JP5347460B2 - 二次電池保護用集積回路装置及び二次電池保護用集積回路装置の検査方法 - Google Patents
二次電池保護用集積回路装置及び二次電池保護用集積回路装置の検査方法 Download PDFInfo
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Description
入力されたクロックパルスに基づいて、各内部回路(40〜120)の遅延時間を生成する遅延時間生成手段(20)と、
検査時クロックパルスが外部から入力可能な遅延時間短縮端子(DS)と、
通常動作時には、前記内部発振器(10)と前記遅延時間生成手段(20)とを接続して前記動作時クロックパルスに基づいて前記遅延時間が生成されるようにし、電気的性能の検査時には、前記遅延時間短縮端子(DS)と前記遅延時間生成手段(20)とを接続して前記検査時クロックパルスに基づいて前記遅延時間が生成されるようにする接続切替手段(SW)と、
前記遅延時間短縮端子(DS)に接続されたシフトレジスタ(30)と、を有し、
該シフトレジスタ(30)は、前記遅延時間短縮端子(DS)に入力された前記検査クロックパルスをカウントし、
前記接続切替手段(SW)は、前記シフトレジスタ(30)でカウントされた前記検査クロックパルスが所定数以上のときに、前記遅延時間短縮端子(DS)と前記遅延時間生成手段(20)とを接続することを特徴とする。
前記検査時クロックパルスは、前記動作時クロックパルスよりも高い周波数のクロックパルスが入力され、前記遅延時間を短縮することを特徴とする。
前記内部発振器(10)は、前記遅延時間短縮端子(DS)に接続されており、前記検査時クロックパルスの代わりに一定電圧が入力された場合には、前記内部発振器(10)により生成される短縮クロックパルスを用いて前記遅延時間の生成を行うことを特徴とする。
該二次電池保護用集積回路装置(150、150a、150b)の遅延時間短縮端子(DS)に、前記二次電池保護用集積回路装置(150、150a、150b)の内部発振回路(10)で生成する動作時クロックパルスよりも高い周波数の検査時クロックパルスを入力し、前記二次電池保護用集積回路装置(150、150a、150b)の内部回路(10)の遅延時間を短縮した状態で電気的特性の検査を行うことを特徴とする。
図4は、比較参考例として、従来の二次電池保護用集積回路装置250の全体構成の一例を示した図である。図4において、内部発振器10は、遅延時間短縮端子DSに接続されるとともに、遅延時間生成手段20に接続されている。また、スイッチSWや、シフトレジスタ30は設けられていない。また、遅延時間短縮端子DSには、外部から、定電圧電源300が接続され、一定電圧が遅延時間短縮端子DSに入力されるようになっている。
20 遅延時間生成手段
30 シフトレジスタ
SW スイッチ
DS 遅延時間短縮端子
40 過充電検出回路
50 過放電検出回路
60 放電過電流検出回路
70 充電過電流検出回路
80、120 論理回路
90 レベルシフト回路
100 短絡検出回路
110 遅延回路
150、150a、150b、250 二次電池保護用集積回路装置
200 検査時クロックパルス供給手段
300 定電圧電源
COUT 充電検出端子
DOUT 放電検出端子
V− 電流検出端子
Claims (4)
- 動作時クロックパルスを発生させる内部発振器と、
入力されたクロックパルスに基づいて、各内部回路の遅延時間を生成する遅延時間生成手段と、
検査時クロックパルスが外部から入力可能な遅延時間短縮端子と、
通常動作時には、前記内部発振器と前記遅延時間生成手段とを接続して前記動作時クロックパルスに基づいて前記遅延時間が生成されるようにし、電気的性能の検査時には、前記遅延時間短縮端子と前記遅延時間生成手段とを接続して前記検査時クロックパルスに基づいて前記遅延時間が生成されるようにする接続切替手段と、
前記遅延時間短縮端子に接続されたシフトレジスタと、を有し、
該シフトレジスタは、前記遅延時間短縮端子に入力された前記検査クロックパルスをカウントし、
前記接続切替手段は、前記シフトレジスタでカウントされた前記検査クロックパルスが所定数以上のときに、前記遅延時間短縮端子と前記遅延時間生成手段とを接続することを特徴とする二次電池保護用集積回路装置。 - 前記検査時クロックパルスは、前記動作時クロックパルスよりも高い周波数のクロックパルスが入力され、前記遅延時間を短縮することを特徴とする請求項1に記載の二次電池保護用集積回路装置。
- 前記内部発振器は、前記遅延時間短縮端子に接続されており、前記検査時クロックパルスの代わりに一定電圧が入力された場合には、前記内部発振器により生成される短縮クロックパルスを用いて前記遅延時間の生成を行うことを特徴とする請求項1に記載の二次電池保護用集積回路装置。
- 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の二次電池保護用集積回路装置の検査方法であって、
該二次電池保護用集積回路装置の遅延時間短縮端子に、前記二次電池保護用集積回路装置の内部発振回路で生成する動作時クロックパルスよりも高い周波数の検査時クロックパルスを入力し、前記二次電池保護用集積回路装置の内部回路の遅延時間を短縮した状態で電気的特性の検査を行うことを特徴とする二次電池保護用集積回路装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008307299A JP5347460B2 (ja) | 2008-12-02 | 2008-12-02 | 二次電池保護用集積回路装置及び二次電池保護用集積回路装置の検査方法 |
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JP2010136471A JP2010136471A (ja) | 2010-06-17 |
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JP2008307299A Active JP5347460B2 (ja) | 2008-12-02 | 2008-12-02 | 二次電池保護用集積回路装置及び二次電池保護用集積回路装置の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP5347460B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111564825B (zh) * | 2020-07-09 | 2020-11-17 | 深圳市创芯微微电子有限公司 | 一种电池保护电路 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0519023A (ja) * | 1991-07-11 | 1993-01-26 | Hitachi Ltd | 集積回路装置 |
JP3827136B2 (ja) * | 2000-03-24 | 2006-09-27 | 株式会社リコー | 充放電保護回路、該充放電保護回路を組み込んだバッテリーパック、該バッテリーパックを用いた電子機器 |
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2008
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Publication number | Publication date |
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JP2010136471A (ja) | 2010-06-17 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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