JP5489098B2 - 蛍光x線分析用のドリフト補正試料ならびにそれを用いる蛍光x線分析方法およびその作製方法 - Google Patents
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Description
5 試料保持具
10 蛍光X線分析装置
11 X線管
12 1次X線
15 2次X線
16 検出器
17 試料ステージ
18 試料ホルダ
Claims (5)
- 蛍光X線分析装置における測定強度の経時変化を補正するための基準となるドリフト補正試料であって、
母材であるパラキシリレン系ポリマーに少なくとも1つの分析対象元素が混入され、厚さが0.1mm未満に製膜されたドリフト補正試料。 - 請求項1に記載のドリフト補正試料を用いてドリフト補正を行う蛍光X線分析方法。
- 蛍光X線分析装置における測定強度の経時変化を補正するための基準となるドリフト補正試料であって、母材であるポリイミドに少なくとも1つの分析対象元素が混入され、厚さが0.1mm未満に製膜されたドリフト補正試料を用いてドリフト補正を行う蛍光X線分析方法。
- 蛍光X線分析装置における測定強度の経時変化を補正するための基準となるドリフト補正試料の作製方法であって、
基板上に少なくとも1つの分析対象元素を混入して希釈溶媒で粘度調整したワニスをフィルム状に塗布し、
その基板を徐々に加温して前記希釈溶媒を除去し、
さらに加温して前記ワニスをイミド化しつつ前記希釈溶媒を除去した後、放冷し、
前記基板上に塗布して形成され、前記分析対象元素を含むポリイミドフィルムを基板から剥離させて、ドリフト補正試料とする作製方法。 - 蛍光X線分析装置における測定強度の経時変化を補正するための基準となるドリフト補正試料の作製方法であって、
基板上にベース用ポリイミドフィルムを貼付し、
その上に少なくとも1つの分析対象元素を混入して希釈溶媒で粘度調整したワニスをフィルム状に塗布し、
その基板を徐々に加温して前記希釈溶媒を除去し、
さらに加温して前記ワニスをイミド化しつつ前記希釈溶媒を除去した後、放冷し、
前記ベース用ポリイミドフィルム上に塗布することによって前記ベース用ポリイミドフィルムと一体形成された、前記分析対象元素を含むポリイミドフィルムを基板から剥離させて、ドリフト補正試料とする作製方法。
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