JP5273196B2 - 画像処理装置 - Google Patents
画像処理装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5273196B2 JP5273196B2 JP2011105609A JP2011105609A JP5273196B2 JP 5273196 B2 JP5273196 B2 JP 5273196B2 JP 2011105609 A JP2011105609 A JP 2011105609A JP 2011105609 A JP2011105609 A JP 2011105609A JP 5273196 B2 JP5273196 B2 JP 5273196B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- processing
- sequence
- measurement
- dimensional
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 235
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 187
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 161
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 66
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 56
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 27
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 18
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 15
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 9
- 101100459256 Cyprinus carpio myca gene Proteins 0.000 description 8
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 5
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 101000710013 Homo sapiens Reversion-inducing cysteine-rich protein with Kazal motifs Proteins 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 102100036848 C-C motif chemokine 20 Human genes 0.000 description 2
- 101000713099 Homo sapiens C-C motif chemokine 20 Proteins 0.000 description 2
- 101000760620 Homo sapiens Cell adhesion molecule 1 Proteins 0.000 description 2
- 101000911772 Homo sapiens Hsc70-interacting protein Proteins 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 108090000237 interleukin-24 Proteins 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 101001139126 Homo sapiens Krueppel-like factor 6 Proteins 0.000 description 1
- 101000661807 Homo sapiens Suppressor of tumorigenicity 14 protein Proteins 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000003936 working memory Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0608—Height gauges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T1/00—General purpose image data processing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/55—Depth or shape recovery from multiple images
- G06T7/593—Depth or shape recovery from multiple images from stereo images
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30148—Semiconductor; IC; Wafer
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30164—Workpiece; Machine component
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Geometry (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
第1の画像、第2の画像は、それぞれ第1のカメラ、第2のカメラで撮影された画像そのものでもよいし、さらに何らかの処理が施された画像でもよい。例えば、第2のカメラで撮影された斜視画像を正面視の画像に変換した画像を第2の画像として用いてもよい。
第1画像上位置特定処理は、その処理自体の仕様としては、設定によって第2の画像を対象とすることも可能な汎用的な処理(プログラム)であることを妨げない。
また第2の画像上で代表位置を特定する処理と3次元計測用の演算処理とが1つの処理項目とされているので、ユーザは少ない指示で3次元計測全体のシーケンスを完成させることができ、ユーザによる装置の使いこなしがいっそう容易である。
まず、第1画像上位置特定処理として、他の観点により第1の画像における対象物上の位置を特定する処理を含む複数種の第1画像上位置特定処理を提供してもよい。3次元計測処理の項目についても、複数種類を提供してもよい。
この構成により3次元計測の処理内容を選択することができるようになる。さらに、選択により1つの第1画像上位置特定処理の項目と対にすることが可能な3次元計測処理の項目が複数ある場合、および、選択により1つの3次元計測処理の項目と対にすることが可能な第1画像上位置特定処理の項目が複数ある場合には、項目の組み合わせにより項目自体の選択肢の数よりも多くの種類の3次元計測のシーケンスを、作成することが可能になる。
この実施例の検査装置は、3次元および2次元の双方の計測処理機能を有するもので、工場の検査ラインLを搬送される検査対象物W(以下、「ワークW」という。)を、撮像部1により順に撮像して、種々の検査目的に応じた計測処理や判別処理を実行する。
撮像部1は、筐体15内に2台のカメラC0,C1を組み込んだ構成のもので、検査ラインLの上方に設置される。一方のカメラC0は、その光軸を鉛直方向に向けた状態(ワークWに対して正面視の状態)で設置される。他方のカメラC1は、カメラC0と視野が重なるようにして、光軸を傾斜させた状態で設置される。カメラC0およびカメラC1の視野の範囲を規定する撮像面は矩形であり、カメラC1はカメラC0に対して、カメラC0の視野の範囲の横方向(図2の画像A0のx軸方向に対応する。)に沿って並ぶように配置されている。
この図2および後記する図13等のワークWの画像を例示する図では、各画像A0,A1中のワークについても、図1と同様にWを用いて示す。また、画像A0の横方向(水平方向)をx軸方向、縦方向(垂直方向)をy軸方向とする。
このシステムは、処理項目テーブル201、シーケンス保存部202、プログラム記憶部203、指定操作受付部204、シーケンス組立部205、シーケンス実行部206、処理結果出力部207などにより構成される。ここで、処理項目テーブル201、シーケンス保存部202、プログラム記憶部203は、メモリ25にファイルとして保存されるものであり、その他の構成は、メモリ25に記憶されている装置の動作を統括するプログラムにより処理部24に設定される機能である。
『位置決め』に属する処理項目を実行することにより特定される位置は、3次元計測のために用いることができるが、画像A0上での2次元的な位置計測自体を目的として、『位置決め』に属する処理項目が実行される場合もある。計測された2次元的な位置は、画像A0上の2点間の寸法の算出などに用いることもできる。
指定操作受付部204は、処理項目テーブル201から各種処理項目を読み出してモニタ3に表示し、コンソール4による指定操作を受け付ける。この指定操作は、使用する処理項目を選択するとともに、その実行順序を指定するものである。
処理項目テーブル201、シーケンス保存部202、指定操作受付部204、シーケンス組立部205は、シーケンス設定手段に相当し、シーケンス実行部206は、シーケンス実行手段に相当する。
編集されたシーケンスは、前のシーケンスに置き換えて登録されるが、新たなシーケンスとして登録することもできる。
『エッジ位置』は、計測対象部位のエッジ点の3次元座標を計測する場合に適用されるもので、各画像A0,A1上で計測対象とするエッジ点の位置を特定し、このエッジ点の3次元座標を算出する。
『パターン』は、文字、図柄など一定のパターンが含まれる部位を計測する場合に適用されるもので、画像A0,A1からあらかじめ登録されたモデルのパターン(以下、単に「モデル」という。)に対応する領域の代表位置を特定し、この代表位置の3次元座標を算出する。
『多点高さ計測』は、基本的には『高さ計測』と同様のものであるが、指定された領域内の複数点の高さを計測する目的で使用される。
つぎのステップ2(カメラ切替)では、カメラC1に対応する画像入力部11の画像バッファから画像A1を読み出して、この画像により画像メモリ23を書き替える。
つぎのステップ3(ステレオ高精度ECMサーチ)では、画像A1を処理対象として、画像A0に対して実行したのと同様の方法でモデル画像との一致の程度が高い領域の代表位置(例えば領域の中心位置)を特定する。そして、画像A0上で特定した位置と画像A1上で特定した位置とを用いて3次元座標を算出する。
図9は、図7の『エッジ位置』の基本シーケンスに位置修正関連の処理項目を追加する例を示す。以下、この図9の流れに沿って、処理項目を追加する場合のユーザーの操作の手順を説明する。
表示制御部26は、モニタ3の表示動作を制御するためのもので、画像入力部20,21で生成された正面視画像A0,斜視画像A1を一画面内に並列表示させることができる。さらに、適宜、画像処理部41、計測処理部42、判定部43の処理結果を受け取って、画像とともに表示させることができる。
さらに、パラメータ記憶部45には、後記する演算式(1)のホモグラフィ行列を構成するパラメータも登録される。
図12は、ワークWがICである場合に実施される検査の手順を示すものである。この手順は、ワーク検出用のセンサからの検知信号を受けて開始される。最初のST1(STは「ステップ」の略である。以下も同じ。)では、カメラ駆動部12により、カメラC0,C1を同時に駆動して、正面視画像A0,斜視画像A1を生成する。
このように、検出領域7においては、特定の一方向がエッジの検出対象となる。図13の例では、x方向がエッジの検出方向である。ここでは、正面視画像A0に検出領域7を設定した後に、その検出領域7に対してエッジの検出方向を指定するようにしている。しかし、これに限らず、もともと固有のエッジの検出方向を備える検出領域7を設定するようにしてもよいし、先に検出領域7のエッジ検出方向を指定し、その後、正面視画像A0に検出領域7を設定するようにしてもよい。
この手順の最初のステップであるST11では、検査対象のワークW(この例ではIC)について、リード6の長さやリード6間のピッチなどを入力する。ここで入力されたデータは、作業用のメモリに登録され、後記するST15で使用される。
この位置決め領域9は、一列に並んだリード6のうちの一番端のリード(図示例では最上端のリード6aである。以下、これを「先頭リード6a」という。)を抽出するのに用いられる。図7の例では、先頭リード6aのみが含まれるような正方形状の領域9を設定している。位置決め領域9は、ワークWが想定される程度に位置ずれしても、位置決め領域9の中に先頭リード6aを撮像することができるように、その大きさが調整される。また、位置決め領域9は、その下半分の範囲に先頭リード6aが撮像されるように設定される。これにより、位置決め領域9の上半分の範囲にはリードが撮像されていないことをもって、位置決め領域9の下半分の範囲に撮像されているのが先頭リード6aであると確認できる。
このような方法をとることができるのは、ワークWの検査対象部位の特性(各リードの長さが等しい、リード間のピッチが等しいなど)がそのまま反映された正面視画像A0を使用するからである。したがって、先端リード6aが抽出できれば、他のリード6を抽出しなくとも、全てのリード6に検出領域を設定することが可能になり、処理効率を大幅に向上することができる。
ST16を実行する前には、検出領域7の設定結果を示す画像をモニタ3に表示し、ユーザーの確認操作に応じて登録を行うのが望ましい。また、この際に、検出領域7の位置や大きさを微調整できるようにしてもよい。
この手順のST21からST24までの処理は、正面視画像A0に対して行われるものである。まず、ST21では、ティーチングで登録された設定条件に基づき、正面視画像A1に位置決め領域9を設定する。つぎのST22では、この位置決め領域9内の画像とティーチング処理のST17において登録したモデルとを照合して、モデルに対するずれ量を抽出する(この処理には、たとえばパターンマッチングの手法を応用することができる。)。
ST21とST22は、処理項目テーブル201中の『モデル位置修正』の処理項目に相当する。
図18は、空間内の任意の高さ位置にある平面D上の一点PがカメラC0,C1の撮像面F0,F1上の点p0,p1にそれぞれ結像した状態を示している。図18において、X,Y,Zは3次元空間を表す座標軸であり、平面Dは、XY平面に平行である。また撮像面F0には、x0,y0の軸による2次元座標系が、撮像面F1には、x1,y1の軸による2次元座標系が、それぞれ設定されている。図10では、たまたま、両撮像面の原点に結像される平面D上の点がPとされているが、これに限らず、点Pの位置は平面D上で任意である。
見市 伸裕,和田 俊和,松山 隆司 「プロジェクタ・カメラシステムのキャリブレーションに関する研究」、[平成17年6月1日検索]、インターネット<URL:http://vision.kuee.kyoto-u.ac.jp/Research/Thesis/Thesis_PDF/Miichi_2002_P_147.pdf>
ST32とST33は、処理項目テーブル201中の『高精度ECMサーチ』の処理項目に相当する。この処理項目の実行後には、図示しない『カメラ切替』の処理項目が実行され、ST34に進む。
図24は、各カメラC0,C1により生成されたワークWの画像A0,A1を示す。図中、Sが検査対象の表示領域である。正面視画像A0では、先の実施例と同様に、ワークWの正面像が現れているため、表示領域Sの輪郭線72も円形状になっている。これに対し、斜視画像A1では、ワークWに歪みが生じているため、表示領域Sの大きさや輪郭線72の形状も正面視画像A0とは異なるものになり、表示領域S内の文字の配置状態にも歪みが生じている。
ST41では、先の実施例と同様に、各カメラC0,C1を同時駆動して、正面視画像A0および斜視画像A1を生成する。このST41は、処理項目テーブル201中の『ステレオカメラ画像入力』の処理項目に相当する。ST42では、正面視画像A0から上記の処理により、表示領域Sの中心点74の位置を求める。ST42は、『モデル位置修正』の処理項目に相当する。
ST44は、『ステレオ領域設定』の処理項目に相当する。図26では図示を省略しているが、この処理項目の実行後には『カメラ切替』の処理項目が実行される。
ST45からST49までの処理は、処理項目テーブル201中の「ステレオ高さ計測」の処理項目に相当する。
さらに、図26の手順にも、正面視画像A0を用いて表示領域S内の文字の印刷状態を検査する処理を組み込むことができる。
2 本体部
3 モニタ
4 コンソール
7,8 検出領域
24 処理部
25 メモリ
41 画像処理部
42 計測処理部
80,82 サーチ領域
200 装置内コンピュータ
201 処理項目テーブル
202 シーケンス保存部
203 プログラム記憶部
204 指定操作受付部
205 シーケンス組立部
206 シーケンス実行部
A0 正面視画像
A1 斜視画像
C0,C1 カメラ
W ワーク
Claims (4)
- 対象物を互いに異なる方向から撮影するように配置された第1のカメラおよび第2のカメラによりそれぞれ撮影された画像に基づく第1の画像および第2の画像を用いた処理を行う画像処理装置であって、
処理項目のシーケンスを設定するシーケンス設定手段と、
設定されたシーケンスを実行するシーケンス実行手段とを備え、
シーケンス設定手段は、ユーザの選択によりシーケンスの要素とすることができる処理項目として、2次元画像処理の複数の項目、および3次元計測処理の少なくとも1つの項目を提供し、
提供される2次元画像処理の項目の中には、あらかじめ登録されたモデル画像との一致の程度が高い第1の画像上の領域の代表位置を特定する第1画像上位置特定処理の項目が、少なくとも1つ含まれており、
前記3次元計測処理に提供される処理項目の少なくとも1つは、前記第1画像上位置特定処理の項目と同じシーケンスに組み込まれて、前記モデル画像との一致の程度が高い第2の画像上の領域の代表位置を特定する第2画像上位置特定処理と、前記第1画像上位置特定処理により特定された第1の画像における代表位置と前記第2画像上位置特定処理により特定された第2の画像における代表位置とを用いた3次元計測用の演算処理とを実行するように設計されている、画像処理装置。 - 対象物を互いに異なる方向から撮影するように配置された第1のカメラおよび第2のカメラによりそれぞれ撮影された画像に基づく第1の画像および第2の画像を用いた処理を行う画像処理装置であって、
処理項目のシーケンスを設定するシーケンス設定手段と、
設定されたシーケンスを実行するシーケンス実行手段とを備え、
シーケンス設定手段は、ユーザの選択によりシーケンスの要素とすることができる処理項目として、2次元画像処理の複数の項目、および3次元計測処理の少なくとも1つの項目を提供し、
提供される2次元画像処理の項目の中には、第1の画像上にユーザの指示に基づき計測対象領域を設定して、この計測対象領域の代表位置を特定すると共に計測対象領域内の画像をモデル画像として取得する第1画像上位置特定処理の項目が、少なくとも1つ含まれており、
前記3次元計測処理に提供される処理項目の少なくとも1つは、前記第1画像上位置特定処理の項目と同じシーケンスに組み込まれて、前記第1画像上位置特定処理で取得したモデル画像との一致の程度が高い第2の画像上の領域の代表位置を特定する第2画像上位置特定処理と、前記第1画像上位置特定処理により特定された第1の画像における代表位置と前記第2画像上位置特定処理により特定された第2の画像における代表位置とを用いた3次元計測用の演算処理とを実行するように設計されている、画像処理装置。 - 第2画像上位置特定処理は、第1のカメラと第2のカメラとの位置関係および第1画像上位置特定処理において特定された代表位置に基づいて第2の画像上にサーチ領域を設定し、サーチ領域内において前記モデル画像と一致の程度が高い領域の代表位置を特定するものである、請求項1または2に記載の画像処理装置。
- 前記サーチ領域は、さらに、3次元計測の対象範囲としてユーザに指定された第1のカメラの光軸に沿う範囲に基づいて設定される、請求項3に記載の画像処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011105609A JP5273196B2 (ja) | 2005-06-17 | 2011-05-10 | 画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005178546 | 2005-06-17 | ||
JP2005178540 | 2005-06-17 | ||
JP2005178540 | 2005-06-17 | ||
JP2005178546 | 2005-06-17 | ||
JP2011105609A JP5273196B2 (ja) | 2005-06-17 | 2011-05-10 | 画像処理装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006140058A Division JP4788475B2 (ja) | 2005-06-17 | 2006-05-19 | 画像処理装置および画像処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011191312A JP2011191312A (ja) | 2011-09-29 |
JP5273196B2 true JP5273196B2 (ja) | 2013-08-28 |
Family
ID=36950080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011105609A Active JP5273196B2 (ja) | 2005-06-17 | 2011-05-10 | 画像処理装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7630539B2 (ja) |
EP (1) | EP1734477B1 (ja) |
JP (1) | JP5273196B2 (ja) |
KR (1) | KR100785594B1 (ja) |
Families Citing this family (50)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100762670B1 (ko) * | 2006-06-07 | 2007-10-01 | 삼성전자주식회사 | 스테레오 이미지로부터 디스패리티 맵을 생성하는 방법 및장치와 그를 위한 스테레오 매칭 방법 및 장치 |
JP4508283B2 (ja) * | 2007-03-09 | 2010-07-21 | オムロン株式会社 | 認識処理方法およびこの方法を用いた画像処理装置 |
JP4950787B2 (ja) * | 2007-07-12 | 2012-06-13 | 株式会社東芝 | 画像処理装置及びその方法 |
JP5166102B2 (ja) * | 2008-04-22 | 2013-03-21 | 株式会社東芝 | 画像処理装置及びその方法 |
US8908995B2 (en) | 2009-01-12 | 2014-12-09 | Intermec Ip Corp. | Semi-automatic dimensioning with imager on a portable device |
JP2010210585A (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-24 | Omron Corp | 3次元視覚センサにおけるモデル表示方法および3次元視覚センサ |
JP5257375B2 (ja) * | 2009-03-13 | 2013-08-07 | オムロン株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法 |
US8508919B2 (en) * | 2009-09-14 | 2013-08-13 | Microsoft Corporation | Separation of electrical and optical components |
JP5631025B2 (ja) * | 2010-03-10 | 2014-11-26 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、その処理方法及びプログラム |
KR101205970B1 (ko) * | 2010-11-18 | 2012-11-28 | 주식회사 고영테크놀러지 | 브리지 연결불량 검출방법 |
US9779546B2 (en) | 2012-05-04 | 2017-10-03 | Intermec Ip Corp. | Volume dimensioning systems and methods |
US10007858B2 (en) | 2012-05-15 | 2018-06-26 | Honeywell International Inc. | Terminals and methods for dimensioning objects |
JP6222898B2 (ja) * | 2012-07-03 | 2017-11-01 | キヤノン株式会社 | 3次元計測装置及びロボット装置 |
US10321127B2 (en) | 2012-08-20 | 2019-06-11 | Intermec Ip Corp. | Volume dimensioning system calibration systems and methods |
US9939259B2 (en) | 2012-10-04 | 2018-04-10 | Hand Held Products, Inc. | Measuring object dimensions using mobile computer |
US9841311B2 (en) | 2012-10-16 | 2017-12-12 | Hand Held Products, Inc. | Dimensioning system |
US9080856B2 (en) | 2013-03-13 | 2015-07-14 | Intermec Ip Corp. | Systems and methods for enhancing dimensioning, for example volume dimensioning |
US10228452B2 (en) | 2013-06-07 | 2019-03-12 | Hand Held Products, Inc. | Method of error correction for 3D imaging device |
US9823059B2 (en) | 2014-08-06 | 2017-11-21 | Hand Held Products, Inc. | Dimensioning system with guided alignment |
US9779276B2 (en) | 2014-10-10 | 2017-10-03 | Hand Held Products, Inc. | Depth sensor based auto-focus system for an indicia scanner |
US10810715B2 (en) | 2014-10-10 | 2020-10-20 | Hand Held Products, Inc | System and method for picking validation |
US10775165B2 (en) | 2014-10-10 | 2020-09-15 | Hand Held Products, Inc. | Methods for improving the accuracy of dimensioning-system measurements |
US9762793B2 (en) | 2014-10-21 | 2017-09-12 | Hand Held Products, Inc. | System and method for dimensioning |
US9752864B2 (en) | 2014-10-21 | 2017-09-05 | Hand Held Products, Inc. | Handheld dimensioning system with feedback |
US9897434B2 (en) | 2014-10-21 | 2018-02-20 | Hand Held Products, Inc. | Handheld dimensioning system with measurement-conformance feedback |
US10074036B2 (en) * | 2014-10-21 | 2018-09-11 | Kla-Tencor Corporation | Critical dimension uniformity enhancement techniques and apparatus |
US10060729B2 (en) | 2014-10-21 | 2018-08-28 | Hand Held Products, Inc. | Handheld dimensioner with data-quality indication |
US9786101B2 (en) * | 2015-05-19 | 2017-10-10 | Hand Held Products, Inc. | Evaluating image values |
US10066982B2 (en) | 2015-06-16 | 2018-09-04 | Hand Held Products, Inc. | Calibrating a volume dimensioner |
US9857167B2 (en) | 2015-06-23 | 2018-01-02 | Hand Held Products, Inc. | Dual-projector three-dimensional scanner |
US20160377414A1 (en) | 2015-06-23 | 2016-12-29 | Hand Held Products, Inc. | Optical pattern projector |
US9835486B2 (en) | 2015-07-07 | 2017-12-05 | Hand Held Products, Inc. | Mobile dimensioner apparatus for use in commerce |
EP3396313B1 (en) | 2015-07-15 | 2020-10-21 | Hand Held Products, Inc. | Mobile dimensioning method and device with dynamic accuracy compatible with nist standard |
US10094650B2 (en) | 2015-07-16 | 2018-10-09 | Hand Held Products, Inc. | Dimensioning and imaging items |
US20170017301A1 (en) | 2015-07-16 | 2017-01-19 | Hand Held Products, Inc. | Adjusting dimensioning results using augmented reality |
US10249030B2 (en) | 2015-10-30 | 2019-04-02 | Hand Held Products, Inc. | Image transformation for indicia reading |
US10225544B2 (en) | 2015-11-19 | 2019-03-05 | Hand Held Products, Inc. | High resolution dot pattern |
US10025314B2 (en) | 2016-01-27 | 2018-07-17 | Hand Held Products, Inc. | Vehicle positioning and object avoidance |
JP6333871B2 (ja) * | 2016-02-25 | 2018-05-30 | ファナック株式会社 | 入力画像から検出した対象物を表示する画像処理装置 |
US10339352B2 (en) | 2016-06-03 | 2019-07-02 | Hand Held Products, Inc. | Wearable metrological apparatus |
US9940721B2 (en) | 2016-06-10 | 2018-04-10 | Hand Held Products, Inc. | Scene change detection in a dimensioner |
US10163216B2 (en) | 2016-06-15 | 2018-12-25 | Hand Held Products, Inc. | Automatic mode switching in a volume dimensioner |
JP6897042B2 (ja) * | 2016-09-27 | 2021-06-30 | 日本電気株式会社 | 画像検査装置、画像検査方法および画像検査プログラム |
US10909708B2 (en) | 2016-12-09 | 2021-02-02 | Hand Held Products, Inc. | Calibrating a dimensioner using ratios of measurable parameters of optic ally-perceptible geometric elements |
US11047672B2 (en) | 2017-03-28 | 2021-06-29 | Hand Held Products, Inc. | System for optically dimensioning |
WO2018235163A1 (ja) | 2017-06-20 | 2018-12-27 | 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント | キャリブレーション装置、キャリブレーション用チャート、チャートパターン生成装置、およびキャリブレーション方法 |
JP6857147B2 (ja) * | 2018-03-15 | 2021-04-14 | 株式会社日立製作所 | 三次元画像処理装置、及び三次元画像処理方法 |
US10584962B2 (en) | 2018-05-01 | 2020-03-10 | Hand Held Products, Inc | System and method for validating physical-item security |
TWI738232B (zh) * | 2020-02-27 | 2021-09-01 | 由田新技股份有限公司 | 基板量測系統及其方法 |
CN113686253A (zh) * | 2021-09-18 | 2021-11-23 | 广州海普电子材料科技有限公司 | 一种bga锡球检测方法及*** |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5546189A (en) * | 1994-05-19 | 1996-08-13 | View Engineering, Inc. | Triangulation-based 3D imaging and processing method and system |
JPH08263663A (ja) * | 1995-03-27 | 1996-10-11 | Mitsubishi Electric Corp | 画像処理装置 |
US5850352A (en) * | 1995-03-31 | 1998-12-15 | The Regents Of The University Of California | Immersive video, including video hypermosaicing to generate from multiple video views of a scene a three-dimensional video mosaic from which diverse virtual video scene images are synthesized, including panoramic, scene interactive and stereoscopic images |
JP3525964B2 (ja) * | 1995-07-05 | 2004-05-10 | 株式会社エフ・エフ・シー | 物体の三次元形状計測方法 |
JP2001337166A (ja) * | 2000-05-26 | 2001-12-07 | Minolta Co Ltd | 3次元入力方法および3次元入力装置 |
JP3842988B2 (ja) | 2000-07-19 | 2006-11-08 | ペンタックス株式会社 | 両眼立体視によって物体の3次元情報を計測する画像処理装置およびその方法又は計測のプログラムを記録した記録媒体 |
JP4023096B2 (ja) | 2001-02-05 | 2007-12-19 | オムロン株式会社 | 画像処理方法およびその装置 |
JP4442042B2 (ja) * | 2001-02-23 | 2010-03-31 | パナソニック電工株式会社 | 画像処理プログラム作成方法およびそのシステム |
US7034820B2 (en) * | 2001-12-03 | 2006-04-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Method, apparatus and program for processing a three-dimensional image |
JP2004234423A (ja) * | 2003-01-31 | 2004-08-19 | Seiko Epson Corp | ステレオ画像処理方法およびステレオ画像処理装置、並びにステレオ画像処理プログラム |
JP2005164434A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | Fukuoka Institute Of Technology | 非接触三次元計測方法および装置 |
JP2005167678A (ja) | 2003-12-03 | 2005-06-23 | Omron Corp | 画像処理装置の使用体験環境の設定方法、画像処理装置の使用体験システム、このシステムの端末装置用のプログラム、およびこのプログラムの配信方法 |
-
2006
- 2006-06-09 KR KR1020060051674A patent/KR100785594B1/ko active IP Right Grant
- 2006-06-14 EP EP06012282.7A patent/EP1734477B1/en active Active
- 2006-06-16 US US11/454,120 patent/US7630539B2/en active Active
-
2011
- 2011-05-10 JP JP2011105609A patent/JP5273196B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7630539B2 (en) | 2009-12-08 |
KR100785594B1 (ko) | 2007-12-13 |
KR20060132454A (ko) | 2006-12-21 |
US20060291719A1 (en) | 2006-12-28 |
EP1734477A3 (en) | 2011-06-22 |
EP1734477B1 (en) | 2019-07-17 |
JP2011191312A (ja) | 2011-09-29 |
EP1734477A2 (en) | 2006-12-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5273196B2 (ja) | 画像処理装置 | |
JP4811272B2 (ja) | 3次元計測を行う画像処理装置および画像処理方法 | |
KR100817656B1 (ko) | 화상 처리 방법, 3차원 위치 계측 방법 및 화상 처리 장치 | |
EP2549435B1 (en) | Segmentation of a depth map of printed circuit boards | |
EP3496035B1 (en) | Using 3d vision for automated industrial inspection | |
US20100272348A1 (en) | Transprojection of geometry data | |
JPWO2008026722A1 (ja) | 3次元モデルデータ生成方法及び3次元モデルデータ生成装置 | |
US20060285752A1 (en) | Three-dimensional measuring method and three-dimensional measuring apparatus | |
JP5096620B2 (ja) | フィーチャー境界の結合 | |
US20060008268A1 (en) | Three-dimensional image processing apparatus, optical axis adjusting method, and optical axis adjustment supporting method | |
US8315457B2 (en) | System and method for performing multi-image training for pattern recognition and registration | |
JP4788475B2 (ja) | 画像処理装置および画像処理方法 | |
JP7214432B2 (ja) | 画像処理方法、画像処理プログラム、記録媒体、画像処理装置、生産システム、物品の製造方法 | |
JP4275149B2 (ja) | 境界の位置決定装置、境界の位置を決定する方法、当該装置としてコンピュータを機能させるためのプログラム、および記録媒体 | |
JP2010133744A (ja) | 欠陥検出方法およびその方法を用いた視覚検査装置 | |
KR101792701B1 (ko) | 도면 검사 장치 및 방법 | |
JP5445064B2 (ja) | 画像処理装置および画像処理プログラム | |
CN117529651A (zh) | 外观检查装置、外观检查方法、图像生成装置以及图像生成方法 | |
CN116736272A (zh) | 一种联合标定参数确定方法、装置、设备及介质 | |
JP2003168111A (ja) | テンプレート登録方法及びその装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130416 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130429 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5273196 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |