JP5135269B2 - Solar cell and manufacturing method thereof - Google Patents

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Description

本発明は、伝播光と非伝播光を利用し、高い光電変換効率を有する太陽電池、及びその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a solar cell having high photoelectric conversion efficiency using propagating light and non-propagating light, and a method for manufacturing the solar cell.

従来、太陽電池の光電変換効率を向上させる方法として、素子の光入射面における光入射損失を抑えることが検討されている。具体的には、電極として、ミクロンオーダーでパターン化された櫛形の金属電極や導電性透明酸化物薄膜電極を用い、さらに必要に応じて光電変換層表面を粗面化することで、光入射面における入射光の反射を抑える方法などが考えられている。これらの方法は、全て、光電変換に用いられるエネルギーを伝播光(Far−filed光)のみから得て、その光電変換効率を向上させることを目的とする方法である(例えば、特許文献1および2)。しかし、そのような光電変換効率の向上方法も、伝播光のみをエネルギー源としている以上、自ずと限界があった。   Conventionally, as a method for improving the photoelectric conversion efficiency of a solar cell, it has been studied to suppress the light incident loss on the light incident surface of the element. Specifically, a comb-shaped metal electrode or a conductive transparent oxide thin film electrode patterned on the order of microns is used as the electrode, and the surface of the photoelectric conversion layer is roughened as necessary, so that the light incident surface A method of suppressing the reflection of incident light at is considered. All of these methods are methods for obtaining energy used for photoelectric conversion only from propagating light (Far-filled light) and improving the photoelectric conversion efficiency (for example, Patent Documents 1 and 2). ). However, such a method for improving the photoelectric conversion efficiency is naturally limited as long as only propagation light is used as an energy source.

特開平8−37318号公報JP-A-8-37318 特開平8−191152号公報JP-A-8-191152 登録第4077312号Registration No. 4077312

本発明はこのような問題を考慮してなされたもので、伝播光だけではなく、従来光電変換に利用されていなかった非伝播光を利用して、光電変換効率の高い太陽電池及びその製造方法を提供するものである。   The present invention has been made in consideration of such problems, and uses not only propagating light but also non-propagating light that has not been conventionally used for photoelectric conversion, and a solar cell having high photoelectric conversion efficiency and a method for manufacturing the solar cell. Is to provide.

本発明の一実施態様による太陽電池は、少なくともp型半導体とn型半導体を含む光電変換層と、光入射面側電極層と、光入射面側電極とは反対側の面に形成された対向電極層と、を具備し、前記光入射面側電極層が前記層を貫通する複数の開口部を有し、かつ、その層厚が10nm以上200nm以下の範囲にあり、前記開口部の1つあたりの面積が80nm以上0.8μm以下の範囲にあり、前記光入射面側電極の総面積に対する前記開口部の総面積の割合である開口率が10%以上66%以下の範囲にあり、前記光電変換層の、前記開口部の直下部分に凹部が形成されていることを特徴とするものである。 A solar cell according to an embodiment of the present invention includes a photoelectric conversion layer including at least a p-type semiconductor and an n-type semiconductor, a light incident surface side electrode layer, and a counter electrode formed on a surface opposite to the light incident surface side electrode. An electrode layer, the light incident surface side electrode layer has a plurality of openings penetrating the layer, and the layer thickness is in the range of 10 nm to 200 nm, and one of the openings The aperture area is in the range of 80 nm 2 to 0.8 μm 2 , and the aperture ratio, which is the ratio of the total area of the opening to the total area of the light incident surface side electrode, is in the range of 10% to 66% In the photoelectric conversion layer, a recess is formed in a portion immediately below the opening.

また、本発明の一実施態様による、前記の太陽電池の製造方法は、光電変換層を形成させる工程と、前記光電変換層の光入射面側に光入射面側電極層を形成させる工程と、前記光電変換層の光入射面と反対側面に対向電極層を形成させる工程と、を含み、前記光入射面側電極層を形成させる工程が、金属薄膜層を形成させる工程と、形成させようとする光入射面側電極の形状に対応した微細凹凸パターンを表面に有するスタンパーを準備する工程と、前記金属薄膜層の少なくとも一部に前記スタンパーを利用してレジストパターンを転写する工程と、前記レジストパターンをエッチングマスクとして前記金属薄膜層に開口部を形成させ、さらに前記光電変換層に凹部を形成させる工程と、を含むことを特徴とするものである。   Moreover, the manufacturing method of the solar cell according to one embodiment of the present invention includes a step of forming a photoelectric conversion layer, a step of forming a light incident surface side electrode layer on the light incident surface side of the photoelectric conversion layer, and Forming a counter electrode layer on a side opposite to the light incident surface of the photoelectric conversion layer, and forming the light incident surface side electrode layer, forming a metal thin film layer, A step of preparing a stamper having a fine concavo-convex pattern corresponding to the shape of the light incident surface side electrode on the surface, a step of transferring a resist pattern to the at least part of the metal thin film layer using the stamper, and the resist Forming an opening in the metal thin film layer using a pattern as an etching mask, and further forming a recess in the photoelectric conversion layer.

また、本発明の別の一実施態様による、前記の太陽電池の製造方法は、光電変換層を形成させる工程と、前記光電変換層の光入射面側に光入射面側電極層を形成させる工程と、前記光電変換層の光入射面と反対側面に対向電極層を形成させる工程と、を含み、前記光入射面側電極層を形成させる工程が、金属薄膜層を形成させる工程と、前記金属薄膜層の少なくとも一部の表面にブロックコポリマーを含む組成物を塗布してブロックコポリマー膜を形成させる工程と、前記ブロックコポリマーの相分離を起こさせることでドット状のミクロドメインを生成させる工程と、前記ミクロドメインのパターンをエッチングマスクとして前記金属薄膜をエッチングして開口部を有する光入射面側電極層を形成させ、さらに前記光電変換層に凹部を形成させる工程と、を含むことを特徴とするものである。   Moreover, the manufacturing method of the said solar cell by another one embodiment of this invention is the process of forming a photoelectric conversion layer, and the process of forming a light-incidence surface side electrode layer in the light-incidence surface side of the said photoelectric conversion layer. And a step of forming a counter electrode layer on the side opposite to the light incident surface of the photoelectric conversion layer, the step of forming the light incident surface side electrode layer forming a metal thin film layer, and the metal Applying a composition containing a block copolymer to at least a part of the surface of the thin film layer to form a block copolymer film; generating a dot-like microdomain by causing phase separation of the block copolymer; and The metal thin film is etched using the microdomain pattern as an etching mask to form a light incident surface side electrode layer having an opening, and a recess is formed in the photoelectric conversion layer. A step of, is characterized in that comprises a.

また、本発明のさらに別の一実施態様による、前記の太陽電池の製造方法は、光電変換層を形成する工程と、前記光電変換層の光入射面側に光入射面側電極層を形成させる工程と、前記光電変換層の光入射面と反対側面に対向電極層を形成させる工程と、を含み、前記光入射面側電極層を形成させる工程が、前記金属薄膜層の少なくとも一部にレジスト組成物を塗布してレジスト層を形成させる工程と、前記レジスト層の表面に微粒子の単粒子層を形成させる工程と、前記単粒子層をエッチングマスクとして前記レジスト層をエッチングしてレジストパターンを形成させる工程と、前記レジストパターンの開口部に無機物質を充填して逆パターンマスクを形成させる工程と、前記逆パターンマスクをエッチングマスクとして前記金属薄膜層に開口部を形成させ、さらに前記光電変換層に凹部を形成させる工程と、を含むことを特徴とするものである。   According to still another embodiment of the present invention, the method for manufacturing a solar cell includes a step of forming a photoelectric conversion layer, and a light incident surface side electrode layer is formed on the light incident surface side of the photoelectric conversion layer. And a step of forming a counter electrode layer on the side surface opposite to the light incident surface of the photoelectric conversion layer, wherein the step of forming the light incident surface side electrode layer is a resist on at least a part of the metal thin film layer. A step of forming a resist layer by applying a composition; a step of forming a single particle layer of fine particles on the surface of the resist layer; and forming a resist pattern by etching the resist layer using the single particle layer as an etching mask Forming a reverse pattern mask by filling an opening of the resist pattern with an inorganic substance, and using the reverse pattern mask as an etching mask on the metal thin film layer. To form a mouth portion, and is characterized in further comprising a, a step of forming recesses in the photoelectric conversion layer.

本発明による太陽電池では、光電変換に利用する光として、伝播光(Far−filed光)だけでなく、近接場光(Near−filed光)も利用することによって、光電変換効率が改良される。さらには本発明による太陽電池は、光入射面にナノサイズの凹凸が形成されていることによって、表面の反射が防止されて、さらに光電変換効率が改良される。   In the solar cell according to the present invention, photoelectric conversion efficiency is improved by using not only propagating light (Far-filled light) but also near-field light (Near-filled light) as light used for photoelectric conversion. Furthermore, in the solar cell according to the present invention, since the nano-sized irregularities are formed on the light incident surface, the reflection of the surface is prevented and the photoelectric conversion efficiency is further improved.

本発明の一実施形態に係わる太陽電池の斜視図。The perspective view of the solar cell concerning one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係わる太陽電池の断面図。1 is a cross-sectional view of a solar cell according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施態様である太陽電池の動作原理を説明するための概念図。The conceptual diagram for demonstrating the operation | movement principle of the solar cell which is one embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係わる太陽電池の凹部の断面構造を示す図。The figure which shows the cross-section of the recessed part of the solar cell concerning embodiment of this invention. 本発明の一実施態様による太陽電池の製造方法を説明するための概念図。The conceptual diagram for demonstrating the manufacturing method of the solar cell by one embodiment of this invention. 本発明の一実施態様による太陽電池の製造方法を説明するための概念図。The conceptual diagram for demonstrating the manufacturing method of the solar cell by one embodiment of this invention. 本発明の一実施態様による太陽電池の製造方法を説明するための概念図。The conceptual diagram for demonstrating the manufacturing method of the solar cell by one embodiment of this invention. 実施例1の太陽電池の製造方法を説明するための概念図。The conceptual diagram for demonstrating the manufacturing method of the solar cell of Example 1. FIG.

以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.

最初に、本発明の原理について詳細に説明する。図1は、本発明の一実施態様による太陽電池の構造を示すものである。ここで、太陽電池は光入射面側電極101と対向電極102との間に光電変換層103が挟まれた構造を有している。このような用途に用いることができる光電変換層は種々のものが知られており、それらから任意のものを選択することができる、例えば、pn接合型、pin型などの光電変換層を用いることができる。ここで、本発明の一実施態様による太陽電池は、光入射面に設けられた光入射面側電極101が、金属薄膜に開口部104を有するメッシュ構造を有することを特徴のひとつとしている。   First, the principle of the present invention will be described in detail. FIG. 1 shows the structure of a solar cell according to an embodiment of the present invention. Here, the solar cell has a structure in which the photoelectric conversion layer 103 is sandwiched between the light incident surface side electrode 101 and the counter electrode 102. Various photoelectric conversion layers that can be used for such applications are known, and any of them can be selected, for example, a pn junction type, pin type, or other photoelectric conversion layer is used. Can do. Here, the solar cell according to one embodiment of the present invention is characterized in that the light incident surface side electrode 101 provided on the light incident surface has a mesh structure having an opening 104 in a metal thin film.

図2は、図1に示されるような、本発明の一実施態様による太陽電池の垂直方向の断面図である。本発明による太陽電池は、光電変換層の開口部104直下部分に凹部201を有することを特徴の一つとしている。この構造は、後述するように光反射防止に寄与する。   FIG. 2 is a vertical cross-sectional view of a solar cell according to an embodiment of the present invention as shown in FIG. One feature of the solar cell according to the present invention is that it has a recess 201 in a portion immediately below the opening 104 of the photoelectric conversion layer. This structure contributes to light reflection prevention as will be described later.

ここで、光入射面側電極101は金属からなるものであるため、図2に示すように、光電変換層が金属部分で被覆された部分では光が反射して透過せず、開口部のみで光が透過し、光が光電変換層に伝播するのが一般的である。すなわち、電極全体の面積に対する開口部の面積の割合に応じた光が光電変換層に伝播する。そして、この伝播した光の量に応じて電流が発生することが一般的に推定できる。   Here, since the light incident surface side electrode 101 is made of metal, as shown in FIG. 2, light is reflected and does not pass through the portion where the photoelectric conversion layer is covered with the metal portion, but only at the opening. In general, light is transmitted and light propagates to the photoelectric conversion layer. That is, light according to the ratio of the area of the opening to the area of the entire electrode propagates to the photoelectric conversion layer. It can be generally estimated that a current is generated in accordance with the amount of propagated light.

しかしながら、驚くべきことに、光入射面側電極の構造を特定のものにすることで、光電変換層に伝播した光の量に応じた電流よりも、より多くの電流を発生させることができることを本発明者らは見出した。   However, surprisingly, by making the structure of the light incident surface side electrode specific, it is possible to generate more current than the current according to the amount of light propagated to the photoelectric conversion layer. The inventors have found.

