JP5476554B2 - 電界測定装置 - Google Patents
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Description
上記光路転向手段は、第1光路から入力した偏光の少なくとも一部を第2光路へ出力し、第2光路から入力した光の少なくとも一部を第3光路へ出力し、上記偏光面検出手段は、第3光路からの入力光の偏光方向を検出し、電気量として出力するものであり、
上記偏光面検出手段の出力によって上記電気光学結晶に印加される電界を測定する電界測定装置であって、
第2光路は、光源に近い方から順に、第1偏波保持光ファイバー、第2偏波保持光ファイバー、および第3偏波保持光ファイバーが光学的に接続された構成を含むものであり、
第2偏波保持光ファイバーは、遅軸および速軸を伝播する偏光間にπ/2ラジアンあるいはその奇数倍にπ/4ラジアンを足し引きした範囲内の位相差が生ずる長さを有し、
第2偏波保持光ファイバーと第3偏波保持光ファイバーとの光学的接続部は、光軸の周りの互いの速軸(あるいは遅軸)間の角度が、π/4ラジアンの奇数倍にπ/8ラジアンを足し引きした範囲内の角度で回転して接続されており、
第1偏波保持光ファイバーと第2偏波保持光ファイバーとの光学的接続部は、光軸の周りの互いの速軸(あるいは遅軸)間の角度が、第3偏波保持光ファイバーによって生じる偏光面の回転を補償する角度で取り付けられていることを特徴とする。
Δψ=(2π・Δn・L)/λ (ラジアン)、
の位相差が生じる。Δψの値がちょうど2πラジアンとなる長さは、ビート長と呼ばれる。また、π/2ラジアンとなるような長さLの光ファイバーは、この波長の光に対して4分の1波長板と等価な偏光特性有する。このような光ファイバー片を「4分の1波長光ファイバー」と呼ぶことにする。本発明では第2偏波面保持ファイバーがこの機能を有する。位相差4分の1波長光のファイバーは、通常の偏波保持光ファイバーを用いて製作し、互いに融着接続することが可能である。
2 偏光面検出手段
3 第1光路
4 第2光路
5 電気光学結晶
6 反射層
7 コリメーター
8 取付角可変継手
9 データ処理回路
10 把持部
11 第1偏波保持光ファイバー
12 第2偏波保持光ファイバー
13 第3偏波保持光ファイバー
15 第3光路
20 光路転向手段
21 偏光ビームスプリッター
22a、22b 光電変換器
23 ビームスプリッター
24 差動増幅器
25a、25b コリメーター
Claims (6)
- 第1偏光を出力する光源と、
光路転向手段と、
第1偏光を入力し、印加される電界によって前記第1偏光を変調して第2偏光を発生して出力する電気光学結晶と、
偏光面検出手段と、
上記光源からの第1偏光を、光路転向手段に導く第1光路と、
上記光路転向手段と電気光学結晶間で第1偏光と第2偏光を伝播する第2光路と、
上記光路転向手段からの出力を上記偏光面検出手段に導く第3光路と、
を備え、
上記光路転向手段は、第1光路から入力した偏光の少なくとも一部を第2光路へ出力し、第2光路から入力した光の少なくとも一部を第3光路へ出力し、
上記偏光面検出手段は、第3光路からの入力光の偏光方向を検出し、電気量として出力するものであり、
上記偏光面検出手段の出力によって上記電気光学結晶に印加される電界を測定する電界測定装置であって、
第2光路は、光源に近い方から順に、第1偏波保持光ファイバー、第2偏波保持光ファイバー、および第3偏波保持光ファイバーが光学的に接続された構成を含むものであり、
第2偏波保持光ファイバーは、遅軸および速軸を伝播する偏光間にπ/2ラジアンあるいはその奇数倍にπ/4ラジアンを足し引きした範囲内の位相差が生ずる長さを有し、
第2偏波保持光ファイバーと第3偏波保持光ファイバーとの光学的接続部は、光軸の周りの互いの速軸(あるいは遅軸)間の角度が、π/4ラジアンの奇数倍にπ/8ラジアンを足し引きした範囲内の角度で回転して接続されており、
第1偏波保持光ファイバーと第2偏波保持光ファイバーとの光学的接続部は、光軸の周りの互いの速軸(あるいは遅軸)間の角度が、第3偏波保持光ファイバーによって生じる偏光面の回転を補償する角度で取り付けられていることを特徴とする電界測定装置。 - 第1偏波保持光ファイバーと第2偏波保持光ファイバーとの光学的接続部は、それぞれの速軸(あるいは遅軸)が光軸の回りに互いに回転可能な機能を有する接続手段であることを特徴とする請求項1に記載の電界測定装置。
- 上記電気光学結晶に導かれた第1偏光は、上記電気光学結晶または少なくともその一部分を透過した後、反射され、再度、前記電気光学結晶または少なくともその一部分を透過したのち、第2偏光として第2光路に戻って再入射するものであることを特徴とする請求項1あるいは2に記載の電界測定装置。
- 上記偏光面検出手段は、第2偏光の偏光状態の変化を光強度の変化に変換する検波光学系と、
前記検波光学系の光出力を電気信号として出力する光電変換器と、を具備することを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載の電界測定装置。 - 上記光学結晶に上記第3偏波保持光ファイバーの端部が光学的に接続されていることを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載の電界測定装置。
- 上記光学結晶に上記第3偏波保持光ファイバーの端部がコリメータを介して接続されていることを特徴とする請求項1から5のいずれか1つに記載の電界測定装置。
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