JP5497746B2 - 慣性センサおよびその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明はMEMS(Micro Electro Mechanical Systems) 技術で作られた半導体物理量センサに関し、特に、静電容量変化を検出に用いる慣性センサに関するものである。
センサ市場の普及と製品種類の多様化に伴い、複数種類のセンサを組み合わせて、周辺環境の記録や人の運動姿勢や車両の走行状態などを検知する機会が増えている。また、センサが利用される場面の多様化に伴い、従来では想定しえなかった温度環境、振動ノイズ環境、電磁ノイズ環境などの劣悪条件の下でセンサが利用される機会も増えている。
可動構造を有するセンサには様々なタイプのものがあり、例えば、広く知られている慣性センサとして加速度センサや角速度センサ(振動ジャイロ)がある。2種類以上のセンサを利用する場合を考慮し、角速度センサと加速度センサを一体化したパッケージで提供する複合型慣性センサが提案されている。例えば、特許文献1や特許文献2には角速度センサと加速度センサを組み合わせた複合型慣性センサの例が示されている。同一基板上に角速度センサと加速度センサを設けているため、低コストで、慣性センサ間のアライメント精度を高く、かつ少ない占有面積にて複合型慣性センサのチップを提供できる。
角速度センサは振動体と振動体内部に設けられるコリオリ素子とを有し、この振動体がある一定の周波数で駆動振動しているときに角速度が加わるとコリオリ力が発生し、振動体の内部に設けられているコリオリ素子が振動体の振動方向と直交する方向に変位する。このコリオリ力によるコリオリ素子の変位量を検知することで、角速度を検出することができる。このとき、振動体の駆動振動の速度が速いほどコリオリ力が大きくなるので、角速度センサの検出感度を向上させるためには、角速度センサの振動体を高周波で、かつ、大きな振幅で振動させる必要がある。
しかし、マイクロマシニング技術で形成した微細な振動体は、空気のダンピングの影響を大きく受ける。ダンピングは振動体の速度に比例して発生する力なので、高い圧力下では、速度の速い状態、つまり、高周波および大きな振幅をもった状態で振動体を振動させようとすると、空気によるダンピングの影響が大きくなり、振動体を高周波および大きな振幅をもった状態で振動させることができなくなる。この結果、角速度センサ検出感度を著しく悪化させることになる。つまり、角速度センサは流体による粘性抵抗を受けにくい低い圧力で気密封止することが望ましい。角速度センサを低い圧力の状態で気密封止することにより、振動体に与えるダンピングの影響を低減することができる。このため、角速度センサの振動体を高周波および大きな振幅で振動させることが可能となり、角速度の検出感度を向上させることができる。
しかし、上記の角速度センサと一体化したパッケージで提供される加速度センサまでも低い圧力の状態に配置してしまうと、加速度センサの可動体が非常に振動しやすい状態となってしまう。通常、加速度センサに加速度が印加されていない場合、加速度センサの可動体は静止状態であることが望まれる。ところが、加速度センサの可動体を低い圧力の状態に配置すると、周辺流体の粘性抵抗を十分に受けられず外部の振動ノイズに対してまでも敏感に変位してしまうため、たとえ、加速度が印加されていない状態であっても、可動体が変位することになる。つまり、加速度センサの可動体は、あまり敏感に反応することも加速度センサの検出感度を向上する観点からは望ましくないのである。
そこで、角速度センサと加速度センサを有する慣性センサとして、特許文献1や特許文献2に示すような構成と製造方法をとることが考えられる。
さらに、特許文献3に記載された気密封止パッケージでは、パッケージ内部の圧力調整部材にレーザ光を照射することにより、パッケージ内の圧力を調整するものが記載されている。
特開2002−5950号公報 特表2008−501535号公報 特開2008−182103号公報
しかしながら、特許文献1、特許文献2に記載された慣性センサは、通気穴を通して、加速度センサの置かれた空間を通気孔外部の圧力とバランスした後に、通気孔の封止工程を経て形成される。慣性センサが実際に使用される温度よりも高い温度で通気孔の封止工程を施すことが通常であり、よって、慣性センサの封止工程製造装置の内部圧力よりも、加速度センサの置かれた空間の圧力が高くなることはない。よって、慣性センサの封止工程製造装置の内部圧力は、大気圧より高くすることは難しく、つまり、周辺流体による粘性抵抗効果を得るための圧力、特に大気圧より高い圧力の状態で加速度センサの置かれた空間を封止することは難しかった。
また、特許文献1、特許文献2に記載された慣性センサでは、加速度センサの置かれた空間にダンピング剤である流体を注入するための通気穴が設けられていた。この通気穴を製造過程で封止したとしても、異種材料の密着で気密封止しているため、センサを長期間利用するにあたっては流体リークの可能性があり、センサ性能の長期安定性に問題があった。また、通気穴は完全封止されてリークが生じていなかったとしても、経時劣化や温度履歴により異種材料の境界面に歪みが生じる可能性があり、機械的強度の信頼性に問題があった。
又、特許文献3に記載された気密封止パッケージではレーザ光の照射用の窓を設けたり、レーザ光を照射したりするため、複雑な追加工が必要となるなどの問題があった。
本発明の目的は、加速度センサなどの慣性センサの置かれた空間を封止工程中の圧力よりも高くでき、信頼性及び生産性を向上できる慣性センサ及びその製造方法を提供することにある。
基板と、該基板上に形成された可動部分と、該可動部分を覆うように封止するキャップ部材と、を有する慣性センサであって、前記キャップの前記可動部分側にガス発生材料を塗布したことを特徴とする慣性センサとすることで解決される。
さらに、前記ガス発生材料を加熱することにより、前記可動部分が可動する空間を、大気圧よりも高い圧力にしたことを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、前記空間内の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、前記ガス発生材料は、ターシャリーブトキシカルボニルオキシ体保有体であることを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、角速度センサと加速度センサが一体化されている慣性センサであって、前記角速度センサの可動部分及び前記加速度センサの可動部分を同一の基板上に形成し、前記2つの可動部分を覆うように封止するキャップ部材を有し、前記キャップ部材の前記加速度センサに相当する部分側にだけガス発生材料を塗布したことを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、前記ガス発生材料を加熱することにより、前記加速度センサの可動部分が可動する第1の空間の圧力を、前記角速度センサの可動部分が可動する第2の空間の圧力よりも高くしたことを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、前記第1の空間の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、前記ガス発生材料は、ターシャリーブトキシカルボニルオキシ体保有体であることを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、基板上に可動部分を形成する工程と、前記可動部分を覆うキャップであって、該キャップに凹部を形成する工程と、前記凹部にガス発生材料を塗布する工程と、前記基板上に前記キャップを接合する工程と、前記ガス発生材料を加熱する工程と、を含むことを特徴とする慣性センサの製造方法が考えられる。
さらに、基板上に角速度を計測する第1の可動部分と、加速度を計測する第2の可動部分を形成する工程と、前記第1の可動部分と第2の可動部分を覆うキャップであって、該キャップに前記第1の可動部分と前記第2の可動部分に相当する凹部を形成する工程と、前記第2の可動部分にガス発生材料を塗布する工程と、前記基板上に前記キャップを接合する工程と、前記ガス発生材料を加熱する工程と、を含むことを特徴とする慣性センサの製造方法とすることができる。
さらに、互いに直交する2つの加速度センサが一体化されている慣性センサであって、前記2つの加速度センサの可動部分を同一の基板上に形成し、前記可動部分を覆うように封止するキャップ部材を有し、前記キャップ部材の前記2つの加速度センサの一方に相当する部分側にだけガス発生材料を塗布したことを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、前記ガス発生材料を加熱することにより、前記2つの加速度センサの一方の可動部分が可動する第1の空間の圧力を、前記2つの加速度センサの他方の可動部分が可動する第2の空間の圧力よりも高くしたことを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、前記第1の空間の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることを特徴とする慣性センサとすることができる。
さらに、前記ガス発生材料は、ターシャリーブトキシカルボニルオキシ体保有体であることを特徴とする慣性センサとすることができる。
加速度センサなどの慣性センサの置かれた空間を封止工程中の圧力よりも高くでき、信頼性及び生産性を向上できる慣性センサ及びその製造方法を提供することができる。
本発明を適用した複合型慣性センサの側面断面図。 本発明を適用した複合型慣性センサの平面図。 ガス発生材料の加熱による組成質量の変化を表すグラフ。 ガス発生材料tBOC体保有体の熱分解反応図。 本発明を適用した内部圧力調整用ガス発生材料を備えた複合慣性センサの製造工程フロー図。 本発明を適用した内部圧力調整用ガス発生材料を備えた複合慣性センサの製造工程フロー図。 本発明を適用した内部圧力調整用ガス発生材料を備えた複合慣性センサの製造工程フロー図。 空間の目的圧力とガス発生材料のモル量の関係を表すグラフ。 400Paの圧力下に置かれた加速度センサと、2.0×10Paの圧力下に置かれた加速度センサの周波数特性を表すグラフ。 本発明を適用した複合型慣性センサの側面断面図。 本発明を適用した複合型慣性センサの平面図。 本発明を適用した内部圧力調整用ガス発生材料を備えた複合慣性センサの製造工程フロー図。 本発明を適用した内部圧力調整用ガス発生材料を備えた複合慣性センサの製造工程フロー図。 5000Paの圧力下に置かれた加速度センサと、3.0×10Paの圧力下に置かれた加速度センサの周波数特性を表すグラフ。
(実施の形態1)
実施例1では、角速度センサが置かれた空間を400Paに、加速度センサが置かれた空間を2×10Pa(=2気圧)に、それぞれ封止した複合型慣性センサを1チップ上に形成するための製造方法と構成と効果について記載する。
