JP5277548B2 - レーザ加工装置用の透明保護板汚れ判定装置およびその方法、ならびにレーザ加工方法 - Google Patents
レーザ加工装置用の透明保護板汚れ判定装置およびその方法、ならびにレーザ加工方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5277548B2 JP5277548B2 JP2007042421A JP2007042421A JP5277548B2 JP 5277548 B2 JP5277548 B2 JP 5277548B2 JP 2007042421 A JP2007042421 A JP 2007042421A JP 2007042421 A JP2007042421 A JP 2007042421A JP 5277548 B2 JP5277548 B2 JP 5277548B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- protective plate
- transparent protective
- laser
- contamination
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
Description
前記透明保護板の前記レーザ光が透過する面を複数の領域に分割し、前記レーザ加工装置を移動させる移動手段と前記反射鏡を制御することで前記光の照射方向を一定方向に保ったまま、前記透明保護板を透過する光に対して前記透明保護板の位置を相対的に移動させることで当該複数の領域のうち任意の領域を透過した前記光の量を測定して、当該光の量から前記任意の領域ごとの前記透明保護板の汚れ度合いを判定すること特徴とする透明保護板汚れ判定方法である。
2…アーム、
3…レーザ照射装置、
5…レーザ発振器、
6…光ファイバーケーブル、
7…ロボット制御装置、
8…ティーチボックス、
9…CADシステム、
11…反射鏡、
12…レンズ群、
18…保護ガラス、
21…教示データ記憶部、
22…ロボット制御部、
23…エリア内溶接データ記憶部、
23…溶接パターン記憶部、
24…溶接パターン生成部、
25…レーザ光走査制御部、
26…指示部、
51…熱量測定器、
52…コンピュータ、
100…レーザ光、
121…コリメートレンズ、
122…集光レンズ。
Claims (11)
- 内部にレーザ光の照射方向を変更する反射鏡を備え、前記レーザ光が射出される射出口を覆う透明保護板が設けられているレーザ加工装置の当該透明保護板の汚れ度合いを判定する透明保護板汚れ判定装置であって、
前記透明保護板の前記レーザ光が透過する面を複数の領域に分割し、当該複数の領域のうち任意の領域を透過した光の量を測定する測定手段と、
前記測定手段が測定した前記光の量から、前記任意の領域ごとの前記透明保護板の汚れ度合いを判定する判定手段と、
前記レーザ加工装置を移動させる移動手段と、
前記移動手段と前記反射鏡を移動させることで、前記反射鏡によって反射された光が、位置が固定された前記測定手段に対して常に照射され、かつ、前記任意の領域を順次前記光が透過するように、前記移動手段および前記反射鏡を制御する制御手段と、を有し、
前記移動手段および前記反射鏡を制御することによって、前記光の照射方向を一定方向に保ったまま、前記透明保護板を透過する光に対して前記透明保護板の位置を相対的に移動させることで前記任意の領域を透過した前記光の量を測定することを特徴とする透明保護板汚れ判定装置。 - 前記任意の領域は、前記分割された複数の領域のすべての領域であることを特徴とする請求項1記載の透明保護板汚れ判定装置。
- 前記任意の領域は、溶接時に前記レーザ光を透過する予定の領域であることを特徴とする請求項1記載の透明保護板汚れ判定装置。
- 前記測定手段は、前記レーザ光が照射された際の熱量を測定する熱量測定器であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の透明保護板汚れ判定装置。
- 前記測定手段は、前記反射鏡によって前記透明保護板を透過するように反射された可視光の光量を測定する光電変換器であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の透明保護板汚れ判定装置。
- 内部にレーザ光の照射方向を変更する反射鏡を備え、前記レーザ光が射出される射出口を覆う透明保護板が設けられているレーザ加工装置の当該透明保護板の汚れ度合いを判定する透明保護板汚れ判定方法であって、
前記透明保護板の前記レーザ光が透過する面を複数の領域に分割し、前記レーザ加工装置を移動させる移動手段と前記反射鏡を制御することで前記光の照射方向を一定方向に保ったまま、前記透明保護板を透過する光に対して前記透明保護板の位置を相対的に移動させることで当該複数の領域のうち任意の領域を透過した前記光の量を測定して、当該光の量から前記任意の領域ごとの前記透明保護板の汚れ度合いを判定すること特徴とする透明保護板汚れ判定方法。 - 前記任意の領域は、前記分割された複数の領域のすべての領域であることを特徴とする請求項6記載の透明保護板汚れ判定方法。
- 前記任意の領域は、前記少なくとも前記レーザ光を透過する予定の領域であることを特徴とする請求項6記載の透明保護板汚れ判定方法。
- 前記透明保護板の前記任意の領域を透過させる前記光は、前記レーザ光または可視光であることを特徴とする請求項6〜8のいずれか一つに記載の透明保護板汚れ判定方法。
- 請求項1〜5記載の透明保護板汚れ判定装置を用いたレーザ加工方法であって、
各領域を透過する前記レーザ光による被加工部材への入熱量を、前記判定手段によって判定された各領域の汚れ度合いに応じて制御すること特徴とするレーザ加工方法。 - 請求項1〜5記載の透明保護板汚れ判定装置を用いたレーザ加工方法であって、
前記判定手段によって判定された領域のうち、前記レーザ光が減衰すると判定される汚れ度合いとなっている領域を避けて前記レーザ光を射出させること特徴とするレーザ加工方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007042421A JP5277548B2 (ja) | 2007-02-22 | 2007-02-22 | レーザ加工装置用の透明保護板汚れ判定装置およびその方法、ならびにレーザ加工方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007042421A JP5277548B2 (ja) | 2007-02-22 | 2007-02-22 | レーザ加工装置用の透明保護板汚れ判定装置およびその方法、ならびにレーザ加工方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008200741A JP2008200741A (ja) | 2008-09-04 |
JP5277548B2 true JP5277548B2 (ja) | 2013-08-28 |
Family
