JP5230402B2 - 撮像装置及び撮像システム - Google Patents

撮像装置及び撮像システム Download PDF

Info

Publication number
JP5230402B2
JP5230402B2 JP2008324473A JP2008324473A JP5230402B2 JP 5230402 B2 JP5230402 B2 JP 5230402B2 JP 2008324473 A JP2008324473 A JP 2008324473A JP 2008324473 A JP2008324473 A JP 2008324473A JP 5230402 B2 JP5230402 B2 JP 5230402B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
voltage
signal
unit
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008324473A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010147934A (ja
Inventor
朋之 八木
忠夫 遠藤
登志男 亀島
正喜 秋山
克郎 竹中
啓吾 横山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2008324473A priority Critical patent/JP5230402B2/ja
Priority to US12/637,579 priority patent/US8471213B2/en
Priority to CN2009102614384A priority patent/CN101744625B/zh
Publication of JP2010147934A publication Critical patent/JP2010147934A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5230402B2 publication Critical patent/JP5230402B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • H04N25/677Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction for reducing the column or line fixed pattern noise
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/709Circuitry for control of the power supply
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/30Transforming light or analogous information into electric information
    • H04N5/32Transforming X-rays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

本発明は、撮像装置、放射線撮像装置及び放射線撮像システムに関するものである。より具体的には、医療診断における一般撮影などの静止画撮影や透視撮影などの動画撮影に好適に用いられる、放射線撮像装置及び放射線撮像システムに用いられる撮像装置に関する。なお、本発明において放射線は、放射線崩壊によって放出される粒子(光子を含む)の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギーを有するビーム、例えばX線や粒子線、宇宙線なども、含まれるものとする。
近年、X線による医療画像診断や非破壊検査に用いる撮影装置として、半導体材料によって形成された平面検出器(Flat Panel Detector、以下FPDと略す)を用いた放射線撮像装置が実用化され始めている。FPDの各画素は、放射線又は光を電荷に変換する変換素子と、変換素子で生じた電荷に応じた電気信号を出力するスイッチ素子と、を少なくとも有する。このようなFPDは、複数の画素を駆動する駆動回路と、複数の画素から出力された電気信号を読み出す読出回路を備える。上記FPDを含む撮像装置は、読出回路からの画像信号を処理して外部へ送信する又は外部から制御信号を受信する信号処理部、複数の画素・駆動回路・読出回路等に各種バイアスを供給する電源部、及び制御信号に基づき各構成要素を制御する制御部を備える。このような撮像装置は、例えば医療画像診断においては、一般撮影のような静止画撮影や、透視撮影のような動画撮影のデジタル撮像装置として用いられている。この撮像装置では、ケーブルにより電源部への電源電圧の供給や制御部への制御信号・信号処理部からの画像信号の伝送を行う形態や、バッテリー等により電源部の電源電圧の供給を受け無線通信により制御信号・画像信号の送受信を行う形態等が提案されている。いずれの形態においても、FPDの長寿命化や撮像装置の低消費電力化の観点から、種々の対策が検討されてきた。
特許文献1及び2では、上記観点に対し、撮影モードより消費電力量が少ない第1の待機モードと第1の待機モードより消費電力量が少ない第2の待機モードとを含む複数の待機モードを備え、撮影モードと及び複数の撮影待機モードを切り換える開示がある。
特開2002−165142号公報 特開2006−208308号公報
しかしながら、特許文献1及び2の技術を実施しても、上述の待機モードのようにFPDへの電源供給を停止する待機状態若しくは撮像装置全体の電源供給を停止する停止状態にする際に、FPD又は撮像装置の長寿命化に影響を与える可能性がある。待機状態若しくは停止状態にする際に、変換素子やスイッチ素子への長時間の電圧印加に起因する画素の特性劣化や、読出回路への過剰電荷の流入に起因する読出回路の特性変動などを引き起こす恐れがあった。
本願発明者は、上述の課題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、以下に示す発明の諸態様に想到した。
本発明に係る撮像装置は、各々が、放射線又は光を電荷に変換する変換素子と、主端子の一方が前記変換素子の一方の電極と電気的に接続されて前記電荷に応じた電気信号を出力するスイッチ素子と、を含み、行列状に配置された複数の画素と、前記複数の画素のうち行方向に配置された複数の画素のスイッチ素子の制御端子と共通に接続され列方向に複数配置された駆動配線と、列方向に配置された複数のスイッチ素子の主端子の他方と共通に接続され行方向に複数配置された信号配線と、有する検出部と、前記駆動配線に電気的に接続され前記検出部を駆動する駆動回路と、前記信号配線に電気的に接続され前記検出部からの電気信号を画像信号として出力する読出回路と、前記検出部、前記駆動回路、及び前記読出回路に対しそれぞれ電圧を供給する電圧供給動作を行う電源部と、少なくとも前記駆動回路及び前記電源部を制御する制御部と、を有する撮像装置であって、前記読出回路は、前記信号配線をリセットするリセット手段を含み、前記制御部は、前記信号配線がリセットされた状態とする処理を行った後に前記駆動回路及び前記読出回路に対する電圧供給動作を前記電源部に維持させた状態で前記検出部に対する前記電源部の電圧供給動作を停止させる第1の処理と、前記第1の処理の後に前記電源部及び前記駆動回路に前記検出部を駆動させる第2の処理と、前記第2の処理の後に前記駆動回路及び前記読出回路に対する前記電源部の電圧供給動作を停止させる第3の処理と、を行う。
本発明により、撮像装置を待機状態若しくは停止状態にする際に、画素や読出回路の特性劣化を低減することが可能となり、高品位で長寿命な撮像装置を提供することが可能となる。
以下、本発明を好適に適用可能な実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係る撮像装置を含む撮像システムの概念的ブロック図である。本実施形態の放射線撮像システムは、撮像装置100、放射線源111、放射線源制御装置112、制御コンピュータ108、制御卓110、表示装置113を含むものである。撮像装置100は、放射線又は光を電気信号に変換する画素を複数備えた検出部101と、検出部101を駆動する駆動回路102と、駆動された検出部101からの電気信号を画像信号として出力する読出回路103と、を有する平面検出器(FPD)104を含む。撮像装置100は更に、画像信号を処理して出力する信号処理部105と、各構成要素に夫々制御信号を供給して制御する制御部106と、各構成要素に夫々バイアスを供給する電源部107を含む。ここで信号処理部105は、後述する制御コンピュータ108から制御信号を受けて制御部106に提供する。また、電源部107は、後述する外部電源109から電圧を受けて検出部101、駆動回路102、読出回路103で必要な電圧を供給するレギュレータ等の電源回路を内包している。
制御コンピュータ108は、放射線源111と撮像装置100との同期や、撮像装置100の状態を決定する制御信号の送信、撮像装置100からの画像信号に対して補正や保存・表示のための画像処理を行う。放射線源制御装置112は制御コンピュータ108からの制御信号を受けて放射線源111の放射線を照射する動作の制御を行う。制御卓110は、制御コンピュータ108の各種制御のためのパラメータとして被検体の情報や撮影条件の入力を行い制御コンピュータ108に伝送する。表示装置113は、制御コンピュータ108で画像処理された画像信号を表示する。
図2は、本発明の第1の実施形態に係るFPDの等価回路を含む撮像装置の概念的ブロック図である。なお、図1を用いて説明した構成と同じものは同じ番号を付与してあり、詳細な説明は割愛する。また、図2では説明の簡便化のために4行×4列の画素を有するFPDを含む撮像装置を示す。しかしながら、実際の撮像装置はより多画素であり、例えば9インチの撮像装置では約1000行×約1000列、17インチの撮像装置では約2800行×約2800列の画素を有している。
検出部101は、行列状に複数配置された画素を有する。画素は、放射線又は光を電荷に変換する変換素子201と、その電荷に応じた電気信号を出力するスイッチ素子202と、を有する。光を電荷に変換する変換素子としては、ガラス基板等の絶縁性基板上に配置され、アモルファスシリコンを主材料とするPIN型フォトダイオードやMIS型変換素子などの、光電変換素子が好適に用いられる。放射線を電荷に変換する変換素子としては、上述の光電変換素子の放射線入射側に放射線を光電変換素子が感知可能な波長帯域の光に変換する波長変換体を備えた間接型の変換素子や、放射線を直接電荷に変換する直接型の変換素子が好適に用いられる。スイッチ素子202としては、制御端子と2つの主端子を有するトランジスタが好適に用いられ、光電変換素子が絶縁性基板上の備えられる画素の場合には、薄膜トランジスタ(TFT)が好適に用いられる。変換素子201の一方の電極はスイッチ素子202の2つの主端子の一方に電気的に接続され、他方の電極は共通のバイアス配線207を介してバイアス電源107bと電気的に接続される。行方向の複数の画素のスイッチ素子、例えばT11〜T14は、それらの制御端子が1行目の駆動配線G1に共通に電気的に接続されており、駆動回路102からスイッチ素子の導通状態を制御する駆動信号が、駆動配線を介して行単位で与えられる。列方向の複数の画素のスイッチ素子、例えばT11〜T41は、それらの他方の主端子が1列目の信号配線Sig1に電気的に接続されており、導通状態になっている間に、変換素子の電荷に応じた電気信号を、信号配線を介して読出回路103に出力する。列方向に複数配列された信号配線Sig1〜Sig4は、検出部101の複数の画素から出力された電気信号を並列に読出回路103に伝送する。
読出回路103は、検出部101から並列に出力された電気信号を増幅する増幅回路206を信号配線毎に対応して設けられている。また、各増幅回路206は、出力された電気信号を増幅する積分増幅器203と、積分増幅器203からの電気信号を増幅する可変増幅器204と、可変増幅器204からの電気信号をサンプルしホールドするためのサンプルホールド回路205と、を有する。積分増幅器203は、読み出された電気信号を増幅して出力する演算増幅器と、積分容量と、積分容量をリセットするリセットスイッチと、を有する。積分増幅器203は、積分容量の値を変えることで増幅率を変更することが可能である。演算増幅器の反転入力端子には出力された電気信号が入力され、正転入力端子には基準電源107cから基準電圧Vrが入力され、出力端子から増幅された電気信号が出力される。また、積分容量が演算増幅器Aの反転入力端子と出力端子の間に配置される。サンプルホールド回路205は、各増幅回路に対応して設けられ、サンプリングスイッチとサンプリング容量とによって構成される。また読出回路103は、各増幅回路206から並列に読み出された電気信号を順次出力して直列信号の画像信号として出力するマルチプレクサ208と、画像信号をインピーダンス変換して出力するバッファ増幅器209と、を有する。バッファ増幅器209から出力されたアナログ電気信号である画像信号Voutは、A/D変換器210によってデジタル画像信号に変換されて信号処理部105へ出力され、信号処理部105で処理された画像信号が制御コンピュータ108へ出力される。
駆動回路102は、制御部106から入力された制御信号(D−CLK、OE、DIO)に応じて、スイッチ素子を導通状態にする導通電圧Vcomと非道通状態とする非導通電圧Vssを有する駆動信号を、各駆動配線に出力する。これにより、駆動回路102はスイッチ素子の導通状態及び非導通状態を制御し、検出部101を駆動する。
電源部107は、駆動回路用電源107a、バイアス電源107b、増幅回路の基準電源107c、及び増幅回路の動作電源107dを含む。駆動回路用電源107aは、駆動回路102に導通電圧Vcom及び非導通電圧Vssを供給する。バイアス電源107bは、バイアス配線207を介して各変換素子の他方の電極にバイアス電圧Vsを共通に供給する。基準電源107cは、各増幅回路206に含まれる演算増幅器の正転入力端子に基準電圧Vrを共通に供給する。動作電源107dは、増幅回路206に含まれる演算増幅器を動作させるための動作電圧Vccを各増幅回路206に共通に供給する。
制御部106は、信号処理部105を介して装置外部の制御コンピュータ108等からの制御信号を受けて、駆動回路102、電源部107、読出回路103に各種の制御信号を与えて上記構成要素の動作を制御する。制御部106は、駆動回路102に制御信号D−CLKと制御信号OE、制御信号DIOを与えることによって、駆動回路102の動作を制御する。ここで、制御信号D−CLKは駆動回路として用いられるシフトレジスタのシフトクロックであり、制御信号DIOはシフトレジスタが転送するパルス、OEはシフトレジスタの出力端を制御するものである。
また、制御部106は、読出回路103に制御信号XRC、制御信号SMPL、制御信号CLK、及び制御信号AD−CLKを与えることによって、読出回路103の各構成要素の動作を制御する。ここで、制御信号XRCは積分増幅器のリセットスイッチの動作を制御するものであり、制御信号SMPLはサンプルホールド回路205の動作を制御するものである。また、制御信号CLKはマルチプレクサ208の動作を制御するものであり、制御信号AD−CLKはA/D変換器210の動作を制御するものである。
更に、制御部106は、駆動回路用電源107aに制御信号SC1を与えることにより、駆動回路用電源107aが導通電圧及び又は非導通電圧を供給する電圧供給動作の制御を行う。制御信号SC1により駆動回路用電源107aの電圧供給動作が停止されると、駆動回路用電源及び駆動回路から供給される電圧及び駆動配線の電位は、接地電位(以下GND電位と示す)に向かって低下する。また、制御部106は、バイアス電源107bに制御信号SC2を与えることにより、バイアス電源107bがバイアス電圧Vsを供給する電圧供給動作の制御を行う。制御信号SC2によりバイアス電源107bの電圧供給動作が停止されると、バイアス電源107bから供給される電圧、バイアス配線207及び変換素子の他方の電極の電位は、GND電位に向かって低下する。更に、制御部106は、基準電源107cに制御信号SC3を与えることにより、基準電源107cが基準電圧Vrを供給する電圧供給動作の制御を行う。制御信号SC3により基準電源107cの電圧供給動作が停止されると、基準電源から供給される電圧はGND電位に向かって低下する。また、制御部106は、動作電源107dに制御信号SC4を与えることにより、動作電源107dが動作電圧Vccを供給する電圧供給動作の制御を行う。制御信号SC4により動作電源107dの電圧供給動作が停止されると、動作電源から供給される電圧はGND電位に向かって低下する。
次に、図2及び図3を用いて本願発明の撮像装置における1フレーム分の画像信号の出力動作を説明する。図3は本発明の撮像装置における画像信号の出力動作を説明するためのタイミングチャートである。
まず、制御部106から制御信号XRCがLo状態で積分増幅器のリセットスイッチに与えられてリセットスイッチが導通状態とされ、積分増幅器の積分容量及び信号配線がリセットされる。次に制御信号XRCがHi状態とされてリセットスイッチが非導通となる。これにより信号配線の電位は基準電位Vrとされる。次に、検出器101に放射線の照射がなされ又は放射線の照射がなされずに、変換素子には放射線の照射量に応じた電荷若しくは暗時出力の電荷が蓄積される。この際、駆動回路102から各駆動配線G1〜G4には非導通電圧Vssが与えられており、全ての画素のスイッチ素子は非道通状態とされる。
次に、制御部106から制御信号XRCがLo状態で積分増幅器のリセットスイッチに再び与えられてリセットスイッチが導通状態とされ、信号を読み出す直前に積分増幅器の積分容量及び信号配線がリセットされる。次に制御信号XRCがHi状態とされてリセットスイッチが非導通となる。
次に駆動回路102から1行目の駆動配線G1に導通電圧Vcomが与えられ、1行目の画素のスイッチ素子T11〜T14が導通状態とされる。これにより1行目の画素の変換素子S11〜S14で発生された電荷に基づく電気信号が各信号配線に出力され、変換素子とスイッチ素子との間のノードNは基準電位Vrとなる。各信号配線を介して並列に出力された電気信号は、それぞれ各増幅回路206の演算増幅器203及び可変増幅器204で増幅される。増幅された電気信号はそれぞれ、制御回路106からの制御信号SMPLによりサンプルホールド回路が動作され、各増幅回路内のサンプルホールド回路205に並列に保持される。保持された後、制御部106からの制御信号XRCにより積分増幅器の積分増幅器の積分容量及び信号配線がリセットされる。積分容量及び信号配線がリセットされた後、1行目と同様に2行目の駆動配線G2に導通電圧Vcomが与えられ、2行目の画素のスイッチ素子T21〜T24が導通状態とされる。
2行目の画素のスイッチ素子T21〜T24が導通状態とされている期間内に、制御部106からマルチプレクサ208に対して制御信号CLKが与えられ、サンプルホールド回路205に保持された電気信号が順次出力される。これにより並列に読み出された電気信号は直列の画像信号に変換して出力され、制御部106からA/D変換器210に対して制御信号AD−CLKが与えられて1行分のデジタル画像信号に変換され出力される。
以上の動作を1行目から4行目に対して行単位で行うことにより、1フレーム分のデジタル画像信号が撮像装置から出力される。このような撮像装置が出力動作を行う際には、電源部107は少なくとも検出部、駆動回路、読出回路を含むFPDに対し各電圧を供給しており、FPDが画像信号を出力し得る状態とされている。
ここで、本発明は後述する制御部106による制御により達成されるが、本願発明の効果を説明するために、比較例として本願発明の制御を制御部106が行わない場合について、図2及び図10を用いて説明する。図10は、比較例における撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。ここで、図10は図3に示す動作が終了した後である。
図10(a)に示す第1の比較例として、全ての電源が略同時に各電圧の供給を停止する場合を考察する。この場合としては、例えば電源部107から検出部101、駆動回路102、及び読出回路103への電圧の供給が停止された待機状態、電源部107への電圧の供給が停止されて撮像装置全体の電圧供給を停止する停止状態などが想定される。また、システム本体と撮像装置に接続されるケーブルを電源が入ったまま抜差しが可能な形態や、バッテリー等が内蔵された可搬型の撮像装置(カセッテ型撮像装置)において、突然電源が切れてしまう異常停止状態などが想定される。
画素のスイッチ素子に与えられる駆動信号も閾値を超えない0(v)となっているため非道通状態であり、それにより変換素子とスイッチ素子と間のノードNは、基準電位Vrでフローティング状態となっている。このような状態で略同時に各電圧の供給を停止する場合、バイアス電源107bから供給される電圧は、バイアス電圧Vs(v)からGND電位である0(v)に低下する。それに伴ってバイアス配線207の電位がバイアス電圧Vs(v)から0(v)に低下し、ノードNは変換素子の内部容量によりVr(v)からVr−Vs(v)に変動する。この時、基準電源107c及び動作電源107dの電源供給の停止により、信号配線の電位はほぼGND電位とされているため、スイッチ素子の2つの主電極間及び変換素子の電極間にはVr−Vs(v)の電圧が掛かってしまう。ノードNの電位は、長時間に渡る自然放電によって減少されるが、その間変換素子とスイッチ素子に電圧が掛かった状態となる。そのため、第1の比較例の場合、変換素子やスイッチ素子への長時間の電圧印加に起因する各素子の特性劣化が発生するおそれがある。特に、絶縁性基板上に非単結晶半導体によりスイッチ素子を設けたFPDでは、スイッチ素子の非導通時の抵抗が高いため、自然放電に長時間かかり、特性劣化の可能性がより顕著となる。
図10(b)に示す第2の比較例として、基準電源107c及び動作電源107dの電圧の供給を停止し読出回路103が停止状態とされた後に、駆動回路用電源107a及びバイアス電源107bが各電圧の供給を停止する場合を考察する。
画素のスイッチ素子に与えられる駆動信号は非導通電圧Vss(v)となっているため非道通状態であり、それにより変換素子とスイッチ素子と間のノードNは基準電位Vrでフローティング状態となっている。このような状態で略同時に各電圧の供給を停止する場合、バイアス電源107bから供給される電圧は、バイアス電圧Vs(v)からGND電位である0(v)に低下する。また、駆動用回路電源107aから供給される電圧は非導通電圧Vccに変動する。これにより、信号配線の電位はGND電位から所定の電位α変動し、各積分増幅器203の反転入力端子に電位αが印加された状態となる。電位αは、信号配線の寄生容量等により決まるため定量化は困難であるが、このような電位αが停止状態の積分増幅器の反転入力端子に印加されると、積分増幅器の特性劣化が発生するおそれがある。また、画素のスイッチ素子がリークの大きいものがあった場合には、バイアス配線及び駆動配線の電位変動に起因する電位変動成分が積分増幅器の反転入力端子に印加されるおそれがある。特に放射線撮像システムに用いる撮像装置においては、低放射線量化の観点により積分増幅器等には低ノイズ化が強く求められており、ノイズの原因となる保護回路は必要最低限にしか設けない。そのため、積分増幅器の特性劣化の可能性がより顕著となる。
そこで本願発明では、制御部106が以下に説明する制御を行うことにより、画素や読出回路の特性劣化を低減することを見出した。以下に図2及び図4を用いて詳細に説明する。図4は、本発明の第1の実施形態における制御部による撮像装置の制御方法を説明するためのタイミングチャートである。
図4(a),(b)に示す本実施形態と、比較例との相違点を以下に説明する。第1に、制御部106は、バイアス電源107bに制御信号SC2を与え、駆動回路用電源107a、基準電源107c、動作電源107dに電圧供給動作を維持させた状態でバイアス電源107bの電圧供給動作を停止させる第1の処理を行う。この第1の処理では、第1の比較例と同様に、ノードNは変換素子の内部容量によりVr(v)からVr−Vs(v)に変動する。第1の処理に際して、信号配線はリセットスイッチによりリセットされた状態となっており、基準電位Vrとなっている。第2に、バイアス電源107bの電圧供給動作を停止させ、基準電源107c及び動作電源107dの電圧供給動作を維持させた状態で、制御部106は駆動回路用電源107aに制御信号SC1を、駆動回路102に各制御信号を与える。これら制御信号により制御部106は、第1の処理の後に駆動回路用電源107a及び駆動回路102に検出部101を駆動させる第2の処理を行う。これによりノードNの電位は、Vr−Vs(v)から基準電位Vr(v)に戻され、スイッチ素子の主電極間は等電位となり、変換素子の電極間には第1の比較例におけるVr−Vs(v)より小さいVr(v)のみが掛かる状態となる。このとき読出回路103の各積分増幅器は正常に動作されているため、読出回路103は信号配線を介して積分増幅器に電気信号が出力されても第2の比較例のような影響を受けることはない。そして第3に、制御部106は第2の処理の後に、駆動回路用電源107aに制御信号SC1を、基準電源107cに制御信号SC3を、動作電源107dに制御信号SC4をそれぞれ与える。これら制御信号により制御部106は、第2の処理の後に駆動回路用電源107a、基準電源107c、及び動作電源107dの各電圧供給動作を停止させる第3の処理を行う。つまり本発明では、撮像装置を待機状態又は停止状態とするに際して、制御部106が上記第1から第3の処理を行う。これにより、変換素子やスイッチ素子に掛かる電圧を低減させて、FPD及び撮像装置を、画像信号を出力し得る状態から待機状態又は停止状態とすることが可能となる。また、変換素子には基準電圧Vrが掛かることとなるが、一般的に基準電圧Vrはバイアス電圧Vsよりも小さく、変換素子の特性を劣化させる可能性は低い。また、変換素子に掛かる電圧Vrは比較例の電圧Vr−Vsに比べて小さいため、比較例に比べて短い時間で自然放電され得る。更に、読出回路103が正常に動作している間に第2の処理がなされる。そのため、読出回路103の特性に影響を与えることなくFPD及び撮像装置を、画像信号を出力し得る状態から待機状態又は停止状態とする終了動作を行うことが可能となる。
ここで図4(a)の形態では、駆動回路102により駆動配線毎に駆動信号の導通電圧が互いに時間的に重ならずに駆動信号が供給されるように、制御部106は駆動回路102を制御している。図4(a)の形態によると、第2の処理において読出回路103の各積分増幅器の反転入力端子に印加される電圧の変動成分は小さくて済む。ただし、第2の処理に掛かる時間は少なくとも1行あたりの導通電圧の印加時間に行数分掛けた時間が必要となる。一方、図4(b)の形態では、駆動回路102により駆動配線G1〜G4に駆動信号の導通電圧を互いに一部時間的に重ねて駆動信号が供給されるように、制御部106は駆動回路102を制御している。そのため、図4(a)の形態に比べて短い時間で第2の処理を行うことが可能となる。ただし、読出回路103の各積分増幅器の反転入力端子に印加される電圧の変動成分は、図4(a)の形態に比べて、導通電圧が一部時間的に重なるように印加される行数倍大きくなる。そのため、図4(b)の形態では、第2の処理を行う前に、好ましくは第1の処理の前に、制御部106は制御信号XRCのLoを積分増幅器のリセットスイッチに与え、前記信号配線をリセットされた状態とする処理を行う。そして、第1及び第2の処理に際して積分増幅器のリセットスイッチを導通状態に維持させ、信号配線をリセットされた状態に維持する処理を行う。それにより、信号配線の電位を基準電位Vrに固定し、積分演算器に過大な電圧の変動成分が印加されるのを防止している。なお、この処理は図4(b)の形態に限定されるものではなく、図4(a)の形態に適用しても良い。
次に、図5を用いて撮像装置の状態及び動作について詳細に説明する。図5は、本発明に係る撮像装置の状態及び動作を説明するためのタイミングチャートである。
まず、時間t1において、停止状態の撮像装置100に主電源が投入され、外部電源109から撮像装置100に電圧が供給される。略同時に信号処理部105及び制御部106にも電圧が供給され、撮像装置100が待機状態となる。
次に、時間t2において、制御部106から制御信号が供給されてバイアス電源107bが動作を開始し、バイアス電圧Vsがバイアス配線207を介して変換素子に印加される。そして所定時間経過後に、制御部106から制御信号が供給されて駆動回路用電源107aが動作を開始し、駆動信号の電圧Vcom、Vssが駆動回路102に供給される。また、制御部106から制御信号D−CLK、OE、DIOが供給されて駆動回路102が動作を開始し、空読み(ダミー読み)動作Dを行う。この空読み動作Dは、図3に示した出力動作と同様の動作を駆動回路102及び検出部101が行う動作である。ただし、空読み動作Dによって検出部101から出力される電気信号は画像信号として使用されない。つまり、変換素子の特性を安定化させるために変換素子内の電荷を除去して変換素子を再初期化するための動作である。そのため空読み動作Dの際には、変換素子内の電荷が除去できればよいので、駆動信号の導通電圧Vcomが供給されている時間を、図3に示す画像信号の出力動作に比べて短くすることが好適に用いられる。この空読み動作を所定の時間間隔で複数回繰り返し行い、検出部101の特性安定化を図る。この動作を初期化動作と称する。
次に、時間t3において、撮像装置100は制御コンピュータ108から制御信号を受けて撮像装置100は撮影動作に移行する。まず、空読み動作Dを一度行い、空読み動作Dが終了した時間t4から後述する画像信号の出力動作を開始する時間t5までの間、撮像装置は放射線の照射に備え、放射線に基づく電荷を発生し得る状態に変換素子を保つ。この状態を蓄積状態と称し、時間t4からt5までの期間を蓄積期間と称する。そして、放射線の照射の終了してから所定時間経過後の時間t5までの間に、制御部106は各種制御信号が供給されて基準電源107c、動作電源107dが動作を開始し、基準電圧Vr及び動作電圧Vccが読出回路103に供給される。そして時間t5において、撮像装置100は制御部106から各制御信号が駆動回路102、読出回路103、及び信号処理部105に供給されて、図3に示す放射線照射に応じた画像信号X−imageの出力動作XRを行う。出力動作XRが終了した時間t6から初期化動作における所定の時間間隔と略同等の時間経過後に、撮像装置は空読み動作Dを行い、空読み動作Dが終了した時間t7から時間t8まで、先の蓄積期間と略同等の時間、変換素子を蓄積状態とする。そして時間t8において、撮像装置100は先の出力動作XRと同様に、変換素子の暗時出力に応じた画像信号F−imageの出力動作FRを行う。この撮像動作によって得られた画像信号X−imageとF−imageとを用いて、信号処理部105若しくは制御コンピュータ102が補正処理を行い、補正処理が行われた画像信号を表示装置113による表示のために供する。この撮影動作を1度行うことにより、静止画用の画像信号が1枚分取得され、撮影動作を複数回繰り返すことにより、複数フレーム分の動画撮影用の画像信号が取得される。この撮影動作が行われている期間、撮像装置及びFPDは画像信号を出力し得る状態となっている。
撮影動作が終了した後に、時間t10において、制御部106は待機状態又は停止状態とする旨の制御信号等の情報を受ける。これにより、撮像装置100は制御部106によって図4で説明した終了動作を行う。ここで、図5に示すD’は、図4(a)又は(b)に示された第2の処理における動作であり、終了駆動動作と称する。そして制御部106は、時間t11においてバイアス電源107bに制御信号を与え、駆動回路用電源107a、基準電源107c、動作電源107dの電圧供給動作を維持させた状態でバイアス電源107bの電圧供給動作を停止させる第1の処理を行う。第1の処理の後時間t11において、制御部106は駆動回路用電源107a及び駆動回路102に各制御信号を供給し、駆動回路用電源107a及び駆動回路102に検出部101を駆動させる第2の処理を行う。これにより撮像装置100は終了駆動動作Dを行う。そして第2の処理後、時間t12において、制御部106は駆動回路用電源107a、基準電源107c、動作電源107dに各制御信号を供給し、駆動回路用電源107a、基準電源107c、及び動作電源107dの各電圧供給動作を停止させる第3の処理を行う。そして制御部106及び信号処理部105の動作も終了され、撮像装置100は停止状態となる。なお、図5では終了動作により停止状態に移行する形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。制御部106及び信号処理部105の動作を維持することにより、撮像装置100は待機状態となり得る。
(第2の実施形態)
図6は、本発明の第2の実施形態に係るFPDの等価回路を含む撮像装置の概念的ブロック図である。なお、図2で説明した構成と同じものは同じ番号を付与してあり、詳細な説明は割愛する。第2の実施形態において、第1の実施形態と相違する点は、バイアス配線207とバイアス電源107bとの電気的接続と、バイアス配線207と基準電源107cとの電気的接続と、を選択するためのスイッチSWを有している点である。また、制御部106がスイッチSWの選択する動作を制御する制御信号SSを与えている点も相違する。
図7は、第2の実施形態における制御部による撮像装置の制御方法を説明するためのタイミングチャートである。図7に示す本実施形態と、図4(b)に示す第1の実施形態との相違点を以下に説明する。本実施形態においては、第1の処理おいて、制御部106が制御信号SC2をバイアス電源107bに与える際に、スイッチSWに制御信号SSを与えている。これにより制御部106は、バイアス配線207と基準電源107cとが電気的に接続され、第2の処理を行い際にバイアス配線207の電位が基準電圧Vrに固定されるようにスイッチを制御している。このため、図7に示すように、制御部106が第2の処理を行うことによりノードNの電位はVrとなり、変換素子の電極間及びスイッチ素子の主電極間のいずれにも電圧は掛からない。そのため、FPD及び撮像装置を待機状態又は停止状態とする際に、第1の実施形態に比べてより変換素子にかかる負荷が低減され、特性を劣化させる可能性がより低減される。
なお、本実施形態において、基準電源107cを用いてバイアス配線207に基準電圧Vrを与える形態としたが、それに限定されるものではなく、別途基準電源と同じ出力電圧を有する電源を設けても良い。
また、第1及び第2の実施形態において、制御部106は信号処理部105を介して制御コンピュータ108からの制御信号等の情報に基づいて制御を行う形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、図8に示すように、撮像装置100が外部電源109から供給される電圧を監視する電源監視部801を設けてもよい。電源監視部701により供給される電圧の低下を検知した場合には、電源監視部801は上記の第1から第3の処理を制御部106に行わせるための情報を制御部106に出力する。またバッテリー等が内蔵されたカセッテ型撮像装置に対して電源監視部801を適用する場合には、バッテリーから供給される電圧の低下を検知する構成とすればよい。
また、図8に示すように、少なくとも制御部106が第1乃至第3の処理を行うことができる電力を有する予備電源802と、電源監視部801により供給電圧の低下を検知した場合に予備電源802に切り換える電源切り換えスイッチ803を有していてもよい。このような形態であれば、外部電源109から突然電圧の供給が停止した場合でも、確実且つ画素の特性に著しい劣化をもたらすことなくFPD及び撮像装置を停止状態とすることが可能となる。
また、図8に示すように、撮像装置100が撮像装置100内の内部温度を監視するための温度センサ804を有し、撮像装置100が正常に撮影可能な温度範囲内か否かを検知するようにしても良い。温度センサ704が温度範囲内にないことを検知した場合には、温度センサ804は制御部106に上記の第1から第3の処理を制御部106に行わせるための情報を制御部106に出力する。このような形態であれば、撮像装置100内が異常温度であった場合に、確実且つ画素の特性に著しい劣化をもたらすことなくFPD及び撮像装置を停止状態とすることが可能となる。またバッテリー等が内蔵されたカセッテ型撮像装置に対しては、温度センサ804を用いてバッテリーの温度上昇を検知し、バッテリーが異常温度であった場合に、モニター信号等の情報を制御部106に出力する形態としてもよい。
(第3の実施形態)
次に、図9に本発明を用いた第3の実施形態として移動可能な放射線撮像システムへの応用例を示す。図9(a)は、透視撮影と静止画撮影が可能な可搬型の撮像装置を用いた放射線撮像システムの概念図である。図9(a)において、撮像装置100をC型アーム901から取り外し、C型アーム901に備えられた放射線発生装置111を用いて撮影を行う例を示している。ここで、C型アーム901は放射線源111及び撮像装置100を保持するものである。図1で示した105は撮像装置100で得られた画像信号の表示が可能な表示部、903は被検体904を載せるための寝台である。また、902は放射線源111、撮像装置100、及びC型アーム901を移動可能にする台車、905はそれらを制御可能な構成を有する移動型の制御装置である。なお、台車902は図1に示した外部電源109を内包している。また制御装置906は、図1に示した制御コンピュータ108、制御卓111、放射線源制御装置112を有しており、撮像装置100で得られた画像信号を画像処理して表示装置105等に伝送することも可能である。また、制御装置906による画像処理により生成された画像データは、電話回線等の伝送手段により遠隔地へ転送することができる。それにより、ドクタールームなどの別の場所でディスプレイに表示もしくは光ディスク等の保存手段に保存することができ、遠隔地の医師が診断することも可能である。また、伝送された画像データをフィルムプロセッサによりフィルムとして記録することもできる。
図9(b)は、透視撮影と静止画撮影が可能な可搬型の撮像装置を用いた放射線撮像システムである。図9(b)では、撮像装置100をC型アーム901から取り外し、C型アーム901に備えられた放射線源111とは別の放射線発生装置906を用いて撮影を行う例を示している。
図9(c)は、図9(a)又は(b)に適用可能な放射線撮像システムの概念的ブロック図である。図9(c)に示す放射線撮像システムでは、制御コンピュータ108と撮像装置100との電源や制御信号、画像信号の伝送に用いるケーブルを途中で分離することが可能なデタッチャブルコネクタ907を有する。デタッチャブルコネクタ907の部分からケーブルを分離することで、撮像装置100を移動する際にケーブルが絡まったり捩れたりすることが防ぐことができる。このようなシステムの場合、撮像装置100が動作中に作業者がデタッチャブルコネクタ907を外すことが想定される。そこで、デタッチャブルコネクタ907に、コネクタの分離を検知するレバー908を設け、レバー908が上がったときに制御コンピュータ108及び、制御部106へ制御信号を送り、デタッチャブルコネクタ907が外されることを伝達する。デタッチャブルコネクタ907が外される旨の制御信号を受信すると、制御部106は、先の実施形態に記載した終了動作を行って撮像装置100を停止状態にする。一方で、デタッチャブルコネクタ907が瞬時に引き抜かれ分離してしまっては撮像装置100が休止状態になるのに必要な電力が供給されない。そこで、制御コンピュータ108は表示装置113等を使用して、撮像装置100の終了動作が完了し撮像装置100が停止状態となるまでデタッチャブルコネクタ907による分離を待つように、作業者に指示を行う。制御コンピュータ108は、制御部106により撮像装置100が上述の終了動作を完了し停止状態となったことが伝達されると、デタッチャブルコネクタ907の引き抜きを許可する指示を、表示装置113等を使用して作業者に伝達する。このようにして、デタッチャブルコネクラ907を用いて撮像装置100と外部電源109を確実且つ画素の特性に著しい劣化をもたらすことなく分離することが可能となる。ここで、図9(b)のように予備電源を持っている場合は、レバー908が上がった際の制御信号を得た後、予備電源に切り換えても良い。この場合、制御コンピュータ108で行う作業者への指示は不要となる。
なお、本発明の実施形態は、例えば制御部106に含まれるコンピュータがプログラムを実行することによって実現することもできる。また、プログラムをコンピュータに供給するための手段、例えばかかるプログラムを記録したCD−ROM等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体又はかかるプログラムを伝送するインターネット等の伝送媒体も本発明の実施形態として適用することができる。また、上記のプログラムも本発明の実施形態として適用することができる。上記のプログラム、記録媒体、伝送媒体及びプログラムプロダクトは、本発明の範疇に含まれる。また、実施形態1、実施形態2から容易に想像可能な組み合わせによる発明も本発明の範疇に含まれる。
第1の実施形態に係る撮像装置を含む撮像システムのブロック図である。 第1の実施形態に係るFPDの等価回路を含む撮像装置のブロック図である。 本発明の撮像装置における画像信号の出力動作を説明するためのタイミングチャートである。 本発明の第1の実施形態における撮像装置の制御方法を説明するためのタイミングチャートである。 本発明に係る撮像装置の状態及び動作を説明するためのタイミングチャートである。 第2の実施形態に係るFPDの等価回路を含む撮像装置のブロック図である。 第2の実施形態における制御部による撮像装置の制御方法を説明するためのタイミングチャートである。 本発明の他の例に係るFPDの等価回路を含む撮像装置のブロック図である。 本発明の撮像装置を用いた放射線撮像システムの概念図である。 比較例における撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
符号の説明
100 撮像装置
101 検出部
102 駆動回路
103 読出回路
104 平面検出器(FPD)
105 信号処理部
106 制御部
107 電源部
108 制御コンピュータ
109 外部電源
201 変換素子
202 スイッチ素子
203 積分増幅器
205 サンプルホールド回路
206 増幅回路
207 バイアス配線
208 マルチプレクサ
210 A/D変換器

Claims (11)

  1. 各々が、放射線又は光を電荷に変換する変換素子と、主端子の一方が前記変換素子の一方の電極と電気的に接続されて前記電荷に応じた電気信号を出力するスイッチ素子と、を含み、行列状に配置された複数の画素と、前記複数の画素のうち行方向に配置された複数の画素のスイッチ素子の制御端子と共通に接続され列方向に複数配置された駆動配線と、列方向に配置された複数のスイッチ素子の主端子の他方と共通に接続され行方向に複数配置された信号配線と、有する検出部と、
    前記駆動配線に電気的に接続され前記検出部を駆動する駆動回路と、
    前記信号配線に電気的に接続され前記検出部からの電気信号を画像信号として出力する読出回路と、
    前記検出部、前記駆動回路、及び前記読出回路に対しそれぞれ電圧を供給する電圧供給動作を行う電源部と、
    少なくとも前記駆動回路及び前記電源部を制御する制御部と、
    を有する撮像装置であって、
    前記読出回路は、前記信号配線をリセットするリセット手段を含み、
    前記制御部は、前記信号配線がリセットされた状態とする処理を行った後に前記駆動回路及び前記読出回路に対する電圧供給動作を前記電源部に維持させた状態で前記検出部に対する前記電源部の電圧供給動作を停止させる第1の処理と、前記第1の処理の後に前記電源部及び前記駆動回路に前記検出部を駆動させる第2の処理と、前記第2の処理の後に前記駆動回路及び前記読出回路に対する前記電源部の電圧供給動作を停止させる第3の処理と、を行うことを特徴とする撮像装置。
  2. 前記撮像装置は、
    前記電源部によって前記検出部、前記駆動回路、及び前記読出回路を含む検出器に対してそれぞれ電圧が供給された、前記検出器から前記画像信号を出力し得る状態と、
    前記電源部から前記検出部、前記駆動回路、及び前記読出回路への電圧の供給が停止された待機状態と、
    前記電源部への電圧の供給が停止された停止状態と、を有し、
    前記制御部は、前記画像信号を出力し得る状態から前記待機状態又は前記停止状態とするに際して、前記第1、第2、及び第3の処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記制御部は、前記第1及び第2の処理に際して、前記信号配線をリセットされた状態に維持する処理を行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
  4. 前記駆動回路は、前記スイッチ素子を導通状態とする導通電圧と前記スイッチ素子を非導通状態とする非導通電圧とを有する駆動信号に複数の前記駆動配線毎に供給し、
    前記制御部は、前記第2の処理において、複数の前記駆動配線に供給された導通電圧が互いに時間的に重ならずに前記駆動信号が供給されるように、前記駆動回路を制御することを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
  5. 前記駆動回路は、前記スイッチ素子を導通状態とする導通電圧と前記スイッチ素子を非導通状態とする非導通電圧とを有する駆動信号に複数の前記駆動配線毎に供給し、
    前記制御部は、前記第2の処理において、複数の前記駆動配線に供給された導通電圧を互いに一部時間的に重ねて駆動信号が供給されるように、前記駆動回路を制御することを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
  6. 前記読出回路は、前記信号配線に対応して設けられた増幅回路を複数の前記信号配線毎に夫々有し、
    前記増幅回路は、前記信号配線に接続された演算増幅器と、積分容量と、前記信号配線及び前記積分容量をリセットする前記リセット手段としてのリセットスイッチと、を有する積分増幅器を含み、
    前記電源部は、前記変換素子にバイアス電圧を供給するバイアス電源と、前記演算増幅器に基準電圧を供給する基準電源と、を含み、
    前記第1の処理に際して前記制御部により前記変換素子に与える電圧を前記バイアス電圧から前記基準電圧に切り換える手段を更に有することを特徴とする請求項からのいずれか1項に記載の撮像装置。
  7. 前記制御部は、前記撮像装置の外部から与えられる情報に基づいて、前記第1乃至第3の処理を行うことを特徴とする請求項1からのいずれか1項に記載の撮像装置。
  8. 前記電源部へ供給される電圧を監視する電源監視部を更に有し、
    前記制御部は、前記電源部へ供給される電圧の低下を検知した前記電源監視部により出力された情報に基づいて、前記第1、第2、及び第3の処理を行うことを特徴とする請求項1からのいずれか1項に記載の撮像装置。
  9. 前記電源部へ電圧を供給するバッテリーを更に有し、
    前記制御部は、前記バッテリーから前記電源部へ供給される電圧の低下を検知した前記電源監視部により出力された情報に基づいて、前記第1、第2、及び第3の処理を行うことを特徴とする請求項に記載の撮像装置。
  10. 前記第1、第2、及び第3の処理を行うことができる電力を有する予備電源を更に有し、
    前記制御部は、前記電源部へ供給される電圧の低下を検知した前記電源監視部により出力された情報に基づいて、前記予備電源へ切り換えることを特徴とする請求項又はに記載の撮像装置。
  11. 請求項1から10のいずれか1項に記載の撮像装置と、
    前記撮像装置の制御及び前記撮像装置で得られた画像信号の画像処理を行う制御コンピュータと、
    を含む撮像システム。
JP2008324473A 2008-12-19 2008-12-19 撮像装置及び撮像システム Active JP5230402B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008324473A JP5230402B2 (ja) 2008-12-19 2008-12-19 撮像装置及び撮像システム
US12/637,579 US8471213B2 (en) 2008-12-19 2009-12-14 Image pickup apparatus and image pickup system
CN2009102614384A CN101744625B (zh) 2008-12-19 2009-12-15 摄像装置和摄像***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008324473A JP5230402B2 (ja) 2008-12-19 2008-12-19 撮像装置及び撮像システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010147934A JP2010147934A (ja) 2010-07-01
JP5230402B2 true JP5230402B2 (ja) 2013-07-10

Family

ID=42264653

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008324473A Active JP5230402B2 (ja) 2008-12-19 2008-12-19 撮像装置及び撮像システム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8471213B2 (ja)
JP (1) JP5230402B2 (ja)
CN (1) CN101744625B (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5598033B2 (ja) * 2010-03-15 2014-10-01 ソニー株式会社 情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム
CN101975965B (zh) * 2010-10-27 2012-07-25 江苏康众数字医疗设备有限公司 平板探测器及其温度校准方法与图像校正方法
JP5438714B2 (ja) * 2011-03-31 2014-03-12 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置
FR2977413B1 (fr) * 2011-06-30 2013-08-09 Commissariat Energie Atomique Detecteur de rayonnement comprenant un circuit d'injection de contre-charges en quantite calibree
JP5657491B2 (ja) * 2011-08-31 2015-01-21 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影プログラム、及び放射線画像撮影方法
JP2013076679A (ja) * 2011-09-30 2013-04-25 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置、放射線画像検出方法およびプログラム
JP5950840B2 (ja) * 2012-03-16 2016-07-13 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び撮像システム
JP2013219408A (ja) * 2012-04-04 2013-10-24 Canon Inc 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法
JP6164798B2 (ja) 2012-04-04 2017-07-19 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法
WO2014064837A1 (ja) * 2012-10-26 2014-05-01 オリンパス株式会社 固体撮像装置、撮像装置および信号読み出し方法
KR102037283B1 (ko) 2013-06-18 2019-10-28 삼성전자주식회사 이미지 센서, 이미지 신호 프로세서 및 이들을 포함하는 전자 장치
DE102014205119B4 (de) * 2014-03-19 2017-11-30 Siemens Healthcare Gmbh Röntgengerät mit einer Kontrolleinheit sowie Verfahren zur Kontrolle des Energieverbrauchs
JP6308018B2 (ja) * 2014-05-22 2018-04-11 コニカミノルタ株式会社 放射線画像撮影装置
EP3172622B1 (en) 2014-07-21 2019-02-27 Varex Imaging Corporation Low-power imager with autosensing function
CN105326515B (zh) * 2014-07-28 2021-03-30 Ge医疗***环球技术有限公司 X射线检测装置和x射线成像设备
JP2017055033A (ja) * 2015-09-11 2017-03-16 株式会社東芝 半導体装置、半導体チップ及び半導体装置の製造方法
CN106200525A (zh) * 2016-07-26 2016-12-07 傲视恒安科技(北京)有限公司 一种应用于摄像头的可切换集中供电电源装置
JP6775408B2 (ja) * 2016-12-20 2020-10-28 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP7010652B2 (ja) * 2017-10-17 2022-01-26 株式会社ミツバ ノイズ除去回路およびノイズ除去方法ならびにモータ制御装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2513316B2 (ja) * 1989-06-09 1996-07-03 富士ゼロックス株式会社 画像読取装置
JP3890210B2 (ja) * 2000-08-11 2007-03-07 キヤノン株式会社 画像撮影装置及び画像撮影装置の制御方法
US6803553B1 (en) * 2001-05-23 2004-10-12 Pixim, Inc. Image sensor with charge recycling
JP4773049B2 (ja) * 2003-10-17 2011-09-14 株式会社島津製作所 放射線撮像装置
JP4604741B2 (ja) * 2005-01-31 2011-01-05 コニカミノルタエムジー株式会社 カセッテ型放射線画像検出器
JP2007067622A (ja) * 2005-08-30 2007-03-15 Konica Minolta Holdings Inc 放射線撮像装置
JP4614286B2 (ja) * 2006-06-12 2011-01-19 セイコーインスツル株式会社 光電変換装置、イメージセンサ、光学読み取り装置
JP2009300261A (ja) * 2008-06-13 2009-12-24 Fujifilm Corp 放射線検出器および放射線画像撮影装置
JP5251592B2 (ja) * 2009-02-25 2013-07-31 ソニー株式会社 固体撮像装置、撮像装置、半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
US8471213B2 (en) 2013-06-25
CN101744625B (zh) 2012-05-30
US20100155614A1 (en) 2010-06-24
JP2010147934A (ja) 2010-07-01
CN101744625A (zh) 2010-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5230402B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム
CN110623682B (zh) 放射线摄像装置及控制方法、放射线摄像***及存储介质
JP5721405B2 (ja) 撮像システム、その制御方法及びプログラム
JP5792923B2 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
KR101916504B1 (ko) 방사선 촬상 장치 및 방사선 검지 시스템
JP5517484B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
US9661240B2 (en) Radiation imaging apparatus comprising a pixel including a conversion element and radiation imaging system
US10009990B2 (en) Imaging apparatus, control method therefor, and imaging system
JP5361628B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
JP5539139B2 (ja) 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法
US8680471B2 (en) Imaging apparatus, imaging system, method of controlling the apparatus and the system, and program
US20140061488A1 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP5448643B2 (ja) 撮像システム、その画像処理方法及びそのプログラム
JP5274661B2 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
WO2015005259A1 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
US20230417934A1 (en) Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, control method for radiation imaging apparatus, non-transitory computer-readable storage medium, and signal processing apparatus
JP2014030216A (ja) 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20100630

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121204

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130201

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130219

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130319

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160329

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5230402

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151