この現象は、以下のようなメカニズムによるものと考えられる。まず、すでに公知の事象として、微細開口を有する金属薄膜に光を照射した場合、その微細開口の直径が入射光の波長程度であると、表面プラズモンの励起が起こることが知られている。図3はこの様子を示す概念図である。すなわち、金属薄膜の受光面に光が照射されると、自由電子が水平方向に振動する。この自由電子の振動を金属薄膜の厚さ方向で比較すると、受光面に近いほど振動しやすい。このため、金属薄膜端部の上面側301に自由電子が局在しやすくなり、金属薄膜の端部に厚さ方向の電場302が発生する。その結果、この電場が光電変換層にまで浸透して、金属薄膜端部、すなわち開口部外縁部の直下部303の電場が増強される。   This phenomenon is thought to be due to the following mechanism. First, as a well-known event, it is known that when a metal thin film having a fine aperture is irradiated with light, surface plasmon excitation occurs when the diameter of the fine aperture is about the wavelength of incident light. FIG. 3 is a conceptual diagram showing this state. That is, when light is irradiated on the light receiving surface of the metal thin film, free electrons vibrate in the horizontal direction. When this free electron vibration is compared in the thickness direction of the metal thin film, the closer to the light receiving surface, the easier it is to vibrate. For this reason, free electrons are likely to be localized on the upper surface side 301 of the metal thin film end, and an electric field 302 in the thickness direction is generated at the end of the metal thin film. As a result, this electric field penetrates to the photoelectric conversion layer, and the electric field at the end portion of the metal thin film, that is, immediately below the outer edge of the opening 303 is enhanced.

すなわち、本発明の一実施態様による太陽電池は、メッシュ金属電極を光入射面側電極として用いることにより、金属電極の開口部を透過した光による光電変換に加え、金属電極の微細開口部末端部近傍の電場が増強されて、pn接合のキャリアが大量に励起されることによって光電変換が起こり、太陽電池の発電効率が向上していると考えられる。言い換えると、本発明の一実施態様によれば、光入射面側電極の金属部に照射されて光電変換層まで伝播しない光、すなわち近接場光によっても光電変換が行われるということができる。   That is, in the solar cell according to one embodiment of the present invention, the mesh metal electrode is used as the light incident surface side electrode, so that in addition to photoelectric conversion by the light transmitted through the opening of the metal electrode, the end portion of the fine opening of the metal electrode It is considered that the electric field in the vicinity is enhanced and a large amount of carriers in the pn junction are excited, so that photoelectric conversion occurs and the power generation efficiency of the solar cell is improved. In other words, according to one embodiment of the present invention, it can be said that photoelectric conversion is also performed by light that is irradiated on the metal portion of the light incident surface side electrode and does not propagate to the photoelectric conversion layer, that is, near-field light.

このような近接場光を光電変換に利用するためには、電極層が特定の構造を有することが必要である。まず、本発明で提案する光入射面側電極は開口部間に存在する金属の最小部分の距離の平均値が10nm以上200nm以下であることが好ましく、10nm以上100nm以下であることがより好ましい。開口部の間の距離の平均値が200nmより大きい範囲では、双極子同士は相互作用をもたないため電場の強さは一定値となって電場増強効果が得られにくく、また、電極としての十分な導電性を得るという観点から開口部の間の距離は10nm以上であることが好ましいからである。   In order to use such near-field light for photoelectric conversion, it is necessary that the electrode layer has a specific structure. First, in the light incident surface side electrode proposed in the present invention, the average value of the distances between the minimum portions of the metals existing between the openings is preferably 10 nm or more and 200 nm or less, and more preferably 10 nm or more and 100 nm or less. In the range where the average distance between the openings is larger than 200 nm, the dipoles do not interact with each other, so that the electric field strength becomes a constant value and it is difficult to obtain the electric field enhancement effect. This is because the distance between the openings is preferably 10 nm or more from the viewpoint of obtaining sufficient conductivity.

また、光入射面側電極は、より多くの光を透過させるためには開口部の面積が多いほうが有利であるが、一方で光入射面側電極として導電性を高く維持するために、開口部の面積が少ない方が有利である。このような観点から、光入射面側電極層の総面積を基準とした開口部の総面積の割合、すなわち、開口率が10%以上66%以下の範囲にある必要があり、22%以上66%以下であることが好ましい。   In addition, the light incident surface side electrode is advantageous in that it has a larger opening area in order to transmit more light. On the other hand, as the light incident surface side electrode, in order to maintain high conductivity, the opening portion It is advantageous to have a smaller area. From such a point of view, the ratio of the total area of the opening with respect to the total area of the light incident surface side electrode layer, that is, the aperture ratio needs to be in the range of 10% to 66%, and 22% to 66 % Or less is preferable.

開口部間の距離が上記した範囲である場合、単位面積あたりの電場をより強くするために、端部の長さ、言い換えれば開口部外縁部の長さが長い構造の電極が好ましい。具体的には、開口部の形状が円形であり、かつその開口部が周期的に配置され、かつ開口部の直径が同じ場合には、開口部の間の距離が短いほうが開口部の数が多く、開口部外縁部の長さの合計も長くなり、電場増強効果が強い。一方、開口部の形状が円形であり、かつその開口部が周期的に配置され、かつ開口部の間の距離が同じ場合には、開口部の直径が小さいほうが単位面積当たりの開口部の数が多くなり、開口部外縁部の長さの合計も長くなり、電場増強効果が強いと言える。   When the distance between the openings is in the above-described range, an electrode having a structure in which the length of the end, in other words, the length of the outer edge of the opening is long, is preferable in order to increase the electric field per unit area. Specifically, when the shape of the openings is circular and the openings are periodically arranged and the diameters of the openings are the same, the shorter the distance between the openings, the smaller the number of openings. In many cases, the total length of the outer edge of the opening becomes longer, and the electric field enhancing effect is strong. On the other hand, when the shape of the opening is circular, the openings are periodically arranged, and the distance between the openings is the same, the smaller the diameter of the openings, the number of openings per unit area And the total length of the outer edge of the opening becomes longer, and it can be said that the electric field enhancing effect is strong.

ただし、開口部の配列は必ずしも周期的である必要は無く、周期開口、擬周期開口、ランダム開口など、いずれの配置であっても本発明の効果は得られる。故に、本発明は開口部の配列の周期性を限定するものではない。また、開口部の形状も円形に限られない。むしろ、開口部面積が同じであっても、円形よりも星型やC字型などの形状であるほうが開口部の外縁部の長さが長くなるので、電場増強効果の点からは有利である。一方、開口部の形状が円形である場合には、電極の製造が容易になるという利点もある。   However, the arrangement of the openings is not necessarily periodic, and the effects of the present invention can be obtained with any arrangement such as periodic openings, pseudo-periodic openings, and random openings. Therefore, the present invention does not limit the periodicity of the arrangement of the openings. The shape of the opening is not limited to a circle. Rather, even if the area of the opening is the same, the shape of a star shape or C-shape is more advantageous than the circular shape because the length of the outer edge of the opening is longer, which is advantageous in terms of the electric field enhancement effect. . On the other hand, when the shape of the opening is circular, there is an advantage that the manufacture of the electrode becomes easy.

上記した通り、電場増強効果は開口部の間の距離や、開口部の形状に依存するが、Finite Diffrence Time Domain法(FTDT法)によるシミュレーションの結果、開口部1つあたりの面積が80nm以上0.8μm以下の範囲にあることが必要であり、1000nm以上 0.03μm以下の範囲にあることが好ましい。また、開口部の形状が円形である場合、開口径(開口部の直径)は10nm以上1000nm以下が好ましく、40nm以上200nm以下であることがより好ましい。 As described above, the electric field enhancement effect depends on the distance between the openings and the shape of the openings. However, as a result of the simulation by the Finite Difference Time Domain method (FTDT method), the area per opening is 80 nm 2 or more. It is necessary to be in the range of 0.8 μm 2 or less, and it is preferable to be in the range of 1000 nm 2 or more and 0.03 μm 2 or less. In the case where the shape of the opening is circular, the opening diameter (diameter of the opening) is preferably 10 nm to 1000 nm, and more preferably 40 nm to 200 nm.

また、光入射面側電極の膜厚は、10nm〜200nmの間である必要がある。膜厚が10nmより小さいと、金属膜の抵抗率が高く、十分な導電性が確保できないために変換効率が低下するため好ましくない。一方、膜厚が200nmより大きいと、電場増強効果が光電変換層に十分及ばず、光電変換効率改良の効果が得られないことがあるので好ましくない。   Further, the film thickness of the light incident surface side electrode needs to be between 10 nm and 200 nm. When the film thickness is smaller than 10 nm, the resistivity of the metal film is high, and sufficient conductivity cannot be secured, so that the conversion efficiency is lowered, which is not preferable. On the other hand, if the film thickness is larger than 200 nm, the electric field enhancement effect does not sufficiently reach the photoelectric conversion layer, and the effect of improving the photoelectric conversion efficiency may not be obtained.

上記したような光入射面側電極の構造によって、光入射面側電極の端部(開口部の外縁部)の電場が増強されるが、その電場増強効果が空乏層に及ぶことによって光電変換効率の改良が達成される。このため、光吸収層と光入射面側電極との距離が短いことが必要である。具体的には、空乏層の少なくとも一部が、光入射面側電極と光電変換層との接触面から1μm以内の距離に配置されていることが好ましく、500nm以内の距離であることがより好ましい。ここで、空乏層とは光によって励起されて電荷分離により電子とホールが生成する領域である。この空乏層は、pn接合型光電変換層においてはpn接合界面の近傍、pin接合型光電変換層においてはi層を中心にp層およびn層に及ぶ領域に存在する。   The structure of the light incident surface side electrode as described above enhances the electric field at the end of the light incident surface side electrode (the outer edge of the opening), but the electric field enhancement effect extends to the depletion layer, resulting in photoelectric conversion efficiency. Improvement is achieved. For this reason, the distance between the light absorption layer and the light incident surface side electrode needs to be short. Specifically, at least a part of the depletion layer is preferably disposed at a distance within 1 μm from the contact surface between the light incident surface side electrode and the photoelectric conversion layer, and more preferably at a distance within 500 nm. . Here, the depletion layer is a region where electrons and holes are generated by charge separation when excited by light. This depletion layer exists in the vicinity of the pn junction interface in the pn junction type photoelectric conversion layer, and in the region extending from the i layer to the p layer and the n layer in the pin junction type photoelectric conversion layer.

さらに、本発明の一実施態様による太陽電池は、光電変換層に凹部を有する。この凹部は、前記した光入射面側電極に設けられた開口部の直下に形成されている。その形状は特に限定されないが、例えば図4に示されるような断面構造を有することができる。まず、凹部を形成させる場合、比較的簡単に形成させることができるので、図4(a)のような柱状構造とすることが好ましい。このとき、開口部の形状が円状である場合には、この凹部は柱状構造となる。一方、この凹部を含んだ光入射面の凹凸構造が反射防止に寄与するため、反射防止効果が高くなるような構造を有する凹部も好ましい。このような観点からは、光入射面に平行な方向で屈折率に勾配を持たせるために、凹部の内側面が斜面を有することが好ましい。このため、凹部の形状は、図4(b)または(c)に示されるような、逆錐状、または逆錐台状であることが好ましい。この場合にも、開口部が円状であると、逆円錐状または逆円錐台状となる。   Furthermore, the solar cell by one embodiment of this invention has a recessed part in a photoelectric converting layer. The recess is formed immediately below the opening provided in the light incident surface side electrode. Although the shape is not particularly limited, for example, it can have a cross-sectional structure as shown in FIG. First, in the case of forming the concave portion, it can be formed relatively easily. Therefore, it is preferable to have a columnar structure as shown in FIG. At this time, when the shape of the opening is circular, the recess has a columnar structure. On the other hand, since the concavo-convex structure of the light incident surface including the concave portion contributes to the antireflection, a concave portion having a structure that enhances the antireflection effect is also preferable. From such a viewpoint, it is preferable that the inner surface of the recess has an inclined surface in order to give a gradient to the refractive index in a direction parallel to the light incident surface. For this reason, it is preferable that the shape of a recessed part is an inverted cone shape or an inverted frustum shape as shown in FIG.4 (b) or (c). Also in this case, if the opening is circular, it has an inverted cone shape or an inverted truncated cone shape.

また、反射防止効果をより強く発現させるために、凹部の深さを入射光の波長以下とあることが好ましい。ここで、太陽電池に照射する光の波長が限定されていない場合、例えば太陽光などを照射する場合には、光の波長範囲は広くなる。このような場合には、光電変換層において光電変換率が高い波長、言い換えると、光電変換層の分光感度特性を基準として凹部の深さを決定することが好ましい。より一般的には、800nm以下、好ましくは500nm以下である。   Moreover, in order to express the antireflection effect more strongly, it is preferable that the depth of the recess is equal to or less than the wavelength of the incident light. Here, when the wavelength of the light irradiated to the solar cell is not limited, for example, when irradiating sunlight etc., the wavelength range of light becomes wide. In such a case, it is preferable to determine the depth of the recess with reference to the wavelength having a high photoelectric conversion rate in the photoelectric conversion layer, in other words, the spectral sensitivity characteristic of the photoelectric conversion layer. More generally, it is 800 nm or less, preferably 500 nm or less.

以上、本発明の一実施態様による太陽電池の構造を、形状の観点から説明したが、このような構造を構成する材料は、従来知られている任意のものから選択して用いることができる。   The structure of the solar cell according to one embodiment of the present invention has been described above from the viewpoint of shape. However, the material constituting such a structure can be selected from any conventionally known materials.