ID=39778760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007042421A Expired - Fee Related JP5277548B2 (ja) | 2007-02-22 | 2007-02-22 | レーザ加工装置用の透明保護板汚れ判定装置およびその方法、ならびにレーザ加工方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5277548B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5504679B2 (ja) * | 2009-04-02 | 2014-05-28 | 株式会社Ihi | レーザ溶接装置及びレーザ溶接方法 |
JP6608885B2 (ja) * | 2017-08-24 | 2019-11-20 | ファナック株式会社 | ガルバノスキャナ及びレーザ加工システム |
JP2020142276A (ja) * | 2019-03-06 | 2020-09-10 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | レーザ光出射ヘッド及びそれを用いたレーザ加工装置、レーザ光出射ヘッドの検査方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6066227A (ja) * | 1983-09-21 | 1985-04-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザ加工装置のレンズ汚れ検出装置 |
JPH1133758A (ja) * | 1997-07-24 | 1999-02-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザ溶接条件管理方法 |
KR100512805B1 (ko) * | 2001-03-23 | 2005-09-06 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 레이저 가공장치 |
JP2005224836A (ja) * | 2004-02-13 | 2005-08-25 | Daihen Corp | レーザ照射アーク溶接方法 |
-
2007
- 2007-02-22 JP JP2007042421A patent/JP5277548B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008200741A (ja) | 2008-09-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2404036C2 (ru) | Головка для лазерной сварки | |
US20070000889A1 (en) | Method and device for detecting contaminant on condenser lens in laser processing machine | |
JP6680751B2 (ja) | レーザ加工中に保護ウインドの汚れを警告するレーザ加工装置 | |
CN109834387A (zh) | 激光加工前对外部光学***异常进行警报的激光加工装置 | |
JP7315670B2 (ja) | 加工プロセスの特性値を求める方法および加工機械 | |
JP5277548B2 (ja) | レーザ加工装置用の透明保護板汚れ判定装置およびその方法、ならびにレーザ加工方法 | |
JP7422337B2 (ja) | リペア溶接制御装置およびリペア溶接制御方法 | |
US20220297246A1 (en) | Repair welding device and repair welding method | |
JP6355027B2 (ja) | 形状測定装置 | |
JP5209883B2 (ja) | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | |
US20240116122A1 (en) | A method for optimising a machining time of a laser machining process, method for carrying out a laser machining process on a workpiece, and laser machining system designed for carrying out this process | |
JP2007284288A (ja) | 基板のスクライブ方法及びスクライブ装置 | |
JP2016000421A (ja) | レーザ加工用システムおよびレーザ加工方法 | |
JP5371514B2 (ja) | レーザ光状態検査方法及び装置並びにソーラパネル製造方法 | |
JP3797327B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
JP2014174047A (ja) | 計測装置、計測方法、および物品の製造方法 | |
JP2008080360A (ja) | 自動溶接機の位置検出システム | |
JP5223537B2 (ja) | レーザ溶接品質検査方法及び装置 | |
CN205798696U (zh) | 激光加工机 | |
JP2016038204A (ja) | 内面形状検査用のセンサユニット及び内面形状検査装置 | |
JP5576195B2 (ja) | オートフォーカス装置 | |
JP2007232629A (ja) | レンズ形状測定装置 | |
KR20230051878A (ko) | 내측면 세정을 위한 레이저 세정 장치 | |
JP6631650B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
JP3985011B1 (ja) | 微小高さ測定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100126 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111021 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120313 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120511 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121009 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121207 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130205 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130403 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130423 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130506 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |