略円板状のベース6とを備えている。
多孔質パッド2は、通気性の多孔質カーボンで形成されている。多孔質パッド2の材料は、通気性の多孔質カーボンに限定されるものではなく、他の通気性の多孔質材料、例えばポーラスSiC・ポーラスアルミナ等を使用することもできる。
図2は、多孔質パッド2の上面図であり、図3は、多孔質パッド2の底面図である。
多孔質パッド2には、複数の吸引孔(通気孔)8が形成されている。図2および図3に示されているように、吸引孔8は、多孔質パッド2の略全面に亘って、格子状に配列、すなわち碁盤の目の交点上に配置された状態で配列されている。本実施形態では、吸引孔8の間隔は25mm程度に設定されている。
図4は、図3のVI−VI線に沿った断面の一部分を拡大した面面である。図4に示されているように、吸引孔8は、各多孔質パッド2を厚さ方向に貫通して延びるように形成されている。吸引孔8は、多孔質パッド2の表面2a側が直径0.6mm程度の小径部8aとされ、多孔質パッド2の裏面2b側が直径4mm程度の大径部8bとされ、小径部8aと大径部8bとが、多孔質パッド2の表面2aに向かって先細るテーパ部8cによって連結されている。
このような構成によって、吸引孔8の大径部8bが減圧吸引されると、多孔質パッド2の表面2a側に開口した、吸引孔8の小径部8aからの空気が吸引され、吸引孔8が形成されている多孔質パッド2の表面領域が、ワークの吸着固定が行われる吸着固定領域となる。
なお、多孔質パッド2の周縁部には、多孔質パッドをパッドホルダ4等に連結するねじ等の締結具が挿通される連結穴10が形成されている。
図5は、パッドホルダ4の上面図であり、図6は、パッドホルダ4の底面図である。
上述したように、パッドホルダ4は、多孔質パッド2を下側(裏側)から保持する略円板状の部材であり、例えば、アルミ合金等の金属材料で形成されている。パッドホルダ4は、CFRP・PEEKなどの樹脂で形成することもできる。
図1、図4、及び図5に示されているように、パッドホルダ4の上面には、外周縁に環状の立上がり部12が形成されている。立ち上がり部12は、内径が、多孔質パッド2の外径より若干大きく、高さが多孔質パッド2の厚さより若干低くなるように構成されている。
したがって、多孔質パッド2は、パッドホルダ4の立上がり部12の内側の空間(凹部)に配置されると、多孔質パッド2の上面2aが、パッドホルダ4の立上がり部12の頂面より僅かに上方に配置された状態となる。
また、パッドホルダ4の上面(凹部の底面)の立上がり部12の内側領域には、格子状(碁盤の目状)に断面矩形の溝14が形成され、溝14によって区切られた部分は、横断面が正方形の島状の突出部16とされている。島状の突出部16は、格子状(碁盤の目状)に配置された溝14とともに、碁盤の目状の配置を構成している。
各突出部14の頂面は平坦であり、中央に、パッドホルダ4を厚さ方向に貫通する連通孔18が穿孔されている。
多孔質パッド2とパッドホルダ4とは、多孔質パッド2がパッドホルダ4の立上がり部12の内側の空間内に配置された状態で、接着剤によって接合され固定される。多孔質パッド2とパッドホルダ4とは、さらに、ボルト等の締結具によって、互いに連結固定される。
突出部14は、多孔質パッド2がパッドホルダ4の立上がり部12の内側の空間内に配置されたとき、頂面が多孔質パッド2の裏面2bの吸引孔8の大径部8bの開口端の周囲の領域に、気密状態で当接するように構成されている。
この結果、多孔質パッド2がパッドホルダ4の立上がり部12の内側の空間に接着剤で固定されると、多孔質パッド2の裏面とパッドホルダ4の上面との間に、格子状に配置された溝14とこの溝14を覆う多孔質パッド2によって、密閉空間(第1密閉空間)が形成される。
連通孔18は、多孔質パッド2の吸引孔8の大径部8bと略同一の直径を有し、多孔質パッド2がパッドホルダ4の立上がり部12の内側の空間に、所定の角度位置に収容されたとき、多孔質パッド2に形成された各吸引口8と厚さ方向に整列するように構成されている。
この結果、多孔質パッド2が、所定の角度位置で、パッドホルダ4の立上がり部12の内側の空間に収容されると、多孔質パッド2の吸引口8とパッドホルダ4の連通孔18とが流体連通する。
パッドホルダ4の外周には、溝14によって形成された密閉空間(第1密閉空間)と、パッドホルダ4の外部空間とを連通し、この密閉空間(第1密閉空間)に加圧空気を導入するための加圧空気入口20が形成されている。
この結果、多孔質パッド2を、パッドホルダ4の立上がり部12の内側の空間に収容し接着固定した状態で、加圧空気入口20から加圧空気を溝14と多孔質パッド2によって形成された密閉空間(第1密閉空間)に導入すると、加圧空気が、密閉空間(第1密閉空間)の上面を構成する多孔質パッド2の細孔に侵入し、多孔質パッド2を透過して、多孔質パッド2の表面全体から噴出することになる。
