JP5111564B2 - El表示装置の検査方法 - Google Patents
El表示装置の検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5111564B2 JP5111564B2 JP2010131175A JP2010131175A JP5111564B2 JP 5111564 B2 JP5111564 B2 JP 5111564B2 JP 2010131175 A JP2010131175 A JP 2010131175A JP 2010131175 A JP2010131175 A JP 2010131175A JP 5111564 B2 JP5111564 B2 JP 5111564B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- source
- potential
- terminal
- line
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 11
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 36
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
- G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
- G09G2300/0809—Several active elements per pixel in active matrix panels
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
- G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
- G09G2300/0809—Several active elements per pixel in active matrix panels
- G09G2300/0814—Several active elements per pixel in active matrix panels used for selection purposes, e.g. logical AND for partial update
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2310/00—Command of the display device
- G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
- G09G2310/0264—Details of driving circuits
- G09G2310/0267—Details of drivers for scan electrodes, other than drivers for liquid crystal, plasma or OLED displays
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2310/00—Command of the display device
- G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
- G09G2310/0264—Details of driving circuits
- G09G2310/0275—Details of drivers for data electrodes, other than drivers for liquid crystal, plasma or OLED displays, not related to handling digital grey scale data or to communication of data to the pixels by means of a current
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/02—Details of power systems and of start or stop of display operation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
図3に、本発明の一実施形態を示す。本実施形態はCMOS回路の電源を制御することで、入力信号に関わりなく所望の出力を得ることを目的とする。
第1の電位>第3の電位
である。また、第1の電位と第3の電位はそれぞれCMOS回路が正常に動作する電位差を持つ。また、入力端子305から入力される信号は、CMOS回路が正常に動作する電圧振幅と周波数に設定されている。このとき、インバータは通常の動作を示す。つまり、入力端子305から入力される信号を反転させた信号が、出力端子306から出力される。
第1の電位>第2の電位>第3の電位
である。このとき、出力端子306から出力されるインバータ出力は、入力端子305から入力される入力信号に関わりなく第2の電位となる。
図4と図5に、本発明の他の一実施形態を示す。本実施形態はゲートドライバとソースドライバの電源を制御することで、入力信号に関わりなく所望の出力を得ることを目的とする。また、電源の制御によって所望の出力を得ることで、簡易に配線の短絡の有無を検査することを目的とする。
図6に、本発明の他の一実施形態を示す。本実施形態は電源端子と接地端子の接続関係を制御するスイッチを使うことで、1電源で実施の形態1、2に示した動作を実現することを目的とする。
図7に、本発明の他の一実施形態を示す。本実施形態はエレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence : EL)素子等を始めとした発光素子を用いた表示装置に対して、ソース線とゲート線の短絡の有無と、ソース線と電流供給線の短絡の有無と、隣り合うゲート線の短絡の有無と、電流供給線とゲート線の短絡の有無とを検査することを目的とする。
書込駆動は、まずビデオ信号入力端子710から入力されるビデオ信号を、ソース走査回路708の走査駆動によってラッチ回路712が保持し、ソース線702に出力する。同時に書込ゲートドライバ711の走査駆動によって対応する行の書込スイッチ803がONする。ソース線702に出力されたビデオ信号は、対応する行の画素701が有する画素容量802に保持される。以上の書込駆動を1〜m行に対して順次実行する。
Claims (3)
- ゲートがゲート線に接続され、ソースまたはドレインの一方がソース線に接続された第1のトランジスタと、
ゲートが前記第1のトランジスタの前記ソースまたは前記ドレインの他方に接続され、ソースまたはドレインの一方が電流供給線と接続され、前記ソースまたは前記ドレインの他方が発光素子と接続された第2のトランジスタと、を有する画素をマトリクス状に複数有し、
前記ゲート線はゲートドライバに接続され、
前記ソース線はソースドライバに接続されたEL表示装置の検査方法であって、
前記ゲートドライバの電源端子と接地端子に第1の電位を印加し、
前記ソースドライバの電源端子と接地端子に第2の電位を印加し、
前記ソース線と前記ゲート線の間の電流値を測定することを特徴とするEL表示装置の検査方法。 - ゲートがゲート線に接続され、ソースまたはドレインの一方がソース線に接続された第1のトランジスタと、
ゲートが前記第1のトランジスタの前記ソースまたは前記ドレインの他方に接続され、ソースまたはドレインの一方が電流供給線と接続され、前記ソースまたは前記ドレインの他方が発光素子と接続された第2のトランジスタと、を有する画素をマトリクス状に複数有し、
前記ゲート線はゲートドライバに接続されたEL表示装置の検査方法であって、
前記ゲートドライバの電源端子と接地端子に第1の電位を印加し、
前記電流供給線に第2の電位を印加し、
前記電流供給線と前記ゲート線の間の電流値を測定することを特徴とするEL表示装置の検査方法。 - ゲートがゲート線に接続され、ソースまたはドレインの一方がソース線に接続され、前記ソースまたは前記ドレインの他方が電流供給線と容量を介して電気的に接続された第1のトランジスタと、
ゲートが前記第1のトランジスタの前記ソースまたは前記ドレインの他方に接続され、ソースまたはドレインの一方が前記電流供給線と接続され、前記ソースまたは前記ドレインの他方が発光素子と接続された第2のトランジスタと、を有する画素をマトリクス状に複数有し、
前記ソース線はソースドライバに接続されたEL表示装置の検査方法であって、
前記第1のトランジスタをオフし、
前記ソースドライバの電源端子と接地端子に第1の電位を印加し、
前記電流供給線に第2の電位を印加し、
前記電流供給線と前記ソース線の間の電流値を測定することを特徴とするEL表示装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010131175A JP5111564B2 (ja) | 2002-12-26 | 2010-06-08 | El表示装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002378556 | 2002-12-26 | ||
JP2002378556 | 2002-12-26 | ||
JP2010131175A JP5111564B2 (ja) | 2002-12-26 | 2010-06-08 | El表示装置の検査方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004564482A Division JP5110771B2 (ja) | 2002-12-26 | 2003-12-09 | 半導体装置の検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010262302A JP2010262302A (ja) | 2010-11-18 |
JP5111564B2 true JP5111564B2 (ja) | 2013-01-09 |
Family
ID=32708340
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004564482A Expired - Fee Related JP5110771B2 (ja) | 2002-12-26 | 2003-12-09 | 半導体装置の検査方法 |
JP2010131175A Expired - Fee Related JP5111564B2 (ja) | 2002-12-26 | 2010-06-08 | El表示装置の検査方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004564482A Expired - Fee Related JP5110771B2 (ja) | 2002-12-26 | 2003-12-09 | 半導体装置の検査方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7132842B2 (ja) |
JP (2) | JP5110771B2 (ja) |
CN (1) | CN1732501B (ja) |
AU (1) | AU2003289260A1 (ja) |
WO (1) | WO2004061811A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US12033550B2 (en) | 2022-03-28 | 2024-07-09 | Samsung Display Co., Ltd. | Method of testing display device |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4653775B2 (ja) * | 2002-04-26 | 2011-03-16 | 東芝モバイルディスプレイ株式会社 | El表示装置の検査方法 |
EP1804229B1 (en) * | 2005-12-28 | 2016-08-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and method for inspecting the same |
KR100749423B1 (ko) * | 2006-08-09 | 2007-08-14 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 검사회로구동방법 |
JP2008116917A (ja) * | 2006-10-10 | 2008-05-22 | Seiko Epson Corp | ゲートドライバ、電気光学装置、電子機器及び駆動方法 |
US9057758B2 (en) * | 2009-12-18 | 2015-06-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for measuring current, method for inspecting semiconductor device, semiconductor device, and test element group |
JP5613029B2 (ja) | 2010-11-25 | 2014-10-22 | 矢崎総業株式会社 | バスバ |
CN103207365A (zh) * | 2012-01-16 | 2013-07-17 | 联咏科技股份有限公司 | 测试接口电路 |
KR101931175B1 (ko) * | 2012-05-18 | 2019-03-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 쇼트 불량 검사 방법, 표시 장치의 쇼트 불량 검사 방법 및 유기 발광 표시 장치의 쇼트 불량 검사 방법 |
US9322869B2 (en) * | 2014-01-03 | 2016-04-26 | Pixtronix, Inc. | Display apparatus including dummy display element for TFT testing |
US10818208B2 (en) * | 2018-09-14 | 2020-10-27 | Novatek Microelectronics Corp. | Source driver |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3150324B2 (ja) * | 1990-07-13 | 2001-03-26 | 株式会社日立製作所 | 薄膜トランジスタ基板の検査方法および薄膜トランジスタ基板の配線修正方法 |
DE4028819A1 (de) * | 1990-09-11 | 1992-03-12 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum testen eines halbleiterspeichers mittels paralleltests mit verschiedenen testbitmustern |
JPH07287247A (ja) | 1994-04-15 | 1995-10-31 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板の検査方法 |
US5936892A (en) * | 1996-09-30 | 1999-08-10 | Advanced Micro Devices, Inc. | Memory cell DC characterization apparatus and method |
JPH11231281A (ja) * | 1998-02-19 | 1999-08-27 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示素子制御回路 |
JP3874930B2 (ja) * | 1998-05-20 | 2007-01-31 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
JP2001195033A (ja) * | 2000-01-06 | 2001-07-19 | Toshiba Corp | 表示装置の検査方法 |
JP3833043B2 (ja) * | 2000-04-06 | 2006-10-11 | 富士通株式会社 | 表示器用階調配線、液晶表示器用ドライバ及びそのストレス試験方法 |
JP3965875B2 (ja) * | 2000-07-18 | 2007-08-29 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置の検査装置及び検査方法 |
JP4642984B2 (ja) * | 2000-09-14 | 2011-03-02 | 双葉電子工業株式会社 | Icチップ付き蛍光表示管の駆動方法並びにエージング方法 |
JP4281622B2 (ja) * | 2004-05-31 | 2009-06-17 | ソニー株式会社 | 表示装置及び検査方法 |
JP4396539B2 (ja) * | 2004-06-03 | 2010-01-13 | 株式会社デンソー | レアショート検出回路及び異常監視信号生成回路 |
-
2003
- 2003-12-09 AU AU2003289260A patent/AU2003289260A1/en not_active Abandoned
- 2003-12-09 CN CN200380107580.4A patent/CN1732501B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-09 JP JP2004564482A patent/JP5110771B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-09 WO PCT/JP2003/015706 patent/WO2004061811A1/ja active Application Filing
- 2003-12-22 US US10/740,605 patent/US7132842B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2006
- 2006-10-30 US US11/589,082 patent/US7586324B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-06-08 JP JP2010131175A patent/JP5111564B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US12033550B2 (en) | 2022-03-28 | 2024-07-09 | Samsung Display Co., Ltd. | Method of testing display device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2003289260A1 (en) | 2004-07-29 |
US7586324B2 (en) | 2009-09-08 |
US20070040568A1 (en) | 2007-02-22 |
JPWO2004061811A1 (ja) | 2006-05-18 |
WO2004061811A1 (ja) | 2004-07-22 |
US7132842B2 (en) | 2006-11-07 |
JP5110771B2 (ja) | 2012-12-26 |
JP2010262302A (ja) | 2010-11-18 |
CN1732501B (zh) | 2010-09-29 |
CN1732501A (zh) | 2006-02-08 |
US20040246757A1 (en) | 2004-12-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5111564B2 (ja) | El表示装置の検査方法 | |
US8004334B2 (en) | Data latch circuit and electronic device | |
US7265572B2 (en) | Image display device and method of testing the same | |
JP4439761B2 (ja) | 液晶表示装置、電子機器 | |
JP5401510B2 (ja) | ゲートドライバ及びel表示装置 | |
US8659532B2 (en) | Semiconductor device | |
JP4339103B2 (ja) | 半導体装置及び表示装置 | |
US10818228B2 (en) | Pixel circuit, method for driving pixel circuit and display panel | |
EP1684310A1 (en) | Shift register and electronic apparatus | |
KR100873534B1 (ko) | Tft 어레이 기판, tft 어레이 검사 방법 및 표시장치 | |
US20040056604A1 (en) | Pixel structure for an active matrix OLED | |
CN110288949B (zh) | 一种像素电路及其驱动方法、显示装置 | |
CN110827730A (zh) | 一种检测ltpsamoled显示基板像素区晶体管特性的电路与方法 | |
US7053649B1 (en) | Image display device and method of testing the same | |
JP2004199054A (ja) | 画像表示装置およびその検査方法 | |
JP4369112B2 (ja) | 半導体装置及び電子機器 | |
US20080042941A1 (en) | System for displaying image and driving method for organic light-emitting element | |
US11837160B2 (en) | Display panel and driving method thereof, array substrate, display panel, and display device | |
JP2006126693A (ja) | 電子装置、電気光学装置、電子機器、及び電子装置の検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110712 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110816 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120731 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120910 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121002 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121009 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151019 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151019 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |