JP5078465B2 - 電子写真感光体の検査方法 - Google Patents
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- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Description
等の原料ガスを分解し、導電性基体上にa−Si堆積膜を形成するプラズマCVD法により製造されている。この製造法においては、導電性基体上への堆積膜形成に寄与しない粉体が不可避的に発生する。
おける設定濃度を変化させて画像形成を行なうことにより、設定濃度に対する地かぶり発生率の濃度依存性を予め調べておき、設定濃度と地かぶりの発生率との関係において、設定濃度を変化させても地かぶりの発生率が略一定で推移する第1濃度域と、設定濃度が大きくなるにつれて地かぶり発生率が高くなる第2濃度域と、の境界またはその近傍濃度域に対応する表面電位での画像形成において画像欠陥を評価することを特徴とする、電子写真感光体の検査方法が提供される。
0.1ppm以上20000ppm以下であるのが好ましく、第15族元素は0.1ppm以上10000ppm以下であるのが好ましい。
電子写真感光体は、円筒状基体の外周面に感光層を形成することにより作製した。
画質の評価は、電子写真感光体を画像形成装置(「LS−3830」(画像露光650nmレーザ);京セラミタ製)に搭載し、白ベタ画像を出力させることにより地かぶりの発生率として評価した。
2 電子写真感光体
20 円筒状基体
28 光導電層
41 帯電器(帯電装置)
43 現像器(現像装置)
Claims (5)
- 基体上に光導電層を形成した電子写真感光体を、画像形成装置に搭載して印刷を行なって前記電子写真感光体を検査する方法であって、
前記画像形成装置における設定濃度を変化させて画像形成を行なうことにより、設定濃度に対する地かぶり発生率の濃度依存性を予め調べておき、
設定濃度と地かぶりの発生率との関係において、設定濃度を変化させても地かぶりの発生率が略一定で推移する第1濃度域と、設定濃度が大きくなるにつれて地かぶり発生率が高くなる第2濃度域と、の境界またはその近傍濃度域に対応する表面電位での画像形成において画像欠陥を評価することを特徴とする、電子写真感光体の検査方法。 - 前記設定濃度の調整は、前記画像形成装置における帯電装置によって前記電子写真感光体の表面に印加する表面電位を制御することによって行なう、請求項1に記載の電子写真感光体の検査方法。
- 湿度環境を変化させて画像形成を行なうことにより、画像濃度の湿度依存性を予め調べておき、
湿度と画像濃度の関係において、湿度を変化させても画像濃度が略一定で推移する湿度の範囲で画像欠陥を評価する、請求項1または2に記載の電子写真感光体の検査方法。 - 前記湿度は、相対湿度で20%以上60%以下である、請求項3に記載の電子写真感光体の検査方法。
- 前記画像形成装置における現像装置として、湿度を変化させても画像濃度が略一定で推移する湿度の範囲の環境下に放置されたものを使用する、請求項3または4に記載の電子写真感光体の検査方法。
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