(構成)図1と図2に本発明を適用した、SOI(Silicon On Insulator)−MEMS技術を用いた角速度センサと加速度センサから成る複合型慣性センサの構成を示す。図1は複合型慣性センサの側面断面図、図2は平面図である。ハンドリング用の基板301と埋め込み酸化膜(Buried Oxide:Box)層302とSOI層303から成るSOI基板上に、角速度センサ308と、加速度センサ309と、チップ裏面から電気的な信号を取り出すため基板貫通型のメタル配線306が形成されている。角速度センサの置かれた空間311と加速度センサの置かれた空間312はキャップ部材310により分離されて、それぞれが気密封止されている。エネルギーを加えることでガスを発生する材料313を、加速度センサの置かれた空間内部312に設置しておき、気密封止後に、ガス発生材料313に熱エネルギーを加え、加速度センサの置かれた空間内部にガスを発生させ、加速度センサの置かれた空間内部の圧力を上昇する。
ここに記載したガス発生材料とは、熱エネルギーを加えることで自分自身が化学的に分解し、分解後の反応生成物の一部がセンサの使用目的温度範囲において気体分子となり、周辺の圧力を上昇させる機能を有するものである。このような化学的に分解反応するガス発生材料を用いると、エネルギーを加えることで、気体−液体の変化や、気体−固体の変化といった物質の相変化や、気体分子の固体表面への吸着や乖離といった物理的反応とは異なる効果が得られる。つまり、空間内部の圧力を初期圧力よりも高くすることや、空間内部の気体分子の熱平衡状態を打ち破るような圧力へ上昇させることができる。このとき、発生する気体分子は周辺の物質と物理的・化学的に反応しない不活性ガスであることが望ましい。また、空間内部の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることが望ましい。
本実施例のガス発生材料として、例えば熱現像型レジストのモノマー材料であるターシャリーブトキシカルボニルオキシ(tBOC)体保有体を利用する例を記載する。この材料を室温から徐々に加熱すると、tBOC熱分解曲線である図3に示すように温度T1で第一段階目の熱分解反応が起こる。tBOC化学反応式は図4に示すように、tBOC保有体が、樹脂と炭酸ガスと低分子量アルケンに分解する反応である。T1で起きる熱分解反応は不可逆な分解反応であり、温度T1を超えるとほとんど全ての構成分子で分解反応が起きる。温度T1はtBOC保有体の修飾基で調整可能であるが、おおむね150〜300℃である。この材料をT1よりさらに加熱すると、図3に示すように温度T2で第二段階目の熱分解反応が起こる。これはT1で熱分解したtBOC保有体の反応生成物である樹脂の熱分解反応であり、温度T2はtBOC保有体の修飾基で調整可能であるが、おおむね400℃以上である。よって、角速度センサと加速度センサから成る複合型慣性センサに於いて、tBOC体保有体をガス発生材料として加速度センサの置かれた空間内部にだけ設置しておき、気密封止後に、T1以上T2以下の温度でセンサ全体を加熱すれば、加速度センサの置かれた空間内部でのみ炭酸ガス分子を生成することができる。反応後に生成する炭酸ガスの分子数は図4に示した化学反応式のモル量に比例するため、ガス発生材料の設置量を調整することで、加過熱後に加速度センサの置かれた空間の圧力を調整することができる。
尚、熱現像型レジストのモノマー材料であるtBOC体保有体を利用する場合、ガス発生材料に加えるエネルギーは熱エネルギーであり、角速度センサと加速度センサの置かれた空間を気密封止する製造工程後に、センサ全体を加熱することで、加速度センサの置かれた空間内部の圧力を上昇することができる。
(製造法)次に本発明を適用した複合型慣性センサの製造方法を図5〜図7を用いて説明する。
(基板とキャップ加工)まず、基板301とBOX酸化膜302とSOI活性層303から成るSOI基板上に、表面、裏面の両側からシリコン単結晶の深堀エッチング技術によってウエハ貫通孔305を形成し(図5(a))、加工した孔の表面を絶縁膜で電気的に保護した後にメタル材料を埋め込み、チップ裏面から電気的な信号を取り出すため基板貫通型のメタル配線306を形成する(図5(b))。その後、SOI活性層303にホトレジスト307を塗布しセンサの慣性体構造をホトリソグラフィ技術によって転写し、シリコン単結晶の深堀エッチング技術によってSOI活性層303に構造を形成する(図5(c))。
塗布したホトレジスト307をアッシングで除去し(図6(a))、更に構造体下部のBOX酸化膜302をエッチングで除去して、角速度センサ308と、加速度センサ309の可動構造を形成した基板301を得る(図6(b))。一方で、ガラスもしくは単結晶シリコンもしくは樹脂で形成されたキャップ部材310には、角速度センサが置かれる空間と加速度センサが置かれるための空間を、化学的もしくは物理的なエッチング方法を用いて形成する。加速度センサが置かれる空間を形成した後に、キャップ部材310の加速度センサの置かれる空間に相当する場所にガス発生材料313を滴下法、もしくはスピンコート法を用いて付着させる(図6(c))。
(材料の設置量)このとき、ガス発生材料313の付着量は次のように決める。チップ上で加速度センサが占有する面積を1.0mm×1.0mm、キャップ部材310の空間深さを100μm、センサ下部の空間を成すBOX酸化膜302の厚さを2.0μmとすると、加速度センサが置かれる空間の体積Vはおよそ1.0×10−10である。角速度センサの置かれた空間の圧力は温度300K(室温付近)で400Paとなるように封止するので、加速度センサの置かれた空間の初期圧力Pもガス発生材料の加熱調圧前には温度300K(室温付近)で400Paである。よって、加速度センサの置かれた空間にあらかじめ存在する気体の分子量nは、気体定数R(=8.31×10Pa・m/K/mol)を用い、理想気体の状態方程式により、

