JP5423439B2 - 放電イオン化電流検出器 - Google Patents
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Description
一般に放電イオン化電流検出器では、プラズマガスと試料ガスとが混合され、その混合ガス中で試料のイオン化が行われる。このとき、プラズマの安定性やイオン化効率という観点では、プラズマガスの流量は大きいほうがよい。その理由の1つは、プラズマガスの流量が大きいと、プラズマにより加熱される電極からの熱放散がそれだけ大きく、電極の過熱を防止してその損傷を抑えることができるからである。また、電極や管路内壁から放出される様々な不純物が迅速に運び去られるため、その影響を軽減する効果も得られる。一方で、試料ガスはプラズマガスによって希釈されてしまうから、試料成分の検出感度を高めるにはプラズマガスの流量は少ないほうがよい。このため、装置の汎用性を持たせるためには、プラズマの安定性と検出感度との適当な妥協の下でプラズマガス流量を決めることになり、例えばごく微量な成分の検出といった用途には対応することができない。
a)前記第1ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、該第1ガス流路の一端側に設けられたプラズマガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられたプラズマガス排出口と、
b)前記第2ガス流路中に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
c)前記試料ガス導入手段により導入された試料ガスを希釈して前記第2ガス流路中に流通させるために、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで、該第2ガス流路の一端側に設けられた希釈ガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられた希釈ガス排出口と、
d)前記プラズマガス供給口及び前記希釈ガス供給口に、又は、前記プラズマガス排出口及び前記希釈ガス排出口に、それぞれ設けられ、前記プラズマ生成領域を通過するガスの流量と前記電流検出領域を通過するガスの流量とを独立に調整可能であるガス流量調整手段と、
を備えることを特徴としている。
a)前記第1ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、該第1ガス流路の一端側に設けられたプラズマガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられたプラズマガス排出口と、
b)前記第2ガス流路中に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
c)前記試料ガス導入手段により導入された試料ガスを希釈して前記第2ガス流路中に流通させるために、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで、該第2ガス流路の一端側に設けられた希釈ガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられた希釈ガス排出口と、
d)前記プラズマガス排出口及び前記希釈ガス排出口にそれぞれ設けられたガス流量調整手段と、
を備え、前記プラズマガス供給口及び前記希釈ガス供給口は前記第1ガス流路と前記第2ガス流路の接続部に共通に設けられている構成とする。
a)前記第1ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、該第1ガス流路の一端側に設けられたプラズマガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられたプラズマガス排出口と、
b)前記第2ガス流路中に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
c)前記試料ガス導入手段により導入された試料ガスを希釈して前記第2ガス流路中に流通させるために、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで、該第2ガス流路の一端側に設けられた希釈ガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられた希釈ガス排出口と、
d)前記プラズマガス排出口及び前記希釈ガス排出口にそれぞれ設けられたガス流量調整手段と、
を備え、前記プラズマガス排出口及び前記希釈ガス排出口は前記第1ガス流路と前記第2ガス流路の接続部に共通に設けられている構成とする。
a)前記第1ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、該第1ガス流路の一端側に設けられたプラズマガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられたプラズマガス排出口と、
b)前記第2ガス流路中に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
c)前記試料ガス導入手段により導入された試料ガスを希釈して前記第2ガス流路中に流通させるために、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで、該第2ガス流路の一端側に設けられた希釈ガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられた希釈ガス排出口と、
d)前記プラズマガス供給口及び前記希釈ガス供給口に、又は、前記プラズマガス排出口及び前記希釈ガス排出口に、それぞれ設けられたガス流量調整手段と、
を備え、前記第1ガス流路と前記第2ガス流路の接続部に、前記プラズマガス供給口且つ前記希釈ガス供給口、又は前記プラズマガス排出口且つ前記希釈ガス排出口としての共通のガス供給口/排出口が設けられ、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで第1ガス流路の他端に、前記プラズマガス排出口又は前記プラズマガス供給口としてのプラズマガス排出口/供給口が設けられ、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで第2ガス流路の他端に、前記希釈ガス排出口又は前記希釈ガス供給口としての希釈ガス排出口/供給口が設けられ、さらに、前記ガス供給口/排出口、前記プラズマガス排出口/供給口、及び前記希釈ガス排出口/供給口にはそれぞれガスの流通方向を切り替える切替手段が設けられ、前記ガス流量調整手段は、前記プラズマガス排出口/供給口とそれに設けられた前記切替手段との間、及び、前記希釈ガス排出口/供給口とそれに設けられた前記切替手段との間、にそれぞれ設けられ、且つ、前記切替手段によるガス流通方向の切替えに伴って前記試料ガス導入手段による第2ガス流路中への試料ガスの導入位置を移動させる導入位置切替手段を備える構成とする。
a)前記ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、前記電流検出手段による電流検出領域と反対側に設けられたプラズマガス供給口と、
b)前記プラズマ生成領域と前記電流検出領域との間で前記ガス流路中からプラズマガスの一部を排出するガス分岐排出口と、
c)前記ガス流路中で前記分岐排出口と前記電流検出領域との間に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
d)前記電流検出領域よりも下流側の前記ガス流路に設けられたガス排出口と、
e)前記ガス分岐排出口及び前記ガス排出口にそれぞれ設けられ、前記プラズマ生成領域を通過するガスの流量と前記電流検出領域を通過するガスの流量とを独立に調整可能であるガス流量調整手段と、
を備えることを特徴としている。
(2)フィールド分析のようにガス消費量をできるだけ抑えたい場合においては、プラズマ生成に支障がない程度にプラズマ生成領域に流れるガス流量を小さくしつつ、高濃度の試料に対して電流検出領域に流れるガス流量を大きくし希釈率を上げ、直線性の高い検出範囲で検出を行うようにすることができる。
(3)測定目的や測定環境、或いは測定対象の試料の種類や濃度などに応じて、1台の検出器で適切な測定が可能となり、汎用性を持たせながら専用の検出器と同様の精度・感度の測定が行える。
本発明の一実施例(第1実施例)による放電イオン化電流検出器について図1を参照して説明する。図1は第1実施例による放電イオン化電流検出器の概略構成図である。
図1中に右向き矢印で示すように、ガス供給管7を通してガス流路3、11中に希釈ガスを兼ねるプラズマガスが供給される。プラズマガスは電離され易いガスであり、例えばヘリウム、アルゴン、窒素、ネオン、キセノンなどのうちの1種又はそれらを2種以上混合したガスを用いることができる。第1流量調節器9及び第2流量調節器14の流量は、予めそれぞれ適宜の値に設定される。いま、第1流量調節器9により調節される第1ガス排出管8を通したガス流量がL1、第2流量調節器14により調節される第2ガス排出管13を通したガス流量がL2であるとすると、ガス供給管7を通して供給されるガス流量はL1+L2である。
図2は第2実施例による放電イオン化電流検出器1Bの概略構成図である。第1実施例と同一の構成要素には同一符号を付して詳しい説明を省略する。また、第1実施例における、ガス供給管7、第1ガス排出管8、第1流量調節器9、第2ガス排出管13、及び、第2流量調節器14に相当する構成要素は構成自体は同一であるものの機能が相違するため、別の名称及び符号を付している。即ち、この第2実施例の放電イオン化電流検出器では、円筒管2の上端に接続されたプラズマガス供給管28を通して第1ガス流路3にプラズマガスが供給され、イオン収集電極17よりも下方に接続された希釈ガス供給管23を通して第2ガス流路11に希釈ガスが供給される。プラズマガス供給管28にはプラズマガスの供給流量を調節する第1流量制御器29が、希釈ガス供給管23には希釈ガスの供給流量を調節する第2流量制御器24が設けられている。第1ガス流路3と第2ガス流路11との接続部付近にはプラズマガスと希釈ガスとを共に排出する共通のガス排出管27が接続されている。それ以外に、第2ガス流路11中に挿入された試料導入管18の出口がイオン収集電極17よりも下方に位置している点も第1実施例の構成と相違する。
上述したように第1実施例と第2実施例の基本的な構成は殆ど同じであるが、特に適切な試料濃度という点で両実施例には差がある。即ち、上述したように第1実施例は低濃度試料に対する高感度検出には適するものの高濃度試料の検出には難がある。これに対し、第2実施例は高濃度試料の検出には適するものの、或る程度以上の希釈ガスを流さないと第2ガス流路11中を円滑にガスが流れないことから、感度の点では第1実施例に劣る。そこで、幅広い試料濃度範囲に対応するためには、第1実施例の構成と第2実施例の構成とを適宜切り替え可能とした第3実施例の構成とするとよい。
円筒管2の上端に一端が接続された第1ガス供給/排出管38には流路切替部40によりガス供給路又は排出路が択一的に接続され、円筒管2との接続部と流路切替部40との間には第1流量調節器39が設けられている。第2ガス流路11のイオン収集電極17の下方に一端が接続された第2ガス供給/排出管33には流路切替部42によりガス供給路又は排出路が択一的に接続され、第2ガス流路11との接続部と流路切替部42との間には第2流量調節器34が設けられている。さらに、第1ガス流路3と第2ガス流路11との接続部付近には第3ガス供給/排出管37が接続され、ガス供給/排出管37には流路切替部41によりガス供給路又は排出路が択一的に接続される。流路切替部40、41、42は制御部43により同期的に切り替えられる。また、試料導入管18は試料導入管駆動部44により第2ガス流路11中に進退自在に設けられており、図3中に実線で記載した位置と点線で記載した位置との間で移動可能である。
次に、本発明の他の実施例(第4実施例)による放電イオン化電流検出器1Dについて図4を参照して説明する。
この第4実施例は、構成上は、第1実施例の放電イオン化電流検出器1Aにおいて、ガス供給管7と第1ガス排出管8との接続位置を入れ替えたものである。これにより、希釈ガスを兼ねるプラズマガスは第1ガス流路3中を下向きに流れる。第1流量調節器9により調節される第1ガス排出管8を通したガス流量がL1、第2流量調節器14により調節される第2ガス排出管13を通したガス流量がL2であるとすると、第1ガス流路3中のプラズマ生成領域を流れるガス流量はL1+L2となる。つまり、この場合には、プラズマ生成領域を流れるガス流は第1実施例の場合よりも希釈ガスの分だけ多くなる。
2…円筒管
3…第1ガス流路
4、5、6…プラズマ生成用電極
7…ガス供給管
8…第1ガス排出管
9…第1流量調節器
10…励起用高圧電源
11…第2ガス流路
12…反跳電極
13…第2ガス排出管
14…第2流量調節器
15…絶縁体
16…バイアス電極
17…イオン収集電極
18…試料導入管
20…イオン電流検出部
21…バイアス直流電源
22…電流アンプ
23…希釈ガス供給管
24…第2流量制御器
27…ガス排出管
28…プラズマガス供給管
29…第1流量制御器
33…第2ガス供給/排出管
34…第2流量調節器
37…第3ガス供給/排出管
38…第1ガス供給/排出管
39…第1流量調節器
40、41、42…流路切替部
43…制御部
44…試料導入管駆動部
Claims (6)
- プラズマガスが流通する第1ガス流路中に低周波交流電場による誘電体バリア放電を発生させ、該放電によりプラズマガスからプラズマを生成させるプラズマ生成手段と、前記第1ガス流路に連続する第2ガス流路中にあって前記プラズマの作用によってイオン化された試料ガス中の試料成分によるイオン電流を検出する電流検出手段と、を具備する放電イオン化電流検出器において、
a)前記第1ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、該第1ガス流路の一端側に設けられたプラズマガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられたプラズマガス排出口と、
b)前記第2ガス流路中に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
c)前記試料ガス導入手段により導入された試料ガスを希釈して前記第2ガス流路中に流通させるために、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで、該第2ガス流路の一端側に設けられた希釈ガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられた希釈ガス排出口と、
d)前記プラズマガス供給口及び前記希釈ガス供給口に、又は、前記プラズマガス排出口及び前記希釈ガス排出口に、それぞれ設けられ、前記プラズマ生成領域を通過するガスの流量と前記電流検出領域を通過するガスの流量とを独立に調整可能であるガス流量調整手段と、
を備えることを特徴とする放電イオン化電流検出器。 - プラズマガスが流通する第1ガス流路中に低周波交流電場による誘電体バリア放電を発生させ、該放電によりプラズマガスからプラズマを生成させるプラズマ生成手段と、前記第1ガス流路に連続する第2ガス流路中にあって前記プラズマの作用によってイオン化された試料ガス中の試料成分によるイオン電流を検出する電流検出手段と、を具備する放電イオン化電流検出器において、
a)前記第1ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、該第1ガス流路の一端側に設けられたプラズマガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられたプラズマガス排出口と、
b)前記第2ガス流路中に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
c)前記試料ガス導入手段により導入された試料ガスを希釈して前記第2ガス流路中に流通させるために、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで、該第2ガス流路の一端側に設けられた希釈ガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられた希釈ガス排出口と、
d)前記プラズマガス排出口及び前記希釈ガス排出口にそれぞれ設けられたガス流量調整手段と、
を備え、前記プラズマガス供給口及び前記希釈ガス供給口は前記第1ガス流路と前記第2ガス流路との接続部に共通に設けられていることを特徴とする放電イオン化電流検出器。 - プラズマガスが流通する第1ガス流路中に低周波交流電場による誘電体バリア放電を発生させ、該放電によりプラズマガスからプラズマを生成させるプラズマ生成手段と、前記第1ガス流路に連続する第2ガス流路中にあって前記プラズマの作用によってイオン化された試料ガス中の試料成分によるイオン電流を検出する電流検出手段と、を具備する放電イオン化電流検出器において、
a)前記第1ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、該第1ガス流路の一端側に設けられたプラズマガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられたプラズマガス排出口と、
b)前記第2ガス流路中に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
c)前記試料ガス導入手段により導入された試料ガスを希釈して前記第2ガス流路中に流通させるために、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで、該第2ガス流路の一端側に設けられた希釈ガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられた希釈ガス排出口と、
d)前記プラズマガス供給口及び前記希釈ガス供給口にそれぞれ設けられたガス流量調整手段と、
を備え、前記プラズマガス排出口及び前記希釈ガス排出口は前記第1ガス流路と前記第2ガス流路との接続部に共通に設けられていることを特徴とする放電イオン化電流検出器。 - プラズマガスが流通する第1ガス流路中に低周波交流電場による誘電体バリア放電を発生させ、該放電によりプラズマガスからプラズマを生成させるプラズマ生成手段と、前記第1ガス流路に連続する第2ガス流路中にあって前記プラズマの作用によってイオン化された試料ガス中の試料成分によるイオン電流を検出する電流検出手段と、を具備する放電イオン化電流検出器において、
a)前記第1ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、該第1ガス流路の一端側に設けられたプラズマガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられたプラズマガス排出口と、
b)前記第2ガス流路中に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
c)前記試料ガス導入手段により導入された試料ガスを希釈して前記第2ガス流路中に流通させるために、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで、該第2ガス流路の一端側に設けられた希釈ガス供給口、及び、該流路の他端側に設けられた希釈ガス排出口と、
d)前記プラズマガス供給口及び前記希釈ガス供給口に、又は、前記プラズマガス排出口及び前記希釈ガス排出口に、それぞれ設けられたガス流量調整手段と、
を備え、
前記第1ガス流路と前記第2ガス流路の接続部に、前記プラズマガス供給口且つ前記希釈ガス供給口、又は前記プラズマガス排出口且つ前記希釈ガス排出口としての共通のガス供給口/排出口が設けられ、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで第1ガス流路の他端に、前記プラズマガス排出口又は前記プラズマガス供給口としてのプラズマガス排出口/供給口が設けられ、前記電流検出手段による電流検出領域を挟んで第2ガス流路の他端に、前記希釈ガス排出口又は前記希釈ガス供給口としての希釈ガス排出口/供給口が設けられ、さらに、前記ガス供給口/排出口、前記プラズマガス排出口/供給口、及び前記希釈ガス排出口/供給口にはそれぞれガスの流通方向を切り替える切替手段が設けられ、前記ガス流量調整手段は、前記プラズマガス排出口/供給口とそれに設けられた前記切替手段との間、及び、前記希釈ガス排出口/供給口とそれに設けられた前記切替手段との間、にそれぞれ設けられ、且つ、前記切替手段によるガス流通方向の切替えに伴って前記試料ガス導入手段による第2ガス流路中への試料ガスの導入位置を移動させる導入位置切替手段を備えることを特徴とする放電イオン化電流検出器。 - 請求項4に記載の放電イオン化電流検出器であって、
測定対象の試料の濃度範囲に応じて、前記切替手段によるガス流通方向の切替え、及び導入位置切替手段による試料ガスの導入位置の移動を行う制御手段をさらに備えることを特徴とする放電イオン化電流検出器。 - プラズマガスが流通するガス流路中に低周波交流電場による誘電体バリア放電を発生させ、該放電によりプラズマガスからプラズマを生成させるプラズマ生成手段と、その下流側の前記ガス流路中にあって前記プラズマの作用によってイオン化された試料ガス中の試料成分によるイオン電流を検出する電流検出手段と、を具備する放電イオン化電流検出器において、
a)前記ガス流路中にプラズマガスを流通させるために、前記プラズマ生成手段によるプラズマ生成領域を挟んで、前記電流検出手段による電流検出領域と反対側に設けられたプラズマガス供給口と、
b)前記プラズマ生成領域と前記電流検出領域との間で前記ガス流路中からプラズマガスの一部を排出するガス分岐排出口と、
c)前記ガス流路中で前記分岐排出口と前記電流検出領域との間に試料ガスを供給する試料ガス導入手段と、
d)前記電流検出領域よりも下流側の前記ガス流路に設けられたガス排出口と、
e)前記ガス分岐排出口及び前記ガス排出口にそれぞれ設けられ、前記プラズマ生成領域を通過するガスの流量と前記電流検出領域を通過するガスの流量とを独立に調整可能であるガス流量調整手段と、
を備えることを特徴とする放電イオン化電流検出器。
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US7803880B2 (en) * | 2003-09-19 | 2010-09-28 | Nippon Shokubai Co., Ltd. | Water absorbent and producing method of same |
CN103403536B (zh) * | 2011-06-07 | 2016-03-09 | 株式会社岛津制作所 | 放电电离电流检测器 |
US8928329B2 (en) * | 2011-07-26 | 2015-01-06 | Mks Instruments, Inc. | Cold cathode gauge fast response signal circuit |
CN102938360B (zh) * | 2011-08-15 | 2015-12-16 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种大面积原位检测***物的质谱电离源及其应用 |
JP5704065B2 (ja) | 2011-12-16 | 2015-04-22 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化電流検出器 |
JP5910161B2 (ja) * | 2012-02-28 | 2016-04-27 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化電流検出器と試料ガス検出方法 |
WO2013136482A1 (ja) * | 2012-03-15 | 2013-09-19 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化電流検出器及びそのエージング処理方法 |
JP5871057B2 (ja) * | 2012-03-21 | 2016-03-01 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化電流検出器を備えた分析装置 |
US8963554B2 (en) * | 2012-08-23 | 2015-02-24 | Valco Instruments Company, L.P. | Pulsed discharge helium ionization detector with multiple combined bias/collecting electrodes for gas chromatography and method of use |
JP5853914B2 (ja) * | 2012-09-13 | 2016-02-09 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化電流検出器およびガスクロマトグラフ |
WO2014125630A1 (ja) | 2013-02-15 | 2014-08-21 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化電流検出器 |
WO2014125610A1 (ja) | 2013-02-15 | 2014-08-21 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化電流検出器及びその調整方法 |
JP6255244B2 (ja) * | 2014-01-08 | 2017-12-27 | 日本特殊陶業株式会社 | 微粒子センサ |
WO2015107688A1 (ja) * | 2014-01-20 | 2015-07-23 | 株式会社島津製作所 | ガス状試料の分析装置 |
JP6303610B2 (ja) * | 2014-03-04 | 2018-04-04 | 株式会社島津製作所 | 誘電体バリア放電イオン化検出器及びその調整方法 |
US9533909B2 (en) | 2014-03-31 | 2017-01-03 | Corning Incorporated | Methods and apparatus for material processing using atmospheric thermal plasma reactor |
US20160200618A1 (en) | 2015-01-08 | 2016-07-14 | Corning Incorporated | Method and apparatus for adding thermal energy to a glass melt |
JP6350391B2 (ja) * | 2015-05-22 | 2018-07-04 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化検出器 |
JP6711299B2 (ja) * | 2017-02-22 | 2020-06-17 | 株式会社島津製作所 | ガスクロマトグラフ |
CN109084856B (zh) * | 2018-07-19 | 2021-06-04 | 中国神华能源股份有限公司 | 开式循环水***的流量测定方法 |
JP7408097B2 (ja) * | 2020-09-29 | 2024-01-05 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化検出器およびガスクロマトグラフ分析装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54130086A (en) | 1978-03-31 | 1979-10-09 | Hitachi Ltd | Gas detector |
US4311669A (en) * | 1980-08-21 | 1982-01-19 | The Bendix Corporation | Membrane interface for ion mobility detector cells |
US5394090A (en) * | 1991-02-28 | 1995-02-28 | Wentworth; Wayne E. | Improved system for detecting compounds in a gaseous sample using induced photoionizations and electron capture detection |
US5394092A (en) | 1991-02-28 | 1995-02-28 | Valco Instruments Co., Inc. | System for identifying and quantifying selected constituents of gas samples using selective photoionization |
EP0745846B1 (en) * | 1994-01-03 | 2003-04-02 | Valco Instruments Company, Inc. | Improved pulsed discharge systems |
US5889404A (en) * | 1997-08-29 | 1999-03-30 | Hewlett-Packard Company | Discharge ionization detector having efficient transfer of metastables for ionization of sample molecules |
US5892364A (en) * | 1997-09-11 | 1999-04-06 | Monagle; Matthew | Trace constituent detection in inert gases |
US6842008B2 (en) * | 2003-03-11 | 2005-01-11 | Stanley D. Stearns | Gas detector with modular detection and discharge source calibration |
JP4515135B2 (ja) * | 2004-04-09 | 2010-07-28 | 株式会社日本エイピーアイ | ガス分析方法、ガス分析装置及びこれを用いた検査装置 |
JP4156602B2 (ja) * | 2005-02-18 | 2008-09-24 | 株式会社日立ハイテクサイエンスシステムズ | 非放射線型電子捕獲検出器 |
JP4936492B2 (ja) * | 2008-03-25 | 2012-05-23 | 国立大学法人大阪大学 | 放電イオン化電流検出器 |
-
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