JP5257007B2 - 磁気センサー - Google Patents

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Description

本発明は、磁気センサーに関するものである。
薄膜磁気記録再生ヘッド等に用いられる磁気センサーとして、磁気抵抗素子が知られている。一般的に磁気抵抗素子では、磁化固定層と磁化自由層との間に電流を流すため、高出力が得られる。しかしながら、磁気抵抗素子では、電流が与えるスピントルクによる磁壁の移動などに起因する、磁気センサーとして不必要な信号が得られてしまう。
一方、磁化自由層及び磁化固定層を同一水平面(スピンを蓄積するためのチャンネル層)上に形成するスピン蓄積型(SA: Spin Accumulation)磁気センサーが知られている(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。例えば、薄膜磁気記録再生ヘッドにスピン蓄積型磁気センサーを用いた場合、磁気記録媒体などの外部磁場を感知する磁化自由層には、電流を流す必要がない。すなわち、スピン蓄積型磁気センサーでは、スピン電流のみを利用して、磁気状態を出力電圧として検出することが可能である。従って、磁気抵抗素子で観測されてしまう不必要な信号が、スピン蓄積型磁気センサーでは観測される恐れは少ない。
特開2007−299467号公報 特許第4029772号公報
ところで、高い出力を有するスピン蓄積型磁気センサーを作る観点からは、磁化自由層及び磁化固定層間の距離をスピン拡散長よりも十分に短くする方法や、スピン流の二次元的な流れを考慮した電極配置を行う方法などが考えられる。あるいは磁化固定層からチャンネル層へスピン偏極した電子を多く注入するために、磁化自由層及び磁化固定層とチャンネル層との間に絶縁層を設ける方法などが考えられるが、十分ではなかった。
また、電流を大きくすることによって出力を高めることも考えられるが、単に電流値を高めても、電流密度が高くなると、磁化固定層とチャンネル層との対向面における抵抗が高くなる。その結果、磁化固定層からチャンネル層へスピンを注入しにくくなり、結果として、電位出力が十分とはならない。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、電位出力を高くすることが可能な磁気センサーを提供することを目的とする。
上述の課題を解決するため、本発明の磁気センサーは、チャンネル層と、チャンネル層の第一の部分上に設けられ、外部磁界を検出する磁化自由層と、チャンネル層の第一の部分とは異なる第二の部分上に設けられた磁化固定層と、を備え、チャンネル層と対向する面における磁化固定層の断面積が、チャンネル層と対向する面における磁化自由層の断面積よりも大きいことを特徴とする。
このように、本発明の磁気センサーでは、磁化自由層とチャネル層との対向面の面積が、磁化固定層とチャネル層との対向面の面積に比べて相対的に小さい。このため、磁化固定層とチャネル層との対向面の面積を大きくして、磁化固定層からチャンネル層へ流れる電流の当該対向面における単位面積当たりの電流密度を低くすることができる。よって、この対向面における抵抗を抑制して、従来の磁気センサーに比して効率的にスピンを磁化固定層からチャンネル層へ注入することが可能となる。一方、磁化自由層とチャネル層との対向面の面積を小さくして、チャンネル層から磁化自由層に流入するスピンの当該対向面における単位面積当たりの密度を高くすることができ、磁化自由層から発生する電圧を高めることができる。これにより、本発明の磁気センサーでは、従来の磁気センサーに比して高い電位出力を得ることができる。
また、本発明の磁気センサーにおいて、チャンネル層の厚み方向から見て、磁化自由層の幾何学的重心と、磁化固定層の幾何学的重心と、を結ぶ直線と直交する方向における磁化固定層の幅は、当該直線と直交する方向における磁化自由層の幅よりも大きいことが好ましい。磁化固定層と磁化自由層の形状をこのようにすることにより、当該直線と直交する方向における磁化固定層の幅が、当該直線と直交する方向における磁化自由層の幅よりも小さい場合と比較して、磁化固定層からチャンネル層を介して磁化自由層へ伝播するスピンの全体としての移動距離を相対的に短くすることができるため、磁気センサーにおける電位出力を効率的に高くすることが可能となる。ここで、「幾何学的重心」とは、ある図形において、そのまわりでの一次モーメントが0であるような点のことをいう。
また、本発明の磁気センサーにおいて、チャンネル層の厚み方向から見て、上記直線に沿う方向の磁化固定層の長さは、磁化固定層の上記幅よりも小さいことが好ましい。磁化固定層の形状をこのようにすることにより、上記直線に沿う方向の磁化固定層の長さが磁化固定層の幅よりも大きいものと比較して、磁化固定層からチャンネル層を介して磁化自由層へ伝播させるスピン全体における移動距離を相対的に短くすることができる。このため、磁気センサーにおける電位出力を効率的に高くすることが可能となる。
また、本発明の磁気センサーにおいて、チャンネル層の厚み方向から見て、磁化固定層は、磁化自由層の幾何学的重心を中心とする円環の一部を構成する円弧形状をなすことが好ましい。このように、磁化固定層が円弧形状であることにより、磁化固定層内の各部と磁化自由層との距離がほぼ等間隔となるので、磁化固定層から磁化自由層へのスピン注入を効率的に行うことが可能となり、従来の磁気センサーに比して高い電位出力を得ることができる。
さらに、磁化固定層が上述したような円弧形状をなすとともに、上記直線に対して線対称であることが好ましい。これにより、磁化固定層における複数のスピンがそれぞれ有するスピンベクトルの総和を、上記直線に対して垂直な方向の磁化の向きとして、磁化自由層へ伝播させることが可能となる。このように磁化固定層の形状を工夫することによって、磁気センサーにおける電位出力を効率的に高くすることが可能となる。
また、本発明の磁気センサーにおいて、チャンネル層の厚み方向から見て、上記直線と直交する方向におけるチャンネル層の幅が、磁化固定層から磁化自由層に向かって狭くなることが好ましい。これにより、磁化固定層からチャンネル層に注入されたスピンを集中させて、磁化自由層側へ伝播させることができる。その結果、磁気センサーにおける電位出力をより効率的に高くすることが可能となる。
また、磁化自由層にバイアス磁界を印加する永久磁石を更に備えることが好ましい。これにより、磁化自由層の磁気異方性が制御されるため、磁化自由層の磁区構造が単一化されて安定化し、磁壁の移動に起因するバルクハウゼンノイズを抑制することが可能となる。
また、磁化固定層の磁化方向が、反強磁性層、形状異方性、及び成膜時における外部磁場のうち少なくとも一つによって固定されていることが好ましい。磁化固定層の磁化の向きを、磁化固定層上に反強磁性層を設けることや、磁化固定層の形状異方性によって固定することで、磁化固定層の磁化の向きを外部磁界に反応し難くすることが容易となる。
また、磁化固定層の保磁力は、磁化自由層の保磁力よりも大きいことが好ましい。これにより、磁気センサーにおける磁化固定層及び磁化自由層としての機能を好適に実現することが可能である。
また、磁化自由層は、チャンネル層の検出対象となる磁束が進入する側に配置され、磁化固定層は、チャンネル層の検出対象となる磁束が進入する側の反対側に配置されていることが好ましい。磁化自由層側を磁気記録媒体に近接して設置することで、磁気記録媒体の磁気情報を検出して磁気情報の再生を行うことが可能となる。
また、磁化自由層の材料は、Cr、Mn、Co、Fe及びNiからなる群から選択される金属、前記群の元素を1以上含む合金、又は、前記群から選択される1以上の元素及びB、C、及びNからなる群から選択される1以上の元素を含む合金であることが好ましい。これらの材料は軟磁性材料であるため、磁気センサーにおける磁化自由層としての機能を好適に実現することが可能である。
また、磁化固定層の材料は、Cr、Mn、Co、Fe及びNiからなる群から選択される金属、前記群の元素を1以上含む合金、又は、前記群から選択される1以上の元素及びB、C、及びNからなる群から選択される1以上の元素を含む合金であることが好ましい。これらの材料はスピン分極率の大きい強磁性材料であるため、磁気センサーにおける磁化固定層としての機能を好適に実現することが可能である。
また、チャンネル層の材料は、B、C、Mg、Al、Cu、及びZnからなる群から選択される一つ以上の元素を含む材料であることが好ましい。これらの材料はスピン拡散長が長く、且つ導電率が比較的小さいため、チャンネル層がスピン蓄積層として機能することを好適に実現することが可能となる。また、チャンネル層の材料は、Si、ZnO、及びGaAsのうちのいずれか一つを含む半導体化合物であることも好ましい。これらの半導体化合物はスピン拡散長が更に長いため、チャンネル層をスピン蓄積層として機能させることにより好適であり、なおかつ上記金属や上記合金を用いたチャンネル層よりも、電位出力を高くすることが可能となる。
本発明によれば、電位出力を高くすることが可能な磁気センサーを提供することができる。
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において、同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
(第1実施形態)
以下、第1実施形態に係る磁気センサーの一例として、薄膜磁気記録再生ヘッド100Aを説明する。
図1は、薄膜磁気記録再生ヘッド100Aを示す部分断面図である。図2は、図1におけるII−II線に沿った断面図である。なお、図2では、後述する第三絶縁層14及び永久磁石15を省略してチャンネル層の形状を示している。
薄膜磁気記録再生ヘッド100Aは、そのエアベアリング面(Air Bearing Surface:媒体対向面)Sが磁気記録媒体20の記録面20aに対向配置されるような位置で磁気情報の記録及び読み取り動作を行う。磁気記録媒体20は、記録面20aを有する記録層20bと、記録層20bに積層される軟磁性の裏打ち層20cとを含んで構成されており、図中Z方向で示す方向に、薄膜磁気記録再生ヘッド100Aに対して相対的に進行する。
薄膜磁気記録再生ヘッド100Aは、磁気記録媒体20から記録を読み取る磁気センサー100a及び磁気記録媒体20への記録を行う磁気記録部100bを備える。磁気センサー100a及び磁気記録部100bは、基板SB上に設けられており、アルミナ等の非磁性絶縁層により覆われている。図1に示すように、磁気センサー100aの上に磁気記録部100bが設けられている。磁気記録部100bにおいて、リターンヨーク30上にコンタクト部32及び主磁極33が設けられており、これらが、磁束のパスを形成している。コンタクト部32を取り囲むように薄膜コイル31が設けられており、薄膜コイル31に記録電流を流すと主磁極33の先端から磁束が放出され、ハードディスク等の磁気記録媒体20の記録層20bに情報を記録することができる。
磁気センサー100aは、電子のスピンを蓄積するチャンネル層5と、チャンネル層5の第一の部分上に設けられた磁化自由層6と、チャンネル層5の第一の部分とは異なる第二の部分上に設けられた磁化固定層7とを主として備えている。
さらに、図1に示すように、磁気センサー100aは、チャンネル層5を間に挟んで対向する下部磁気シールド層1と上部第一磁気シールド層11及び上部第二磁気シールド層12と、下部磁気シールド層1とチャンネル層5との間に設けられた第一絶縁層3及び第一電極4と、磁化固定層7上に設けられた反強磁性層8と、反強磁性層8上に設けられた第二電極9とを更に備えている。
磁化自由層6は、外部磁界を検出し、磁気記録媒体20などの磁化方向の変化を鋭敏に検出するための層である。磁化自由層6は、チャンネル層5の上面上においてチャンネル層5の検出対象となる磁束が進入する側すなわちエアベアリング面S側に配置されている。磁化自由層6を磁気記録媒体20に近接して設置することにより、媒体20から磁気情報を好適に読み取ることが可能である。磁化自由層6として強磁性材料、特に軟磁性材料が適用され、例えば、Cr、Mn、Co、Fe及びNiからなる群から選択される金属、前記群の金属を1種以上含む合金、又は、前記群から選択される1又は複数の金属及びB、C、及びNのうち少なくとも一種を含む合金が挙げられる。具体的には、CoFeB、NiFeが挙げられる。
磁化固定層7は、所定のスピンを有する電子をチャンネル層5へ注入するための層であり、磁化固定層7は、チャンネル層5の上面上においてチャンネル層5の検出対象となる磁束が進入する側の反対側、すなわち、エアベアリング面Sから離れた側に配置されている。
図2に示すように、チャンネル層5と対向する面における磁化固定層7の断面積は、チャンネル層5と対向する面における磁化自由層6の断面積よりも大きい。すなわち、XY平面に平行な面における磁化固定層7の断面積は、当該XY平面に平行な面における磁化自由層6の断面積よりも大きい。
また、チャンネル層5の厚み方向(Z軸方向)から見て、磁化自由層6の幾何学的重心Oと、磁化固定層7の幾何学的重心Oと、を結ぶ直線L1と直交する方向(X方向)における磁化固定層7の幅W4は、当該直線L1と直交する方向における磁化自由層6の幅W3よりも大きい。ここで、例えば、図2に示すように、磁化自由層6及び磁化固定層7が矩形である場合、幾何学的重心O,Oは、矩形の対角線が交わる交点である。
また、チャンネル層5の厚み方向(Z軸方向)から見て、上記直線L1に沿う方向(Y軸方向)の磁化固定層7の長さN1は、磁化固定層7の幅W4よりも小さい。
ここで、磁化固定層7の幅W4とは、磁化固定層7の直線L1と直交する方向における幅のうち、最大値を示す部分の幅のことをいう。同様に、磁化自由層6の幅W3とは、磁化自由層6の直線L1と直交する方向における幅のうち、最大値を示す部分の幅のことをいう。
また、図2に示すように、チャンネル層5の厚み方向(Z軸方向)から見て、磁化固定層7の形状は、上記直線L1に対して線対称である。
磁化固定層7の材料として、スピン分極率の大きい強磁性金属材料を使用することができ、例えば、Cr、Mn、Co、Fe及びNiからなる群から選択される金属、前記群の元素を1種以上含む合金、又は、前記群から選択される1種以上の元素及びB、C、及びNからなる群から選択される一種以上の元素を含む合金が挙げられる。具体的には、CoFe、CoFeBが挙げられる。
磁化固定層7の保磁力は、磁化自由層6の保磁力よりも大きい。磁化固定層7の磁化は、後述する反強磁性層8を用いる磁化固定方法、及び磁化固定層7の形状異方性による磁化固定方法のうち少なくともいずれか一の磁化固定方法によって固定されていることが好ましい。これにより、磁化固定層7の磁化の向きを外部磁界に反応し難くすることが可能となる。
磁化固定層7の磁化固定方法として、反強磁性層8を用いる磁化固定方法を採用する場合、図1に示すように、反強磁性層8は、磁化固定層7上に設けられている。反強磁性層8が磁化固定層7と交換結合することにより、磁化固定層7の磁化方向を固定(一方向異方性を付与)することが可能となる。この場合、反強磁性層8を設けない場合よりも、高い保磁力を一方向に有する磁化固定層7が得られる。従って、反強磁性層8に用いられる材料は、磁化固定層7に用いられる材料に合わせて選択される。例えば、反強磁性層8として、Mnを用いた反強磁性を示す合金、具体的にはMnと、Pt、Ir、Feのうちから選ばれる少なくとも一つの元素とを含む合金が挙げられる。具体的には、例えば、IrMn、PtMnが挙げられる。
一方、磁化固定層7に形状異方性を持たせて、磁化固定層7の磁化を固定する方法を採用する場合には、反強磁性層8を省略することが可能である。なお、反強磁性層8及び形状異方性の両方によって磁化を固定してもよいことは言うまでもない。
チャンネル層5は、スピン注入によりスピンが蓄積される層である。図1に示すように、チャンネル層5は、第一絶縁層3及び第一電極4により形成される平面(XY平面)上に設けられている。
また、チャンネル層5は、チャンネル形成層5A,5B,5Cを含んでいる。図2に示すように、チャンネル層の一部を構成するチャンネル形成層5A,5B,5CがXY平面上に設けられている。なお、図示されていないが、磁化自由層6及び磁化固定層7の下にはチャンネル層5のそのほかの一部がそれぞれ設けられている。
チャンネル形成層5Aは、磁化固定層7のY軸方向側に設けられている。チャンネル形成層5Aは、検出用電流が流れる領域として機能する。チャンネル形成層5Aの厚み方向(Z軸方向)から見て、上記直線L1と直交する方向におけるチャンネル形成層5Aの幅は、磁化固定層7から+Y方向へ離れるに従って、広くなっている。すなわち、図2に示すように、チャンネル形成層5Aの磁化固定層7側の幅W2よりも、チャンネル形成層5Aの磁化固定層7と反対側の幅W1の方が大きい。また、チャンネル形成層5Cは、磁化自由層6の−X方向側に設けられている。
チャンネル形成層5Bは、磁化自由層6と磁化固定層7との間の領域に設けられている。チャンネル層5の厚み方向(Z軸方向)から見て、上記直線L1と直交する方向(X軸方向)におけるチャンネル形成層5B(チャンネル層5の一部)の幅は、磁化固定層7から磁化自由層6に向かって狭くなっている。図2に示すように、X軸方向におけるチャンネル形成層5Bの磁化固定層7側の長さW4は、X軸方向におけるチャンネル形成層5Bの磁化自由層6側の長さW3よりも大きい。
チャンネル層5の材料として、非強磁性導電材料が挙げられ、スピン拡散長が長く、導電率が比較的小さい材料が選択されることが好ましい。例えば、チャンネル層5の材料として、B、C、Mg、Al、Cu、及びZnからなる群から選択される1つ以上の元素を含む材料が挙げられる。特に、Cu、MgBが好ましい。また、チャンネル層5として、Si、ZnO、及びGaAsのうちのいずれか一つを含む半導体化合物も挙げられる。これらの半導体化合物はスピン拡散長が更に長く、導電率が比較的小さいため、これらの半導体化合物を用いたチャンネル層5はスピン蓄積層としてより好適であり、なおかつ上記金属や合金を用いたチャンネル層5よりも、出力を高くすることも可能である。
図1に示すように、下部磁気シールド層1は、外部、特に磁気センサー100aの下部から、磁化自由層6及び磁化固定層7に侵入する磁気をそれぞれ遮断するためのものであり、第一絶縁層3及び第一電極4の下に形成されている。一方、上部第一磁気シールド層11は磁化自由層6上に形成されている。また、上部第二磁気シールド層12は、磁化固定層7、反強磁性層8、及び、第二電極9からなる層構造の上に形成されている。上部第一磁気シールド層11及び上部第二磁気シールド層12は、外部、特に磁気センサー100aの上部から、磁化自由層6、磁化固定層7に侵入する磁気をそれぞれ遮断する。なお、上部第一磁気シールド層11と上部第二磁気シールド層12とが、互いに独立して設けられていることにより、上部第一磁気シールド層11を磁化自由層6用の電極として、上部第二磁気シールド層12を磁化固定層7用の電極としてそれぞれ利用することができる。下部磁気シールド層1、上部第一磁気シールド層11、及び上部第二磁気シールド層12の材料として、例えばNi及びFeを含む合金、センダスト、Fe及びCoを含む合金、Fe、Co、及びNiを含む合金等の軟磁性体材料が挙げられる。
第一絶縁層3は、チャンネル層5に蓄積させる電子のスピンが下部磁気シールド層1側へ流出することを防ぐものである。第一絶縁層3は、チャンネル層5と下部磁気シールド層1との間に設けられている。スピン蓄積を効率良く行う観点から、第一絶縁層3は、チャンネル層5の下部面上において、磁化固定層7側から磁化自由層6側に亘って設けられていることが好ましい。さらに、チャンネル層5において磁化固定層7から磁化自由層6側まで効率よくスピンを拡散させる観点から、第一絶縁層3が、チャンネル層5を介して磁化自由層6に一部重なるように設けられていることが好ましい。第一絶縁層3として、例えばSiOが挙げられる。
第一電極4は、磁化固定層7へ検出用電流を流すための電極である。第一電極4は、チャンネル層5の下面上において、エアベアリング面Sとは反対側に第一絶縁層3と隣接して設けられている。図1では、第一電極4を介して、チャンネル層5は下部磁気シールド層1と電気的に接続している。従って、第一電極4下に設けられている下部磁気シールド層1を磁化固定層7へ検出用電流Iを流すための電極として用いることができる。第一電極4として、例えば、CuやTaなどの金属材料が用いられる。
第二電極9は、上部第二磁気シールド層12を電極として磁化固定層7に電流を流すべく、上部第二磁気シールド層12と反強磁性層8とを電気的に接続するための層である。第二電極9は、上部第二磁気シールド層12と反強磁性層8や磁化固定層7との間の原子の拡散等を抑制する効果もある。第二電極9の材料として、例えば、CuやTaなどの金属材料が用いられる。
第二絶縁層13は、第二電極9の両端に形成されている。第二絶縁層13として、例えばSiOが挙げられる。
なお、チャンネル層5と磁化自由層6との間、及びチャンネル層5と磁化固定層7との間には障壁層が設けられていてもよい。例えば、障壁層は、チャンネル層5上において、磁化固定層7側から磁化自由層6側に亘って設けられていればよい。障壁層はトンネル絶縁層であり、障壁層として、酸化アルミニウムや酸化マグネシウムなどの絶縁体、あるいは酸化亜鉛などの半導体が適用される。
次に、図3を用いて、図1に示した磁気センサー100aのX方向に平行な断面形状を説明する。図3は、図1のIII−III線に沿った断面構成を説明するための概略図である。
図3に示すように、チャンネル層5の内の磁化自由層6の直下に設けられる部分は、チャンネル層5の内の磁化自由層6の直下以外に設けられる部分よりも、後述する第三絶縁層14の厚さtの分だけ厚いことが好ましい。これは、磁化自由層6の厚さと、後述する永久磁石15の厚さを揃えるためであり、これにより磁化自由層6の磁区構造の安定化をより均一に行うことが可能となる。
第三絶縁層14は、チャンネル層5及び磁化自由層6と永久磁石15との間に設けられ、チャンネル層5及び磁化自由層6と永久磁石15とを絶縁するためのものである。第三絶縁層14として、SiOなどが用いられる。
永久磁石15は、第三絶縁層14を介して、磁化自由層6の両側に配置されている。永久磁石15からの漏洩磁束を用いて、磁化自由層6にバイアス磁界を印加することにより、磁化自由層6の磁区構造を安定化(一軸化)することが可能となる。これにより、磁壁の移動に起因するバルクハウゼンノイズを抑制することが可能となる。
以下に、第1実施形態に係る磁気センサー100aの製造方法の一例について説明する。まず、熱酸化珪素膜が設けられた基板SB上に、下部磁気シールド層1、第一絶縁層3をこの順にスパッタ法によって連続成膜する。次に、第一絶縁層3の一部をミリングによって削り取り、この削った部分に第一電極4を成膜する。
次いで、化学機械研磨(CMP)によって、第一絶縁層3及び第一電極4の表面が平坦となるように研磨する。その後、平坦化面上に、チャンネル層5、磁化自由層6及び磁化固定層7、反強磁性層8、第二絶縁層13をこの順に成膜する。そして、図2に示すような磁化自由層6及び磁化固定層7の形状となるように、磁化自由層6及び磁化固定層7までをミリングで削り取る。さらに、図2に示すような形状となるように、チャンネル層をミリングで削り取る。
この後、磁化自由層6上の余分な層を削り取り、上部第一磁気シールド層11を形成する。一方、反強磁性層8上の第二絶縁層13の一部を削り取り、第二電極9を成膜した後、上部第二磁気シールド層12を形成する。以上のようにして、磁気センサーが完成する。
以下に、図1で示した第1実施形態に係る磁気センサー100aの動作について説明する。磁化固定層7へ検出用電流を流すために、下部磁気シールド層1と、上部第二磁気シールド層12とを、電流源70に電気的に接続する。また、チャンネル層5及び上部第一磁気シールド層11を、電圧測定器80に電気的に接続する。なお、上部第一磁気シールド層11が磁化自由層6から離れて設けられていて磁化自由層6と絶縁されている場合には、チャンネル層5及び磁化自由層6が電圧測定器80に電気的に接続されていても良い。
まず、磁気センサー100aの磁化固定層7へ検出用電流Iを流す。例えば、図1に示すように、電流源70から検出用電流Iを、上部第二磁気シールド層12、第二電極9、反強磁性層8、磁化固定層7、チャンネル層5、第一電極4、下部磁気シールド層1の順に流す。
このように、強磁性体である磁化固定層7からチャンネル層5へ検出用電流Iを流すと、磁化固定層7とチャンネル層5との界面からチャンネル層5内に磁化固定層7の磁化の向きに対応するスピンを有する電子が流入される(スピン注入)。そして、このスピンは、チャンネル層5内をさらに磁化固定層7側から磁化自由層6側に向かって拡散する。
そして、外部からの磁界によって磁化の向きが変化する磁化自由層6の磁化の向きと、磁化固定層7の磁化の向きとの相対角に応じて、磁化自由層6とチャンネル層5との界面において互いに異なる電圧出力が発生することとなる。本実施形態では、チャンネル層5と上部第一磁気シールド層11との間に生じる電圧を検出している。このようにして、磁気センサー100aを外部磁場センサーとして応用することができる。
以下に、第1実施形態に係る磁気センサー100aによる効果を説明する。第1実施形態に係る磁気センサーによれば、チャンネル層と対向する面における磁化固定層の断面積は、チャンネル層と対向する面における磁化自由層の断面積よりも大きい。すなわち、磁化自由層とチャネル層との対向面の面積が、磁化固定層とチャネル層との対向面の面積に比べて相対的に小さい。このため、磁化固定層とチャネル層との対向面の面積を大きくして、磁化固定層とチャネル層との間を流れる電流の対向面における単位面積当たりの電流密度を低くするができ、当該対向面の抵抗を抑制して、従来の磁気センサーに比して効率的にスピンをチャンネル層に注入することが可能となる。一方、磁化自由層とチャネル層との対向面の面積を小さくして、チャンネル層から磁化自由層に流入するスピンの当該対向面における単位面積当たりの密度を高くすることができ、磁化自由層から発生する電圧を高めることができる。これにより、本発明の磁気センサーでは、従来の磁気センサーに比して高い電位出力を得ることができる。
また、チャンネル層の厚み方向から見て、磁化自由層の幾何学的重心と、磁化固定層の幾何学的重心と、を結ぶ直線と直交する方向における磁化固定層の幅は、当該方向における磁化自由層の幅よりも大きいことにより、当該直線と直交する方向における磁化固定層の幅が、当該方向における磁化自由層の幅よりも小さい場合と比較して、磁化固定層からチャンネル層を介して磁化自由層へ伝播するスピンの全体としての移動距離を相対的に短くすることができる。このようにして、磁気センサーにおける電位出力を効率的に高くすることが可能となる。
また、チャンネル層の厚み方向から見て、上記直線に沿う方向の磁化固定層の長さは、磁化固定層の幅よりも小さいことにより、上記直線に沿う方向の磁化固定層の長さが磁化固定層の幅よりも大きいものと比較して、磁化固定層からチャンネル層を介して磁化自由層へ伝播させるスピンの全体としての移動距離を相対的に短くすることができる。このようにしても、磁気センサーにおける電位出力を効率的に高くすることが可能となる。
また、本発明の磁気センサーにおいて、チャンネル層の厚み方向から見て、上記直線と直交する方向におけるチャンネル層の幅が、磁化固定層から磁化自由層に向かって狭くなっていることにより、磁化固定層からチャンネル層に注入されたスピンを集中させて、磁化自由層側へ伝播させることができる。その結果、磁気センサーにおける電位出力をより効率的に高くすることが可能となる。
以下に、上記効果の補足説明を示す。図2に示すように、磁化固定層7内において、直線L1よりも−X方向に存在するスピンS,Sが、チャンネル形成層5B内へ注入されると、磁化固定層7内における位置よりも+X方向(図2に示すスピンS,Sの位置)へ伝播される。反対に、磁化固定層7内において、直線L1よりも+X方向に存在するスピンS,Sが、チャンネル形成層5B内へ注入されると、磁化固定層7内における位置よりも−X方向(図2に示すスピンS,Sの位置)へと伝播される。
伝播してきたスピンS,Sは、チャンネル形成層5B内において、さらに+X方向(図2に示すスピンS,S10の位置)へ、それぞれ伝播していくこととなる。反対に、伝播してきたスピンS,Sは、チャンネル形成層5B内において、さらに−X方向(図2に示すスピンS11,S12の位置)へ、それぞれ伝播していくこととなる。
これらのチャンネル形成層5Bの磁化自由層6側の領域まで伝播してきたスピンS,S10,S11,S12のスピンベクトルの総和S13として、磁化自由層6へスピンを注入することが可能となる。このようにして、磁化固定層7からチャンネル層5(チャンネル形成層5B)に注入されたスピンを好適に集中させて磁化自由層6側へ伝播させることができ、磁気センサーにおける電位出力をより効率的に高くすることが可能となる。
(第2実施形態)
以下、第2実施形態に係る磁気センサーについて説明する。図4は、図1におけるIV−IV線に沿った断面図である。なお、図4では、前述した第三絶縁層14及び永久磁石15を省略してチャンネル層の形状を示す。
図4に示す磁気センサーが、第一実施形態に係る磁気センサーと異なる点は、磁化固定層及びチャンネル層の形状であるので、これらについてのみ説明する。
図4に示すように、第2実施形態に係る磁気センサーでは、チャンネル層の厚み方向(Z軸方向)から見て、磁化固定層7Cは、磁化自由層6の幾何学的重心Oを中心とする円環の一部を構成する円弧形状をなしている。さらに、磁化固定層7Cは、チャンネル層の厚み方向から見て、磁化自由層6の幾何学的重心Oと、磁化固定層7Cの幾何学的重心O7Cと、を結ぶ直線L2に対して線対称である。
そして、チャンネル層と対向する面における磁化固定層7Cの断面積は、チャンネル層と対向する面における磁化自由層6の断面積よりも大きい。また、チャンネル層の厚み方向(Z軸方向)から見て、磁化自由層6の幾何学的重心Oと、磁化固定層7Cの幾何学的重心O7Cと、を結ぶ直線L2と直交する方向(X軸方向)における磁化固定層7Cの幅W7は、当該方向における磁化自由層6の幅W10よりも大きい。また、チャンネル層の厚み方向(Z軸方向)から見て、上記直線L2に沿う方向(Y軸方向)の磁化固定層7Cの長さN2は、磁化固定層7Cの幅W7よりも小さい。
ここで、磁化固定層7Cの幅W7とは、磁化固定層7Cの直線L2と直交する方向における幅のうち、最大値を示す部分の幅のことをいう。また、磁化固定層7Cの長さN2とは、磁化固定層7Cの直線L2に沿う方向における長さのうち、最大値を示す部分の長さのことをいう。同様に、磁化自由層6の幅W10とは、磁化自由層6の直線L2と直交する方向における幅のうち、最大値を示す部分の幅のことをいう。
また、チャンネル層は、チャンネル形成層5D,5E,5Fを含んでいる。図4に示すように、チャンネル層の一部を構成するチャンネル形成層5D,5E,5FがXY平面上に設けられている。図示されていないが、磁化自由層6及び磁化固定層7Cの下にはチャンネル層のそのほかの一部がそれぞれ設けられている。
チャンネル形成層5Dは、磁化固定層7Cの+Y方向側に設けられている。チャンネル形成層5Dは、検出用電流が流れる領域として機能する。チャンネル形成層5Fは、磁化自由層6の−X方向側に設けられている。チャンネル層の厚み方向(Z軸方向)から見て、上記直線L2と直交する方向におけるチャンネル形成層5E(チャンネル層5の一部)の幅が、磁化固定層7Cから磁化自由層6に向かって狭くなっている。
第2実施形態に係る磁気センサーでは、磁化固定層7Cが円弧形状を有していることにより、磁化固定層7C内の各部と磁化自由層6との距離がほぼ等間隔となる。これにより、磁化固定層7Cから磁化自由層6へのスピン注入を効率的に行うことが可能となり、従来の磁気センサーに比して高い電位出力を得ることができる。
さらに、磁化固定層7Cが上述したような円弧形状をなすとともに、上記直線L2に対して線対称であることにより、磁化固定層7Cにおける複数のスピンがそれぞれ有するスピンベクトルの総和を、上記直線L2に対して垂直な方向の磁化の向きとして、磁化自由層6へ伝播させることが可能となる。このように磁化固定層7Cの形状を工夫することによって、磁気センサーにおける電位出力を効率的に高くすることが可能となる。
以下に、効果の補足説明を示す。図4に示すように、磁化固定層7C内において、直線L2よりも−X方向に存在するスピンS20,S21が、チャンネル形成層5E内へ注入されると、スピンS20に対応するスピンS31と、スピンS21に対応するスピンS30とのスピンベクトルの和S32として伝播していく。一方、磁化固定層7C内において、直線L2よりも+X方向に存在するスピンS22,S23が、チャンネル形成層5E内へ注入されると、スピンS22に対応するスピンS41と、スピンS23に対応するスピンS40とのスピンベクトルの和S42として伝播していく。
さらに、チャンネル形成層5E内では、スピンS32に対応するスピンS51と、スピンS42に対応するスピンS50とのスピンベクトルの総和S52としてスピンが伝播していくこととなる。そして、このスピンベクトルの総和S52がチャンネル形成層5Eの磁化自由層6側の領域まで伝播され、磁化自由層6へ注入されることとなる。このようにして、磁化固定層7Cからチャンネル層(チャンネル形成層5E)に注入されたスピンを好適に集中させて磁化自由層6側へ伝播させることができ、磁気センサーにおける電位出力をより効率的に高くすることが可能となる。
以上、各実施形態において、本発明の磁気センサーを薄膜磁気記録再生ヘッドに適用する例を用いて説明したが、本発明の磁気センサーは、薄膜磁気記録再生ヘッド以外の例えば小型ロボット、ディジタルカメラ、及びインクジェットプリンターなどで使用される磁気エンコーダー装置、磁場計測装置、磁気検知装置等の各種用途にも適用することが可能である。
磁気センサー100aを備える薄膜磁気記録再生ヘッド100Aを示す模式図である。 図1のII−II線に沿った断面構成を説明するための概略図である。 図1のIII−III線に沿った断面構成を説明するための概略図である。 図1のIV−IV線に沿った断面構成を説明するための概略図である。
符号の説明
100A…薄膜磁気記録再生ヘッド、100a…磁気センサー、100b…記録部、1…下部磁気シールド層、3…第一絶縁層、4…第一電極、5…チャンネル層、5A,5B,5C,5D,5E,5F…チャンネル形成層、6…磁化自由層、7,7C…磁化固定層、8…反強磁性層、9…第二電極、11…上部第一磁気シールド層、12…上部第二磁気シールド層、13…第二絶縁層、14…第三絶縁層、15…永久磁石、20…磁気記録媒体、20a…記録面、20b…記録層、20c…裏打ち層、30…リターンヨーク、31…薄膜コイル、32…コンタクト部、33…主磁極、I…検出用電流方向。

Claims (13)

  1. チャンネル層と、
    前記チャンネル層の第一の部分上に設けられ、外部磁界を検出する磁化自由層と、
    前記チャンネル層の前記第一の部分とは異なる第二の部分上に設けられた磁化固定層と、を備え、
    前記チャンネル層と対向する面における前記磁化固定層の断面積が、前記チャンネル層と対向する面における前記磁化自由層の断面積よりも大きく、
    前記チャンネル層の厚み方向から見て、前記磁化自由層の幾何学的重心と、前記磁化固定層の幾何学的重心と、を結ぶ直線と直交する方向における前記チャンネル層の幅が、前記磁化固定層から前記磁化自由層に向かって狭くなる磁気センサー。
  2. 前記チャンネル層の厚み方向から見て、前記磁化自由層の幾何学的重心と、前記磁化固定層の幾何学的重心と、を結ぶ直線と直交する方向における前記磁化固定層の幅は、前記方向における前記磁化自由層の幅よりも大きい請求項1に記載の磁気センサー。
  3. 前記チャンネル層の厚み方向から見て、前記直線に沿う方向の前記磁化固定層の長さは、前記磁化固定層の前記幅よりも小さい請求項2に記載の磁気センサー。
  4. 前記チャンネル層の厚み方向から見て、前記磁化固定層は、前記磁化自由層の幾何学的重心を中心とする円環の一部を構成する円弧形状をなす請求項2または3に記載の磁気センサー。
  5. 前記チャンネル層の厚み方向から見て、前記直線に対して線対称である請求項4に記載の磁気センサー。
  6. 前記磁化自由層にバイアス磁界を印加する永久磁石を更に備える請求項1〜のいずれか1項に記載の磁気センサー。
  7. 前記磁化固定層の磁化方向が、反強磁性層、形状異方性、及び成膜時における外部磁場のうち少なくとも一つによって固定されている請求項1〜のいずれか1項に記載の磁気センサー。
  8. 前記磁化固定層の保磁力は、前記磁化自由層の保磁力よりも大きい請求項1〜のいずれか1項に記載の磁気センサー。
  9. 前記磁化自由層は、前記チャンネル層の検出対象となる磁束が進入する側に配置され、前記磁化固定層は、前記チャンネル層の検出対象となる磁束が進入する側の反対側に配置されている請求項1〜のいずれか1項に記載の磁気センサー。
  10. 前記磁化自由層の材料は、Cr、Mn、Co、Fe及びNiからなる群から選択される金属、前記群の元素を1以上含む合金、又は、前記群から選択される1以上の元素及びB、C、及びNからなる群から選択される1以上の元素を含む合金である請求項1〜のいずれか1項に記載の磁気センサー。
  11. 前記磁化固定層の材料は、Cr、Mn、Co、Fe及びNiからなる群から選択される金属、前記群の元素を1以上含む合金、又は、前記群から選択される1以上の元素及びB、C、及びNからなる群から選択される1以上の元素を含む合金である請求項1〜1のいずれか1項に記載の磁気センサー。
  12. 前記チャンネル層の材料は、B、C、Mg、Al、Cu、及びZnからなる群から選択される一つ以上の元素を含む材料である請求項1〜1のいずれか1項に記載の磁気センサー。
  13. 前記チャンネル層の材料は、Si、ZnO、及びGaAsのうちのいずれか一つを含む半導体化合物である請求項1〜1のいずれか1項に記載の磁気センサー。
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Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4731393B2 (ja) * 2006-04-28 2011-07-20 株式会社日立製作所 磁気再生ヘッド
JP5251281B2 (ja) * 2008-06-11 2013-07-31 Tdk株式会社 磁気センサー
JP5157676B2 (ja) * 2008-06-25 2013-03-06 Tdk株式会社 磁気センサー
JP2010020826A (ja) 2008-07-09 2010-01-28 Tdk Corp 磁気センサー
JP2012039010A (ja) * 2010-08-10 2012-02-23 Tdk Corp 磁気センサー及び磁気検出装置
JP5736836B2 (ja) * 2011-02-23 2015-06-17 Tdk株式会社 スピン伝導型磁気センサ
US8619393B2 (en) * 2011-08-16 2013-12-31 Seagate Technology Llc Devices and methods using recessed electron spin analyzers
JP5754326B2 (ja) * 2011-09-27 2015-07-29 Tdk株式会社 スピン伝導素子
JP5935444B2 (ja) * 2012-03-29 2016-06-15 Tdk株式会社 スピン伝導素子、及びスピン伝導を用いた磁気センサ及び磁気ヘッド
KR101699780B1 (ko) 2012-11-08 2017-01-25 고쿠리츠켄큐카이하츠호진 카가쿠기쥬츠신코키코 스핀 밸브 소자
US8717715B1 (en) 2012-12-13 2014-05-06 HGST Netherlands B.V. Spin accumulation magnetic read sensor
US9142229B2 (en) 2013-03-15 2015-09-22 Seagate Technology Llc Heat assisted magnetic recording head having thermal sensor with high-TCR transparent conducting oxide
JP6163038B2 (ja) * 2013-07-26 2017-07-12 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドおよび磁気記録再生装置
JP6413428B2 (ja) 2013-08-02 2018-10-31 Tdk株式会社 磁気センサ、磁気ヘッド及び生体磁気センサ
JP6121311B2 (ja) * 2013-11-14 2017-04-26 アルプス電気株式会社 磁気検知装置
US8953284B1 (en) * 2013-11-20 2015-02-10 HGST Netherlands B.V. Multi-read sensor having a narrow read gap structure
JP6397712B2 (ja) 2014-10-01 2018-09-26 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置
JP6439413B6 (ja) 2014-12-01 2019-01-30 Tdk株式会社 磁気センサ、磁気ヘッド及び生体磁気センサ
US9478240B1 (en) 2015-05-21 2016-10-25 Seagate Technology Llc Spin-signal enhancement in a lateral spin valve reader
US9685178B1 (en) 2015-06-15 2017-06-20 Seagate Technology Llc Lateral spin valve reader with large-area tunneling spin-injector
US9704515B2 (en) 2015-09-29 2017-07-11 Seagate Technology Llc Lateral spin valve reader with in-plane detector
US9978412B1 (en) 2015-11-06 2018-05-22 Seagate Technology Llc Transparent thermocouple for heat-assisted magnetic recording device
US9812157B1 (en) 2016-03-07 2017-11-07 Seagate Technology Llc Lateral spin valve reader and fabrication method thereof
US10141501B2 (en) 2016-03-30 2018-11-27 Tdk Corporation Magnetoresistive element
JP2017188182A (ja) 2016-03-30 2017-10-12 Tdk株式会社 磁気抵抗効果素子および磁気センサ
US9934798B1 (en) 2016-09-28 2018-04-03 Seagate Technology Llc Lateral spin valve reader with vertically-integrated two-dimensional semiconducting channel
JP6973679B2 (ja) * 2019-04-08 2021-12-01 Tdk株式会社 磁性素子、磁気メモリ、リザボア素子、認識機及び磁性素子の製造方法
US11282538B1 (en) 2021-01-11 2022-03-22 Seagate Technology Llc Non-local spin valve sensor for high linear density

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050111138A1 (en) * 2002-06-27 2005-05-26 Kiyoshi Yamakawa Thin-film magnetic head and its manufacturing method
JP4714918B2 (ja) * 2002-11-29 2011-07-06 独立行政法人科学技術振興機構 スピン注入素子及びスピン注入素子を用いた磁気装置
JP4029772B2 (ja) 2003-05-16 2008-01-09 株式会社日立製作所 磁気ヘッドおよびそれを用いた磁気記録再生装置
JP4082274B2 (ja) * 2003-05-22 2008-04-30 株式会社日立製作所 磁気センサ及びそれを備える磁気ヘッド
JP4128938B2 (ja) * 2003-10-28 2008-07-30 株式会社日立製作所 磁気ヘッド及び磁気記録再生装置
JP2005209248A (ja) * 2004-01-20 2005-08-04 Hitachi Ltd 磁気ヘッド及び磁気記録再生装置
JP4291751B2 (ja) * 2004-07-23 2009-07-08 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
US7298597B2 (en) * 2005-03-29 2007-11-20 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Magnetoresistive sensor based on spin accumulation effect with free layer stabilized by in-stack orthogonal magnetic coupling
US7522392B2 (en) * 2005-05-17 2009-04-21 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Magnetoresistive sensor based on spin accumulation effect with terminal connection at back end of sensor
JP4758812B2 (ja) * 2006-04-26 2011-08-31 株式会社日立製作所 スピン流狭窄層を備えたスピン蓄積素子及びその作製方法
JP4731393B2 (ja) * 2006-04-28 2011-07-20 株式会社日立製作所 磁気再生ヘッド
US7678475B2 (en) * 2006-05-05 2010-03-16 Slavin Andrei N Spin-torque devices
US7492631B1 (en) * 2008-05-09 2009-02-17 International Business Machines Corporation Methods involving resetting spin-torque magnetic random access memory

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