JP5365035B2 - Power converter - Google Patents

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Description

本発明は、絶縁ゲート型半導体素子と、前記絶縁ゲート型半導体素子と逆並列に接続されたフリーホイーリングダイオードとからなるスイッチング手段から主回路が形成される電力変換装置に関する。   The present invention relates to a power conversion device in which a main circuit is formed from switching means including an insulated gate semiconductor element and a freewheeling diode connected in antiparallel with the insulated gate semiconductor element.

近年、EMC(電磁的適合性または電磁両立性)規制が厳しくなる中、様々な電気電子機器において放射ノイズの低減が技術課題となっている。特に、これら機器における主部品である半導体素子がON/OFFすることによって発生するノイズの低減について、対策が必要とされている。この半導体素子におけるノイズは、スイッチングのタイミングに応じて発生している。そのため、半導体素子のターンオン及びターンオフのそれぞれのタイミングにおける様々な対策が講じられている。   In recent years, while EMC (electromagnetic compatibility or electromagnetic compatibility) regulations have become stricter, reduction of radiation noise has become a technical issue in various electric and electronic devices. In particular, countermeasures are required for reducing noise generated by turning on and off the semiconductor elements as main components in these devices. Noise in the semiconductor element is generated according to the switching timing. Therefore, various countermeasures are taken at each timing of turn-on and turn-off of the semiconductor element.

例えば、一般的な方法として、半導体素子のゲートとこの半導体素子のゲート駆動回路との間に抵抗(以後、ゲート抵抗ともいう。)を挿入する対策が行われている。これは、ゲート電流を供給する経路に抵抗を挿入することによって、ゲートへの電荷の充電スピードをコントロールし、その結果、スイッチングスピードをコントロールするものである。
一般に、半導体素子のターンオンとターンオフとは、電荷の注入と引き抜きとによって施されるため、それぞれの動作モードにおける経路を分離しておけば、ターンオン時とターンオフ時とでゲート抵抗を別々に設定することができる。そのため、ゲート抵抗を挿入することによって、例えば、ターンオン時はゲート電流を緩やかに変化させ、ターンオフ時はゲート電流を速やかに変化させる等といった、個別対策を容易に行うことができる。
For example, as a general method, a measure is taken to insert a resistor (hereinafter also referred to as a gate resistor) between the gate of the semiconductor element and the gate drive circuit of the semiconductor element. This is to control the charging speed of the charge to the gate by inserting a resistor in the path for supplying the gate current, and as a result, to control the switching speed.
In general, turn-on and turn-off of a semiconductor element are performed by charge injection and extraction. Therefore, if the paths in each operation mode are separated, gate resistances are set separately at turn-on and turn-off. be able to. For this reason, by inserting a gate resistor, for example, individual measures such as changing the gate current gently at turn-on and changing the gate current quickly at turn-off can be easily taken.

また、ゲート駆動回路での対策方法として、この他に、例えば、スイッチング損失とスイッチングノイズとのトレードオフ改善の一環として、ゲート抵抗に並列に容量Cを挿入する方法なども提案されている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。
一方、半導体素子のターンオン及びターンオフ時のノイズ低減対策として、モジュール内、特に半導体素子に対しての対策も講じられている。例えば、半導体素子としてのIGBT(絶縁ゲート型バイポーラ・トランジスタ)に、逆並列に接続されるフリーホイーリングダイオードにおいて、Middle Broad Buffer層を設けることによって、ターンオン時におけるソフトリカバリ特性と逆回復損失低減とを両立する方法が提案されている(例えば、非特許文献1参照)。
In addition to this, as a countermeasure method in the gate drive circuit, for example, a method of inserting a capacitor C in parallel with the gate resistance as part of improving the trade-off between switching loss and switching noise has been proposed (for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).
On the other hand, as a noise reduction measure at the time of turning on and turning off the semiconductor element, a measure is taken in the module, particularly the semiconductor element. For example, by providing a Middle Broad Buffer layer in a freewheeling diode connected in antiparallel to an IGBT (insulated gate bipolar transistor) as a semiconductor element, soft recovery characteristics and reverse recovery loss reduction at turn-on can be achieved. Have been proposed (for example, see Non-Patent Document 1).

さらに、ノイズ抑制のための、半導体素子自体の特性向上以外にも、その周辺や搭載回路への対策も行われている。例えば、TO−3P型のダイオードの脚にスパークキラーの商品名((株)東芝製)で市販されているアモルファスコアを挿入することによって、インダクタンスを追加することでノイズを低減する方法も提案されている(例えば、特許文献3参照)。
また、フリーホイーリングダイオードが逆並列に接続された半導体素子を直列に接続してなる電力変換装置において、半導体素子とスナバ回路との間等に、インダクタンスを追加することでノイズを低減する方法も提案されている(例えば、特許文献4参照)。
Further, in addition to improving the characteristics of the semiconductor element itself for noise suppression, measures have been taken for its periphery and mounted circuits. For example, a method of reducing noise by adding an inductance by inserting an amorphous core marketed under the trade name of Spark Killer (manufactured by Toshiba Corporation) into the leg of a TO-3P type diode has also been proposed. (For example, refer to Patent Document 3).
There is also a method for reducing noise by adding inductance between a semiconductor element and a snubber circuit in a power conversion device in which semiconductor elements having freewheeling diodes connected in antiparallel are connected in series. It has been proposed (see, for example, Patent Document 4).

特許第3666843号明細書Japanese Patent No. 3666843 特許第3767450号明細書Japanese Patent No. 3767450 特許第2851268号明細書Japanese Patent No. 2851268 特許第3577893号明細書Japanese Patent No. 3577893 パワーデバイス・パワーIC技術調査専門委員会、大変革を遂げているパワーデバイス開発、社団法人電気学会、2007年3月30日、技術報告1082号Technical Committee on Power Device / Power IC Technology Research, Power Device Development Has Changed Greatly, The Institute of Electrical Engineers of Japan, March 30, 2007, Technical Report No. 1082

上述の、ゲート抵抗による対策は広く用いられている方法である。また、特許文献1及び特許文献2に記載されているように、ゲート駆動回路において対策を施すようにした方法は、例えば、IPM(Intelligent Power Module)等のように、駆動回路が搭載された一体型モジュールでは有効な手段の一つと考えることができる。しかしながら、これらの対策はいずれも外付けの駆動回路に頼るものであり、モジュールとしての特性改善が必要である。そのため、非特許文献1に記載されているように、チップにまつわる特性向上が図られている。   The above-described countermeasure using gate resistance is a widely used method. In addition, as described in Patent Document 1 and Patent Document 2, a method in which measures are taken in a gate drive circuit is a method in which a drive circuit is mounted, such as an IPM (Intelligent Power Module). It can be considered as one of the effective means in the body module. However, all of these countermeasures depend on an external drive circuit, and it is necessary to improve the characteristics as a module. For this reason, as described in Non-Patent Document 1, improvement of characteristics related to the chip is achieved.

この非特許文献1に示すようなチップへの対策は、根本的な対策として有用な手段ではあるが、半導体メーカ毎にチップの特徴は異なるため、これを用途に合わせて最適なドライブ条件で使いこなすためには、アプリケーション技術やパッケージとしての技術が重要となってくる。
これに対し、ダイオードの脚にアモルファスコアを挿入する方法(特許文献3)や、インダクタンスをパワーモジュールの主回路各部に挿入する方法(特許文献4)は、半導体素子周辺に外部インピーダンスを追加することによって、スイッチング時に発生するノイズを抑制するものであり、簡便で有用な手段である。
The countermeasure against the chip as shown in Non-Patent Document 1 is a useful means as a fundamental countermeasure, but since the characteristics of the chip differ from semiconductor manufacturer to semiconductor manufacturer, this should be used under the optimum drive conditions according to the application. Therefore, application technology and package technology are important.
On the other hand, the method of inserting an amorphous core into the legs of the diode (Patent Document 3) and the method of inserting inductance into each part of the main circuit of the power module (Patent Document 4) add an external impedance around the semiconductor element. This is a simple and useful means for suppressing noise generated during switching.

しかしながら、アモルファスコアを挿入する方法にあっては、周波数によってはノイズを抑制することができない可能性がある。またアモルファスコアを挿入する方法、また、インダクタンスを挿入する方法の何れの場合も、インダクタンスを積極的に活用したものである。
ここで、例えばIGBT等のように、大電流でスイッチングする素子においては、サージ電圧Vsは、次式(1)に示すように、電流とインダクタンスとで決まる。
Vs=L・dI/dt ……(1)
However, in the method of inserting an amorphous core, there is a possibility that noise cannot be suppressed depending on the frequency. In addition, the inductance is positively utilized in both the method of inserting the amorphous core and the method of inserting the inductance.
Here, in an element that switches with a large current, such as an IGBT, for example, the surge voltage Vs is determined by the current and the inductance as shown in the following equation (1).
Vs = L · dI / dt (1)

なお、(1)式において、Vsはサージ電圧〔V〕、Lはスイッチング電流が流れる主回路のインダクタンス〔H〕、dI/dtは電流変化率〔A/s〕である。
このため、インダクタンス成分の追加は、サージ耐量を確保するという点では不都合である。すなわち、安定したスイッチング動作を確保するためにサージを抑制する上では、遮断電流が大きければ大きいほどインダクタンスを少なくした方が良い場合が多い。
In equation (1), Vs is the surge voltage [V], L is the inductance [H] of the main circuit through which the switching current flows, and dI / dt is the current change rate [A / s].
For this reason, the addition of an inductance component is inconvenient in terms of ensuring surge resistance. That is, in order to suppress a surge in order to ensure a stable switching operation, it is often better to reduce the inductance as the breaking current is larger.

その上、IGBTは薄ウェハ化が進むことによって、ターンオフ耐量とのトレードオフが要求されている。このため、ターンオフのスイッチング時においてインダクタンスが追加されることは回避することが好ましい。
そこで、この発明は、上記従来の未解決の問題点に着目してなされたものであり、ターンオフ耐量を確保しつつ且つノイズ抑制を図ることの可能な電力変換装置を提供することを目的としている。
In addition, IGBTs are required to have a trade-off with turn-off resistance as the wafers become thinner. For this reason, it is preferable to avoid the addition of inductance during turn-off switching.
Accordingly, the present invention has been made paying attention to the above-mentioned conventional unsolved problems, and an object thereof is to provide a power conversion device capable of suppressing noise while ensuring turn-off resistance. .

上記目的を達成するために、本発明の請求項1に係る発明は、絶縁ゲート型半導体素子と、前記絶縁ゲート型半導体素子と逆並列に接続されたフリーホイーリングダイオードとからなるスイッチング手段により主回路が形成される電力変換装置において、前記絶縁ゲート型半導体素子の両端間に前記フリーホイーリングダイオードと直列にインピーダンス付加手段としてMn−ZMn系コアのみを接続し、且つ前記インピーダンス付加手段は、放射ノイズ低減対象周波数領域の下限値周波数以上の周波数領域における抵抗値が、前記下限値周波数よりも低い周波数領域における抵抗値よりも大きく、前記下限値周波数以上の周波数領域で抵抗成分を持ち前記下限値周波数よりも低い周波数領域で抵抗成分として作用しない抵抗値を持つことを特徴としている。 In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 of the present invention mainly includes switching means comprising an insulated gate semiconductor element and a freewheeling diode connected in antiparallel with the insulated gate semiconductor element. In the power conversion device in which a circuit is formed, only an Mn-ZMn-based core is connected as an impedance adding means in series with the freewheeling diode between both ends of the insulated gate semiconductor element, and the impedance adding means resistance at lower Neshu wavenumber or frequency range of the noise reduction target frequency region has the lower Neshu wavenumber much larger than the resistance value in the frequency region lower than the lower limit frequency or higher frequency range in the resistance component to have a resistance value that does not act as a resistance component at a frequency range lower than the lower limit frequency It is a symptom.

また、請求項2に係る発明は、絶縁ゲート型半導体素子と、前記絶縁ゲート型半導体素子と逆並列に接続されたフリーホイーリングダイオードとからなるスイッチング手段により主回路が形成される電力変換装置において、前記絶縁ゲート型半導体素子の両端間に前記フリーホイーリングダイオードと直列にインピーダンス付加手段として抵抗素子のみを接続し、且つ前記インピーダンス付加手段は、放射ノイズ低減対象周波数領域の下限値周波数以上の周波数領域における抵抗値が、前記下限値周波数よりも低い周波数領域における抵抗値よりも大きく、前記下限値周波数以上の周波数領域で抵抗成分を持ち前記下限値周波数よりも低い周波数領域で抵抗成分として作用しない抵抗値を持つことを特徴としている。
また、請求項3に係る発明は、前記抵抗素子は、シャント抵抗又はメタルクラッド抵抗であることを特徴としている。
また、請求項4に係る発明は、前記放射ノイズ低減対象周波数領域の下限値周波数は、30MHzであることを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a power converter in which a main circuit is formed by switching means including an insulated gate semiconductor element and a freewheeling diode connected in antiparallel with the insulated gate semiconductor element. In addition, only a resistance element is connected as an impedance adding means in series with the freewheeling diode between both ends of the insulated gate semiconductor element, and the impedance adding means has a frequency equal to or higher than a lower limit frequency of a radiation noise reduction target frequency region. The resistance value in the region is larger than the resistance value in the frequency region lower than the lower limit frequency, has a resistance component in the frequency region above the lower limit frequency, and does not act as a resistance component in the frequency region lower than the lower limit frequency. It has a resistance value.
The invention according to claim 3 is characterized in that the resistance element is a shunt resistor or a metal clad resistor .
The invention according to claim 4 is characterized in that the lower limit frequency of the radiation noise reduction target frequency region is 30 MHz.

本発明の電力変換装置によれば、絶縁ゲート型半導体素子のターンオフ時にはインピーダンス付加手段は存在せず、ターンオン時にのみインピーダンス付加手段が存在することと同等の状態となるため、ターンオフ時のインダクタンスの増加を回避しつつ、ノイズ低減を図ることができる。   According to the power conversion device of the present invention, there is no impedance adding means when the insulated gate semiconductor element is turned off, and the state is equivalent to the presence of the impedance adding means only when the insulated gate semiconductor element is turned on. The noise can be reduced while avoiding the above.

以下、本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明を適用したIGBTモジュールの概念図であって、6in1モジュールの構成を示したものである。すなわち、2つのスイッチング手段SWが直列に接続された相アームが、3つ並列に接続されて構成されている。
スイッチング手段SWは、絶縁ゲート型半導体素子としてのIGBT11と、このIGBT11と逆並列に接続されるフリーホイーリングダイオード12と、フリーホイーリングダイオード12のカソード側とIGBT11のコレクタ側との接続点と、フリーホイーリングダイオード12との間に、フリーホイーリングダイオード12と直列に介挿されるインピーダンス付加手段13とで構成される。このインピーダンス付加手段13は、30MHz以上の周波数領域で抵抗成分を持ち、30MHzよりも低い周波数領域における抵抗値は、30MHz以上の周波数領域における抵抗値よりも低く、抵抗成分として作用しない程度の抵抗値を持つ。
Embodiments of the present invention will be described below.
FIG. 1 is a conceptual diagram of an IGBT module to which the present invention is applied, and shows the configuration of a 6 in 1 module. That is, three phase arms in which two switching means SW are connected in series are connected in parallel.
The switching means SW includes an IGBT 11 as an insulated gate semiconductor element, a free wheeling diode 12 connected in antiparallel with the IGBT 11, a connection point between the cathode side of the free wheeling diode 12 and the collector side of the IGBT 11. Between the freewheeling diode 12 and the freewheeling diode 12, it is comprised with the impedance addition means 13 inserted in series with the freewheeling diode 12. FIG. The impedance adding means 13 has a resistance component in a frequency region of 30 MHz or higher, and a resistance value in a frequency region lower than 30 MHz is lower than a resistance value in a frequency region of 30 MHz or higher and does not act as a resistance component. have.

なお、図1では、本発明を6in1モジュールに適用した場合について説明したが、図2に示すように、2つのスイッチング手段SWを直列に接続した2in1モジュールに適用することも可能であり、また、図3に示すように、1つのスイッチング手段SWからなる1in1モジュールに適用することも可能である。何れの場合も、各スイッチング手段SWは、図2及び図3に示すように、図1のスイッチング手段SWと同様に、フリーホイーリングダイオード12と直列にインピーダンス付加手段13が介挿される。
次に、本発明を適用したモジュールを用いた電力変換装置において、各スイッチングモードでの、電流が流れる経路を説明する。各スイッチング手段SWでの動作は同一であるので、ここでは、1つの2in1モジュールを用いて一般的なチョッパ回路を構成した場合について説明する。
In addition, although FIG. 1 demonstrated the case where this invention was applied to 6 in 1 module, as shown in FIG. 2, it is also possible to apply to 2 in 1 module which connected two switching means SW in series, As shown in FIG. 3, it is also possible to apply to a 1 in 1 module comprising one switching means SW. In any case, as shown in FIGS. 2 and 3, each switching means SW has an impedance adding means 13 inserted in series with the freewheeling diode 12 as in the switching means SW of FIG.
Next, in the power conversion device using the module to which the present invention is applied, a path through which a current flows in each switching mode will be described. Since the operation of each switching means SW is the same, here, a case where a general chopper circuit is configured using one 2-in-1 module will be described.

