JP5342486B2 - A/d変換器用テスト回路 - Google Patents
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Description
変換対象であるアナログ信号を一連の基礎ディジタルデータに変換するA/D変換器のテスト回路であって、前記A/D変換器と同一基板上に構成されており、
前記基礎ディジタルデータが入力される最大値検出回路、最小値検出回路、及び分散値計算回路を備え、
前記最大値検出回路、前記最小値検出回路、前記分散値計算回路は、それぞれ前記A/D変換器に対する前記アナログ信号の入力開始前に所定の初期値にリセットされる構成であって、
前記最大値検出回路は、前記基礎ディジタルデータが入力される間、逐次保持データと入力データの大小比較を行い、入力データが保持データよりも大きい場合に当該保持データを入力データに更新し、
前記最小値検出回路は、前記基礎ディジタルデータが入力される間、逐次保持データと入力データの大小比較を行い、入力データが保持データよりも小さい場合に当該保持データを入力データに更新し、
前記分散値計算回路は、前記基礎ディジタルデータの分散値計算を行ってそのデータを保持し、
前記基礎ディジタルデータの入力完了後、前記最大値検出回路、前記最小値検出回路、及び前記分散値計算回路の各保持データを、それぞれ前記基礎ディジタルデータの最大値、最小値、及び分散値として外部に出力可能に構成されていることを特徴とする。
前記分散値計算回路は、
前記A/D変換器から出力されるディジタルデータとリファレンス設定回路において設定されたリファレンスデータの差分絶対値を計算する差分絶対値計算回路と、
前記差分絶対値計算回路から出力されるディジタルデータに対して二乗処理を施す二乗回路と、
前記二乗回路から出力される一連の二乗処理後データの平均値を計算する分散用平均値計算回路を備え、
前記分散用平均値計算回路は、
前記A/D変換器によって前記アナログ信号がA/D変換された前記基礎ディジタルデータの平均値を前記リファレンスデータとして設定した状態で、前記A/D変換器によって同一の前記アナログ信号がA/D変換された前記基礎ディジタルデータが前記差分絶対値計算回路に入力される間、前記二乗回路から出力される前記二乗処理後データの平均値計算を行って保持データを更新し、前記差分絶対値計算回路に対する前記基礎ディジタルデータの入力完了後に、この保持データを前記基礎ディジタルデータの分散値として外部に出力可能に構成されている。
前記二乗回路が、前記二乗前処理回路から出力されるディジタルデータに対して二乗処理を施す構成とするのが好ましい。
以後、前記対応コード値を1ずつ増加させて同様に分散値を計算させて前記テスターに出力することで、前記対応コード間で分散値が著しく変化する箇所を検知することでリニアリティ検査を行うことができる。
以下において、別実施形態につき説明する。
2: 最大値検出回路
3: 最小値検出回路
4: 平均値計算回路
5: 分散値計算回路
6: リファレンス設定回路
8: 差分絶対値計算回路
9: 減算器
10: 本発明のテスト回路を搭載した集積回路
11: 絶対値回路
12: 二乗回路
13: 平均値計算回路
15: 二乗前処理回路
16: 上位ビットゼロ判定回路
17: 上位ビット桁落とし回路
18: セレクタ
20: A/D変換器
21: ディジタルデータを利用する集積回路
70: 従来のテスト機能が搭載された集積回路
71: セレクタ
72: D/A変換器
80: 従来のテスト機能が搭載された集積回路
90: 従来のテスト機能が搭載された集積回路
91: テスト回路
92: RAM
Claims (10)
- 変換対象であるアナログ信号を一連の基礎ディジタルデータに変換するA/D変換器用のテスト回路であって、前記A/D変換器と同一基板上に構成されており、
前記基礎ディジタルデータが入力される最大値検出回路、最小値検出回路、及び分散値計算回路を備え、
前記最大値検出回路は、前記基礎ディジタルデータが入力される間、逐次保持データと入力データの大小比較を行い、入力データが保持データよりも大きい場合に当該保持データを入力データに更新し、
前記最小値検出回路は、前記基礎ディジタルデータが入力される間、逐次保持データと入力データの大小比較を行い、入力データが保持データよりも小さい場合に当該保持データを入力データに更新し、
前記分散値計算回路は、前記基礎ディジタルデータの分散値計算を行ってそのデータを保持し、
前記基礎ディジタルデータの入力完了後、前記最大値検出回路、前記最小値検出回路、及び前記分散値計算回路の各保持データを、それぞれ前記基礎ディジタルデータの最大値、最小値、及び分散値として外部に出力可能に構成されていることを特徴とするA/D変換器用テスト回路。 - 前記基礎ディジタルデータが入力される平均値計算回路を備え、
前記平均値計算回路は、前記基礎ディジタルデータが入力される間、逐次平均値計算を行って保持データを更新し、前記基礎ディジタルデータの入力完了後に、この保持データを前記基礎ディジタルデータの平均値として外部に出力可能に構成されていることを特徴とする請求項1に記載のA/D変換器用テスト回路。 - 前記分散値計算回路は、
前記A/D変換器から出力されるディジタルデータとリファレンス設定回路において設定されたリファレンスデータの差分絶対値を計算する差分絶対値計算回路と、
前記差分絶対値計算回路から出力されるディジタルデータに対して二乗処理を施す二乗回路と、
前記二乗回路から出力される一連の二乗処理後データの平均値を計算する分散用平均値計算回路を備え、
前記分散用平均値計算回路は、
前記A/D変換器によって前記アナログ信号がA/D変換された前記基礎ディジタルデータの平均値を前記リファレンスデータとして設定した状態で、前記A/D変換器によって同一の前記アナログ信号がA/D変換された前記基礎ディジタルデータが前記差分絶対値計算回路に入力される間、前記二乗回路から出力される前記二乗処理後データの平均値計算を行って保持データを更新し、前記差分絶対値計算回路に対する前記基礎ディジタルデータの入力完了後に、この保持データを前記基礎ディジタルデータの分散値として外部に出力可能に構成されていることを特徴とする請求項2に記載のA/D変換器用テスト回路。 - 前記分散値計算回路は、
前記A/D変換器から出力されるディジタルデータとリファレンス設定回路において設定されたリファレンスデータの差分絶対値を計算する差分絶対値計算回路と、
前記差分絶対値計算回路から出力されるディジタルデータに対して二乗処理を施す二乗回路と、
前記A/D変換器の出力データと前記二乗回路の出力データのいずれか一方を選択して出力するセレクタと、
前記セレクタから入力される一連のディジタルデータの平均値を計算する平均値計算回路を備え、
前記平均値計算回路は、
前記セレクタによって前記A/D変換器の出力データが選択されている場合において、前記A/D変換器によって前記アナログ信号がA/D変換された前記基礎ディジタルデータが入力される間にわたって、平均値計算を行って保持データを更新し、前記基礎ディジタルデータの入力完了後に、この保持データを前記基礎ディジタルデータの平均値として出力可能な構成であると共に、
前記セレクタによって前記二乗回路の出力データが選択されている場合において、前記基礎ディジタルデータの平均値を前記リファレンスデータとして設定した状態で、前記A/D変換器によって同一の前記アナログ信号がA/D変換された前記基礎ディジタルデータが前記差分絶対値計算回路に入力される間にわたって、逐次前記二乗回路から出力される一連の二乗処理後データの平均値計算を行って保持データを更新し、前記差分絶対値計算回路に対する前記基礎ディジタルデータの入力完了後に、この保持データを前記基礎ディジタルデータの分散値として外部に出力可能に構成されていることを特徴とする請求項1に記載のA/D変換器用テスト回路。 - 前記分散値計算回路は、前記差分絶対値計算回路から出力されるディジタルデータのうち、所定数の上位ビットが全て0であるかどうかを判定し、全て0である場合に当該上位ビットを欠落させた残りの下位ビットを出力する二乗前処理回路を有し、
前記二乗回路が、前記二乗前処理回路から出力されるディジタルデータに対して二乗処理を施すことを特徴とする請求項3に記載のA/D変換器用テスト回路。 - 前記分散値計算回路は、前記差分絶対値計算回路から出力されるディジタルデータのうち、所定数の上位ビットが全て0であるかどうかを判定し、全て0である場合に当該上位ビットを欠落させた残りの下位ビットを出力する二乗前処理回路を有し、
前記二乗回路が、前記二乗前処理回路から出力されるディジタルデータに対して二乗処理を施すことを特徴とする請求項4に記載のA/D変換器用テスト回路。 - 前記所定数の上位ビットが、前記A/D変換器から出力されるディジタルデータの最大ビット数の1/2であることを特徴とする請求項6に記載のA/D変換器用テスト回路。
- 前記リファレンス設定回路が、設定するリファレンス値のカウントアップ若しくはカウントダウン若しくはその両者の実行が可能な構成であることを特徴とする請求項3〜7の何れか1項に記載のA/D変換器用テスト回路。
- 前記最大値検出回路は、前記基礎ディジタルデータが入力される間、逐次保持データと入力データの大小比較を行い、入力時点での保持データよりも大きく、且つ入力データと保持データの差が所定値以下である場合に限り当該保持データを入力データに更新する制限機能を有することを特徴とする請求項1〜8の何れか1項に記載のA/D変換器用テスト回路。
- 前記最小値検出回路は、前記基礎ディジタルデータが入力される間、逐次保持データと入力データの大小比較を行い、入力時点での保持データよりも小さく、且つ、入力データと保持データの差が所定値以下である場合に限り当該保持データを入力データに更新する制限機能を有することを特徴とする請求項1〜9の何れか1項に記載のA/D変換器用テスト回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010072615A JP5342486B2 (ja) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | A/d変換器用テスト回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010072615A JP5342486B2 (ja) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | A/d変換器用テスト回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011205535A JP2011205535A (ja) | 2011-10-13 |
JP5342486B2 true JP5342486B2 (ja) | 2013-11-13 |
Family
ID=44881664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010072615A Expired - Fee Related JP5342486B2 (ja) | 2010-03-26 | 2010-03-26 | A/d変換器用テスト回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5342486B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019193067A (ja) * | 2018-04-24 | 2019-10-31 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05211442A (ja) * | 1992-01-30 | 1993-08-20 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | アナログ・ディジタル変換器の試験方法 |
JP4022978B2 (ja) * | 1998-03-13 | 2007-12-19 | ソニー株式会社 | アナログ/ディジタル変換回路測定装置 |
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2010
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011205535A (ja) | 2011-10-13 |
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