JP5250736B2 - 光周波数コムのビートスペクトルの基準付け - Google Patents
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims abstract description 78
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 179
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 76
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000009615 fourier-transform spectroscopy Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 59
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 36
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 21
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 claims description 17
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 6
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 claims description 3
- 239000011324 bead Substances 0.000 claims 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 abstract description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 13
- 238000010009 beating Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 48
- 230000035559 beat frequency Effects 0.000 description 17
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 17
- 210000001520 comb Anatomy 0.000 description 10
- 230000004044 response Effects 0.000 description 10
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 4
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 4
- 238000012014 optical coherence tomography Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 2
- PXFBZOLANLWPMH-UHFFFAOYSA-N 16-Epiaffinine Natural products C1C(C2=CC=CC=C2N2)=C2C(=O)CC2C(=CC)CN(C)C1C2CO PXFBZOLANLWPMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000004883 computer application Methods 0.000 description 1
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000004374 forensic analysis Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000007430 reference method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/457—Correlation spectrometry, e.g. of the intensity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/04—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Description
本出願は、その明細書が参照により本明細書に組み込まれる2007年6月26日に出願された米国仮特許出願第60/946,239号の優先権を主張する。
および
が得られる。
この場合、Gφ(t)およびOφ(t)はそれぞれ以下のように規定される。
および
および
ここで、φ1(t)およびφ2(t)はそれぞれ、光源基準周波数f1、f2に対応するビート位相である。
1)bm<bm+1
2)区間[f1,fN]でビート成分bmを周波数fm1に対して関連付けるマッピング関数は、場合により所与の初期時間t0でのマッピング関数の知識を用いて、一組のP個の周波数独立パラメータpx(p1〜pp)を使用して表わすことができる。なお、図2に関連する本明細書中で説明される特定の実施例では、Pが2に等しく、2つのパラメータが利得p2=Gfおよびオフセットp1=Ofである。
3)所与の時間tのパラメータpx(t)は、既知の別個の周波数fq付近の光源の狭帯域のフィルタ処理されたバージョンのそれぞれにおける区間[b1,bM]での平均ビート周波数に対応する少なくともQ個のビート周波数Bq(B1〜BQ)から決定することができる。なお、図2に関連する本明細書中で説明される特定の実施例では、Qが2に等しいことに留意されたい。
Claims (34)
- ビート干渉信号を補正するための方法であって、
周波数成分が光源スペクトルにおいて不均一に分布される光周波数コムを設けるステップと、
周波数成分を干渉させて、ビート成分を伴うビートスペクトルを有するビート干渉信号を生成するステップであって、光周波数コムが少なくとも1つの可変光周波数コムパラメータを有するステップと、
前記ビート成分間で少なくとも1つの基準ビート成分サブセットを分離するステップと、
基準ビート成分サブセットの位相および周波数のうちの少なくとも一方を監視するステップであって、位相および周波数のうちの少なくとも一方が少なくとも1つの可変光周波数コムパラメータに関連付けられるステップと、
位相および周波数のうちの少なくとも一方から、ビート干渉信号に適用されるべき補正関数を決定するステップであって、補正関数は、可変光周波数コムパラメータの変化を補正するステップと、
ビート干渉信号を記録するステップと、
補正関数を使用して、記録されたビート干渉信号を補正するステップと、を含む方法。 - 光周波数コムを設ける前記ステップは、第1の光周波数コムと第2の光周波数コムとを組み合わせるステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 光周波数コムを設ける前記ステップは、第1のモードロックレーザを使用して第1の光周波数コムを生成するとともに、第2のモードロックレーザを使用して第2の光周波数コムを生成するステップを含む、請求項2に記載の方法。
- 少なくとも1つの基準ビート成分サブセットを分離する前記ステップは、光周波数コムの光源スペクトルの一部をフィルタ処理するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 少なくとも1つの基準ビート成分サブセットのうちの少なくとも1つが単一の基準ビート成分を有し、光周波数コムの光源スペクトルの一部をフィルタ処理する前記ステップは、単一の基準ビート成分を分離するために光源スペクトルの一対の周波数成分を選択するフィルタリング帯域幅を使用するステップを含む、請求項4に記載の方法。
- 光周波数コムを設ける前記ステップは、第1の光周波数コム光源と第2の光周波数コム光源とを組み合わせるステップを含み、
少なくとも1つの基準ビート成分サブセットを分離する前記ステップは、
第1の光周波数コムの周波数成分間で第1の周波数成分サブセットをフィルタ処理するとともに、第2の光周波数コムの周波数成分間で第2の周波数成分サブセットをフィルタ処理し、第1の周波数成分サブセットおよび第2の周波数成分サブセットが光源スペクトルの既知の周波数帯域内に位置づけられるステップと、
第1の周波数成分サブセットと第2の周波数成分サブセットとを干渉させて、分離されたビート成分サブセットを与えるステップと、を含む、請求項4に記載の方法。 - 第1の周波数成分サブセットをフィルタ処理するとともに、第2の周波数成分サブセットをフィルタ処理する前記ステップは、第1の周波数成分サブセットおよび第2の周波数成分サブセットをそれぞれ与えるために光源スペクトルの既知の周波数通過帯域を有する受動的な帯域通過フィルタを使用して第1の光周波数コムおよび第2の光周波数コムをフィルタ処理するステップであって、基準ビート成分サブセットを与えるために第1の周波数成分サブセットと第2の周波数成分サブセットとが干渉するステップを含み、
監視する前記ステップは、ビートスペクトルの基準ビート信号を与えるために基準ビート成分サブセットを検出するステップと、基準ビート信号の位相および周波数のうちの少なくとも一方を監視するステップとを含む、請求項6に記載の方法。 - 受動的な帯域通過フィルタを使用する前記ステップは、反射型のファイバブラッググレーティングフィルタを使用するステップを含む、請求項7に記載の方法。
- 少なくとも1つの基準ビート成分サブセットを分離する前記ステップは、光源スペクトルの既知の周波数通過帯域を有する能動フィルタを使用して光周波数コムの光源スペクトルの一部を能動的にフィルタ処理するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 光周波数コムを設ける前記ステップは、第1の光周波数コムと第2の光周波数コムとを組み合わせるステップを含み、
能動的にフィルタ処理する前記ステップは、
第1の中間干渉信号を与えるために第1の光周波数コムを基準連続波光源と干渉させるステップと、
ビート成分を有する第1の中間基準信号を与えるために第1の中間干渉信号を検出するステップと、
第1の中間基準ビード成分サブセットを保持するために第1の中間基準信号のビート成分をフィルタ処理するステップと、
第2の中間干渉信号を与えるために第2の光周波数コムを基準連続波光源と干渉させるステップと、
ビート成分を有する第2の中間基準信号を与えるために第2の中間干渉信号を検出するステップと、
第2の中間基準ビード成分サブセットを保持するために第2の中間基準信号のビート成分をフィルタ処理するステップと、
第1の中間干渉信号と第2の中間干渉信号とを干渉させて、少なくとも1つの基準ビート成分サブセットを与えるステップと、を含む、請求項9に記載の方法。 - 少なくとも1つの基準ビート成分サブセットが第1の基準ビート成分サブセットと第2の基準ビート成分サブセットとを備え、少なくとも1つの可変光周波数コムパラメータが周波数オフセットパラメータと周波数スケーリングパラメータとを備え、
決定する前記ステップは、オフセット補正位相と補正利得とを含む補正パラメータを計算するステップを含み、
ビート干渉信号を補正する前記ステップは、オフセット補正位相をビート干渉信号から差し引いて、補正利得を使用して等距離位相グリッドに関してビート干渉信号を再サンプリングするステップを含む、請求項1に記載の方法。 - 前記少なくとも1つの光周波数コムパラメータがP個の光周波数コムパラメータを備え、前記少なくとも1つの基準ビート成分サブセットがQ個の基準ビート成分を含み、Pの値が少なくとも1であり、Qの値が少なくとも1である、請求項1に記載の方法。
- 補正されたビート干渉信号を出力するステップを更に含む、請求項1に記載の方法。
- 補正関数が少なくとも1つの補正パラメータによって規定され、前記方法は、少なくとも1つの補正パラメータを出力するステップを更に含む、請求項1に記載の方法。
- ビート干渉信号を与えるために光周波数コムの少なくとも一部を用いてサンプルを精査するステップを更に含む、請求項1に記載の方法。
- サンプル形跡を有するサンプルを解析するための干渉方法であって、
周波数成分が光源スペクトルにおいて不均一に分布される光周波数コムを設けるステップと、
周波数成分を干渉させて、ビート成分を伴うビートスペクトルを有するビート干渉信号を生成するステップであって、ビートスペクトルの少なくとも一部が光源スペクトルの少なくとも一部との関連を有し、光周波数コムが少なくとも1つの可変光周波数コムパラメータを有し、少なくとも1つの光周波数コムパラメータの変化が関連の変化を引き起こすステップと、
サンプル形跡を保持するサンプル干渉信号を与えるために、解析されるべきサンプルを用いて光周波数コムの少なくとも一部をフィルタ処理するステップと、
サンプル干渉信号を記録するステップであって、サンプル干渉信号が、少なくとも1つの光周波数コムパラメータの変化に起因するエラーを示すステップと、
前記ビート成分間で少なくとも1つの基準ビート成分サブセットを選択するステップと、
基準ビート成分サブセットの位相および周波数のうちの少なくとも一方を監視するステップであって、位相および周波数のうちの少なくとも一方が少なくとも1つの光周波数コムパラメータに関連付けられるステップと、
位相および周波数のうちの少なくとも一方から、サンプル干渉信号に適用されるべき補正関数を決定するステップであって、補正関数は、少なくとも1つの光周波数コムパラメータの変化を補正するステップと、
補正関数を使用して、記録されたサンプル干渉信号を補正するステップと、を含む干渉方法。 - 光周波数コムを設ける前記ステップは、第1の光周波数コムと第2の光周波数コムとを組み合わせるステップを含む、請求項16に記載の方法。
- 少なくとも1つの基準ビート成分サブセットを選択する前記ステップは、光周波数コムの光源スペクトルの一部をフィルタ処理するステップを含む、請求項16に記載の方法。
- 少なくとも1つの基準ビート成分サブセットのうちの少なくとも1つが単一のビート成分を含み、光周波数コムの光源スペクトルの一部をフィルタ処理する前記ステップは、単一の基準ビート成分を分離するために光源スペクトルの一対の周波数成分を選択するフィルタリング帯域幅を使用するステップを含む、請求項18に記載の方法。
- 光周波数コムを設ける前記ステップは、第1の光周波数コム光源と第2の光周波数コム光源とを組み合わせるステップを含み、
少なくとも1つの基準ビート成分サブセットを選択する前記ステップは、
第1の光周波数コムの周波数成分間で第1の周波数成分サブセットをフィルタ処理するとともに、第2の光周波数コムの周波数成分間で第2の周波数成分サブセットをフィルタ処理し、第1の周波数成分サブセットおよび第2の周波数成分サブセットが光源スペクトルの既知の周波数帯域内に位置づけられるステップと、
第1の周波数成分サブセットと第2の周波数成分サブセットとを干渉させて、分離されたビート成分サブセットを与えるステップと、を含む、請求項18に記載の方法。 - 第1の周波数成分サブセットをフィルタ処理するとともに、第2の周波数成分サブセットをフィルタ処理する前記ステップは、第1の周波数成分サブセットおよび第2の周波数成分サブセットをそれぞれ与えるために光源スペクトルの既知の周波数通過帯域を有する受動的な帯域通過フィルタを使用して、第1の光周波数コムおよび第2の光周波数コムをフィルタ処理するステップであって、基準ビート成分サブセットを与えるために第1の周波数成分サブセットと第2の周波数成分サブセットとが干渉するステップを含み、
監視する前記ステップは、ビートスペクトルの基準ビート信号を与えるために基準ビート成分サブセットを検出するステップと、基準ビート信号の位相および周波数のうちの少なくとも一方を監視するステップとを含む、請求項20に記載の方法。 - 少なくとも1つの基準ビート成分サブセットを分離する前記ステップは、光源スペクトルの既知の周波数通過帯域を有する能動フィルタを使用して光周波数コムの光源スペクトルの一部を能動的にフィルタ処理するステップを含む、請求項16に記載の方法。
- 少なくとも1つの基準ビート成分サブセットが第1の基準ビート成分サブセットと第2の基準ビート成分サブセットとを備え、少なくとも1つの可変光周波数コムパラメータが周波数オフセットパラメータと周波数スケーリングパラメータとを備え、
決定する前記ステップは、オフセット補正位相と補正利得とを含む補正パラメータを計算するステップを含み、
ビート干渉信号を補正する前記ステップは、オフセット補正位相をビート干渉信号から差し引いて、補正利得を使用して等距離位相グリッドに関してビート干渉信号を再サンプリングするステップを含む、請求項16に記載の方法。 - 補正されたビート干渉信号を出力するステップを更に含む、請求項16に記載の方法。
- 補正関数が少なくとも1つの補正パラメータによって規定され、少なくとも1つの補正パラメータを出力するステップを更に含む、請求項16に記載の方法。
- ビート干渉信号を生成する前記ステップは、フーリエ変換分光(FTS)インターフェログラムおよびその対応するスペクトルを生成するステップを含む、請求項16に記載の方法。
- 光学低コヒーレンス反射率測定法(OLCR)、光学コヒーレンス反射率測定法(OCR)、および、光検出・測距(LIDAR)のうちの少なくとも1つにしたがって補正されたサンプル干渉信号を解析するステップを更に含む、請求項16に記載の方法。
- ビート干渉信号を補正するためのシステムであって、
周波数成分が光源スペクトルにおいて不均一に分布される光周波数コムを生成するための光源系であって、周波数成分を干渉させて、ビート成分を伴うビートスペクトルを有するビート干渉信号を生成し、ビートスペクトルの一部が光源スペクトルの一部との関連を有し、光周波数コムが少なくとも1つの可変光周波数コムパラメータを有する、光源系と、
周波数成分間で周波数成分のサブセットを分離するために、光周波数コムを受けるとともに、光源スペクトルの既知の周波数通過帯域を有する少なくとも1つの狭帯域フィルタであって、周波数成分のサブセットが干渉して基準ビート成分サブセットを与える、少なくとも1つの狭帯域フィルタと、
基準ビート成分サブセットの位相および周波数のうちの少なくとも一方を監視するための位相/周波数解析器と、
ビート干渉信号に適用されるべき補正関数を決定するために位相および周波数のうちの少なくとも一方を受けるモデル計算機であって、補正関数が少なくとも1つの可変光周波数コムパラメータを補正する、モデル計算機と、
ビート干渉信号を記録するための取得ユニットと、
記録されたビート干渉信号を補正関数を使用して補正するために、記録されたビート干渉信号と補正関数とを受ける補正ユニットと、を備えるシステム。 - 光源系は、それぞれが不均一に分布される周波数成分を有し且つ光周波数コムを与えるために組み合わされる第1の光周波数コム光源と第2の光周波数コム光源とを備える、請求項28に記載のシステム。
- 第1の光周波数コム光源および第2の光周波数コム光源がそれぞれモードロックレーザを備える、請求項29に記載のシステム。
- 狭帯域フィルタは、基準ビート成分サブセットを与えるために光周波数コムを受けてフィルタ処理する受動的な帯域通過フィルタを備える、請求項28に記載のシステム。
- 前記受動的な帯域通過フィルタは、反射で使用されるファイバブラッググレーティングフィルタを備える、請求項31に記載のシステム。
- 狭帯域フィルタが能動フィルタを備える、請求項28に記載のシステム。
- 光源系は、それぞれが不均一に分布される周波数成分を有し且つ光周波数コムを与えるために組み合わされる第1の光周波数コム光源と第2の光周波数コム光源とを備え、
能動フィルタは、
基準連続波光源と、
第1の中間干渉信号を与えるために基準連続波光源と第1の光周波数コムとを組み合わせて干渉させるコンバイナと、
ビート成分を有する第1の中間基準信号を与えるために第1の中間干渉信号を検出するための第1の検出器と、
第2の中間干渉信号を与えるために基準連続波光源と第2の光周波数コムとを組み合わせて干渉させるコンバイナと、
ビート成分を有する第2の中間基準信号を与えるために第2の中間干渉信号を検出するための第2の検出器と、
ビートスペクトルにおいて、第1の基準ビート成分サブセットを保持するために第1の中間基準信号のビート成分をフィルタ処理するとともに、第2の基準ビート成分サブセットを保持するために第2の中間基準信号のビート成分をフィルタ処理するフィルタであって、第1の基準ビート成分サブセットと第2の基準ビート成分サブセットとが干渉して基準ビート成分サブセットが与えられるフィルタと、を備える、請求項33に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US94623907P | 2007-06-26 | 2007-06-26 | |
US60/946,239 | 2007-06-26 | ||
PCT/CA2008/001198 WO2009000079A1 (en) | 2007-06-26 | 2008-06-26 | Referencing of the beating spectra of frequency combs |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010531444A JP2010531444A (ja) | 2010-09-24 |
JP5250736B2 true JP5250736B2 (ja) | 2013-07-31 |
Family
ID=40185139
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010513591A Expired - Fee Related JP5250736B2 (ja) | 2007-06-26 | 2008-06-26 | 光周波数コムのビートスペクトルの基準付け |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8477314B2 (ja) |
EP (1) | EP2167921A4 (ja) |
JP (1) | JP5250736B2 (ja) |
CA (1) | CA2690910A1 (ja) |
WO (1) | WO2009000079A1 (ja) |
Families Citing this family (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8120778B2 (en) | 2009-03-06 | 2012-02-21 | Imra America, Inc. | Optical scanning and imaging systems based on dual pulsed laser systems |
KR20110036945A (ko) * | 2008-07-25 | 2011-04-12 | 상뜨르 나쇼날 드 라 러쉐르쉬 샹띠피끄 (쎄엔알에스) | 주파수 빗 광원을 갖는 푸리에 변환 분광기 |
JP5475341B2 (ja) * | 2009-06-24 | 2014-04-16 | 日本電信電話株式会社 | 多波長同時吸収分光装置および多波長同時吸収分光方法 |
US8564785B2 (en) * | 2009-09-18 | 2013-10-22 | The United States of America, as represented by the Secretary of Commerce, The National Institute of Standards and Technology | Comb-based spectroscopy with synchronous sampling for real-time averaging |
CN102576971A (zh) | 2009-10-02 | 2012-07-11 | Imra美国公司 | 锁模激光器的光信号处理 |
WO2013117216A1 (en) * | 2012-02-07 | 2013-08-15 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Photonic rf generator |
WO2013165945A1 (en) * | 2012-05-01 | 2013-11-07 | Imra America, Inc. | Optical frequency ruler |
EP2866314A1 (en) | 2013-10-24 | 2015-04-29 | ETH Zurich | Method and device for frequency control and stabilization of a semiconductor laser |
US9653877B1 (en) | 2013-11-08 | 2017-05-16 | Stc.Unm | Nested frequency combs |
JP6337543B2 (ja) * | 2014-03-19 | 2018-06-06 | アイシン精機株式会社 | 形状測定装置及び形状測定方法 |
JP6269213B2 (ja) * | 2014-03-19 | 2018-01-31 | アイシン精機株式会社 | 距離測定装置及び距離測定方法 |
WO2015193282A1 (en) | 2014-06-16 | 2015-12-23 | ETH Zürich | Method for optical and electrical signal processing of a multi-heterodyne signal generated by a multi-mode semi-conductor laser and detection device utilizing that method |
WO2016080415A1 (ja) * | 2014-11-17 | 2016-05-26 | 国立大学法人東京農工大学 | 測定装置およびセンサシステム |
JP6230029B2 (ja) * | 2015-02-09 | 2017-11-15 | 日本電信電話株式会社 | 光学デバイスのインパルスレスポンス測定装置および測定方法 |
JP6278917B2 (ja) * | 2015-03-10 | 2018-02-14 | 日本電信電話株式会社 | 成分濃度測定装置及び成分濃度測定方法 |
WO2016196677A1 (en) * | 2015-06-01 | 2016-12-08 | The Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona | Dual-comb spectroscopy with a free-running bidirectionally mode-locked fiber laser |
FR3039331B1 (fr) * | 2015-07-22 | 2017-08-25 | Centre Nat D'etudes Spatiales (Cnes) | Procede de spectroscopie a distance, produit programme d'ordinateur et dispositif de spectroscopie associes |
JP5839759B1 (ja) * | 2015-07-30 | 2016-01-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光干渉計 |
US10126170B2 (en) * | 2015-09-10 | 2018-11-13 | Massachusetts Institute Of Technology | Computationally-assisted multi-heterodyne spectroscopy |
US10060796B2 (en) | 2016-04-25 | 2018-08-28 | Morpho Detection, Llc | Systems and methods for correction of frequency spectrum in dual comb spectroscopy |
US10533836B2 (en) * | 2016-09-15 | 2020-01-14 | The Regents Of The University Of Michigan | Multidimensional coherent spectroscopy using frequency combs |
WO2018102915A1 (en) * | 2016-12-07 | 2018-06-14 | UNIVERSITé LAVAL | Methods for performing dual-comb interferometry |
EP3361234A1 (en) * | 2017-02-14 | 2018-08-15 | Nokia Technologies Oy | A method and apparatus for spectroscopy |
US10224688B2 (en) * | 2017-05-31 | 2019-03-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical dual-comb source apparatuses including optical microresonator |
RU2684937C2 (ru) * | 2017-05-31 | 2019-04-16 | Самсунг Электроникс Ко., Лтд. | Компактное устройство на основе источника двойных гребёнок с использованием оптических микрорезонаторов и способ гетеродинного детектирования в метрологических применениях |
US10823616B2 (en) * | 2018-05-31 | 2020-11-03 | The Boeing Company | Dual sensor and method for detection of an analyte gas |
CN109239726B (zh) * | 2018-08-30 | 2022-12-06 | 天津大学 | 一种基于单台双梳飞秒激光器的非合作目标测距*** |
US11112310B2 (en) * | 2019-08-29 | 2021-09-07 | Dublin City University | Dual-comb spectroscopy |
WO2021173464A1 (en) | 2020-02-26 | 2021-09-02 | Imra America, Inc. | Integrated photonic microwave sampling system |
JPWO2021220656A1 (ja) * | 2020-04-27 | 2021-11-04 | ||
CN115698834A (zh) * | 2020-06-26 | 2023-02-03 | 松下知识产权经营株式会社 | 双光频梳发生装置及计测装置 |
CN112241014A (zh) * | 2020-10-15 | 2021-01-19 | 清华大学 | 一种消除双光梳频谱混叠的方法及*** |
US11841271B2 (en) * | 2020-11-23 | 2023-12-12 | California Institute Of Technology | Cross-comb spectroscopy |
CN114295583B (zh) * | 2021-11-26 | 2023-12-26 | 中国地质调查局水文地质环境地质调查中心 | 一种温室气体的相干测量装置 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5293213A (en) | 1992-08-12 | 1994-03-08 | Klein Uwe K A | Utilization of a modulated laser beam in heterodyne interferometry |
US5778016A (en) | 1994-04-01 | 1998-07-07 | Imra America, Inc. | Scanning temporal ultrafast delay methods and apparatuses therefor |
DE4437575C2 (de) * | 1994-10-20 | 2000-05-25 | Max Planck Gesellschaft | Spektrometer mit kohärenter und periodisch gepulster Strahlung |
NO307357B1 (no) * | 1997-02-14 | 2000-03-20 | Optoplan As | Anordning for maling av optiske bolgelengder |
US6724788B1 (en) | 2000-09-06 | 2004-04-20 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung Der Wissenschaften E.V. | Method and device for generating radiation with stabilized frequency |
DE60220507T2 (de) * | 2002-12-05 | 2007-09-27 | Agilent Technologies Inc., Santa Clara | Steuerung einer optischen Quelle unter Verwendung einer Schwebungsfrequenz |
JP4164599B2 (ja) * | 2003-05-14 | 2008-10-15 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 多色モードロックレーザを用いた光周波数測定装置及び測定方法 |
WO2006008135A2 (en) * | 2004-07-21 | 2006-01-26 | Femtolasers Produktions Gmbh | Generation of radiation with stabilized frequency |
WO2006092874A1 (ja) * | 2005-03-01 | 2006-09-08 | Osaka University | 高分解・高速テラヘルツ分光計測装置 |
US7881620B2 (en) | 2005-05-04 | 2011-02-01 | Ofs Fitel, Llc | Stabilized optical fiber continuum frequency combs using post-processed highly nonlinear fibers |
DE102005050151B3 (de) | 2005-10-19 | 2006-11-02 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Abtastung von sich periodisch wiederholenden Ereignissen |
US7483143B2 (en) * | 2006-02-07 | 2009-01-27 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Method and apparatus for conducting heterodyne frequency-comb spectroscopy |
EP1906137A1 (en) * | 2006-09-29 | 2008-04-02 | Leica Geosystems AG | Method and device for generating a synthetic wavelength |
TWI300471B (en) * | 2006-10-25 | 2008-09-01 | Ind Tech Res Inst | Method of optical frequency measurement |
KR20110036945A (ko) * | 2008-07-25 | 2011-04-12 | 상뜨르 나쇼날 드 라 러쉐르쉬 샹띠피끄 (쎄엔알에스) | 주파수 빗 광원을 갖는 푸리에 변환 분광기 |
-
2008
- 2008-06-26 EP EP08772853.1A patent/EP2167921A4/en not_active Withdrawn
- 2008-06-26 US US12/664,887 patent/US8477314B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-06-26 JP JP2010513591A patent/JP5250736B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-06-26 WO PCT/CA2008/001198 patent/WO2009000079A1/en active Application Filing
- 2008-06-26 CA CA2690910A patent/CA2690910A1/en not_active Abandoned
-
2013
- 2013-05-31 US US13/906,416 patent/US8625101B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010531444A (ja) | 2010-09-24 |
US20130286402A1 (en) | 2013-10-31 |
EP2167921A4 (en) | 2013-12-04 |
WO2009000079A1 (en) | 2008-12-31 |
US20110043815A1 (en) | 2011-02-24 |
US8477314B2 (en) | 2013-07-02 |
EP2167921A1 (en) | 2010-03-31 |
US8625101B2 (en) | 2014-01-07 |
CA2690910A1 (en) | 2008-12-31 |
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Sterczewski et al. | Supplementary Information to “Computational Doppler-limited dual-comb spectroscopy with a free-running all-fiber laser” |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110624 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121121 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A521 | Request for written amendment filed |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |