JP5361036B2 - 位置調整装置および発光分光分析装置 - Google Patents
位置調整装置および発光分光分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5361036B2 JP5361036B2 JP2008147697A JP2008147697A JP5361036B2 JP 5361036 B2 JP5361036 B2 JP 5361036B2 JP 2008147697 A JP2008147697 A JP 2008147697A JP 2008147697 A JP2008147697 A JP 2008147697A JP 5361036 B2 JP5361036 B2 JP 5361036B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adjustment
- reference point
- pointer
- mark
- target surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
<その他>
<手段>
技術的思想1記載の位置調整装置は、調整対象面における所定の基準点を標示する基準点標示手段と、前記調整対象面に交わる第1方向における前記調整対象面の位置が、既定位置に近いほど、前記基準点標示手段により標示される前記基準点に近い位置に、調整用マークを投影する調整用マーク投影手段とを備えることを特徴とする。
技術的思想2記載の位置調整装置は、技術的思想1記載の位置調整装置において、前記調整用マーク投影手段は、前記既定位置と、前記調整対象面上の基準点の第1方向位置とが一致する状態において、前記基準点標示手段により標示される基準点に、前記調整用マークを投影することを特徴とする。
技術的思想3記載の位置調整装置は、技術的思想2記載の位置調整装置において、前記調整用マーク投影手段は、ライン状の調整用マークを前記調整対象面に投影することを特徴とする。
技術的思想4記載の位置調整装置は、技術的思想3記載の位置調整装置において、前記調整用マーク投影手段は、前記調整対象面に投影されるライン状の調整用マークの長手方向と前記第1方向とに平行な面に対して斜めの方向に進行するライン状の光を、前記調整対象面へ向けて照射することにより、前記ライン状の調整用マークを投影することを特徴とする。
技術的思想5記載の発光分光分析装置は、レーザ光を被測定物に照射し、被測定物に含まれる成分をプラズマ化させて分析することにより、被測定物に含まれる成分を分析するものであって、レーザ光を出射するレーザ光源と、そのレーザ光源からのレーザ光を被測定物に案内する導光光学系と、被測定物の表面である調整対象面上の基準点を標示する基準点標示手段と、前記レーザ光の光軸方向における前記調整対象面の位置が、前記導光光学系により案内されるレーザ光の焦点位置に近いほど、前記基準点標示手段により標示される前記基準点に近い位置に、調整用マークを投影する調整用マーク投影手段とを備える。
<効果>
技術的思想1記載の位置調整装置によれば、調整用マーク投影手段は、第1方向における調整対象面の位置が既定位置に近いほど、基準点に近い位置に調整用マークを投影する。したがって、調整対象面に投影される調整用マークが基準点に近づくように、調整対象面の第1方向位置と既定位置との間の位置関係を調整することにより、第1方向における調整対象面の位置と既定位置とを近づけることができる。また、調整対象面に投影される調整用マークが基準点から離れるように、調整対象面の第1方向位置と既定位置との間の位置関係を調整することにより、第1方向における調整対象面の位置を既定位置から離隔させることができる。したがって、調整用マークを目印として位置調整を容易に行うことができるという効果がある。
技術的思想2記載の位置調整装置によれば、技術的思想1記載の位置調整装置の奏する効果に加え、既定位置と、調整対象面上の基準点の第1方向位置とが一致する状態において、基準点に調整用マークが投影される。よって、調整用マークが基準点に投影されるように、調整対象面の第1方向位置と既定位置との位置調整を行う、という容易な作業で、調整対象面の第1方向位置と既定位置とを一致させることができるという効果がある。
技術的思想3記載の位置調整装置によれば、技術的思想2記載の位置調整装置の奏する効果に加え、ライン状の調整用マークが基準点を通るように、調整対象面の第1方向位置と既定位置との位置関係を調整する、という容易な作業で、調整対象面の第1方向位置と既定位置とを一致させることができるという効果がある。
技術的思想4記載の位置調整装置によれば、技術的思想3記載の位置調整装置の奏する効果に加え、前記調整用マーク投影手段は、前記調整対象面に投影される調整用マークの長手方向と前記第1方向とに平行な面に対して斜めの方向に進行するライン状の光を、前記調整対象面へ向けて照射することにより、前記ライン状の調整用マークを投影するので、ライン状のマークの投影位置は、第1方向における調整対象面の位置に応じたものとなる。したがって、調整対象面の第1方向位置が既定位置に対してどれだけずれているかを、基準点とライン状調整用マークとの位置関係によって表すことができるという効果がある。
