JP5278757B2 - Laser gas analyzer - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser type gas analyzer having an inexpensive and simple structure and measuring a gas component such as SO<SB>2</SB>, NO, or NO<SB>2</SB>, which has a light absorbing spectrum inherent to a medium infrared region which has been impossible to be measured heretofore. <P>SOLUTION: In the laser type gas analyzer, a laser drive signal generating part makes an output time of an offset signal S2 long with respect to an output time of a variable drive signal S1 of a wavelength scanning drive signal to shorten a heat generating time of a laser element and a temperature stabilizing means performs the temperature adjustment of a light source and a light detecting part so as to set a stable range temperature stabilizing the light source and the light detecting part to stably perform the detection and emission of light. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、煙道内の各種の測定対象ガスの有無や濃度を分析するレーザ式ガス分析計に関する。   The present invention relates to a laser gas analyzer that analyzes the presence and concentration of various gases to be measured in a flue.

従来技術のレーザ式ガス分析計について説明する。まずレーザ式ガス分析計のガス濃度測定原理について説明する。図5はNHガスの吸収スペクトラム例を示す特性図である。気体状のガス分子には、それぞれ固有の光吸収スペクトルがあることが知られており、例えば、この図5のNH(アンモニア)ガスの吸収スペクトラムの特性図に示すように、波長別に吸収量が相違する。 A conventional laser gas analyzer will be described. First, the principle of gas concentration measurement of the laser gas analyzer will be described. FIG. 5 is a characteristic diagram showing an example of an absorption spectrum of NH 3 gas. It is known that each gaseous gas molecule has a unique optical absorption spectrum. For example, as shown in the characteristic diagram of the absorption spectrum of NH 3 (ammonia) gas in FIG. Is different.

そこで、レーザ式ガス分析計は、レーザ光をガスに照射し、特定波長のレーザ光をガスの濃度に比例して吸収させ、この吸収量に基づいてガス濃度を測定する。このようなレーザ式ガス分析計の測定方式は、さらに、2波長差分方式と周波数変調方式とに大別される。本発明は周波数変調方式に関するものである。   Therefore, the laser gas analyzer irradiates the gas with laser light, absorbs the laser light having a specific wavelength in proportion to the gas concentration, and measures the gas concentration based on the amount of absorption. Measurement methods of such a laser gas analyzer are broadly divided into a two-wavelength difference method and a frequency modulation method. The present invention relates to a frequency modulation system.

つづいて、周波数変調方式のレーザ式ガス分析計の計測原理について説明する。図6は、周波数変調方式の原理図を示している。この周波数変調方式のレーザ式ガス分析計では、中心周波数f、変調周波数fで半導体レーザの出射光を周波数変調し、測定対象ガスに照射する。ここで、周波数変調とは、半導体レーザに供給するドライブ電流の波形を正弦波状にすることである。 Next, the measurement principle of the frequency modulation type laser gas analyzer will be described. FIG. 6 shows a principle diagram of the frequency modulation method. The laser gas analyzer of the frequency modulation method, the center frequency f c, the output light of the semiconductor laser is frequency-modulated at a modulation frequency f m, is irradiated to the measurement target gas. Here, the frequency modulation is to make the waveform of the drive current supplied to the semiconductor laser sine wave.

周波数変調方式で距離の影響をキャンセルするためには、半導体レーザ素子の出力を周波数変調すると同時に周波数fで振幅変調を行えばよいのであるが、半導体レーザ素子の出力に周波数変調を掛けると振幅変調も掛かるので、これが利用できる。 To cancel the effect of the distance in the frequency modulation method is at the same time the frequency f m if the frequency modulated output of the semiconductor laser device is the may be performed amplitude modulation and multiplied by frequency modulation to the output of the semiconductor laser element amplitude This can also be used since it is also modulated.

図6に示したように、ガスの吸収線は変調周波数に対してほぼ2次関数となっているので、この吸収線が弁別器の役割を果たし、受光部では変調周波数fの2倍の周波数の信号(2倍周波数信号)が得られる。ここで、変調周波数fは任意の周波数で良いため、例えば、変調周波数fを数kHz程度に選ぶと、ディジタル信号処理装置(DSP)または汎用のプロセッサを用いて、2倍周波数信号の抽出等の高度な信号処理を行うことが可能になる。 As shown in FIG. 6, since the absorption lines of the gas is almost quadratic function with respect to the modulation frequency, the absorption line plays the role of a discriminator, the light receiving portion of the double modulation frequency f m A frequency signal (double frequency signal) is obtained. Since the modulation frequency f m good at any frequency, for example, choose the modulation frequency f m to several kHz, a digital signal processor (DSP) or using a general-purpose processor, extraction of the double frequency signal It is possible to perform advanced signal processing such as.

また、受光部によりエンベロープ検波を行えば振幅変調による基本波を推定でき、この基本波の振幅と前記2倍周波数信号の振幅との比を位相同期させて検出することで、距離に関係なく測定対象ガス濃度に比例した信号を得ることができる。   In addition, if envelope detection is performed by the light receiving unit, the fundamental wave by amplitude modulation can be estimated, and the ratio between the amplitude of the fundamental wave and the amplitude of the double frequency signal can be detected in phase synchronization to measure regardless of the distance. A signal proportional to the target gas concentration can be obtained.

つづいて、周波数変調方式のレーザ式ガス分析計の構造について説明する。図7は従来技術のレーザ式ガス分析計を示す構造図であって、全体的な構成を示している。同図において、フランジ201a,201bは、例えば、煙道のように測定対象ガスが内部を通流する配管などの壁101a,101bに溶接等によって固定されている。一方のフランジ201aには、取付座202aを介して有底円筒状のカバー203aが取り付けられている。   Next, the structure of the frequency modulation type laser gas analyzer will be described. FIG. 7 is a structural diagram showing a laser gas analyzer of the prior art and shows the overall configuration. In the figure, flanges 201a and 201b are fixed by welding or the like to walls 101a and 101b such as pipes through which the gas to be measured flows, such as a flue. A bottomed cylindrical cover 203a is attached to one flange 201a via a mounting seat 202a.

カバー203aの内部には光源部204が配置されており、この光源部204から出射したレーザ光はコリメートレンズ205を含む光源側光学系によって平行光にコリメートされ、フランジ201aの中心を通って壁101a,101bの内部(煙道内部)へ入射される。前記平行光は、壁101a,101bの内部にある測定対象ガスを透過する際に吸収を受ける。   A light source unit 204 is disposed inside the cover 203a. Laser light emitted from the light source unit 204 is collimated into parallel light by a light source side optical system including a collimator lens 205, passes through the center of the flange 201a, and passes through the wall 101a. , 101b (inside the flue). The parallel light is absorbed when it passes through the measurement target gas inside the walls 101a and 101b.

他方のフランジ201bには、取付座202bを介して有底円筒状のカバー203bが取り付けられている。煙道内部を通過した平行光は、カバー203b内部の受光側光学系である集光レンズ206により集光されて受光部207により受光され、電気信号に変換されて後段の信号処理回路208に入力される。   A bottomed cylindrical cover 203b is attached to the other flange 201b via a mounting seat 202b. The parallel light passing through the inside of the flue is condensed by a condensing lens 206 that is a light receiving side optical system inside the cover 203b, received by a light receiving unit 207, converted into an electric signal, and input to a signal processing circuit 208 at a subsequent stage. Is done.

次に、光源部について説明する。図8は光源部204の構成を示している。この光源部204は、測定対象ガスの吸収波長を走査するようにレーザ素子の発光波長を可変とする波長走査駆動信号発生部204aと、測定対象ガスの吸収波長を検出するために、例えば10kHz程度の正弦波で波長を周波数変調するための高調波変調信号発生部204bと、からなるレーザ駆動信号発生部204sを備えており、これらの信号発生部204a,204bの出力信号が合成されてレーザ駆動信号が生成されるようになっている。上記レーザ駆動信号は電流制御部204cにより電流に変換され、半導体レーザからなるレーザ素子204eに供給される。   Next, the light source unit will be described. FIG. 8 shows the configuration of the light source unit 204. The light source unit 204 includes a wavelength scanning drive signal generation unit 204a that changes the emission wavelength of the laser element so as to scan the absorption wavelength of the measurement target gas, and about 10 kHz, for example, to detect the absorption wavelength of the measurement target gas. And a laser drive signal generator 204 s composed of a harmonic modulation signal generator 204 b for frequency-modulating the wavelength with a sine wave, and the output signals of these signal generators 204 a and 204 b are combined to perform laser drive. A signal is generated. The laser drive signal is converted into a current by the current control unit 204c and supplied to the laser element 204e made of a semiconductor laser.

