JP5275867B2 - 5自由度誤差測定装置 - Google Patents
5自由度誤差測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5275867B2 JP5275867B2 JP2009074027A JP2009074027A JP5275867B2 JP 5275867 B2 JP5275867 B2 JP 5275867B2 JP 2009074027 A JP2009074027 A JP 2009074027A JP 2009074027 A JP2009074027 A JP 2009074027A JP 5275867 B2 JP5275867 B2 JP 5275867B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- axis
- rotating body
- error
- interference
- coordinate system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 33
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 58
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 34
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 71
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 48
- 238000000034 method Methods 0.000 description 35
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 22
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 6
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 4
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 3
- 206010034719 Personality change Diseases 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
ラジアルモーション,アキシヤルモーションの運動誤差はナノメートルレベル以下の範囲に、また、アンギュラモーションの運動誤差は秒レベル以下の範囲に納めることが望ましい。
前者のアキシャルエンコーダは専ら回転体のアキシャルモーションに関連する1軸方向の運動誤差の測定に特化したものである。
また、後者の回折光干渉型3軸ナノ変位センサはラジアルモーションとアキシャルモーションに関連する3軸方向の運動誤差の測定が可能であるが、基本的に、スケール用素子上の一点とセンサヘッドとの位置関係を特定して3軸方向の運動誤差を測定する構成であるため、そのままでは、スケール用素子の姿勢変化、つまり、回転体の軸が傾斜する向きに生じるアンギュラモーションに関連する2軸方向の運動誤差の測定が行なえないといった不便さがある。
前記回転体の外周面に、該回転体の回転軸の方向に一定の間隔を置いて設けられた複数の周溝から形成された回折格子面を備えると共に、
前記回転体の径方向に相当するセンサ座標系第1軸と前記周溝の並び方向に相当するセンサ座標系第2軸に沿った回折格子面の相対移動変位を検出する2軸干渉センサユニットを、前記外周面から前記回転体の径方向外側に間隙をおいて、かつ、前記回転体の径方向において相互に重合しないようにして前記回転体の周方向の相異なる少なくとも3つの位置に固定配備し、
前記回転体の直径方向に沿って同時に位置しない少なくとも2つの前記2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第1軸の干渉信号の各々から得られる各移動量に基いて前記回転体の径方向の2軸に生じる運動誤差を求めると共に、少なくとも3つの前記2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の少なくとも1つに基いて前記回転体の軸方向の1軸に生じる運動誤差を求め、かつ、少なくとも3つの前記2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の少なくとも2つずつの組み合わせに基いて前記回転体の傾斜方向の2軸に生じる運動誤差を求める誤差演算手段を備えたことを特徴とする構成を有する。
また、少なくとも3つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号は、その各々が周溝の並び方向つまり回転軸の方向の移動変位に相当する値であるから、少なくとも3つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の少なくとも1つに基いて、回転体の軸方向の1軸(Z軸)で生じるアキシャルモーションに関連する1軸方向の運動誤差Δzを求めることができる。
