JP5079284B2 - 手ぶれ量検出装置、手ぶれ補正装置、撮像装置及び手ぶれ量検出方法 - Google Patents
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Description
カメラの小型化により、写真撮影においてホールド性の低下や、携帯電話搭載のカメラなど撮影方法として、片手での撮影など従来の撮影形態と比べ自由度が広がっている。
例えば、露出時間の長い暗条件での撮影となるとシャッター速度が遅くなりブレてしまうケースが多々ある。
また露出条件で感度を上げて露出時間を短くし撮影した場合は、ノイズがのってしまい粗い画像となってしまう。
例えば、ブレに合わせてレンズを傾斜させ補正する、光学式手ぶれ補正装置が製品化されているが、近年の小型化や携帯電話カメラへの搭載を考慮するとスペース的に非常に困難である。
本発明は、上述した不利益を解消するために、処理量が少なく高精度な手ぶれ量検出を実施できる手ぶれ量検出装置、手ぶれ補正装置、撮像装置及び手ぶれ量検出方法を提供することを目的とする。
露出条件の異なる基準画像と参照画像を基に、マッチング処理を行い手ぶれ量を検出する手ぶれ量検出装置を有し、当該手ぶれ量検出装置は、前記基準画像及び参照画像をそれぞれ複数のマクロブロックに分割するマクロブロック分割手段と、前記マクロブロック分割手段が分割した前記基準画像から所定の大きさのマクロブロックによって構成される第1のブロックを抽出し、前記マクロブロック分割手段が分割した参照画像のマクロブロックから所定の大きさのマクロブロックによって構成される第2のブロックを抽出するブロック抽出手段と、前記基準画像及び参照画像を間引いて間引き画像を生成するデータ間引き部と、前記データ間引き部が生成した前記間引き画像を用いた粗サーチにて前記ブロック抽出手段が抽出した前記第1のブロック及び第2のブロックの残差を取得する残差取得手段と、前記残差取得手段が取得した前記残差を基に、前記マクロブロック毎に残差積分値を取得し、該残差積分値が小さいマクロブロックを所定数選出するブロック選出手段と、前記ブロック選出手段が選出した前記各マクロブロックの残差積分値が小さいものから順に並べた時の所定順位の値を手ぶれ量とする手ぶれ量取得手段とを有し、前記残差取得手段は、前記ブロック選出手段が選出した前記残差積分値が小さいマクロブロックに対して精サーチにて前記間引き画像より少ない間引き量の間引き画像、または非間引き画像の残差を取得し、前記手ぶれ量取得手段に出力する。
<第1実施形態>
図1は、本第1実施形態の撮像装置1の構成を示すブロック図である。
図1に示すように、本第1実施形態の撮像装置1は、カメラ2、手ぶれ量検出部3、画像合成部4、バッファメモリ5を有する。
手ぶれ量検出部3は、手ぶれ量検出のための構成として、データ間引き部31、マクロブロック分割部32、ブロック抽出部33、輝度差比較部34、残差取得部35、ブロック選出部36、手ぶれ量取得部37を更に有する。
RAWデータは、カメラ2の撮像素子から得られた信号そのままのデータであり、例えば、原色カラーフィルタを有するカメラにより撮影したRAWデータは、図2に示すように、Gr(緑)、R(赤)、B(青)、Gb(緑)の4種類の色データによって構成されている。
データ間引き部31は、カメラ2が撮影した基準画像及び参照画像それぞれのRAWデータを基に、この4種類の色データのうち先頭の緑のデータ(Gr)のみを抽出したそれぞれの間引き画像を作成する。なお、本実施形態ではGrのみを抽出するが、本発明はこれに限定されず、R、B、Gbのいずれか1つを抽出してもよい。
テンプレートマッチングとは、探索対象パターン(探索ブロックI)と事前に用意したテンプレート(テンプレートブロックT)との類似度や相違度を求める手法であり、残差逐次検定法はその手法の1つである。
残差逐次検定法とは、図3に示すように、基準画像からM×N個の画素で構成される探索ブロックIを、参照画像からm×n個の画素で構成されるテンプレートブロックTを抽出し、探索ブロックI上でテンプレートブロックTを動かして比較を行い、テンプレートブロックTと一致する探索ブロックI上の位置を探し出す方法である。なお、M>m、N>nであり、テンプレートブロックTの左上の座標を(x,y)としたとき、残差、すなわち探索ブロックIとテンプレートブロックTとの画素値の差の累積残差E(x,y)、すなわち、残差を基にマクロブロック毎にマクロブロック内の全画素を足し合わせた残差積分値E(x,y)は、(x,y)の関数であり、数式(1)で与えられる。
次に、残差取得部35が、ブロック抽出部33が抽出した探索ブロックI及びテンプレートブロックTを使用し、上述した残差逐次検定法により残差を取得する。
すなわち、輝度値の最大値と最小値との差が小さいブロックは、例えば真っ白な部分等、コントラストが低いブロックであり、こうしたブロックでは手ぶれ量が検出しにくいため、動き量検出処理から除外してしまうのである。
なお、所定のしきい値Bの大きさについては、本発明では限定しない。
本実施形態では、例えば、10個のブロックを抽出する。
手ぶれ量取得部37は、探索ブロックI内でブロック選出部36が選出したマクロブロックで間引きせずに積分値E(x,y)を求めて大きいまたは小さいものから順に並べた時の中央値を算出してこの画像の手ぶれ量とする。なお、本実施形態では中央値としたが、本発明はこれに限定されず、所定順位のものであればよい。
手ぶれ量検出部3は、上述した方法で手ぶれ量を検出する。
バッファメモリ5は、手ぶれ補正処理に使用される補正前の画像データを一時的に記憶しておくRAM(Random Access Memory)である。
図5は、撮像装置1の動作例を示すフローチャートである。
カメラ2は、露出条件を変えて1枚の基準画像と、1または複数枚の参照画像とを撮影する。
ステップST2:
データ間引き部31は、ステップST1においてカメラ2が撮影した基準画像及び参照画像の生データ(RAWデータ)のデータの内、Gr(緑)の成分のみを抽出し、他の成分を間引いて、間引き基準画像および間引き参照画像を作成する。
ステップST3:
マクロブロック分割部32は、ステップST2においてデータ間引き部31が作成した間引き基準画像及び間引き参照画像を、10×10個のマクロブロックに分割する。
ブロック抽出部33が、ステップST3においてマクロブロック分割部32が10×10個のマクロブロックに分割した間引き基準画像及び間引き参照画像から、図4(a)に示すように、間引き基準画像の10×10のマクロブロックからは2×2=4ブロックの探索ブロックIを抽出し、図4(b)に示すように、間引き参照画像からは、対応する2×2ブロックの中心部に位置するマクロブロックの縦横2辺のそれぞれ1/4の長さを有する2辺により構成されたブロックが4つ集まって構成されるテンプレートブロックTを抽出する。
輝度差比較部34は、各画素の輝度値の最大値と最小値との差をとり、所定のしきい値Bよりこの差が小さい場合には、そのマクロブロックを残差取得部35が残差を取得する対象から除外する。
ステップST6:
残差取得部35は、ステップST5において輝度差比較部34が除外しなかった探索ブロックI及びテンプレートブロックTを使用し、上述した残差逐次検定法により残差を取得する。
ブロック選出部36は、残差取得部35が取得した、全ての探索ブロックIにおける残差積分値E(x,y)が小さいマクロブロックを10個選出する。
ステップST8:
残差取得部35は、RAWデータを間引いていない基準画像及び参照画像をバッファメモリ5から読み出し、ステップST7においてブロック選出部が選出したマクロブロックに対して、間引いていないデータを基に再度残差積分値を算出する。
このステップにおける残差取得部35の処理は、手ぶれ量検出部3の手ぶれ量検出処理全体の精度を上げるためになされる。
手ぶれ量取得部37は、探索ブロックI内で残差が最小値をとるテンプレートブロックTの位置を、ステップST8において残差取得部35が取得した、間引いていないデータに対する残差積分値を基に求め、ブロック選出部36が選出したマクロブロックで間引きせずに積分値E(x,y)を求めて大きいまたは小さいものから順に並べたときの中央値を抽出する。
画像合成部4は、ステップST9において手ぶれ量取得部37が取得した手ぶれ量を基に、カメラ2が撮影した(間引いていない)基準画像と参照画像を合成し、手ぶれ補正を行った補正画像を作成する。
撮像装置の第2実施形態は、データ間引き部31が1/8間引き画像と1/2間引き画像を作成し、残差算出部35がまず1/8間引き画像を使用して残差積分値を求め(粗サーチ)た後、残差積分値が小さいブロックを所定数抽出してその中で1/2間引き画像に対して再度残差積分値も求め(精サーチ)ることを除いて、第1実施形態の撮像装置1と同様である。
データ間引き部31は、カメラ2が撮影した基準画像及び参照画像それぞれのRAWデータを1/2或いは1/8に間引いた間引き画像を作成する。1/2間引き画像は、縦横それぞれの画素のうち2つに1つの画素のみを抽出して作成された間引き画像であり、1/8間引き画像は縦横それぞれの画素のうち8つに1つの画素のみを抽出して作成された間引き画像である。
残差取得部35が、まず1/8間引き画像の探索ブロックI及びテンプレートブロックTを使用し、上述した残差逐次検定法により残差を取得する(粗サーチ)。残差取得時の探索ブロックIとテンプレートブロックTを図6に示す。
図6は、探索ブロックIがテンプレートブロックTに探索される様子を示した図である。図6に示すように、テンプレートブロックTは1画素ずつ移動しながら探索ブロック内をサーチしていく。
1/2間引き画像の残差積分値を求める際には、上述したブロック抽出部33、残差取得部35及びブロック選出部36が1/8間引き画像に対して求めた残差積分値が小さい画素の近傍の画素のみに対して残差積分値の算出を行えばよいので、手ぶれ量算出部の計算量は従来に比べ格段に少なくなる。
図7に示す○印は、1/8間引き画像において残差積分値算出が行われる画素を表しており、図7に示す×印は、1/2間引き画像において残差積分値算出が行われる画素を示している。1/2間引き画像における残差積分値算出が行われる画素の内縦横それぞれ4個毎に1/8間引き画像において残差積分値算出が行われる画素があることがわかる。
すなわち、1/8間引き画像において、図7のaの画素がそのブロックにおける残差積分値最小となる画素であったとすると、1/2間引き画像においては、図7の点線で囲まれた範囲内に残差積分値が最小となる画素が存在していることがわかる。
図8は、第2実施形態の撮像装置1の動作例を示すフローチャートである。
カメラ2は、露出条件を変えて1枚の基準画像と、1または複数枚の参照画像とを撮影する。
ステップST12:
データ間引き部31は、ステップST11においてカメラ2が撮影した基準画像及び参照画像の生データから1/8間引き画像および1/2間引き画像を作成する。
ステップST13:
マクロブロック分割部32は、ステップST12においてデータ間引き部31が作成した1/8間引き画像の基準画像及び参照画像を、例えば10×10個のマクロブロックに分割する。
ブロック抽出部33が、ステップST13においてマクロブロック分割部32が10×10個のマクロブロックに分割した1/8間引き画像の基準画像及び参照画像から、探索ブロックIを抽出し、参照画像からは、テンプレートブロックTを抽出する。
輝度差比較部34は、各画素の輝度値の最大値と最小値との差をとり、所定のしきい値Bよりこの差が小さい場合には、そのマクロブロックを残差取得部35が残差を取得する対象から除外する。
ステップST16:
残差取得部35は、ステップST15において輝度差比較部34が除外しなかった探索ブロックI及びテンプレートブロックTを使用し、上述した残差逐次検定法により残差を取得する。
ブロック選出部36は、残差取得部35が取得した、全ての探索ブロックIにおける残差積分値E(x,y)が小さいマクロブロックを9個選出する。
ステップST18:
残差取得部35は、1/2間引き画像の基準画像及び参照画像を、ステップST17においてブロック選出部が選出したマクロブロックに対して、再度残差積分値を算出する。
このステップにおける残差取得部35の処理は、手ぶれ量検出部3の手ぶれ量検出処理全体の精度を上げるためになされる。
手ぶれ量取得部37は、探索ブロックI内で残差が最小値をとるテンプレートブロックTの位置を、ステップST18において残差取得部35が取得した、1/2間引き画像に対する残差積分値を基に求め、ブロック選出部36が選出したマクロブロックにおいて1/2間引き画像の残差積分値E(x,y)を求めて小さいものから順に並べたときの中央値を抽出する。
画像合成部4は、ステップST19において手ぶれ量取得部37が取得した手ぶれ量を基に、カメラ2が撮影した(間引いていない)基準画像と参照画像を合成し、手ぶれ補正を行った補正画像を作成する。
なお、第1実施形態と同様に、手ぶれ量を検出する際にブロック選出部36が小さい残差積分値を有するブロックの小さいものを所定の数或いは割合だけ選出してもよく、また手ぶれ量取得部37は、本実施形態では中央値を手ぶれ量としたが、本発明はこれに限定されず、所定順位のものを手ぶれ量とすればよい。
撮像装置1の第3実施形態は、残差積分値が小さいブロックを選出するための残差算出部35の残差算出時に、所定の範囲の残差のみを算出することを除いて、第2実施形態と同様である。
すなわち、残差算出部35は、1/8間引き画像を使用して残差積分値を求め(粗サーチ)る際に、全ての範囲の画素に対して残差積分値を算出せず、所定の範囲のみの画素に対して残差の算出を行う。
図9に示すように、残差算出部35は、1/8に間引いた画像の、例えば5%の画素が存在する範囲のみに対して残差算出を行う。すなわち、当該画像が3メガピクセル(2048画素×1536画素)であったならば、水平方向には2048/5/20=約13(画素)のみ残差算出を行い、垂直方向には1535/8/20=約10(画素)に対してのみ残差算出を行う。従って残差算出に要する時間は大幅に短縮される。
すなわち、当業者は、本発明の技術的範囲またはその均等の範囲内において、上述した実施形態の構成要素に関し、様々な変更、コンビネーション、サブコンビネーション、並びに代替を行ってもよい。
Claims (10)
- 露出条件の異なる基準画像と参照画像を基に、マッチング処理を行い手ぶれ量を検出する手ぶれ量検出装置であって、
前記基準画像及び参照画像をそれぞれ複数のマクロブロックに分割するマクロブロック分割手段と、
前記マクロブロック分割手段が分割した前記基準画像から所定の大きさのマクロブロックによって構成される第1のブロックを抽出し、前記マクロブロック分割手段が分割した参照画像のマクロブロックから所定の大きさのマクロブロックによって構成される第2のブロックを抽出するブロック抽出手段と、
前記ブロック抽出手段が抽出した前記第1のブロック及び第2のブロックの残差を取得する残差取得手段と、
前記基準画像及び参照画像を間引いて間引き画像を生成するデータ間引き部と、
前記データ間引き部が生成した前記間引き画像を用いた粗サーチにて前記残差取得手段が取得した前記残差を基に、前記マクロブロック毎に残差積分値を取得し、該残差積分値が小さいマクロブロックを所定数選出するブロック選出手段と、
前記ブロック選出手段が選出した前記各マクロブロックの残差積分値が大きいまたは小さいものから順に並べた時の所定順位の値を手ぶれ量とする手ぶれ量取得手段と、
を有し、
前記残差取得手段は、前記ブロック選出手段が選出した前記残差積分値が小さいマクロブロックに対して精サーチにて前記間引き画像より少ない間引き量の間引き画像、または非間引き画像の残差を取得し、前記手ぶれ量取得手段に出力する
手ぶれ量検出装置。 - 前記ブロック抽出手段は、前記参照画像を基に、隣接する複数のマクロブロックの中央に位置する所定の大きさのブロックを抽出して前記第2のブロックとし、前記基準画像を基に、前記参照画像の隣接する複数のマクロブロックに対応する隣接する複数のマクロブロック分のブロックを抽出して前記第1のブロックとする
ことを特徴とする請求項1に記載の手ぶれ量検出装置。 - 前記残差取得手段が前記残差を取得するより前に、前記各マクロブロックに対して輝度値の最大値と最小値との差を算出し、当該差が所定のしきい値よりも小さいと判定した場合に、当該差を有するマクロブロックを前記残差取得手段が残差を取得する対象から除外する輝度差比較手段
を更に有することを特徴とする請求項2に記載の手ぶれ量検出装置。 - 前記ブロック選出手段が前記所定数の前記マクロブロックを選出した後に、輝度値の最大値と最小値との差を算出し、当該差が所定のしきい値よりも小さいと判定した場合に、当該差を有するマクロブロックを前記残差取得手段が残差を取得する対象から除外する輝度差比較手段
を更に有することを特徴とする請求項2に記載の手ぶれ量検出装置。 - 前記データ間引き部は、前記基準画像及び参照画像のRAWデータの所定の成分のみを抽出し、間引いて前記間引き画像を生成し、
前記マクロブロック分割手段及び前記ブロック抽出手段は、前記基準画像及び前記参照画像の代わりに、前記データ間引き部が生成した前記間引き画像を使用する
ことを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の手ぶれ量検出装置。 - 前記残差取得手段は、前記粗サーチ時にブロック選出手段が選出した前記残差積分値が小さいマクロブロックに対して精サーチする際に、粗サーチ時にブロック内で最小の残差を取得した近傍の画素に対してのみ残差取得を行う
ことを特徴とする請求項1に記載の手ぶれ量検出装置。 - 前記残差取得手段は、前記ブロック抽出手段が抽出した前記第1のブロック及び第2のブロックの残差を取得する際に、全ての範囲の残差を取得せず、所定の範囲のみの残差を取得する
ことを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の手ぶれ量検出装置。 - 露出条件の異なる基準画像と参照画像を基に、マッチング処理を行い手ぶれ量を検出し当該手ぶれ量を基に手ぶれ補正を行う手ぶれ補正装置であって、
前記基準画像及び参照画像をそれぞれ複数のマクロブロックに分割するマクロブロック分割手段と、
前記マクロブロック分割手段が分割した前記基準画像から所定の大きさのマクロブロックによって構成される第1のブロックを抽出し、前記マクロブロック分割手段が分割した参照画像のマクロブロックから所定の大きさのマクロブロックによって構成される第2のブロックを抽出するブロック抽出手段と、
前記基準画像及び参照画像を間引いて間引き画像を生成するデータ間引き部と、
前記データ間引き部が生成した前記間引き画像を用いた粗サーチにて前記ブロック抽出手段が抽出した前記第1のブロック及び第2のブロックの残差を取得する残差取得手段と、
前記残差取得手段が取得した前記残差を基に、前記マクロブロック毎に残差積分値を取得し、該残差積分値が小さいマクロブロックを所定数選出するブロック選出手段と、
前記ブロック選出手段が選出した前記各マクロブロックの残差積分値が大きいまたは小さいものから順に並べた時の所定順位の値を手ぶれ量とする手ぶれ量取得手段と、
前記手ぶれ量算出手段の求めた前記手ぶれ量を基に、前記複数枚の画像を合成する画像合成手段と
を有し、
前記残差取得手段は、前記ブロック選出手段が選出した前記残差積分値が小さいマクロブロックに対して精サーチにて前記間引き画像より少ない間引き量の間引き画像、または非間引き画像の残差を取得し、前記手ぶれ量取得手段に出力する
ことを特徴とする手ぶれ補正装置。 - 光学系を通して被写体像を撮影する撮像装置であって、
露出条件の異なる基準画像と参照画像を基に、マッチング処理を行い手ぶれ量を検出する手ぶれ量検出装置を有し、
当該手ぶれ量検出装置は、
前記基準画像及び参照画像をそれぞれ複数のマクロブロックに分割するマクロブロック分割手段と、
前記マクロブロック分割手段が分割した前記基準画像から所定の大きさのマクロブロックによって構成される第1のブロックを抽出し、前記マクロブロック分割手段が分割した参照画像のマクロブロックから所定の大きさのマクロブロックによって構成される第2のブロックを抽出するブロック抽出手段と、
前記基準画像及び参照画像を間引いて間引き画像を生成するデータ間引き部と、
前記データ間引き部が生成した前記間引き画像を用いた粗サーチにて前記ブロック抽出手段が抽出した前記第1のブロック及び第2のブロックの残差を取得する残差取得手段と、
前記残差取得手段が取得した前記残差を基に、前記マクロブロック毎に残差積分値を取得し、該残差積分値が小さいマクロブロックを所定数選出するブロック選出手段と、
前記ブロック選出手段が選出した前記各マクロブロックの残差積分値が小さいものから順に並べた時の所定順位の値を手ぶれ量とする手ぶれ量取得手段と
を有し、
前記残差取得手段は、前記ブロック選出手段が選出した前記残差積分値が小さいマクロブロックに対して精サーチにて前記間引き画像より少ない間引き量の間引き画像、または非間引き画像の残差を取得し、前記手ぶれ量取得手段に出力する
ことを特徴とする撮像装置。 - 露出条件の異なる基準画像と参照画像を基に、マッチング処理を行い手ぶれ量を検出する手ぶれ量検出方法であって、
前記基準画像及び参照画像をそれぞれ複数のマクロブロックに分割する第1の工程と、
前記第1の工程において分割された前記基準画像から所定の大きさのマクロブロックによって構成される第1のブロックを抽出し、前記第1の工程において分割された参照画像のマクロブロックから所定の大きさのマクロブロックによって構成される第2のブロックを抽出する第2の工程と、
前記基準画像及び参照画像を間引いて生成した間引き画像を用いた粗サーチにて前記第1のブロック及び第2のブロックの残差を取得する第3の工程と、
前記第3の工程において取得された前記残差を基に、前記マクロブロック毎に残差積分値を取得し、該残差積分値が小さい前記マクロブロックを所定数選出する第4の工程と、
前記第4の工程において選出された前記各マクロブロックの残差積分値が小さいものから順に並べた時の所定順位の値を手ぶれ量とする第5の工程と
を有し、
前記第3の工程は、前記第4の工程において選出した前記残差積分値が小さいマクロブロックに対して精サーチにて前記間引き画像より少ない間引き量の間引き画像、または非間引き画像の残差を取得する第6の工程を有する
ことを特徴とする手ぶれ量検出方法。
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