また、レーザ素子204eには温度安定化手段が設けられている。この温度安定化手段は、温度制御部204d、サーミスタ204f、ペルチェ素子204gを備える。レーザ素子204eに近接して温度検出素子としてのサーミスタ204fが配置され、このサーミスタ204fにはペルチェ素子204gが近接して配置されている。このペルチェ素子204gは、サーミスタ204fの抵抗値が一定値になるように温度制御部204dによって制御され、結果としてレーザ素子204eの温度を安定化するように動作するものである。   The laser element 204e is provided with temperature stabilization means. This temperature stabilization means includes a temperature control unit 204d, a thermistor 204f, and a Peltier element 204g. A thermistor 204f as a temperature detection element is disposed in the vicinity of the laser element 204e, and a Peltier element 204g is disposed in the vicinity of the thermistor 204f. The Peltier element 204g is controlled by the temperature control unit 204d so that the resistance value of the thermistor 204f becomes a constant value, and as a result, operates so as to stabilize the temperature of the laser element 204e.

ここで、波長走査駆動信号発生部204aから出力される波長走査駆動信号は、図9に示すように、一定周期で繰り返されるほぼ台形波状の信号である。
図9において、信号S1は、吸収波長を走査する信号であり、電流制御部204cを介してレーザ素子204eに供給される電流の大きさを直線的に変えることにより、レーザ素子204eの発光波長を徐々にずらしていき、走査可能とする部分である。例えばアンモニアガスであれば、0.2nm程度の線幅を走査可能とする部分である。
また、信号S2は、吸収波長は走査しないがレーザ素子204eは発光させておくオフセット部分であり、レーザ素子204eの発光が安定するスレッショルド電流値以上の値にしておく。
また、信号S3は駆動電流をほぼ0にしたトリガ部分である。
Here, as shown in FIG. 9, the wavelength scanning drive signal output from the wavelength scanning drive signal generation unit 204a is a substantially trapezoidal signal repeated at a constant cycle.
In FIG. 9, a signal S1 is a signal for scanning the absorption wavelength, and the emission wavelength of the laser element 204e is changed by linearly changing the magnitude of the current supplied to the laser element 204e via the current control unit 204c. This is a part that is gradually shifted to enable scanning. For example, in the case of ammonia gas, it is a portion that can scan a line width of about 0.2 nm.
The signal S2 is an offset portion that does not scan the absorption wavelength but causes the laser element 204e to emit light, and is set to a value equal to or higher than a threshold current value at which the light emission of the laser element 204e is stabilized.
The signal S3 is a trigger portion where the drive current is almost zero.

そして、このような波長走査駆動信号発生部204aから出力される波長走査駆動信号に対し、高周波変調信号発生部204bからの高周波変調信号を合成して、レーザ駆動信号を生成する。このレーザ駆動信号は、図10で示すように、高周波変調信号の周波数を10kHz、波長走査駆動信号の周波数を50Hzとしてあり、λはオフセットに相当する波長、λ,λはNHガスの吸収波長に相当する走査範囲の上下限値を示している。 Then, the laser scanning signal is generated by synthesizing the high frequency modulation signal from the high frequency modulation signal generating unit 204b with the wavelength scanning driving signal output from the wavelength scanning driving signal generating unit 204a. As shown in FIG. 10, the laser drive signal has a high frequency modulation signal frequency of 10 kHz, a wavelength scanning drive signal frequency of 50 Hz, λ 1 is a wavelength corresponding to an offset, and λ 2 and λ 3 are NH 3 gas. The upper and lower limit values of the scanning range corresponding to the absorption wavelength are shown.

次に、図11は、受光部207および信号処理回路208の構成を示している。
なお、受光部207は例えばフォトダイオードによって構成されており、レーザ素子204eの発光波長に感度を持つ受光素子が使用される。この受光部207の出力電流はI/V変換器208aにより電圧に変換され、発振器208cからの2f信号(2倍波信号)が加えられる同期検波回路208bに入力される。
Next, FIG. 11 shows the configuration of the light receiving unit 207 and the signal processing circuit 208.
Note that the light receiving unit 207 is formed of, for example, a photodiode, and a light receiving element having sensitivity to the emission wavelength of the laser element 204e is used. The output current of the light receiving unit 207 is converted into a voltage by the I / V converter 208a and input to the synchronous detection circuit 208b to which the 2f signal (double wave signal) from the oscillator 208c is added.

同期検波回路208bにおいて、測定対象ガスによるレーザ光の吸収が無い場合は、同期検波回路208bによって2倍波信号が検出されないので、同期検波回路208bの出力はほぼ直線となる。
一方、測定対象ガスによるレーザ光の吸収がある場合は、同期検波回路208bによって出射光の変調信号の2倍周波数成分の振幅のみが抽出された信号である2倍波信号が検出される。その出力波形は図10の長方形の枠内に図示された同期検波回路208bの出力波形に示すようになる。この振幅はフィルタ208dによりノイズが除去され、適宜増幅して後段のCPUやDSP等である演算処理部209へ出力される。この同期検波回路208bの出力波形のピーク値が測定対象ガスの濃度に相当するため、ピーク値を測定するか、あるいは波形の一部または全部を積分してその積分値から測定対象ガスの濃度を検出すればよい。
In the synchronous detection circuit 208b, when the laser light is not absorbed by the measurement target gas, the double detection signal is not detected by the synchronous detection circuit 208b, and therefore the output of the synchronous detection circuit 208b is almost a straight line.
On the other hand, when the laser light is absorbed by the measurement target gas, a double wave signal that is a signal obtained by extracting only the amplitude of the double frequency component of the modulation signal of the emitted light is detected by the synchronous detection circuit 208b. The output waveform is as shown in the output waveform of the synchronous detection circuit 208b shown in the rectangular frame of FIG. Noise is removed from the amplitude by the filter 208d, and the amplitude is appropriately amplified and output to the arithmetic processing unit 209 such as a CPU or DSP in the subsequent stage. Since the peak value of the output waveform of the synchronous detection circuit 208b corresponds to the concentration of the measurement target gas, the peak value is measured, or part or all of the waveform is integrated and the concentration of the measurement target gas is determined from the integrated value. What is necessary is just to detect.

次いで、測定対象ガスの濃度測定方法について述べる。
まず、事前に、図8のレーザ素子204eの温度をサーミスタ204fにより検出し、図9に示した波長走査駆動信号のS1の中心部分で測定対象ガス(例えばNHガス)が測定できる(所定の吸収特性が得られる)ように、図8の温度制御部204dによりペルチェ素子204gの通電を制御してレーザ素子204eの温度を調整する。ペルチェ素子204gはサーミスタ204fの抵抗値が一定値になるようにPID制御等で制御される。そのような設定条件で、レーザ素子204eを駆動し、壁101a,101bの内部の測定対象ガスが存在する空間にレーザ光を出射し、集光した光を受光部207へ入射させ、上記のような信号処理を行ってガス分析を行う。以上のように本実施形態によれば、光源部204によりレーザ素子204eの発光波長を所定範囲にわたって走査して測定対象ガスによりガス濃度を測定することが可能となる。
Next, a method for measuring the concentration of the measurement target gas will be described.
First, the temperature of the laser element 204e in FIG. 8 is detected by the thermistor 204f in advance, and the measurement target gas (for example, NH 3 gas) can be measured at the central portion of S1 of the wavelength scanning drive signal shown in FIG. The temperature control unit 204d in FIG. 8 controls the energization of the Peltier element 204g to adjust the temperature of the laser element 204e so that the absorption characteristic can be obtained. The Peltier element 204g is controlled by PID control or the like so that the resistance value of the thermistor 204f becomes a constant value. Under such setting conditions, the laser element 204e is driven, the laser light is emitted into the space where the measurement target gas exists in the walls 101a and 101b, and the condensed light is incident on the light receiving unit 207 as described above. Gas analysis is performed with proper signal processing. As described above, according to the present embodiment, the light source unit 204 can scan the emission wavelength of the laser element 204e over a predetermined range and measure the gas concentration with the measurement target gas.

また、レーザ式ガス分析計の他の従来技術として、例えば、特許文献1(国際公開第WO2008/096524号公報、発明の名称「レーザ式ガス分析計」)に記載の発明が知られている。
特許文献1に記載の従来技術のレーザ式ガス分析計も先に説明した原理と同様に検出を行うものである。
As another conventional technique of a laser gas analyzer, for example, the invention described in Patent Document 1 (International Publication No. WO2008 / 096524, title of the invention “Laser Gas Analyzer”) is known.
The laser gas analyzer of the prior art described in Patent Document 1 also performs detection in the same manner as described above.

国際公開第WO2008/096524号公報International Publication No. WO2008 / 096524

近年、半導体レーザの一種である、室温で連続発振可能な量子カスケードレーザ(以下、Quantum cascade laserの略称であるQCLと称する)が実用化された。QCLは従来の半導体レーザでは実現不可能であった中赤外領域(4〜10μm)という広範囲な領域の波長を発光することができる。このQCLを用いることにより、SO,NO,NO等のように中赤外領域レーザ光に吸収波長が含まれるガス成分を測定するというような、従来技術では不可能であったレーザ式ガス分析計とすることができる。 In recent years, a quantum cascade laser capable of continuous oscillation at room temperature (hereinafter referred to as QCL, which is an abbreviation for quantum cascade laser), which is a kind of semiconductor laser, has been put into practical use. QCL can emit light in a wide range of wavelengths in the mid-infrared region (4 to 10 μm), which could not be realized with conventional semiconductor lasers. By using this QCL, a laser-type gas, such as SO 2 , NO, NO 2, etc., which is impossible in the prior art, such as measuring gas components whose absorption wavelength is included in the mid-infrared laser beam. It can be an analyzer.