本発明において光入射面側電極を構成する金属は、任意に選択される。ここで金属とは、単体で導体であり、金属光沢を有し、延性があり、常温では固体である金属元素からなるもの、およびそれらからなる合金をいう。一実施形態では、金属電極を構成する素材のプラズマ周波数は、入射光の周波数より高いことが好ましい。また、用いようとする光の波長領域において光の吸収が少ないことが望ましい。このような材料として、具体的にはアルミニウム、銀、金、白金、ニッケル、コバルト、クロム、銅、およびチタンなどが上げられ、このうちアルミニウム、銀、白金、ニッケル、またはコバルトが好ましい。しかしながら、前記入射光の周波数より高いプラズマ周波数を有する金属であれば、これらの限りではない。また、金属薄膜の形態としては、上記金属種の単層膜に限らす、複数の上記金属種からなる多層膜であっても本発明の効果を得ることができる。本発明においては、インジウムのようなレアメタルを用いる必要が無く、典型的な金属材料を用いることが可能である。   In the present invention, the metal constituting the light incident surface side electrode is arbitrarily selected. Here, the metal refers to a metal element that is a single conductor, has a metallic luster, is ductile, and is solid at room temperature, and an alloy made thereof. In one embodiment, the plasma frequency of the material constituting the metal electrode is preferably higher than the frequency of incident light. Further, it is desirable that light absorption is small in the wavelength region of light to be used. Specific examples of such a material include aluminum, silver, gold, platinum, nickel, cobalt, chromium, copper, and titanium. Of these, aluminum, silver, platinum, nickel, and cobalt are preferable. However, these are not limited as long as the metal has a plasma frequency higher than the frequency of the incident light. The form of the metal thin film is not limited to a single layer film of the above metal species, and the effect of the present invention can be obtained even with a multilayer film composed of a plurality of the above metal species. In the present invention, it is not necessary to use a rare metal such as indium, and a typical metal material can be used.

光電変換層は、p型半導体とn型半導体から構成されるものが現在最も流通しており、安価で簡便な製造を行うためにはp型半導体とn型半導体から構成されることが好ましい。半導体の材料としては、入手が容易なシリコンを材料とすることが望ましく、単結晶シリコン、多結晶シリコン、アモルファスシリコンなどを採用することができる。このようなシリコンからなる光電変換層のひとつとして、p型結晶シリコンとn型結晶シリコンとを順次積層して構成されたpn接合型光電変換層が挙げられる。ここで、p型/n型結晶シリコンは、それぞれ単結晶、多結晶、または微結晶のいずれであってもよい。しかしながら、一般に単結晶であると光電変換効率が高く、また多結晶であると生産コストが安価になるというメリットがある。また、p型アモルファスシリコンと、ドーピングされていないi型アモルファスシリコンと、n型アモルファスシリコンとを順次積層して構成されたpin接合型光電変換層を用いることもできる。このような光電変換層は、製造コストが安価であるほか、高温時に出力が落ちにくいという利点もある。   As the photoelectric conversion layer, a layer composed of a p-type semiconductor and an n-type semiconductor is currently in the market, and it is preferable that the photoelectric conversion layer is composed of a p-type semiconductor and an n-type semiconductor in order to perform inexpensive and simple manufacturing. As a semiconductor material, it is desirable to use silicon that is easily available, and single crystal silicon, polycrystalline silicon, amorphous silicon, or the like can be used. As one of such photoelectric conversion layers made of silicon, a pn junction type photoelectric conversion layer configured by sequentially stacking p-type crystal silicon and n-type crystal silicon can be given. Here, the p-type / n-type crystalline silicon may be any of single crystal, polycrystal, or microcrystal. However, in general, a single crystal has a high photoelectric conversion efficiency, and a polycrystal has a merit that a production cost is low. Alternatively, a pin junction photoelectric conversion layer formed by sequentially stacking p-type amorphous silicon, undoped i-type amorphous silicon, and n-type amorphous silicon can be used. Such a photoelectric conversion layer has an advantage that the production cost is low and the output is difficult to drop at a high temperature.

また、光電変換層を構成する半導体の材料は、シリコンのみに限られず、GaAsやカッルコパライト系などの化合物半導体を用いることもできる。また、光電変換層の構造は、上記した積層構造に限らず、ヘテロ接合、微粒子により形成されるもの、タンデム型、ドット型、ジャンクション型などを採用することも可能であり、本発明において、光電変換層はその構造は限定されるものではない。   Further, the semiconductor material forming the photoelectric conversion layer is not limited to silicon, and a compound semiconductor such as GaAs or charcopalite can also be used. In addition, the structure of the photoelectric conversion layer is not limited to the laminated structure described above, and a heterojunction, a structure formed of fine particles, a tandem type, a dot type, a junction type, or the like can be employed. The structure of the conversion layer is not limited.

また、対向電極は、その接触する半導体とオーミック接触をとることができる材料であれば任意のものを採用することが出来る。具体的には光入射面側電極に用いることができる材料を対向電極にも用いることができる。   As the counter electrode, any material can be adopted as long as it can make ohmic contact with the semiconductor in contact therewith. Specifically, a material that can be used for the light incident surface side electrode can also be used for the counter electrode.

また、一般的に、反射防止膜や光電変換層裏面の形状工夫などによる、太陽電池の光電変換効率の改良が検討されている。本発明の一実施態様による太陽電池には、これらの改良を本発明による効果を損なわない限り、組み合わせることができる。   In general, improvement of the photoelectric conversion efficiency of a solar cell by examining the shape of the back surface of the antireflection film or the photoelectric conversion layer has been studied. These improvements can be combined with the solar cell according to an embodiment of the present invention as long as the effects of the present invention are not impaired.

次に、本発明の一実施態様である、太陽電池の製造方法について説明すると以下の通りである。   Next, a method for manufacturing a solar cell, which is one embodiment of the present invention, will be described as follows.

本発明において製造される太陽電池は、光電変換層と、その光電変換層の表面に形成された光入射面側電極と、裏面に形成された対向電極とを具備している。これらを組み立てる順序は特に限定されず、
(1)光電変換層を形成させてから、その一方の面に光入射面側電極、そして反対側の面に対向電極を形成させる方法、
(2)光入射面側電極、または対向電極の上に、半導体を積層すること等により光電変換層を形成させ、さらに光電変換層の上に対向電極または光入射面側電極を形成させる方法、
のいずれであってもよい。
The solar cell produced in the present invention includes a photoelectric conversion layer, a light incident surface side electrode formed on the surface of the photoelectric conversion layer, and a counter electrode formed on the back surface. The order of assembling these is not particularly limited,
(1) A method of forming a photoelectric conversion layer and then forming a light incident surface side electrode on one surface and a counter electrode on the opposite surface,
(2) A method of forming a photoelectric conversion layer by laminating a semiconductor on a light incident surface side electrode or a counter electrode, and further forming a counter electrode or a light incident surface side electrode on the photoelectric conversion layer,
Any of these may be used.

また、本発明の一実施態様である太陽電池は、開口部の直下に凹部を有するが、この凹部を形成する時期も特に限定されない。すなわち、光電変換層上に光入射面側電極層を形成させ、その電極層をエッチングなどにより加工して開口部を形成させ、さらにエッチングにより光電変換層に凹部を形成させても、光電変換層に凹部を形成させてから、その凹部に対応する位置に開口部を有する電極層を形成させてもよい。しかし、より簡便であるので、前者の方法が好ましく用いられる。   Moreover, although the solar cell which is one embodiment of this invention has a recessed part directly under an opening part, the time which forms this recessed part is not specifically limited. That is, even if a light incident surface side electrode layer is formed on the photoelectric conversion layer, the electrode layer is processed by etching or the like to form an opening, and a recess is formed in the photoelectric conversion layer by etching, the photoelectric conversion layer After forming a recess in the electrode layer, an electrode layer having an opening at a position corresponding to the recess may be formed. However, since the method is simpler, the former method is preferably used.

光電変換層は、用いる半導体の種類によって、任意の方法を用いて形成させることができる。例えば、p型またはn型の半導体基板に、不純物を部分的にドープしたり、ほかの半導体の層を蒸着などにより積層することなどにより形成させることができる。また、透明な基板上に電極層を積層し、その上にp型、n型またはi型の半導体層を積層することで形成させてもよい。   The photoelectric conversion layer can be formed by any method depending on the type of semiconductor to be used. For example, it can be formed by partially doping impurities on a p-type or n-type semiconductor substrate, or by laminating other semiconductor layers by vapor deposition or the like. Alternatively, an electrode layer may be stacked on a transparent substrate, and a p-type, n-type, or i-type semiconductor layer may be stacked thereon.

さらには、本発明の実施態様による太陽電池は、光入射面側電極に開口部を有する点に特徴があるが、光入射面側電極の構造は、光電変換層の表面に金属薄膜層を形成させてから開口部を設けてもよいし、あらかじめ開口部を有する金属薄膜を光電変換層上に積層するのであってもよい。   Furthermore, the solar cell according to the embodiment of the present invention is characterized in that the light incident surface side electrode has an opening, but the structure of the light incident surface side electrode is that a metal thin film layer is formed on the surface of the photoelectric conversion layer. Then, an opening may be provided, or a metal thin film having an opening may be laminated on the photoelectric conversion layer in advance.

また、光入射面側電極に微細な開口部を形成する方法も任意の方法を用いることができる。例えば、もっとも一般的に知られている方法は、超微細構造を形成することができる電子ビーム露光装置などを用いてエッチングする方法などがある。しかしながら、このような方法によると、製造コストが比較的高くなるという懸念点がある。一方で、より安価で大面積の金属電極に微細な開口部を形成させることもできる。   Also, an arbitrary method can be used as a method of forming a fine opening in the light incident surface side electrode. For example, the most generally known method includes a method of etching using an electron beam exposure apparatus that can form an ultrafine structure. However, according to such a method, there is a concern that the manufacturing cost is relatively high. On the other hand, it is also possible to form a fine opening in a metal electrode having a large area at a lower cost.

具体的には、
(A)電極のもととなる金属薄膜上にレジストを塗布してレジスト層を形成させ、
そのレジスト層の表面に微粒子の単粒子層を形成させ、
その単粒子層をエッチングマスクとして微細な開口部に対応するレジストパターンを形成させ、
そのレジストパターンの開口部に無機物質を充填して、逆パターンマスクを形成させ、
その逆パターンマスクを介して金属薄膜をエッチングして微細な開口部を形成させる方法、
(B)電極のもととなる金属薄膜上にブロックコポリマーを含む組成物を塗布して、ブロックコポリマー膜を形成させ、
ブロックコポリマーのドット状のミクロドメインを生成させ、
生成したミクロドメインのパターンを介して金属薄膜をエッチングして微細な開口部を形成させる方法、
(C)形成させようとする光入射面側電極の形状に対応した微細凹凸パターンを表面に有するスタンパーを準備し、
電極のもととなる金属薄膜上にそのスタンパーを利用してレジストパターンを転写し、
そのレジストパターンを介して金属薄膜にパターンを形成させる方法
などが挙げられる。
In particular,
(A) A resist layer is formed by applying a resist on the metal thin film that is the source of the electrode,
A single particle layer of fine particles is formed on the surface of the resist layer,
Using the single particle layer as an etching mask, a resist pattern corresponding to a fine opening is formed,
Fill the opening of the resist pattern with an inorganic substance to form a reverse pattern mask,
Etching the metal thin film through the reverse pattern mask to form a fine opening,
(B) A composition containing a block copolymer is applied on the metal thin film that is the source of the electrode to form a block copolymer film,
Generate dot-like microdomains of block copolymer,
A method of forming a fine opening by etching a metal thin film through the generated microdomain pattern;
(C) preparing a stamper having a fine uneven pattern on the surface corresponding to the shape of the light incident surface side electrode to be formed;
The resist pattern is transferred onto the metal thin film that is the source of the electrode using the stamper.
Examples thereof include a method of forming a pattern on a metal thin film through the resist pattern.

これらの方法により、金属薄膜に開口部を形成させた後、さらにエッチングなどにより光電変換層に凹部を形成させることにより本発明の一実施態様である太陽電池を製造することができる。   After forming an opening in a metal thin film by these methods, a solar cell which is one embodiment of the present invention can be produced by further forming a recess in the photoelectric conversion layer by etching or the like.

これらの方法を図を参照して説明すると以下の通りである。   These methods are described below with reference to the drawings.

(A)微粒子をマスクとして用いる方法
本発明の一実施態様であるナノ粒子を用いた太陽電池の製造方法を図5を参照しながら説明する。
(A) Method Using Fine Particles as Mask A method for producing a solar cell using nanoparticles, which is one embodiment of the present invention, will be described with reference to FIG.

図5(a)示すように、まず、半導体基板として単結晶シリコンからなるp型シリコン基板を用意する。ここでは、シリコン基板としてp型のものを用いる場合には、不純物としてボロンなどがドープされたものを用いることができる。なお、本発明においては、半導体基板として多結晶シリコンを用いてもよいし、不純物としてボロン以外の一般的に知られている不純物をドープしてもよい。   As shown in FIG. 5A, first, a p-type silicon substrate made of single crystal silicon is prepared as a semiconductor substrate. Here, when a p-type substrate is used as the silicon substrate, a substrate doped with boron or the like as an impurity can be used. In the present invention, polycrystalline silicon may be used as the semiconductor substrate, or a generally known impurity other than boron may be doped as the impurity.

次に、p型シリコン基板501の一方の主面にリン等のn型不純物元素を多く含むn層502を形成させる。ここでn層502は、n型不純物元素を拡散させる熱拡散法などにより形成させることができる。 Next, an n + layer 502 containing a large amount of an n-type impurity element such as phosphorus is formed on one main surface of the p-type silicon substrate 501. Here, the n + layer 502 can be formed by a thermal diffusion method or the like in which an n-type impurity element is diffused.

次いで、p型シリコン基板501の一方の面上に金属、例えばAu/Znを真空蒸着により製膜して対向電極層504を形成させる。このAu/Zn膜である対向電極層504は、対向電極と反射膜とをかねさせることもできる。   Next, a counter electrode layer 504 is formed on one surface of the p-type silicon substrate 501 by forming a metal, for example, Au / Zn by vacuum deposition. The counter electrode layer 504, which is an Au / Zn film, can also serve as a counter electrode and a reflective film.

この後に、太陽光の光入射面にあたるn層502上に、微細開口部を有する光入射面側電極505Aを作製する。 Thereafter, a light incident surface side electrode 505A having a fine opening is formed on the n + layer 502 corresponding to the light incident surface of sunlight.

まず、n層502上に、微細開口を有する光入射面側電極としてアルミニウムからなるナノメッシュ構造を有する光入射面側電極を作製する。ここでは、基板上に細密充填構造に配列された微粒子の単粒子層を形成させ、配列したナノ粒子をエッチングによって任意のサイズに縮小してドットパターンを形成する方法を用いる。この配列されたドット状パターンを金属薄膜505に転写することで、開口部を有する光入射面側電極505Aとして用いることができる。その光入射面側電極の具体的な作製方法を説明すると以下の通りである。 First, a light incident surface side electrode having a nanomesh structure made of aluminum is produced on the n + layer 502 as a light incident surface side electrode having a fine opening. Here, a method is used in which a single particle layer of fine particles arranged in a closely packed structure is formed on a substrate, and the arranged nanoparticles are reduced to an arbitrary size by etching to form a dot pattern. By transferring the arranged dot pattern to the metal thin film 505, it can be used as the light incident surface side electrode 505A having an opening. A specific method for producing the light incident surface side electrode will be described as follows.

まず、前述のシリコン基板n層の主面上にアルミニウム等を真空蒸着により製膜して、金属薄膜505を形成させた(図5(a))。 First, a metal thin film 505 was formed by vacuum-depositing aluminum or the like on the main surface of the aforementioned silicon substrate n + layer (FIG. 5A).

次に、金属薄膜505上にレジスト組成物を塗布し、さら加熱して、熱硬化反応させる。これによりレジスト層506が得られる。   Next, a resist composition is applied onto the metal thin film 505 and further heated to cause a thermosetting reaction. Thereby, a resist layer 506 is obtained.

さらに、このレジスト層506の表面を、反応性リアクティブエッチング(RIE)処理する。この処理により、レジスト層の表面が親水化され、以後の分散液塗布時の濡れ性を改善させることができる(図5(b))。言い換えると、表面の親水化された層は、この後にシリカ粒子を捕捉するトラップ層として機能する。このようなトラップ層は、レジスト層の表面に有機ポリマーを塗布することなどにより形成させることもできる。   Further, the surface of the resist layer 506 is subjected to reactive reactive etching (RIE). By this treatment, the surface of the resist layer is hydrophilized, and the wettability during the subsequent dispersion application can be improved (FIG. 5B). In other words, the surface-hydrophilized layer functions as a trap layer for capturing silica particles thereafter. Such a trap layer can also be formed by applying an organic polymer to the surface of the resist layer.

次に、例えば粒子径が200nmであるシリカ微粒子を含む分散液を、前記レジスト層が形成された基板上に塗布して分散液層509を形成させ、その後、室温冷却することでレジスト層が再度硬化し、微粒子最下層のみが基板表面に捕捉される(図5(d))。ここでは、微粒子としてシリカ微粒子を用いたが、後述するようなエッチングの速度差を達成できるものであれば、無機または有機の任意の微粒子を用いることができる。また、微粒子の大きさは目的とする光入射面側電極の形状に応じて選択されるが、一般的には60〜700nmのものが選択される。   Next, for example, a dispersion liquid containing silica fine particles having a particle diameter of 200 nm is applied onto the substrate on which the resist layer is formed to form the dispersion liquid layer 509, and then the room temperature cooling is performed to re-resist the resist layer. It cures and only the bottom layer of the fine particles is captured on the substrate surface (FIG. 5D). Here, silica fine particles are used as the fine particles, but any inorganic or organic fine particles can be used as long as they can achieve a difference in etching speed as described later. The size of the fine particles is selected according to the shape of the target light incident surface side electrode, but generally 60 to 700 nm is selected.

次に、シリカ微粒子単粒子膜に対して、エッチングを行う(図5(e))。このプロセスでシリカ微粒子がエッチングされ半径が小さくなることで、隣接していた粒子間に隙間が生じていく。エッチング条件は下地のレジスト層はほとんどエッチングされることがないものを選択する。そのようにエッチングの速度差があることで、シリカ微粒子のみをエッチングして粒子の間に隙間を形成させることができる。   Next, the silica fine particle single particle film is etched (FIG. 5E). In this process, the silica fine particles are etched and the radius is reduced, so that gaps are formed between adjacent particles. Etching conditions are selected such that the underlying resist layer is hardly etched. Since there is such a difference in etching speed, only silica fine particles can be etched to form a gap between the particles.

次に、残ったシリカ微粒子をエッチングマスクに用いて、下地の熱硬化性レジストをエッチングする。   Next, the underlying thermosetting resist is etched using the remaining silica fine particles as an etching mask.

以上の結果、初期にシリカ微粒子があった部位に、アスペクト比の高い柱状のレジストパターン506Aが得られる(図5(f))。   As a result, a columnar resist pattern 506A having a high aspect ratio is obtained at the site where the silica fine particles were initially present (FIG. 5 (f)).

次に、スピンオングラス(以下、SOGという)の溶液を、前記柱状レジストパターン上に塗布し、加熱する。これによりレジストパターンの間の隙間にSOGが充填される。   Next, a spin-on-glass (hereinafter referred to as SOG) solution is applied onto the columnar resist pattern and heated. This fills the gaps between the resist patterns with SOG.

次に、柱状レジストパターン上のSOGおよびシリカ微粒子をエッチングにより除去し、柱状レジストパターン506Aとその隙間にSOG509が充填された構造を形成させる(図5(g))。   Next, SOG and silica fine particles on the columnar resist pattern are removed by etching to form a columnar resist pattern 506A and a structure in which SOG509 is filled in the gap (FIG. 5G).

次に、残った柱状の熱硬化性レジスト506Aをエッチングにより除去する。この工程によって、前記柱状レジストパターンを反転した構造のSOGマスク509Aを金属薄膜505上に作製する(図5(h))。   Next, the remaining columnar thermosetting resist 506A is removed by etching. By this step, an SOG mask 509A having a structure in which the columnar resist pattern is inverted is formed on the metal thin film 505 (FIG. 5H).

次に、金属薄膜505を前記SOGマスク509Aを介して、エッチングする。以上の工程によって、前記n層状に、微細な開口を有する光入射面側電極505Aを形成させる。 Next, the metal thin film 505 is etched through the SOG mask 509A. Through the above-described steps, the light incident surface side electrode 505A having a fine opening is formed in the n + layer shape.

さらに、SOGマスク509Aまたは光入射面側電極505Aをマスクとして光電変換層をエッチングし、SOGマスク509Aを除去することにより、本発明の一実施態様である太陽電池を得ることができる(図5(i))。   Further, the photoelectric conversion layer is etched using the SOG mask 509A or the light incident surface side electrode 505A as a mask, and the SOG mask 509A is removed, whereby a solar cell which is one embodiment of the present invention can be obtained (FIG. 5 ( i)).

(B)ブロックコポリマーを用いた方法
本発明の一実施態様であるブロックコポリマーを用いた太陽電池の製造方法を図6を参照しながら説明する。
(B) Method Using Block Copolymer A method for producing a solar cell using a block copolymer according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

まず、p型シリコン基板601の一方の表面に、n層602を形成させて光電変換層603を形成させる。次いで、p型シリコン基板の上に金属を真空蒸着により製膜して対向電極層604を形成した。 First, the n + layer 602 is formed on one surface of the p-type silicon substrate 601 to form the photoelectric conversion layer 603. Next, a counter electrode layer 604 was formed by forming a metal film on the p-type silicon substrate by vacuum deposition.

次いで、光電変換層603のn層の上に、レジスト組成物を塗布したのち、加熱により熱硬化反応させてレジスト層605を形成させる(図6(a))。 Next, after applying a resist composition on the n + layer of the photoelectric conversion layer 603, a thermosetting reaction is performed by heating to form a resist layer 605 (FIG. 6A).

次に、SOG溶液を、前記レジスト層を形成した基板上に塗布したのち、加熱によりSOG層606を形成させる(図6(b))。   Next, after applying the SOG solution on the substrate on which the resist layer is formed, the SOG layer 606 is formed by heating (FIG. 6B).

次に、ポリスチレン−ポリメチルメタクリレートのジブロックコポリマーと、ポリメチルメタクリレートのホモポリマーとを含むブロックコポリマー溶液を準備する。この溶液を前記の基板上に塗布してブロックコポリマー層607を形成させる。さらに加熱することにより、ジブロックコポリマーを相分離させ、ポリメチルメタクリレートのマトリックス607A中にポリスチレンのドット状のミクロドメイン607Bが形成されるモルフォロジーが得られる(図6(c))。ここではポリスチレン−ポリメチルメタクリレートのほかのブロックコポリマーとして、芳香環ポリマーとアクリルポリマーの組み合わせから構成されるものが望ましい。その理由として、この2種のポリマーの間には、適当なガス種を用いたドライエッチング速度の違いがあるからである。本原理については、特許文献3に開示されている。芳香環ポリマーとして、ポリスチレン、ポリビニルナフタレン、ポリヒドロキシスチレン、これらの誘導体が挙げられる。アクリルポリマーの例として、ポリメチルメタクレレート、ポリブチルメタクリレート、ポリヘキシルメタクリレートなどのアルキルメタクリレート、ポリフェニルメタクリレート、ポリシクロヘキシルメタクリレートなどが挙げられ、これらの誘導体が含まれる。また、これらのメタクリレートの代わりに、アクリレートを用いても同様の性質を示す。これらの中では、ポリスチレン−ポリメチルメタクリレートのブロックコポリマーが、合成が容易であり、かつ各ポリマーの分子量の制御が容易な点から好ましいといえる。   Next, a block copolymer solution containing a polystyrene-polymethyl methacrylate diblock copolymer and a polymethyl methacrylate homopolymer is prepared. This solution is applied onto the substrate to form a block copolymer layer 607. By further heating, the diblock copolymer is phase-separated, and a morphology in which polystyrene dot-like microdomains 607B are formed in the polymethylmethacrylate matrix 607A is obtained (FIG. 6C). Here, another block copolymer of polystyrene-polymethyl methacrylate is preferably composed of a combination of an aromatic ring polymer and an acrylic polymer. This is because there is a difference in the dry etching rate using an appropriate gas species between the two types of polymers. This principle is disclosed in Patent Document 3. Examples of the aromatic ring polymer include polystyrene, polyvinyl naphthalene, polyhydroxystyrene, and derivatives thereof. Examples of the acrylic polymer include alkyl methacrylates such as polymethyl methacrylate, polybutyl methacrylate, and polyhexyl methacrylate, polyphenyl methacrylate, polycyclohexyl methacrylate, and the like, and derivatives thereof. Moreover, the same property is shown even if acrylate is used instead of these methacrylates. Among these, a block copolymer of polystyrene-polymethyl methacrylate is preferable from the viewpoint of easy synthesis and easy control of the molecular weight of each polymer.

次に、ジブロックコポリマー層607をエッチングして、ブロックコポリマーのポリメチルメタクリレートのマトリックス607Aを選択的に除去する。このとき、ポリスチレンのドット部607Bはエッチングされない条件を選択する。この処理により除去されたポリメチルメタクリレートのマトリックス部分にSOG層606が露出する(図6(d))。次に、残ったポリスチレンをマスクに用いてSOG層606をエッチングする。このエッチングにより、露出したSOG層606部が選択的にエッチングされ、ポリスチレンのドット形状がSOG層に転写されて、ブロックコポリマーの相分離に応じたSOGのドットパターン606Bが形成される(図6(e))。ついで、このSOGドットパターン606Bをマスクとして、下地のレジスト層605をエッチングして、柱状メッシュ上のパターン605Bを形成させる(図6(f))。   The diblock copolymer layer 607 is then etched to selectively remove the block copolymer polymethylmethacrylate matrix 607A. At this time, a condition is selected in which the polystyrene dot portion 607B is not etched. The SOG layer 606 is exposed in the matrix portion of the polymethyl methacrylate removed by this treatment (FIG. 6D). Next, the SOG layer 606 is etched using the remaining polystyrene as a mask. By this etching, the exposed SOG layer 606 is selectively etched, and the polystyrene dot shape is transferred to the SOG layer, thereby forming an SOG dot pattern 606B corresponding to the phase separation of the block copolymer (FIG. 6 ( e)). Next, using the SOG dot pattern 606B as a mask, the underlying resist layer 605 is etched to form a pattern 605B on the columnar mesh (FIG. 6F).

できあがった柱状のパターンに対して真空蒸着法でアルミニウムなどの金属を蒸着し、その後、柱状のパターン部位を除去することで開口部を有する光入射面側電極608が形成する(図6(g))。続いて、形成された開口部の直下部をさらにエッチングすることにより、開口部直下に凹部構造を有する、本発明による太陽電池(図6(h))を製造することができる。   A metal such as aluminum is deposited on the completed columnar pattern by a vacuum deposition method, and then the columnar pattern portion is removed to form a light incident surface side electrode 608 having an opening (FIG. 6G). ). Subsequently, the solar cell according to the present invention (FIG. 6 (h)) having a concave structure directly under the opening can be manufactured by further etching the portion directly under the formed opening.

尚、ここで述べた製造方法はブロックコポリマーパターンを用いてリフトオフ法とエッチングにより本発明に係わる太陽電池を製造する方法であるが、ブロックコポリマーパターンを用いてエッチングのみのプロセスによっても製造することが可能である。このような方法の詳細については実施例1において例示する。   In addition, although the manufacturing method described here is a method for manufacturing a solar cell according to the present invention by a lift-off method and etching using a block copolymer pattern, it can also be manufactured by a process of only etching using a block copolymer pattern. Is possible. Details of such a method are illustrated in Example 1.

(C)ナノインプリントによる方法
本発明の一実施態様であるナノインプリントを用いた太陽電池の製造方法を図7を参照しながら説明する。
(C) Method by Nanoimprint A method for producing a solar cell using nanoimprint, which is one embodiment of the present invention, will be described with reference to FIG.

まず、(A)と同様の方法により、p型シリコン基板701の一方の表面に、n層702を形成させて光電変換層703を形成させる。さらに、光電変換層の上に金属薄膜を製膜して対向電極層704を形成した。この光電変換層703のn層の上に、アルミニウムを真空蒸着により製膜して、金属薄膜705を形成させる(図7(a))。 First, the n + layer 702 is formed on one surface of the p-type silicon substrate 701 by the same method as in (A) to form the photoelectric conversion layer 703. Further, a counter electrode layer 704 was formed by forming a metal thin film over the photoelectric conversion layer. On the n + layer of the photoelectric conversion layer 703, aluminum is deposited by vacuum vapor deposition to form a metal thin film 705 (FIG. 7A).

レジスト組成物を金属薄膜705上に塗布し、加熱により熱硬化反応させ、レジスト層706を形成させる(図7(b))。   A resist composition is applied on the metal thin film 705, and is subjected to a thermosetting reaction by heating to form a resist layer 706 (FIG. 7B).

このレジスト層706に、鋳型であるスタンパー707を用いて本発明において特定された開口構造に対応した微細凹凸パターンを転写する。   A fine concavo-convex pattern corresponding to the opening structure specified in the present invention is transferred to the resist layer 706 using a stamper 707 as a mold.

スタンパーは、例えば石英上に電子線リソグラフィーにて所望の構造を形成させることにより製造することができる、そのほか、本発明で提案する太陽電池の製造方法では、スタンパーの材料及びスタンパーの微細凹凸構造形成手法は限定されない。例えば、スタンパーを前述した微粒子を用いた方法や、ブロックコポリマーを用いた方法により形成することも可能である。   The stamper can be manufactured, for example, by forming a desired structure on quartz by electron beam lithography. In addition, in the method for manufacturing a solar cell proposed in the present invention, the stamper material and the formation of the fine uneven structure of the stamper The method is not limited. For example, the stamper can be formed by a method using the fine particles described above or a method using a block copolymer.

前記レジスト層706に前記スタンパー707を、必要に応じて加熱しながら押し付け、放冷後、離型することでレジスト層706にスタンパーの逆パターンを転写させる。これにより、柱状突起706Aを有する開口レジストパターンが形成される(図7(d))。   The stamper 707 is pressed against the resist layer 706 while being heated, if necessary, allowed to cool, and then released to transfer the reverse pattern of the stamper to the resist layer 706. Thereby, an opening resist pattern having columnar protrusions 706A is formed (FIG. 7D).

なお、本発明は、熱ナノインプリントに限定されるものではなく、光インプリントやソフトインプリントなど、種々のインプリント技術を用いて同様のパターンを形成しても汎発明が提供する太陽電池の機能を損なうものではない。   Note that the present invention is not limited to thermal nanoimprinting, and the solar cell functions provided by the pan invention even when similar patterns are formed using various imprinting techniques such as optical imprinting and soft imprinting. Is not detrimental.

このレジストパターンマスクとして、金属薄膜705のエッチングを行って金属薄膜に開口部を形成させ、さらにレジストパターンマスク706Aまたは光入射面側電極705Aをマスクとして光電変換層703をエッチングし、レジストパターンマスク709Aを除去することにより、本発明の一実施態様である太陽電池を得ることができる(図7(d))。   As this resist pattern mask, the metal thin film 705 is etched to form openings in the metal thin film, and the photoelectric conversion layer 703 is further etched using the resist pattern mask 706A or the light incident surface side electrode 705A as a mask, and the resist pattern mask 709A. The solar cell which is one embodiment of this invention can be obtained by removing (FIG.7 (d)).

なお、これらの(A)〜(C)の方法のほか、金属薄膜を形成させる前に、光電変換層の上に直接レジストや無機物質によるパターンを形成させ、その隙間に金属を蒸着などにより堆積させて光入射面側電極とすることもできる。この場合には、レジストや無機物質によるパターンをエッチングやアッシングなどにより除去し、さらに開口部の直下部をエッチングなどにより除去することで本発明の一実施態様である太陽電池を製造することができる。   In addition to these methods (A) to (C), before forming the metal thin film, a pattern made of a resist or an inorganic substance is directly formed on the photoelectric conversion layer, and a metal is deposited in the gap by vapor deposition or the like. Thus, a light incident surface side electrode can be obtained. In this case, the pattern of the resist or inorganic substance is removed by etching or ashing, and the portion directly below the opening is removed by etching or the like, whereby the solar cell that is one embodiment of the present invention can be manufactured. .

以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。   EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

(実施例1)
本発明の一実施態様である太陽電池の作製を行った。この作製方法を図8を参照しながら説明すると以下の通りである。ここで光電変換層としては単結晶シリコンを用いた。
Example 1
A solar cell which is one embodiment of the present invention was produced. This manufacturing method will be described with reference to FIG. Here, single crystal silicon was used as the photoelectric conversion layer.

まず、半導体基板としてp型の単結晶シリコンからなるp型シリコン基板を用意した。ここでは、ボロンがドープされた、チョクラルスキー法で製造されたシリコンインゴッドをマルチワイヤソーでにスライスして、厚さ230μmの、比抵抗が約2Ω・cmのシリコン基板を作製し、さらに機械研磨により70μmの厚さとした後、外径加工を行なうことによって、一辺5cmの正方形の表面を有する板状p型単結晶シリコンからなるp型シリコン基板801を得た。   First, a p-type silicon substrate made of p-type single crystal silicon was prepared as a semiconductor substrate. Here, a silicon ingot manufactured by the Czochralski method doped with boron is sliced with a multi-wire saw to produce a silicon substrate having a thickness of 230 μm and a specific resistance of about 2 Ω · cm, followed by mechanical polishing. After forming the thickness to 70 μm by the outer diameter processing, a p-type silicon substrate 801 made of plate-like p-type single crystal silicon having a square surface with a side of 5 cm was obtained.

次に、p型シリコン基板801の一方の主面にリン等のn型不純物元素を多く含むn層802を形成させる。ここでn層802は、オキシ塩化リン(POCl)を含む高温ガス中にp型シリコン基板を設置し、p型シリコン基板の一方の主面に、リン等のn型不純物元素を拡散させる熱拡散法により形成することができる。なおn層を熱拡散法により形成する場合には、p型シリコン基板の両面および端部にもn層が形成されることがあるが、この場合には、必要なn層の表面を耐酸性樹脂で被覆した後にフッ硝酸溶液中にp型シリコン基板を浸漬することによって、不要なn層を除去することができる。本例では、このp型シリコン基板801に対し、POClガス雰囲気中において、850℃の温度で15分間の条件で熱拡散法により、p型シリコン基板801にn層802を形成させた。ここで、n層のシート抵抗値は約50Ωであった。 Next, an n + layer 802 containing a large amount of an n-type impurity element such as phosphorus is formed on one main surface of the p-type silicon substrate 801. Here, for the n + layer 802, a p-type silicon substrate is placed in a high-temperature gas containing phosphorus oxychloride (POCl 3 ), and an n-type impurity element such as phosphorus is diffused on one main surface of the p-type silicon substrate. It can be formed by a thermal diffusion method. Note that if an n + layer is formed by thermal diffusion method, it is also n + layer on both sides and the end portion of the p-type silicon substrate is formed, the surface of this case, the required n + layer By coating the substrate with an acid-resistant resin and then immersing the p-type silicon substrate in a hydrofluoric acid solution, an unnecessary n + layer can be removed. In this example, an n + layer 802 is formed on the p-type silicon substrate 801 by a thermal diffusion method in a POCl 3 gas atmosphere at a temperature of 850 ° C. for 15 minutes. Here, the sheet resistance value of the n + layer was about 50Ω.

続いて、n層802上に耐酸性樹脂層を形成させた後に、p型シリコン基板801をフッ硝酸溶液に15秒間浸漬することによって、耐酸性樹脂層が形成されていない部分のn層を除去した。その後、耐酸性樹脂層を除去することによって、p型シリコン基板の一方の主面のみにn層を形成させ、光電変換層803を得た。これにより、p型シリコン基板の厚みは50μmとなった。 Subsequently, after an acid-resistant resin layer is formed on the n + layer 802, the p-type silicon substrate 801 is immersed in a hydrofluoric acid solution for 15 seconds, so that the portion of the n + layer where the acid-resistant resin layer is not formed. Was removed. Then, by removing the acid-resistant resin layer, an n + layer was formed only on one main surface of the p-type silicon substrate, and a photoelectric conversion layer 803 was obtained. Thereby, the thickness of the p-type silicon substrate became 50 μm.

次いで、p型シリコン基板801の主面上にAu/Zn膜を真空蒸着により製膜して対向電極層804を形成させた。続いて、光電変換層803のn層上に、真空蒸着によりアルミニウムを蒸着させ、30nmの厚みを有する金属薄膜805を形成させた。 Next, an Au / Zn film was formed on the main surface of the p-type silicon substrate 801 by vacuum deposition to form a counter electrode layer 804. Subsequently, aluminum was deposited on the n + layer of the photoelectric conversion layer 803 by vacuum deposition to form a metal thin film 805 having a thickness of 30 nm.

この後に、太陽光の光入射面にあたる金属薄膜805に開口部、光電変換層803に凹部を形成する。   Thereafter, an opening is formed in the metal thin film 805 corresponding to the light incident surface of sunlight, and a recess is formed in the photoelectric conversion layer 803.

まず、熱硬化性レジスト(THMR IP3250(商品名)、東京応化工業株式会社製)を乳酸エチルで重量比1:3に希釈した溶液を、基板の光入射面上に回転塗布で塗布したのち、無酸化オーブンにて窒素雰囲気下250℃でさらに1時間加熱し、熱硬化反応させることでレジスト層806を形成した(図8(a))。   First, after applying a solution obtained by diluting a thermosetting resist (THMR IP3250 (trade name), manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) with ethyl lactate to a weight ratio of 1: 3 by spin coating on the light incident surface of the substrate, A resist layer 806 was formed by heating in a non-oxidizing oven at 250 ° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere to cause a thermosetting reaction (FIG. 8A).

次に、SOG溶液(SOG−5500(商品名)、東京応化工業株式会社製)を乳酸エチルで重量比1:3に希釈した溶液を、前記レジスト層806上に回転塗布で塗布したのち、さらに、無酸化オーブンにて窒素雰囲気下250℃でさらに1時間加熱しすることでSOG層807を形成した(図8(b))。   Next, a solution obtained by diluting an SOG solution (SOG-5500 (trade name), manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) with ethyl lactate to a weight ratio of 1: 3 is applied onto the resist layer 806 by spin coating, and then Then, the SOG layer 807 was formed by heating in a non-oxidizing oven at 250 ° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere (FIG. 8B).

次に、ポリスチレン−ポリメチルメタクリレートのジブロックコポリマーの2wt%プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート溶液と、ポリメチルスチレンのホモポリマーの2wt%プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート溶液とを8:2の割合で混合しブロックコポリマー溶液を得た。この溶液を前記のSOG層807上に回転塗布により塗布した。さらに、無酸化オーブンにて窒素雰囲気下250℃でさらに8時間加熱した。用いたジブロックコポリマーの分子量は、ポリスチレン部が166000g/mol、ポリメチルメタクリレート部が42000g/molであり、約30〜40nm径のポリメチルメタクリレートのドット状ミクロドメイン808Aがポリスチレンのマトリックス808B中に形成される(図8(c))。   Next, a 2 wt% propylene glycol monomethyl ether acetate solution of polystyrene-polymethyl methacrylate diblock copolymer and a 2 wt% propylene glycol monomethyl ether acetate solution of polymethylstyrene homopolymer were mixed at a ratio of 8: 2 to form a block copolymer. A solution was obtained. This solution was applied onto the SOG layer 807 by spin coating. Furthermore, it was further heated at 250 ° C. for 8 hours in a non-oxidizing oven under a nitrogen atmosphere. The molecular weight of the diblock copolymer used was 166,000 g / mol for the polystyrene part and 42000 g / mol for the polymethyl methacrylate part, and a dot-like microdomain 808A of polymethyl methacrylate having a diameter of about 30 to 40 nm was formed in the polystyrene matrix 808B. (FIG. 8C).

次に、ジブロックコポリマーに、O:30sccm、100mTorr、RFパワー100Wで、RIEを行った。このRIE条件では、ブロックコポリマーのポリメチルメタクリレートのドット部が選択的に除去されるが、ポリスチレンはエッチングされない。RIEは、ポリメチルメタクリレートを完全にエッチングする条件でおこない、この部分のSOG層が完全に露出した(図8(d))。次に、残ったメッシュ状のポリスチレン808Bをマスクに用いてSOG層807のRIEをCF:10sccm、CHF3:20sccm、5mTorr,100Wの条件で行った。このエッチングにより、ポリスチレンのメッシュ形状がSOG層に転写される(図8(e))。ついで、このSOG層808Bをマスクとして、O−RIEにより、光入射面側電極層の表面が露出するまでレジスト層806をエッチングした。この結果、金属薄膜805上に直径30〜40nmの開口部をもつメッシュ状のレジストマスク807Bが得られた(図8(f))。 Next, RIE was performed on the diblock copolymer at O 2 : 30 sccm, 100 mTorr, and RF power of 100 W. Under this RIE condition, the dot portion of the polymethyl methacrylate of the block copolymer is selectively removed, but the polystyrene is not etched. The RIE was performed under the condition where polymethyl methacrylate was completely etched, and the SOG layer in this portion was completely exposed (FIG. 8D). Next, RIE of the SOG layer 807 was performed under the conditions of CF 4 : 10 sccm, CHF 3:20 sccm, 5 mTorr, 100 W using the remaining mesh-shaped polystyrene 808B as a mask. By this etching, the mesh shape of polystyrene is transferred to the SOG layer (FIG. 8 (e)). Next, using this SOG layer 808B as a mask, the resist layer 806 was etched by O 2 -RIE until the surface of the light incident surface side electrode layer was exposed. As a result, a mesh-like resist mask 807B having an opening with a diameter of 30 to 40 nm on the metal thin film 805 was obtained (FIG. 8F).

次に、得られたレジストマスク807Bを用いて、塩素ガスを用いたICP(誘導結合プラズマ)−RIEにより金属薄膜805及び光電変換層803内部までエッチングした(図8(g))。このとき、RIEは、Ar:25sccm、5mTorr、ICPパワー50W、Biasパワー150Wの条件で1分間スパッタエッチングを行い、金属薄膜表面のAlを除去したのち、連続して、Cl:2.5sccm、Ar:25sccm、5mTorr、ICPパワー50W、Biasパワー150Wで行なった。このように5mTorrという低圧条件でエッチング行なうことで、異方性エッチングが促進され垂直性の高いエッチングが可能となり、光電変換層803に円柱状の凹部が形成することが可能となる。 Next, the obtained resist mask 807B was etched into the metal thin film 805 and the photoelectric conversion layer 803 by ICP (inductively coupled plasma) -RIE using chlorine gas (FIG. 8G). At this time, RIE is performed by sputter etching for 1 minute under the conditions of Ar: 25 sccm, 5 mTorr, ICP power 50 W, and Bias power 150 W, and after removing Al 2 O 3 on the surface of the metal thin film, Cl 2 : 2 .5 sccm, Ar: 25 sccm, 5 mTorr, ICP power 50 W, Bias power 150 W. By performing etching under such a low pressure condition of 5 mTorr, anisotropic etching is promoted and etching with high perpendicularity is possible, and a cylindrical recess can be formed in the photoelectric conversion layer 803.

その後、Oプラズマによるアッシング処理をすることで、所望の開口部を有する光入射側電極層と凹部を有する光電変換層を具備する太陽電池が得られた(図8(h))。 Thereafter, by ashing by O 2 plasma, the solar cell having a photoelectric conversion layer having a light incident side electrode layer and the recess having a desired opening is obtained (FIG. 8 (h)).

得られた開口部は、平均開口部径が約40nmであり、開口部面積比率が約35%であった。また、光電変換層に形成された凹部の深さは光入射面側電極と光電変換層との界面から250nmであった。   The obtained openings had an average opening diameter of about 40 nm and an opening area ratio of about 35%. The depth of the recess formed in the photoelectric conversion layer was 250 nm from the interface between the light incident surface side electrode and the photoelectric conversion layer.

上記のようにして作製した太陽電池にAM1.5の擬似太陽光を照射した際の室温における光電変換効率を評価した。その結果、変換効率は7.5%と良好な値を示した。また同時に、アルミニウム以外の金属材料を用いて光入射面側電極を形成させた太陽電池についても、同様の検討を行った結果、本発明の効果が得られることが確認された。   Photoelectric conversion efficiency at room temperature when the solar cell produced as described above was irradiated with artificial sunlight of AM1.5 was evaluated. As a result, the conversion efficiency was a good value of 7.5%. At the same time, as a result of conducting the same study on the solar cell in which the light incident surface side electrode is formed using a metal material other than aluminum, it was confirmed that the effect of the present invention was obtained.

比較例1−1、1−2
実施例1の比較として、比較例1−1、および1−2を準備した。
比較例1−1は、実施例1に対して、膜厚、平均開口率、光電変換層の凹部高さは等しいが、平均開口径がおよそ50倍の2μmである光入射面側電極を有する太陽電池である。開口部の開口径が大きいので、作製にはフォトリソグラフィー技術を用いた。
Comparative Examples 1-1 and 1-2
As a comparison with Example 1, Comparative Examples 1-1 and 1-2 were prepared.
Comparative Example 1-1 has a light incident surface side electrode that is equal to Example 1 in film thickness, average aperture ratio, and recess height of the photoelectric conversion layer, but the average aperture diameter is about 50 times 2 μm. It is a solar cell. Since the opening diameter of the opening is large, a photolithography technique was used for manufacturing.

比較例1−2は、実施例1に対して膜厚、平均開口率および平均開口径等しいが、光電変換層に凹部が形成されていないものを用意した。方法は実施例1の製造方法で、光電変換層のエッチングを行わないことで製造した。   In Comparative Example 1-2, a film thickness, an average aperture ratio, and an average aperture diameter that are equal to those of Example 1 were prepared, but a photoelectric conversion layer having no recess was prepared. The method was the manufacturing method of Example 1, and manufactured by not etching the photoelectric conversion layer.

これらの比較例1−1および1−2について、実施例1と同様の評価を行った結果、比較例1−1で得られた変換効率は4.1%、比較例1−2の得られた変換効率は7.1%であった。   As a result of performing the same evaluation as in Example 1 for Comparative Examples 1-1 and 1-2, the conversion efficiency obtained in Comparative Example 1-1 was 4.1%, and Comparative Example 1-2 was obtained. The conversion efficiency was 7.1%.

実施例1の結果と比較することにより、平均開口径を微細にすることで83%、光電変換層に凹部を設けることで8%の変換効率の向上が認められた。   By comparing with the result of Example 1, it was confirmed that the conversion efficiency was improved by 83% by reducing the average opening diameter and by 8% by providing the recesses in the photoelectric conversion layer.

実施例2
本例においては、実施例1と同様の光電変換層に対し、ナノ粒子のパターンを用い、金属薄膜中に開口部を、光電変換層に凹部を形成した。本例では図5に対応する製造方法を用いた。
Example 2
In this example, a nanoparticle pattern was used for the same photoelectric conversion layer as in Example 1, and an opening was formed in the metal thin film and a recess was formed in the photoelectric conversion layer. In this example, the manufacturing method corresponding to FIG. 5 was used.

まず、実施例1と同様に、真空蒸着により、光電変換層のp型シリコン基板主面上に対向電極504(Au/Zn)を、n層の主面上に金属薄膜505(アルミニウム、厚さ50nm)を形成させた(図5(a))。 First, as in Example 1, the counter electrode 504 (Au / Zn) is formed on the main surface of the p-type silicon substrate of the photoelectric conversion layer and the metal thin film 505 (aluminum, thickness is formed on the main surface of the n + layer by vacuum evaporation. 50 nm) (FIG. 5A).

続いて、i線用ポジ型熱硬化性レジスト(THMR IP3250(商品名)、東京応化工業株式会社製)を乳酸エチルで1:1に希釈した溶液を金属薄膜505上に回転塗布を行った。ホットプレート上で110℃で90秒間加熱したのち、無酸化オーブンにて窒素雰囲気下270℃でさらに1時間加熱し、熱硬化反応させた。得られたレジスト層506の膜厚はおよそ240nmであった。   Subsequently, a solution obtained by diluting an i-line positive thermosetting resist (THMR IP3250 (trade name), manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) 1: 1 with ethyl lactate was spin-coated on the metal thin film 505. After heating at 110 ° C. for 90 seconds on a hot plate, it was further heated for 1 hour at 270 ° C. in a non-oxidizing oven in a nitrogen atmosphere to cause a thermosetting reaction. The film thickness of the obtained resist layer 506 was approximately 240 nm.

さらに、このレジスト層506に対し、O:30sccm、100mTorr、RFパワー100Wで、RIEを行い、レジスト層506の表面を親水化させることでトラップ層507を形成した(図5(b))。 Further, the resist layer 506 was subjected to RIE with O 2 : 30 sccm, 100 mTorr, and RF power of 100 W, and the trap layer 507 was formed by hydrophilizing the surface of the resist layer 506 (FIG. 5B).

次に、粒子径が200nmであるシリカ微粒子を含む分散液(PL−13(商品名)、扶桑化学工業株式会社製)をアクリルポリマーを含む組成物にて5wt%に希釈し、1μmメッシュのフィルターでフィルタリングを行って、塗布用のシリカ微粒子分散液509を得た。この溶液を、前記トラップ層507上に回転塗布を行ったのち(図5(c))、無酸化オーブンにて窒素雰囲気下150℃でさらに1時間加熱し、アニール処理を行った。その後、室温冷却することで、前記親水化処理したレジスト層上にシリカ微粒子の規則配列単粒子層が得られた。(図5(d))。   Next, a dispersion containing silica fine particles having a particle size of 200 nm (PL-13 (trade name), manufactured by Fuso Chemical Industry Co., Ltd.) is diluted to 5 wt% with a composition containing an acrylic polymer, and a 1 μm mesh filter is used. Filtering was performed to obtain a silica fine particle dispersion 509 for coating. This solution was spin-coated on the trap layer 507 (FIG. 5C), and then annealed at 150 ° C. for 1 hour in a non-oxidizing oven in a nitrogen atmosphere. Thereafter, by cooling at room temperature, an ordered single particle layer of silica fine particles was obtained on the hydrophilized resist layer. (FIG. 5D).

次に、シリカ単粒子膜に対して、CF:30sccm、10mTorr、RFパワー100Wで、RIEを行うことによりシリカ粒子のシュリンク(収縮)処理を行なった(図5(e))。この工程の後、電子顕微鏡にて観測したところ、シリカ微粒子508Aの粒子系はおよそ120nm、粒子間の隙間はおよそ80nmであった。さらに、シリカ微粒子508Aをエッチングマスクに用いて、下地の熱硬化性レジストをO:30sccm、2mTorr、RFパワー100Wの条件RIEを行うことで、アスペクト比の高い柱状のレジストパターン506Aが得られた(図5(f))。 Next, the silica single particle film was subjected to RIE with CF 4 : 30 sccm, 10 mTorr, and RF power of 100 W to perform silica particle shrinkage (FIG. 5E). When observed with an electron microscope after this step, the particle system of silica fine particles 508A was about 120 nm, and the gap between the particles was about 80 nm. Further, columnar resist pattern 506A having a high aspect ratio was obtained by performing condition RIE under the conditions of O 2 : 30 sccm, 2 mTorr, and RF power of 100 W using silica fine particles 508A as an etching mask. (FIG. 5 (f)).

次に、SOG(SOG−5500(商品名)、東京応化工業株式会社製)を乳酸エチルで14wt%に希釈した溶液を0.3μmメッシュのフィルターによるフィルタリングを行って、回転塗布を行った。これによりレジストパターンの間の隙間にSOGが充填される。この後、ホットプレート上で110℃で90秒間加熱し、さらに、無酸化オーブンにて窒素雰囲気下250℃でさらに1時間加熱した。次に、前記工程によって形成されたSOG層および前記SOG層中に含有される微細化されたシリカ微粒子を、CF:30sccm、10mTorr、RFパワー100Wの条件でRIEを行った。この処理によって柱状レジストパターン上のSOGおよびシリカ微粒子が除去され、柱状レジストパターン506Aとその隙間にSOG509が充填された構造形成される(図5(g))。 Next, a solution obtained by diluting SOG (SOG-5500 (trade name), manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) to 14 wt% with ethyl lactate was subjected to spin coating by filtering with a 0.3 μm mesh filter. This fills the gaps between the resist patterns with SOG. Thereafter, the film was heated on a hot plate at 110 ° C. for 90 seconds, and further heated at 250 ° C. in a non-oxidizing oven in a nitrogen atmosphere for 1 hour. Next, RIE was performed on the SOG layer formed in the above step and the finely divided silica fine particles contained in the SOG layer under conditions of CF 4 : 30 sccm, 10 mTorr, and RF power of 100 W. By this treatment, the SOG and the silica fine particles on the columnar resist pattern are removed, and a structure in which the columnar resist pattern 506A and the SOG 509 are filled in the gap is formed (FIG. 5G).

次に、残った柱状の熱硬化性レジスト506AをO:30sccm、10mTorr、RFパワー100WでRIEを行った。この工程によって、前記柱状レジストパターンを反転した構造のSOGマスク509Aを金属薄膜505上に作成した(図5(h))。 Next, the remaining columnar thermosetting resist 506A was subjected to RIE with O 2 : 30 sccm, 10 mTorr, and RF power of 100 W. Through this process, an SOG mask 509A having a structure in which the columnar resist pattern is inverted was formed on the metal thin film 505 (FIG. 5H).

次に、金属薄膜505を前記SOGマスク509Aを介して、実施例1と同様の条件でICP−RIEエッチングし、金属薄膜に開口部505Aを形成し、されにエッチングを続けることで光電変換層503に凹部を形成した。ついで、残ったSOGマスク509AをRIEにより除去することで太陽電池を製造した(図5(i))。   Next, the metal thin film 505 is subjected to ICP-RIE etching through the SOG mask 509A under the same conditions as in Example 1 to form an opening 505A in the metal thin film, and the etching is continued, thereby the photoelectric conversion layer 503. A recess was formed on the surface. Next, the remaining SOG mask 509A was removed by RIE to manufacture a solar cell (FIG. 5 (i)).

製造した太陽電池は、厚み50nm、平均開口径110nm、平均開口率30%の開口を有するアルミニウムからなるメッシュ構造を有する表面電極505Aを具備しており、光電変換層に形成された凹部の深さは光入射面側電極と光電変換層との界面から250nmであった。   The manufactured solar cell includes a surface electrode 505A having a mesh structure made of aluminum having an opening having a thickness of 50 nm, an average opening diameter of 110 nm, and an average opening ratio of 30%, and the depth of the recess formed in the photoelectric conversion layer. Was 250 nm from the interface between the light incident surface side electrode and the photoelectric conversion layer.

実施例2で作製した太陽電池の光電変換効率を評価した結果、光電変換効率は6.7%と良好な値を示した。また、アルミニウム以外の金属材料を光入射面側電極の材料として用いた場合についても、同様の検討を行った結果、本発明の効果が得られることが確認された。   As a result of evaluating the photoelectric conversion efficiency of the solar cell produced in Example 2, the photoelectric conversion efficiency showed a favorable value of 6.7%. Moreover, also when using metal materials other than aluminum as a material of a light-incidence surface side electrode, as a result of performing the same examination, it was confirmed that the effect of this invention is acquired.

比較例2−1、
比較例として、実施例2に対して光照射側電極層の膜厚、平均開口率および平均開口径等しいが、光電変換層に凹部が形成されていないものを用意した。製造方法は実施例2と同様の製造方法で、ただし光電変換層のエッチングを行わないことで製造した。
Comparative Example 2-1,
As a comparative example, the film thickness, the average aperture ratio, and the average aperture diameter of the light irradiation side electrode layer were the same as in Example 2, but the photoelectric conversion layer was not formed with a recess. The manufacturing method was the same as that of Example 2, except that the photoelectric conversion layer was not etched.

実施例1と同様の評価を行った結果、比較例2−1で得られた変換効率は6.1%であり、実施例2の太陽電池は、光電変換層に凹部を設けることにより、およそ10%の変換効率が改良されることが確認された。   As a result of performing the same evaluation as in Example 1, the conversion efficiency obtained in Comparative Example 2-1 was 6.1%, and the solar cell of Example 2 was obtained by providing a recess in the photoelectric conversion layer. It was confirmed that the conversion efficiency of 10% was improved.

実施例3
本例では、ナノインプリント法を用いて本発明に係わる太陽電池を製造した。本例では図7に対応する製造方法を用いた。
Example 3
In this example, a solar cell according to the present invention was manufactured using a nanoimprint method. In this example, the manufacturing method corresponding to FIG. 7 was used.

まず、実施例1と同様に真空蒸着により、シリコン基板のp型シリコン基板主面上に対向電極704(Au/Zn)を、n層の主面上に金属薄膜705(アルミニウム、厚さ50nm)を形成させた(図7(a))。 First, the counter electrode 704 (Au / Zn) is formed on the main surface of the p-type silicon substrate of the silicon substrate, and the metal thin film 705 (aluminum, thickness 50 nm) is formed on the main surface of the n + layer by vacuum deposition as in the first embodiment. ) Was formed (FIG. 7A).

続いて、i線用ポジ型熱硬化性レジスト(THMR IP3250(商品名)、東京応化工業株式会社製)を乳酸エチルで1:2に希釈した溶液を金属薄膜705上に回転塗布を行ったのち、ホットプレート上において110℃で90秒間加熱し、熱硬化反応させ、レジスト層706を形成させた(図7(b))。膜厚はおよそ150nmであった。   Subsequently, a solution obtained by diluting an i-line positive thermosetting resist (THMR IP3250 (trade name), manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) 1: 2 with ethyl lactate was applied onto the metal thin film 705 by spin coating. Then, the resist layer 706 was formed by heating on a hot plate at 110 ° C. for 90 seconds to cause thermosetting reaction (FIG. 7B). The film thickness was approximately 150 nm.

このレジスト層706に、鋳型であるスタンパー707を用いて本発明において特定された開口構造に対応した微細凹凸パターンを転写する。   A fine concavo-convex pattern corresponding to the opening structure specified in the present invention is transferred to the resist layer 706 using a stamper 707 as a mold.

用いたスタンパーの材質は石英であり、深さ120nm、直径130nmのホールが200nm周期の最密充填配列で並んだ表面構造を有するものを準備した。この微細なパターンは電子線リソグラフィーによりパターニングされたものである。   The material of the used stamper was quartz, and a material having a surface structure in which holes having a depth of 120 nm and a diameter of 130 nm were arranged in a close-packed arrangement with a period of 200 nm was prepared. This fine pattern is patterned by electron beam lithography.

離型用処理として、前記スタンパー表面をパーフルオロポリエーテル等のフッ素系離型剤でコーティングし、スタンパーの表面エネルギーを低くすることで離型性を向上させた。   As the release treatment, the surface of the stamper was coated with a fluorine-based release agent such as perfluoropolyether, and the release energy was improved by reducing the surface energy of the stamper.

前記レジスト層706に前記スタンパー707を、ヒータープレートプレスN4005−00型(商品名、エヌピーエー製)を用いて、128℃、圧力60kNにて押し付け、1時間かけて室温に戻し、垂直に離型することでレジスト層に鋳型の反転パターンを転写した。これにより、直径130nmの柱状突起706Aが周期的に配列した構造を有する周期開口レジストパターンが作成された(図7(d))。   The stamper 707 is pressed onto the resist layer 706 using a heater plate press N4005-00 type (trade name, manufactured by NPA) at 128 ° C. and a pressure of 60 kN, returned to room temperature over 1 hour, and released vertically. As a result, the reversal pattern of the mold was transferred to the resist layer. As a result, a periodic opening resist pattern having a structure in which columnar protrusions 706A having a diameter of 130 nm are periodically arranged was created (FIG. 7D).

このレジストパターンをエッチングマスクとして、前記金属薄膜705および前記光電変換層703のエッチングを実施例1と同様のICP−RIE条件で行った。
以上の工程によって、厚み30nm、平均開口径130nm、平均開口率35%の開口を有するアルミニウムからなるナノメッシュ構造を有する光入射面側電極705Aを得た。また、光電変換層に形成された凹部の深さは光入射面側電極と光電変換層との界面から250nmであった。
Using this resist pattern as an etching mask, the metal thin film 705 and the photoelectric conversion layer 703 were etched under the same ICP-RIE conditions as in Example 1.
Through the above steps, a light incident surface side electrode 705A having a nanomesh structure made of aluminum having an opening having a thickness of 30 nm, an average opening diameter of 130 nm, and an average opening ratio of 35% was obtained. The depth of the recess formed in the photoelectric conversion layer was 250 nm from the interface between the light incident surface side electrode and the photoelectric conversion layer.

上記のようにして作製した太陽電池の変換効率を実施例1と同様に評価した。その結果、変換効率は7.3%と良好な値を示した。また同時に、アルミニウム以外の金属材料を光入射面側電極の材料として用いた場合についても、同様の検討を行った結果、本発明の効果が得られることが確認された。   The conversion efficiency of the solar cell produced as described above was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, the conversion efficiency was a good value of 7.3%. At the same time, when a metal material other than aluminum is used as the material for the light incident surface side electrode, the same examination was performed, and as a result, it was confirmed that the effects of the present invention were obtained.

比較例3−1
比較例として、実施例3に対して、光入射側電極層の膜厚、平均開口率および平均開口径等しいが、光電変換層に凹部が形成されていないものを用意した。製造方法は実施例3と同様の製造方法で、光電変換層のエッチングを行わないことで製造した。
Comparative Example 3-1
As a comparative example, a light incident side electrode layer having the same film thickness, average aperture ratio, and average aperture diameter as that of Example 3 but having no recess formed in the photoelectric conversion layer was prepared. The manufacturing method was the same as that of Example 3, and the photoelectric conversion layer was not etched.

実施例1と同様の評価を行った結果、比較例3−1の太陽電池で得られた変換効率は6.4%であり、光電変換層に凹部を設けることで14%の変換効率の向上が認められた。   As a result of performing the same evaluation as in Example 1, the conversion efficiency obtained by the solar cell of Comparative Example 3-1 was 6.4%, and the conversion efficiency was improved by 14% by providing a recess in the photoelectric conversion layer. Was recognized.

以上の例により、金属薄膜の開口部付近で発生する非伝播光の吸収、および光電変換層に凹部を設けることによる伝播光の吸収を高め、変換効率を向上させることが可能となる。また、ブロックコポリマーを用いた方法、ナノ粒子を用いた方法、およびナノインプリントによる方法によって、本発明に係わる構造を有する太陽電池を製造することが可能である。また、これらの製造方法に限らず、例えばアルミナ陽極酸化法など、本発明に関わる所望の構造が得られるような微細加工技術により製造された太陽電池であっても、本発明による効果を得ることができる。   According to the above example, absorption of non-propagating light generated in the vicinity of the opening of the metal thin film and absorption of propagating light by providing a recess in the photoelectric conversion layer can be increased, and conversion efficiency can be improved. In addition, a solar cell having a structure according to the present invention can be manufactured by a method using a block copolymer, a method using nanoparticles, and a method using nanoimprint. Further, the present invention is not limited to these manufacturing methods, and the effect of the present invention can be obtained even with a solar cell manufactured by a microfabrication technique that can obtain a desired structure related to the present invention, such as an alumina anodic oxidation method. Can do.

実施例4
本例ではGaAsから構成される太陽電池を製造した。
まず、p型GaAs基板上に有機金属気相成長法(MOCVD)によりn型GaAsをエピタキシャル成長させることで光電変換層を得た。その後、真空蒸着によりp型GaAs側にAu/Au−Zn薄膜を形成し、窒素雰囲気下450℃、30分間アニールすることで対向電極を形成した。次いで、n型GaAs面にAuを真空蒸着により30nm形成することで金属薄膜層を形成した。
Example 4
In this example, a solar cell made of GaAs was manufactured.
First, a photoelectric conversion layer was obtained by epitaxially growing n-type GaAs on a p-type GaAs substrate by metal organic chemical vapor deposition (MOCVD). Thereafter, an Au / Au—Zn thin film was formed on the p-type GaAs side by vacuum deposition, and the counter electrode was formed by annealing at 450 ° C. for 30 minutes in a nitrogen atmosphere. Next, a metal thin film layer was formed by forming 30 nm of Au on the n-type GaAs surface by vacuum deposition.

次に、実施例2と同様に、ナノ粒子パターンを用いて金属薄膜に開口部、さらに光電変換層に凹部を形成した。Auは化学安定性が高いため、ICP−RIEではなくイオンミリングによる物理的なエッチングでAu金属薄膜中に開口部を形成した。金属膜に開口部を形成した後、ICP−RIEにより光電変換層に凹部を形成した。   Next, as in Example 2, an opening was formed in the metal thin film and a recess was formed in the photoelectric conversion layer using the nanoparticle pattern. Since Au has high chemical stability, an opening was formed in the Au metal thin film by physical etching by ion milling instead of ICP-RIE. After forming an opening in the metal film, a recess was formed in the photoelectric conversion layer by ICP-RIE.

本実施例で作製した太陽電池の光入射面側電極は、厚み30nm、平均開口径110nm、平均開口率30%の開口を有するAu金属薄膜であり、光電変換層としては、光入射面側電極と光電変換層との界面からの深さ350nmの凹部が形成されたものであった。   The light incident surface side electrode of the solar cell produced in this example is an Au metal thin film having an opening with a thickness of 30 nm, an average aperture diameter of 110 nm, and an average aperture ratio of 30%. As the photoelectric conversion layer, the light incident surface side electrode A recess having a depth of 350 nm from the interface between the surface and the photoelectric conversion layer was formed.

上記のようにして作製した太陽電池の変換効率を実施例1と同様に評価した。その結果、変換効率は6.7%と良好な値を示した。また同時に、アルミニウム以外の金属材料を光入射面側電極の材料として用いた場合についても、同様の検討を行った結果、本発明の効果が得られることが確認された。   The conversion efficiency of the solar cell produced as described above was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, the conversion efficiency was a good value of 6.7%. At the same time, when a metal material other than aluminum is used as the material for the light incident surface side electrode, the same examination was performed, and as a result, it was confirmed that the effects of the present invention were obtained.

比較例4−1、4−2
実施例4の比較サンプルとして、比較例4−1、および4−2を準備した。
比較例4−1は、実施例4に対して膜厚、平均開口率、光電変換層の凹部高さは等しいが、平均開口径がおよそ50倍の2μmである光入射面側電極を有する太陽電池である。開口部および凹部はフォトリソグラフィーにより開口部形状のパターニングを行った後、エッチングを行うことで形成した。
Comparative Examples 4-1 and 4-2
As comparative samples of Example 4, Comparative Examples 4-1 and 4-2 were prepared.
Comparative Example 4-1 has the same thickness, average aperture ratio, and recessed portion height of the photoelectric conversion layer as in Example 4, but the sun having the light incident surface side electrode having an average aperture diameter of about 50 times 2 μm. It is a battery. The openings and the recesses were formed by performing etching after patterning the opening shape by photolithography.

比較例4−2は、実施例4に対して膜厚、平均開口率および平均開口径等しいが、光電変換層に凹部が形成されていないものを用意した。方法は実施例4の製造方法で、光電変換層のICP−RIEを行わないことで製造した。   In Comparative Example 4-2, a film thickness, an average aperture ratio, and an average aperture diameter that are equal to those in Example 4 were prepared, but the photoelectric conversion layer was not formed with a recess. The method was the manufacturing method of Example 4, and it manufactured by not performing ICP-RIE of a photoelectric converting layer.

実施例1と同様の評価を行った結果、比較例4−1で得られた変換効率は4.1%、比較例4−2の得られた変換効率は6.3%であった。実施例4の結果と比較することで、開口部の平均開口径を微細にすることで63%の向上が、光電変換層に凹部を設けることで6%の変換効率の向上があることが認められた。   As a result of performing the same evaluation as in Example 1, the conversion efficiency obtained in Comparative Example 4-1 was 4.1%, and the conversion efficiency obtained in Comparative Example 4-2 was 6.3%. By comparing with the result of Example 4, it is recognized that an improvement of 63% can be achieved by reducing the average opening diameter of the opening, and a conversion efficiency of 6% can be improved by providing a recess in the photoelectric conversion layer. It was.

このように本発明に係わる太陽電池においては、シリコンやGaAsなど公知の光電変換材料であれば適用することが可能である。   Thus, in the solar cell according to the present invention, any known photoelectric conversion material such as silicon or GaAs can be applied.

101 光入射面側電極
102 対向電極
103 光電変換層
104 開口部
105 凹部
301 光入射面側電極層の端部
302 電場
501 p型半導体
502 n
503 光電変換層
504 対向電極
505 金属薄膜
505A 光入射面側電極
506 レジスト層
507 トラップ層
508 シリカ微粒子
509 スピンオングラス(SOG)
601 p型シリコン基板
602 n
603 光電変換層
604 対向電極層
605 レジスト層
606 SOG層
607 ブロックコポリマー層
607A ポリメチルメタクリレートのマトリックス
607B ポリスチレンのドット状のミクロドメイン
708 光入射面側電極
706 レジスト層
707 スタンパー
801 p型シリコン基板
802 n
803 光電変換層
804 対向電極
805 金属薄膜
806 レジスト層
807 SOG層
808A ポリメチルメタクリレートのドット状のミクロドメイン
808B ポリスチレンのマトリックス
DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Light incident surface side electrode 102 Counter electrode 103 Photoelectric conversion layer 104 Opening part 105 Recessed part 301 End part of light incident surface side electrode layer 302 Electric field 501 P-type semiconductor 502 n + layer 503 Photoelectric conversion layer 504 Counter electrode 505 Metal thin film 505A Light Incident surface side electrode 506 Resist layer 507 Trap layer 508 Silica fine particle 509 Spin-on-glass (SOG)
601 p-type silicon substrate 602 n + layer 603 photoelectric conversion layer 604 counter electrode layer 605 resist layer 606 SOG layer 607 block copolymer layer 607A polymethyl methacrylate matrix 607B polystyrene dot-like microdomain 708 light incident surface side electrode 706 resist layer 707 stamper 801 p-type silicon substrate 802 n + layer 803 photoelectric conversion layer 804 counter electrode 805 metal thin film 806 resist layer 807 SOG layer 808A polymethylmethacrylate dot-like microdomain 808B polystyrene matrix

Claims (10)

少なくともp型半導体層とn型半導体層を含む光電変換層と、前記光電変換層のn型半導体層側に形成された光入射面側電極層と、光入射面側電極とは反対側の面に形成された対向電極層と、を具備し
前記光入射面側電極層が前記層を貫通する複数の開口部を有し、かつ、その層厚が10nm以上200nm以下の範囲にあり、
前記開口部の1つあたりの面積が80nm以上0.8μm以下の範囲にあり、 前記光入射面側電極の総面積に対する前記開口部の総面積の割合である開口率が10%以上66%以下の範囲にあり、
前記光電変換層の、前記開口部の直下部分に凹部が形成され、
前記凹部の深さがn型半導体層の厚さよりも浅い
ことを特徴とする太陽電池。
A photoelectric conversion layer including at least a p-type semiconductor layer and an n-type semiconductor layer, a light incident surface side electrode layer formed on the n type semiconductor layer side of the photoelectric conversion layer, and a surface opposite to the light incident surface side electrode The light incident surface side electrode layer has a plurality of openings that penetrate the layer, and the layer thickness is in the range of 10 nm or more and 200 nm or less,
The area per one opening is in the range of 80 nm 2 to 0.8 μm 2 , and the opening ratio, which is the ratio of the total area of the opening to the total area of the light incident surface side electrode, is 10% to 66 % Or less,
A recess is formed in the photoelectric conversion layer immediately below the opening,
The depth of the said recessed part is shallower than the thickness of an n-type semiconductor layer, The solar cell characterized by the above-mentioned.
空乏層の少なくとも一部が、前記光入射面側電極と前記光電変換層との接触面から1μm以内の距離に配置されている、請求項1に記載の太陽電池。   2. The solar cell according to claim 1, wherein at least a part of the depletion layer is disposed at a distance of 1 μm or less from a contact surface between the light incident surface side electrode and the photoelectric conversion layer. 前記凹部の形状が、円柱状、逆円錐状、または逆円錐台状のいずれかである、請求項1または2に記載の太陽電池。   The solar cell according to claim 1 or 2, wherein a shape of the concave portion is any one of a columnar shape, an inverted conical shape, and an inverted frustoconical shape. 前記凹部の深さが、入射光の波長以下である、請求項1または2に記載の太陽電池。   The solar cell according to claim 1, wherein a depth of the concave portion is equal to or less than a wavelength of incident light. 前記光電変換層が、少なくとも単結晶シリコン、多結晶シリコン、あるいはアモルファスシリコンを含む、請求項1に記載の太陽電池。   The solar cell according to claim 1, wherein the photoelectric conversion layer includes at least single crystal silicon, polycrystalline silicon, or amorphous silicon. 前記光入射面側電極層の材料が,アルミニウム、銀、金、白金、ニッケル、コバルト、クロム、銅、およびチタンからなる群から選択される、請求項1に記載の太陽電池。   The solar cell according to claim 1, wherein a material of the light incident surface side electrode layer is selected from the group consisting of aluminum, silver, gold, platinum, nickel, cobalt, chromium, copper, and titanium. 光電変換層を形成させる工程と、
前記光電変換層の光入射面側に光入射面側電極層を形成させる工程と、
前記光電変換層の光入射面と反対側面に対向電極層を形成させる工程とを含み、前記光入射面側電極層を形成させる工程が、
金属薄膜層を形成させる工程と、
前記金属薄膜層の上にレジスト層を形成する工程と、
形成させようとする光入射面側電極の形状に対応した微細凹凸パターンを表面に有するスタンパーを準備する工程と、
前記レジスト層の少なくとも一部に前記スタンパーを利用してパターンを転写してレジストパターンを形成させる工程と、
前記レジストパターンをエッチングマスクとして前記金属薄膜層に開口部を形成させ、さらに前記光電変換層に凹部を形成させる工程と、
を含むことを特徴とする、請求項1に記載の太陽電池の製造方法。
Forming a photoelectric conversion layer;
Forming a light incident surface side electrode layer on the light incident surface side of the photoelectric conversion layer; and
Forming a counter electrode layer on the side opposite to the light incident surface of the photoelectric conversion layer, and forming the light incident surface side electrode layer,
Forming a metal thin film layer;
Forming a resist layer on the metal thin film layer;
A step of preparing a stamper having a fine concavo-convex pattern corresponding to the shape of the light incident surface side electrode to be formed on the surface;
Transferring a pattern to the at least part of the resist layer using the stamper to form a resist pattern;
Forming an opening in the metal thin film layer using the resist pattern as an etching mask, and further forming a recess in the photoelectric conversion layer;
The manufacturing method of the solar cell of Claim 1 characterized by the above-mentioned.
光電変換層を形成させる工程と、
前記光電変換層の光入射面側に光入射面側電極層を形成させる工程と、
前記光電変換層の光入射面と反対側面に対向電極層を形成させる工程とを含み、前記光入射面側電極層を形成させる工程が、
金属薄膜層を形成させる工程と、
前記金属薄膜層の少なくとも一部の表面にブロックコポリマーを含む組成物を塗布してブロックコポリマー膜を形成させる工程と、
前記ブロックコポリマーの相分離を起こさせることでドット状のミクロドメインを生成させる工程と、
前記ドット状ミクロドメインを選択的に除去した後に残ったメッシュをエッチングマスクとして前記金属薄膜をエッチングして開口部を有する光入射面側電極層を形成させ、さらに前記光電変換層に凹部を形成させる工程と、
を含むことを特徴とする、請求項1に記載の太陽電池の製造方法。
Forming a photoelectric conversion layer;
Forming a light incident surface side electrode layer on the light incident surface side of the photoelectric conversion layer; and
Forming a counter electrode layer on the side opposite to the light incident surface of the photoelectric conversion layer, and forming the light incident surface side electrode layer,
Forming a metal thin film layer;
Applying a composition containing a block copolymer to at least a part of the surface of the metal thin film layer to form a block copolymer film;
Generating dot-like microdomains by causing phase separation of the block copolymer;
The metal thin film is etched using the mesh remaining after selectively removing the dot-like microdomains as an etching mask to form a light incident surface side electrode layer having an opening, and a recess is formed in the photoelectric conversion layer. Process,
The manufacturing method of the solar cell of Claim 1 characterized by the above-mentioned.
前記ブロックコポリマー膜と前記金属薄膜の間に犠牲層としての中間マスク層を用いることを特徴とする請求項8に記載の製造方法。 9. The manufacturing method according to claim 8, wherein an intermediate mask layer as a sacrificial layer is used between the block copolymer film and the metal thin film. 光電変換層を形成する工程と、
前記光電変換層の光入射面側に光入射面側電極層を形成させる工程と、
前記光電変換層の光入射面と反対側面に対向電極層を形成させる工程とを含み、前記光入射面側電極層を形成させる工程が、
前記光電変換層の光入射面側に金属薄膜層を形成させる工程と、
前記金属薄膜層の少なくとも一部にレジスト組成物を塗布してレジスト層を形成させる工程と、
前記レジスト層の表面に微粒子の単粒子層を形成させる工程と、
前記単粒子層をエッチングマスクとして前記レジスト層をエッチングしてレジストパターンを形成させる工程と、
前記レジストパターンの開口部に無機物質を充填して逆パターンマスクを形成させる工程と、
前記逆パターンマスクをエッチングマスクとして前記金属薄膜層に開口部を形成させ、さらに前記光電変換層に凹部を形成させる工程と、
を含むことを特徴とする、請求項1に記載の太陽電池の製造方法。
Forming a photoelectric conversion layer;
Forming a light incident surface side electrode layer on the light incident surface side of the photoelectric conversion layer; and
Forming a counter electrode layer on the side opposite to the light incident surface of the photoelectric conversion layer, and forming the light incident surface side electrode layer,
Forming a metal thin film layer on the light incident surface side of the photoelectric conversion layer; and
Applying a resist composition to at least a part of the metal thin film layer to form a resist layer;
Forming a single particle layer of fine particles on the surface of the resist layer;
Etching the resist layer using the single particle layer as an etching mask to form a resist pattern;
Filling the opening of the resist pattern with an inorganic substance to form a reverse pattern mask; and
Forming an opening in the metal thin film layer using the reverse pattern mask as an etching mask, and further forming a recess in the photoelectric conversion layer;
The manufacturing method of the solar cell of Claim 1 characterized by the above-mentioned.
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