=PV/(RT)=1.6×10−14[mol]―――(1)

で表せる。更に、加速度センサの置かれた空間の目的圧力Pが2.0×10Pa(2気圧)の場合、発生ガスの必要モル量Δnは、理想気体のシャルルの法則より(2)(3)式から算出できて、

/P=(n+Δn)/P―――(2)

Δn=(P/P−1)n=(P/P−1)(PV/(RT))
=8.0×10−12[mol]―――(3)

と表せる。tBOC体保有体の熱分解反応は、化学量論的には図4で示す反応式に従うので、高分子鎖n=1のtBOC体保有体1モルに対して、1モルの炭酸ガスが生成すると解釈できる。つまり、ガス発生材料であるtBOC体保有体のモル量は、発生する炭酸ガスのモル量Δnに等しい。尚、初期圧力Pをそれぞれ400Pa、1.0×10Pa、1.0×10Paの三通りとしたとき、本実施例で作成している加速度センサの置かれた空間の目的圧力Pと、目的圧力Pを達成するのに必要なtBOC体保有体のモル量Δnは、図8に示すグラフで表される関係があり、Δnを変えることで目的圧力Pは自由に設定することが出来る。
(tBOC保有体の必要モル量)目的圧力Pを2.0×10Pa(2気圧)とするのに必要なΔn=8.0×10−12[mol]のtBOC体保有体を含むガス発生材料は、以下のようにして得る。比重0.88の酢酸ブチルを溶媒として、重量モル濃度1%のtBOC体保有体の溶液を作る。重量モル濃度1%のtBOC体保有体の酢酸ブチル溶液を、厚さ200nmでキャップ部材の加速度センサが置かれる領域(面積1mm×1mm)に設置すると、溶液中に含まれるtBOC体保有体のモル数は8.0×10−12[mol]であり、これを加熱分解して得られる炭酸ガスのモル量は、8.0×10−12[mol]となる。尚、酢酸ブチルを溶媒としてtBOC体保有体の溶液とした場合、滴下法、もしくはスピンコート法にてキャップ部材に塗布した後、酢酸ブチルの沸点(126℃)以上でプリベークを実施すると、フィルム膜状態となったtBOC体保有体をキャップ部材へ安定に付着させることが出来る。
(接合と裏面配線)次に、角速度センサ308と加速度センサ309の可動構造を形成した基板301と、加速度センサの置かれた空間にガス発生材料が付着しているキャップ部材310を、角速度センサの検出精度が十分に得られる400Pa以下の圧力で接合する。角加速度センサの置かれた空間も、加速度センサの置かれた空間も、センサチップの外部と通じて気体分子のやりとりを行って圧力変化が生じないように気密封止する。接合の方法は、キャップ部材が樹脂である場合には接着剤を用いた方法や、キャップ部材が単結晶シリコンもしくはガラスである場合には陽極接合法を用いる。接合時の材料界面からの脱ガス成分を見込んで、目的圧力より低い圧力で封止する。接合封止直後、角速度センサの置かれた空間311と、加速度センサの置かれた空間312の圧力は同じである(図7(a))。この後、チップ裏面から電気的な信号を取り出すため基板貫通型のメタル配線306へ接続するための、ワイヤボンディング用のパッド316を形成する(図7(b))。
(調圧手順)キャップ部材と基板との接合後、センサ全体を加熱する。このときの加熱温度は、ガス発生材料313が第一段階目の熱分解反応を示す温度以上で、第二段階目の熱分解反応を示す温度以下であれば良い。具体的には、ガス発生材料が熱現像型レジストのモノマー材料であるtBOC体保有体である場合、第一段階目の熱分解反応温度T1はおよそ150℃〜250℃であり、第二段階目の熱分解反応温度T2はおよそ400℃以上であるから、センサ全体を加熱する温度を150℃〜400℃に設定すれば良い。ガス発生材料の熱分解反応後には、加速度センサの置かれた空間内312には残留物質315と炭酸ガス分子314が存在する(図7(c))。炭酸ガスの沸点は−78.5℃/1気圧であり、よって−78.5℃より高い温度において、加速度センサの置かれた空間312の圧力を、発生した炭酸ガスの分子による分圧分だけ高くすることが出来る。角速度センサの置かれた空間にはガス発生材料がないので、センサ全体を加熱することで角速度センサの置かれた空間壁の材料表面からの脱ガス反応以外は起こりえない。つまり、角速度センサの置かれた空間の圧力は、センサ全体を加熱することでほとんど変動しない。
このようにセンサの気密封止工程後に加熱の工程を加えることで、ガス発生材料の設置された加速度センサの置かれた空間内312は、角速度センサの置かれた空間311に比べて高い圧力で気密封止することが出来る。この場合、ダンピング剤を注入するための通気穴のない構成で複合型慣性センサを封止することが出来るため、機械的な強度やセンサ性能の長期安定性を確保した振動ノイズ影響を受けにくい加速度センサ、もしくは複合型慣性センサを得られる。
尚、400Paの圧力下に置かれた加速度センサと、2.0×10Pa(2気圧)に置かれた加速度センサの、振動ノイズ影響の受けにくさは、具体的に以下のように算出できる。
MEMSデバイスにおける空気粘性抵抗効果は、連続流体の古典的な解析手法であるナビエストークス(Navier−Stokes)方程式と連続方程式を拡張して近似的に定式化できる。本実施例ではセンサ慣性体に付属するクシ歯型の検出電極の持つ突起構造が空気粘性抵抗効果を受ける主原因であり、スクイズ型の空気粘性抵抗係数Cは、

C=96ηeffLW/(π)―――(4)

ηeff=η/(1+9.638K 1.159)―――(5)

=λ/L=kT/((√2)πd gasPL)―――(6)

と表される。但し、lは突起構造の長さ、wは突起構造の幅、gは突起構造間の距離(ギャップ)、ηeffは周辺気体の粘性の実効値、ηは周辺気体の粘性定数、Kはクヌッセン数、λは周辺気体の平均自由行程、Lは流れ場の代表長さであり突起構造間の距離に相当する長さ、kはボルツマン定数、Tは絶対温度、dgasは周辺気体の分子の直径、Pは周辺気体の圧力である。よって、まったく同じ構造の加速度センサが、400Paと2.0×10Pa(2気圧)の2つの圧力下に置かれている場合、空気粘性抵抗係数Cの値は(4)式より102倍、2.0×10Pa(2気圧)に置かれているものに比べて、400Paに置かれている加速度センサのほうが、大きい。
またMEMSデバイスのQ値と、減衰定数ξと、機械カットオフ周波数fcの関係は、mをセンサの慣性質量、kを慣性体の主軸方向の剛性定数とした場合に、

Q=1/(2ζ)=√(mk)/C―――(7)

(f/f=−(ζ−1)+√((ζ−1)+1)―――(8)

と表せる。加速度センサの固有振動数f0が3000Hz、2.0×10Pa(2気圧)における減衰定数が50のとき、400Paの圧力下に置かれた加速度センサと、2.0×10Pa(2気圧)に置かれた加速度センサの周波数特性は図9のように表せ、カットオフ周波数fcとQ値は表1のようになる。
Figure 0005497746
表1より、2.0×10Pa(2気圧)に置かれている加速度センサはカットオフ周波数fcが303Hzの機械的なフィルターとなる。よって、機械的なカットオフ周波数fcが3832Hzの400Paに置かれている加速度センサに比べて、高周波振動ノイズの影響を受けにくいフィルタリング特性となる。測定したい周波数よりも高い周波数帯域の信号は、電気的な信号処理によって除去する方法も考えられるが、センサ慣性体が機械的に動作を許容される範囲を超えて動作するとセンサが誤出力する可能性もあるため、本質的にはセンサ慣性体は振動ノイズから動作影響を受けにくいほうが望ましい。
尚、実施例では加速度センサの置かれた空間を2.0×10Pa(2気圧)としたが、慣性センサの使用される温度領域(通常用途では−30〜80℃、車載用途の場合は−40〜125℃)で発生ガスの二酸化炭素が液化しない範囲で、空間内部圧力の調整が可能である。二酸化炭素の相図における三重点(−56.6℃、5.2×10Pa)を目安とし、調整後の圧力の上限値は5.2×10Pa(5.1気圧)程度が望ましい。
また、実施例では角速度センサと加速度センサから構成される複合型慣性センサであって、加速度センサの置かれる空間とセンサ外部と気体を媒介して圧力をバランスする通気孔のあるものについての構成と製造方法を述べたが、角速度センサと加速度センサから構成される複合型慣性センサであって、角速度センサの置かれる空間とセンサ外部と気体を媒介して圧力をバランスする通気孔のあるものについて本発明を適用し、加速度センサの置かれる封止空間にガス発生材料を設置しても、振動ノイズに影響を受けにくい慣性センサを得る効果がある。
尚、実施例では角速度センサと加速度センサから構成される複合型慣性センサに関する構成と製造方法を述べたが、加速度センサ単体に本発明を適用しても、振動ノイズに影響を受けにくい慣性センサを得る効果がある。
(実施の形態2)
実施例2では、2個の加速度センサを同一チップ上に形成し、それぞれを5000Pa、3.0×10Paと異なる圧力の空間中に封止して、段階的に振動ノイズに影響を受けにくい加速度センサを得るための製造方法と構成と効果について記載する。
(構成)図10と図11に本発明を適用した、SOI−MEMS技術を用いた加速度センサ2個から成る複合型慣性センサの構成を示す。図10は複合型慣性センサの側面断面図で図11はその平面図である。ハンドリング用の基板500とBOX酸化膜層502とSOI層504から成るSOI基板上に、x軸加速度センサ506が形成されている。ここでは同じ構造の加速度センサ(y軸加速度センサ507)が、基板上で互いに90度の角度で配置されている。図11のx軸方向を検出軸に持つ加速度センサ(今後はこれをx軸加速度センサと呼ぶ)の置かれた空間510と図11のy軸方向を検出軸に持つ加速度センサ(今後はこれをy軸加速度センサと呼ぶ)の置かれた空間511は、キャップ部材508により分離されて、それぞれが気密封止されている。エネルギーを加えることでガス発生材料512を、y軸加速度センサの置かれた空間511に設置しておき、気密封止後に、ガス発生材料512に熱エネルギーを加え、空間511内部にガスを発生させ、y軸加速度センサの置かれた空間内部の圧力を上昇する。
ここに記載したガス発生材料とは、熱エネルギーを加えることで自分自身が化学的に分解し、分解後の反応生成物の一部がセンサの使用目的温度範囲において気体分子となり、周辺の圧力を上昇させる機能を有するものである。このような化学的に分解反応するガス発生材料を用いると、エネルギーを加えることで、気体−液体の変化や、気体−固体の変化といった物質の相変化や、気体分子の固体表面への吸着や乖離といった物理的反応とは異なる効果が得られる。つまり、空間内部の圧力を初期圧力よりも高くすることや、空間内部の気体分子の熱平衡状態を打ち破るような圧力へ上昇させることができる。このとき、発生する気体分子は周辺の物質と物理的・化学的に反応しない不活性ガスであることが望ましい。
本実施例のガス発生材料として、例えば熱現像型レジストのモノマー材料であるターシャリーブトキシカルボニルオキシ(tBOC)体保有体を利用する例を記載する。この材料を室温から徐々に加熱すると、図3に示すように温度T1で第一段階目の熱分解反応が起こる。その反応式は図4に示すように、tBOC保有体が、樹脂と炭酸ガスと低分子量アルケンに分解する反応である。T1で起きる熱分解反応は不可逆な分解反応であり、温度T1を超えるとほとんど全ての構成分子で分解反応が起きる。温度T1はtBOC保有体の修飾基で調整可能であるが、おおむね150〜300℃である。この材料をT1よりさらに加熱すると、図3に示すように温度T2で第二段階目の熱分解反応が起こる。これはT1で熱分解したtBOC保有体の反応生成物である樹脂の熱分解反応であり、温度T2はtBOC保有体の修飾基で調整可能であるが、おおむね400℃以上である。よって、角速度センサと加速度センサから成る複合型慣性センサに於いて、tBOC体保有体をガス発生材料として加速度センサの置かれた空間内部にだけ設置しておき、気密封止後に、T1以上T2以下の温度でセンサ全体を加熱すれば、加速度センサの置かれた空間内部でのみ炭酸ガス分子を生成することができる。反応後に生成する炭酸ガスの分子数は図4に示した化学反応式のモル量に比例するため、ガス発生材料の設置量を調整することで、加過熱後に加速度センサの置かれた空間の圧力を調整することができる。
(製造法)次に本発明を適用した複合型慣性センサの製造方法を図12〜図13を用いて説明する。
(基板とキャップ加工)まず、基板500とBOX酸化膜502とSOI活性層504から成るSOI基板上の、SOI活性層504に、ホトレジスト516を塗布しセンサの慣性体構造をホトリソグラフィ技術によって転写する(図12(a))。次に、基板500とBOX酸化膜502とSOI活性層504から成るSOI基板上に、センサの慣性体構造をシリコン単結晶の深堀エッチング技術によって形成し(図12(b))、構造体下部のBOX酸化膜502をエッチングで除去して、二個の加速度センサの可動構造であるx軸加速度センサ506、y軸加速度センサ507を形成した基板500を得る(図12(c))。一方で、ガラスもしくは単結晶シリコンもしくは樹脂で形成されたキャップ部材508には、二個の加速度センサが置かれるための空間を、化学的もしくは物理的なエッチング方法を用いて形成する。加速度センサが置かれる空間を形成した後に、キャップ部材508の加速度センサの置かれる空間に相当する場所にガス発生材料512を滴下法、もしくはスピンコート法を用いて付着させる(図13(a))。
(材料の設置量)このとき、ガス発生材料512の付着量は次のように決める。チップ上でそれぞれの加速度センサが占有する面積を1.0mm×1.0mm、キャップ部材512の空間深さを100μm、センサ下部の空間を成すBOX酸化膜502の厚さを2.0μmとすると、それぞれの加速度センサが置かれる空間の体積Vはおよそ1.0×10−10である。x軸加速度センサの置かれた空間の圧力は温度300K(室温付近)で5000Paとなるように封止するので、y軸加速度センサの置かれた空間の初期圧力Pもガス発生材料の加熱調圧前には温度300K(室温付近)で5000Paである。よって、y軸加速度センサの置かれた空間にあらかじめ存在する気体の分子量nは、気体定数R(=8.31×10Pa・m/K/mol)を用い、理想気体の状態方程式により、

=PV/(RT)=2.0×10−13[mol]―――(1)

で表せる。更に、y軸加速度センサの置かれた空間の目的圧力Pが3.0×10Pa(3気圧)の場合、発生ガスの必要モル量Δnは、理想気体のシャルルの法則より(2)(3)式から算出できて、

/P=(n+Δ)/P―――(2)

Δn=(P/P−1)n=(P/P−1)(PV/(RT))
=1.2×10−11[mol]―――(3)

と表せる。tBOC体保有体の熱分解反応は、化学量論的には図4で示す反応式に従うので、高分子鎖n=1のtBOC体保有体1モルに対して、1モルの炭酸ガスが生成すると解釈できる。つまり、ガス発生材料であるtBOC体保有体のモル量は、発生する炭酸ガスのモル量Δnに等しい。
尚、y軸加速度センサの置かれた空間の圧力P1は大気圧以上5.1気圧以下であることが望ましい。
(tBOC保有体の必要モル量)目的圧力Pを3.0×10Pa(3気圧)とするのに必要なΔn=1.2×10−11[mol]のtBOC体保有体を含むガス発生材料は、以下のようにして得る。比重0.88の酢酸ブチルを溶媒として、重量モル濃度1%のtBOC体保有体の溶液を作る。重量モル濃度1%のtBOC体保有体の酢酸ブチル溶液を、厚さ300nmでキャップ部材のy軸加速度センサが置かれる領域(面積1mm×1mm)に設置すると、溶液中に含まれるtBOC体保有体のモル数は1.2×10−11[mol]であり、これを加熱分解して得られる炭酸ガスのモル量は、1.2×10−11[mol]となる。尚、酢酸ブチルを溶媒としてtBOC体保有体の溶液とした場合、滴下法、もしくはスピンコート法にてキャップ部材に塗布した後、酢酸ブチルの沸点(126℃)以上でプリベークを実施すると、フィルム膜状態となったtBOC体保有体をキャップ部材へ安定に付着させることが出来る。
(接合と裏面配線)次に、x軸加速度センサ506とy軸加速度センサ507の可動構造を形成した基板500と、y軸加速度センサの置かれた空間にガス発生材料が付着しているキャップ部材508を、x軸加速度センサの検出精度が十分に得られる5000Pa以下の圧力で接合する。x軸加速度センサの置かれた空間も、y軸加速度センサの置かれた空間も、センサチップの外部と通じて気体分子のやりとりを行って圧力変化が生じないように気密封止する。接合の方法は、キャップ部材が樹脂である場合には接着剤を用いた方法や、キャップ部材が単結晶シリコンもしくはガラスである場合には陽極接合法を用いる。接合時の材料界面からの脱ガス成分を見込んで、目的圧力より低い圧力で封止する。接合封止直後、x軸加速度センサの置かれた空間510と、y軸加速度センサの置かれた空間511の圧力は同じである(図13(b))。
(調圧手順)キャップ部材と基板との接合後、センサ全体を加熱する。このときの加熱温度は、ガス発生材料512が第一段階目の熱分解反応を示す温度以上で、第二段階目の熱分解反応を示す温度以下であれば良い。具体的には、ガス発生材料が熱現像型レジストのモノマー材料であるtBOC体保有体である場合、第一段階目の熱分解反応温度T1はおよそ150℃〜250℃であり、第二段階目の熱分解反応温度T2はおよそ400℃以上であるから、センサ全体を加熱する温度を150℃〜400℃に設定すれば良い。ガス発生材料の熱分解反応後には、y軸加速度センサの置かれた空間内511には残留物質520と炭酸ガス分子が存在する(図13(c))。炭酸ガスの沸点は−78.5℃/1気圧であり、よって−78.5℃より高い温度において、y軸加速度センサの置かれた空間511の圧力を、発生した炭酸ガスの分子による分圧分だけ高くすることが出来る。x軸加速度センサの置かれた空間にはガス発生材料がないので、センサ全体を加熱することでx軸加速度センサの置かれた空間壁の材料表面からの脱ガス反応以外は起こりえない。つまり、x軸加速度センサの置かれた空間の圧力は、センサ全体を加熱することでほとんど変動しない。
このようにセンサの気密封止工程後に加熱の工程を加えることで、ガス発生材料の設置されたy軸加速度センサの置かれた空間内511は、x軸加速度センサの置かれた空間510に比べて高い圧力で気密封止することが出来る。この場合、ダンピング剤を注入するための通気穴のない構成で複合型慣性センサを封止することが出来るため、機械的な強度やセンサ性能の長期安定性を確保した振動ノイズ影響を受けにくい加速度センサ、もしくは複合型慣性センサを得られる。
尚、5000Paの圧力下に置かれたx軸加速度センサと、3.0×10Pa(3気圧)に置かれたy軸加速度センサの、振動ノイズ影響の受けにくさは、実施例1に示した方法を用いて以下のように算出できる。
x軸加速度センサ、y軸加速度センサの固有振動数f0がともに4000Hz、3.0×10Pa(3気圧)における減衰定数が50のとき、5000Paの圧力下に置かれたx軸加速度センサと、3.0×10Pa(3気圧)に置かれたy軸加速度センサの周波数特性は図14のように表せ、カットオフ周波数fcとQ値は表2のようになる。
Figure 0005497746
表2より、3.0×10Pa(3気圧)に置かれているy軸加速度センサはカットオフ周波数fcが404Hzの機械的なフィルターとなる。よって、機械的なカットオフ周波数fcが1076Hzの5000Paに置かれているx軸加速度センサに比べて、高周波振動ノイズの影響を受けにくいフィルタリング特性となる。測定したい周波数よりも高い周波数帯域の信号は、電気的な信号処理によって除去する方法も考えられるが、センサ慣性体が機械的に動作を許容される範囲を超えて動作するとセンサが誤出力する可能性もあるため、本質的にはセンサ慣性体は振動ノイズから動作影響を受けにくいほうが望ましい。
例えば、この実施例に記載された加速度センサを自動車に搭載した場合に、x軸加速度センサでは傾斜を計る(周波数帯域は狭くDC測定でよいもの)ことにし、y軸加速度センサでは動きを検出(周波数帯域が広いもの)するセンサにすることにより、振動ノイズの大きな環境にある場合、圧力を変える、すなわちx軸加速度センサ内の圧力を高くすると、測定要求を満たしながらも、精度の高いセンサとすることができる。
本発明は、角速度センサや加速度センサを備える慣性センサに幅広く利用することができる。
301 基板
302 BOX酸化膜
303 SOI層
304 シリコン酸化膜
305 貫通孔
306 メタル配線
307 ホトレジスト
308 角速度センサ
309 加速度センサ
310 キャップ部材
311 角速度センサ用空間
312 加速度センサ用空間
313 ガス発生材料
314 ガス分子
315 ガス脱後の生成物
316 パッド
500 基板
502 BOX酸化膜
504 SOI層
506 x軸加速度センサ
507 y軸加速度センサ
508 キャップ部材
510 x軸加速度センサ用空間
511 y軸加速度センサ用空間
512 ガス発生材料
514 パッド
516 ホトレジスト
520 ガス発生後の生成物

Claims (16)

  1. 基板と、
    該基板上に形成された可動部分と、
    該可動部分を覆うように封止するキャップ部材と、
    を有する慣性センサであって、
    前記キャップ部材の前記可動部分側にガス発生材料を塗布したことを特徴とする慣性センサ。
  2. 請求項1記載の慣性センサにおいて、
    平面視において、前記ガス発生材料の塗布領域は、前記可動部分の領域を内包していることを特徴とする慣性センサ。
  3. 請求項1記載の慣性センサにおいて、
    前記ガス発生材料を加熱することにより、前記可動部分が可動する空間を、大気圧よりも高い圧力にしたことを特徴とする慣性センサ。
  4. 請求項記載の慣性センサにおいて、
    前記空間内の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることを特徴とする慣性センサ。
  5. 請求項1記載の慣性センサにおいて、
    前記ガス発生材料は、ターシャリーブトキシカルボニルオキシ体保有体であることを特徴とする慣性センサ。
  6. 角速度センサと加速度センサが一体化されている慣性センサであって、
    前記角速度センサの可動部分及び前記加速度センサの可動部分を同一の基板上に形成し、
    前記2つの可動部分を覆うように封止するキャップ部材を有し、
    前記キャップ部材の前記加速度センサに相当する部分側にだけガス発生材料を塗布したことを特徴とする慣性センサ。
  7. 請求項記載の慣性センサにおいて、
    前記ガス発生材料を加熱することにより、前記加速度センサの可動部分が可動する第1の空間の圧力を、前記角速度センサの可動部分が可動する第2の空間の圧力よりも高くしたことを特徴とする慣性センサ。
  8. 請求項記載の慣性センサにおいて、
    前記第1の空間の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることを特徴とする慣性センサ。
  9. 請求項記載の慣性センサにおいて、
    前記ガス発生材料は、ターシャリーブトキシカルボニルオキシ体保有体であることを特徴とする慣性センサ。
  10. 基板上に可動部分を形成する工程と、
    前記可動部分を覆うキャップであって、該キャップに凹部を形成する工程と、
    前記凹部にガス発生材料を塗布する工程と、
    前記基板上に前記キャップを接合する工程と、
    前記ガス発生材料を加熱する工程とを含むことを特徴とする慣性センサの製造方法。
  11. 請求項10記載の慣性センサの製造方法において、
    平面視において、前記ガス発生材料の塗布領域は、前記可動部分の領域を内包していることを特徴とする慣性センサの製造方法。
  12. 基板上に角速度を計測する第1の可動部分と、加速度を計測する第2の可動部分を形成する工程と、
    前記第1の可動部分と第2の可動部分を覆うキャップであって、該キャップに前記第1の可動部分と前記第2の可動部分に相当する凹部を形成する工程と、
    前記第2の可動部分にガス発生材料を塗布する工程と、
    前記基板上に前記キャップを接合する工程と、
    前記ガス発生材料を加熱する工程とを含むことを特徴とする慣性センサの製造方法。
  13. 互いに直交する2つの加速度センサが一体化されている慣性センサであって、
    前記2つの加速度センサの可動部分を同一の基板上に形成し、
    前記可動部分を覆うように封止するキャップ部材を有し、
    前記キャップ部材の前記2つの加速度センサの一方に相当する部分側にだけガス発生材料を塗布したことを特徴とする慣性センサ。
  14. 請求項13記載の慣性センサにおいて、
    前記ガス発生材料を加熱することにより、前記2つの加速度センサの一方の可動部分が可動する第1の空間の圧力を、前記2つの加速度センサの他方の可動部分が可動する第2の空間の圧力よりも高くしたことを特徴とする慣性センサ。
  15. 請求項14記載の慣性センサにおいて、
    前記第1の空間の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることを特徴とする慣性センサ。
  16. 請求項13記載の慣性センサにおいて、
    前記ガス発生材料は、ターシャリーブトキシカルボニルオキシ体保有体であることを特徴とする慣性センサ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008016004A1 (de) * 2008-03-27 2009-10-08 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mikroelektromechanischer Inertialsensor mit atmosphärischer Bedämpfung
JP2010217170A (ja) 2009-02-17 2010-09-30 Seiko Epson Corp 複合センサー、電子機器
JP5732203B2 (ja) 2010-05-21 2015-06-10 日立オートモティブシステムズ株式会社 複合センサの製造方法
JP2012154802A (ja) * 2011-01-26 2012-08-16 Denso Corp 加速度角速度センサ装置の製造方法
JP5425824B2 (ja) * 2011-02-16 2014-02-26 日立オートモティブシステムズ株式会社 複合センサ
KR20130016607A (ko) * 2011-08-08 2013-02-18 삼성전기주식회사 관성센서 및 그 제조방법
FR2980034B1 (fr) * 2011-09-08 2014-07-04 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation d'une structure a cavite fermee hermetiquement et sous atmosphere controlee
JPWO2013080238A1 (ja) * 2011-11-28 2015-04-27 日立オートモティブシステムズ株式会社 複合センサおよびその製造方法
DE102012202183B4 (de) * 2012-02-14 2020-03-19 Robert Bosch Gmbh Mikromechanische Struktur und Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Struktur
DE102012209973B4 (de) 2012-06-14 2024-03-07 Robert Bosch Gmbh Mikromechanische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Vorrichtung
DE102012219605B4 (de) * 2012-10-26 2021-09-23 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauelement
JP5953252B2 (ja) 2013-03-08 2016-07-20 日立オートモティブシステムズ株式会社 物理量センサの構造
US9726689B1 (en) * 2013-03-15 2017-08-08 Hanking Electronics Ltd. Wafer level micro-electro-mechanical systems package with accelerometer and gyroscope
US20140352264A1 (en) * 2013-06-03 2014-12-04 Craig Filicetti Container with Orientation Sensor
EP2813465B1 (en) * 2013-06-12 2020-01-15 Tronic's Microsystems MEMS device with getter layer
JP6123613B2 (ja) 2013-09-26 2017-05-10 株式会社デンソー 物理量センサおよびその製造方法
US9725301B2 (en) * 2013-11-19 2017-08-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Structures and formation methods of micro-electro mechanical system device
WO2015103220A1 (en) * 2013-12-30 2015-07-09 Robert Bosch Gmbh Robust inertial sensors
SE538346C2 (sv) * 2014-02-07 2016-05-24 Silex Microsystems Ab Reglering av tryck i kaviteter på substrat
JP6331535B2 (ja) 2014-03-18 2018-05-30 セイコーエプソン株式会社 電子デバイス、電子機器および移動体
JP6451062B2 (ja) 2014-03-18 2019-01-16 セイコーエプソン株式会社 電子デバイス、電子モジュール、電子機器および移動体
US9891244B2 (en) * 2014-08-15 2018-02-13 Nxp Usa, Inc. Microelectronic packages having split gyroscope structures and methods for the fabrication thereof
JP6416704B2 (ja) * 2015-06-22 2018-10-31 日立オートモティブシステムズ株式会社 樹脂封止型センサ装置
US10041854B2 (en) * 2015-12-10 2018-08-07 Panasonic Corporation Identification of a seal failure in MEMS devices
US10209157B2 (en) * 2015-12-10 2019-02-19 Invensense, Inc. Dual-sealed MEMS package with cavity pressure monitoring
CN107777656A (zh) * 2016-08-26 2018-03-09 深迪半导体(上海)有限公司 一种mems器件及腔体气压控制方法
JP6990997B2 (ja) * 2017-06-06 2022-01-12 株式会社日立製作所 Memsデバイス
DE102018209483A1 (de) * 2018-06-14 2019-12-19 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Systems, umfassend ein erstes mikroelektromechanisches Element und ein zweites mikroelektromechanisches Element; System
FR3090615B1 (fr) * 2018-12-20 2020-12-11 Soitec Silicon On Insulator Procédé de fabrication d’un dispositif comprenant une membrane surplombant une cavité
CN110937570A (zh) * 2019-12-23 2020-03-31 中芯集成电路制造(绍兴)有限公司 Mems器件晶圆级封装方法及封装结构