図12に、SOガスの吸収スペクトラム例を示す。前記の周波数変調方式と同様の装置構成によって、SO濃度測定を行う場合、QCLの波長は7.2〜7.4μmとすることが好ましい。また、受光素子として、前記波長領域に感度を有する赤外線検出素子、例えばMCT(Mercury_Cadmium_Tellurium)光導電素子(以下、MCTと表記する)を用いることが好ましい。
図13にSO濃度測定時の同期検波回路208bの出力を示す。この出力のピーク振幅を計測することにより、SO濃度測定が可能となる。
FIG. 12 shows an example of the absorption spectrum of SO 2 gas. In the case where SO 2 concentration measurement is performed using the same apparatus configuration as that of the frequency modulation method, the QCL wavelength is preferably set to 7.2 to 7.4 μm. As the light receiving element, it is preferable to use an infrared detecting element having sensitivity in the wavelength region, for example, an MCT (Mercury_Cadmium_Tellurium) photoconductive element (hereinafter referred to as MCT).
FIG. 13 shows the output of the synchronous detection circuit 208b when measuring the SO 2 concentration. By measuring the peak amplitude of this output, the SO 2 concentration can be measured.

さてQCLは従来のレーザ式ガス分析計で使用している半導体レーザと比較して、大きな駆動電流を必要とするため、光源部204の放熱量が大きくなり、発光が安定しなくなるという特性がある。
また、MCTは300Kの背景放射によるノイズを受けることや周囲温度の変化により感度が変動するといった特性がある。
図14にノイズや温度を考慮しないときのSO濃度測定例を示す。このように、測定安定性が得られない場合があるが、これはQCLやMCTの前記特性が一因であると考えられる。
Now, QCL requires a larger driving current than a semiconductor laser used in a conventional laser gas analyzer, so that the heat radiation of the light source unit 204 becomes large, and light emission becomes unstable. .
In addition, MCT has characteristics such that it receives noise due to background radiation of 300K, and sensitivity changes due to changes in ambient temperature.
FIG. 14 shows an example of SO 2 concentration measurement when noise and temperature are not taken into consideration. Thus, measurement stability may not be obtained, but this is considered to be due to the above characteristics of QCL and MCT.

そこで、このような現象を防止するためには、高度なノイズ対策や温調制御が必要であるが、信号処理回路や冷却性能に関する発光部および受光部の装置構成が複雑かつ高コストになってしまうという問題があった。特にQCLを連続発光する場合は、光源部の発熱が過大となり、従来の構成では放熱不足となることからペルチェ素子による温度制御が困難であった。   Therefore, in order to prevent such a phenomenon, advanced noise countermeasures and temperature control are required, but the device configuration of the light emitting unit and the light receiving unit relating to the signal processing circuit and the cooling performance becomes complicated and expensive. There was a problem that. In particular, when QCL emits light continuously, the heat generation of the light source part is excessive, and the heat dissipation is insufficient in the conventional configuration, so that temperature control by the Peltier element is difficult.

そのためQCLを用いる場合には、例えば図15に示すように、フランジ301、レンズホルダ302、レーザマウント303、発光部回路ボックス306を有する発光部に対し、放熱フィン304、空冷ファン305により冷却している。このように放熱フィン304や空冷ファン305等を追加して設ける必要があり、高コストかつ複雑な構造となってしまう。構造の簡素化やコスト低減が要請されている。   Therefore, when QCL is used, for example, as shown in FIG. 15, the light emitting part having the flange 301, the lens holder 302, the laser mount 303, and the light emitting part circuit box 306 is cooled by the heat radiation fin 304 and the air cooling fan 305. Yes. Thus, it is necessary to additionally provide the radiation fins 304, the air cooling fan 305, etc., resulting in a high cost and complicated structure. Simplification of structure and cost reduction are required.

そこで、本発明は上記した問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、安価かつ簡易な構造で、従来では不可能であった中赤外領域に固有の光吸収スペクトルがあるSO,NO,NO等のガス成分を測定するレーザ式ガス分析計を提供することにある。 Therefore, the present invention has been made in view of the above-described problems, and the object thereof is SO 2 , which has a light absorption spectrum unique to the mid-infrared region, which has been impossible in the past, with an inexpensive and simple structure. An object of the present invention is to provide a laser type gas analyzer that measures gas components such as NO and NO 2 .

本発明の請求項1に係るレーザ式ガス分析計は、
周波数変調された中赤外領域レーザ光を出射する光源部と、この光源部からの出射光をコリメートする光源側光学系と、この光源側光学系から測定対象ガスが存在する空間を介して伝播された透過光を集光する受光側光学系と、この受光側光学系により集光された光を受光する受光部と、この受光部の出力信号を処理する信号処理回路と、を有し、前記信号処理回路が、前記受光部の出力信号に基づいて測定対象ガスの濃度を測定するレーザ式ガス分析計において、
前記光源部は、
中赤外領域レーザ光を発光するレーザ素子と、
ペルチェ素子により前記レーザ素子の温度を安定化させる温度安定化手段と、
前記レーザ素子への供給電流を直線的に変化させて前記レーザ素子の発光波長を徐々に変化させる信号であって測定対象ガスの吸収波長を走査するように前記レーザ素子の発光波長を可変とする可変駆動信号と、前記レーザ素子のスレッショルド電流値未満の電流を前記レーザ素子に供給するような値の信号であって前記レーザ素子の発熱量を減少させるように前記レーザ素子の発光を停止するオフセット信号と、前記レーザ素子のスレッショルド電流値未満の電流を前記レーザ素子に供給するような値の信号であり、かつ一の前記可変駆動信号および一の前記オフセット信号を挟んで挿入される信号であって同期用のトリガ信号と、からなる単位波形が一定周期で繰り返される信号である波長走査駆動信号に対し、前記発光波長を変調するための高周波変調信号を合成してレーザ駆動信号として出力するレーザ駆動信号発生部と、
このレーザ駆動信号発生部から出力された前記レーザ駆動信号を電流に変換して前記レーザ素子へこの電流を供給する電流制御部と、
を備え、
前記受光部は、
中赤外領域に感度を有する受光素子と、
ペルチェ素子によりこの受光素子の温度を安定化させる温度安定化手段と、
を備え、
前記信号処理回路は、
前記受光部の出力信号から光源部における変調信号の2倍周波数成分の信号の振幅を検出して検出信号を出力する同期検波回路と、
前記受光部の出力信号に含まれるトリガ信号に基づいて前記同期検波回路の前記検出信号からガス吸収波形信号を抽出し、このガス吸収波形信号から測定対象ガスの濃度を検出する手段と、前記受光部の出力信号のうちのトリガ信号に同期しつつ、前記同期検波回路からの前記検出信号をA/D変換してガス吸収波形信号データを生成し、このガス吸収波形信号データの最大値と最小値との差分から測定対象ガス濃度についての濃度データを算出する濃度データ算出手段と、前記受光部の出力信号のうちのトリガ信号に同期しつつ、前記受光部の出力信号のオフセット信号箇所をA/D変換してオフセットデータを生成するオフセットデータ生成手段と、最小値のオフセットデータである基準データおよび前記オフセットデータを用いて変動率データを算出する変動率データ算出手段と、前記変動率データに基づいて前記濃度データを補正して補正濃度データを算出する補正濃度データ算出手段と、を有する演算処理部と、
を備え、
前記レーザ駆動信号発生部は、前記波長走査駆動信号の前記可変駆動信号の出力時間に対して前記オフセット信号の出力時間を長い信号として前記レーザ素子の発熱時間を短縮するとともに、
前記温度安定化手段は、前記光源部および前記受光部を安定化させる安定範囲温度となるように前記光源部および前記受光部の温度調整を行って受発光を安定化させ、かつ、
前記信号処理回路は、前記光源部および前記受光部の特性変動の影響を吸収した補正濃度を算出することを特徴とする。
A laser type gas analyzer according to claim 1 of the present invention comprises:
A light source unit that emits a frequency-modulated mid-infrared laser beam, a light source side optical system that collimates the light emitted from the light source unit, and a light source side optical system that propagates through the space where the measurement target gas exists A light receiving side optical system for collecting the transmitted light, a light receiving unit for receiving the light collected by the light receiving side optical system, and a signal processing circuit for processing an output signal of the light receiving unit, In the laser gas analyzer in which the signal processing circuit measures the concentration of the measurement target gas based on the output signal of the light receiving unit,
The light source unit is
A laser element emitting mid-infrared laser light;
Temperature stabilizing means for stabilizing the temperature of the laser element by a Peltier element ;
A signal for gradually changing the emission wavelength of the laser element by linearly changing the supply current to the laser element, and making the emission wavelength of the laser element variable so as to scan the absorption wavelength of the gas to be measured A variable drive signal and a signal having a value such that a current less than a threshold current value of the laser element is supplied to the laser element, and an offset for stopping the light emission of the laser element so as to reduce the amount of heat generated by the laser element A signal having a value such that a current less than a threshold current value of the laser element is supplied to the laser element, and a signal inserted between the one variable drive signal and the one offset signal. and a trigger signal for synchronization, the unit waveform consisting of the wavelength scanning driving signal is a signal which is repeated at a fixed period, modulating the emission wavelength Te A laser driving signal generator for outputting a laser driving signal by combining the order of the high-frequency modulation signal,
A current controller that converts the laser drive signal output from the laser drive signal generator into a current and supplies the current to the laser element;
With
The light receiving unit is
A light-receiving element having sensitivity in the mid-infrared region;
Temperature stabilization means for stabilizing the temperature of the light receiving element by a Peltier element ;
With
The signal processing circuit includes:
A synchronous detection circuit that detects the amplitude of a signal having a double frequency component of the modulation signal in the light source unit from the output signal of the light receiving unit and outputs a detection signal;
Means for extracting a gas absorption waveform signal from the detection signal of the synchronous detection circuit based on a trigger signal included in an output signal of the light receiving unit, and detecting a concentration of a measurement target gas from the gas absorption waveform signal; The detection signal from the synchronous detection circuit is A / D converted to generate gas absorption waveform signal data in synchronization with the trigger signal among the output signals of the unit, and the maximum value and minimum value of the gas absorption waveform signal data are generated. A concentration data calculation means for calculating concentration data about the gas concentration to be measured from the difference from the value, and an offset signal portion of the output signal of the light receiving unit in synchronization with a trigger signal among the output signals of the light receiving unit A Offset data generating means for generating offset data by performing D / D conversion, reference data that is offset data of the minimum value, and fluctuation using the offset data And variation rate data calculation means for calculating data, a processing unit having a correction density data calculation means for calculating a corrected density data by correcting the density data on the basis of the change rate data,
With
The laser drive signal generator shortens the heat generation time of the laser element by setting the output time of the offset signal as a signal longer than the output time of the variable drive signal of the wavelength scanning drive signal,
The temperature stabilizing means stabilizes the light receiving and emitting I the light source unit and line the temperature adjustment of the light receiving portion to the light source unit and the light receiving portion becomes stable range temperature to stabilize, and,
The signal processing circuit calculates a correction density that absorbs the influence of characteristic variation of the light source unit and the light receiving unit .

