JP5374639B2 - プリンテッドエレクトロニクスの非接触試験 - Google Patents
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Description
(A)基板上に、(i)エレクトロニニックコンポーネント、及び(ii)試験回路11をプリントするステップであって、この試験回路11は、
(a)試験回路11に電気エネルギーを供給するための第1の領域13、
(b)検出可能な、エレクトロニックコンポーネントの少なくとも1つの電気特性を示している、光信号を発生するための第2の領域15、及び
(c)第1の領域13と第2の領域を接続する回路、
を備えるものであるステップ、
(B)第1の領域13に電気エネルギーを供給するステップ,
(C)第2の領域15の検出可能な光信号を検出するステップ、
を含む非接触方法が開示される。
(a)基板3上に、(i)エレクトロニックコンポーネント、及び(ii)試験回路11をプリントするためのデバイス、及び
(b)基板3の領域15からの、エレクトロニックコンポーネントの少なくとも1つの電気特性を示している、光を検出するための光検出器25、
を備える装置が開示される。
(ii)試験回路11を有する基板3において、試験回路11が、
(a)試験回路11に電気エネルギーを供給するための第1の領域13、
(b)エレクトロニックコンポーネントの少なくとも1つの電気特性を示している、検出可能な光信号を発生するための第2の領域15、及び
(c)第1の領域13と第2の領域15を接続している回路、
を有する基板3が開示される。
(1)試験回路が作動していることを保証するための較正試験、
(2)電極が開回路になっていないかまたは短絡していないことを保証するための導通試験、
(3)電極の実効導電能力を測定するための配線抵抗試験、及び/または
(4)回路内の誘電体の有効性を測定するための静電容量試験、
を含むが、これらには限定されない、様々な試験を実施することができる。
(i)一列のセンサ、及び
(ii)ウエブの表面の像をセンサ列上に結ぶ一列の小さな分布屈折率レンズ(GIL)、
からなることができる。接触型センサはウエブの表面を照らすための光源、例えばLED列を収めることもできる。寸法に関し、接触型センサは1インチ×1インチ(25mm×25mm)より小さい断面を有することができ、ウエブの表面からほぼ0.05インチ(1.25mm)に配置することができる。市販のデバイスは4インチ〜10インチ(10cm〜25cm)のスキャン幅を有し、特注デバイスは20インチ(50cm)までをカバーできる。市販接触型センサは200ピクセル/インチ〜2400ピクセル/インチ(8ピクセル/mm〜96ピクセル/mm)の間の解像度を有する。
(i)形状寸法上のプリントきずを検出するための画像解析、及び
(ii)電気的欠陥を検出するための試験回路解析、
を実施するための統合システムのブロック図を示す。エンコーダ501,エンコーダインターフェース502及びコンピュータ503を用いて、システムは初めにウエブ速度及びプリント回路位置を決定する。この情報と、センサコントローラ505及び照明コントローラ506を用いて、輸送ロール509上のウエブ508の定常照射を維持するように接触型センサによって照明が与えられるように、接触型センサのスキャン速度が制御される。このようにしてつくられるウエブの像はコンピュータ503によって処理され、解釈されて、結果が格納媒体504に格納される。
5 輸送ロール
7 位置合せマーク
9 位置合せグリッド線
11 試験回路
13 (試験回路の)第1の領域
15 (試験回路の)第2の領域
19,21 位置合せセンサ
23 外部エネルギー源
25 外部センサ
27 コンピュータ/信号プロセッサ
29,31,33,35 リード
Claims (10)
- 基板上にプリントされたエレクトロニックコンポーネントを試験するための非接触方法において、
(A)基板上に(i)エレクトロニックコンポーネント、及び(ii)試験回路をプリントする工程であって、前記試験回路は、
(a)前記試験回路を動作させる電気エネルギーを発生するための第1の領域、
(b)検出可能な、前記エレクトロニックコンポーネントの少なくとも1つの電気特性を示している、光信号を発生するための第2の領域、及び
(c)前記第1の領域と前記第2の領域を接続する回路、
を有するものである工程、
(B)前記第1の領域において電気エネルギーを発生する工程、及び
(C)前記第2の領域の検出可能な光信号を検出する工程、
を含むことを特徴とする非接触方法。 - 前記基板がウエブ形態であり、前記工程(A)のプリントする工程が少なくとも1つのエレクトロニックインクを該ウエブに転写する工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の非接触方法。
- 前記工程(B)が前記第1の領域において前記電気エネルギーに変換される光エネルギーで前記第1の領域を照射する工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の非接触方法。
- 前記工程(B)が前記第1の領域に貯蔵された化学エネルギーを前記電気エネルギーに変換する工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の非接触方法。
- 前記工程(C)が前記第2の領域において光エネルギーを放射する工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の非接触方法。
- 前記工程(C)が前記第2の領域における光吸収特性の変化を含むことを特徴とする請求項1に記載の非接触方法。
- エレクトニックコンポーネントをプリントするための装置において、
(a)基板上に、(i)エレクトロニックコンポーネント、及び(ii)試験回路を動作させるための電気エネルギーを発生する試験回路をプリントするための装置、及び
(b)前記基板の一領域からの、前記エレクトロニックコンポーネントの少なくとも1つの電気特性を示している、光を検出するための光検出器、
を備えることを特徴とする装置。 - 前記光検出器が、前記基板領域からの前記光を検出し、該基板領域からの光が、前記試験回路の一部であり前記試験回路を動作させる電気エネルギーを発生する前記基板上のエネルギー源から前記試験回路によって発生される、ことを特徴とする請求項7に記載の装置。
- (a)前記装置が前記基板の前記領域を照射する光源をさらに備える、及び
(b)前記光検出器が、前記領域から反射されたか、または前記領域を透過した、前記光源からの光を検出する、
ことを特徴とする請求項7に記載の装置。 - 前記装置が、前記試験回路を動作させる前記電気エネルギーを発生するための光で前記基板の一部を照射する光源をさらに備えることを特徴とする請求項9に記載の装置。
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