図7は、ベース6の上面図である。上述したように、ベース6は、ホルダ4の裏側に連結される略円板状の部材であり、例えば、アルミ合金等の金属材料で形成されている。ベース6も、CFRP・PEEKなどの樹脂で形成することができる。
図1、及び図7に示されているように、ベース6は、パッドホルダ4と略同一径を有し、平坦な上面に断面矩形のベース溝22が格子状に形成されている。したがって、パッドホルダ4の平坦な裏面とベース6の上面とが接合されると、格子状のベース溝22とこれを覆うパッドホルダ4の裏面とによって、格子状の密閉空間(第2密閉空間)が形成されることになる。
ベース溝22は、パッドホルダ4とベース6が所定の角度位置で接合されたとき、格子状のベース溝22が、パッドホルダ4に形成された連通孔18と厚さ方向に整列するように構成されている。
このような構成により、多孔質パッド2とパッドホルダ4とベース6とが、所定の角度位置で連結されると、多孔質パッド2の吸引孔8が、パッドホルダ4の連通孔18を介して、ベース6とパッドホルダ4の間に形成された、格子状の密閉空間(第2密閉空間)の交点に連通することになる。
また、ベース6の外周には、ベース溝22をベース6の外部の真空源と連通させるための貫通孔である真空孔24が形成されている。
このような構成によって、多孔質パッド2とパッドホルダ4とベース6とを、所定の角度位置で連結した状態で、真空孔24から真空吸引を行うと、パッドホルダ4の連通孔18を介して、多孔質パッド2の各吸引孔8から吸引が行われ、多孔質パッド2上のワークを多孔質パッド2に向けて吸着することができる。
パッドホルダ4とベース6とは、ねじ、ボルト等の連結具によって連結されている。ベース6の上面の外周に沿って溝を形成し、この溝内にOリングを配置することによって、ベース6の格子状のベース溝22が気密状態となるようにして、パッドホルダ4とベース6とを連結することができる。また、パッドホルダ4とベース6とを接着剤で連結する構成でもよい。
このような構成を有する非接触吸着盤は、使用時には、多孔質パッド2とパッドホルダ4とベース6とを所定の角度位置で連結した状態で、加圧空気入口20から加圧空気を溝14と多孔質パッド2によって形成された密閉空間(第1密閉空間)に導入し、且つベース6の真空孔24から真空吸引を行うことによって、多孔質パッド2上でワークを非接触吸着する。
さらに、撓んだワーク(被吸着物)でも吸着面にならわせて、平坦化させることができる。
上記実施形態は、ベース6の上面に格子状のベース溝22を形成し、このベース溝22によって第2密閉空間を形成する構成であるが、ベースの上面を平坦面とし、パッドホルダの裏面に凹部または溝を形成することによって、パッドホルダとベースとの間に第2密閉空間を形成する構成でもよい。
図8は、このような構成のための変形例のパッドホルダ4’の底面図である。図8に示されているように、パッドホルダ4’の底面には、薄い円柱状の凹所22’が形成されている。
このパッドホルダ4’は、下面が、上面が平坦な円板状のベースと接合され、ベースの平坦な上面と、薄い円柱状の凹所22’とによって、パッドホルダ4’とベースとの間の薄い(高さが低い)円柱状の第2密閉空間が形成される。このパッドホルダ4’の側壁には、凹所22’に連通する真空孔(図示せず)が形成されている。
図9は、このような構成のためのもう一つの変形例のパッドホルダ4”の底面図である。図9に示されているように、パッドホルダ4”の底面には、格子状の溝22”が形成されている。
このパッドホルダ4”も、下面が、上面が平坦な円板状のベースが接合され、ベースの平坦な上面と、格子状の溝22”とによって、パッドホルダ4”とベースとの間に格子状の溝による第2密閉空間が形成される。このパッドホルダ4”の側壁にも、格子状の溝22”に連通する真空孔(図示せず)が形成されている。
図10は、非接触吸着盤1によるワークWの吸着固定(非接触吸着)の状態を説明するための模式的な断面図である。
上述したように、使用時に、パッドホルダ4の溝14と多孔質パッド2とによって形成された密閉空間に外部の圧縮空気源から加圧空気を導入すると、加圧空気は、多孔質パッド2の細孔を通して多孔質パッド2内に侵入し、図10に矢印Pで示すように、多孔質パッド2の表面2aから噴出する。この図10に矢印Pで示すように噴出する加圧空気によって、ワークWはパッドの表面(吸着面)8a上で浮上させられる。
一方、加圧空気の導入と同時に行われる、ベース6の真空孔24から真空吸引によって、パッドの表面(吸着面)8a上で浮上させられているワークWは、パッドホルダ4の連通孔18を介して、多孔質パッド2の各吸引孔8から矢印Vで示すように吸引され、加圧空気による浮力と真空吸引による吸引力が釣り合う吸着面8aから所定距離Gだけ離れた位置で、吸着固定されることになる。
加圧空気(空気量と空気圧)による浮力と、真空吸引による吸引力とを調整することによって、非接触吸着盤1を反転させた状態、すなわち多孔質パッド2の吸着面2aが下方を向いた状態で、吸着面2aの下側にワークWを非接触状態で吸着固定させることもできる。
次に、本実施形態の非接触吸着盤1を使用したワーク搬送装置によるワーク搬送について説明する。
図11乃至図19は、非接触吸着盤1を使用したワーク搬送装置50によるワーク搬送の各工程を示す図面である。
図11乃至図19に示されているように、ワーク搬送装置50は、いわゆる水平多関節式の「マテハン」ロボットである。
ワーク搬送装置50は、カラム52と、カラム52の上端に肩関節54を介して回転自在に基端が連結された第1アーム56と、第1アーム56の先端に肘関節58を介して回転自在に基端が連結された第2アーム60と、第2アーム60の先端に手首関節62を介して回転自在に基端が連結されたハンド部64とを備えている。ハンド部64の下面には、上記実施形態の非接触吸着盤1が吸着面2aを下方に向けた状態で取付けられている。
次に、ワーク搬送装置50によって、第1の処理装置66から第2の処理装置68にワークWを搬送する動作について説明する。
ワークWは、図11に示されるように、第1の処理装置66上の吸着装置70によって、第1の処理装置66上に吸着保持されている。本実施形態の搬送工程では、先ず、ワーク搬送装置50の第1および第2のアーム56、60を、第1の処理装置66方向に伸張させ、ハンド部64に取付けられている非接触吸着盤1を、第1の処理装置66上に吸着保持されているワークWの上方に配置する(図12)。
次いで、カラム52を縮め、非接触吸着盤1等を、ワークWを吸着可能な高さ位置まで降下させる(図13)。次いで、非接触吸着盤1への加圧空気と真空吸引を開始し、第1の処理装置66の吸着装置70の吸着動作を停止させ、ワークWを非接触吸着盤1側に吸着固定する(図14)。
次いで、カラム52を延ばし(図15)、さらに、肩関節54を中心にアーム全体を回転させ、非接触吸着盤1を第2の処理装置68の上方に移動させる(図16)。
さらに、カラム52を縮め、第2の処理装置68の吸着装置72が、非接触吸着盤1に吸着固定されているワークWを吸着可能な高さ位置まで、非接触吸着盤1等を降下させる(図17)。次いで、第2の処理装置68の吸着装置72の吸着動作を開始するとともに、非接触吸着盤1への加圧空気と真空吸引を停止し、ワークWを第2の処理装置68の吸着装置72に吸着させ(図18)、さらに、アームを初期位置に戻し搬送作業を完了する(図19)。
上述したような非接触吸着盤によれば、吸着面全体から加圧空気を吹き出してワークを浮上させつつ、吸着面全体に分布する吸引孔からワークWを吸引するので、ワークに多大な応力をかけることなく、非接触状態でワークを所定位置に吸着固定できる。
次に、本発明の第2実施形態の非接触吸着盤の構成について説明する。図20は、本発明の第2実施形態の非接触吸着盤100の上方からの分解斜視図であり、図21は、本発明の第2実施形態の非接触吸着盤100の下方からの分解斜視図である。
本実施形態の非接触吸着盤100は、第1実施形態の非接触吸着盤1と同様に、半導体ウエハ、FPD用ガラス基材等の薄板状の被吸着物(ワーク)、例えば、厚さ100μm以下の半導体ウエハを非接触状態で吸着する非接触吸着盤である。
非接触吸着盤100は、図20、および図21に示されているように、上面にワークの吸着領域を備えた円板状の多孔質パッド102と、多孔質パッド102を下側(裏側)から保持する略円板状のパッドホルダ104と、パッドホルダ104の裏側に配置される略円板状のベース106とを備えている。
非接触吸着盤100では、パッドホルダ104とベース106との間に、環状部分108aを備えた枠部材108が配置されている。
多孔質パッド102は、非接触吸着盤1の多孔質パッド2と同様に通気性の多孔質カーボンで形成されている。多孔質パッド102の材料も、通気性の多孔質カーボンに限定されるものではなく、他の通気性の多孔質材料、例えばポーラスSiC・ポーラスアルミナ等を使用することもできる。
多孔質パッド102と、パッドホルダ104の円盤部分104aと、枠部材108の環状部分108aと、ベース106の円盤部分106aは、略同一の外径を有している。そして、本実施態様では、多孔質パッド102と、パッドホルダ104の円盤部分104aと、枠部材108の環状部分108aと、ベース106の円盤部分106aとが、積層され、接着剤によって固定されて非接触吸着盤100を形成している。
また、パッドホルダ104と、ベース106と、枠部材108は、円盤部分あるいは環状部分から外方に向かって延びる略同一輪郭の矩形のハンドル部104b、106b、108bを、それぞれ、備えている。
パッドホルダ104と、ベース106と、枠部材108とは、アルミ合金の金属材料、CFRP・PEEKなどの樹脂等で形成されている。
多孔質パッド102には、複数の吸引孔(通気孔)109が形成されている。吸引孔109は、多孔質パッド102の略全面に亘って、配置されている。
なお、多孔質パッド102の周縁部には、多孔質パッドをパッドホルダ4等に連結する際の位置決め穴110が形成されている。
図21に示されているように、多孔質パッド102の下面には、外周縁に環状の垂下部112が形成されている。垂下部112は、外径が、パッドホルダ104の円盤部104bの外径と略等しくなるように構成されている。すなわち、多孔質パッド102の下面には、円盤状の凹所が形成されていることになる。この結果、パッドホルダ104上に多孔質パッド102を積層すると、パッドホルダ104の上面と多孔質パッド102の下面との間に、密閉空間(第1密閉空間)が形成されることになる。
多孔質パッド102の下面の垂下部112の内側領域には、断面矩形の溝114が形成され、溝114によって区切られた部分は、横断面が正方形の島状の突出部116とされている。島状の突出部116は、格子状(碁盤の目状)に配置された溝114とともに、碁盤の目状の配置を構成している。各突出部114の頂面は平坦であり、中央に、多孔質パッド102を厚さ方向に貫通する吸引孔109が配置されている。
島状の突出部116の厚さは、垂下部112の高さと略同一であるので、パッドホルダ104の上面と多孔質パッド102の下面との間に形成される密閉空間(第1密閉空間)は、島状の突出部116によって区切られた密閉空間となる。
また、パッドホルダ104には、パッドホルダ104を厚さ方向に貫通する貫通孔118が穿孔されている。各貫通孔118は、多孔質パッド102の吸引孔109と略同一の直径を有し、パッドホルダ104が多孔質パッド102に所定の角度位置で配置されたとき、多孔質パッド102の吸引孔109に整列するように配置されている。
この結果、多孔質パッド102が、パッドホルダ104と積層されると、多孔質パッド102の吸引孔109とパッドホルダ104の貫通孔118とが流体連通する。
上述したように、パッドホルダ104の円盤部分と枠部材108の環状部分とベース106の円盤部分とは略同一の外径であるので、パッドホルダ104の円盤部分と枠部材108の環状部分とベース106の円盤部分とが整列状態で積層されて非接触吸着盤100とされると、パッドホルダ104の円盤部分とベース106の円盤部分の間に、枠部材108の厚さに略等しい高さを有する密閉空間(第2密閉空間)が形成される。このパッドホルダ104の円盤部分とベース106の円盤部分の間に密閉空間(第2密閉空間)は、パッドホルダ104の貫通孔118を介して、多孔質パッド102の吸引孔109に連通することになる。
この結果、パッドホルダ104の円盤部分とベース106の円盤部分の間に密閉空間(第2密閉空間)を真空吸引すると、パッドホルダ104の貫通孔118を介して、多孔質パッド102の各吸引孔109から吸引が行われ、多孔質パッド102上のワークを多孔質パッド102に向けて吸着することができる。
また、本実施態様の非接触吸着盤100では、枠部材108のハンドル部108bに、略平行に延びる吸引長孔120、122、と加圧長孔124が形成されている。両側部の吸引長孔120、123は、内端側が、枠部材108の環状部108aに囲まれた内部空間に連通している。従って、非接触吸着盤100の組み立て状態では、吸引長孔120、122が、パッドホルダ104の円盤部分とベース106の円盤部分の間の密閉空間(第2密閉空間)に連通される。
さらに、本実施態様の非接触吸着盤100では、パッドホルダ104の円盤部分とベース106の円盤部分の間の密閉空間(第2密閉空間)に、複数の補強部材126が、配置されている。補強部材126は、枠部材108と略同一の厚さを有している。この結果、非接触吸着盤100の組み立て状態で補強部材126は、パッドホルダ104の円盤部分104aの下面とベース106の円盤部分106aの上面とに間に挟持され、パッドホルダ104の円盤部分104aとベース106の円盤部分106aとの間の密閉空間(第2密閉空間)が減圧された際、この密閉空間(第2密閉空間)が厚さ方向に潰れることを抑制する補強材として機能する。
さらにまた、本実施形態の非接触吸着盤100は、上板128と下板130を備えている。上板128と下板130は、パッドホルダ104とベース106と枠部材108のハンドル部104b、106b、108bと略同一の矩形形状を有し、非接触吸着盤100の組み立て状態で、ハンドル部104b、106b、108bを上下から挟持する。
上板128と下板130は、四隅にねじ穴132、134を有している。これらのねじ穴は、非接触吸着盤100の組み立て状態では、パッドホルダ104とベース106と枠部材108のハンドル部104b、106b、108bの四隅に形成されている対応するねじ穴と136、138、140と上下方向に整列し、これらの各ねじ穴、132,136、138、140、および134に、図示しないネジが挿通されることによって、積層状態のハンドル部104b、106b、108bを上板128と下板130が挟持する。
下板130には、厚さ方向に貫通する2つの吸引開口142、144と、加圧開口146とが形成されている。側方に形成された吸引開口142、144は、非接触吸着盤100の組み立て状態では、ベース106のハンドル部106bを貫通する吸引通路148、150を介して、枠部材108のハンドル部108bに形成された吸引長孔120、122に連通し、さらに、パッドホルダ104の円盤部分とベース106の円盤部分の間の密閉空間(第2密閉空間)に連通する。
一方、加圧開口146は、非接触吸着盤100の組み立て状態では、ベース106のハンドル部106bを貫通する加圧通路152を介して、枠部材108のハンドル部108bに形成された加圧長孔124の外方側部に連通する。
さらに、加圧長孔124の内方側(環状部分側)部は、非接触吸着盤100の組み立て状態で上方に配置される、パッドホルダ104のハンドル部104bを貫通する加圧通路154を介して、パッドホルダ104の上面と多孔質パッド102の下面との間に形成された密閉空間(第1密閉空間)に連通する。
使用時には、加圧開口146から外部の圧縮空気源から加圧空気を導入すると、加圧空気は、パッドホルダ104の上面と多孔質パッド102の下面との間に形成された密閉空間(第1密閉空間)に流入し、多孔質パッド102の細孔を通して表面から噴出する。
一方、加圧空気の導入と同時に行われる、吸引開口142、144から真空吸引によって、多孔質パッド102の表面(吸着面)で浮上させられているワークは、多孔質パッド102の各吸引孔109から吸引され、加圧空気による浮力と真空吸引による吸引力が釣り合う吸着面から所定距離だけ離れた位置で、吸着固定されることになる。
加圧空気(空気量と空気圧)による浮力と、真空吸引による吸引力とを調整することによって、非接触吸着盤100を反転させた状態、すなわち多孔質パッド102の吸着面が下方を向いた状態で、吸着面の下側にワークを非接触状態で吸着固定させることもできる。
尚、パッドホルダ104の円盤部分104aと、枠部材108の環状部分108aと、ベース106の円盤部分106aには、非接触吸着盤100の組み立て状態で、多孔質パッド102の位置決め穴110と整列する、複数の位置決め穴156、158、160が、それぞれ、形成されている。
非接触吸着盤100を組み立てる際には、位置決め穴110、156、158、160が整列するように、多孔質パッド102と、パッドホルダ104の円盤部分104aと、枠部材108の環状部分108aと、ベース106の円盤部分106aとを積層し、整列した位置決め穴110、156、158、160に図示しないピンを挿通し、多孔質パッド102とパッドホルダ104と枠部材108とベース106とを相互に位置決めして、これらを接着固定する。
また、ピンは、多孔質パッド102の表面から上方に突出する長さを有し、非接触吸着盤100の組み立て後も取り外されず、多孔質パッド102の表面に吸着されたワークが多孔質パッドの表面から滑り落ちることを防止するストッパとなる。
本発明の前記実施形態に限定されることなく、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範囲内で種々の変更、変形が可能である。
上記第1の実施形態の非接触吸着盤は、円板状の多孔質パッド2に格子状に吸引孔8を設けた構成であったが、図22に示すように円板状の多孔質パッド2’に環状に吸引孔8’を配置した多孔質パッドを使用してもよい。
また、図23および図24に示されているように、矩形の多孔質パッド2”に、格子状または環状に、複数の吸引孔8”を配置した構成でもよい。この場合、矩形のパッドホルダ4”等が使用される。
上記図22ないし図24の例では、多孔質パッドの吸引孔の位置に対応して、多孔質パッドの吸引孔(通気孔)、およびパッドホルダの連通孔等の位置も適宜、変更される。
さらに、上記実施形態は、第1密閉空間が加圧空間となり、第2密閉空間が減圧空間となる構成であったが、加圧部分と減圧部分を入れ替え、第1密閉空間を減圧空間とし、第2密閉空間を加圧空間とした構成でもよい。
また、上記第1の実施形態では、ベース6の平坦な上面に断面矩形のベース溝22が格子状に形成され、このベース溝22が第2密閉空間となる構成であった。すなわち、格子状のベース溝22の間に、パッドホルダ4の上面の島状の突出部16と同様の島状の突出部が形成された構成である。しかしながら、図25に示されているように、ベース6’の上面の全体を凹所とし、島状の突出部に区切られない一体的な第2密閉空間22’とする構成でもよい。
1:非接触吸着盤
2:多孔質パッド
4:パッドホルダ
6:ベース
8:吸引孔(通気孔)
10:連結穴
12:立上がり部
14:溝
16:突出部
18:連通孔
20:加圧空気入口
22:ベース溝
24:真空孔

Claims (6)

  1. 薄板状の被吸着物を非接触状態で吸着する非接触吸着盤であって、
    厚さ方向に貫通して延びる複数の通気孔が吸着固定領域に形成された板状の多孔質パッドと、
    前記多孔質パッドの裏面に隣接して配置され、加圧空気が導入される第1密閉空間と、
    前記第1密閉空間と隔離され、減圧される第2密閉空間と、
    前記第2密閉空間と前記通気孔とを連通させる連通手段と、
    表面が前記多孔質パッドの裏面側に積層され、該多孔質パッドの裏面との間に前記第1密閉空間を構成する凹所を備えた板状のホルダと、
    前記ホルダの裏面側に積層され、該ホルダの裏面との間に第2密閉空間を形成するベースと、を備え、
    前記ホルダが、一端が前記積層時に前記多孔質パッドの通気孔に接続され他端が該ホルダの裏面に開口し前記連通手段として機能する複数の連通孔と、前記複数の通気孔の裏面側開口端の位置で前記多孔質パッドの裏面に当接する平坦な頂部を備え前記ホルダの略全面にわたって配列された複数の島状の突出部を備え、
    前記連通孔が前記突出部を貫通して延び、
    前記突出部の間の空間が前記第1密閉空間とされている、
    ことを特徴とする非接触吸着盤。
  2. 前記多孔質パッドの裏面側に積層され、前記多孔質パッドの通気孔に対応する貫通孔を備えた板状のホルダを備え、
    さらに、前記ホルダの裏面側に積層され、該ホルダの裏面との間に第2密閉空間を形成するベースを備え、
    前記多孔質パッドの裏面に前記ホルダとの間に前記第1密閉空間を構成する凹所が形成され、
    前記多孔質パッドの通気孔が前記ホルダの貫通孔に連結され前記連通手段として機能する、
    請求項1に記載の非接触吸着盤。
  3. 前記ホルダと前記ベースとの間に配置される環状部を有する枠部材を備え、
    前記第2密閉空間が、前記環状部の内部空間によって形成される、
    請求項2に記載の非接触吸着盤。
  4. 前記多孔質パッドの凹所に、前記ホルダの表面に当接する平坦な頂部を備えた複数の島状の突出部を備え、
    前記多孔質パッドの通気孔が、前記島状の突出部を貫通している、
    請求項2または3に記載の非接触吸着盤。
  5. 前記通気孔が、前記多孔質パッドの表面全体に分散して配置されている、
    請求項1ないし4のいずれか1項に記載の非接触吸着盤。
  6. 前記多孔質パッドが、多孔質カーボンで形成されている、
    請求項1乃至5のいずれか1項に記載の非接触吸着盤。
JP2013542287A 2012-02-28 2013-02-28 非接触吸着盤 Active JP5512052B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013542287A JP5512052B2 (ja) 2012-02-28 2013-02-28 非接触吸着盤

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012041171 2012-02-28
JP2012041171 2012-02-28
JP2013542287A JP5512052B2 (ja) 2012-02-28 2013-02-28 非接触吸着盤
PCT/JP2013/055491 WO2013129599A1 (ja) 2012-02-28 2013-02-28 非接触吸着盤

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP5512052B2 true JP5512052B2 (ja) 2014-06-04
JPWO2013129599A1 JPWO2013129599A1 (ja) 2015-07-30

Family

ID=49082790

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013542287A Active JP5512052B2 (ja) 2012-02-28 2013-02-28 非接触吸着盤

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP5512052B2 (ja)
KR (1) KR101697839B1 (ja)
CN (1) CN104137247B (ja)
TW (1) TWI527747B (ja)
WO (1) WO2013129599A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016121015A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 株式会社タンケンシールセーコウ 非接触搬送装置、および非接触吸着盤
WO2018042808A1 (ja) * 2016-08-29 2018-03-08 株式会社日本製鋼所 レーザ照射装置
US11348787B2 (en) 2017-08-25 2022-05-31 Jsw Aktina System Co., Ltd. Laser irradiation apparatus, laser irradiation method, and method for manufacturing semiconductor device

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101627913B1 (ko) * 2014-05-26 2016-06-07 세메스 주식회사 반도체 패키지들을 지지하기 위한 테이블 조립체
CN104096980B (zh) * 2014-06-26 2016-01-20 长春光华微电子设备工程中心有限公司 激光切割真空吸附平台
CN106444299B (zh) * 2016-11-22 2017-12-12 江苏影速光电技术有限公司 一种dmd结构多轴可移动光路直写曝光机
CN106325007B (zh) * 2016-11-22 2017-11-17 江苏影速光电技术有限公司 一种多扫描驱动轴可移动多棱镜光路直写设备
CN106444298B (zh) * 2016-11-22 2018-01-30 江苏影速光电技术有限公司 一种dmd结构单轴固定光路直写曝光机
KR101749997B1 (ko) * 2017-01-17 2017-06-22 주식회사 21세기 Mlcc 적층용 상부금형
JP6898797B2 (ja) * 2017-07-10 2021-07-07 日本特殊陶業株式会社 真空吸着装置
JP7110005B2 (ja) * 2018-06-20 2022-08-01 キヤノン株式会社 基板回転装置、基板回転方法、リソグラフィ装置、および物品製造方法
JP7260984B2 (ja) * 2018-09-21 2023-04-19 日本特殊陶業株式会社 基板保持部材
NL2021859B1 (en) * 2018-10-23 2020-05-13 Suss Microtec Lithography Gmbh Fixation system, support plate and method for production thereof
CN111482712A (zh) * 2020-04-27 2020-08-04 沈阳仪表科学研究院有限公司 精密切割设备用辅助***
KR102624060B1 (ko) 2021-09-29 2024-01-12 고려대학교 세종산학협력단 진공 분위기 유지 피식각체 이송 장치 및 진공 분위기 유지 피식각체 이송 방법

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0750336A (ja) * 1993-08-04 1995-02-21 Hitachi Ltd 差動排気型真空吸着治具
JP2007027495A (ja) * 2005-07-19 2007-02-01 Tokyo Electron Ltd 浮上式基板搬送処理装置
JP2009104029A (ja) * 2007-10-25 2009-05-14 V Technology Co Ltd 露光装置
JP2011146705A (ja) * 2010-01-12 2011-07-28 Semes Co Ltd 基板処理装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4814050B2 (ja) 2006-10-31 2011-11-09 株式会社妙徳 浮上搬送ユニット
JP2011084352A (ja) 2009-10-14 2011-04-28 Myotoku Ltd ワーク浮上装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0750336A (ja) * 1993-08-04 1995-02-21 Hitachi Ltd 差動排気型真空吸着治具
JP2007027495A (ja) * 2005-07-19 2007-02-01 Tokyo Electron Ltd 浮上式基板搬送処理装置
JP2009104029A (ja) * 2007-10-25 2009-05-14 V Technology Co Ltd 露光装置
JP2011146705A (ja) * 2010-01-12 2011-07-28 Semes Co Ltd 基板処理装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016121015A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 株式会社タンケンシールセーコウ 非接触搬送装置、および非接触吸着盤
KR102552128B1 (ko) 2014-12-24 2023-07-06 가부시키가이샤 단켄시루세코 비접촉 반송 장치 및 비접촉 흡착반
WO2018042808A1 (ja) * 2016-08-29 2018-03-08 株式会社日本製鋼所 レーザ照射装置
JP2018037449A (ja) * 2016-08-29 2018-03-08 株式会社日本製鋼所 レーザ照射装置
US11688622B2 (en) 2016-08-29 2023-06-27 Jsw Aktina System Co., Ltd Laser irradiation apparatus
US11348787B2 (en) 2017-08-25 2022-05-31 Jsw Aktina System Co., Ltd. Laser irradiation apparatus, laser irradiation method, and method for manufacturing semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
CN104137247A (zh) 2014-11-05
CN104137247B (zh) 2016-09-07
JPWO2013129599A1 (ja) 2015-07-30
WO2013129599A1 (ja) 2013-09-06
KR20140129070A (ko) 2014-11-06
TWI527747B (zh) 2016-04-01
KR101697839B1 (ko) 2017-01-18
TW201343514A (zh) 2013-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5512052B2 (ja) 非接触吸着盤
TWI665146B (zh) 非接觸搬送裝置及非接觸吸著盤
JP5961064B2 (ja) 吸着テーブルの製造方法並びに吸着テーブル
TWI571350B (zh) 吸著盤
TW201515977A (zh) 用於傳送基板的氣動端效器設備、基板傳送系統與方法
JP4671841B2 (ja) 対象物間の脱ガス方法および脱ガス装置
JP2008300426A (ja) 真空チャック
JP2016197623A (ja) 吸着保持用治具とこの治具を備えた吸着保持装置、吸着保持方法、基板の処理方法、及び基板の成膜方法
JPH03270048A (ja) 真空チャック
JP5932457B2 (ja) チャックテーブル及びチャックテーブルを備える加工装置
JP5329916B2 (ja) 半導体ウエハの支持具
JP3450157B2 (ja) 真空吸着パッド
JP4812660B2 (ja) 基板等の取扱装置及び基板等の取扱方法
JP2008087131A (ja) 易削性被加工材の加工テーブルおよび固定方法ならびに加工テーブル用アタッチメント板
JPH0516088A (ja) 吸着保持具
JP2019217561A (ja) チャックテーブル、研削装置および研削品の製造方法
JP5422680B2 (ja) 基板保持装置
JP2019123035A (ja) 保持テーブル
JP4965406B2 (ja) 装着装置及び装着方法
TW202315513A (zh) 接合裝置及接合方法
JP6101095B2 (ja) 搬送ハンド、搬送装置および搬送方法
KR20230081605A (ko) 유지 기구 및 첩착 장치
JP6226768B2 (ja) 基板吸着離脱機構及び真空装置
JP2004165276A (ja) 吸着装置および搬送装置
JP2012076213A (ja) ワーク保持ヘッド

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140221

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140319

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140325

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5512052

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250