また、本発明の請求項2に係るレーザ式ガス分析計は、
請求項1に記載のレーザ式ガス分析計において、
前記光源部の前記レーザ素子は、中赤外領域の波長を発光する量子カスケードレーザ(QCL:Quantum cascade laser)であり、
前記受光部の前記受光素子は、前記波長領域に感度を有するMCT(Mercury_Cadmium_Tellurium)光導電素子であることを特徴とする。
A laser gas analyzer according to claim 2 of the present invention is
The laser gas analyzer according to claim 1, wherein
The laser element of the light source unit is a quantum cascade laser (QCL: Quantum cascade laser) that emits a wavelength in the mid-infrared region,
The light receiving element of the light receiving unit is an MCT (Mercury_Cadmium_Tellurium) photoconductive element having sensitivity in the wavelength region .

また、本発明の請求項3に係るレーザ式ガス分析計は、
請求項1または請求項2に記載のレーザ式ガス分析計において、
前記波長走査駆動信号の前記可変駆動信号の出力時間S1に対して前記オフセット信号の出力時間S2を長い信号としS1:S2=1:4とすることを特徴とする。
A laser gas analyzer according to claim 3 of the present invention is
In the laser type gas analyzer according to claim 1 or 2,
The output time S2 of the offset signal is longer than the output time S1 of the variable drive signal of the wavelength scanning drive signal, and S1: S2 = 1: 4 .

また、本発明の請求項4に係るレーザ式ガス分析計は、
請求項1〜請求項3の何れか一項に記載のレーザ式ガス分析計において、
前記濃度データ算出手段は、ガス吸収波形信号データの最大値と最小値との差分により得た測定対象ガス濃度についての濃度データをZ (i=1,2,・・・,n)とし、
前記オフセットデータ生成手段は、前記受光部の出力信号のうちのトリガ信号に同期しつつ、前記受光部の出力信号のオフセット信号箇所をA/D変換して得たオフセットデータをX (i=1,2,・・・,n)とし、
前記変動率データ算出手段は、最小値のオフセットデータである基準データおよび前記オフセットデータを用いて変動率データY を次式
[数1]
=(X −X min )/X min =X /X min −1
(但し、i=1,2,・・・,n)
により算出し、
前記補正濃度データ算出手段は、前記変動率データに基づいて前記濃度データを次式
[数2]
=Z −cY =Z (1−cY
(但しcは補正係数データ、i=1,2,・・・,n)
により補正して補正濃度データD を算出することを特徴とする。
A laser gas analyzer according to claim 4 of the present invention is
In the laser type gas analyzer according to any one of claims 1 to 3,
The concentration data calculation means sets Z i (i = 1, 2,..., N) as the concentration data on the measurement target gas concentration obtained by the difference between the maximum value and the minimum value of the gas absorption waveform signal data .
The offset data generation means converts the offset data obtained by performing A / D conversion of the offset signal portion of the output signal of the light receiving section to X i (i = 1, 2, ..., n)
The fluctuation rate data calculation means calculates the fluctuation rate data Y i using the reference data that is offset data of the minimum value and the offset data as follows :
[Equation 1]
Y i = (X i -X min ) / X min = X i / X min -1
(However, i = 1, 2,..., N)
Calculated by
The corrected density data calculation means calculates the density data based on the variation rate data by the following formula:
[Equation 2]
D i = Z i -cY i Z i = Z i (1-cY i)
(Where c is correction coefficient data, i = 1, 2,..., N)
It characterized that you calculate the corrected density data D i is corrected by.

本発明によれば、安価かつ簡易な構造で、従来では不可能であった中赤外領域に固有の光吸収スペクトルがあるSO,NO,NO等のガス成分を測定するレーザ式ガス分析計を提供することができる。 According to the present invention, a laser type gas analysis that measures gas components such as SO 2 , NO, NO 2, etc., having a light absorption spectrum unique to the mid-infrared region, which has been impossible in the past, with an inexpensive and simple structure. A total can be provided.

本発明の実施の形態のレーザ式ガス分析計の受光部、信号処理回路および演算処理部の構成図である。It is a block diagram of the light-receiving part, signal processing circuit, and arithmetic processing part of the laser type gas analyzer of embodiment of this invention. 本発明の実施の形態のレーザ式ガス分析計の走査波形を示す図である。It is a figure which shows the scanning waveform of the laser type gas analyzer of embodiment of this invention. オフセットデータを表す信号S4と濃度値との経時変化例を示す図である。It is a figure which shows the example of a time-dependent change of the signal S4 showing offset data, and a density value. 濃度値と補正濃度値との経時変化を示す図である。It is a figure which shows a time-dependent change of a density value and a correction density value. NHガスの吸収スペクトラム例を示す特性図である。NH 3 is a characteristic diagram showing an absorption spectrum of the gas. 周波数変調方式の原理図である。It is a principle diagram of a frequency modulation system. 従来技術(本形態)のレーザ式ガス分析計を示す構造図である。It is a structural diagram which shows the laser type gas analyzer of a prior art (this form). 光源部の構成図である。It is a block diagram of a light source part. 波長走査駆動信号発生部からの出力信号図である。It is an output signal figure from a wavelength scanning drive signal generation part. レーザ素子の走査波形、NHガスの吸収波形、同期検波回路の出力波形を示す図である。Scanning waveform of the laser device, the absorption waveform of the NH 3 gas, is a diagram showing an output waveform of the synchronous detection circuit. 受光部および信号処理回路の構成図である。It is a block diagram of a light-receiving part and a signal processing circuit. SOガスの吸収スペクトラム例を示す図である。It shows the absorption spectrum example of SO 2 gas. SO濃度測定時の同期検波回路の出力波形を示す図である。Is a diagram showing an output waveform of the synchronous detection circuit during SO 2 concentration measurement. SO濃度測定結果例を示す図である。Is a diagram illustrating a SO 2 concentration measurements example. 発光部の放熱構造部を示す図である。It is a figure which shows the thermal radiation structure part of a light emission part.

続いて、本発明を実施するための形態について図を参照しつつ以下に説明する。図1は、本発明の実施の形態のレーザ式ガス分析計のうち、変更された受光部、信号処理回路および演算処理部の構成図である。本形態のレーザ式ガス分析計は、その全体的な構成およびガス濃度測定方法が図5〜図11に示した従来技術例とほぼ同様であるが、以下に示す4点が相違点として挙げられる。   Then, the form for implementing this invention is demonstrated below, referring a figure. FIG. 1 is a configuration diagram of a modified light receiving unit, signal processing circuit, and arithmetic processing unit in the laser gas analyzer according to the embodiment of the present invention. The laser type gas analyzer of the present embodiment is almost the same as the prior art example shown in FIGS. 5 to 11 in the overall configuration and gas concentration measurement method, but the following four points are cited as differences. .

第1の相違点としては、図1に示すように、受光部207、信号処理回路208および演算処理部209の構成が変更されている。さらにレーザ素子204e(図8参照)はQCLを、受光素子207a(図1参照)は前記QCLによる中赤外領域レーザ光の波長領域に感度を有する赤外線検出素子、例えばMCT光導電素子を使用する点が挙げられる。   As a first difference, as shown in FIG. 1, the configurations of the light receiving unit 207, the signal processing circuit 208, and the arithmetic processing unit 209 are changed. Further, the laser element 204e (see FIG. 8) uses QCL, and the light receiving element 207a (see FIG. 1) uses an infrared detection element having sensitivity in the wavelength region of the mid-infrared laser beam by the QCL, such as an MCT photoconductive element. A point is mentioned.

また、第2の相違点としては、MCT光導電素子は低温でないと十分な感度が得られないため、MCT光導電素子である受光素子207aに対して、図1で示すような温度安定化手段を受光部207に設けた点が第2の相違点として挙げられる。図11で示した受光部と比較すると、図1の受光部207は、受光素子207aとしてMCT光導電素子が選択され、さらにサーミスタ207b、ペルチェ素子207c、温度制御部207dによる温度安定化手段が追加された点で相違する。   Further, as a second difference, since the MCT photoconductive element cannot obtain sufficient sensitivity unless it is at a low temperature, the temperature stabilizing means as shown in FIG. 1 is used for the light receiving element 207a which is an MCT photoconductive element. Is provided in the light receiving unit 207 as a second difference. Compared with the light receiving unit shown in FIG. 11, the MCT photoconductive element is selected as the light receiving element 207a in the light receiving unit 207 in FIG. 1, and further, a temperature stabilization means by a thermistor 207b, a Peltier element 207c, and a temperature control unit 207d is added. It is different in the point made.

この温度安定化手段は、サーミスタ207b、ペルチェ素子207c、温度制御部207dを備える。具体的には、MCT光導電素子内にサーミスタ207bやペルチェ素子207cが内蔵される。このようにレーザ素子207aに近接して温度検出素子としてのサーミスタ207bが配置され、このサーミスタ207bにはペルチェ素子207cが近接して配置されている。   This temperature stabilization means includes a thermistor 207b, a Peltier element 207c, and a temperature control unit 207d. Specifically, the thermistor 207b and the Peltier element 207c are built in the MCT photoconductive element. As described above, the thermistor 207b as a temperature detecting element is disposed in the vicinity of the laser element 207a, and the Peltier element 207c is disposed in the vicinity of the thermistor 207b.

このペルチェ素子207cは、サーミスタ207bの抵抗値が一定値になるように温度制御部207dによって制御され、結果として受光素子207aの温度を安定化するように動作するものである。このような温度安定化手段により、例えばMCT光導電素子の動作温度を−3℃で一定にする。   The Peltier element 207c is controlled by the temperature control unit 207d so that the resistance value of the thermistor 207b becomes a constant value, and as a result, operates so as to stabilize the temperature of the light receiving element 207a. By such temperature stabilization means, for example, the operating temperature of the MCT photoconductive element is kept constant at −3 ° C.

また、第3の相違点としては、波長走査駆動信号を変更する点が挙げられる。
波長走査駆動信号は、図2に示すように、可変駆動信号S1、オフセット信号S2およびトリガ信号S3により一の単位波形となり、このような単位波形が一定周期で繰り返される信号である。
A third difference is that the wavelength scanning drive signal is changed.
As shown in FIG. 2, the wavelength scanning drive signal is a signal in which one unit waveform is formed by the variable drive signal S1, the offset signal S2, and the trigger signal S3, and such a unit waveform is repeated at a constant period.

波長走査駆動信号の可変駆動信号S1は、図8のレーザ素子204eへの供給電流を直線的に変化させてレーザ素子204eの発光波長を徐々に変化させる信号であり、図2における信号S1である。信号S1では、吸収波長を走査する信号であり、図8で示すように、電流制御部204cを介してレーザ素子204eに供給される電流の大きさを直線的に変える部分である。この信号S1によってレーザ素子204eの発光波長を徐々にずらしていくことができ、信号S1の傾き、すなわち、供給電流の変化量によって、発光波長をサブnm〜数nmの範囲で走査可能である。   The variable drive signal S1 of the wavelength scanning drive signal is a signal that gradually changes the emission wavelength of the laser element 204e by linearly changing the current supplied to the laser element 204e in FIG. 8, and is the signal S1 in FIG. . The signal S1 is a signal for scanning the absorption wavelength, and is a portion that linearly changes the magnitude of the current supplied to the laser element 204e via the current control unit 204c as shown in FIG. The light emission wavelength of the laser element 204e can be gradually shifted by this signal S1, and the light emission wavelength can be scanned in the sub-nm to several nm range depending on the slope of the signal S1, that is, the amount of change in the supply current.

なお、図2では、高周波変調信号の周波数を4kHz、波長走査駆動信号の周波数を5Hzとしてあり、λ、λはSOガスの吸収波長に相当する走査範囲の上下限値を示している。 In FIG. 2, the frequency of the high frequency modulation signal is 4 kHz, the frequency of the wavelength scanning drive signal is 5 Hz, and λ 1 and λ 2 indicate the upper and lower limits of the scanning range corresponding to the absorption wavelength of SO 2 gas. .

波長走査駆動信号のオフセット信号S2は、レーザ素子204eの発光が安定するスレッショルド電流値未満の電流を前記レーザ素子に供給するような値とした信号であり、図2における信号S2である。図2における信号S2は、レーザ素子204eを発光させないオフセット部分である。波長走査駆動信号発生部204aがこのオフセット信号S2を出力しているタイミングではQCLは未発光である。   The offset signal S2 of the wavelength scanning drive signal is a signal having a value that supplies a current less than a threshold current value at which light emission of the laser element 204e is stabilized to the laser element, and is the signal S2 in FIG. The signal S2 in FIG. 2 is an offset portion that does not cause the laser element 204e to emit light. At the timing when the wavelength scanning drive signal generator 204a outputs this offset signal S2, the QCL is not emitting light.

波長走査駆動信号のトリガ信号S3は、パルス状の信号であり、同期用に挿入された信号である。トリガ信号S3もレーザ素子204eを発光させない部分であり、レーザ素子204eの発光が安定するスレッショルド電流値未満の値(オフセット信号S2よりも低い値であり、例えば0)にしておく。したがって、波長走査駆動信号発生部204aがこのトリガ信号S3を出力しているタイミングではQCLは未発光である。この信号S3は、信号S1から信号S2へ切り替わる間に挿入されている。   The trigger signal S3 of the wavelength scanning drive signal is a pulse signal and is a signal inserted for synchronization. The trigger signal S3 is also a portion that does not cause the laser element 204e to emit light, and is set to a value less than a threshold current value at which the light emission of the laser element 204e is stable (a value lower than the offset signal S2, for example, 0). Therefore, QCL does not emit light at the timing when the wavelength scanning drive signal generation unit 204a outputs the trigger signal S3. This signal S3 is inserted during switching from the signal S1 to the signal S2.

なお、波長走査駆動信号のλ、λはSOガスの吸収波長に相当する走査範囲として説明しているが、SO以外にも、NOのガス成分を測定したり、または、NOのガス成分を測定することができる。しかしながら、QCLの特性(電流や温度による波長走査可能範囲)とSO,NO,NOの吸収スペクトルを勘案すると、SO,NO,NOの何れか一つについての単成分計として個別に測定するレーザ式ガス分析計となる。この場合レーザ式ガス分析計では、SO,NO,NO等の中から一つ選定された測定対象の吸収波長に対応した発光波長を持つQCLが選定され、この測定対象のガス成分に応じて中赤外領域のλ、λが設定される。 Note that although λ 1 and λ 2 of the wavelength scanning drive signal are described as scanning ranges corresponding to the absorption wavelength of SO 2 gas, in addition to SO 2 , NO gas components are measured or NO 2 is measured. The gas component can be measured. However, the characteristics of QCL and (current and wavelength scanning range due to temperature) SO 2, NO, In consideration of the absorption spectra of NO 2, SO 2, NO, individually as a single component meter for any one of NO 2 It becomes a laser type gas analyzer to measure. In this case, in the laser type gas analyzer, a QCL having an emission wavelength corresponding to the absorption wavelength of the measurement target selected from SO 2 , NO, NO 2, etc. is selected, and depending on the gas component of the measurement target Then, λ 1 and λ 2 in the mid-infrared region are set.

I/V変換器208aからの出力信号を入力した演算処理部209はこのトリガ信号S3を抽出することが可能である。このトリガ信号S3は、波長走査駆動信号の一周期を表しており、このトリガ信号の周期に対し、同期検波回路208bの検出信号との間には一定の時間的な相関関係がある。つまり、測定対象ガスが存在する場合に、トリガ信号の周期(トリガ信号S3の周期)から得られるトリガ発生タイミングに対してガス吸収波形の最大値や最小値が発生するタイミングは、予めほぼ正確に検出可能である。
このような波長走査駆動信号は、図9で示した従来技術の波長走査駆動信号と同様の波形である。
The arithmetic processing unit 209 that has received the output signal from the I / V converter 208a can extract the trigger signal S3. The trigger signal S3 represents one period of the wavelength scanning drive signal, and there is a certain temporal correlation between the trigger signal period and the detection signal of the synchronous detection circuit 208b. That is, when the measurement target gas exists, the timing at which the maximum or minimum value of the gas absorption waveform is generated with respect to the trigger generation timing obtained from the cycle of the trigger signal (the cycle of the trigger signal S3) is approximately accurate in advance. It can be detected.
Such a wavelength scanning drive signal has a waveform similar to that of the conventional wavelength scanning drive signal shown in FIG.

しかしながら、従来技術と比較すると、本発明における特徴的な相違点は、オフセット信号S2がレーザ素子204eの発光が安定するスレッショルド電流値未満であり、さらに可変駆動信号S1の時間に対してオフセット信号S2の時間が大幅に長い点にある。
このような間欠発光条件、すなわち、信号S1と信号S2の時間の比は、QCLであるレーザ素子204eの発熱量とペルチェ素子等の温度安定化手段の性能とを勘案して決定すれば良く、例えばS1:S2=1:4とすることにより、連続発光する場合と比較して、発熱量を1/5にまで低減することができる。
However, compared with the prior art, the characteristic difference in the present invention is that the offset signal S2 is less than the threshold current value at which the light emission of the laser element 204e is stabilized, and further the offset signal S2 with respect to the time of the variable drive signal S1. The time is significantly longer.
Such intermittent light emission conditions, that is, the ratio of the time between the signal S1 and the signal S2, may be determined in consideration of the amount of heat generated by the laser element 204e as the QCL and the performance of the temperature stabilizing means such as the Peltier element, For example, by setting S1: S2 = 1: 4, the calorific value can be reduced to 1/5 compared to the case of continuous light emission.

従来技術では光源部204を連続発光させたり、または、少し停止するが殆ど連続して発光させるというものであったため、仮にQCLを用いると光源部の発熱が過大となり、ペルチェ素子による温度制御が困難になることが予想されたが、本発明では上記のようにQCLを発光時間よりも消光時間が長いように間欠発光させることにより、QCLの発熱量を低減し、従来のレーザ式ガス分析計と同等の構成およびコストでQCLの使用が可能となる。発光時間と消光時間との割合は、温度安定化手段(図8の温度制御部204d、サーミスタ204f、ペルチェ素子204g)により温度安定化が可能な限界温度を想定したとき、この限界温度よりも低い温度となるように発光時間と消光時間との割合が決定される。この場合、少なくとも発光時間よりも消光時間を長くして、温度を低下させる。   In the prior art, the light source unit 204 emits light continuously or stops a little, but emits light almost continuously. If QCL is used, heat generation of the light source unit becomes excessive, and temperature control by a Peltier element is difficult. In the present invention, as described above, the QCL is intermittently emitted so that the extinction time is longer than the light emission time, thereby reducing the amount of heat generated by the QCL and the conventional laser gas analyzer. The QCL can be used with the same configuration and cost. The ratio between the light emission time and the quenching time is lower than this limit temperature when a limit temperature that can be stabilized by the temperature stabilization means (temperature control unit 204d, thermistor 204f, Peltier element 204g in FIG. 8) is assumed. The ratio between the light emission time and the quenching time is determined so that the temperature is reached. In this case, the temperature is lowered by making the extinction time longer than at least the light emission time.

また、第4の相違点としては、図1に示す演算処理部209が測定値を補正しながら計測を行う補正計測手段として機能する点が挙げられる。このような処理を行うため回路構成も変更されており、図11で示した従来技術の信号処理回路と比較すると、図1の信号処理回路208および演算処理部209において、トリガ信号抽出のため、I/V変換器208aと演算処理部209とが接続された点で相違する。   The fourth difference is that the arithmetic processing unit 209 shown in FIG. 1 functions as a correction measurement unit that performs measurement while correcting the measurement value. In order to perform such processing, the circuit configuration is also changed. Compared with the signal processing circuit of the prior art shown in FIG. 11, the signal processing circuit 208 and the arithmetic processing unit 209 in FIG. The difference is that the I / V converter 208a and the arithmetic processing unit 209 are connected.

この補正計測手段は、主にMCTの特性変動に応じて測定値を補正する。まず、補正原理について図を参照しつつ説明する。図3にオフセットデータを表す信号S4と濃度値との経時変化例を示す。   This correction measuring means corrects the measured value mainly according to the characteristic variation of the MCT. First, the correction principle will be described with reference to the drawings. FIG. 3 shows an example of a change over time of the signal S4 representing the offset data and the density value.

図3の下側の波状の信号S4は、オフセット信号S2を、例えば、10秒毎に取得したものである。オフセット信号S2はトリガ信号S3を基準にすることで取得することができる。このような波状の線は、デジタルデータであるオフセットデータ(後述)をつなげてアナログ的に表現したものを表す。また、図3の上側の折れ線がSO濃度を表す濃度値を示す信号である。オフセット信号S2を取得したときの可変駆動信号S1から得られた濃度値をつなげてアナログ的に表現したものを表す。 The lower wavy signal S4 in FIG. 3 is obtained by acquiring the offset signal S2 every 10 seconds, for example. The offset signal S2 can be obtained by using the trigger signal S3 as a reference. Such a wavy line represents an analog representation by connecting offset data (described later) which is digital data. Also, the upper polygonal line in FIG. 3 is a signal indicating the concentration value representing the SO 2 concentration. This represents an analog representation of connected density values obtained from the variable drive signal S1 when the offset signal S2 is acquired.

このような特性において、外乱等によるMCTの特性変動により、濃度値も変動しており、ゼロ点安定性の規格値であるフルスケール比±2%(以下、±2%FSのように表記)を超過し、約±3%FSであることが分かる。また、本来は一定値であるオフセット信号S4も周囲温度の変動等の影響により所定周期で増減しており、また、時間が経過するにつれて上昇傾向にある。
ここで、信号S4は予め設定値が判っているため、変化傾向を判定することができる。そこで、SOの濃度測定とともに、オフセット信号S2をモニタリングし、このオフセット信号S2の変動率に応じて測定結果を補正するものである。
In such characteristics, the density value also fluctuates due to fluctuations in MCT characteristics due to disturbances, etc., and the full-scale ratio ± 2% (hereinafter referred to as ± 2% FS), which is the standard value for zero point stability. It can be seen that it is about ± 3% FS. Further, the offset signal S4, which is originally a constant value, also increases or decreases at a predetermined period due to the influence of ambient temperature fluctuations, etc., and tends to increase as time elapses.
Here, since the set value of the signal S4 is known in advance, the change tendency can be determined. Accordingly, the offset signal S2 is monitored together with the SO 2 concentration measurement, and the measurement result is corrected according to the variation rate of the offset signal S2.

続いて具体的な補正について説明する。この補正処理は、所定期間のデータを一括して補正する処理である。まず、分析を開始したとする。
演算処理部209は、I/V変換回路208aにより電圧信号に変換された受光部207の出力信号のうちのトリガ信号S3に同期しつつ、同期検波回路208bからの検出信号を、内蔵するA/D変換器によりA/D変換してガス吸収波形信号データを生成し、このガス吸収波形データの最大値と最小値との差分から測定対象ガス濃度についての濃度データZを算出する手段(濃度データ算出手段)として機能する。測定対象ガス濃度についての濃度データZを算出する手法は従来技術と同様であり、トリガ信号S3を基準として特定したガス吸収波形データから算出する。
Next, specific correction will be described. This correction process is a process of correcting data for a predetermined period at once. First, it is assumed that analysis is started.
The arithmetic processing unit 209 synchronizes with the trigger signal S3 out of the output signal of the light receiving unit 207 converted into a voltage signal by the I / V conversion circuit 208a, and outputs the detection signal from the synchronous detection circuit 208b. Means (concentration) for generating gas absorption waveform signal data by A / D conversion by a D converter and calculating concentration data Z i for the measurement target gas concentration from the difference between the maximum value and the minimum value of the gas absorption waveform data Function as data calculation means). The method for calculating the concentration data Z i for the gas concentration to be measured is the same as that in the prior art, and is calculated from the gas absorption waveform data specified with reference to the trigger signal S3.

続いて演算処理部209は、I/V変換回路208aにより電圧信号に変換された受光部207の出力信号のうちのトリガ信号S3に同期しつつ(例えばトリガ信号S3を基準として数m〜数10ms後に)、I/V変換回路208aの出力信号のオフセット信号S2のある箇所を、内蔵するA/D変換器によりA/D変換してオフセットデータXを生成し、このオフセットデータXを演算処理部209の図示しないメモリに保存する手段(オフセットデータ生成手段)として機能する。 Subsequently, the arithmetic processing unit 209 synchronizes with the trigger signal S3 in the output signal of the light receiving unit 207 converted into a voltage signal by the I / V conversion circuit 208a (for example, several m to several 10 ms with reference to the trigger signal S3). after), the locations of the offset signal S2 of the output signal of the I / V conversion circuit 208a, and generates the offset data X i is a / D converted by the built-in a / D converter, calculating the offset data X i It functions as a means (offset data generation means) for storing in a memory (not shown) of the processing unit 209.

演算処理部209は、上記濃度データ算出手段および上記オフセットデータ生成手段を交互に所定期間(例えば10分間)まで行う。すると、演算処理部209の図示しないメモリ部には、上記のような濃度データZ(i=1,2,・・・,n)およびオフセットデータX(i=1,2,・・・,n)が蓄積される。このiが異なると取得された時間が異なる。つまりiは時間を表す。また、波形単位別にiを異ならせるように設定しても良い。 The arithmetic processing unit 209 alternately performs the density data calculation unit and the offset data generation unit until a predetermined period (for example, 10 minutes). Then, the density data Z i (i = 1, 2,..., N) and the offset data X i (i = 1, 2,. , N) are accumulated. The acquired time differs if this i is different. That is, i represents time. Further, i may be set to be different for each waveform unit.

演算処理部209は、続いて、オフセットデータXの最小値である基準データXmin、および、オフセットデータXを用いて変動率データYを算出する手段(変動率データ算出手段)として機能する。 Processing unit 209, subsequently, the reference data X min is the minimum value of the offset data X i, and functions as means (variation rate data calculating means) for calculating a variation rate data Y i by using the offset data X i To do.

基準データXminは、具体的には、演算処理部209の図示しない内蔵メモリに保存されたオフセットデータXの中から最小値であるオフセットデータを探索して最小値であるオフセットデータを抽出し、以後基準データXminとして用いるため内蔵メモリへ別途保存する。 Specifically, the reference data X min is searched for the offset data that is the minimum value from the offset data X i stored in the internal memory (not shown) of the arithmetic processing unit 209 and extracts the offset data that is the minimum value. Thereafter, it is stored separately in the built-in memory for use as reference data Xmin .

変動率データYは、具体的には、ある時点でのオフセットデータXから基準データXminを差分し、その差分データを基準データXminで除して算出したものである。このような変動率データYは次式のようになる。 Specifically, the fluctuation rate data Y i is calculated by subtracting the reference data X min from the offset data X i at a certain time and dividing the difference data by the reference data X min . Such variation rate data Y i is expressed by the following equation.

[数1]
=(X−Xminmin=X/Xmin−1 (但し、i=1,2,・・・,n)
[Equation 1]
Y i = (X i −X min ) / X min = X i / X min −1 (where i = 1, 2,..., N)

このような変動率データYは全てのオフセットデータX(i=1,2,・・・,n)についてそれぞれ算出される。つまり時間別(または波形単位別)に算出される。
この変動率データYは、MCT光導電素子の最低受光レベルを基準とし、時間別(または波形単位別)のMCT受光レベルを変動率データY(i=1,2,・・・,n)として表している。
Such variation rate data Y i is calculated for all offset data X i (i = 1, 2,..., N). That is, it is calculated for each time (or for each waveform unit).
The fluctuation rate data Y i is based on the minimum light reception level of the MCT photoconductive element, and the MCT light reception level by time (or by waveform unit) is used as the fluctuation rate data Y i (i = 1, 2,..., N). ).

演算処理部209は、変動率データYに基づいて濃度データZを補正して補正濃度データDを算出する手段(補正濃度データ算出手段)として機能する。具体的には、時間別(または波形単位別)の濃度データZに変動率データY と補正係数データcとを乗じ、その値を濃度データZから減ずることによって、補正濃度データDを得る。補正濃度データDは次式のようになる。 Arithmetic processing section 209 functions as means (corrected density data calculating means) for calculating a corrected density data D i by correcting the density data Z i on the basis of the variation rate data Y i. Specifically, multiplied by the variation rate data Y i and the correction coefficient data c to the density data Z i hourly (or waveform-units), by subtracting the value from the density data Z i, the correction density data D i Get. The corrected density data D i is expressed by the following equation.

[数2]
=Z−cY=Z(1−cY
[Equation 2]
D i = Z i -cY i Z i = Z i (1-cY i)

このような補正濃度データD(i=1,2,・・・,n)がそれぞれ算出される。つまり時間別(または波形単位別)に算出される。
このようにして補正濃度データを用いて以下のガスレーザ分析を行うこととなる。
Such correction density data D i (i = 1, 2,..., N) is calculated. That is, it is calculated for each time (or for each waveform unit).
In this way, the following gas laser analysis is performed using the corrected concentration data.

図4に濃度データを表す濃度値と補正濃度データを表す補正濃度とを合わせて示す。この補正濃度データについては、前記補正によりゼロ点安定性は約±1.6%FSとなり、規格値(±2%FS)を満足することが可能となる。   FIG. 4 shows a density value representing density data and a corrected density representing corrected density data. With respect to the corrected density data, the zero point stability is about ± 1.6% FS by the correction, and the standard value (± 2% FS) can be satisfied.

なお、この補正ではMCTの特性変動を念頭においているが、仮にQCLの光量が変動したとしてもトリガ抽出信号が変化することからQCLの上記変動も補正される。このようにMCTやQCLの特性変動が補正されるため、計測精度の向上に寄与する。   In this correction, although the MCT characteristic fluctuation is taken into consideration, even if the light quantity of QCL fluctuates, the above-mentioned fluctuation of QCL is also corrected because the trigger extraction signal changes. As described above, the variation in characteristics of MCT and QCL is corrected, which contributes to improvement in measurement accuracy.

以上、本発明のレーザ式ガス分析計について説明した。
本発明によれば、QCLを間欠的に発光させることにより、光源部の放熱量を低減することが可能となる。その結果、光源部の冷却機構を簡素化することが可能となり、従来のレーザ式ガス分析計では不可能であったSO,NO,NO等のガス成分を測定する、低コストなレーザ式ガス分析計を提供することができる。
The laser gas analyzer of the present invention has been described above.
According to the present invention, it is possible to reduce the heat radiation amount of the light source unit by causing the QCL to emit light intermittently. As a result, the cooling mechanism of the light source unit can be simplified, and a low-cost laser type that measures gas components such as SO 2 , NO, and NO 2 that has been impossible with conventional laser gas analyzers. A gas analyzer can be provided.

さらに、MCTの特性変動をリアルタイムで監視し、その変動率に応じて測定値を補正することにより、QCLを用いたレーザ式ガス分析計の測定精度を向上させることができる。   Furthermore, the measurement accuracy of the laser gas analyzer using the QCL can be improved by monitoring the characteristic variation of the MCT in real time and correcting the measured value according to the variation rate.

本発明のレーザ式ガス分析計は、中赤外領域の固有の光吸収スペクトルがあるSO,NO,NO等のガス成分の測定に適用することができる。 The laser type gas analyzer of the present invention can be applied to measurement of gas components such as SO 2 , NO, NO 2 having a unique light absorption spectrum in the mid-infrared region.

101a,101b:壁
201a,201b:フランジ
202a,202b:取付座
203a,203b:カバー
204:光源部
204a:波長走査駆動信号発生部
204b:高周波変調信号発生部
204c:電流制御部
204d:温度制御部
204e:レーザ素子
204f:サーミスタ
204g:ペルチェ素子
204s:レーザ駆動信号発生部
205:コリメートレンズ
206:集光レンズ
207:受光部
207a:受光素子
207b:サーミスタ
207c:ペルチェ素子
207d:温度制御部
208:信号処理回路
208a:I/V変換回路
208b:同期検波回路
208c:発振器
208d:フィルタ
209:演算処理部
301:フランジ
302:レンズホルダ
303:レーザマウント
304:放熱フィン
305:空冷ファン
306:ケース
101a, 101b: walls 201a, 201b: flanges 202a, 202b: mounting seats 203a, 203b: cover 204: light source unit 204a: wavelength scanning drive signal generator 204b: high frequency modulation signal generator 204c: current controller 204d: temperature controller 204e: Laser element 204f: Thermistor 204g: Peltier element 204s: Laser drive signal generator 205: Collimator lens 206: Condensing lens 207: Light receiving part 207a: Light receiving element 207b: Thermistor 207c: Peltier element 207d: Temperature control part 208: Signal Processing circuit 208a: I / V conversion circuit 208b: Synchronous detection circuit 208c: Oscillator 208d: Filter 209: Arithmetic processing unit 301: Flange 302: Lens holder 303: Laser mount 304: Radiation fin 305: Air cooling fan 306: Over scan

Claims (4)

周波数変調された中赤外領域レーザ光を出射する光源部と、この光源部からの出射光をコリメートする光源側光学系と、この光源側光学系から測定対象ガスが存在する空間を介して伝播された透過光を集光する受光側光学系と、この受光側光学系により集光された光を受光する受光部と、この受光部の出力信号を処理する信号処理回路と、を有し、前記信号処理回路が、前記受光部の出力信号に基づいて測定対象ガスの濃度を測定するレーザ式ガス分析計において、
前記光源部は、
中赤外領域レーザ光を発光するレーザ素子と、
ペルチェ素子により前記レーザ素子の温度を安定化させる温度安定化手段と、
前記レーザ素子への供給電流を直線的に変化させて前記レーザ素子の発光波長を徐々に変化させる信号であって測定対象ガスの吸収波長を走査するように前記レーザ素子の発光波長を可変とする可変駆動信号と、前記レーザ素子のスレッショルド電流値未満の電流を前記レーザ素子に供給するような値の信号であって前記レーザ素子の発熱量を減少させるように前記レーザ素子の発光を停止するオフセット信号と、前記レーザ素子のスレッショルド電流値未満の電流を前記レーザ素子に供給するような値の信号であり、かつ一の前記可変駆動信号および一の前記オフセット信号を挟んで挿入される信号であって同期用のトリガ信号と、からなる単位波形が一定周期で繰り返される信号である波長走査駆動信号に対し、前記発光波長を変調するための高周波変調信号を合成してレーザ駆動信号として出力するレーザ駆動信号発生部と、
このレーザ駆動信号発生部から出力された前記レーザ駆動信号を電流に変換して前記レーザ素子へこの電流を供給する電流制御部と、
を備え、
前記受光部は、
中赤外領域に感度を有する受光素子と、
ペルチェ素子によりこの受光素子の温度を安定化させる温度安定化手段と、
を備え、
前記信号処理回路は、
前記受光部の出力信号から光源部における変調信号の2倍周波数成分の信号の振幅を検出して検出信号を出力する同期検波回路と、
前記受光部の出力信号に含まれるトリガ信号に基づいて前記同期検波回路の前記検出信号からガス吸収波形信号を抽出し、このガス吸収波形信号から測定対象ガスの濃度を検出する手段と、前記受光部の出力信号のうちのトリガ信号に同期しつつ、前記同期検波回路からの前記検出信号をA/D変換してガス吸収波形信号データを生成し、このガス吸収波形信号データの最大値と最小値との差分から測定対象ガス濃度についての濃度データを算出する濃度データ算出手段と、前記受光部の出力信号のうちのトリガ信号に同期しつつ、前記受光部の出力信号のオフセット信号箇所をA/D変換してオフセットデータを生成するオフセットデータ生成手段と、最小値のオフセットデータである基準データおよび前記オフセットデータを用いて変動率データを算出する変動率データ算出手段と、前記変動率データに基づいて前記濃度データを補正して補正濃度データを算出する補正濃度データ算出手段と、を有する演算処理部と、
を備え、
前記レーザ駆動信号発生部は、前記波長走査駆動信号の前記可変駆動信号の出力時間に対して前記オフセット信号の出力時間を長い信号として前記レーザ素子の発熱時間を短縮するとともに、
前記温度安定化手段は、前記光源部および前記受光部を安定化させる安定範囲温度となるように前記光源部および前記受光部の温度調整を行って受発光を安定化させ、かつ、
前記信号処理回路は、前記光源部および前記受光部の特性変動の影響を吸収した補正濃度を算出することを特徴とするレーザ式ガス分析計。
A light source unit that emits a frequency-modulated mid-infrared laser beam, a light source side optical system that collimates the light emitted from the light source unit, and a light source side optical system that propagates through the space where the measurement target gas exists A light receiving side optical system for collecting the transmitted light, a light receiving unit for receiving the light collected by the light receiving side optical system, and a signal processing circuit for processing an output signal of the light receiving unit, In the laser gas analyzer in which the signal processing circuit measures the concentration of the measurement target gas based on the output signal of the light receiving unit,
The light source unit is
A laser element emitting mid-infrared laser light;
Temperature stabilizing means for stabilizing the temperature of the laser element by a Peltier element ;
A signal for gradually changing the emission wavelength of the laser element by linearly changing the supply current to the laser element, and making the emission wavelength of the laser element variable so as to scan the absorption wavelength of the gas to be measured A variable drive signal and a signal having a value such that a current less than a threshold current value of the laser element is supplied to the laser element, and an offset for stopping the light emission of the laser element so as to reduce the amount of heat generated by the laser element A signal having a value such that a current less than a threshold current value of the laser element is supplied to the laser element, and a signal inserted between the one variable drive signal and the one offset signal. and a trigger signal for synchronization, the unit waveform consisting of the wavelength scanning driving signal is a signal which is repeated at a fixed period, modulating the emission wavelength Te A laser driving signal generator for outputting a laser driving signal by combining the order of the high-frequency modulation signal,
A current controller that converts the laser drive signal output from the laser drive signal generator into a current and supplies the current to the laser element;
With
The light receiving unit is
A light-receiving element having sensitivity in the mid-infrared region;
Temperature stabilization means for stabilizing the temperature of the light receiving element by a Peltier element ;
With
The signal processing circuit includes:
A synchronous detection circuit that detects the amplitude of a signal having a double frequency component of the modulation signal in the light source unit from the output signal of the light receiving unit and outputs a detection signal;
Means for extracting a gas absorption waveform signal from the detection signal of the synchronous detection circuit based on a trigger signal included in an output signal of the light receiving unit, and detecting a concentration of a measurement target gas from the gas absorption waveform signal; The detection signal from the synchronous detection circuit is A / D converted to generate gas absorption waveform signal data in synchronization with the trigger signal among the output signals of the unit, and the maximum value and minimum value of the gas absorption waveform signal data are generated. A concentration data calculation means for calculating concentration data about the gas concentration to be measured from the difference from the value, and an offset signal portion of the output signal of the light receiving unit in synchronization with a trigger signal among the output signals of the light receiving unit A Offset data generating means for generating offset data by performing D / D conversion, reference data that is offset data of the minimum value, and fluctuation using the offset data And variation rate data calculation means for calculating data, a processing unit having a correction density data calculation means for calculating a corrected density data by correcting the density data on the basis of the change rate data,
With
The laser drive signal generator shortens the heat generation time of the laser element by setting the output time of the offset signal as a signal longer than the output time of the variable drive signal of the wavelength scanning drive signal,
The temperature stabilizing means stabilizes the light receiving and emitting I the light source unit and line the temperature adjustment of the light receiving portion to the light source unit and the light receiving portion becomes stable range temperature to stabilize, and,
The laser processing gas analyzer according to claim 1, wherein the signal processing circuit calculates a correction concentration that absorbs an influence of a characteristic variation of the light source unit and the light receiving unit .
請求項1に記載のレーザ式ガス分析計において、
前記光源部の前記レーザ素子は、中赤外領域の波長を発光する量子カスケードレーザ(QCL:Quantum cascade laser)であり、
前記受光部の前記受光素子は、前記波長領域に感度を有するMCT(Mercury_Cadmium_Tellurium)光導電素子であることを特徴とするレーザ式ガス分析計。
The laser gas analyzer according to claim 1, wherein
The laser element of the light source unit is a quantum cascade laser (QCL: Quantum cascade laser) that emits a wavelength in the mid-infrared region,
The laser gas analyzer according to claim 1, wherein the light receiving element of the light receiving unit is an MCT (Mercury_Cadmium_Tellurium) photoconductive element having sensitivity in the wavelength region .
請求項1または請求項2に記載のレーザ式ガス分析計において、
前記波長走査駆動信号の前記可変駆動信号の出力時間S1に対して前記オフセット信号の出力時間S2を長い信号としS1:S2=1:4とすることを特徴とするレーザ式ガス分析計。
In the laser type gas analyzer according to claim 1 or 2,
A laser gas analyzer characterized in that the output time S2 of the offset signal is longer than the output time S1 of the variable drive signal of the wavelength scanning drive signal, and S1: S2 = 1: 4 .
請求項1〜請求項3の何れか一項に記載のレーザ式ガス分析計において、
前記濃度データ算出手段は、ガス吸収波形信号データの最大値と最小値との差分により得た測定対象ガス濃度についての濃度データをZ (i=1,2,・・・,n)とし、
前記オフセットデータ生成手段は、前記受光部の出力信号のうちのトリガ信号に同期しつつ、前記受光部の出力信号のオフセット信号箇所をA/D変換して得たオフセットデータをX (i=1,2,・・・,n)とし、
前記変動率データ算出手段は、最小値のオフセットデータである基準データおよび前記オフセットデータを用いて変動率データY を次式
[数1]
=(X −X min )/X min =X /X min −1
(但し、i=1,2,・・・,n)
により算出し、
前記補正濃度データ算出手段は、前記変動率データに基づいて前記濃度データを次式
[数2]
=Z −cY =Z (1−cY
(但しcは補正係数データ、i=1,2,・・・,n)
により補正して補正濃度データD を算出することを特徴とするレーザ式ガス分析計。
In the laser type gas analyzer according to any one of claims 1 to 3,
The concentration data calculation means sets Z i (i = 1, 2,..., N) as the concentration data on the measurement target gas concentration obtained by the difference between the maximum value and the minimum value of the gas absorption waveform signal data .
The offset data generation means converts the offset data obtained by performing A / D conversion of the offset signal portion of the output signal of the light receiving section to X i (i = 1, 2, ..., n)
The fluctuation rate data calculation means calculates the fluctuation rate data Y i using the reference data that is offset data of the minimum value and the offset data as follows :
[Equation 1]
Y i = (X i -X min ) / X min = X i / X min -1
(However, i = 1, 2,..., N)
Calculated by
The corrected density data calculation means calculates the density data based on the variation rate data by the following formula:
[Equation 2]
D i = Z i -cY i Z i = Z i (1-cY i)
(Where c is correction coefficient data, i = 1, 2,..., N)
Laser gas analyzer which is characterized that you calculate the corrected density data D i is corrected by.
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