JP5215390B2 - シリカ種の電気化学検出 - Google Patents
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Description
ストリッピング電圧電流計は種々の水性試料中の重金属イオンを検出するための解析ツールとして使用されることができる。ストリッピング電圧電流計は付着ストリッピング電圧電流計および吸収ストリッピング電圧電流計のような種々の構造で構成されることができる。この明細書に記載されている例示的な技術、システム、装置は吸収ストリッピング電圧電流計を使用している。吸収ストリッピング解析は微量金属(例えばモリブデン(Mo))とリガンド(例えばクロラニレート(CAA))との表面活性錯体の形成、吸収累積、減少を含んでいる。したがって、吸収ストリッピングはリガンドが存在する状態の金属(例えば金属錯体)の濃度を測定するために使用されることができる。適切なキレート剤又はリガンドが使用されることができる。さらに、吸収ストリッピングは重金属イオンが存在する状態の無機種の衝撃を測定することにより非電気活性無機種を測定するために使用されることができる。
以下に、本願出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1] 金属錯体を具備し、検出される無機種のない緩衝液へ電圧を与え、
無機種のない金属錯体に関連される第1の電流を測定し、
無機種を緩衝液に加え、
加えられた無機種が存在する金属錯体に関連される第2の電流を測定し、
緩衝液中の加えられた無機種の濃度を識別するために第1の電流と第2の電流の差を得るステップを含んでいる方法。
[2] 第1および第2の電流の測定は累積電位とそれに後続する走査電位とを供給するステップを含んでいる[1]記載の方法。
[3] 累積電位の供給は0.5ボルトを含む振幅の累積電位の供給を含んでいる[2]記載の方法。
[4] 累積電位の供給は60秒を含む時間の期間の累積電位の供給を含んでいる[2]記載の方法。
[5] 走査電位の供給は25ミリボルトの振幅と、4ミリボルトのステップ電位と、25ヘルツの周波数の少なくとも1つを有する走査電位を供給するステップを含んでいる[2]記載の方法。
[6] 電圧の供給はモリブデン−クロラニレート錯体のような金属錯体を含む緩衝溶液へ電圧を供給するステップを含んでいる[1]記載の方法。
[7] 第1および第2の電流の測定はビスマス、金、炭素、または水銀を有する動作電極の使用を含んでいる[1]記載の方法。
[8] 動作電極を使用する第1および第2の電流の測定はスクリーン印刷電極の使用を含んでいる[7]記載の方法。
[9] 無機種の付加はシリカ種を付加するステップを含んでいる[1]記載の方法。
[10] 第1および第2の電流の測定はボルタンメトリー信号の測定を含んでいる[1]記載の方法。
[11] ボルタンメトリー信号の測定はストリッピング電圧電流計の使用を含んでいる[10]記載の方法。
[12] ストリッピング電圧電流計を使用するボルタンメトリー信号の測定は使い捨てのストリッピング電圧電流計の使用を含んでいる[11]記載の方法。
[13] 検出装置と、データ処理装置とを具備するシステムにおいて、
検出装置は、
金属錯体を含んでいる溶液を少なくとも部分的に中で保持するように構成されている容器と、
少なくとも部分的に溶液中に浸されている導電性部材とを含み、容器、溶液、導電性部材は無機種のない金属錯体に対応する第1の電流と、無機種が存在する金属錯体に対応する第2の電流を測定するように構成され、
データ処理装置は、
測定された第1および第2の電流を検出装置から受取り、
無機種の濃度を識別するために第1の電流と第2の電流との差を得るように構成されているシステム。
[14] 検出装置はモリブデン−クロラニレート金属錯体を含む金属錯体に対応する第1および第2の電流を測定するように構成されている[13]記載のシステム。
[15] 検出装置はシリカ種を有する無機種が存在する金属錯体に対応する第2の電流を測定するように構成されている[13]記載のシステム。
[16] 導電性部材はビスマス、金、炭素、水銀のうちの少なくとも1つを有する[13]記載のシステム。
[17] 導電性部材はスクリーン印刷電極で構成されている[13]記載のシステム。
[18] 検出装置はストリッピング電圧電流計として構成される[13]記載のシステム。
[19] ストリッピング電圧電流計は使い捨てのストリッピング電圧電流計を有する[18]記載のシステム。
[20] 検出装置は累積電位とそれに後続する走査電位の供給により第1および第2の電流を測定するように構成される[13]記載のシステム。
[21] ターゲットの非電気活性材料がない状態の電気活性材料の第1の電気的活動を検出し、ターゲットの非電気活性材料が存在する状態の電気活性材料の第2の電気的活動を検出し、
第1および第2の電気的活動の差を得て、
得られた差に基づいて、ターゲットの非電気活性材料の濃度を識別するステップを含んでいる方法。
[22] 第1および第2の電気的活動の検出は累積電位とそれに続く走査電位の供給を含んでいる[21]記載の方法。
[23] 第1および第2の電気的活動の検出は緩衝溶液における金属錯体の第1および第2の電気的活動の検出を含んでいる[21]記載の方法。
[24] ターゲットの非電気活性材料の濃度の識別はターゲットのシリカ種の濃度の識別を含んでいる[21]記載の方法。
Claims (10)
- 検出装置と、データ処理装置とを具備するシステムにおいて、
検出装置は、
金属錯体を含んでいる溶液を少なくとも部分的に中で保持するように構成されている容器と、
少なくとも部分的に溶液中に浸されている導電性部材とを含み、容器、溶液、導電性部材は無機種のないモリブデン−クロラニレート金属錯体に対応する第1の電流と、シリカ又はケイ酸を含む無機種が存在するモリブデン−クロラニレート金属錯体に対応する第2の電流を測定するように構成され、
データ処理装置は、
測定された第1および第2の電流を検出装置から受取り、
無機種の濃度を識別するために第1の電流と第2の電流との差を得るように構成されているシステム。 - 導電性部材はビスマス、金、炭素、水銀の少なくとも1つを有する請求項1記載のシステム。
- 導電性部材はスクリーン印刷電極で構成されている請求項1記載のシステム。
- 検出装置はストリッピング電圧電流計として構成される請求項1記載のシステム。
- ストリッピング電圧電流計は使い捨てのストリッピング電圧電流計を有する請求項4記載のシステム。
- 検出装置は累積電位とそれに後続する走査電位の供給により第1および第2の電流を測定するように構成される請求項1記載のシステム。
- ターゲットのシリカ又はケイ酸を含む非電気活性無機種が存在しない状態のモリブデン−クロラニレート金属錯体を含む電気活性材料に対応する第1の電流を検出し、
ターゲットのシリカ又はケイ酸を含む非電気活性無機種が存在する状態のモリブデン−クロラニレート金属錯体を含む電気活性材料に対応する第2の電流を検出し、
第1および第2の電流の差を獲得し、
得られた差に基づいて、ターゲットのシリカ又はケイ酸を含む非電気活性無機種の濃度を識別するステップを含んでいる方法。 - 第1および第2の電流の検出は累積電位とそれに続く走査電位の供給を含んでいる請求項7記載の方法。
- モリブデン−クロラニレート金属錯体を含む電気活性材料を含み、検出されるシリカ又はケイ酸を含む非電気活性無機種のない緩衝液へ電圧を与え、
第1の電流の検出は、無機種の存在しないモリブデン−クロラニレート金属錯体に関連される第1の電流の測定を含んでおり、
無機種を緩衝液に加え、
第2の電流の検出は、加えられた無機種が存在する状態におけるモリブデン−クロラニレート金属錯体に関連される第2の電流の測定を含んでおり、
前記差を得るステップは前記第1の電流と前記第2の電流との差を得る処理を含み、
検出されるシリカ又はケイ酸を含む非電気活性無機種の濃度を識別するステップは前記得られた差に基づいて前記緩衝液中の加えられた無機種の濃度を識別する処理を含んでいる請求項7記載の方法。 - 第1および第2の電流の測定はビスマス、金、炭素、または水銀の少なくとも1つを有する動作電極の使用を含んでいる請求項7記載の方法。
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