更に、少なくとも3つの2軸干渉センサユニットは、その各々が回転体の径方向外側の異なる位置で周溝の並び方向つまり回転軸の方向の移動変位を検知するから、回転体の周方向で相異なる位置に固定配備された少なくとも3つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の少なくとも2つずつの組み合わせ、より具体的には、相互にY軸方向に離間した2軸干渉センサユニットから得られるセンサ座標系第2軸の移動量の偏差と相互にX軸方向に離間した2軸干渉センサユニットから得られるセンサ座標系第2軸の移動量の偏差の各々に基いて、回転体の軸が傾斜する向きで直交2軸(X,Y軸)の周りに生じるアンギュラモーションに関連する運動誤差Δu,Δv、すなわち、Y軸方向で位置の異なる少なくとも2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる移動量の偏差に関連するX軸周りの姿勢変化Δuと、X軸方向に位置の異なる少なくとも2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる移動量の偏差に関連するY軸周りの姿勢変化Δvを求めることが可能となる。
また、2軸干渉センサユニットは回転体の一端面の側に纏めて配置されているので、全体的な構造が肥大化するといった不都合も生じない。
前記誤差演算手段は、
直径方向に沿って配備された前記2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第1軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の平均を前記回転体の径方向の1軸に生じる運動誤差とし、かつ、半径上に配備された前記1つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第1軸の干渉信号から得られる移動量を前記回転体の径方向の他の1軸に生じる運動誤差とすると共に、
3つの前記2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の平均を前記回転体の軸方向の1軸に生じる運動誤差とし、
直径方向に沿って配備された前記2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の平均と半径上に配備された前記1つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号から得られる移動量との偏差に基いて前記回転体の傾斜方向の1軸に生じる運動誤差を求め、かつ、直径方向に沿って配備された前記2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の偏差に基いて前記回転体の傾斜方向の他の1軸に生じる運動誤差を求めるように構成することが望ましい。
また、3つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の平均を前記回転体の軸方向の1軸(Z軸)に生じるアキシャルモーションに関連する運動誤差Δzとする。回転体の周方向において相異なる3つの位置で測定された各移動量の平均を回転体の軸方向の1軸(Z軸)に生じるアキシャルモーションの運動誤差Δzとしているので、回転体にアンギュラ方向の姿勢変化Δu,Δvが生じている場合であっても、アキシャルモーションの運動誤差Δzを正確に求めることが可能となる。
更に、直径方向の1軸(X軸)に沿って配備された前記2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の平均と此れに直交する半径方向の1軸(Y軸)に沿って配備された前記1つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号から得られる移動量との偏差に基いて回転体の軸が傾斜する向きで直交2軸の1つ(X軸)の周りに生じるアンギュラモーションに関連する運動誤差である姿勢変化Δuを求め、また、直径方向の1軸(X軸)に沿って配備された前記2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の偏差に基いて回転体の軸が傾斜する向きで直交2軸の他の1つ(Y軸)の周りに生じるアンギュラモーションに関連する運動誤差である姿勢変化Δvを求めることができる。ラジアルモーションの運動誤差の場合と同様、2つの2軸干渉センサユニットのセンサ座標系第1軸が回転体の径方向の1軸(X軸)に沿い、同時に、他の1つの2軸干渉センサユニットのセンサ座標系第1軸が前記1軸と直交する他の1軸(Y軸)に沿うかたちで配置されているため、複雑な座標変換の処理を行なう必要がなく、X軸の周りの姿勢変化ΔuとY軸の周りの姿勢変化Δvを容易に求めることができ、演算処理の所要時間が短縮される。
例えば、m=2,n=36とした場合、運動誤差の測定および演算とデータの記憶処理は、回転体が〔2×360+10〕°すなわち730°回転する度に行えば済むので、実際には10°の絶対回転角度で運動誤差の測定が行われるにも関わらず、演算やデータの記憶処理は、回転体が730°回転する間に行なえばよいことになる。
また、2軸干渉センサユニットS3は、前述の1つの直径方向すなわちX軸に対して直交する他の1つの半径方向であるY軸にセンサ座標系第1軸を沿わせて、図1(a)に示されるように、チャック2の外周面から径方向外側に或る程度の間隔を置いて、図示しないNC工作機械のコラムヘッドに固定配備されている。
2軸干渉センサユニットS2,S3に関しても、前記と同様、図3に示されるような構成を適用することにより、回折格子面3の移動方向の判別と位相補間が可能となる。
2軸干渉センサユニットS2は、2軸干渉センサユニットS1のフォトダイオードPD11〜PD12に相当するフォトダイオードPD21〜PD22を備え、2軸干渉センサユニットS3は、2軸干渉センサユニットS1のフォトダイオードPD11〜PD12に相当するフォトダイオードPD31〜PD32を備えている。
また、これとは逆に、主軸回転数が大きくチャック2の回転速度との比較においてマイクロプロセッサ27の処理速度が不十分となるような場合には、誤差演算手段26の主要部を構成するマイクロプロセッサ27は、主軸回転数の大きさに応じてデータ設定ファイルから整数値m=1,2,3,・・・の一つを選択し、チャック2が〔m+(1/n)〕回転する毎に誤差の測定を実行することになる。この場合、実質的なサンプリング周期は〔1回転所要時間×m+Δt〕である。
また、マイクロプロセッサ27は、2軸干渉センサユニットS2のフォトダイオードPD21〜PD22で検出されている干渉信号IPD21〜IPD22の値を前述の式(1),式(2)におけるIPD11〜IPD12に置き換えて上記と同様の処理を実行することにより、2軸干渉センサユニットS2が検出しているX軸方向の変位Δx2と2軸干渉センサユニットS2が検出しているZ方向の変位Δz2を求める。
更に、マイクロプロセッサ27は、2軸干渉センサユニットS3のフォトダイオードPD31〜PD32で検出されている干渉信号IPD31〜IPD32の値を前述の式(1),式(2)におけるIPD11〜IPD12に置き換えて上記と同様の処理を実行することにより、2軸干渉センサユニットS3が検出しているY軸方向の変位Δy3と2軸干渉センサユニットS3が検出しているZ方向の変位Δz3を求める(以上、ステップb2)。
また、マイクロプロセッサ27は、上述の直径方向つまりX軸と直交する半径方向のY軸に沿って配備された2軸干渉センサユニットS3から得られたセンサ座標系第1軸方向の移動量Δy3をチャック2の径方向の他の1軸つまりY軸の方向に生じる運動誤差Δy(変位)とする。
そして、マイクロプロセッサ27は、3つの2軸干渉センサユニットS1,S2,S3から得られたセンサ座標系第2軸方向の移動量Δz1,Δz2,Δz3の平均〔(Δz1+Δz2+Δz3)/3〕を求め、この値をチャック2の軸方向の1軸つまりZ軸の方向に生じる運動誤差Δz(変位)とする。
また、マイクロプロセッサ27は、上述の直径方向つまりX軸に沿って配備された2軸干渉センサユニットS1,S2から得られたセンサ座標系第2軸方向の移動量Δz1,Δz2の平均〔(Δz1+Δz2)/2〕と此れに直交する半径方向のY軸に沿って配備された2軸干渉センサユニットS3から得られたセンサ座標系第2軸方向の移動量Δz3との偏差Δz’すなわち〔Δz3−(Δz1+Δz2)/2〕と、回折格子面3を形成した部分のチャック2の外周面の半径r(図1(a)参照)に基いて、チャック2の傾斜方向の1軸、つまり、X軸周りに生じる姿勢変化の運動誤差Δu(角度)を求める。運動誤差Δuを求めるための関数fは具体的にはtan−1(Δz’/r)である。
そして、更に、マイクロプロセッサ27は、直径方向の1つであるX軸に沿って配備された2軸干渉センサユニットS1,S2から得られたセンサ座標系第2軸方向の移動量Δz1,Δz2の偏差Δz”すなわち〔Δz1−Δz2〕と、回折格子面3を形成した部分のチャック2の外周面の直径2r(図1(a)参照)に基いて、チャック2の傾斜方向の他の1軸、つまり、Y軸周りに生じる姿勢変化の運動誤差Δv(角度)を求める。運動誤差Δvを求めるための関数gは具体的にはtan−1(Δz”/2r)である(以上、ステップb3)。
表示の形態に関しては前記と同様にスプライン曲線等を利用したグラフ表示が可能であるが、この場合は特に最終的な結果表示であるから、内容分析等の必要上、図9に示されるような形式でデータ内容の平均を数値表示することが望ましい。
誤差測定用プログラムを開始した直後の段階ではカウンタjの初期値は0であるから(ステップa4参照)、誤差測定用プログラムを開始してから最初に実行されるステップa10の処理では〔Δt×0〕すなわち0の値がサンプリング周期計測タイマにセットされ、ステップa12の判定処理は直ちに真となるので、事実上、1回転信号の入力と同時にSUB(A)の処理が実行され、このときのカウンタjの現在値0に基いて、図9のデータ記憶ファイルのアドレス0のフィールドに、1回転信号入力時点のチャック2の回転角度すなわち絶対回転角度0°に対応したΔx,Δy,Δz,Δu,Δvの値が書き込まれることになる。
この段階では、カウンタjの値は初期値である0から1に更新されているので(ステップa15参照)、ステップa10の処理では〔Δt×1〕すなわちΔtの値がサンプリング周期計測タイマにセットされる。従って、ステップa12の判定結果は、前述したm回目の1回転信号が確認されてから更にΔtが経過した時点、つまり、SUB(A)に示される前回の誤差測定処理が行なわれてからのチャック2の回転数が〔m+(1/n)〕回転に達した時点で真となる。そして、前記と同様にしてSUB(A)の処理が実行され、カウンタjの現在値1に基いて、図9のデータ記憶ファイルのアドレス1のフィールドに、チャック2の回転数が〔m+(1/n)〕回転に達した時点のチャック2の回転角度、すなわち、絶対回転角度10°(回転量としてはm×360°+10°)に対応したΔx,Δy,Δz,Δu,Δvの値が書き込まれることになる。
この結果、チャック2が〔m+(1/n)〕回転する毎にΔx,Δy,Δz,Δu,Δvの値が測定され、これらのデータが其の都度のカウンタjの現在値に基いて図9のデータ記憶ファイルのアドレスjのフィールドに書き込まれることになる。例えば、1回転信号が出力される時のチャック2の絶対回転角度を0°としてn=36と規定すれば、チャック2の絶対回転角度が0°で例えばチャック2の通算回転角度が0°の時(図10(a)参照)のΔx,Δy,Δz,Δu,Δvの値が図9のデータ記憶ファイルのアドレス0のフィールドに書き込まれ、チャック2の絶対回転角度が10°で例えばチャック2の通算回転角度が〔360×m+10〕°の時(図10(b)参照)のΔx,Δy,Δz,Δu,Δvの値が図9のデータ記憶ファイルのアドレス1のフィールドに書き込まれ、チャック2の絶対回転角度が20°で例えばチャック2の通算回転角度が〔360×2・m+2・10〕°の時のΔx,Δy,Δz,Δu,Δvの値が図9のデータ記憶ファイルのアドレス2のフィールドに書き込まれ、・・・、チャック2の絶対回転角度が340°で例えばチャック2の通算回転角度が〔360×(n−2)・m+(n−2)・10〕°の時のΔx,Δy,Δz,Δu,Δvの値が図9のデータ記憶ファイルのアドレス34(=n−2)のフィールドに書き込まれ、最終的に、チャック2の絶対回転角度が350°で例えばチャック2の通算回転角度が〔360×(n−1)・m+(n−1)・10〕°の時(図10(c)参照)のΔx,Δy,Δz,Δu,Δvの値が図9のデータ記憶ファイルのアドレス35(=n−1)のフィールドに書き込まれ、これと同一処理周期内でカウンタjの値が1インクリメントされてj=36(=n)となり、ステップa16の判定結果が偽となる。
従って、SUB(A)に示される誤差測定処理、特に、Δx1,Δz1,Δx2,Δz2,Δy3,Δz3を求めるために必要とされる比較的複雑なステップb2の処理にチャック2の〔1/n〕回転所要時間以上の時間を要するような場合、つまり、測定やデータの書き込みに必要とされる処理の所要時間が長い場合、あるいは、チャック2の回転速度が相当に速い場合であっても、誤差演算手段26の主要部を構成するマイクロプロセッサ27は、無理なく演算処理を行なって、各回転角度毎たとえば10°毎に、5軸方向の運動誤差Δx,Δy,Δz,Δu,Δvを確実に測定することができる。
また、2軸干渉センサユニットS1,S2,S3のフォトダイオードPD11〜PD12,PD21〜PD22,PD31〜PD32で検出されている干渉信号の読み込みに関わるステップb1の処理は、干渉信号の値をRAM29の記憶領域に一時的にラッチするだけの単純な処理であり、ステップb2の測定処理のように処理時間を要するものではないので、この処理によって遅れが生じる心配はない。
表示の形態に関しては前記と同様にスプライン曲線等を利用したグラフ表示も可能であるが、この場合は特に最終的な結果表示であるから、内容分析等の必要上、図9に示されるような形式でデータ内容の平均を数値表示することが望ましい。
例えば、2つの2軸干渉センサユニットS1,S2のセンサ座標系第1軸がX軸に対して或る角度で交差し、2軸干渉センサユニットS3のセンサ座標系第1軸がY軸に対して或る角度で交差しているとしても、2軸干渉センサユニットS1,S2,S3のセンサ座標系第1軸方向の移動量に対して行列式を乗じる等の座標変換処理を行なうようにすれば、これらの2軸干渉センサユニットS1〜S3のセンサ座標系第1軸の出力をX軸方向の変位やY軸方向の変位に変換したりすることが可能である。
そうした場合には、数値制御装置24のマイクロプロセッサそれ自体が5自由度誤差測定装置1の誤差演算手段26として機能することになる。
この場合、実際に加工を行うわけではないからチャック2等の回転体の回転速度は任意の設定速度とすることができ、また、例えば〔1/n〕毎に回転体の回転を完全に停止させて誤差測定処理を行なうこともできるので、測定精度は更に向上する。
2 チャック(回転体)
3 回折格子面
4 レーザーダイオード
5〜8 反射鏡
9〜10 ビームスプリッタ
11〜16 1/4波長板
17 1/2波長板
18 固定ミラー
19〜20 1/2波長板
21〜22 ビームスプリッタ
23 NC工作機械(回転駆動手段)
24 数値制御装置
25 5自由度誤差測定装置の本体部
26 誤差演算手段(パーソナルコンピュータ等)
27 マイクロプロセッサ
28 ROM
29 RAM(データ記憶手段)
30 ハードディスク(データ記憶手段)
31 インターフェイス
32 入出力回路
33 キーボード
34 ディスプレイ(データ表示手段)
A,A1,A2 レーザ光
B 0次光
B1 +1次光
B2 −1次光
r 回折格子面を形成した部分のチャックの外周面の半径
2r 回折格子面を形成した部分のチャックの外周面の直径
CL 回転体の回転中心
PD11〜PD12 フォトダイオード
PD11’〜PD12’ フォトダイオード
S1 2軸干渉センサユニット
S2 2軸干渉センサユニット
S3 2軸干渉センサユニット
Claims (4)
- 軸受に取り付けられた回転体もしくは軸受あるいは其の一部を構成する回転体の回転に伴って前記回転体の径方向の2軸と軸方向の1軸および傾斜方向の2軸に生じる運動誤差を計測するための5自由度誤差測定装置であって、
前記回転体の外周面に、該回転体の回転軸の方向に一定の間隔を置いて設けられた複数の周溝から形成される回折格子面を備えると共に、
前記回転体の径方向に相当するセンサ座標系第1軸と前記周溝の並び方向に相当するセンサ座標系第2軸に沿った回折格子面の相対移動変位を検出する2軸干渉センサユニットを、前記外周面から前記回転体の径方向外側に間隙をおいて、かつ、前記回転体の径方向において相互に重合しないようにして前記回転体の周方向の相異なる少なくとも3つの位置に固定配備し、
