JP5252832B2

JP5252832B2 - 露光装置及び画像形成装置

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Publication number: JP5252832B2
Application number: JP2007129403A
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Inventors: 慎吾北村
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Description

本発明は、光束により露光対象物を露光する露光装置、及び前記露光装置を備えた画像形成装置に関する。

従来、電子写真方式等の画像形成装置の光走査装置における、感光ドラムを露光する手段として、半導体レーザから出射されたレーザ光を使用することが多い。この種の分野で用いられるレーザ素子の多くは、素子のフロント側から出射されるフロント光と、素子のリア面から出射されるリア光を出力する構成となっている。そして、そのリア光は、受光素子としてのフォトディテクタ（以下、ＰＤと記す）で受光されて半導体レーザから出射されるレーザ光の光量の変動がモニタされ、レーザ光量が一定になるように光量補正の制御（ＡＰＣ：ＡｕｔｏＰｏｗｅｒＣｏｎｔｒｏｌ）が行われている。このような制御を行うのは、レーザ素子は一般的に素子温度が高くなれば出力されるレーザ光量が低下するという温度特性を有しているからである。

また、ＣＤ（compact disk）及びＤＶＤ（digital video disc）などの機器または一部のプリンタにおいては、レーザ素子のリア光をなくし、素子表面からフロント光として１００％のレーザ光量を放射するものがある。このようなプリンタにおいては、レーザ素子と感光ドラムの露光面との間にハーフミラーを配置して、露光面に放射する一部の光をＰＤに導き、レーザ光量をモニタする構成も知られている。

画像形成にレーザ光を有効に使用するためには、レーザ素子から感光ドラムの露光面に至る光路中に可能な限りロスが無いような構成で光量をモニタする必要がある。しかし、上記の裏面光を用いたレーザ発光量のモニタ方式、及びハーフミラーを用いたレーザ発光量のモニタ方式は、露光面へのレーザ光量の一部を使用しているために、露光面でのレーザ光量が低下してしまう。また、裏面光を用いたレーザ発光量のモニタ方式では、露光面のレーザ光量と裏面光との相関性の差異が発生するという問題も生ずる。

光の利用効率の低下を伴うことなく、光量補正を行うことができる技術として、露光に用いられる光束以外の無効化されているケラレ光を利用するものが提案されている（特許文献１参照）。

図１０（Ａ），（Ｂ）は、特許文献１に開示された従来の画像形成に適用される光走査装置の要部構成を示す構成図であり、同図（Ａ）は、その全体斜視図であり、同図（Ｂ）は特徴部分の断面図である。

図１０（Ａ）に示すように、レーザ素子６０１から出射した発散性のレーザ光はコリメータレンズ６０２により平行光束に変換され、アパーチャ６０３の開口部を通過してビーム整形され、シリンダレンズ６０４に入射する。シリンダレンズ６０４から射出した光束は、回転駆動するポリゴンミラー６０６の偏向反射面に到達し偏向走査される。この偏向光束６０７は、結像光学系を介して感光ドラム面上に結像され、画像情報の記録が行われる。

上記アパーチャ６０３は、図１０（Ｂ）に示すように４５°に傾けて支持され、その入射面側は鏡面として形成され、開口部を透過しなかったケラレ光６１０を検出光束として直交する方向に反射し得るように構成されている。このような構成によれば、ケラレ光６１０は、アパーチャ６０３においてその鏡面で検出光束として反射され、集光レンズ６１１により集光されてＰＤ６１２へ入射される。そして、ＰＤ６１２の検出出力により前記ＡＰＣ制御が行われる。
特開平６−１６４０７０号公報

しかしながら、上記公報の方式では、次のような問題点があった。

即ち、アパーチャ６０３の表面を鏡面処理する必要があるだけでなく、アパーチャ６０３の表面で反射したケラレ光６１０を、レンズ６１１で集光しＰＤ６１２に導く必要がある。そのため、現状より使用部品も多くなりコスト高になる点、集光した光をＰＤに導くためにＰＤを高精度に位置決めする必要がある点など、製品化するには依然として多くの課題を残していた。

本発明は、複数のレーザ発光手段の光量の制御を、感光体を露光するレーザ光量を低下させずに、感光体を露光するレーザ光量と相関性高いレーザ光量を検知し、感光体を露光するレーザ光量を高精度に制御できるようにすることを目的とする。

上記目的を達成するため、本願請求項１の露光装置は、レーザ光により感光体を露光し潜像を形成し、該形成された潜像を現像する電子写真方式の画像形成装置のための露光装置であり、前記感光体を露光するためのレーザ光を出射する複数のレーザ発光手段と、前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光を検知する複数の検知手段と、前記複数のレーザ発光手段からレーザ光を出射するレーザ発光手段を選択し、前記複数の検知手段から該選択されたレーザ発光手段に対応する検知手段を選択する選択手段と、前記選択された検知手段の検知結果を用いて、前記選択されたレーザ発光手段から出射されるレーザ光の光量を制御する制御手段とを有し、前記感光体は前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光の中心部の光によって露光され、前記検知手段は前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光の中心部以外の光を受光し、前記検知手段の数は前記レーザ発光手段の数より少ないことを特徴とする。
また、本願請求項２の露光装置は、レーザ光により感光体を露光し潜像を形成し、該形成された潜像を現像する電子写真方式の画像形成装置のための露光装置であり、前記感光体を露光するためのレーザ光を出射する複数のレーザ発光手段と、前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光を検知する複数の検知手段と、前記複数のレーザ発光手段からレーザ光を出射するレーザ発光手段を選択し、前記複数の検知手段から該選択されたレーザ発光手段に対応する検知手段を選択する選択手段と、前記選択された検知手段の検知結果を用いて、前記選択されたレーザ発光手段から出射されるレーザ光の光量を制御する制御手段とを有し、前記感光体は前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光の中心部の光によって露光され、前記検知手段は前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光の中心部以外の光を受光し、前記選択手段によって選択される検知手段の数は、前記複数のレーザ発光手段から選択された前記レーザ発光手段によって異なることを特徴とする。

また、本発明の画像形成装置は、上記露光装置を備えたことを特徴とする。

本発明によれば、複数のレーザ発光手段の光量の制御を、感光体を露光するレーザ光量を低下させずに、感光体を露光するレーザ光量と相関性高いレーザ光量を検知し、感光体を露光するレーザ光量を高精度に制御することが可能になる。

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。

＜本実施の形態に係る光走査装置の構成＞
（Ｉ）特徴的な構成
図１（Ａ）は、本発明の実施の形態に係る光走査装置の特徴部分の構成を示す構成図であり、半導体レーザからポリゴンミラーに至る光路において、半導体レーザの裏面側から見た状態を示している。図１（Ｂ）は、図１（Ａ）の特徴部分の側面図である。

本実施の形態に係る光走査装置は、例えば、感光ドラムにレーザ光を露光して潜像を形成し、トナーで現像して可視化するような電子写真方式のプリンタなどにおいて適用されるものとする。

図１（Ａ），（Ｂ）に示すように、半導体レーザ１０から出射されてポリゴンミラー（図１０参照）に向かう光束の光路上には、ビーム整形手段としてのコリメータレンズ１１が配置されている。コリメータレンズ１１は、半導体レーザ１０から発生した発散性のレーザ光Ｌ０を平行光束Ｌ１に変換（ビーム整形）してポリゴンミラー側へ書込み光束として出射する機能を有している。

さらに、コリメータレンズ１１の後段側には、コリメータレンズ１１の外周端よりも外側の上下左右の領域において、受光素子としてそれぞれＰＤ１〜４が配置されている。ＰＤ１〜４は、例えば半導体レーザ１０が取り付けられる同一基板上に実装される。

このような構成により、前記発散性のレーザ光Ｌ０のうち、コリメータレンズ１１を通過しない無効光束であるケラレ光Ｌ２（ビーム整形手段でビーム整形されない光束）がＰＤ１〜４により検知されるようになっている。そして、ＰＤ１〜４の検知出力によりＡＰＣ制御が行われる。

（ＩＩ）ＡＰＣ制御の回路構成
図２は、本実施の形態に係るＡＰＣ制御の回路構成を示す回路図である。

本実施の形態に係るＡＰＣ制御の回路構成は、サンプルホールド部１３０、定電流制御部１３１、レーザモジュール１３２、ビデオスイッチング部１３３、発光選択部１３４、及びＰＤ選択部１３５の各ブロックで構成されている。

サンプルホールド部１３０は、現在のレーザ光量に対応したＰＤ電圧Ｖｍと目標とするレーザ光量に対応した基準電圧Ｖｒとを比較し、誤差信号を生成するブロックである。定電流制御部１３１は、前記誤差信号に応じて半導体レーザ１０の駆動電流を制御して半導体レーザ１０のバイアス電流を流すブロックである。レーザモジュール１３２は、同一基板上に実装された半導体レーザ１０とＰＤ１〜４から成る。ビデオスイッチング部１３３は、図示しない画像処理回路で生成されたビデオ信号ＰＷＯに応じて、半導体レーザ１０をオン／オフするブロックである。

発光素子選択手段としての発光選択部１３４は、複数のレーザ光量の調整を行うべく、例えば複数の発光部を有する半導体レーザ１０において発光させる発光素子を選択し、受光素子選択手段としてのＰＤ選択部１３５は、その選択結果に応じて複数のＰＤ１〜４の中から使用するＰＤを選択的に選択する機能を有する。発光選択部１３４からは、発光させる発光部を示す発光部選択信号ＡＰＣ＿ａ〜ｆがＰＤ選択部１３５とレーザモジュール１３２へ供給され、ＰＤ選択部１３５からは、使用するＰＤを示すＰＤ選択信号ＰＤ＿ＳＥＬ（検出結果）が供給されるようになっている。

サンプルホールド部１３０は、次のように動作する。半導体レーザ１０の発光によってＰＤに生じた電流は、抵抗Ｒｍに流れてＰＤ電圧Ｖｍを生成する。この電圧Ｖｍと基準電圧Ｖｒがコンパレータ１２１で比較される。そして、Ｖｍ＜Ｖｒの場合はノード１１０からコンデンサ１２２の電荷をチャージして、コンデンサ１２２が充電される。

また、Ｖｍ＞Ｖｒの場合は、ノード１１０から電荷がディスチャージされ、コンデンサ１２２の電荷が放電される。サンプルホールド部１３０は、このコンデンサ１２２の電荷量に応じて、目標とするレーザ光量（レーザ目標光量）と、ＰＤで検知したサンプル時のレーザ光量（レーザサンプル光量）との誤差電圧をノード１１０に生成することになる。

即ち、前記誤差電圧は、レーザ目標光量に対してレーザサンプル光量が少ない場合は、サンプルホールド用のコンデンサ１２２に電荷がチャージされて、定電流制御部１３１の電流を上げるべくノード１１０の電圧が高くなる。一方、レーザ目標光量に対してレーザサンプル光量が大きい場合は、コンデンサ１２２の電荷がディスチャージされて、定電流制御部１３１の電流を下げるべくノード１１０の電圧が低くなる。このように、サンプルホールド部１３０ではサンプル時に誤差電圧を生成し、ホールド時には誤差電圧を保持する。

次に、定電流制御部１３１の動作について説明する。サンプルホールド部１３０で生成された誤差電圧は、コンパレータ１２３に入力され、半導体レーザ１０に流れている電流Ｉｓｗに応じた電圧と比較される。これによって、定電流制御部１３１は、ホールドされた誤差電圧に応じた一定電流を半導体レーザ１０へ流すように定電流制御することになる。また、定電流制御部１３１は、バイアス電流制御も行う。即ち、バイアス電流を決める基準電圧１１７に応じた一定電流が流れるように、半導体レーザ１０のバイアス電流Ｉｂを定電流制御する。そして、ＥＮＢ信号がイネーブル信号である場合は、Ｉｂ＋Ｉｓｗの電流が半導体レーザ１０に流れ、ＥＮＢ信号がディスイネーブルの場合は、半導体レーザ１０へ電流が流れないようになる。

ビデオスイッチング部１３３は、ビデオ信号ＰＷＯとサンプル／ホールド信号Ｓ／Ｈが供給されるスイッチ（ＳＷ）部１１４を備えている。スイッチ（ＳＷ）部１１４は、ＰＷＯ信号が“Ｌ”レベルの場合には半導体レーザ１０にＩｂ＋Ｉｓｗの電流を流すように制御する。また、ＰＷＯ信号が“Ｈ”レベルの場合は半導体レーザ１０にＩｂの電流を流すように制御する。一方、Ｓ／Ｈ信号がサンプル時を示す“Ｌ”レベルの場合は、ＰＷＯ信号によらず、半導体レーザ１０にＩｓｗ＋Ｉｂの電流が流れるように制御して、レーザ光量のＡＰＣ動作を行えるようにする。

このように、半導体レーザ１０の光量をモニタして、目標とする光量にフィードバック補正を行うことで、素子の温度上昇や周囲温度の変化があっても安定した一定光量を出力することが可能となる。

＜半導体レーザのＦＦＰ＞
次に、半導体レーザとして、端面発光のレーザ素子を使用した場合のＦＦＰ（ＦａｒＦｉｅｌｄＰａｔｔｅｒｎ）と、複数のレーザ発光部を有する面発光レーザを使用した場合のＦＦＰについて説明する。

（Ｉ）端面発光レーザのＦＦＰ
図３は、端面発光レーザのＦＦＰを示した図である。

端面発光レーザは、一般的に、図３に示すような光プロファイルを有している。図３中の１０１は端面発光レーザを示し、１０４はレーザ素子端面と所定距離を隔てた平行な平面のレーザ光プロファイルを示している。また、図３において、このプロファイルの垂直方向のＦＦＰをθ⊥と記述し、水平方向のＦＦＰをθ／／と記述している。

図４（Ａ），（Ｂ）は、端面発光レーザの光量とＦＦＰの関係を示すグラフである。同図（Ａ）はＦＦＰの垂直方向θ⊥の２ｍＷ〜２０ｍＷのプロファイルを示し、同図（Ｂ）はＦＦＰの水平方向θ／／の２ｍＷ〜２０ｍＷのプロファイルを示している。なお、図中のＷ０はレーザ出力が２ｍＷ時のプロファイル、Ｗ１は６ｍＷ時のプロファイル、Ｗ２は１０ｍＷ時のプロファイル、Ｗ３は２０ｍＷ時のプロファイルである。

図４（Ａ），（Ｂ）から明らかなように、ＦＦＰの垂直方向θ⊥及び水平方向θ／／は、光量（レーザ出力）の変化に応じて、ガウシアン形状のプロファイルも相対的に変化している様子が分かる。

図５は、端面発光レーザのＦＦＰの垂直方向の模式図であり、縦軸は光量であり、横軸は角度を示している。

図５中の３０５はＦＦＰの垂直方向のレーザ光プロファイルである。このプロファイルで、実際に例えば電子写真方式の感光ドラムを露光するために使用する部分は、プロファイルの安定した領域Ａの部分である。その他の部分は、画像形成には使用しない。したがって、本実施の形態に係る光走査装置は、画像形成に用いる領域Ａ以外の光（ケラレ光）を利用して、感光ドラムを露光するための光量を一定に保つ光量調整（ＡＰＣ制御）を行うものである。これにより、感光ドラムの露光に対して光量のロス無く効率的なレーザ光の利用が可能となる。即ち、図５に示すＦＦＰの垂直方向の領域Ｂの光量をモニタし、その部分の光量変化に応じて、レーザ発光量を補正するようにしている。

（ＩＩ）面発光レーザのＦＦＰ
図６は、複数のレーザ発光部を有する面発光レーザのＦＦＰを示す図である。

図６中の４０１は面発光レーザであり、４０２は面発光レーザのＦＦＰである。この例では、１素子に６ビーム分のレーザ発光部を有している面発光レーザ素子を示し、また６素子中の１素子を発光させた場合のＦＦＰの様子を示している。この面発光レーザを用いた場合でも、例えば電子写真方式の感光ドラムの露光に用いるＦＦＰの領域は、前述のようにＦＦＰの中心部の一部分にすぎない。

＜本実施の形態に係るレーザ光量検知＞
図７は、本実施の形態に係るレーザ光量検知を示す模式図であり、６つのレーザ発光部を有している面発光レーザから所定距離の水平面でのＦＦＰを示している。

前記水平面に、レーザ光量を検知するための４つのＰＤ１〜４が配置されている。図中のａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆは、６レーザ光に対応したＦＦＰにおける実際に感光ドラムの露光に使用する領域を示している。このａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆの各６つのＦＦＰの露光使用領域以外で６つレーザ光の光量をそれぞれ検出し、６つのレーザ発光部の光量補正を行う。

図８は、図７の詳細模式図であり、６つのレーザ発光部に対応したＦＦＰについて個別に示したものである。

図８の５０７は、面発光レーザが発光する６つのレーザ光中、ａレーザ光を検出するＰＤを示す。図中の点線部分５０７ａはａレーザ光を点灯させた場合のレーザ光の発光領域である。よって、実際に露光に使用する部分は、５１５で示す実線の円で示された部分である。この場合は、ＰＤ１もしくはＰＤ２を用いてａレーザ光の光量を検知すれば、露光に使用する光量に対してロスすることはない。

同様に、５０８は、面発光レーザが発光する６つのレーザ光中、ｂレーザ光を検出するＰＤを示す。この場合は、ＰＤ２を用いてｂレーザ光の光量をモニタする。５０９は、面発光レーザが発光する６つのレーザ光中、ｃレーザ光を検出するＰＤを示す。この場合は、ＰＤ２もしくはＰＤ３を用いてｃレーザ光の光量をモニタする。

５１０は面発光レーザが発光する６つのレーザ光中、ｄレーザ光を検出するＰＤを示す。この場合は、ＰＤ１もしくはＰＤ４を用いてｄレーザ光の光量をモニタする。５１１は、面発光レーザが発光する６つのレーザ光中、ｅレーザ光を検出するＰＤを示す。この場合は、ＰＤ４を用いてｅレーザ光の光量をモニタする。５１２は、面発光レーザが発光する６つのレーザ光中、ｆレーザ光を検出するＰＤを示す。この場合は、ＰＤ３もしくはＰＤ４を用いてｆレーザ光の光量をモニタする。

また、５０７において、ＰＤ１とＰＤ２の両方を用いてａレーザ光の光量を検知してもよい。この場合は、ＰＤ１とＰＤ２の出力値を乗算した値で光量制御を行う。同様に、５０９、５１０、５１２においても同様に、それぞれ上記した２つのＰＤを用いて光量制御を行うように構成してもよい。

以上のように、複数のレーザ光を発光する面発光レーザや、複数のビームを発光する端面発光レーザなどにおいても、上述したように複数のＰＤを配置することで複数のビームの各々のケラレ光を検知することが可能となる。

＜本実施の形態に係るＡＰＣ制御＞
図９は、本実施の形態に係るＡＰＣ制御を示すタイミングチャートである。

図９中のＢＤ信号は、レーザをラスター走査し露光対象物である感光ドラムを露光するライン毎の基準信号である。ＰＤ＿ＳＥＬ信号は、前述したＰＤ選択信号であり、図８に示したように、４つのＰＤ１〜４のどれを選択するかのアドレスで構成されている。

ＡＰＣ＿ａ〜ｆ信号は、６つの発光部のレーザ光量調整を行うために、対象とする発光部を選択する発光部選択信号である。例えば、６つのレーザ光のうちａレーザ光の光量を補正したい場合は、ＡＰＣ＿ａの信号が“Ｌ”レベルとなり、ａレーザ光のみが点灯される。Ｓ／Ｈ信号は、レーザ光量をサンプルするサンプル／ホールド信号であり、Ｓ／Ｈ信号が“Ｌ”レベルの時に発光部選択信号ＡＰＣ＿ａ〜ｆで選択されたレーザ光を、ＰＤ選択信号ＰＤ＿ＳＥＬで選択されたＰＤにより光量のサンプルを行う（図２参照）。

各ａ〜ｆレーザ光の光量は、予め目標とする光量に応じたＰＤ出力値が決められており、サンプルされたＰＤの光量が、その目標値になるようにレーザ電流が制御される。Ｌａｓｅｒ＿ａ〜ｆ電流は、面発光レーザの６つの発光部に加える電流を示している。例えば、ＡＰＣ＿ａ信号が“Ｌ”レベルとなってａレーザ光を選択し、ＰＤ＿ＳＥＬ信号でＰＤ１が選択され、Ｓ／Ｈ信号が“Ｌ”レベルとなったときは次のようになる。即ち、Ｌａｓｅｒ＿ａの電流は、ＰＤ１の出力が所定の予め決められた値となるまでＬａｓｅｒ＿ａの電流を上げる。ｂ〜ｆレーザ光についても、同様に制御され光量が予め決められた光量となるように制御される。

＜本実施の形態の利点＞
本実施の形態によれば、リア光ではなくフロント光で実際の露光に使用しないケラレ光を用いてＡＰＣ制御を行うことができる。これにより、露光面でのレーザ光量が低下がなく、露光面でのレーザ光量と相関性のある光量制御を行うことができる。さらに、ＰＤ１〜４により、ケラレ光をダイレクトで受光（直接受光）するので、容易に製品化することが可能である。即ち、ケラレ光を集光するためのレンズなどの使用部品が不要となり、また集光した光をＰＤに導くためにＰＤを高精度に位置決めする必要もなく、低コストで実現することができる。

さらに、ケラレ光を使用することでリア光が必要なくなり、全てのレーザ光をフロント光として使用することが可能になる。そのため、例えば電子写真方式のプリンタにおいて、感光ドラムの露光に使用する光量を簡単に向上させることができる。これにより、プリンタの高速化かつ低コスト化を図ることができる。

＜本実施の形態に係る変形例＞
上記実施の形態では、コリメータレンズ１１の後段側にＰＤ１〜４を配置して、ＰＤ１〜４によりケラレ光をダイレクトで受光するように構成した。これに対して、コリメータレンズ１１の前段側に反射ミラーや光ファイバを設け、コリメータレンズ１１で平行光束される前のケラレ光を反射ミラーや光ファイバ介してＰＤに導くように構成しても構わない。また、コリメータレンズ１１の後段側に反射ミラーや光ファイバを設けてもよい。これらの場合において、反射ミラーや光ファイバ介してケラレ光の複数部分を１つのＰＤに導いて、そのＰＤの値に応じてＡＰＣ制御を行うことも可能である。

なお、本発明の目的は、以下の処理を実行することによって達成される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、システム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出す処理である。

この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施の形態の機能を実現することになり、そのプログラムコード及び該プログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。

また、プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、次のものを用いることができる。例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等である。または、プログラムコードをネットワークを介してダウンロードしてもよい。

また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、上記実施の形態の機能が実現される場合も本発明に含まれる。加えて、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳ（オペレーティングシステム）等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。

更に、前述した実施形態の機能が以下の処理によって実現される場合も本発明に含まれる。即ち、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれる。その後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行う場合である。

実施の形態に係る光走査装置の特徴部分の構成を示す構成図である。本実施の形態に係るＡＰＣ制御の回路構成を示す回路図である。端面発光レーザのＦＦＰを示した図である。端面発光レーザの光量とＦＦＰの関係を示すグラフである。端面発光レーザのＦＦＰの垂直方向の模式図である。複数のレーザ発光部を有する面発光レーザのＦＦＰを示す図である。実施の形態に係るレーザ光量検知を示す模式図である。図７の詳細模式図である。実施の形態に係るＡＰＣ制御を示すタイミングチャートである。従来の光走査装置の要部構成を示す構成図である。

符号の説明

１〜４ＰＤ（フォトディテクタ）
１０半導体レーザ
１１コリメータレンズ
１３０サンプルホールド部
１３１定電流制御部
１３２レーザモジュール
１３３ビデオスイッチング部
１３４発光選択部
１３５ＰＤ選択部

Claims

レーザ光により感光体を露光し潜像を形成し、該形成された潜像を現像する電子写真方式の画像形成装置のための露光装置であり、
前記感光体を露光するためのレーザ光を出射する複数のレーザ発光手段と、
前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光を検知する複数の検知手段と、
前記複数のレーザ発光手段からレーザ光を出射するレーザ発光手段を選択し、前記複数の検知手段から該選択されたレーザ発光手段に対応する検知手段を選択する選択手段と、
前記選択された検知手段の検知結果を用いて、前記選択されたレーザ発光手段から出射されるレーザ光の光量を制御する制御手段とを有し、
前記感光体は前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光の中心部の光によって露光され、前記検知手段は前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光の中心部以外の光を受光し、
前記検知手段の数は前記レーザ発光手段の数より少ないことを特徴とする露光装置。
レーザ光により感光体を露光し潜像を形成し、該形成された潜像を現像する電子写真方式の画像形成装置のための露光装置であり、
前記感光体を露光するためのレーザ光を出射する複数のレーザ発光手段と、
前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光を検知する複数の検知手段と、
前記複数のレーザ発光手段からレーザ光を出射するレーザ発光手段を選択し、前記複数の検知手段から該選択されたレーザ発光手段に対応する検知手段を選択する選択手段と、
前記選択された検知手段の検知結果を用いて、前記選択されたレーザ発光手段から出射されるレーザ光の光量を制御する制御手段とを有し、
前記感光体は前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光の中心部の光によって露光され、前記検知手段は前記レーザ発光手段から出射されたレーザ光の中心部以外の光を受光し、
前記選択手段によって選択される検知手段の数は、前記複数のレーザ発光手段から選択された前記レーザ発光手段によって異なることを特徴とする露光装置。
前記検知手段の数は前記レーザ発光手段の数より少ないことを特徴とする請求項２記載の露光装置。
請求項１乃至３の何れか１項に記載の露光装置を備えたことを特徴とする画像形成装置。