図4は、チョッパ回路を備えた電力変換装置の一例を示す回路図である。
この電力変換装置は、交流電源21に、3相の整流ダイオードモジュール22が接続されている。そして、この整流ダイオードモジュール22の直流出力端間に、電コンデンサ23と、スパイク電圧防止用のスナバコンデンサ24と、図2に示すIGBTの2in1モジュール25とが並列に接続される。さらに、2in1モジュール25を構成する、直列に接続されたスイッチング手段SWa及びSWbのうちのスイッチング手段SWaの両端にチョッパ用インダクタンス負荷26が並列に接続されている。
FIG. 4 is a circuit diagram illustrating an example of a power conversion device including a chopper circuit.
In this power converter, a three-phase rectifier diode module 22 is connected to an AC power source 21. Then, between the DC output ends of the rectifier diode module 22, the electrolytic capacitor 23, a snubber capacitor 24 for spike voltage prevention, and the 2in1 module 25 of the IGBT shown in FIG. 2 are connected in parallel. Further, a chopper inductance load 26 is connected in parallel to both ends of the switching means SWa of the switching means SWa and SWb connected in series constituting the 2-in-1 module 25.

図5から図8は、図4に示す電力変換装置において、スイッチング手段SWbをオンオフさせてチョッパ動作をさせた場合の各スイッチングモードにおける電流の流れを模式的に示した回路図である。図5はスイッチング手段SWbがオン状態のとき、図6はスイッチング手段SWbがオフ状態に移行するターンオフ時、図7はスイッチング手段SWbがオフ状態のとき、図8はスイッチング手段SWbがオン状態に移行するターンオン時の電流の流れを表したものである。   5 to 8 are circuit diagrams schematically showing the flow of current in each switching mode when the chopper operation is performed by turning on and off the switching means SWb in the power conversion device shown in FIG. FIG. 5 shows when the switching means SWb is turned on, FIG. 6 shows when the switching means SWb is turned off, FIG. 7 shows when the switching means SWb is turned off, and FIG. 8 shows that the switching means SWb is turned on. It represents the current flow at turn-on.

スイッチング手段SWbのIGBT11bがオン状態であるとき、電力変換装置において電流は、図5に示すように、整流ダイオードモジュール22、チョッパ用インダクタンス負荷26、IGBT11b、整流ダイオードモジュール22の経路で流れる。
この状態から、IGBT11bをオフ状態に制御すると、図6に示すように、整流ダイオードモジュール22、チョッパ用インダクタンス負荷26、IGBT11b、整流ダイオードモジュール22の経路で流れる電流の一部が、スイッチング手段SWaのフリーホイーリングダイオード12aに流れ始め、IGBT11bがオフ状態となると、図7に示すように、フリーホイーリングダイオード12a、チョッパ用インダクタンス負荷26の経路で還流する。
When the IGBT 11b of the switching means SWb is in the on state, current flows in the path of the rectifier diode module 22, the chopper inductance load 26, the IGBT 11b, and the rectifier diode module 22, as shown in FIG.
When the IGBT 11b is controlled to be turned off from this state, as shown in FIG. 6, a part of the current flowing through the path of the rectifier diode module 22, the chopper inductance load 26, the IGBT 11b, and the rectifier diode module 22 is supplied to the switching means SWa. When the IGBT 11b starts to flow through the free wheeling diode 12a and is turned off, the free wheeling diode 12a and the chopper inductance load 26 are recirculated as shown in FIG.

この状態から、IGBT11bをオン状態に制御すると、図8に示すように、整流ダイオードモジュール22、チョッパ用インダクタンス負荷26、IGBT11b、整流ダイオードモジュール22の経路で流れ始める。これに伴い、フリーホイーリングダイオード12aに流れる電流が減少し、フリーホイーリングダイオード12aは逆回復に入った後、遮断状態となり、図5のオン状態となる。
このように、フリーホイーリングダイオード12aによる逆回復は、図8に示したターンオン時にしか発生しない。このため、スイッチングのタイミングとしては、ターンオンのときの電流経路にしかインピーダンスが存在しないことになる。
When the IGBT 11b is controlled to be in the ON state from this state, the IGBT 11b starts to flow along the path of the rectifier diode module 22, the chopper inductance load 26, the IGBT 11b, and the rectifier diode module 22, as shown in FIG. Along with this, the current flowing through the freewheeling diode 12a decreases, and after the freewheeling diode 12a enters reverse recovery, the freewheeling diode 12a enters the cut-off state and turns on in FIG.
Thus, the reverse recovery by the freewheeling diode 12a occurs only at the turn-on shown in FIG. For this reason, as a switching timing, impedance exists only in the current path at the time of turn-on.

つまり、フリーホイーリングダイオード12aにのみインピーダンス付加手段13aを直列に接続しているので、図6に示すように、ターンオフ時の電流経路にはインピーダンスは存在しないことと同等となる。したがって、薄ウェハ化に伴って耐量が厳しくなっているターンオフ時にはインダクタンスの追加がなく、インピーダンス付加手段13が挿入されない従来の回路定数のまま何ら変わりなくスイッチングすることができる。   That is, since the impedance adding means 13a is connected in series only to the freewheeling diode 12a, as shown in FIG. 6, it is equivalent to the absence of impedance in the current path at the time of turn-off. Therefore, at the time of turn-off when the withstand capability becomes strict as the wafer is thinned, no inductance is added, and switching can be performed without changing the conventional circuit constant in which the impedance adding means 13 is not inserted.

インピーダンス付加手段13としては、EMC規制における法的規制値である、ノイズを抑制したい対象周波数である30MHz以上の周波数領域において抵抗成分を持ち、30MHzよりも低い周波数領域における抵抗値が、30MHz以上の周波数領域における抵抗値よりも小さいもの、すなわちターンオフ時にインダクタンスの追加による影響を与えない程度のものであれば適用することができる。例えば、磁性体であれば、Mn−Zn系のコア、それ以外ならば抵抗素子が好ましい。   The impedance adding means 13 has a resistance component in a frequency region of 30 MHz or higher, which is a target frequency to suppress noise, which is a legally regulated value in EMC regulations, and a resistance value in a frequency region lower than 30 MHz is 30 MHz or higher. It can be applied if it is smaller than the resistance value in the frequency domain, that is, it does not affect the addition of inductance at turn-off. For example, if it is a magnetic body, a Mn-Zn core is preferable, and if not, a resistance element is preferable.

図9は、Mn−Zn系のコア材の一例の透磁率特性を示したものであって、μ′は複素比透磁率の実数部、μ″は複素比透磁率の虚数部である。
図9に示すように、本コア材は、約10MHz付近以上の周波数領域では抵抗として作用し、10MHzより低い周波数領域では、インダクタンスとして作用する。このため、このMn−Zn系コア材を、インピーダンス付加手段13として適用する場合には、低周波数領域でのサージ耐量に対する配慮が必要となるが、コアサイズを最適化し、10nH程度に抑制した上で適用すればよい。
FIG. 9 shows the magnetic permeability characteristics of an example of the Mn—Zn-based core material, where μ ′ is the real part of the complex relative permeability and μ ″ is the imaginary part of the complex relative permeability.
As shown in FIG. 9, the core material acts as a resistance in a frequency region around about 10 MHz and acts as an inductance in a frequency region lower than 10 MHz. For this reason, when this Mn—Zn-based core material is applied as the impedance adding means 13, it is necessary to consider the surge resistance in the low frequency region, but the core size is optimized and suppressed to about 10 nH. You can apply in.

また、ターンオンノイズは、主に低電流領域で多く発生するノイズであるため、Mn−Zn系コア材を用いることで、低電流時のスイッチング時に発生するノイズを除去し、電流が大きい場合には飽和させて用いればよい。
インピーダンス付加手段13としてコア材を用いた場合の、配置の一例を図10に示す。
In addition, turn-on noise is mainly generated in a low current region. Therefore, by using a Mn-Zn core material, noise generated during switching at low current is removed, and when the current is large. What is necessary is just to use it saturated.
An example of arrangement when a core material is used as the impedance adding means 13 is shown in FIG.

一方、インピーダンス付加手段13として抵抗素子を用いる場合には、適用可能なワット数にもよるが、低い電流定格用途のものについてはチップ抵抗、電流定格が大きいものについてはシャント抵抗やメタルクラッド抵抗等が適している。何れの場合も図11に示すように、冷却体に直接接続している銅ベース基板や絶縁セラミック基板など、熱伝導のよい基板に直接つけて用いることが望ましい。   On the other hand, when a resistance element is used as the impedance adding means 13, depending on the applicable wattage, a chip resistance is used for a low current rating application, a shunt resistance, a metal cladding resistance, etc. for a high current rating. Is suitable. In any case, as shown in FIG. 11, it is desirable to directly attach to a substrate with good thermal conductivity such as a copper base substrate or an insulating ceramic substrate directly connected to the cooling body.

なお、図10及び図11において、31はフリーホイーリングダイオードチップ、32はIGBTチップ、33はMn−Zn系コア、34はメタルクラッド抵抗、35はフリーホイーリングダイオード31へのボンディングワイヤ、36はIGBTのゲート用のボンディングワイヤ、37はフリーホイーリングダイオードチップ31とIGBTチップ32との間のボンディングワイヤ、38は銅ベース基板である。   10 and 11, 31 is a free wheeling diode chip, 32 is an IGBT chip, 33 is a Mn-Zn core, 34 is a metal clad resistor, 35 is a bonding wire to the free wheeling diode 31, and 36 is A bonding wire for an IGBT gate, 37 is a bonding wire between the freewheeling diode chip 31 and the IGBT chip 32, and 38 is a copper base substrate.

次に、上述のようにインピーダンス付加手段13としてコア材や抵抗素子を適用した場合の、挿入すべき抵抗値の算出方法を説明する。
図12は、図4のチョッパ回路において、スナバとモジュールとの間のノイズの経路の概念図を示したものである。
チップ間のワイヤボンディング及び主回路配線によって配線インダクタンスが決まり、IGBT11のコレクタ−エミッタ間の浮遊容量によってキャパシタンスが決まる。
そして配線インダクタンス及びキャパシタンスが決まると、ある周波数でのインピーダンスは次式(2)で与えられる。
Z=(R+(ωL−1/(ωC))1/2 …(2)
なお、(2)式において、Lは主回路配線の総インダクタンス〔H〕、CはIGBTのコレクタ−エミッタ間の浮遊容量〔F〕、Rは主回路配線の挿入抵抗〔Ω〕、である。
Next, a method for calculating a resistance value to be inserted when a core material or a resistance element is applied as the impedance adding means 13 as described above will be described.
FIG. 12 is a conceptual diagram of a noise path between the snubber and the module in the chopper circuit of FIG.
Wiring inductance is determined by wire bonding between chips and main circuit wiring, and capacitance is determined by stray capacitance between the collector and emitter of the IGBT 11.
When the wiring inductance and capacitance are determined, the impedance at a certain frequency is given by the following equation (2).
Z = (R 2 + (ωL−1 / (ωC)) 2 ) 1/2 (2)
In equation (2), L is the total inductance [H] of the main circuit wiring, C is the stray capacitance [F] between the collector and emitter of the IGBT, and R is the insertion resistance [Ω] of the main circuit wiring.

さらに、この経路において、ノイズを抑制するために追加すべきインピーダンスZaddは、次式(3)で表され、追加対策する抵抗値として必要な抵抗値Radd〔Ω〕は(4)式から導出することができる。
Zadd=Z(10dB/20)−Z …(3)
Radd=(Zadd−(ωL−1/(ωC))1/2 …(4)
なお、(3)及び(4)式において、Zaddは追加すべきインピーダンス〔Ω〕、dBは下げたいノイズ低減量〔dB〕である。
Further, in this path, the impedance Zadd to be added to suppress noise is expressed by the following equation (3), and the resistance value Radd [Ω] necessary as a resistance value to be added is derived from the equation (4). be able to.
Zadd = Z (10 dB / 20 ) −Z (3)
Radd = (Zadd 2 − (ωL−1 / (ωC)) 2 ) 1/2 (4)
In equations (3) and (4), Zadd is an impedance [Ω] to be added, and dB is a noise reduction amount [dB] to be reduced.

次に、本発明の効果を説明する。
図13は、IGBT11においてターンオン時のスイッチングノイズとターンオフ時のスイッチングノイズとを分離してノイズを測定した例を示したものであって、横軸はIGBT遮断電流(定格電流比)、縦軸は電界強度である。ターンオン時及びターンオフ時のスイッチングノイズは、一般的なチョッパ回路を用い、スイッチングのタイミングを時間的に分離して各ノイズスペクトルを測定した。放射ノイズは、3m法にて電波暗室を用いて測定したものである。なお、チョッパ回路として、具体的には、図4に示す一般的なチョッパ回路において、インピーダンス付加手段13が挿入されていない回路を用いた。
Next, the effect of the present invention will be described.
FIG. 13 shows an example of measuring noise by separating switching noise at turn-on and switching noise at turn-off in the IGBT 11, where the horizontal axis is the IGBT cutoff current (rated current ratio), and the vertical axis is Electric field strength. For switching noise at turn-on and turn-off, a general chopper circuit was used, and the switching timing was temporally separated to measure each noise spectrum. Radiation noise is measured using an anechoic chamber by the 3 m method. As the chopper circuit, specifically, a circuit in which the impedance adding means 13 is not inserted in the general chopper circuit shown in FIG. 4 is used.

図13において、トータルノイズは、ターンオフ、ターンオンのタイミングで発生するノイズによって構成され、その絶対値が大きい部分でトータルのノイズの絶対値を決定する。特に電流が小さい領域ではターンオン時のノイズが支配的であり、このターンオン時のノイズが全ての電流領域において最大となる傾向を示す。そのため、このターンオン時の対策が重要となる。この特性(電流依存性)は、モジュールの種類等の条件によって若干傾向は異なるが、低電流においてターンオン時のノイズが支配的である点は概ね同傾向である。   In FIG. 13, the total noise is constituted by noise generated at turn-off and turn-on timings, and the absolute value of the total noise is determined in a portion where the absolute value is large. In particular, in the region where the current is small, the noise at the turn-on is dominant, and the noise at the turn-on tends to become the maximum in all the current regions. Therefore, this turn-on measure is important. This characteristic (current dependency) has a slightly different tendency depending on conditions such as the type of module, but the characteristic is that the noise at turn-on is dominant at a low current.

ここで、上述のように、フリーホイーリングダイオード12と直列にインピーダンス付加手段13を挿入することによって、ターンオン時にのみインピーダンスが挿入された状態となるが、ターンオフ時にはインダクタンスが追加されていない場合と同等の状態のままである。したがって、トータルノイズを支配するターンオンノイズを確実に抑制することができると共に、ターンオフ時には、インピーダンス付加手段13が追加されてはいるものの、これまでの回路特性と何ら変わることなく動作することができる。   Here, as described above, by inserting the impedance adding means 13 in series with the freewheeling diode 12, the impedance is inserted only at the time of turn-on, but it is equivalent to the case where no inductance is added at the time of turn-off. The state remains. Therefore, the turn-on noise that dominates the total noise can be reliably suppressed, and at the time of turn-off, the impedance adding means 13 is added, but the operation can be performed without any change from the conventional circuit characteristics.

したがって、電力変換装置が発生するターンオンノイズのみを抑制することができ、薄ウェハ化によって、サージ耐量が懸念されるターンオフスイッチング時のインダクタンスの増加を抑制することができる。前述のように、ターンオンノイズは、トータルノイズを支配しており、とくに低電流領域では絶対値も大きい。このため、トータルノイズのうちターンオンノイズを抑制することができれば、トータルノイズの絶対値を大きく抑制することができる。   Therefore, it is possible to suppress only the turn-on noise generated by the power conversion device, and it is possible to suppress an increase in inductance at the time of turn-off switching where there is a concern about surge tolerance due to the thinning of the wafer. As described above, the turn-on noise dominates the total noise and has a large absolute value particularly in a low current region. For this reason, if the turn-on noise of the total noise can be suppressed, the absolute value of the total noise can be greatly suppressed.

特に、インピーダンス付加手段13を、EMC規制の法的規制値である30MHz以上の周波数領域で抵抗成分として作用させ、30MHzより低い周波数領域では抵抗成分として作用させないようにしているから、30MHz以上の周波数の放射ノイズを低減することができ好適である。
その上、インピーダンス付加手段13をフリーホイーリングダイオード12の直列に挿入しており、電力変換装置に対して外付けの対策を行ってはいるが、モジュール内での対策が可能であるため、ドライブ回路等といった外部回路の対策は不要であって、チップ単体の特性に加えて、パッケージ側からノイズ対策を行うことができる。
In particular, the impedance adding means 13 is made to act as a resistance component in a frequency region of 30 MHz or higher, which is a legally regulated value of EMC regulations, and not to act as a resistance component in a frequency region lower than 30 MHz. This is preferable because it can reduce radiation noise.
In addition, although the impedance adding means 13 is inserted in series with the freewheeling diode 12 and an external countermeasure is taken for the power conversion device, the countermeasure can be taken within the module. There is no need for countermeasures for external circuits such as circuits, and noise countermeasures can be taken from the package side in addition to the characteristics of a single chip.

なお、上記実施の形態においては、インピーダンス付加手段13を、フリーホイーリングダイオード12のカソード側に直列に接続した場合について説明したが、フリーホイーリングダイオード12のアノード側に直列に接続してもよいことはいうまでもない。
また、上記実施の形態においては、電力変換装置としてチョッパ回路を形成した場合について説明したが、これに限るものではなく、例えば1相或いは他相のインバータ回路等、IGBT11とこれと逆並列に接続されるフリーホイーリングダイオード12とから主回路が形成される電力変換装置であれば適用することができる。
In the above embodiment, the case where the impedance adding means 13 is connected in series to the cathode side of the freewheeling diode 12 has been described, but it may be connected in series to the anode side of the freewheeling diode 12. Needless to say.
In the above embodiment, the case where a chopper circuit is formed as a power conversion device has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, a single-phase or other-phase inverter circuit or the like is connected in reverse parallel to the IGBT 11. Any power conversion device in which a main circuit is formed from the freewheeling diode 12 to be applied can be applied.

また、30MHz以上の周波数領域の放射ノイズを低減する場合について説明したが、これに限らず、任意の周波数領域の放射ノイズを低減することができ、この場合には、低減したい周波数領域で抵抗値を有し、この周波数領域よりも低い周波数領域ではより低い抵抗値を持つインピーダンス付加手段13を用いればよい。
また、絶縁ゲート型半導体素子として、IGBTを適用した場合について説明したが、これに限るものではなくパワーMOSFET等であってに適用することができる。
Moreover, although the case where radiation noise in a frequency region of 30 MHz or higher is reduced has been described, the present invention is not limited to this, and radiation noise in an arbitrary frequency region can be reduced. In this case, the resistance value is reduced in the frequency region to be reduced. The impedance adding means 13 having a lower resistance value may be used in a frequency region lower than this frequency region.
Moreover, although the case where IGBT was applied as an insulated gate semiconductor element was demonstrated, it is not restricted to this, It can apply, even if it is power MOSFET etc.

本発明を適用したIGBTの6in1モジュールの概念図である。It is a conceptual diagram of 6in1 module of IGBT to which the present invention is applied. 本発明を適用したIGBTの2in1モジュールの概念図である。It is a conceptual diagram of IGBT 2 in 1 module to which the present invention is applied. 本発明を適用したIGBTの1in1モジュールの概念図である。It is a conceptual diagram of 1 in 1 module of IGBT to which the present invention is applied. 本発明を適用したチョッパ回路を備えた電力変換装置の一例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows an example of the power converter device provided with the chopper circuit to which this invention is applied. チョッパ回路におけるオン状態での電流経路の説明図である。It is explanatory drawing of the electric current path in the ON state in a chopper circuit. チョッパ回路におけるターンオフ状態での電流経路の説明図である。It is explanatory drawing of the current pathway in the turn-off state in a chopper circuit. チョッパ回路におけるオフ状態での電流経路の説明図である。It is explanatory drawing of the electric current path in the OFF state in a chopper circuit. チョッパ回路におけるターンオン状態での電流経路の説明図である。It is explanatory drawing of the current pathway in the turn-on state in a chopper circuit. Mn−Zn系コア材料における透磁率特性μ′及びμ″の一例である。It is an example of the magnetic permeability characteristics μ ′ and μ ″ in the Mn—Zn core material. フリーホイーリングダイオードチップ及びIGBTチップ間にMn−Zn系コアを挿入した場合のチップレイアウトの一例である。It is an example of a chip layout when a Mn—Zn core is inserted between a freewheeling diode chip and an IGBT chip. フリーホイーリングダイオードチップ及びIGBTチップ間にメタルクラッド抵抗を挿入した場合のチップレイアウトの一例である。It is an example of a chip layout when a metal clad resistor is inserted between a freewheeling diode chip and an IGBT chip. スナバ回路とIGBTモジュール間のノイズ経路の概念図である。It is a conceptual diagram of the noise path | route between a snubber circuit and IGBT module. IGBT遮断電流に対するターンオンノイズ及びターンオフノイズの依存性を示すグラフである。It is a graph which shows the dependence of turn-on noise and turn-off noise with respect to IGBT cutoff current.

符号の説明Explanation of symbols

11 IGBT
12 フリーホイーリングダイオード
13 インピーダンス付加手段
21 交流電源
22 整流ダイオードモジュール
23 電コンデンサ
24 スナバコンデンサ
25 IGBT2in1モジュール
26 チョッパ用インダクタンス負荷
31 フリーホイーリングダイオードチップ
32 IGBTチップ
33 Mn−Zn系コア
34 メタルクラッド抵抗
11 IGBT
12 freewheeling diode 13 impedance adding means 21 AC power source 22 a rectifier diode module 23 electrolytic capacitors 24 snubber capacitor 25 IGBT2in1 module 26 chopper inductance load 31 freewheeling diode chip 32 IGBT chips 33 Mn-Zn system core 34 metal-clad resistance

Claims (4)

絶縁ゲート型半導体素子と、前記絶縁ゲート型半導体素子と逆並列に接続されたフリーホイーリングダイオードとからなるスイッチング手段により主回路が形成される電力変換装置において、
前記絶縁ゲート型半導体素子の両端間に前記フリーホイーリングダイオードと直列にインピーダンス付加手段としてMn−ZMn系コアのみを接続し、且つ前記インピーダンス付加手段は、放射ノイズ低減対象周波数領域の下限値周波数以上の周波数領域における抵抗値が、前記下限値周波数よりも低い周波数領域における抵抗値よりも大きく、前記下限値周波数以上の周波数領域で抵抗成分を持ち前記下限値周波数よりも低い周波数領域で抵抗成分として作用しない抵抗値を持つことを特徴とする電力変換装置。
In a power conversion device in which a main circuit is formed by switching means including an insulated gate semiconductor element and a freewheeling diode connected in antiparallel with the insulated gate semiconductor element,
The insulated gate connect only Mn-Zmn based core as a semiconductor the freewheeling diode and the impedance adding means in series across the element, and the impedance adding means, the lower limit Neshu wave number of the radiation noise reduction target frequency domain in the above resistance value in the frequency domain, the lower limit Neshu wavenumber much larger than the resistance value in the frequency region lower than the lower limit frequency range lower than the frequency having the lower limit frequency or higher frequency range in the resistance component A power converter having a resistance value that does not act as a resistance component .
絶縁ゲート型半導体素子と、前記絶縁ゲート型半導体素子と逆並列に接続されたフリーホイーリングダイオードとからなるスイッチング手段により主回路が形成される電力変換装置において、
前記絶縁ゲート型半導体素子の両端間に前記フリーホイーリングダイオードと直列にインピーダンス付加手段として抵抗素子のみを接続し、且つ前記インピーダンス付加手段は、放射ノイズ低減対象周波数領域の下限値周波数以上の周波数領域における抵抗値が、前記下限値周波数よりも低い周波数領域における抵抗値よりも大きく、前記下限値周波数以上の周波数領域で抵抗成分を持ち前記下限値周波数よりも低い周波数領域で抵抗成分として作用しない抵抗値を持つことを特徴とする電力変換装置。
In a power conversion device in which a main circuit is formed by switching means including an insulated gate semiconductor element and a freewheeling diode connected in antiparallel with the insulated gate semiconductor element,
The insulated gate only a resistor connected as the semiconductor the freewheeling diode and the impedance adding means in series across the element, and the impedance adding means, the lower limit Neshu wave number or frequency of the radiation noise reduction target frequency domain resistance in the region, the lower limit Neshu much larger than the resistance value in the frequency region lower than the wave number, as the resistance component in the frequency region lower than the lower limit frequency having a resistance component at the lower limit frequency or higher frequency range A power converter characterized by having a resistance value that does not act .
前記抵抗素子は、シャント抵抗又はメタルクラッド抵抗であることを特徴とする請求項記載の電力変換装置。 The power conversion device according to claim 2 , wherein the resistance element is a shunt resistor or a metal clad resistor. 前記放射ノイズ低減対象周波数領域の下限値周波数は、30MHzであることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の電力変換装置。 The lower limit frequency of the radiation noise reduction target frequency range, the power conversion device according to any one of claims 1 to 3, characterized in that a 30 mH z.
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5444142B2 (en) 2010-07-06 2014-03-19 株式会社日立製作所 Power converter and motor drive device using the same
JP2012050176A (en) * 2010-08-24 2012-03-08 Fuji Electric Co Ltd Power module for power conversion device
JP6029288B2 (en) * 2012-02-22 2016-11-24 三菱電機株式会社 Power module
WO2014049807A1 (en) * 2012-09-28 2014-04-03 株式会社日立製作所 Semiconductor device and power conversion apparatus using same
CN103604999B (en) * 2013-11-21 2016-06-29 西安永电电气有限责任公司 A kind of method testing the structural impedance of IGBT module
JP6641782B2 (en) * 2015-08-20 2020-02-05 富士電機株式会社 Power converter
JP6601086B2 (en) * 2015-09-16 2019-11-06 富士電機株式会社 Semiconductor device and manufacturing method thereof

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5727052A (en) * 1980-07-25 1982-02-13 Nec Corp Semiconductor device
JPS5839060A (en) * 1981-09-02 1983-03-07 Toshiba Corp Semiconductor device
JPS63202263A (en) * 1987-02-14 1988-08-22 Matsushita Electric Works Ltd Power source converter
JP2851268B2 (en) * 1987-06-10 1999-01-27 株式会社東芝 Noise reduction method
JP3163853B2 (en) * 1993-06-30 2001-05-08 三菱電機株式会社 noise filter
JP3444045B2 (en) * 1995-09-20 2003-09-08 株式会社日立製作所 Semiconductor circuit, driving method thereof, and semiconductor element
JP3577893B2 (en) * 1997-06-17 2004-10-20 富士電機デバイステクノロジー株式会社 Power conversion circuit
JP3666843B2 (en) * 1999-02-26 2005-06-29 株式会社東芝 Gate circuit of insulated gate semiconductor device
JP2001024491A (en) * 1999-07-07 2001-01-26 Hitachi Ltd Capacitive load driving circuit and display device having the circuit
JP2002345071A (en) * 2001-05-11 2002-11-29 Sony Corp Audio signal reproducing device
JP2003109832A (en) * 2001-09-28 2003-04-11 Nec Tokin Corp Magnetic core and inductance part using the same
JP3767450B2 (en) * 2001-10-11 2006-04-19 富士電機デバイステクノロジー株式会社 Insulated gate transistor drive circuit, power conversion device, and power semiconductor module
JP4164810B2 (en) * 2004-01-27 2008-10-15 富士電機デバイステクノロジー株式会社 Power semiconductor module

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