前記回転体の直径方向に沿って同時に位置しない少なくとも2つの前記2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第1軸の干渉信号の各々から得られる各移動量に基いて前記回転体の径方向の2軸に生じる運動誤差を求めると共に、少なくとも3つの前記2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の少なくとも1つに基いて前記回転体の軸方向の1軸に生じる運動誤差を求め、かつ、少なくとも3つの前記2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の少なくとも2つずつの組み合わせに基いて前記回転体の傾斜方向の2軸に生じる運動誤差を求める誤差演算手段を備えたことを特徴とする5自由度誤差測定装置。 - 前記3つの2軸干渉センサユニットのうちの2つを前記回転体の直径方向に沿って配備すると共に他の1つを該直径方向に対して直交する半径上に配備し、
前記誤差演算手段は、
直径方向に沿って配備された前記2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第1軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の平均を前記回転体の径方向の1軸に生じる運動誤差とし、かつ、半径上に配備された前記1つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第1軸の干渉信号から得られる移動量を前記回転体の径方向の他の1軸に生じる運動誤差とすると共に、
3つの前記2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の平均を前記回転体の軸方向の1軸に生じる運動誤差とし、
直径方向に沿って配備された前記2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の平均と半径上に配備された前記1つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号から得られる移動量との偏差に基いて前記回転体の傾斜方向の1軸に生じる運動誤差を求め、かつ、直径方向に沿って配備された前記2つの2軸干渉センサユニットから出力されるセンサ座標系第2軸の干渉信号の各々から得られる各移動量の偏差に基いて前記回転体の傾斜方向の他の1軸に生じる運動誤差を求めるように構成されていることを特徴とする請求項1記載の5自由度誤差測定装置。 - 前記回転体を回転させる回転駆動手段を有し、前記誤差演算手段は、前記回転体が〔1/n〕回転する毎に前記回転体の径方向の2軸と軸方向の1軸および傾斜方向の2軸に生じる運動誤差を求めて前記回転体の絶対的な回転角度に対応させて記憶するデータ記憶手段と、該データ記憶手段から読み出されたデータを可視表示するデータ表示手段を備えていることを特徴とする請求項1または請求項2のうち何れか一項に記載の5自由度誤差測定装置。
- 前記回転体を回転させる回転駆動手段を更に備え、前記誤差演算手段は、前記回転体が〔m+(1/n)〕回転する毎に前記回転体の径方向の2軸と軸方向の1軸および傾斜方向の2軸に生じる運動誤差を求めて前記回転体の絶対的な回転角度に対応させて記憶するデータ記憶手段と、該データ記憶手段から読み出されたデータを可視表示するデータ表示手段を備えていることを特徴とする請求項1または請求項2のうち何れか一項に記載の5自由度誤差測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009074027A JP5275867B2 (ja) | 2009-03-25 | 2009-03-25 | 5自由度誤差測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009074027A JP5275867B2 (ja) | 2009-03-25 | 2009-03-25 | 5自由度誤差測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010223887A JP2010223887A (ja) | 2010-10-07 |
JP5275867B2 true JP5275867B2 (ja) | 2013-08-28 |
Family
ID=43041216
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009074027A Active JP5275867B2 (ja) | 2009-03-25 | 2009-03-25 | 5自由度誤差測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5275867B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101210911B1 (ko) | 2010-12-08 | 2012-12-12 | 광주과학기술원 | 이송장치의 운동 오차 측정 기능을 겸비한 5자유도 운동 측정 장치 |
CN102411379B (zh) * | 2011-09-05 | 2014-06-25 | 广东顺德三扬科技有限公司 | 一种精确控制拉链长度的装置和控制方法 |
CN109141225B (zh) * | 2017-06-19 | 2020-11-13 | 河南科技大学 | 基于圆光栅的轴系五、六自由度误差测量方法及测量*** |
CN112444197B (zh) * | 2019-08-28 | 2022-06-14 | Ykk株式会社 | 拉头检查装置 |
CN111457837B (zh) * | 2020-04-15 | 2021-11-16 | 大连理工高邮研究院有限公司 | 一种圆光栅及电涡流传感器实时测量转台五自由度运动误差的测量装置 |
CN112536644B (zh) * | 2020-11-11 | 2022-04-12 | 湖北文理学院 | 机床加工测试件建立运动误差模型的方法 |
-
2009
- 2009-03-25 JP JP2009074027A patent/JP5275867B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010223887A (ja) | 2010-10-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5275866B2 (ja) | 5自由度誤差測定装置 | |
US8494800B2 (en) | Method and program for identifying mechanical errors | |
JP5275867B2 (ja) | 5自由度誤差測定装置 | |
US8680806B2 (en) | Numerically controlled machine tool and numerical control device | |
Weikert | R-test, a new device for accuracy measurements on five axis machine tools | |
Jywe et al. | Non-bar, an optical calibration system for five-axis CNC machine tools | |
JP4612086B2 (ja) | ワークの計測基準点設定機能を有する工作機械 | |
JP2016155185A (ja) | 工作機械の誤差同定方法 | |
WO2002032620A1 (fr) | Dispositif et procede de mesure, machine-outil dotee dudit dispositif, et procede de traitement de piece | |
Lei et al. | Error measurement of five-axis CNC machines with 3D probe–ball | |
US9506745B2 (en) | Error measurement method and machine tool | |
CN112008496A (zh) | 机床对象物的位置计测方法及位置计测*** | |
JP5355037B2 (ja) | 精度測定方法及び数値制御工作機械の誤差補正方法並びに誤差補正機能を有した数値制御工作機械 | |
KR20190053115A (ko) | 나사산의 게이지리스 측정 방법 및 시스템 | |
Kwaśny et al. | Survey of machine tool error measuring methods | |
US9829349B2 (en) | Method of compensating command value for rotation angle | |
Ni et al. | Geometric Error Measurement and Identification for Rotational Axes of a Five-Axis CNC Machine Tool. | |
WO2016034855A1 (en) | Coordinate measuring method and apparatus for inspecting workpieces, comprising generating measurement correction values using a reference shape that is known not to deviate substantially from a perfect form | |
Fang et al. | Simultaneous calibration of probe parameters and location errors of rotary axes on multi-axis CNC machines by using a sphere | |
JP7321067B2 (ja) | 工作機械の反転誤差計測方法 | |
JP4950443B2 (ja) | キャリブレーションゲージ | |
IBARAKI et al. | 3240 Construction of an error map of rotary axes by static R-test | |
JP6403298B1 (ja) | Nc加工装置及び加工部品の製造方法 | |
Chen et al. | Geometric Error Measurement of Rotary Axes on Five-Axis Machine Tools: A Review | |
CN113711143A (zh) | 数控装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120322 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130425 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130516 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5275867 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |