JP5143506B2 - エッジ検出装置 - Google Patents
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Description
図1は本発明の一実施形態に係るエッジ検出装置の概略構成図である。このエッジ検出装置は、前述した特許文献1,2等に示されるように複数の受光セルを所定のピッチで配列したラインセンサ1と、このラインセンサ1に向けて、例えば単色平行光を投光する光源2と、上記単色平行光の光路中におかれた物体によって変化する上記ラインセンサ1の出力から前記物体のエッジ位置を検出する演算部3とを備えて構成される。
前記[遅延時間前の位置]は、前述した如く設定される遅延時間前に計測したエッジ位置と現在計測したエッジ位置との差をエッジ位置の変化量として検出する為のパラメータである。この[遅延時間前の位置]は、例えば帯状ワークWとして透明フィルムのエッジ位置を検出する場合、エッジ位置の急激な変化に起因して誤検出されるエッジ位置を読み飛ばす(スキップする)際に用いられる。
2 光源
3 エッジ位置検出手段
4 演算器(CPU)
5 読み飛ばし制御手段
6 メモリ
Claims (4)
- 物体のエッジ位置を検出するエッジセンサと、
このエッジセンサにて検出されたエッジ位置が予め設定された読み飛ばし条件を満たすとき、先に検出されたエッジ位置の情報を継続して出力する出力制御手段と、を備え、
前記出力制御手段は、エッジ位置の検出時点から検出したエッジ位置の情報を出力する時点までの遅延時間を指定する「遅延時間」、読み飛ばしの対象とするエッジ位置の変化の向きを指定する「形状」、読み飛ばしの判断基準となる位置を指定する「基準位置」、読み飛ばしの対象とするエッジ位置の前記基準位置からの変化幅を指定する「サイズ」、および読み飛ばしの解除条件を指定する「解除条件」をそれぞれ特定するパラメータで読み飛ばし条件が設定され、これらのパラメータの入力機能を含む、ことを特徴とするエッジ検出装置。 - 前記エッジセンサは、一定の周期で物体のエッジ位置を検出するものであって、前記出力制御手段は、予め指定された基準位置と前記エッジセンサにて検出されたエッジ位置との差、またはエッジ位置の変化量から前記読み飛ばし条件の成立性を判定するものである請求項1に記載のエッジ検出装置。
- 前記基準位置は、前記遅延時間前に求められたエッジ位置、読み飛ばし前に求められたエッジ位置、およびセンタ位置の1つとして選択設定されるものである請求項1に記載のエッジ検出装置。
- 前記解除条件は、オフディレータイマにより計時される設定時間の経過時、または検出されたエッジ位置の所定位置への復帰時、または外部入力による解除支持を受けたときとして選択設定されるものである請求項1に記載のエッジ検出装置。
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Applications Claiming Priority (1)
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JP2007227506A JP5143506B2 (ja) | 2007-09-03 | 2007-09-03 | エッジ検出装置 |
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