JP5291767B2 - ファイバ測定装置 - Google Patents
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Description
ファイバに出力したレーザ光の戻り光を検出する光検出部と、
この光検出部が検出した前記戻り光の信号のうち前記レーザ光の周波数成分を抽出する帯域制限回路と、
この帯域制限回路により帯域制限がされた信号の波形を微分して、微分した信号を微分する前の信号に加算する微分加算回路を有する波形等化回路とを備えたファイバ測定装置において、
前記帯域制限回路と前記波形等化回路とを有する狭帯域測定回路と、
前記ファイバからの戻り光を増幅して、この戻り光の損失から前記ファイバの特性を測定する広帯域測定回路と、
前記狭帯域測定回路と前記広帯域測定回路とを切り替えるスイッチと、
を備えていることを特徴とする。
そして、長距離のファイバの測定を高分解能に行うときには狭帯域測定回路を選択し、広範囲の区間のファイバの測定を行うときには広帯域測定回路を用いるようにスイッチ制御を行うことで、長距離且つ高分解能の測定と広範囲の測定とを1台の装置で対応することができるようになる。
2、2−1〜2−32 ファイバ
4 レーザダイオード
6 フォトディテクタ
7 狭帯域測定回路
8 広帯域測定回路
9 制御処理回路
10 表示装置
11 変換増幅回路
12 帯域制限回路
13 バイアス回路
14 増幅回路
15 波形等化回路
21 可変電圧源
22 ダイオード
23 抵抗
24 コンデンサ
31 第1微分回路
32 加算回路
33 第2微分回路
34 減算回路
40 分岐装置
41 端末
42 反射装置
S1〜S4 スイッチ
Claims (3)
- ファイバに出力したレーザ光の戻り光を検出する光検出部と、
この光検出部が検出した前記戻り光の信号のうち前記レーザ光の周波数成分を抽出する帯域制限回路と、
この帯域制限回路により帯域制限がされた信号の波形を微分して、微分した信号を微分する前の信号に加算する微分加算回路を有する波形等化回路とを備えたファイバ測定装置において、
前記帯域制限回路と前記波形等化回路とを有する狭帯域測定回路と、
前記ファイバからの戻り光を増幅して、この戻り光の損失から前記ファイバの特性を測定する広帯域測定回路と、
前記狭帯域測定回路と前記広帯域測定回路とを切り替えるスイッチと、
を備えていることを特徴とするファイバ測定装置。 - 前記波形等化回路は、前記微分加算回路により得られた信号の波形を微分して、微分する前の信号から微分した後の信号を減算する微分減算回路を有すること
を特徴とする請求項1記載のファイバ測定装置。 - 前記信号のピークレベルを表示可能にするために、前記信号をバイアスするバイアス回路、
を備えていることを特徴とする請求項1または2記載のファイバ測定装置。
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