JP5364433B2 - 光学素子用成形型 - Google Patents
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Description
従来、このようなガラス成形に用いられる成形型に対しては、特許文献1に記載されるように、型基材の表面にTiN層を形成したり、特許文献2に記載されるように、白金系合金膜を被覆することがなされている。
本発明の光学素子用成形型は、ガラスからなる光学素子のプレス成形に用いる光学素子用成形型において、前記光学素子用成形型の少なくとも成形面の最表層が二酸化レニウムよりなる膜層からなり、前記最表層の膜層が50nm以上2000nm以下の厚さであることを特徴としている。
なお、二酸化レニウムからなる膜層は、製造時に酸化の仕方のバラツキが起こりやすいが、レニウム原子の酸化数をxとして、+3.8≦x≦+4.5の範囲内であれば良い。また、不可避の微量の不純物は混入しても性能に問題はない。
また、融点が約900℃である二酸化レニウムで最表層を形成することで、例えば、700℃程度という高温下で成形を行うことができる。
この発明によれば、中間層により型母材と最表層との密着力を向上させることができる。
以下、本発明に係る光学素子用成形型の第1実施形態を、図1を参照しながら説明する。
光学素子用成形型1の型母材2は、所望の最終製品に対応した形状と概略近い形状に加工した後、その凹型の成形部表面2aをダイヤモンド砥石を用いた研削加工により所望の最終形状に対応した形状に加工し、その後、鏡面研磨を施して作製される。
この二酸化レニウム膜3の厚さは、50nm以上、2000nm以下であることが好ましい。二酸化レニウム膜3の厚さが50nmより薄くなると、膜厚が結晶粒の大きさと非常に近くなるため粒子脱落などによる部分欠陥の可能性が大きくなる。一方、二酸化レニウム膜3の厚さが2000nmを超えると、厚くなりすぎて二酸化レニウム膜3の強度が低下してしまう。
なお、L−LAH53は、Tg点が574℃、At点(ガラス屈伏点)が607℃となっている。
試料1では、光学素子を500ショット成形した時点で二酸化レニウム膜3が剥離した。試料2及び試料3では、光学素子を1000ショット成形した時点でも光学素子用成形型1に不具合は無かった。
なお、上記の試験において雰囲気のみを大気中に変え、上記の試料1〜試料3を用いて光学素子を成形した結果も、表1に示す窒素雰囲気中の試験結果と同様の成形性を示した。
光学素子用成形型1による成形時に、L−LAH53である硝材と二酸化レニウム膜3とが直接接触するが、硝材と二酸化レニウム膜3とがどちらも酸化物であるために互いの間で化学結合を起こしにくく、光学素子の焼き付きや、揮発成分の二酸化レニウム膜3への堆積が起こらず、光学素子を良好に成形することができることが分かった。
また、最表層の二酸化レニウム膜3を50nm以上の厚さとすることで、十分にその作用効果を得ることができる。しかし50nm未満の厚さでは、膜厚が結晶粒の大きさと非常に近くなるため、粒子脱落などによる部分欠陥の可能性が大きくなり好ましくない。
また、融点が約900℃である二酸化レニウムによる二酸化レニウム膜3を最表層に用いることで、高温下で成形を行うことができる。
以下、本発明に係る光学素子用成形型の第2実施形態を、図2を参照しながら説明するが、前記実施形態と同一の部位には同一の符号を付してその説明は省略し、異なる点についてのみ説明する。
本実施形態の光学素子用成形型6には、型母材2と二酸化レニウム膜3との間に中間層4が形成されている。そして、表2に示すように、本実施形態の光学素子用成形型6として、中間層4の材質、及び最表層の材質と厚さを変えて、試料4〜試料8、比較例1及び比較例2を製造した。
中間層4は、その全体にタンタル原子を含有しており、中間層4を構成する4つの膜層の中で、最も型母材2側の膜層は金属タンタルで形成され、最も二酸化レニウム膜3側の膜層は酸化タンタル(Ta2O5)で形成されている。そして、中間層4を構成する4つの膜層は、型母材2側から二酸化レニウム膜3側に移るに従って、膜層の組成中の酸素原子の割合が一定の割合で増加するように構成されている。すなわち、酸化タンタルの組成中の酸素原子の割合が、(5/7)の式により約71%となるので、型母材2側から2番目の膜層中の酸素原子の割合は約24%、型母材2側から3番目の膜層中の酸素原子の割合は約48%となるように構成した。
このように、試料4〜試料7における中間層4は、4つの膜層により、型母材2側から二酸化レニウム膜3側まで組成を4段階に段階的に変化させて形成されている。
また、試料8においては、型母材2側から、二酸化レニウム膜3側に移るにしたがって、中間層4中の酸素原子の割合を連続的に0〜71パーセントまで変化させ、中間層4全体の厚さを400nmとした。
このように、試料8における中間層4は、組成を連続的に変化させて形成させられている。
また、比較例1における中間層4は厚さ100nmの金属クロムで、比較例2における中間層4は厚さ100nmの金属チタンで、それぞれ形成されている。
光学素子を窒素雰囲気中で成形した結果を表2の成形性の列に示す。
試料4〜試料7は、二酸化レニウム膜3の厚さのみを変えたものである。二酸化レニウム膜3の厚さが30nmの試料4では、光学素子を300ショット成形した時点で二酸化レニウム膜3が剥離した。そして、二酸化レニウム膜3の厚さが50nm、200nm及び500nmの試料5、試料6及び試料7では、光学素子を1000ショット成形した時点でも光学素子用成形型1に不具合は無かった。また、試料8は、中間層4の組成変化を連続的にし、最表層の二酸化レニウム膜の厚さを200nmにしたものであるが、光学素子を1000ショット成形したときにも不具合はなかった。
なお、上記試験において雰囲気のみを大気中に変え、上記の試料4〜試料8、比較例1及び比較例2を用いて光学素子を成形した結果も、表2に示す窒素雰囲気中の試験結果と同様の成形性を示した。
また、上記実施形態では、中間層4は型母材2側から二酸化レニウム膜3側に移るに従って、中間層4の組成を金属タンタルから酸化タンタルに変化させた。しかし、中間層4の組成はこの限りでなく、例えば、型母材2側から二酸化レニウム膜3側に移るに従って、金属クロムから酸化クロムに、金属チタンから酸化チタンにそれぞれ変化させるように構成しても良い。
例えば、上記第1実施形態及び第2実施形態では、硝材にランタン系のL−LAH53を用いた。しかし、これに限ることなく、例えば硝材に酸化チタン系のL−TIM28(オハラ社製)を用いることもできる。L−TIM28を用いて上記第1実施形態及び第2実施形態の光学素子用成形型で光学素子の成形試験を行ったところ、表1及び表2に示す試験結果とほぼ同様の結果となった。
また、上記第1実施形態及び第2実施形態における型母材2の材質として、窒化珪素、窒化アルミニウム、アルミナ等を用いても良い。
2 型母材
2a 成形部表面
Claims (2)
- ガラスからなる光学素子のプレス成形に用いる光学素子用成形型において、前記光学素子用成形型の少なくとも成形面の最表層が二酸化レニウムよりなる膜層からなり、
前記最表層の膜層が50nm以上2000nm以下の厚さであることを特徴とする光学素子用成形型。 - 型母材と前記最表層との間に中間層を備え、
前記中間層はタンタル原子を含有し、前記型母材側から前記最表層側に移るに従って、前記中間層中の酸素原子の割合を増加させるように構成されていることを特徴とする請求項1記載の光学素子用成形型。
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JP2009111491A JP5364433B2 (ja) | 2009-04-30 | 2009-04-30 | 光学素子用成形型 |
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2009
- 2009-04-30 JP JP2009111491A patent/JP5364433B2/ja active Active
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