JP5488012B2 - 電圧異常検出機能を有する半導体集積回路 - Google Patents
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Description
同じ群に属する複数の直流の電圧部を有する半導体集積回路において、一つの検出回路により、前記複数の電圧部のうちの最も高い電圧あるいは最も低い電圧のものを基準に他の電圧部と比較することにより相互間の電圧の差を検出し、該電圧の差が、閾値よりも大きくまたは小さくなった場合に、電圧低下または電圧上昇の電圧異常が発生したと判定するようにしたので、小規模な回路で複数の全電圧の異常を検出できる。
以下、本発明に係る半導体集積回路の実施例(実施例1、実施例2)の構成を、図面を用いて詳細に説明する。
同図において、ブロック2は、複数の電源端子14相互間の電圧差を検出する機能を有する回路ブロック(電圧検出回路)である。
ブロック5は、複数のグランド端子15相互間の電圧差を検出する機能を有する回路ブロック(電圧検出回路)である。
ブロック8は、複数のレギュレータ18の出力が電源電圧に近い異常電圧であることを検出する機能を有する回路ブロック(電圧検出回路)である。
ブロック11は、複数のレギュレータ18の出力がグランドレベル(0V)に近い異常電圧であることを検出する機能を有する回路ブロック(電圧検出回路)である。
2:複数の電源端子相互間の電圧差を検出する機能を有する回路ブロック(電圧検出回路)
3:複数のPチャネルトランジスタ
4:Pチャネルトランジスタのオープンドレイン回路
4b:複数のコンパレータとその出力を入力するオア回路
5:複数のグランド端子相互間の電圧差を検出する機能を有する回路ブロック(電圧検出回路)
6:複数のNチャネルトランジスタ
7:Nチャネルトランジスタのオープンドレイン回路
8:複数のレギュレータの出力が電源電圧に近い異常電圧であることを検出する機能を有する回路ブロック(電圧検出回路)。
9:複数のPチャネルトランジスタ
10:Pチャネルトランジスタのオープンドレイン回路
10b:コンパレータ構成
11:複数のレギュレータの出力がグランドレベル(0V)に近い異常電圧であることを検出する機能を有する回路ブロック(電圧検出回路)。
12:Nチャネルトランジスタ
12a:Nチャネルトランジスタ
13:Nチャネルトランジスタのオープンドレイン回路
13b:コンパレータ構成
14:複数の電源端子
15:複数のグランド端子
16:複数のレギュレータ出力端子
17:外部電池(外部DC電源)
18:複数のレギュレータ
19:イネーブル信号
20〜23:検出信号
24:抵抗
25:電圧検出回路
26:電圧検出信号
Claims (23)
- 同じ群に属する複数の直流の電圧部を有する半導体集積回路において、
前記複数の電圧部のうちの最も高い電圧あるいは最も低い電圧のものを基準に他の電圧部と比較することにより相互間の電圧の差を検出し、該電圧の差が、閾値よりも大きくまたは小さくなった場合に、電圧低下または電圧上昇の電圧異常が発生したと判定する一つの検出回路を設けたことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1記載の半導体集積回路であって、
前記同じ群に属する複数の電圧部が、同じ電圧を供給される複数の電源端子であり、
前記一つの検出回路が、前記複数の電源端子の中の最も高い電圧を基準に他の電源端子の電圧と比較することにより前記複数の電源端子間の電圧の差を検出し、該電圧の差が、閾値よりも大きくなった場合に、前記電源端子のうちの一つまたは複数に電圧低下または電圧上昇の電圧異常が発生したと判定するものとされたことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項2記載の半導体集積回路において、
前記複数の電源端子の本数分のPチャネルトランジスタのソース側に前記電源端子を個別に接続し、前記Pチャネルトランジスタ全てのゲートとドレインとバックゲートを接続した信号を、前記複数の電源端子の中の最も高い電圧よりPチャネルトランジスタの閾値Vth分低い電圧の電源として前記一つの検出回路で使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項2記載の半導体集積回路において、
Pチャネルトランジスタを使用したオープンドレイン回路を、前記電源端子間の電圧検出に使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項2記載の半導体集積回路において、
コンパレータによる電源端子間の電圧比較結果を、前記電源端子間の電圧検出に使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項2記載の半導体集積回路において、
複数のグランド端子を持っている場合に、前記一つの検出回路のグランド側電圧に前記複数のグランド端子のうちの最も電圧の低いグランド端子の電圧を使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1記載の半導体集積回路であって、
前記同じ群に属する複数の電圧部が、複数のグランド端子であり、
前記一つの検出回路が、前記複数のグランド端子の中の最も低い電圧を基準に他のグランド端子の電圧と比較することにより前記複数のグランド端子間の電圧の差を検出し、該電圧の差が、閾値よりも大きくなった場合に、前記グランド端子のうちの一つまたは複数に電圧上昇の電圧異常が発生したと判定するものとされたことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項7記載の半導体集積回路において、
前記複数のグランド端子の本数分のNチャネルトランジスタのソース側に前記グランド端子を個別に接続し、前記Nチャネルトランジスタ全てのゲートとドレインとバックゲートを接続した信号を、前記複数のグランド端子のうちの最も低い電圧よりNチャネルトランジスタの閾値Vth分高い電圧のグランドとして前記一つの検出回路で使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項7記載の半導体集積回路において、
Nチャネルトランジスタを使用したオープンドレイン回路を、前記複数のグランド端子間の電圧検出に使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項7記載の半導体集積回路において、
コンパレータによる前記複数のグランド端子間の電圧比較結果を、電圧検出に使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項7記載の半導体集積回路において、
前記複数の電源端子を持っている場合に、前記一つの検出回路の電源に、前記複数の電源端子のうちの最も電圧の高い電源端子を電源として動作することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1記載の半導体集積回路であって、
前記同じ群に属する複数の電圧部が、同じ電圧の電源で動作する複数のレギュレータであり、
前記一つの検出回路が、前記複数のレギュレータの出力電圧のうち最も高い電圧のみを電源電圧と比較して、前記複数のレギュレータの出力のうちの一つまたは複数が電源電圧程度の高い異常電圧になったと判定するものとされたことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項12記載の半導体集積回路において、
前記一つの検出回路の電源に、請求項2記載の半導体集積回路で検出回路用に生成された電源を使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項12記載の半導体集積回路における一つの検出回路のグランドに、請求項7記載の半導体集積回路で検出回路用に生成されたグランドを使用することを特徴とする半導体集積回路。
- 請求項12記載の半導体集積回路において、
前記複数のレギュレータの本数分のPチャネルトランジスタのソース側に前記レギュレータ出力を個別に接続し、前記Pチャネルトランジスタ全てのゲートとドレインとバックゲートを接続した信号を前記複数のレギュレータの出力のうちの最も高い電圧よりPチャネルトランジスタの閾値Vth分低い電圧として前記一つの検出回路に入力することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項12記載の半導体集積回路において、
Pチャネルトランジスタを使用したオープンドレイン回路を、前記複数のレギュレータの出力の電圧検出に使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項12記載の半導体集積回路において、
コンパレータによる電源電圧との比較結果を、前記複数のレギュレータの電圧検出に使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1記載の半導体集積回路であって、
前記同じ群に属する複数の電圧部が、同じ電圧の電源で動作する複数のレギュレータであり、
前記一つの検出回路が、前記複数のレギュレータの出力電圧のうち最も低い電圧のみをグランド電圧と比較して、前記複数のレギュレータの出力のうちの一つまたは複数がグランド電圧程度の低い異常電圧になったと判定するものとされたことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項18記載の半導体集積回路における前記一つの検出回路の電源電圧に、請求項2記載の半導体集積回路で検出回路用に生成された電源電圧を使用することを特徴とする半導体集積回路。
- 請求項18記載の半導体集積回路における検出回路のグランド側電圧に、請求項6記載の半導体集積回路で検出回路用に生成されたグランド側電圧を使用することを特徴とする半導体集積回路。
- 請求項18記載の半導体集積回路において、
前記複数のレギュレータの数分のNチャネルトランジスタのソース側に前記複数のレギュレータの出力を個別に接続し、前記Nチャネルトランジスタ全てのゲートとドレインとバックゲートを接続した信号を前記複数のレギュレータの出力のうちの最も低い電圧よりNチャネルトランジスタの閾値Vth分高い電圧として前記一つの検出回路に入力することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項18記載の半導体集積回路において、
Nチャネルトランジスタを使用したオープンドレイン回路を、前記複数のレギュレータの出力の電圧検出に使用することを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項18記載の半導体集積回路において、
コンパレータによるグランド電圧との比較結果を、前記複数のレギュレータの電圧の検出に使用することを特徴とする半導体集積回路。
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