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000100984A (ja) * 1998-09-21 2000-04-07 Murata Mfg Co Ltd 減圧容器の製造方法
JP2002005950A (ja) * 2000-06-23 2002-01-09 Murata Mfg Co Ltd 複合センサ素子およびその製造方法
JP2007012728A (ja) * 2005-06-29 2007-01-18 Citizen Watch Co Ltd 圧電振動子パッケージ及びその製造方法ならびに物理量センサー
JP2007059736A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Citizen Watch Co Ltd 圧電振動子パッケージ及びその製造方法ならびに物理量センサ
JP2007214315A (ja) * 2006-02-09 2007-08-23 Citizen Holdings Co Ltd 電子部品封止体
WO2007113325A1 (de) * 2006-04-06 2007-10-11 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mikromechanische gehäusung mit mindestens zwei kavitäten mit unterschiedlichem innendruck und/oder unterschiedlicher gaszusammensetzung sowie verfahren zu deren herstellung
JP2008501535A (ja) * 2004-06-04 2008-01-24 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 複数の空洞を備えた微細構造の構成要素及び該構成要素の製造のための方法
JP2008182103A (ja) * 2007-01-25 2008-08-07 Olympus Corp 気密封止パッケージ
JP2010141088A (ja) * 2008-12-11 2010-06-24 Dainippon Printing Co Ltd 封止型デバイス、物理量センサ、その製造方法、及びその内部圧力制御方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3998948B2 (ja) * 2001-10-31 2007-10-31 セイコーインスツル株式会社 圧電振動子及びその製造方法
US20070056370A1 (en) * 2005-08-19 2007-03-15 Honeywell International Inc. Mems sensor package
US7557491B2 (en) 2006-02-09 2009-07-07 Citizen Holdings Co., Ltd. Electronic component package
DE102007022509B4 (de) * 2007-05-14 2015-10-22 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauteil mit Dünnschichtverkappung und Herstellungsverfahrung
JP5319122B2 (ja) * 2008-01-21 2013-10-16 日立オートモティブシステムズ株式会社 慣性センサ
DE102008016004A1 (de) * 2008-03-27 2009-10-08 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mikroelektromechanischer Inertialsensor mit atmosphärischer Bedämpfung
US8418554B2 (en) * 2009-06-01 2013-04-16 The Boeing Company Gyroscope packaging assembly
JP5463173B2 (ja) * 2010-03-12 2014-04-09 日立オートモティブシステムズ株式会社 角速度検出装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000100984A (ja) * 1998-09-21 2000-04-07 Murata Mfg Co Ltd 減圧容器の製造方法
JP2002005950A (ja) * 2000-06-23 2002-01-09 Murata Mfg Co Ltd 複合センサ素子およびその製造方法
JP2008501535A (ja) * 2004-06-04 2008-01-24 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 複数の空洞を備えた微細構造の構成要素及び該構成要素の製造のための方法
JP2007012728A (ja) * 2005-06-29 2007-01-18 Citizen Watch Co Ltd 圧電振動子パッケージ及びその製造方法ならびに物理量センサー
JP2007059736A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Citizen Watch Co Ltd 圧電振動子パッケージ及びその製造方法ならびに物理量センサ
JP2007214315A (ja) * 2006-02-09 2007-08-23 Citizen Holdings Co Ltd 電子部品封止体
WO2007113325A1 (de) * 2006-04-06 2007-10-11 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mikromechanische gehäusung mit mindestens zwei kavitäten mit unterschiedlichem innendruck und/oder unterschiedlicher gaszusammensetzung sowie verfahren zu deren herstellung
JP2008182103A (ja) * 2007-01-25 2008-08-07 Olympus Corp 気密封止パッケージ
JP2010141088A (ja) * 2008-12-11 2010-06-24 Dainippon Printing Co Ltd 封止型デバイス、物理量センサ、その製造方法、及びその内部圧力制御方法

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