技術的思想5記載の発光分光分析装置によれば、調整用マーク投影手段は、レーザ光の光軸方向における調整対象面の位置が、導光光学系により案内されるレーザ光の焦点位置に近いほど、基準点標示手段により標示される基準点に近い位置に調整用マークが投影される。よって、調整対象面に投影される調整用マークが基準点に近づくように、被測定物の光軸方向位置とレーザ光の焦点位置との位置関係を調整する、という容易な作業で、レーザ光の光軸方向における調整対象面の位置と、レーザ光の焦点位置とを近づけることができ、位置調整を容易に行うことができるという効果がある。また、調整対象面を、レーザ光の焦点位置からあえてずらし、調査対象面に照射されるレーザ光の密度を減少させようとする場合には、調整用マークが基準点からずれるように、被測定物の光軸方向位置とレーザ光の焦点位置との位置関係を調整すれば良いので、この場合にも、位置調整を容易に行うことができる。
2 レーザ発振器(レーザ光源)
3 被測定物
3a 表面(調整対象面)
4 対物レンズ(導光光学系)
5 プラズマ
12a 標示マーク投影部(基準点標示手段)
12b,12c 調整用マーク投影部(調整用マーク投影手段)
14b,14c 調整用ポインタ(調整用マーク)
16 ライン状の光
17 平面(面)
22a,22b 標示マーク投影部(基準点標示手段)
24 基準点ポインタ(基準点標示手段)
P 基準点
Claims (4)
- 調整対象面における所定の基準点を標示する基準点標示手段と、
前記調整対象面に交わる第1方向における前記調整対象面の位置が、既定位置に近いほど、前記基準点標示手段により標示される前記基準点に近い位置に、ライン状の調整用マークを投影する調整用マーク投影手段とを備え、
前記調整用マーク投影手段は、
前記既定位置と、前記調整対象面上の基準点の第1方向位置とが一致する状態において、前記基準点標示手段により標示される基準点に、前記ライン状の調整用マークを投影するものであって且つ、
前記基準点を通り前記第1方向を法線とする面に投影されるライン状の調整用マークの長手方向と前記第1方向とに平行な面に対して斜めの方向に進行するライン状の光を、前記調整対象面へ向けて照射することにより、前記ライン状の調整用マークを投影するものである
ことを特徴とする位置調整装置。 - 前記調整用マーク投影手段は、
互いに交差する少なくとも2本のライン状の調整用マークを前記調整対象面へ投影するものであり、
前記調整対象面における基準点の第1方向位置が前記既定位置に一致する場合、前記少なくとも2本のライン状の調整用マークは、前記基準点で交差することを特徴とする請求項1記載の位置調整装置。 - 前記基準点標示手段は、
前記調整対象面上の基準点を交点とする十字状の標示マークを、前記調整対象面へ投影するものであることを特徴とする請求項1または2記載の位置調整装置。 - レーザ光を被測定物に照射し、被測定物に含まれる成分をプラズマ化させて分析することにより、被測定物に含まれる成分を分析する発光分光分析装置であって、
請求項1から3のいずれか1項に記載の位置調整装置と、
レーザ光を出射するレーザ光源と、
そのレーザ光源からのレーザ光を被測定物に案内する導光光学系と、
を備え、
前記調整対象面は、前記被測定物の表面であることを特徴とする発光分光分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008147697A JP5361036B2 (ja) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | 位置調整装置および発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008147697A JP5361036B2 (ja) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | 位置調整装置および発光分光分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009294070A JP2009294070A (ja) | 2009-12-17 |
JP5361036B2 true JP5361036B2 (ja) | 2013-12-04 |
Family
ID=41542374
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008147697A Expired - Fee Related JP5361036B2 (ja) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | 位置調整装置および発光分光分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5361036B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107297568A (zh) * | 2016-05-16 | 2017-10-27 | 科莱宝株式会社 | 打标状态测定装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6361147B2 (ja) * | 2014-01-29 | 2018-07-25 | 横浜ゴム株式会社 | スイング測定方法およびスイング測定装置 |
KR101901207B1 (ko) * | 2018-02-13 | 2018-09-21 | 한국원자력기술 주식회사 | 수소가스 원격 탐지 시스템의 검출위치 매칭 방법 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6180212A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-23 | Nec Corp | 自動焦点検出機構 |
DE3718672A1 (de) * | 1987-06-04 | 1988-12-15 | Metallgesellschaft Ag | Verfahren zur analyse von metallteilchen |
US5773721A (en) * | 1996-07-31 | 1998-06-30 | General Electric Company | Laser beam aiming apparatus for ultrasonic inspection |
JP2004114085A (ja) * | 2002-09-25 | 2004-04-15 | Sunx Ltd | レーザマーキング装置及びそのレンズユニット |
JP4705437B2 (ja) * | 2005-08-31 | 2011-06-22 | 株式会社キーエンス | レーザ加工装置及びレーザ加工装置の焦点位置指示方法 |
JP5157089B2 (ja) * | 2006-06-16 | 2013-03-06 | オムロン株式会社 | 補助光照射装置およびレーザ装置 |
-
2008
- 2008-06-05 JP JP2008147697A patent/JP5361036B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107297568A (zh) * | 2016-05-16 | 2017-10-27 | 科莱宝株式会社 | 打标状态测定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009294070A (ja) | 2009-12-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5461924B2 (ja) | X線分析装置及びx線分析方法 | |
KR101739597B1 (ko) | 형광 x 선 분석 장치 및 형광 x 선 분석 방법 | |
US7970101B2 (en) | X-ray analyzer and X-ray analysis method | |
JP5269521B2 (ja) | X線分析装置及びx線分析方法 | |
KR102354765B1 (ko) | 형광 x 선 분석 장치 및 그 측정 위치 조정 방법 | |
JP2008119716A (ja) | レーザ加工装置およびレーザ加工装置における焦点維持方法 | |
US20150292866A1 (en) | Film thickness measurement device and method | |
JP2011235347A5 (ja) | ||
JP6320814B2 (ja) | X線分析装置 | |
JP5361036B2 (ja) | 位置調整装置および発光分光分析装置 | |
CN103506757B (zh) | 用于将激光对准于工件表面的激光装置和方法 | |
JP2017163079A (ja) | レーザー加工装置 | |
JP6670054B2 (ja) | 位置補正用治具、x線位置計測装置、及びx線の光軸合わせ方法 | |
JP4634413B2 (ja) | 測定装置 | |
KR102143187B1 (ko) | 레이저 가공 장치 및 이를 이용한 레이저 가공 방법 | |
WO2020241061A1 (ja) | 三次元計測装置及び三次元計測方法 | |
JP2016015371A (ja) | 厚さ測定装置、厚さ測定方法及び露光装置 | |
JP2008256440A (ja) | 分析装置 | |
JP2019074477A (ja) | 光走査高さ測定装置 | |
CA2824940A1 (en) | An emission spectrometer and method of operation | |
JPH05332934A (ja) | 分光装置 | |
JP2006275901A (ja) | 結晶評価装置および結晶評価方法 | |
EP2333501B1 (en) | Apparatus and method for automatic optical realignment | |
JP2006214900A (ja) | ラマン分光装置及びラマン分光測定方法 | |
WO2024058654A1 (en) | Determining a position of a tool in a work area of a bond tester |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110428 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121018 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121030 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130806 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130902 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |