JP5197691B2 - ヒステリシスコンパレータ - Google Patents

ヒステリシスコンパレータ Download PDF

Info

Publication number
JP5197691B2
JP5197691B2 JP2010188952A JP2010188952A JP5197691B2 JP 5197691 B2 JP5197691 B2 JP 5197691B2 JP 2010188952 A JP2010188952 A JP 2010188952A JP 2010188952 A JP2010188952 A JP 2010188952A JP 5197691 B2 JP5197691 B2 JP 5197691B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
potential
terminal
gate
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010188952A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012049750A (ja
Inventor
昭司 上野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2010188952A priority Critical patent/JP5197691B2/ja
Priority to US13/048,222 priority patent/US8368429B2/en
Priority to CN201110067034.9A priority patent/CN102386895B/zh
Publication of JP2012049750A publication Critical patent/JP2012049750A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5197691B2 publication Critical patent/JP5197691B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/153Arrangements in which a pulse is delivered at the instant when a predetermined characteristic of an input signal is present or at a fixed time interval after this instant
    • H03K5/1532Peak detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

本発明の実施形態は、ヒステリシスコンパレータに関する。
乾電池、バッテリーなどを電源とする民生用や産業用の半導体集積回路には、例えば電源電圧を監視する回路などにヒステリシスコンパレータが使用される。この種のコンパレータは、2つの異なる閾値を有し、バイポーラトランジスタやBiCMOSから構成されている(例えば、特許文献1参照。)。
バイポーラトランジスタやBiCMOSから構成さるヒステリシスコンパレータの出力段にバイポーラトランジスタを使用すると、出力段をオンするときに出力段のベース電圧をベースーエミッタ間電圧以上に設定する必要がある。このため、ヒステリシスコンパレータの閾値の設定範囲を広げることが困難であるという問題点がある。
特開平11−133103号公報
本発明は、閾値の設定範囲を広げることができるヒステリシスコンパレータを提供することにある。
一つの実施形態によれば、ヒステリシスコンパレータは、基準電圧発生部、比較増幅部、第3のトランジスタ、第4のトランジスタ、第1の電流源、第5のトランジスタ、第6のトランジスタ、第2の電流源、第7のトランジスタ、第8のトランジスタ、及び第9のトランジスタが設けられる。基準電圧発生部は、一端側に第1の電圧が印加され、複数の抵抗を用いて第1の電圧を分圧して基準電圧を発生する。比較増幅部は、高電位側電源と低電位側電源の間に設けられ、差動対をなす第1及び第2のトランジスタを有し、第1のトランジスタのゲートに入力電圧が入力され、第2のトランジスタのゲートに前記基準電圧が入力される。第3のトランジスタは、基準電圧発生部の他端と低電位側電源の間に設けられる。第4のトランジスタは、高電位側電源と低電位側電源の間に設けられ、比較増幅部の出力信号がゲートに入力される。第1の電流源は、一端が高電位側電源に接続され、第1の電流を発生して他端側に流す。第5のトランジスタは、第1の端子が第1の電流源の他端に接続され、ダイオード接続される。第6のトランジスタは、第5のトランジスタの第2の端子と基準電圧発生部の他端の間に設けられ、ゲートが第3のトランジスタのゲート及び第4のトランジスタの第1の端子に接続され、第4のトランジスタの第1の端子の電位に応じて第5のトランジスタの第2の端子と基準電圧発生部の他端の間を接続する。第2の電流源は、一端が高電位側電源に接続され、第1の電流のn倍(ただし、nは2以上)の第2の電流を発生して他端側に流す。第7のトランジスタは、第1の端子が第2の電流源の他端に接続され、ゲートが第5のトランジスタのゲートに接続され、第5のトランジスタとカレントミラー回路を構成し、出力電圧を出力する。第8及び第9のトランジスタは、第7のトランジスタの第2の端子と低電位側電源の間に設けられ、縦続接続され、比較増幅部が動作しているときに常にオンしている。
本発明の第1の実施形態に係るヒステリシスコンパレータを示す回路図である。 本発明の第1の実施形態に係る比較例のヒステリシスコンパレータを示す回路図である。 本発明の第1の実施形態に係る入力電圧と基準電圧の関係に対するトランジスタの状態を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る第1の電圧が1.3Vのときのヒステリシスコンパレータの動作を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る第1の電圧が0.5Vのときのヒステリシスコンパレータの動作を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る基準電圧と出力電圧の変化を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係るヒステリシスコンパレータを示す回路図である。 本発明の第2の実施形態に係る入力電圧と基準電圧の関係に対するトランジスタの状態を示す図である。
以下本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。
(第1の実施形態)
まず、本発明の第1の実施形態に係るヒステリシスコンパレータについて、図面を参照して説明する。図1はヒステリシスコンパレータを示す回路図である。図2は比較例のヒステリシスコンパレータを示す回路図であるである。本実施形態では、ヒステリシスコンパレータをCMOSで構成し、出力側をカレントミラー回路構成にして閾値の設定範囲を広げている。
図1に示すように、ヒステリシスコンパレータ90には、電流源2乃至4、比較増幅部10、基準電圧発生部21、カレントミラー回路23、Nch MOSトランジスタNMT3、Nch MOSトランジスタNMT4、Nch MOSトランジスタNMT6、Nch MOSトランジスタNMT8、Nch MOSトランジスタNMT9、端子Pvd、端子Pv1、端子Pin、端子Pvs、及び端子Poutが設けられる。
ヒステリシスコンパレータ90は、CMOSで構成され、2つの異なる閾値を有する。ヒステリシスコンパレータ90は、例えば、民生用や産業用の半導体集積回路の電源電圧を監視する回路などに適用される。
端子Pvdは、高電位側電源Vddをヒステリシスコンパレータ90に供給する。端子Pv1は、第1の電圧V1をヒステリシスコンパレータ90に出力する。端子Pinは、入力電圧Vinをヒステリシスコンパレータ90に出力する。端子Pvsは、低電位側電源(接地電位)Vssに接続される。端子Poutは、出力電圧Voutを出力する。
基準電圧発生部21には、抵抗R1と抵抗R2が設けられる。抵抗R1は、一端に第1の電圧V1が印加され、他端がノードN3に接続される。抵抗R2は、一端がノードN3に接続され、他端がノードNBに接続される。基準電圧発生部21は、縦続接続される抵抗R1及びR2の間(ノードN3)から基準電圧Vrefを比較増幅部10に出力する。なお、ヒステリシスコンパレータ90が動作するときに、閾値としての異なる2つの基準電圧を有する(詳細は、後述する)。
比較増幅部10には、電流源1、カレントミラー回路22、Pch MOSトランジスタPMT1、及びPch MOSトランジスタPMT2が設けられる。
電流源1は、一端が高電位側電源Vddに接続され、他端がノードN1に接続され、他端側に電流を流す。
Pch MOSトランジスタPMT1は、ソースがノードN1に接続され、ゲートに入力電圧Vinが入力され、ドレインがノードN2に接続される。Pch MOSトランジスタPMT2は、ソースがノードN1に接続され、ゲートに基準電圧Vrefが入力される。
Pch MOSトランジスタPMT1及びPMT2は、差動対として動作する。Pch MOSトランジスタPMT1のドレイン側(ノードN2)から、比較増幅部10の非反転出力信号が出力される。ここでは、Pch MOSトランジスタPMT1を非反転(+)側のトランジスタ、Pch MOSトランジスタPMT2を反転(−)側のトランジスタと表記している。
カレントミラー回路22には、Nch MOSトランジスタNMT1とNch MOSトランジスタNMT2が設けられる。
Nch MOSトランジスタNMT1は、ドレインがノードN2に接続され、ソースが低電位側電源(接地電位)Vssに接続される。Nch MOSトランジスタNMT2は、ドレインがPch MOSトランジスタPMT2のドレインに接続され、ゲートがドレイン及びNch MOSトランジスタNMT1のゲートに接続され、ソースが低電位側電源(接地電位)Vssに接続される。
カレントミラー回路22は、Nch MOSトランジスタNMT2側に電流が流れると、Nch MOSトランジスタNMT1側にそれに対応する電流が流れる。
Nch MOSトランジスタNMT3は、ドレイン(第1の端子)がノードNB(基準電圧発生部21の他端)に接続され、ソース(第2の端子)が低電位側電源(接地電位)Vssに接続される。
電流源2は、一端が高電位側電源Vddに接続され、他端がノードNAに接続され、他端側に電流を流す。
Nch MOSトランジスタNMT4は、ドレイン(第1の端子)がノードNA(電流源2の他端)に接続され、ゲート(制御端子)がノードN2に接続され、ソース(第2の端子)が低電位側電源(接地電位)Vssに接続される。
ここで、(第1の端子)とはトランジスタの高電位側電源Vdd側の端子とし、(第2の端子)とは低電位側電源(接地電位)Vss側の端子としている。これ以降、Pch MOSトランジスタの場合でもこの表記をする。
電流源3は、一端が高電位側電源Vddに接続され、他端がノードN4に接続され、他端側に電流Iaを流す。
電流源4は、一端が高電位側電源Vddに接続され、他端がノードN5に接続され、他端側に電流Iaの2倍の電流を流す。ここでは、電流Iaの2倍の電流を流しているが、例えば電流Iaのn倍(ただし、nは2以上)に設定してもよい。
カレントミラー回路23には、Nch MOSトランジスタNMT5とNch MOSトランジスタNMT7が設けられる。
Nch MOSトランジスタNMT5は、ドレイン(第1の端子)がノードN4(電流源3の他端)に接続され、ゲートがドレインに接続されるダイオード接続のトランジスタである。
Nch MOSトランジスタNMT7は、ドレインがノードN5に接続され、ゲートがNch MOSトランジスタNMT5のゲートに接続される。Nch MOSトランジスタNMT7は、ヒステリシスコンパレータ90の出力段のトランジスタとして動作し、ドレイン側(ノードN5)から出力電圧Voutを端子Poutへ出力する。
Nch MOSトランジスタNMT6は、Nch MOSトランジスタNMT5のソース(第2の端子)とノードNB(基準電圧発生部21の他端)の間に設けられ、ゲートがノードNA及びNch MOSトランジスタNMT3のゲートに接続される。Nch MOSトランジスタNMT6は、ノードNAの電位に応じてNch MOSトランジスタNMT5のソース(第2の端子)とノードNB(基準電圧発生部21の他端)の間を接続する。
具体的には、Nch MOSトランジスタNMT6は、ノードNAの電位が“High”レベルのときにオンしてNch MOSトランジスタNMT5のソース(第2の端子)とノードNB(基準電圧発生部21の他端)の間を接続する。Nch MOSトランジスタNMT6は、ノードNAの電位が“Low”レベルのときにオフしてNch MOSトランジスタNMT5のソース(第2の端子)とノードNB(基準電圧発生部21の他端)の間を遮断する。
縦続接続されるNch MOSトランジスタNMT8及びNMT9は、Nch MOSトランジスタNMT7のソース(第2の端子)と低電位側電源(接地電位)Vssの間に設けられ、ゲートが高電位側電源Vddに接続され、比較増幅部10が動作するときに、常にオンしている。
図2に示すように、比較例のヒステリシスコンパレータ100には、電流源2、電流源5、電流源6、比較増幅部10、基準電圧発生部21、Nch MOSトランジスタNMT3、Nch MOSトランジスタNMT4、PNPトランジスタQP1、NPNトランジスタQN1、NPNトランジスタQN2、抵抗R3、端子Pvd、端子Pv1、端子Pin、端子Pvs、及び端子Poutが設けられる。
比較例のヒステリシスコンパレータ100は、BiCMOSで構成され、2つの異なる閾値を有する。ヒステリシスコンパレータ100は、本実施形態のヒステリシスコンパレータ90とは、Nch MOSトランジスタNMT4以降がバイポーラトランジスタで構成されている点が異なる。このため、異なる点のみ説明する。
電流源5は、一端が高電位側電源Vddに接続され、他端がノードN11に接続され、他端側に電流Ibを流す。
PNPトランジスタQP1は、エミッタがノードN11に接続され、ベースがノードNBに接続され、コレクタが低電位側電源(接地電位)Vssに接続される。
NPNトランジスタQN1は、コレクタが高電位側電源Vddに接続され、ベースがノードN11に接続され、エミッタがノードN12に接続される。抵抗R3は、一端がノードN12に接続され、他端が低電位側電源(接地電位)Vssに接続される。
電流源6は、一端が高電位側電源Vddに接続され、他端がノードN13に接続され、他端側に電流を流す。
NPNトランジスタQN2は、コレクタがノードN13に接続され、ベースがノードN12に接続され、エミッタが低電位側電源(接地電位)Vssに接続される。NPNトランジスタQN2は、ヒステリシスコンパレータ100の出力段のトランジスタとして動作し、コレクタ側(ノードN13)から出力電圧Voutを端子Poutに出力する。
ここで、NPNトランジスタQN2のベース電位(ノードN12の電位)が0.6V(ベース−エミッタ間電圧)以上にならないとNPNトランジスタQN2はオンしない。NPNトランジスタQN2をオン・オフ動作するためには、PNPトランジスタQP1のベース電位(ノードNBの電位)を0.7V以上に設定する必要がある。つまり、基準電圧Vrefを0.7V以下にすることができない。
したがって、ヒステリシスコンパレータ100の閾値を0.7V以下に設定することができない。
次に、ヒステリシスコンパレータの動作について図3乃至6を参照して説明する。図3は、入力電圧と基準電圧の関係に対するトランジスタの状態を示す図である。
図3に示すように、まず、入力電圧Vinが“Low”レベル(低電位側電源(接地電位)Vssレベル)から昇圧するときの動作について説明する。
この領域では、差動対をなすPch MOSトランジスタPMT1はオンし、Pch MOSトランジスタPMT2はオフし、ノードN2から非反転出力信号(“High”レベル)が出力される。Nch MOSトランジスタNMT4は、ゲートが“High”レベルなのでオンしている。Nch MOSトランジスタNMT4のドレイン(ノードNA)は、高電位側電源Vdd電圧よりも低く、低電位側電源(接地電位)Vss電圧近傍の電圧となる。
Nch MOSトランジスタNMT3及びNMT6は、ゲートが“Low”レベルなのでオフしている。このため、比較増幅部10に入力される基準電圧Vrefa(ノードN3の電圧)は、
Vrefa=V1・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・式(1)
と表される。なお、V1は端子Pv1から基準電圧発生部21に出力される第1の電圧である。
Nch MOSトランジスタNMT6がオフしているので、カレントミラー回路23は動作していない。出力段のNch MOSトランジスタNMT7は、ゲートが“High”レベルなのでオンし、出力電圧Voutが“Low”レベルである。
次に、入力電圧Vinが第1の電圧V1を超えたときの動作について説明する。
この領域では、差動対をなすPch MOSトランジスタPMT1はオフし、Pch MOSトランジスタPMT2はオンし、ノードN2は“Low”レベルとなる。Nch MOSトランジスタNMT4は、ゲートが“Low”レベルなのでオフする。Nch MOSトランジスタNMT4のドレイン(ノードNA)は、“Low”レベルから“High”レベルの高電位側電源Vdd電圧となる。
Nch MOSトランジスタNMT3及びNMT6は、ゲートが“High”レベルとなるのでオンする。このため、比較増幅部10に入力される基準電圧Vrefb(ノードN3の電圧)は、Nch MOSトランジスタNMT3のオン抵抗をRon1、抵抗R1の値をr1、抵抗R2の値をr2、第1の電圧をV1とすると、
Vrefb=V1×{(r2+Ron1)/(r1+r2+Ron1)}・・・・・・・・式(2)
と表される。ここで、
r1、r2>>Ron1・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・式(3)
に設定されているから、
Vrefb≒V1×{r2/(r1+r2)}<Vrefa・・・・・・・・・・・・式(4)
と表される。
Nch MOSトランジスタNMT3、NMT6、NMT8、NMT9がオンしているので、カレントミラー回路23は動作する。出力段側の電流源に流れる電流は、Nch MOSトランジスタNMT5、NMT6、NMT3側に流れる電流Iaの2倍に設定されているので、出力電圧Voutは“High”レベルとなる。
続いて、図示していないが、入力電圧Vinが下降して基準電圧Vrefb以下になると出力電圧Voutは“Low”レベルとなる。
基準電圧Vrefa、基準電圧Vrefbは、ヒステリシスコンパレータ90の閾値であるから、ヒステリシスコンパレータ90のヒステリシス幅Vhysは、式(1)、式(4)から、
Vhys=Vrefa−Vrefb=V1×{r1/(r1+r2)}・・・・・・・・・式(5)
と表される。
図4は第1の電圧V1が1.3Vのときのヒステリシスコンパレータの動作を示す図である。
図4に示すように、Vin<Vrefの時刻T1までは、ノードN2の電位Vn2が“High”レベル、基準電圧Vrefaは1.3V、出力信号Voutは接地電位となる。
時刻T1からVin>Vrefに変化し、Vin<Vrefになる時刻T2の間では、ノードN2の電位Vn2が“Low”レベル、基準電圧Vrefbは1.2V、出力信号Voutは“High”レベルの5Vとなる。
時刻T2以降(Vin<Vref)は、ノードN2の電位Vn2が“High”レベル、基準電圧Vrefaは1.3V、出力信号Voutは接地電位となる。ここでは、ヒステリシスコンパレータ90のヒステリシス幅Vhysを0.1Vに設定している。ヒステリシスコンパレータ90の閾値の設定範囲は1.2Vまでである(下限が1.2V)。
図5は第1の電圧V1が0.5Vのときのヒステリシスコンパレータの動作を示す図である。
図5に示すように、Vin<Vrefの時刻T11までは、ノードN2の電位Vn2が“High”レベル、基準電圧Vrefaは0.5V、出力信号Voutは接地電位となる。
時刻T11からVin>Vrefに変化し、Vin<Vrefになる時刻T12の間では、ノードN2の電位Vn2が“Low”レベル、基準電圧Vrefbは0.4V、出力信号Voutは“High”レベルの5Vとなる。
時刻T12以降(Vin<Vref)は、ノードN2の電位Vn2が“High”レベル、基準電圧Vrefaは0.5V、出力信号Voutは接地電位となる。ここでは、ヒステリシスコンパレータ90のヒステリシス幅Vhysを0.1Vに設定している。ヒステリシスコンパレータ90の閾値の設定範囲は0.4Vまでである(下限が0.4V)。
図6は図5の時刻T11近傍での基準電圧と出力電圧の変化を示す図である。
図6に示すように、差動対のPch MOSトランジスタPMT1がオンからオフに変化し、ノードNAの電位が上昇し始めて、Nch MOSトランジスタNMT3がオフからオンに変化すると、ノードNBの電位が下降し時刻T31で低電位側電源(接地電位)Vssレベルとなる。このとき、Nch MOSトランジスタNMT6もオフからオンに変化する。
時刻T31では、ノードN3の基準電圧がVrefaからVrefbに変化する。Nch MOSトランジスタNMT3及びNMT6がオンすると、カレントミラー回路23が動作して期間Ta後の時刻T11で出力信号Voutが“Low”レベルから“High”レベルに変化し始める。
このため、閾値の切り換え(VrefaからVrefb)後の信号で、出力信号Voutの信号レベルが変化するので、チャタリングの発生を大幅に抑制することができる。
また、第1の電圧V1と基準電圧発生部21の抵抗R1及びR2の値を適切な値に設定することで、ヒステリシスコンパレータ90の閾値を、例えば0.1Vまで設定することができる。
この理由は、ヒステリシスコンパレータ90の閾値の下限はMOSトランジスタの閾値電圧に依存するからである。MOSトランジスタの閾値電圧の設定を比較的小さな値に設定することで、閾値を0.1Vまで設定が可能となる。
このため、比較例のBiCMOS構成のヒステリシスコンパレータ100では、閾値の下限を0.7V(PNPトランジスタQP1のベース電位に要する電位)よりも低く設定できないのに対して、ヒステリシスコンパレータ90の閾値の設定範囲を大幅に広げることができる。
上述したように、本実施形態のヒステリシスコンパレータでは、CMOSで回路構成し、出力側をカレントミラー回路23で構成している。カレントミラー回路23と基準電圧発生部21の間にはスイッチとして動作するNch MOSトランジスタNMT6を設けている。
このため、ヒステリシスコンパレータ90の閾値の設定範囲を従来よりも大幅に広げることができる。また、チャタリングの発生を大幅に抑制することができる。
なお、本実施形態では、比較増幅部10の差動対をPch MOSトランジスタで構成し、非反転出力信号をNch MOSトランジスタNMT4のゲートに出力しているが、代わりに反転出力信号を用いる場合、比較増幅部10以降のトランジスタをNch MOSトランジスタからPch MOSトランジスタに変更するのが好ましい。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態に係るヒステリシスコンパレータについて、図面を参照して説明する。図7はヒステリシスコンパレータを示す回路図である。本実施形態では、ヒステリシスコンパレータを構成するPch MOSトランジスタをNch MOSトランジスタに入れ替え、Nch MOSトランジスタをPch MOSトランジスタに入れ替えている。
以下、第1の実施形態と同一構成部分には、同一符号を付してその部分の説明を省略し、異なる部分のみ説明する。
図7に示すように、ヒステリシスコンパレータ91には、電流源22乃至24、比較増幅部11、基準電圧発生部31、カレントミラー回路33、Pch MOSトランジスタPMT13、Pch MOSトランジスタPMT14、Pch MOSトランジスタPMT16、Pch MOSトランジスタPMT18、Pch MOSトランジスタPMT19、端子Pvd、端子Pv1、端子Pin、端子Pvs、及び端子Poutが設けられる。
ヒステリシスコンパレータ91は、CMOSで構成され、2つの異なる閾値を有する。ヒステリシスコンパレータ91は、例えば、民生用や産業用の半導体集積回路の電源電圧を監視する回路などに適用される。
基準電圧発生部31には、抵抗R11と抵抗R12が設けられる。抵抗R12は、一端に第1の電圧V1が印加され、他端がノードN22に接続される。抵抗R11は、一端がノードN22に接続され、他端がノードNBBに接続される。基準電圧発生部31は、縦続接続される抵抗R11及びR12の間(ノードN22)から基準電圧Vrefを比較増幅部11に出力する。なお、ヒステリシスコンパレータ91が動作するときに、閾値としての異なる2つの基準電圧を有する(詳細は、後述する)。
比較増幅部11には、電流源21、カレントミラー回路32、Nch MOSトランジスタNMT11、及びNch MOSトランジスタNMT12から構成される。
カレントミラー回路32には、Pch MOSトランジスタPMT11とPch MOSトランジスタPMT12が設けられる。
Pch MOSトランジスタPMT11は、ソースが高電位側電源Vddに接続され、ドレインがノードN21に接続される。Pch MOSトランジスタPMT12は、ソースが高電位側電源Vddに接続され、ゲートがドレイン及びPch MOSトランジスタPMT11のゲートに接続される。
カレントミラー回路32は、Pch MOSトランジスタPMT12側に電流が流れると、Pch MOSトランジスタPMT11側にそれに対応する電流が流れる。
Nch MOSトランジスタNMT11は、ドレインがノードN21に接続され、ゲートに入力電圧Vinが入力される。Nch MOSトランジスタNMT12は、ドレインがPch MOSトランジスタPMT12のドレインに接続され、ゲートに基準電圧Vrefが入力される。
Nch MOSトランジスタNMT11及びNMT12は、差動対として動作する。Nch MOSトランジスタNMT11のドレイン側(ノードN21)から、比較増幅部11の非反転出力信号が出力される。ここでは、Nch MOSトランジスタNMT11を非反転(+)側のトランジスタ、Nch MOSトランジスタNMT12を反転(−)側のトランジスタと表記している。
電流源21は、一端がNch MOSトランジスタNMT11及びNMT12のソースに接続され、他端が低電位側電源(接地電位)Vssに接続され、他端側に電流を流す。
Pch MOSトランジスタPMT13は、ソース(第1の端子)が高電位側電源Vddに接続され、ドレインがノードNBB(基準電圧発生部31の他端)に接続される。
Pch MOSトランジスタPMT14は、ソース(第1の端子)が高電位側電源Vddに接続され、ゲートがノードN21に接続され、ドレインがPch MOSトランジスタPMT13のゲート及びノードNAAに接続される。
電流源22は、一端がノードNAAに接続され、他端が低電位側電源(接地電位)Vssに接続され、他端側に電流を流す。
縦続接続されるPch MOSトランジスタPMT18及びPMT19は、高電位側電源Vddとカレントミラー回路33の間に設けられ、ゲートが低電位側電源(接地電位)Vssに接続され、比較増幅部11が動作するときに、常にオンしている。
カレントミラー回路33には、Pch MOSトランジスタPMT15とPch MOSトランジスタPMT17が設けられる。
Pch MOSトランジスタPMT15は、ゲートがノードN23及びドレインに接続されるダイオード接続のトランジスタである。
Pch MOSトランジスタPMT17は、ソース(第1の端子)がPch MOSトランジスタPMT18のドレインに接続され、ゲートがPch MOSトランジスタPMT15のゲート(ノードN23)に接続され、ドレイン(第2の端子)がノードN24に接続される。Pch MOSトランジスタPMT17は、ヒステリシスコンパレータ91の出力段のトランジスタとして動作し、ドレイン側(ノードN24)から出力電圧Voutを端子Poutへ出力する。
電流源23は、一端がノードN23に接続され、他端が低電位側電源(接地電位)Vssに接続され、他端側に電流Iaを流す。
電流源24は、一端がノードN24に接続され、他端が低電位側電源(接地電位)Vssに接続され、他端側に電流Iaの2倍の電流を流す。ここでは、電流Iaの2倍の電流を流しているが、例えば電流Iaのn倍(ただし、nは2以上)に設定してもよい。
Pch MOSトランジスタPMT16は、Pch MOSトランジスタPMT15のソース(第1の端子)とノードNBB(基準電圧発生部31の他端)の間に設けられ、ゲートがノードNAA及びPch MOSトランジスタPMT3のゲートに接続される。Pch MOSトランジスタPMT16は、ノードNAAの電位に応じてPch MOSトランジスタPMT15のソース(第1の端子)とノードNBB(基準電圧発生部31の他端)の間を接続する。
具体的には、Pch MOSトランジスタPMT16は、ノードNAAの電位が“Low”レベルのときにオンしてPch MOSトランジスタPMT15のソース(第1の端子)とノードNBB(基準電圧発生部31の他端)の間を接続する。Pch MOSトランジスタPMT16は、ノードNAAの電位が“High”レベルのときにオフしてPch MOSトランジスタPMT15のソース(第1の端子)とノードNBB(基準電圧発生部31の他端)の間を遮断する。
次に、ヒステリシスコンパレータの動作について図8を参照して説明する。図8は、入力電圧と基準電圧の関係に対するトランジスタの状態を示す図である。
図8に示すように、まず、入力電圧Vinが“Low”レベル(低電位側電源(接地電位)Vssレベル)から昇圧するときの動作について説明する。
この領域では、差動対をなすNch MOSトランジスタNMT11はオフし、Nch MOSトランジスタNMT12はオンし、ノードN21から非反転出力信号(“High”レベル)が出力される。Pch MOSトランジスタPMT14は、ゲートが“High”レベルなのでオフしている。Pch MOSトランジスタPMT14のドレイン(ノードNAA)は、“Low”レベルとなる。
Pch MOSトランジスタPMT13及びPMT16は、ゲートが“Low”レベルなのでオンしている。
Pch MOSトランジスタPMT13、PMT16、PMT18、PMT19がオンしているので、カレントミラー回路33は動作する。出力段側の電流源に流れる電流は、Pch MOSトランジスタPMT13、PMT16、PMT15側に流れる電流Iaの2倍に設定されているので、出力電圧Voutは“Low”レベルとなる。
この領域では、比較増幅部11に入力される基準電圧Vrefaa(ノードN22の電圧)は、Pch MOSトランジスタPMT13のオン抵抗をRon11、抵抗R11の値をr11、抵抗R12の値をr12、第1の電圧をV1、高電位側電源電圧Vddとすると、
Vdd>V1・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・式(6)
と設定されているので、
Vrefaa=(Vdd−V1)×{(r12)/(r11+r12+Ron11)}・・・・・・式(7)
と表される。ここで、
R11、r12>>Ron11・・・・・・・・・・・・・・・・・・・式(8)
に設定されているから、
Vrefaa≒(Vdd−V1)×{r12/(r11+r12)}・・・・・・・・・・・式(9)
と表される。
次に、入力電圧Vinが第1の電圧V1を超えたときの動作について説明する。
この領域では、差動対をなすNch MOSトランジスタNMT11はオンし、Nch MOSトランジスタNMT12はオフし、ノードN21は“Low”レベルとなる。Pch MOSトランジスタPMT14は、ゲートが“Low”レベルなのでオンする。Pch MOSトランジスタPMT14のドレイン(ノードNAA)は、“High”レベルとなる。Pch MOSトランジスタPMT13及びPMT16は、ゲートが“High”レベルなのでオフしている。
Pch MOSトランジスタPMT13、PMT16がオフしているので、カレントミラー回路33は動作しない。このため、Pch MOSトランジスタPMT17のゲートが“Low”レベルとなり、Pch MOSトランジスタPMT17がオンする。この結果、ノードN24の出力電圧Voutは“High”レベルとなる。
この領域では、比較増幅部11に入力される基準電圧Vrefbb(ノードN22の電圧)は、
Vrefbb=V1・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・式(10)
と表される。
ここで、第1の実施形態と同様なヒステリシス特性を有すように、
Vrefaa>Vrefbb・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・式(11)
と設定される。より詳しくは、Pch MOSトランジスタPMT13のオン抵抗Ron11、抵抗R11の値r11、抵抗R12の値r12、第1の電圧V1、高電位側電源電圧Vddの値を適切な値に設定する。この設定により、例えば第1の実施形態と同様に閾値を0.1Vまで設定することができる。なお、これ以降は第1の実施形態と同様なので説明を省略する。
上述したように、本実施形態のヒステリシスコンパレータでは、CMOSで回路構成し、出力側をカレントミラー回路33で構成している。カレントミラー回路33と基準電圧発生部31の間にはスイッチとして動作するPch MOSトランジスタPMT16を設けている。
このため、ヒステリシスコンパレータ91の閾値の設定範囲を従来よりも大幅に広げることができる。また、チャタリングの発生を大幅に抑制することができる。
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々、変更してもよい。
実施形態では、ヒステリシスコンパレータをMOSトランジスタで構成しているが、代わりにゲート絶縁膜がシリコン酸化膜と他の絶縁膜からなる複合膜やシリコン酸化膜以外の絶縁膜から構成されるMISトランジスタを使用してもよい。
また、第2の実施形態では、比較増幅部11の非反転出力信号を用いているが、反転出力信号を用いる場合、比較増幅部11以降のトランジスタ構成をPch MOSトランジスタからNch MOSトランジスタNMTに変更するのが好ましい。
以上、幾つかの実施形態について述べたが、これらの実施形態は単に例として示したもので、本発明の範囲を限定することを意図したものではない。実際、ここにおいて述べた新規なヒステリシスコンパレータは、種々の他の形態に具体化されても良いし、更に、本発明の主旨或いはスピリットから逸脱することなく、ここにおいて述べたヒステリシスコンパレータの形態における種々の省略、置き換え及び変更を行ってもよい。付随する請求項及びそれらの均等物は、本発明の範囲及び主旨或いはスプリットに入るようにそのような形態或いは変形を含むことを意図している。
本発明は、以下の付記に記載されているような構成が考えられる。
(付記1) 一端側に第1の電圧が印加され、複数の抵抗を用いて前記第1の電圧を分圧して基準電圧を発生する基準電圧発生部と、高電位側電源と低電位側電源の間に設けられ、差動対をなす第1及び第2のトランジスタを有し、前記第1のトランジスタのゲートに入力電圧が入力され、前記第2のトランジスタのゲートに前記基準電圧が入力される比較増幅部と、前記基準電圧発生部の他端と前記低電位側電源の間に設けられる第3のトランジスタと、一端が前記高電位側電源に接続され、第1の電流を発生して他端側に流す第1の電流源と、前記第1の電流源の他端と前記低電位側電源の間に設けられ、前記比較増幅部の出力信号がゲートに入力される第4のトランジスタと、一端が前記高電位側電源に接続され、第2の電流を発生して他端側に流す第2の電流源と、第1の端子が前記第2の電流源の他端に接続され、ダイオード接続される第5のトランジスタと、前記第5のトランジスタの第2の端子と前記基準電圧発生部の他端の間に設けられ、ゲートが前記第3のトランジスタのゲート及び前記第4のトランジスタの第1の端子に接続され、前記第4のトランジスタの第1の端子の電位に応じて前記第5のトランジスタの第2の端子と前記基準電圧発生部の他端の間を接続する第6のトランジスタと、一端が前記高電位側電源に接続され、前記第2の電流の2倍の第3の電流を発生して他端側に流す第3の電流源と、第1の端子が前記第3の電流源の他端に接続され、ゲートが前記第5のトランジスタのゲートに接続され、前記第5のトランジスタとカレントミラー回路を構成し、出力電圧を出力する第7のトランジスタと、前記第7のトランジスタの第2の端子と前記低電位側電源の間に設けられ、縦続接続され、前記比較増幅部が動作しているときに常にオンしている第8及び第9のトランジスタとを具備するヒステリシスコンパレータ。
(付記2) 一端側に第1の電圧が印加され、複数の抵抗を用いて前記第1の電圧を分圧して基準電圧を発生する基準電圧発生部と、高電位側電源と低電位側電源の間に設けられ、差動対をなす第1及び第2のトランジスタを有し、前記第1のトランジスタのゲートに入力電圧が入力され、前記第2のトランジスタのゲートに前記基準電圧が入力される比較増幅部と、前記高電位側電源と前記基準電圧発生部の他端の間に設けられる第3のトランジスタと、第1の端子が前記高電位側電源に接続され、前記比較増幅部の出力信号がゲートに入力される第4のトランジスタと、一端が前記第4のトランジスタの第2の端子に接続され、他端が前記低電位側電源に接続され、他端側に第1の電流を流す第1の電流源と、第2の端子がゲートに接続され、ダイオード接続される第5のトランジスタと、一端が前記第5のトランジスタの第2の端子に接続され、他端が前記低電位側電源に接続され、第2の電流を発生して他端側に流す第2の電流源と、前記第5のトランジスタの第1の端子と前記基準電圧発生部の他端の間に設けられ、ゲートが前記第3のトランジスタのゲート及び前記第4のトランジスタの第2の端子に接続され、前記第4のトランジスタの第2の端子の電位に応じて前記第5のトランジスタの第1の端子と前記基準電圧発生部の他端の間を接続する第6のトランジスタと、ゲートが前記第5のトランジスタのゲートに接続され、前記第5のトランジスタとカレントミラー回路を構成し、出力電圧を出力する第7のトランジスタと、前記高電位側電源と前記第7のトランジスタの第1の端子の間に設けられ、縦続接続され、前記比較増幅部が動作しているときに常にオンしている第8及び第9のトランジスタと、一端が前記第7のトランジスタの第2の端子に接続され、他端が前記低電位側電源に接続され、前記第2の電流の2倍の第3の電流を発生して他端側に流す第2の電流源とを具備するヒステリシスコンパレータ。
(付記3) 前記第1及び第2のトランジスタは、Pch MOSトランジスタであり、前記比較増幅部の出力信号は非反転出力信号であり、前記第3乃至9のトランジスタは、Pch MOSトランジスタである付記2に記載のヒステリシスコンパレータ。
(付記4) 前記第1及び第2のトランジスタは、Nch MOSトランジスタであり、前記比較増幅部の出力信号は反転出力信号であり、前記第3乃至9のトランジスタは、Pch MOSトランジスタである付記2に記載のヒステリシスコンパレータ。
1〜6、21〜24 電流源
10、11 比較増幅部
21、31 基準電圧発生部
22、23、32、33 カレントミラー回路
90、91、100 ヒステリシスコンパレータ
Ia、Ib 電流
N1〜5、N11〜13、N21〜24、NA、NB、NAA、NBB ノード
NMT1〜9、NMT11、NMT12 Nch MOSトランジスタ
Pin、Pout、Pv1、Pvd、Pvs 端子
PMT1、PMT2、PMT11〜19 Pch MOSトランジスタ
QN1、QN2 NPNトランジスタ
QP1 PNPトランジスタ
R1〜3、R11、R12 抵抗
Vdd 高電位側電源
Vin 入力電圧
Vout 出力電圧
Vref 基準電圧
Vss 低電位側電源(接地電位)

Claims (6)

  1. 一端側に第1の電圧が印加され、複数の抵抗を用いて前記第1の電圧を分圧して基準電圧を発生する基準電圧発生部と、
    高電位側電源と低電位側電源の間に設けられ、差動対をなす第1及び第2のトランジスタを有し、前記第1のトランジスタのゲートに入力電圧が入力され、前記第2のトランジスタのゲートに前記基準電圧が入力される比較増幅部と、
    前記基準電圧発生部の他端と前記低電位側電源の間に設けられる第3のトランジスタと、
    前記高電位側電源と前記低電位側電源の間に設けられ、前記比較増幅部の出力信号がゲートに入力される第4のトランジスタと、
    一端が前記高電位側電源に接続され、第1の電流を発生して他端側に流す第1の電流源と、
    第1の端子が前記第1の電流源の他端に接続され、ダイオード接続される第5のトランジスタと、
    前記第5のトランジスタの第2の端子と前記基準電圧発生部の他端の間に設けられ、ゲートが前記第3のトランジスタのゲート及び前記第4のトランジスタの第1の端子に接続され、前記第4のトランジスタの第1の端子の電位に応じて前記第5のトランジスタの第2の端子と前記基準電圧発生部の他端の間を接続する第6のトランジスタと、
    一端が前記高電位側電源に接続され、前記第1の電流のn倍(ただし、nは2以上)の第2の電流を発生して他端側に流す第2の電流源と、
    第1の端子が前記第2の電流源の他端に接続され、ゲートが前記第5のトランジスタのゲートに接続され、前記第5のトランジスタとカレントミラー回路を構成し、出力電圧を出力する第7のトランジスタと、
    前記第7のトランジスタの第2の端子と前記低電位側電源の間に設けられ、縦続接続され、前記比較増幅部が動作しているときに常にオンしている第8及び第9のトランジスタと、
    を具備することを特徴とするヒステリシスコンパレータ。
  2. 前記第1及び第2のトランジスタは、Pch MOSトランジスタであり、前記比較増幅部の出力信号は非反転出力信号であり、前記第3乃至9のトランジスタは、Nch MOSトランジスタであることを特徴とする請求項1に記載のヒステリシスコンパレータ。
  3. 前記第1及び第2のトランジスタは、Nch MOSトランジスタであり、前記比較増幅部の出力信号は反転出力信号であり、前記第3乃至9のトランジスタは、Nch MOSトランジスタであることを特徴とする請求項1に記載のヒステリシスコンパレータ。
  4. 前記比較増幅部は縦続接続される第1及び第2の抵抗から構成され、第1及び第2の抵抗の間が前記第2のトランジスタのゲートに接続され、前記第1の抵抗の値をR1、前記第2の抵抗の値をR2、前記第1の電圧をV1、ヒステリシスコンパレータのヒステリシス幅をVhysとすると、ヒステリシス幅は、
    Vhys=V1×{R1/(R1+R2)}
    で表されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のヒステリシスコンパレータ。
  5. 一端側に第1の電圧が印加され、複数の抵抗を用いて前記第1の電圧を分圧して基準電圧を発生する基準電圧発生部と、
    高電位側電源と低電位側電源の間に設けられ、差動対をなす第1及び第2のトランジスタを有し、前記第1のトランジスタのゲートに入力電圧が入力され、前記第2のトランジスタのゲートに前記基準電圧が入力される比較増幅部と、
    前記高電位側電源と前記基準電圧発生部の他端の間に設けられる第3のトランジスタと、
    前記高電位側電源と前記低電位側電源の間に設けられ、前記比較増幅部の出力信号がゲートに入力される第4のトランジスタと、
    第2の端子がゲートに接続され、ダイオード接続される第5のトランジスタと、
    一端が前記第5のトランジスタの第2の端子に接続され、他端が前記低電位側電源に接続され、第1の電流を発生して他端側に流す第1の電流源と、
    前記第5のトランジスタの第1の端子と前記基準電圧発生部の他端の間に設けられ、ゲートが前記第3のトランジスタのゲート及び前記第4のトランジスタの第2の端子に接続され、前記第4のトランジスタの第2の端子の電位に応じて前記第5のトランジスタの第1の端子と前記基準電圧発生部の他端の間を接続する第6のトランジスタと、
    ゲートが前記第5のトランジスタのゲートに接続され、前記第5のトランジスタとカレントミラー回路を構成し、出力電圧を出力する第7のトランジスタと、
    前記高電位側電源と前記第7のトランジスタの第1の端子の間に設けられ、縦続接続され、前記比較増幅部が動作しているときに常にオンしている第8及び第9のトランジスタと、
    一端が前記第7のトランジスタの第2の端子に接続され、他端が前記低電位側電源に接続され、前記第1の電流のn倍(ただし、nは2以上)の第2の電流を発生して他端側に流す第2の電流源と、
    を具備することを特徴とするヒステリシスコンパレータ。
  6. 前記比較増幅部の出力信号のレベルが変化し、ヒステリシス動作により前記基準電圧が変化した後、前記出力信号のレベルが変化することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載のヒステリシスコンパレータ。
JP2010188952A 2010-08-26 2010-08-26 ヒステリシスコンパレータ Expired - Fee Related JP5197691B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010188952A JP5197691B2 (ja) 2010-08-26 2010-08-26 ヒステリシスコンパレータ
US13/048,222 US8368429B2 (en) 2010-08-26 2011-03-15 Hysteresis comparator
CN201110067034.9A CN102386895B (zh) 2010-08-26 2011-03-18 磁滞比较器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010188952A JP5197691B2 (ja) 2010-08-26 2010-08-26 ヒステリシスコンパレータ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012049750A JP2012049750A (ja) 2012-03-08
JP5197691B2 true JP5197691B2 (ja) 2013-05-15

Family

ID=45696316

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010188952A Expired - Fee Related JP5197691B2 (ja) 2010-08-26 2010-08-26 ヒステリシスコンパレータ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8368429B2 (ja)
JP (1) JP5197691B2 (ja)
CN (1) CN102386895B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10084374B1 (en) 2017-03-23 2018-09-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5535608B2 (ja) * 2009-12-21 2014-07-02 ラピスセミコンダクタ株式会社 電圧変化検知装置
CN103412180B (zh) * 2013-06-28 2015-08-12 广东电网有限责任公司电力科学研究院 一种过流检测电路
CN105630054B (zh) * 2014-11-04 2017-06-06 上海华虹宏力半导体制造有限公司 迟滞电压比较器
CN105743466B (zh) * 2016-02-01 2018-08-21 厦门新页微电子技术有限公司 一种应用于无线充电控制芯片的可调磁滞比较器
JP6498649B2 (ja) * 2016-10-17 2019-04-10 株式会社東海理化電機製作所 レベルシフタ
US10447269B1 (en) * 2019-05-08 2019-10-15 Nxp B.V. Level shifter
US10742215B1 (en) 2019-05-20 2020-08-11 Nxp B.V. Circuit to support multiple voltage level input/output
CN111812388B (zh) * 2020-06-19 2021-08-31 华中科技大学 一种固定电压差检测电路

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55144437U (ja) * 1979-04-05 1980-10-16
JPH0736506B2 (ja) * 1987-04-22 1995-04-19 日本電気株式会社 電圧比較器
JPH0236225U (ja) * 1988-08-31 1990-03-08
JPH03199978A (ja) * 1989-12-27 1991-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電圧比較装置
JP3183187B2 (ja) * 1996-09-03 2001-07-03 トヨタ自動車株式会社 ヒステリシスコンパレータ
JP3297361B2 (ja) 1997-10-31 2002-07-02 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 ヒステリシスを有する半導体集積回路
JP3736447B2 (ja) * 2001-12-11 2006-01-18 株式会社デンソー ヒステリシス付コンパレータ
WO2004049562A1 (ja) * 2002-11-26 2004-06-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 駆動回路
JP2005136839A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Yamatake Corp ヒステリシスコンパレータ
US7106107B2 (en) * 2005-01-31 2006-09-12 Agere Systems Inc. Reliability comparator with hysteresis
JP4896419B2 (ja) * 2005-03-23 2012-03-14 株式会社デンソー コンパレータ
JP4181587B2 (ja) * 2005-08-02 2008-11-19 三星電機株式会社 ヒステリシス特性を有する電圧比較回路
CN100574101C (zh) * 2006-11-24 2009-12-23 华中科技大学 一种迟滞比较器
JP4475309B2 (ja) * 2007-09-19 2010-06-09 ヤマハ株式会社 コンパレータ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10084374B1 (en) 2017-03-23 2018-09-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012049750A (ja) 2012-03-08
US8368429B2 (en) 2013-02-05
CN102386895B (zh) 2014-07-02
CN102386895A (zh) 2012-03-21
US20120049892A1 (en) 2012-03-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5197691B2 (ja) ヒステリシスコンパレータ
JP2009098802A (ja) 基準電圧発生回路
WO2010103931A1 (ja) パワーオンリセット回路
JP4920219B2 (ja) 演算増幅器
JP2010166184A (ja) 電源電圧監視回路、および該電源電圧監視回路を備える電子回路
JP2019527981A (ja) 選択可能な電流リミッタ回路
WO2018055666A1 (ja) インターフェース回路
US8207778B2 (en) Physical quantity sensor
JP2017079431A (ja) 電圧比較回路
JP2010193035A (ja) コンパレータ回路
US8957708B2 (en) Output buffer and semiconductor device
JP6476049B2 (ja) 温度センサ回路
JP2004032689A (ja) 電流センス増幅器
JP2017184122A (ja) 差動増幅器
JP2016167703A (ja) トランスインピーダンス回路
JP5974998B2 (ja) 演算増幅器
JP2012251917A (ja) 温度検出回路
JP2008005144A (ja) 増幅回路
US20150171808A1 (en) Small signal amplifier circuit
TWI739489B (zh) 輸入接收器
US11936354B2 (en) Amplifier circuit
JP4445916B2 (ja) バンドギャップ回路
JP2012156826A (ja) コンパレータ
JP2010219486A (ja) 中間電位発生回路
JP2024043402A (ja) コンパレータ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120810

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120820

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121210

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130108

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130205

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160215

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160215

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees