JP5041772B2 - Display device - Google Patents

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本発明は、自発光型の表示素子を適用した表示装置とその駆動方法に関する。 The present invention relates to a display device using a self-luminous display element and a driving method thereof.

表示装置の駆動方法には、大別してアクティブマトリックス駆動とパッシブマトリックス駆動がある。パッシブマトリクス駆動は、表示素子をマトリックス状の電極で挟んだ簡単な構造であるため製造コストは安いが、ある画素を駆動しているときは他の画素を駆動できないため、大面積または高精細な表示装置には向かない。一方アクティブマトリクス駆動では、一つ一つの画素に能動素子と輝度情報を保持する手段が設けられているため製造コストはパッシブマトリクス駆動の表示装置に比べて高くなるが、ある画素を駆動していても他の画素は輝度情報を保持しつつ発光することができる。そのため、大面積または高精細な表示装置には、ほとんどアクティブマトリクス駆動方式が用いられている。 The driving method of the display device is roughly classified into active matrix driving and passive matrix driving. Passive matrix driving has a simple structure in which a display element is sandwiched between matrix electrodes, so that the manufacturing cost is low. However, when a certain pixel is driven, other pixels cannot be driven, so a large area or high definition is required. Not suitable for display devices. On the other hand, in active matrix driving, each pixel is provided with an active element and means for holding luminance information, so the manufacturing cost is higher than that of a passive matrix driving display device. However, other pixels can emit light while maintaining luminance information. For this reason, the active matrix driving method is mostly used for large-area or high-definition display devices.

アクティブマトリクス駆動の表示装置は、前述したように個々の画素において輝度情報を保持する手段が設けられているが、この輝度情報がデジタル値か、アナログ値かで、さらに分類することができる。輝度情報がデジタル値の場合、発光素子はオンまたはオフの2値しか持てないため、表示画像も2階調しか出せないが、2値の画像を素早く何回も表示することで多階調を表現する手法(時間階調法)が広く用いられている。また、輝度情報がアナログ値の場合は、表示素子の輝度は中間値で制御できるため、多階調を表示するときに時間階調法は必ずしも必要ではない。 As described above, the active matrix driving display device is provided with means for holding the luminance information in each pixel, and can be further classified according to whether the luminance information is a digital value or an analog value. When the luminance information is a digital value, the light-emitting element can only have binary values of on or off, so that the display image can only produce two gradations, but multiple gradations can be obtained by quickly displaying the binary image many times. An expression technique (time gradation method) is widely used. Further, when the luminance information is an analog value, the luminance of the display element can be controlled by an intermediate value, so that the time gray scale method is not necessarily required when displaying multiple gray scales.

輝度情報がアナログ値のアクティブマトリクス駆動表示装置には、主なものとして液晶ディスプレイが挙げられる。液晶ディスプレイは広く普及しているが、応答速度が遅く動画表示に向かない、視野角依存性があるという問題点がある。また、表示素子が自発光型ではないためバックライトが必要となり、消費電力が大きいという問題もある。そのため、液晶ディスプレイに替わる新たな表示装置の開発が望まれている。 A liquid crystal display is a main example of an active matrix drive display device whose luminance information is an analog value. Although liquid crystal displays are widely used, there is a problem that they have a viewing angle dependency that is slow in response speed and not suitable for moving image display. In addition, since the display element is not a self-luminous type, a backlight is necessary and there is a problem that power consumption is large. Therefore, development of a new display device that replaces the liquid crystal display is desired.

一方、画素を発光ダイオード(LED)などの発光素子で形成した、いわゆる自発光型の表示装置が注目を浴びている。このような自発光型の表示装置に用いられる発光素子としては、有機発光ダイオード(OLED(Organic Light Emitting Diode)、有機EL素子、エレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:EL)素子などとも言う)が注目を集めており、ELディスプレイなどに用いられるようになってきている。OLEDなどの発光素子は自発光型であるため、液晶ディスプレイに比べて画素の視認性が高く、バックライトが不要で応答速度が速い等の利点がある。そのため、この有機EL素子を表示素子としたアクティブマトリクス駆動表示装置の開発が、活発に行なわれている。 On the other hand, a so-called self-luminous display device in which a pixel is formed of a light emitting element such as a light emitting diode (LED) has attracted attention. As a light-emitting element used in such a self-luminous display device, an organic light-emitting diode (also referred to as an OLED (Organic Light Emitting Diode), an organic EL element, or an electroluminescence (EL) element) attracts attention. It has been used for EL displays and the like. Since light-emitting elements such as OLEDs are self-luminous, there are advantages such as higher pixel visibility than a liquid crystal display, no need for a backlight, and high response speed. Therefore, active matrix drive display devices using this organic EL element as a display element have been actively developed.

ここで、有機EL素子について説明する。有機EL素子の輝度は、流れる電流値によって決まる。有機EL素子をアクティブマトリクス駆動するときの問題点は、主としてこの性質による。すなわち、液晶ディスプレイのようにアナログ値の電圧を画素の輝度情報保持手段(例えば、容量素子)に書き込む場合、液晶ディスプレイのように表示素子にかける電圧をアナログ制御するのではなく、表示素子に流れる電流を制御する能動素子をアナログ的に制御することになるのである。この能動素子は個々のEL素子にそれぞれ設けられるため、能動素子の電気的特性が画素ごとにばらつけば、そのまま輝度のばらつきとして現れてしまう。 Here, the organic EL element will be described. The luminance of the organic EL element is determined by the flowing current value. The problem when the organic EL element is driven in an active matrix is mainly due to this property. That is, when an analog value voltage is written in the luminance information holding means (for example, a capacitive element) of a pixel as in a liquid crystal display, the voltage applied to the display element flows through the display element instead of being analog controlled as in a liquid crystal display. The active element that controls the current is controlled in an analog manner. Since this active element is provided for each EL element, if the electrical characteristics of the active element vary from pixel to pixel, it will appear as variations in luminance.

以上のような状況から、有機EL素子のような電流駆動型の表示素子をアナログ値でアクティブマトリクス駆動する場合には、表示素子を駆動する能動素子の特性ばらつきを補償することが重要である。その方法としては、例えば画素回路の構成を工夫し、電流入力型とすることが挙げられる。 From the above situation, when a current-driven display element such as an organic EL element is active-matrix driven with an analog value, it is important to compensate for variations in characteristics of the active element that drives the display element. As the method, for example, the configuration of the pixel circuit is devised to be a current input type.

電流入力型の画素回路では、画素に入力する輝度情報として、アナログ電流を用いる。なお、ここで言うアナログ電流とは、電流値を多段階で制御することのできる回路から出力される電流の事を指す。このような周辺駆動回路で表示素子の輝度に対応してつくられたアナログ電流(データ電流とも記す)を個々の画素の能動素子に流し、そのときの能動素子にかかる電圧を保持しておく。そうすれば、データ電流の供給がなくなった後も、その電流値を保持して表示素子に流し続けることができる。そのような画素回路の一例としては、図8に示す回路が挙げられる。図8に示す回路は、第1の電源線ANODE、第2の電源線CATHODE、データ電流Idataを流すための電流源、データ電流Idataが流れる配線DATA、表示素子10、駆動トランジスタTr1、輝度情報保持手段としての容量素子Cs、駆動トランジスタTr1のゲート電極とドレイン電極の接続をオン・オフするためのスイッチTr2、駆動トランジスタTr1にIdataを流す画素を選択するためのスイッチTr3、表示素子10と駆動トランジスタTr1のドレイン電極との接続をオン・オフするスイッチTr4、を有する。 In a current input type pixel circuit, an analog current is used as luminance information input to the pixel. Note that the analog current here refers to a current output from a circuit capable of controlling a current value in multiple stages. An analog current (also referred to as a data current) generated by such a peripheral drive circuit corresponding to the luminance of the display element is passed to the active element of each pixel, and the voltage applied to the active element at that time is held. Then, even after the supply of the data current is stopped, the current value can be held and continuously supplied to the display element. An example of such a pixel circuit is the circuit shown in FIG. The circuit shown in FIG. 8 includes a first power supply line ANODE, a second power supply line CATHODE, a current source for flowing a data current Idata, a wiring DATA through which the data current Idata flows, a display element 10, a drive transistor Tr1, and luminance information holding Capacitance element Cs as a means, switch Tr2 for turning on / off the connection between the gate electrode and the drain electrode of the drive transistor Tr1, switch Tr3 for selecting a pixel through which Idata flows to the drive transistor Tr1, the display element 10 and the drive transistor A switch Tr4 for turning on / off the connection with the drain electrode of Tr1 is provided.

電流入力型の画素回路は、能動素子の特性に関わらず、データ電流をそのまま表示素子に流し続けることができるため、電流駆動型の表示素子をアクティブマトリクス駆動するのに適した回路となる。しかし、有機EL素子のように、表示素子の駆動時の電流値が非常に小さい表示素子の場合、図8に示す回路は、データ電流の大きさと表示素子10の駆動時の電流値が1対1に対応しているため、データ電流を駆動トランジスタTr1に流したときに、容量素子Csに充電するための時間(プログラム時間とも記す)が非常に長くなってしまうという問題点があった。 The current input type pixel circuit can continue to pass the data current to the display element as it is regardless of the characteristics of the active element, and therefore is a circuit suitable for active matrix driving of the current drive type display element. However, in the case of a display element having a very small current value when the display element is driven, such as an organic EL element, the circuit shown in FIG. 8 has a pair of a data current magnitude and a current value when the display element 10 is driven. 1 corresponds to the problem that when the data current is supplied to the driving transistor Tr1, the time for charging the capacitor element Cs (also referred to as program time) becomes very long.

そのため、表示素子の駆動時の電流値に対するデータ電流の大きさを、画素回路にキャパシタを追加することで大きくできる電流入力型の画素回路が提案されている(特許文献1参照)。
特開2004−310006
Therefore, a current input type pixel circuit has been proposed in which the magnitude of the data current with respect to the current value at the time of driving the display element can be increased by adding a capacitor to the pixel circuit (see Patent Document 1).
JP 2004-310006 A

従来技術の画素回路の一例として、特許文献1の図5に対応した画素回路を、図9に示す(なお、特許文献1による符号が変更されている)。図9の回路構成は、図8に、直列に接続された閾値保持用キャパシタCtと容量接続用スイッチTr6が追加された画素回路に相当する。 As an example of a conventional pixel circuit, a pixel circuit corresponding to FIG. 5 of Patent Document 1 is shown in FIG. 9 (note that the reference in Patent Document 1 is changed). The circuit configuration of FIG. 9 corresponds to a pixel circuit in which a threshold holding capacitor Ct and a capacitor connection switch Tr6 connected in series are added to FIG.

特許文献1には、データ電流対応電圧(Vgs(data)とも記す)保持用キャパシタCsにVgs(data)を保持する前に、あらかじめ閾値保持用キャパシタCtに駆動トランジスタTr1の閾値電圧を保存しておき、CsにVgs(data)を保持した後にCtとCsを接続することで、表示素子の駆動時の電流値よりもデータ電流値を大きくすることができる旨が示されている。そして、その倍率は、Csの静電容量値に対するCtの静電容量値の増加に伴い大きくなるため、データ電流を大きくすることで、プログラム時間を短縮できることが記載されている。なお、表示素子の駆動時の電流値(Ioled)とデータ電流(Idata)の関係は、数式1のように表される。 In Patent Document 1, the threshold voltage of the drive transistor Tr1 is stored in advance in the threshold holding capacitor Ct before holding the Vgs (data) in the data current corresponding voltage (also referred to as Vgs (data)) holding capacitor Cs. In addition, it is shown that the data current value can be made larger than the current value when the display element is driven by connecting Ct and Cs after holding Vgs (data) in Cs. Since the magnification increases with an increase in the capacitance value of Ct with respect to the capacitance value of Cs, it is described that the programming time can be shortened by increasing the data current. The relationship between the current value (Ioled) and the data current (Idata) at the time of driving the display element is expressed as Equation 1.

Figure 0005041772
Figure 0005041772

ひとつの画素にデータ電流を書き込むのにかけられる時間は、1フレーム期間(約60分の1秒)を走査線本数で割った値となり、例えば320本の走査線がある表示装置では約50μ秒である。それに対し、数十nA程度の駆動電流となる表示素子(例えば、EL素子)で、データ電流の大きさも数十nA程度だった場合は、データ線の寄生容量を十分に充電するためには、数msの時間が必要となってしまう。充電に要する時間は電流値に比例するため、一つの画素に書き込む時間を数十μ秒以内に収めるには、データ電流は表示素子に流す電流値の約100倍は必要になる計算となる。すなわち、特許文献1に記載されている方法でデータ電流を書き込む場合、閾値保持用キャパシタCtの静電容量値は、Vgs(data)保持用キャパシタCsに対して、10倍程度は必要である。ここで、Vgs(data)を保持するために、Csにはある程度の静電容量値が必要なので、よりデータ電流を大きくするには、Ctの面積をより大きくしなければならない。 The time taken to write the data current to one pixel is a value obtained by dividing one frame period (about 1/60 second) by the number of scanning lines. For example, in a display device having 320 scanning lines, it takes about 50 μs. is there. On the other hand, in the case of a display element (for example, an EL element) having a driving current of about several tens of nA and a data current having a magnitude of about several tens of nA, in order to sufficiently charge the parasitic capacitance of the data line, A time of several ms is required. Since the time required for charging is proportional to the current value, in order to keep the time for writing to one pixel within several tens of microseconds, the data current is calculated to be about 100 times the current value flowing through the display element. That is, when the data current is written by the method described in Patent Document 1, the capacitance value of the threshold holding capacitor Ct needs to be about 10 times that of the Vgs (data) holding capacitor Cs. Here, in order to maintain Vgs (data), Cs needs a certain amount of capacitance value. Therefore, in order to increase the data current, the area of Ct must be increased.

ところが、Ctの面積を大きくするにつれて、画素の面積に対するCtの面積が増大するため、その分、画素の面積に対する表示素子の発光領域が占める面積(開口率とも記す)が低下してしまう。CtがCsの10倍程度必要だとすると、開口率の低下は深刻なものとなる。開口率の低下により、開口率が大きいときに比べて、表示素子に同じ電圧をかけて同じ電流密度の電流を流したとしても、開口率が小さいので、その分輝度が小さくなってしまう。また、同じ輝度を出すためには、その分大きな電流密度の電流を表示素子に流すために高い電圧を表示素子にかける必要があるので、消費電力が増加してしまう。その上、表示素子に大きな電流密度の電流を流すと、信頼性、寿命の点でも問題となる。 However, as the area of Ct is increased, the area of Ct with respect to the area of the pixel is increased, and accordingly, the area occupied by the light emitting region of the display element with respect to the area of the pixel is also reduced. If Ct needs to be about 10 times Cs, the aperture ratio will be seriously lowered. Due to the lowering of the aperture ratio, even when the same voltage is applied to the display element and currents having the same current density are applied as compared with the case where the aperture ratio is large, the aperture ratio is small, so that the luminance is reduced accordingly. Further, in order to obtain the same luminance, it is necessary to apply a high voltage to the display element in order to cause a current having a large current density to flow through the display element, so that power consumption increases. In addition, when a current having a large current density is passed through the display element, there is a problem in terms of reliability and life.

このように、特許文献1の画素構成を用いてプログラム時間を通常使用される時間範囲の中に収めるために短くしようとすれば、Ctを大きくする必要があるため、画素の開口率が低下してしまう。画素の開口率が低下すると、輝度、消費電力、信頼性、寿命など様々な問題を引き起こす。 As described above, if the program time is reduced to fall within the normally used time range using the pixel configuration of Patent Document 1, it is necessary to increase Ct, so that the aperture ratio of the pixel decreases. End up. When the aperture ratio of the pixel is lowered, various problems such as luminance, power consumption, reliability, and lifetime are caused.

本発明は、このような問題点に鑑みて、プログラム時間を短くしつつ、画素の開口率を大きくできる電流入力型画素回路を提供することを課題とする。 In view of such problems, it is an object of the present invention to provide a current input pixel circuit capable of increasing the aperture ratio of a pixel while shortening a program time.

上記課題を鑑み本発明は、表示素子を容量素子として機能させることを特徴とする。該容量素子には、表示素子を駆動するためのトランジスタの閾値電圧を書き込むことができる。そのため、閾値保持用キャパシタを設けることなく、トランジスタの閾値電圧を書き込むことができる。 In view of the above problems, the present invention is characterized in that a display element functions as a capacitor element. A threshold voltage of a transistor for driving the display element can be written in the capacitor. Therefore, the threshold voltage of the transistor can be written without providing a threshold holding capacitor.

以下に、本発明の具体的な構成について説明する。 The specific configuration of the present invention will be described below.

本発明の一形態は、データ電流を流すための複数のデータ線と、選択信号を伝達する複数の走査線と、データ線と走査線に接続された画素回路を複数有する画素部とを有し、画素回路は、データ電流に対応した輝度で発光する表示素子と、データ電流を表示素子に供給し、ソース電極およびドレイン電極とゲート電極を有する第1のトランジスタと、表示素子の陽極と同電位となる高電位側の第1の電源線と、表示素子の陰極と同電位となる低電位側の第2の電源線と、第1のトランジスタのソース電極とゲート電極間の電圧を保持する第1の容量素子と、第1のトランジスタのドレイン電極とゲート電極との接続を選択する第2のトランジスタと、データ線と画素回路との接続を選択することによって、データ電流を書き込む画素回路を選択する第3のトランジスタと、第1のトランジスタと表示素子との接続を選択する第4のトランジスタと、容量素子と表示素子との接続を選択する第5のトランジスタと、を有し、表示素子は、第2の容量素子として機能することを特徴とする表示装置である。 One embodiment of the present invention includes a plurality of data lines for flowing a data current, a plurality of scanning lines for transmitting a selection signal, and a pixel portion including a plurality of pixel circuits connected to the data lines and the scanning lines. The pixel circuit includes a display element that emits light with luminance corresponding to the data current, a first transistor that supplies the data current to the display element and includes a source electrode, a drain electrode, and a gate electrode, and the same potential as the anode of the display element A first power line on the high potential side, a second power line on the low potential side that has the same potential as the cathode of the display element, and a first voltage that holds the voltage between the source electrode and the gate electrode of the first transistor. The pixel circuit to which the data current is written is selected by selecting the connection between the first capacitor element, the second transistor that selects connection between the drain electrode and the gate electrode of the first transistor, and the connection between the data line and the pixel circuit. A third transistor that selects the connection between the first transistor and the display element, and a fifth transistor that selects the connection between the capacitor and the display element. The display device is characterized by functioning as a second capacitor element.

本発明の別形態は、データ電流を流すための複数のデータ線と、選択信号を伝達する複数の走査線と、データ線と走査線に接続された画素回路を複数有する画素部とを有し、画素回路は、データ電流に対応した輝度で発光する表示素子と、データ電流を表示素子に供給し、ソース電極およびドレイン電極とゲート電極を有する第1のトランジスタと、いずれか一方は、電位が変化する第1の電源線および第2の電源線と、第1のトランジスタのソース電極とゲート電極間の電圧を保持する第1の容量素子と、第1のトランジスタのドレイン電極とゲート電極との接続を選択する第2のトランジスタと、データ線と画素回路との接続を選択することによって、データ電流を書き込む画素回路を選択する第3のトランジスタと、第1のトランジスタと表示素子との接続を選択する第4のトランジスタと、第1の容量素子と表示素子との接続を選択する第5のトランジスタと、を有し、表示素子は、第2の容量素子として機能することを特徴とする表示装置である。 Another embodiment of the present invention includes a plurality of data lines for flowing a data current, a plurality of scanning lines for transmitting a selection signal, and a pixel portion including a plurality of pixel circuits connected to the data lines and the scanning lines. The pixel circuit includes a display element that emits light with luminance corresponding to the data current, a first transistor that supplies the data current to the display element and includes a source electrode, a drain electrode, and a gate electrode. A first power supply line and a second power supply line that change; a first capacitor that holds a voltage between a source electrode and a gate electrode of the first transistor; and a drain electrode and a gate electrode of the first transistor. A second transistor for selecting a connection; a third transistor for selecting a pixel circuit to which a data current is written by selecting a connection between the data line and the pixel circuit; and a first transistor And a fourth transistor for selecting connection between the display element and a fifth transistor for selecting connection between the first capacitor element and the display element. The display element functions as a second capacitor element. The display device is characterized by the above.

本発明の別形態は、データ線駆動回路と、データ線駆動回路に接続された複数のデータ線と、走査線駆動回路と、走査線駆動回路に接続された複数の走査線と、データ線と走査線に接続された画素回路を複数有する画素部とを有し、画素回路は、データ線から供給されるデータ電流に対応した輝度で発光する表示素子と、データ電流を表示素子に供給し、ソース電極およびドレイン電極とゲート電極を有する第1のトランジスタと、いずれか一方は、電位が変化する第1の電源線および第2の電源線と、第1のトランジスタのソース電極とゲート電極間の電圧を保持する第1の容量素子と、走査線駆動回路により制御され、第1のトランジスタのドレイン電極とゲート電極との接続を選択する第2のトランジスタと、データ線と画素回路との接続を選択することによって、データ電流を書き込む画素回路を選択する第3のトランジスタと、第1のトランジスタと表示素子との接続を選択する第4のトランジスタと、第1の容量素子と表示素子との接続を選択する第5のトランジスタと、を有し、表示素子は、第2の容量素子として機能することを特徴とする表示装置である。 Another embodiment of the present invention includes a data line driving circuit, a plurality of data lines connected to the data line driving circuit, a scanning line driving circuit, a plurality of scanning lines connected to the scanning line driving circuit, and a data line. A pixel portion having a plurality of pixel circuits connected to the scanning line, the pixel circuit supplying a display element that emits light with a luminance corresponding to the data current supplied from the data line, and a data current to the display element; One of the first transistor having the source electrode, the drain electrode, and the gate electrode is either a first power supply line or a second power supply line whose potential changes, and between the source electrode and the gate electrode of the first transistor. A first capacitor that holds a voltage; a second transistor that is controlled by a scan line driver circuit and selects connection between a drain electrode and a gate electrode of the first transistor; and a data line and a pixel circuit A third transistor that selects a pixel circuit to which a data current is written, a fourth transistor that selects a connection between the first transistor and the display element, a first capacitor element, and a display element. A display device, wherein the display element functions as a second capacitor.

本発明の別形態は、第1のトランジスタと、前記第1のトランジスタに接続された第2のトランジスタと、前記第1のトランジスタと電流源の間に設けられた第3のトランジスタと、表示素子と、前記表示素子と、前記第1のトランジスタの間に設けられた第4のトランジスタ及び第5のトランジスタと、を有し、1フレーム期間内には、前記表示素子に電荷を蓄積する閾値書込期間の後に、前記表示素子を発光させる発光期間を有し、前記閾値書込期間において、前記第1のトランジスタはオン、前記第2のトランジスタはオン、前記第3のトランジスタはオフ、前記第4のトランジスタはオフ、前記第5のトランジスタはオンとなっており、前記発光期間において、前記第2のトランジスタはオフ、前記第3のトランジスタはオフ、前記第4のトランジスタはオン、前記第5のトランジスタはオフとなっていることを特徴とする表示装置の駆動方法。 Another embodiment of the present invention includes a first transistor, a second transistor connected to the first transistor, a third transistor provided between the first transistor and a current source, and a display element. And a threshold value document for accumulating charges in the display element within one frame period, the display element and a fourth transistor and a fifth transistor provided between the first transistor and the display element. A light emission period for causing the display element to emit light after the turn-in period, and in the threshold writing period, the first transistor is on, the second transistor is on, the third transistor is off, 4 transistor is off, the fifth transistor is on, and in the light emission period, the second transistor is off, the third transistor is off, 4 transistors ON, a driving method of a display device, wherein the fifth transistor is turned off.

本発明の別形態は、第1のトランジスタと、前記第1のトランジスタに接続された第2のトランジスタと、前記第1のトランジスタと電源線に接続された容量素子と、前記第1のトランジスタと電流源の間に設けられた第3のトランジスタと、表示素子と、前記表示素子と、前記第1のトランジスタの間に設けられた第4のトランジスタ及び第5のトランジスタと、を有し、1フレーム期間内には、前記表示素子と前記容量素子に電荷を分配するCs書き換え期間の後に、前記表示素子を発光させる発光期間を有し、前記Cs書き換え期間において、前記第2のトランジスタはオフ、前記第3のトランジスタはオフ、前記第4のトランジスタはオフ、前記第5のトランジスタはオンとなっており、前記発光期間において、前記第2のトランジスタはオフ、前記第3のトランジスタはオフ、前記第4のトランジスタはオン、前記第5のトランジスタはオフとなっていることを特徴とする表示装置の駆動方法。 Another embodiment of the present invention includes a first transistor, a second transistor connected to the first transistor, a capacitor connected to the first transistor and a power supply line, and the first transistor. A third transistor provided between current sources, a display element, the display element, and a fourth transistor and a fifth transistor provided between the first transistors; Within the frame period, there is a light emission period for causing the display element to emit light after a Cs rewrite period for distributing charge to the display element and the capacitor element, and in the Cs rewrite period, the second transistor is off, The third transistor is off, the fourth transistor is off, and the fifth transistor is on. During the light emission period, the second transistor is off. Motor off, the third transistor is turned off, the fourth transistor is turned on, the driving method of a display device, wherein the fifth transistor is turned off.

本発明の別形態は、第1のトランジスタと、前記第1のトランジスタに接続された第2のトランジスタと、前記第1のトランジスタと電流源の間に設けられた第3のトランジスタと、表示素子と、前記表示素子と、前記第1のトランジスタの間に設けられた第4のトランジスタ及び第5のトランジスタと、を有し、1フレーム期間内には、前記表示素子に電荷を蓄積する閾値書込期間の後に、前記表示素子を発光させる発光期間を有し、前記閾値書込期間において、前記第1のトランジスタはオン、前記第2のトランジスタはオン、前記第3のトランジスタはオフ、前記第4のトランジスタはオフ、前記第5のトランジスタはオンであり、且つ前記表示素子の陰極側の電源線の電位は前記表示素子の陽極側の電源線の電位と同じ又はほぼ同じになっており、前記発光期間において、前記第1のトランジスタはオン、前記第2のトランジスタはオフ、前記第3のトランジスタはオフ、前記第4のトランジスタはオン、前記第5のトランジスタはオフであり、且つ前記表示素子の陰極側の電源線の電位は前記表示素子の陽極側の電源線の電位よりも低くなっていることを特徴とする表示素子の駆動方法。 Another embodiment of the present invention includes a first transistor, a second transistor connected to the first transistor, a third transistor provided between the first transistor and a current source, and a display element. And a threshold value document for accumulating charges in the display element within one frame period, the display element and a fourth transistor and a fifth transistor provided between the first transistor and the display element. A light emission period for causing the display element to emit light after the turn-in period, and in the threshold writing period, the first transistor is on, the second transistor is on, the third transistor is off, The transistor No. 4 is off, the fifth transistor is on, and the potential of the power line on the cathode side of the display element is the same as or substantially the same as the potential of the power line on the anode side of the display element In the light emission period, the first transistor is on, the second transistor is off, the third transistor is off, the fourth transistor is on, and the fifth transistor is off. The display element driving method is characterized in that the potential of the power line on the cathode side of the display element is lower than the potential of the power line on the anode side of the display element.

本発明の別形態は、第1のトランジスタと、前記第1のトランジスタに接続された第2のトランジスタと、前記第1のトランジスタと電源線に接続された容量素子と、前記第1のトランジスタと電流源の間に設けられた第3のトランジスタと、表示素子と、前記表示素子と、前記第1のトランジスタの間に設けられた第4のトランジスタ及び第5のトランジスタと、を有し、1フレーム期間内には、前記表示素子と前記容量素子に電荷を分配するCs書き換え期間の後に、前記表示素子を発光させる発光期間を有し、前記Cs書き換え期間において、前記第2のトランジスタはオフ、前記第3のトランジスタはオフ、前記第4のトランジスタはオフ、前記第5のトランジスタはオンであり、且つ前記表示素子の陰極側の電源線の電位は前記表示素子の陽極側の電源線の電位と同じ又はほぼ同じになっており、前記Cs書き換え期間後の発光期間において、前記第2のトランジスタはオフ、前記第3のトランジスタはオフ、前記第4のトランジスタはオン、前記第5のトランジスタはオフとなり、且つ前記表示素子の陰極側の電源線の電位は前記表示素子の陽極側の電源線の電位よりも低くなっていることを特徴とする表示素子の駆動方法。 Another embodiment of the present invention includes a first transistor, a second transistor connected to the first transistor, a capacitor connected to the first transistor and a power supply line, and the first transistor. A third transistor provided between current sources, a display element, the display element, and a fourth transistor and a fifth transistor provided between the first transistors; Within the frame period, there is a light emission period for causing the display element to emit light after a Cs rewrite period for distributing charge to the display element and the capacitor element, and in the Cs rewrite period, the second transistor is off, The third transistor is off, the fourth transistor is off, the fifth transistor is on, and the potential of the power supply line on the cathode side of the display element is the above table. The potential of the power supply line on the anode side of the element is the same or substantially the same, and in the light emission period after the Cs rewrite period, the second transistor is off, the third transistor is off, and the fourth transistor In which the fifth transistor is turned off, and the potential of the power line on the cathode side of the display element is lower than the potential of the power line on the anode side of the display element. Driving method.

本発明において第1乃至第5のトランジスタは、同一極性を有することを特徴とする表示装置の駆動方法。   In the present invention, the first to fifth transistors have the same polarity, and the method for driving the display device is characterized.

本発明において第1のトランジスタの極性はPチャネル型であり、第1のトランジスタのソース電極及びドレイン電極のうち、表示素子が発光しているときの電位が高い方の電極と、第1の電源線とが接続される。 In the present invention, the polarity of the first transistor is a P-channel type. Of the source electrode and the drain electrode of the first transistor, the electrode having the higher potential when the display element emits light and the first power source The line is connected.

本発明において第1のトランジスタの極性はNチャネル型であり、第1のトランジスタのソース電極及びドレイン電極のうち、表示素子が発光しているときの電位が低い方の電極と、第1の電源線とが接続される。 In the present invention, the polarity of the first transistor is an N-channel type. Of the source electrode and the drain electrode of the first transistor, the electrode having the lower potential when the display element emits light and the first power source The line is connected.

本発明の別形態は、第1の配線と、第2の配線と、駆動装置と、表示素子と、スイッチ素子と、を有し、前記第1の配線は、前記駆動装置と電気的に接続され、前記第2の配線は、前記表示素子と電気的に接続され、前記駆動装置と前記表示素子は、前記スイッチ素子を介して電気的に接続されていることを特徴とする表示装置である。   Another embodiment of the present invention includes a first wiring, a second wiring, a driving device, a display element, and a switching element, and the first wiring is electrically connected to the driving device. In the display device, the second wiring is electrically connected to the display element, and the driving device and the display element are electrically connected via the switch element. .

本発明の別形態は、第1の配線と、第2の配線と、駆動装置と、表示素子と、スイッチ素子と、容量素子と、を有し、前記駆動装置は、前記第1の配線と電気的に接続され、前記容量素子の第1の電極は、前記第1の配線と電気的に接続され、前記容量素子の第2の電極は、前記駆動装置と電気的に接続され、前記表示素子の第1の電極は、前記第2の配線と電気的に接続され、前記表示素子の第2の電極と前記容量素子の第2の電極は、前記スイッチ素子を介して電気的に接続されていることを特徴とする表示装置である。   Another embodiment of the present invention includes a first wiring, a second wiring, a driving device, a display element, a switching element, and a capacitor, and the driving device includes the first wiring, The first electrode of the capacitor is electrically connected to the first wiring, the second electrode of the capacitor is electrically connected to the driving device, and the display The first electrode of the element is electrically connected to the second wiring, and the second electrode of the display element and the second electrode of the capacitor element are electrically connected via the switch element. It is the display device characterized by having.

第1の配線と、第2の配線と、駆動装置と、表示素子と、第1のスイッチ素子と、第2のスイッチ素子と、容量素子と、を有し、前記駆動装置は、前記第1の配線と電気的に接続され、前記容量素子の第1の電極は、前記第1の配線と電気的に接続され、前記容量素子の第2の電極は、前記駆動装置と電気的に接続され、前記表示素子の第1の電極は、前記第2の配線と電気的に接続され、前記表示素子の第2の電極と前記駆動装置は、前記第1のスイッチ素子を介して電気的に接続され、前記表示素子の第2の電極と前記容量素子の第2の電極は、前記第2のスイッチ素子を介して電気的に接続されていることを特徴とする表示装置である。   A first wiring; a second wiring; a driving device; a display element; a first switching element; a second switching element; and a capacitive element. A first electrode of the capacitor is electrically connected to the first wire, and a second electrode of the capacitor is electrically connected to the driving device. The first electrode of the display element is electrically connected to the second wiring, and the second electrode of the display element and the driving device are electrically connected via the first switch element. The display device is characterized in that the second electrode of the display element and the second electrode of the capacitor element are electrically connected through the second switch element.

本発明において、前記駆動装置はトランジスタである。   In the present invention, the driving device is a transistor.

本発明の別形態は、1フレーム期間内に、第1乃至第4の期間を有する表示装置の駆動方法であって、前記表示装置は、第1の容量素子と、表示素子と、第1乃至第5のトランジスタと、第1及び第2の配線と、を有し、前記第1の期間において、前記表示素子に電荷を蓄積し、前記第2の期間において、前記第1の容量素子に電荷を蓄積し、前記第3の期間において、前記第1の容量素子の一方の電極と前記第1の配線とを電気的に接続し、前記第1の容量素子の他方の電極と前記第5のトランジスタの第1の端子とを電気的に接続し、前記第5のトランジスタの第2の端子と前記表示素子の一方の電極とを電気的に接続し、前記表示素子の他方の電極と前記第2の配線とを電気的に接続し、前記第5のトランジスタをオンにすることにより、前記表示素子に蓄積された電荷と前記第1の容量素子に蓄積された電荷とを前記表示素子と前記容量素子に分配し、前記第4の期間において、前記第1のトランジスタの第1の端子と前記第1の配線とを電気的に接続し、前記第1のトランジスタの第2の端子と前記第4のトランジスタの第1の端子とを電気的に接続し、前記第4のトランジスタと前記表示素子の一方の電極とを電気的に接続し、前記表示素子の他方の電極と前記第2の配線に電気的に接続し、前記第1及び第4のトランジスタをオンにすることにより、前記表示素子を発光させることを特徴とする表示装置の駆動方法である。   Another embodiment of the present invention is a method for driving a display device having first to fourth periods within one frame period, the display device including a first capacitor element, a display element, and first to fourth elements. A fifth transistor; and a first wiring and a second wiring. The charge is accumulated in the display element in the first period, and the charge is accumulated in the first capacitor element in the second period. And electrically connecting one electrode of the first capacitor and the first wiring in the third period, and connecting the other electrode of the first capacitor and the fifth electrode A first terminal of the transistor is electrically connected; a second terminal of the fifth transistor is electrically connected to one electrode of the display element; and the other electrode of the display element is connected to the first electrode 2 are electrically connected to each other to turn on the fifth transistor. , The charge accumulated in the display element and the charge accumulated in the first capacitor element are distributed to the display element and the capacitor element, and the first transistor of the first transistor is distributed in the fourth period. A terminal is electrically connected to the first wiring, a second terminal of the first transistor is electrically connected to a first terminal of the fourth transistor, and the fourth transistor is Electrically connecting one electrode of the display element, electrically connecting the other electrode of the display element and the second wiring, and turning on the first and fourth transistors; A display device driving method, wherein the display element emits light.

本発明において、前記第1乃至第3の期間では、表示素子の陰極側に接続された第1の配線の電位は、陽極側に接続された第2の配線の電位と、同じ又はほぼ同じであり、第4の期間では、表示素子の陰極側に接続された第1の配線の電位は、陽極側に接続された第2の配線の電位より低くなる。 In the present invention, in the first to third periods, the potential of the first wiring connected to the cathode side of the display element is the same as or substantially the same as the potential of the second wiring connected to the anode side. In the fourth period, the potential of the first wiring connected to the cathode side of the display element is lower than the potential of the second wiring connected to the anode side.

本発明において、表示素子は第2の容量素子としても機能する。 In the present invention, the display element also functions as a second capacitor element.

本発明において、第1の配線及び第2の配線のいずれか一方は、電位が変化する。 In the present invention, the potential of either the first wiring or the second wiring changes.

本発明において第1乃至第5のトランジスタは、同一極性を有することができる。 In the present invention, the first to fifth transistors can have the same polarity.

本発明において第1のトランジスタの極性はPチャネル型である。 In the present invention, the polarity of the first transistor is a P-channel type.

本発明において第1のトランジスタの極性はNチャネル型である。 In the present invention, the polarity of the first transistor is an N-channel type.

以上のように、閾値保持用キャパシタCtを表示素子の容量Celで代替することによって、Ctを配置することなく、表示素子の駆動電流に対してデータ電流を大きくできる。また、Ctを画素内に配置しない分、開口率を大きくすることができる。また、開口率を大きくすると、表示素子の容量Celが大きくなるため、さらにデータ電流を大きくすることができる。このように、開口率の増加がデータ電流の増加につながるため効果が相乗し、絶大な効果を得ることができる。 As described above, by replacing the threshold value holding capacitor Ct with the capacitance Cel of the display element, the data current can be increased with respect to the drive current of the display element without disposing Ct. Further, the aperture ratio can be increased by the amount Ct is not arranged in the pixel. Further, when the aperture ratio is increased, the capacitance Cel of the display element is increased, so that the data current can be further increased. Thus, since the increase in aperture ratio leads to the increase in data current, the effects are synergistic, and a great effect can be obtained.

以下に、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。ただし、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. However, the present invention can be implemented in many different modes, and those skilled in the art can easily understand that the modes and details can be variously changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Is done. Therefore, the present invention is not construed as being limited to the description of this embodiment mode.

なお本明細書において接続とは、特に記載のない限り電気的な接続を意味する。逆に切り離すとは、接続していないで電気的に分離している状態を意味する。 In this specification, connection means an electrical connection unless otherwise specified. On the contrary, the disconnection means a state in which the connection is not established and the connection is electrically separated.

(実施の形態1)
本実施の形態では、まず本発明にかかる表示装置を、図3を参照しながら説明する。本発明にかかる表示装置は、周辺駆動回路としてのデータ線駆動回路302と、走査線駆動回路303と、データ線駆動回路302によって駆動されるn本のデータ線(X1〜Xn)(nは整数)と、走査線駆動回路303によって駆動されるm本の走査線(Y1〜Ym)(mは整数)と、複数のm本の走査線とn本のデータ線の交差する位置に配置される複数の画素回路304と、前記複数の画素回路304を有する画素部301と、を備える。走査線には、選択信号が伝達され、データ線には画像信号を表すデータ電流が流れる。なお、図3では一つの画素回路304に対し1本のデータ線及び走査線を備える場合を示しているが、本発明においてはこれに限らず、一つの画素回路304に対して複数の走査線およびデータ線を備えていても良い。こうすることで、同時にデータ電流を書き込むことのできる画素の数が増え、書き込みにかかる時間を低減できる。また本発明において、駆動回路の数は限定されず、複数のデータ線駆動回路や複数の走査線駆動回路を設けることができる。
(Embodiment 1)
In this embodiment, first, a display device according to the present invention will be described with reference to FIG. A display device according to the present invention includes a data line driving circuit 302 as a peripheral driving circuit, a scanning line driving circuit 303, and n data lines (X1 to Xn) (n is an integer) driven by the data line driving circuit 302. ), M scanning lines (Y1 to Ym) (m is an integer) driven by the scanning line driving circuit 303, and a plurality of m scanning lines and n data lines intersect with each other. A plurality of pixel circuits 304 and a pixel portion 301 including the plurality of pixel circuits 304 are provided. A selection signal is transmitted to the scanning line, and a data current representing an image signal flows to the data line. Note that FIG. 3 shows the case where one pixel circuit 304 includes one data line and scanning line. However, the present invention is not limited to this, and a plurality of scanning lines are provided for one pixel circuit 304. And a data line. By doing so, the number of pixels to which data current can be simultaneously written increases, and the time required for writing can be reduced. In the present invention, the number of driver circuits is not limited, and a plurality of data line driver circuits and a plurality of scan line driver circuits can be provided.

次に、画素回路304の構成について、図1を参照して説明する。複数の画素回路304はそれぞれ、第1の電源線ANODEと、第2の電源線CATHODEと、データ電流Idataを流すデータ線DATAと、容量素子Celとしても機能する表示素子と、データ電流Idataを書き込む画素を選択するスイッチ素子Tr3と、表示素子と直列に接続され、表示素子に流れる電流を制御する第1のトランジスタ(駆動トランジスタとも記す)Tr1と、駆動トランジスタTr1のゲート電極に接続され、駆動トランジスタTr1にデータ電流Idataを流したときに、その電流値を流すだけの駆動トランジスタTr1のゲートとソースとの間電圧(ゲート−ソース間電圧)Vgs(data)を保持する容量素子Csと、駆動トランジスタTr1のゲート−ドレイン間の接続をオン又はオフとするスイッチ素子Tr2と、表示素子と直列に接続され、表示素子と駆動トランジスタTr1の接続をオン又はオフとするスイッチ素子Tr4と、容量素子Csと表示素子の接続をオン又はオフとするスイッチ素子Tr5と、を備える。また表示素子としてEL素子20を有し、図中発光ダイオードと容量素子とを有するような回路図となっているが、EL素子20が発光する機能と容量素子の機能の両機能を有する。本発明の画素回路は、EL素子の容量素子Celにより閾値保持用キャパシタCtを設けることなく、駆動トランジスタTr1の閾値電圧を蓄積することができる。なお画素回路304において、第1の電源線ANODEの電位と、第2の電源線CATHODEの電位を動かすことによって表示装置を駆動することができる。なお、第2の電源線CATHODEは全ての画素回路に共通に接続することができる。 Next, the configuration of the pixel circuit 304 will be described with reference to FIG. Each of the plurality of pixel circuits 304 writes the first power supply line ANODE, the second power supply line CATHODE, the data line DATA through which the data current Idata flows, the display element that also functions as the capacitor Cel, and the data current Idata. A switching element Tr3 that selects a pixel, a first transistor (also referred to as a driving transistor) Tr1 that is connected in series with the display element and controls a current flowing through the display element, and a driving transistor that is connected to the gate electrode of the driving transistor Tr1 A capacitive element Cs that holds a voltage (gate-source voltage) Vgs (data) between the gate and the source of the driving transistor Tr1 that allows only the current value to flow when the data current Idata flows through Tr1, and the driving transistor Turn on or off the connection between the gate and drain of Tr1 The switch element Tr2, which is connected in series with the display element and which turns on or off the connection between the display element and the drive transistor Tr1, and the switch element Tr5 which turns on or off the connection between the capacitive element Cs and the display element . In addition, the EL element 20 is provided as a display element, and the circuit diagram in the drawing includes a light emitting diode and a capacitor, but the EL element 20 has both a function of emitting light and a function of a capacitor. The pixel circuit of the present invention can accumulate the threshold voltage of the drive transistor Tr1 without providing the threshold holding capacitor Ct by the capacitor Cel of the EL element. Note that in the pixel circuit 304, the display device can be driven by moving the potential of the first power supply line ANODE and the potential of the second power supply line CATHODE. Note that the second power supply line CATHODE can be commonly connected to all the pixel circuits.

スイッチとして機能する素子は、様々な形態のものを用いることができ、一例として、電気的スイッチや機械的なスイッチなどがある。つまり、電流の流れを制御できるものであればよく、特定のものに限定されず、様々なものを用いることができる。例えば、トランジスタでもよいし、ダイオード(PNダイオード、PINダイオード、ショットキーダイオード、ダイオード接続のトランジスタなど)でもよいし、それらを組み合わせた論理回路でもよい。よって、スイッチとしてトランジスタを用いる場合、薄膜トランジスタ(TFTとも記す)を用いることができる。また駆動トランジスタとしても、薄膜トランジスタを用いることができる。トランジスタをスイッチとして用いるときは、トランジスタの極性(導電型)はPチャネル型でも、Nチャネル型でも良く、全て同一極性であってもよい。一般的に、Pチャネル型トランジスタは信頼性が高く、Nチャネル型トランジスタはオン電流が大きい。これらに基づき、いずれの極性を適用するか決定することができる。ただし、オフ電流が少ない方が望ましい場合、オフ電流が少ない方の極性のトランジスタを用いることが望ましい。オフ電流が少ないトランジスタとしては、LDD領域を設けているものやマルチゲート構造にしているもの等がある。また、スイッチとして動作させるトランジスタのソース端子の電位が、低電位側電源(Vss、GND、0Vなど)に近い状態で動作する場合はNチャネル型を、反対に、ソース端子の電位が、高電位側電源(Vddなど)に近い状態で動作する場合はPチャネル型を用いることが望ましい。なぜなら、ゲートソース間電圧の絶対値を大きくできるため、スイッチとして、動作しやすいからである。なお、Nチャネル型とPチャネル型の両方を用いて、CMOS型のスイッチにしてもよい。CMOS型のスイッチにすると、入力電圧が出力電圧に対して、高かったり、低かったりして、状況が変化する場合においても、適切に動作を行うことが出来る。 The element functioning as a switch can have various forms, and examples include an electrical switch and a mechanical switch. In other words, any device can be used as long as it can control the flow of current, and it is not limited to a specific device, and various devices can be used. For example, a transistor, a diode (a PN diode, a PIN diode, a Schottky diode, a diode-connected transistor, or the like), or a logic circuit that is a combination thereof may be used. Thus, in the case where a transistor is used as a switch, a thin film transistor (also referred to as a TFT) can be used. A thin film transistor can also be used as the driving transistor. When a transistor is used as a switch, the polarity (conductivity type) of the transistor may be a P-channel type, an N-channel type, or all may have the same polarity. In general, a P-channel transistor has high reliability, and an N-channel transistor has a large on-state current. Based on these, it is possible to determine which polarity is applied. However, when it is desirable that the off-state current is small, it is desirable to use a transistor having a polarity with a small off-state current. As a transistor with low off-state current, there are a transistor provided with an LDD region and a transistor having a multi-gate structure. Further, when the transistor operated as a switch operates at a source terminal potential close to a low potential power source (Vss, GND, 0 V, etc.), the N-channel type is used. On the contrary, the source terminal potential is a high potential. When operating in a state close to the side power supply (Vdd or the like), it is desirable to use a P-channel type. This is because the absolute value of the voltage between the gate and the source can be increased, so that it can easily operate as a switch. Note that both N-channel and P-channel switches may be used as CMOS switches. When the CMOS type switch is used, even when the input voltage is higher or lower than the output voltage and the situation changes, the operation can be appropriately performed.

ただし、EL素子に流れる電流を制御する駆動トランジスタTr1の極性は、EL素子20が発光するときの駆動トランジスタTr1に接続されている第1の電源線ANODEの電位によって決まる。例えば、図1のように、EL素子20の陽極が駆動トランジスタTr1に接続されているときは、発光するとき、電流の経路は第1の電源線ANODE、駆動トランジスタTr1、EL素子20の順である。このとき、駆動トランジスタTr1に接続される第1の電源線ANODEが、この経路の中で一番高い電位を持つ。第1の電源線ANODEが高い電位を持てば駆動トランジスタTr1はPチャネル型、低い電位を持つならば駆動トランジスタTr1はNチャネル型となる。それは、飽和領域で動作するトランジスタを流れる電流値はそのゲート−ソース間電圧によって変わるため、電流値を一定にするならば、ソース電極が電源線に接続されているほうが電流値を制御しやすいからである。なお、ソース電極とは、トランジスタのソース電極及びドレイン電極のうち、Pチャネル型トランジスタの場合は高電位側の電極、Nチャネル型トランジスタの場合は低電位側の電極を指す。 However, the polarity of the drive transistor Tr1 that controls the current flowing through the EL element is determined by the potential of the first power supply line ANODE connected to the drive transistor Tr1 when the EL element 20 emits light. For example, as shown in FIG. 1, when the anode of the EL element 20 is connected to the drive transistor Tr1, when light is emitted, the current path is in the order of the first power supply line ANODE, the drive transistor Tr1, and the EL element 20. is there. At this time, the first power supply line ANODE connected to the drive transistor Tr1 has the highest potential in this path. If the first power supply line ANODE has a high potential, the driving transistor Tr1 becomes a P-channel type, and if it has a low potential, the driving transistor Tr1 becomes an N-channel type. This is because the value of the current flowing through the transistor operating in the saturation region varies depending on the gate-source voltage. Therefore, if the current value is constant, it is easier to control the current value if the source electrode is connected to the power supply line. It is. Note that the source electrode refers to a high-potential side electrode in the case of a P-channel transistor and a low-potential side electrode in the case of an N-channel transistor among the source and drain electrodes of the transistor.

駆動トランジスタTr1とそれぞれのスイッチ用トランジスタの極性が一致している必要は必ずしもないが、トランジスタの極性がどちらかに統一されていれば、トランジスタを作製するプロセスの数が減少するため、コストの面で有利である。 The polarity of the driving transistor Tr1 and each switching transistor are not necessarily the same. However, if the polarity of the transistors is unified, the number of processes for manufacturing the transistors is reduced. Is advantageous.

また、大面積で安価に作製できるアモルファスシリコンTFTを駆動トランジスタTr1および各スイッチ素子に利用できるため、コストの面でさらに有利である。アモルファスシリコンTFTを用いる場合、トランジスタの極性は、全てNチャネル型とするとよい。図7には、図1に示した画素回路において全てNチャネル型のトランジスタを用いた画素回路を示す。 Further, since an amorphous silicon TFT which can be manufactured at a low cost with a large area can be used for the drive transistor Tr1 and each switch element, it is further advantageous in terms of cost. In the case of using an amorphous silicon TFT, all the polarities of the transistors are preferably N-channel type. FIG. 7 shows a pixel circuit using all N-channel transistors in the pixel circuit shown in FIG.

なお、本実施形態では、スイッチ用トランジスタと駆動トランジスタの極性は、全てPチャネル型として説明する。 Note that in this embodiment, the polarity of the switching transistor and the driving transistor are all assumed to be P-channel types.

次に、図1に示す本実施形態の画素回路の駆動方法について、図2を参照して説明する。図2は、データ線DATA、第2の電源線CATHODE、スイッチ用トランジスタTr2、Tr3、Tr4、Tr5のゲート電極のそれぞれの電位の変化を、横軸を時間として表したタイミングチャートである。 Next, a driving method of the pixel circuit of this embodiment shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a timing chart in which changes in potentials of the gate electrodes of the data line DATA, the second power supply line CATHODE, and the switching transistors Tr2, Tr3, Tr4, and Tr5 are expressed in terms of time on the horizontal axis.

本実施形態における表示装置の駆動は、1フレーム期間201を1単位とし、1フレーム期間201は初期化期間202、閾値書込期間203、アドレス期間204、発光期間205を有するように構成されている。ここで、初期化期間202とは、閾値書込期間203での閾値書込動作を確実に行なえるようにするために設ける期間のことである。また、閾値書込期間203とは、EL素子20による容量素子Celに駆動トランジスタTr1の閾値電圧を書き込むための期間である。また、アドレス期間204とは、全ての画素にデータ電流の書き込みを行なう期間のことである。なお、駆動トランジスタTr1の閾値電圧を書き込んだEL素子20の容量素子Celを、データ電流Idataに対応した駆動トランジスタTr1のゲートとソースとの間電圧(ゲート−ソース間電圧と記す):Vgs(data)を書き込んだ容量素子Csと接続し電荷を分配することで、大きなデータ電流で画素にデータ電流を書き込むことができる。また、発光期間205とは、アドレス期間204で書き込みを行なったデータ電流にしたがって、EL素子20を発光させる期間のことである。 The display device according to this embodiment is configured so that one frame period 201 is a unit, and one frame period 201 includes an initialization period 202, a threshold writing period 203, an address period 204, and a light emission period 205. . Here, the initialization period 202 is a period provided to ensure that the threshold writing operation in the threshold writing period 203 can be performed. The threshold writing period 203 is a period for writing the threshold voltage of the driving transistor Tr1 to the capacitor Cel by the EL element 20. The address period 204 is a period during which data current is written to all pixels. The capacitance element Cel of the EL element 20 in which the threshold voltage of the driving transistor Tr1 is written is a voltage between the gate and the source of the driving transistor Tr1 corresponding to the data current Idata (referred to as gate-source voltage): Vgs (data ) Is connected to the capacitive element Cs in which data is written and the charge is distributed, the data current can be written to the pixel with a large data current. The light emission period 205 is a period in which the EL element 20 emits light according to the data current written in the address period 204.

まず、各信号線の電位について説明する。データ線DATAの電位は、初期化期間202においては、第1の電源線ANODEよりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値以上低い値であればよい。これを満たさない場合、閾値書込期間203において駆動トランジスタTr1のゲート−ソース間電圧が閾値電圧以上にならないため駆動トランジスタTr1がオンせず、EL素子20の容量素子Celに電流が流れないため、閾値電圧を書き込むことができないからである。なお、駆動トランジスタTr1がNチャネル型である場合は、初期化期間202のデータ線DATAの電位は、第1の電源線ANODEよりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値以上高い値であれば良い。 First, the potential of each signal line will be described. The potential of the data line DATA may be a value lower than the absolute value of the threshold voltage of the driving transistor Tr1 in the initialization period 202 than the first power supply line ANODE. When this is not satisfied, the gate-source voltage of the drive transistor Tr1 does not become equal to or higher than the threshold voltage in the threshold write period 203, and the drive transistor Tr1 is not turned on, and no current flows through the capacitor Cel of the EL element 20. This is because the threshold voltage cannot be written. Note that in the case where the driving transistor Tr1 is an N-channel type, the potential of the data line DATA in the initialization period 202 may be higher than the absolute value of the threshold voltage of the driving transistor Tr1 than the first power supply line ANODE. .

データ線DATAの電位は、アドレス期間204においては、画像データからの輝度情報に従って周辺駆動回路で生成されたデータ電流の値と、駆動トランジスタTr1の電気的特性に従って決定される。つまり、その時々でデータ線DATAの電位は様々に変わるものであるため、図2においては値を決定していない。また、発光期間205におけるデータ線DATAの電位は、EL素子20の状態に影響しないので、任意である。すなわち、データ線DATAの電気的状態を電位で決めるのは、初期化期間202のみであっても良い。 In the address period 204, the potential of the data line DATA is determined according to the value of the data current generated by the peripheral driver circuit in accordance with the luminance information from the image data and the electrical characteristics of the drive transistor Tr1. That is, since the potential of the data line DATA changes variously from time to time, the value is not determined in FIG. Further, the potential of the data line DATA in the light emission period 205 is arbitrary because it does not affect the state of the EL element 20. That is, only the initialization period 202 may determine the electrical state of the data line DATA by the potential.

初期化期間202、閾値書込期間203、およびアドレス期間204において、第2の電源線CATHODEの電位は高く、第1の電源線ANODEと同じ又は概ね同じであれば良い。また、発光期間においては、第2の電源線CATHODEの電位は低く、そのときの電位は第1の電源線ANODEよりも低く、スイッチ素子Tr4がオンしているときに駆動トランジスタTr1が飽和領域で動作する電位であればよい。 In the initialization period 202, the threshold writing period 203, and the address period 204, the potential of the second power supply line CATHODE is high and may be the same as or substantially the same as that of the first power supply line ANODE. In the light emission period, the potential of the second power supply line CATHODE is low, the potential at that time is lower than that of the first power supply line ANODE, and the drive transistor Tr1 is in the saturation region when the switch element Tr4 is on. Any potential is acceptable.

図2において第1の電源線ANODEの電位に関しては図示していないが、消費電力やノイズを小さくする観点から、一定電位であることが好ましい。 Although the potential of the first power supply line ANODE is not shown in FIG. 2, it is preferably a constant potential from the viewpoint of reducing power consumption and noise.

スイッチ用トランジスタTr2、Tr3、Tr4、Tr5に入力する信号の電位に関しては、スイッチ素子が十分オンまたはオフする電位(線形領域で動作する電位)であれば良いが、消費電力やノイズを小さくする観点から、スイッチとしての機能を損なわない程度に、ゲート電極に加える信号の振幅は小さいほど好ましい。 The potential of the signals input to the switching transistors Tr2, Tr3, Tr4, Tr5 may be any potential at which the switching element is sufficiently turned on or off (potential operating in a linear region), but from the viewpoint of reducing power consumption and noise. Therefore, it is preferable that the amplitude of the signal applied to the gate electrode is as small as possible without impairing the function as a switch.

図2のタイミングチャートに示すような入力信号によって、図1の画素は以下のように動作する。まず、前フレームの発光期間205Aから、当該フレームの初期化期間202へ移行する。そのとき、第2の電源線CATHODEの電位は第1の電源線ANODEの電位まで上げられる。それとほぼ同時に、点Aと、データ線DATAと、駆動トランジスタTr1のゲート電極とドレイン電極が電気的に接続されるようにスイッチ素子を切り換え、かつ、データ線DATAの電位を、第1の電源線ANODEの電位よりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値以上低い値に設定する。この状態を実現するための各スイッチ素子の状態は任意であるが、例えば図2の初期化期間202に示されるように、スイッチ素子Tr2、Tr3、Tr5をオンとし、Tr4をオフとなる状態とすれば良い。このような状態を実現することで、点Aおよび駆動トランジスタTr1のゲート電極およびドレイン電極の電位が、第1の電源線ANODEの電位よりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値以上低い値に初期化される。 In response to an input signal as shown in the timing chart of FIG. 2, the pixel of FIG. 1 operates as follows. First, the light emission period 205A of the previous frame shifts to the initialization period 202 of the frame. At that time, the potential of the second power supply line CATHODE is raised to the potential of the first power supply line ANODE. Almost at the same time, the switching element is switched so that the point A, the data line DATA, and the gate electrode and the drain electrode of the drive transistor Tr1 are electrically connected, and the potential of the data line DATA is changed to the first power supply line. It is set to a value lower than the absolute value of the threshold voltage of the drive transistor Tr1 than the potential of ANODE. The state of each switch element for realizing this state is arbitrary. For example, as shown in the initialization period 202 in FIG. 2, the switch elements Tr2, Tr3, Tr5 are turned on, and Tr4 is turned off. Just do it. By realizing such a state, the potential of the point A and the gate electrode and the drain electrode of the drive transistor Tr1 is initially set to a value lower than the potential of the first power supply line ANODE by the absolute value of the threshold voltage of the drive transistor Tr1. It becomes.

なお、初期化期間202では、点Aの電位よりも第2の電源線CATHODEの電位のほうが低い(逆バイアスとも記す)ため、EL素子20に順方向電流は流れず、発光しない。また、逆バイアスをかけることで、EL素子20の寿命が長くなり、信頼性が向上するという利点もある。 Note that in the initialization period 202, since the potential of the second power supply line CATHODE is lower than the potential of the point A (also referred to as reverse bias), no forward current flows through the EL element 20 and no light is emitted. Further, by applying the reverse bias, there is an advantage that the life of the EL element 20 is extended and the reliability is improved.

逆バイアスをEL素子20へ印加する結果、EL素子20の不良状態を改善し、信頼性を向上させることができる。また、EL素子20は、異物の付着や、陽極又は陰極にある微細な突起によるピンホール、電界発光材料の成膜の不均一性を起因として、陽極と陰極がショートする初期不良が生じることがある。このような初期不良が発生すると、信号に応じた点灯及び非点灯が行われず、電流のほとんどがショートした素子を流れてしまう。その結果、画像の表示が良好に行われないという問題が発生する。また、この不良は任意の画素に生じる恐れがある。 As a result of applying the reverse bias to the EL element 20, the defective state of the EL element 20 can be improved and the reliability can be improved. In addition, the EL element 20 may have an initial failure in which the anode and the cathode are short-circuited due to adhesion of foreign matter, pinholes due to fine protrusions on the anode or cathode, and non-uniformity of film formation of the electroluminescent material. is there. When such an initial failure occurs, lighting and non-lighting according to the signal are not performed, and most of the current flows through the shorted element. As a result, there arises a problem that the image is not displayed favorably. In addition, this defect may occur in any pixel.

そこで本実施の形態のように、EL素子20に逆バイアスを印加すると、ショートした部分に局所的な電流が流れ、該ショートした部分が発熱し、酸化又は炭化させることができる。その結果、ショートした部分を絶縁化させることができ、その部分以外の領域に電流が流れ、EL素子20として正常に動作させることが可能となる。このように逆バイアスを印加することにより、初期不良が生じても、その不良を解消することができる。なお、このような短絡部の絶縁化は、出荷前に行うことも可能である。例えば、全ての画素のスイッチ素子Tr3およびTr4をオンし、データ線DATAの電位を第2の電源線CATHODEよりも低い電位にすることで、出荷前においても逆バイアスの印加ができる。 Therefore, as in the present embodiment, when a reverse bias is applied to the EL element 20, a local current flows through the shorted portion, and the shorted portion generates heat and can be oxidized or carbonized. As a result, the shorted portion can be insulated, and a current flows in a region other than that portion, so that the EL element 20 can be operated normally. By applying the reverse bias in this way, even if an initial failure occurs, the failure can be eliminated. Such insulation of the short-circuit portion can be performed before shipment. For example, the reverse bias can be applied even before shipment by turning on the switch elements Tr3 and Tr4 of all the pixels and setting the potential of the data line DATA to a potential lower than that of the second power supply line CATHODE.

また、初期不良だけでなく、時間の経過に伴い、新たに陽極と陰極のショートが発生することがある。このような不良は、進行性不良とも呼ばれる。そこで本発明のように、定期的にEL素子20に逆バイアスを印加することにより、進行性不良が生じても、その不良を解消することができ、EL素子20として、正常に動作させることが可能となる。 In addition to the initial failure, a short circuit between the anode and the cathode may occur as time passes. Such a defect is also called a progressive defect. Therefore, by periodically applying a reverse bias to the EL element 20 as in the present invention, even if a progressive defect occurs, the defect can be eliminated, and the EL element 20 can be operated normally. It becomes possible.

加えて、逆バイアスを印加することによって、画像の焼き付きを防止することができる。画像の焼き付きとは、EL素子20の劣化状態により生じるが、逆バイアスを印加することにより、劣化状態を低減させることができる。その結果、画像の焼き付きを防止することができる。 In addition, image burn-in can be prevented by applying a reverse bias. Image burn-in occurs due to the deterioration state of the EL element 20, but the deterioration state can be reduced by applying a reverse bias. As a result, image burn-in can be prevented.

また一般にEL素子20の劣化は、初期に大きく進み、時間と共に劣化の進行度合いが少なくなってくる。すなわち画素において、一度劣化したEL素子20は、さらなる劣化が生じにくい。その結果、EL素子20の劣化状態にバラツキが生じる。これを解消するため、出荷前、又は画像を表示しないとき等に、すべてのEL素子20を点灯させてもよい。このとき劣化していない素子にも劣化を生じさせることができ、全素子の劣化状態を平均化することができる。 In general, deterioration of the EL element 20 progresses greatly in the initial stage, and the degree of progress of deterioration decreases with time. That is, in the pixel, the EL element 20 once deteriorated is not easily deteriorated. As a result, the deterioration state of the EL element 20 varies. In order to solve this problem, all the EL elements 20 may be turned on before shipment or when no image is displayed. At this time, elements that have not deteriorated can also be deteriorated, and the deterioration states of all the elements can be averaged.

なお、第2の電源線CATHODEの電位を上げるタイミングと、各スイッチ素子を切り換えるタイミングは、先に第2の電源線CATHODEの電位を上げてから、各スイッチ素子を切り換えても良いし、点Aの電位が大きく変動しないように、先に各スイッチ素子を切り換えてから、第2の電源線CATHODEの電位を上げても良い。これは第2の電源線CATHODEに接続されている寄生容量が大きいため、電位が安定するまでにかかる時間を考慮するからである。なお、この初期化期間202を設ける目的は、次に述べる閾値書込期間203での閾値書込動作を確実に行なえるようにするためのものであるため、閾値書込動作が確実に行なわれるならば、必ずしも初期化期間202を設ける必要はない。しかし、第2の電源線CATHODEの電位を上げることによって、点Aの電位も変動するので、確実に閾値書込を行なうためには初期化期間202を設けるほうが好ましいといえる。また本実施の形態では、データ線DATAを用いて初期化する場合を説明したが、初期化にデータ線DATAを使用せず、専用の電源線や走査線等の別の配線を使用することもできる。 The timing for raising the potential of the second power supply line CATHODE and the timing for switching each switch element may be such that each switch element is switched after the potential of the second power supply line CATHODE is raised first. The potential of the second power supply line CATHODE may be increased after switching each switch element so that the potential of the second power supply line CATHODE does not fluctuate greatly. This is because the parasitic capacitance connected to the second power supply line CATHODE is large, and the time taken for the potential to stabilize is taken into consideration. The purpose of providing this initialization period 202 is to ensure that the threshold writing operation in the threshold writing period 203 described below can be performed, so that the threshold writing operation is reliably performed. Therefore, the initialization period 202 is not necessarily provided. However, since the potential at the point A varies as the potential of the second power supply line CATHODE is raised, it can be said that it is preferable to provide the initialization period 202 in order to perform threshold writing reliably. In this embodiment, the case where initialization is performed using the data line DATA has been described. However, the data line DATA may not be used for initialization, and another wiring such as a dedicated power supply line or scanning line may be used. it can.

次に、点Aの電位を第1の電源線ANODEの電位よりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値分よりも低い値にした上で、容量素子Celの両端の電極にかかる電圧を駆動トランジスタTr1の閾値電圧にするための期間(閾値書込期間203に相当する)に移行する。このとき、点Aと、駆動トランジスタTr1のゲート電極とドレイン電極が電気的に接続され、かつ、点Aおよび駆動トランジスタTr1のゲート電極およびドレイン電極が浮遊状態になるように、スイッチ素子を切り換える。この状態を実現するための各スイッチ素子の状態は任意であるが、例えば図2の閾値書込期間203に示されるように、スイッチ素子Tr2、Tr5をオンとし、Tr3、Tr4はオフとなる状態とする。このような状態を実現することで、駆動トランジスタTr1を通して、電流が第1の電源線ANODEから容量素子Csに流れ込む。そして、駆動トランジスタTr1のゲート−ソース間電圧が駆動トランジスタTr1の閾値電圧となったところで駆動トランジスタTr1はオフし、電流が流れなくなる。 Next, the potential at the point A is set to a value lower than the absolute value of the threshold voltage of the drive transistor Tr1 than the potential of the first power supply line ANODE, and the voltage applied to the electrodes at both ends of the capacitive element Cel is changed to the drive transistor. The period shifts to a period for setting the threshold voltage of Tr1 (corresponding to the threshold writing period 203). At this time, the switching element is switched so that the point A is electrically connected to the gate electrode and the drain electrode of the driving transistor Tr1, and the point A and the gate electrode and the drain electrode of the driving transistor Tr1 are in a floating state. Although the state of each switch element for realizing this state is arbitrary, for example, as shown in the threshold value writing period 203 of FIG. 2, the switch elements Tr2 and Tr5 are turned on, and Tr3 and Tr4 are turned off. And By realizing such a state, a current flows from the first power supply line ANODE to the capacitive element Cs through the driving transistor Tr1. Then, when the gate-source voltage of the drive transistor Tr1 becomes the threshold voltage of the drive transistor Tr1, the drive transistor Tr1 is turned off and no current flows.

このときの点Aおよび駆動トランジスタTr1のゲート電極およびドレイン電極は電気的に接続されているので、点Aの電位は、第1の電源線ANODEの電位よりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値だけ低い値となる。このときの容量素子Csの両端の電極にかかる電圧は、駆動トランジスタTr1の閾値電圧となる。一方、第2の電源線CATHODEの電位に関わらず、点Aの電位は第1の電源線ANODEの電位から駆動トランジスタTr1の閾値電圧だけ小さい電位となるため、容量素子Celの両端の電極にかかる電圧は、第2の電源線CATHODEの電位が第1の電源線ANODEの電位と同じ又は概ね同じであれば、駆動トランジスタTr1の閾値電圧となる。また、第2の電源線CATHODEの電位が変動すると点Aの電位も変動するため、第2の電源線CATHODEの電位は初期化期間202から変化させないことが好ましい。 Since the point A and the gate electrode and the drain electrode of the driving transistor Tr1 at this time are electrically connected, the potential of the point A is an absolute value of the threshold voltage of the driving transistor Tr1 rather than the potential of the first power supply line ANODE. Only a low value. The voltage applied to the electrodes at both ends of the capacitive element Cs at this time becomes the threshold voltage of the drive transistor Tr1. On the other hand, regardless of the potential of the second power supply line CATHODE, the potential at the point A is lower than the potential of the first power supply line ANODE by the threshold voltage of the driving transistor Tr1, and thus is applied to the electrodes at both ends of the capacitive element Cel. If the potential of the second power supply line CATHODE is the same as or substantially the same as the potential of the first power supply line ANODE, the voltage becomes the threshold voltage of the drive transistor Tr1. Further, when the potential of the second power supply line CATHODE varies, the potential at the point A also varies. Therefore, the potential of the second power supply line CATHODE is preferably not changed from the initialization period 202.

次に、走査線ごとにデータ電流を書き込む期間を有するアドレス期間204に移行する。アドレス期間204において、当該画素を選択する前の期間を書込開始前期間206と記し、当該画素にデータ電流を書き込む期間をデータ書込期間207と記し、当該画素の容量素子Csにかかる電圧を容量素子Celに保持した電圧によって書き換える期間をCs書き換え期間208と記し、Cs書き換え期間を終了した後を書込終了後期間209と記す。本発明の画素回路は、閾値保持用キャパシタCtを設けることなく、EL素子20の容量素子Celを適用することを特徴とし、画素の容量素子Csにかかる電圧を容量素子Celに保持した電圧によって書き換えるCs書き換え期間208を有することを特徴とする。なお、各々の走査線(Y1〜Ym)に接続されている画素ごとにデータ電流の書き込みが行なわれるため、図2に示すアドレス期間204内の各期間のタイミングおよび長さは一例であり、例えばデータ書込期間207のタイミングおよび書込開始前期間206並びに書込終了後期間209の長さは、各走査線(Y1〜Ym)に接続されている画素ごとに異なる。なお、アドレス期間204において、第2の電源線CATHODEの電位が変動すると点Aの電位も変動し、Cs書き換え期間208において正しい駆動トランジスタTr1のゲート−ソース間電圧が得られないので、第2の電源線CATHODEの電位は初期化期間202および閾値書込期間203から変化させないことが好ましい。 Next, the process proceeds to an address period 204 having a period for writing a data current for each scanning line. In the address period 204, a period before the pixel is selected is referred to as a pre-writing start period 206, a period in which a data current is written to the pixel is referred to as a data writing period 207, and a voltage applied to the capacitor Cs of the pixel is A period of rewriting with the voltage held in the capacitor element Cel is referred to as a Cs rewriting period 208, and a period after completion of the Cs rewriting period is referred to as a period after writing 209. The pixel circuit of the present invention is characterized in that the capacitor Cel of the EL element 20 is applied without providing the threshold holding capacitor Ct, and the voltage applied to the capacitor Cs of the pixel is rewritten by the voltage held in the capacitor Cel. A Cs rewriting period 208 is included. Note that since data current is written to each pixel connected to each scanning line (Y1 to Ym), the timing and length of each period in the address period 204 shown in FIG. The timing of the data writing period 207, the period before writing start 206, and the length of the period after writing end 209 are different for each pixel connected to each scanning line (Y1 to Ym). Note that when the potential of the second power supply line CATHODE changes in the address period 204, the potential of the point A also changes, and the correct gate-source voltage of the driving transistor Tr1 cannot be obtained in the Cs rewrite period 208. It is preferable that the potential of the power supply line CATHODE is not changed from the initialization period 202 and the threshold writing period 203.

書込開始前期間206においては、前述した閾値書込期間203において取得した駆動トランジスタTr1の閾値電圧を容量素子Celに保持しておくため、点Aを浮遊状態とする。また、当該画素が接続されている走査線以外の、選択されている走査線に接続されている画素への書き込みを阻害しないように、当該画素内のスイッチ素子以外の各素子(具体的には容量素子Cs、駆動トランジスタTr1、EL素子20)とデータ線DATAは、電気的に接続されないようにする。この状態を実現するための各スイッチ素子の状態は任意であるが、例えば図2の書込開始前期間206に示されるように、スイッチ素子Tr2、Tr3、Tr4、Tr5をオフしている状態とする。 In the pre-writing start period 206, the threshold voltage of the driving transistor Tr1 acquired in the above-described threshold writing period 203 is held in the capacitor Cel, so that the point A is in a floating state. In addition, each element other than the switch element in the pixel (specifically, so as not to disturb writing to the pixel connected to the selected scan line other than the scan line to which the pixel is connected) The capacitor element Cs, the drive transistor Tr1, and the EL element 20) are not electrically connected to the data line DATA. The state of each switch element for realizing this state is arbitrary. For example, as shown in the pre-write start period 206 in FIG. 2, the switch elements Tr2, Tr3, Tr4, and Tr5 are turned off. To do.

データ書込期間207においては、前述した閾値書込期間203において取得した駆動トランジスタTr1の閾値電圧を容量素子Celに保持しておくため、点Aを浮遊状態とする。また、データ線DATAと、駆動トランジスタTr1のゲート電極とドレイン電極が電気的に接続されるようにし、その他のスイッチ素子以外の各素子がこれらと電気的に接続されないようにする。この状態を実現するための各スイッチ素子の状態は任意であるが、例えば図2の閾値書込期間203に示されるように、スイッチ素子Tr2、Tr3はオンし、スイッチ素子Tr4、Tr5はオフしている状態とする。このような状態を実現することで、駆動トランジスタTr1にデータ電流Idataが流れ、容量素子Csには、駆動トランジスタTr1がデータ電流Idataを流すだけのゲート−ソース間電圧(Vgs(data))がかかる。 In the data writing period 207, the threshold voltage of the driving transistor Tr1 acquired in the threshold writing period 203 is held in the capacitor Cel, so that the point A is in a floating state. Further, the data line DATA is electrically connected to the gate electrode and the drain electrode of the driving transistor Tr1, and each element other than the other switch elements is not electrically connected to these. Although the state of each switch element for realizing this state is arbitrary, for example, as shown in the threshold writing period 203 of FIG. 2, the switch elements Tr2 and Tr3 are turned on, and the switch elements Tr4 and Tr5 are turned off. It is assumed that By realizing such a state, the data current Idata flows through the driving transistor Tr1, and a gate-source voltage (Vgs (data)) that allows the driving transistor Tr1 to flow the data current Idata is applied to the capacitive element Cs. .

Cs書き換え期間208においては、前述した閾値書込期間203において取得した駆動トランジスタTr1の閾値電圧を保持している容量素子Celと、前述した駆動トランジスタTr1がデータ電流Idataを流すだけのゲート−ソース間電圧(Vgs(data))を保持した容量素子Csを電気的に接続し、かつ、点Aは、容量素子Celと容量素子Csと各スイッチ素子以外の各素子(駆動トランジスタTr1のゲート電極は除く)と電気的に接続されないようにする。この状態を実現するための各スイッチ素子の状態は、例えば図2のCs書き換え期間208に示されるように、スイッチ素子Tr2、Tr3、Tr4はオフし、スイッチ素子Tr5はオンしている状態とする。このような状態を実現することで、容量素子Csには数式2を満足する電流Ioledが流れるだけのゲート−ソース間電圧(Vgs(oled)とも記す)がかかる。電流Ioledは以下の式で表すことができる。 In the Cs rewrite period 208, the capacitor Cel that holds the threshold voltage of the driving transistor Tr1 acquired in the threshold writing period 203 and the gate-source between which the driving transistor Tr1 allows the data current Idata to flow. The capacitive element Cs holding the voltage (Vgs (data)) is electrically connected, and the point A is the capacitive element Cel, the capacitive element Cs, and each element other than the switching elements (excluding the gate electrode of the driving transistor Tr1) ) And electrical connection. The state of each switch element for realizing this state is such that the switch elements Tr2, Tr3, Tr4 are turned off and the switch element Tr5 is turned on, as shown in the Cs rewrite period 208 of FIG. . By realizing such a state, a gate-source voltage (also referred to as Vgs (oled)) at which the current Ioled that satisfies Equation 2 flows is applied to the capacitive element Cs. The current Ioled can be expressed by the following equation.

Figure 0005041772
Figure 0005041772

書込終了後期間209においては、Cs書き換え期間208において容量素子Csにかかった電圧Vgs(oled)を保持するために、駆動トランジスタTr1のゲート電極を浮遊状態とし、かつ、当該画素が接続されている走査線以外の、選択されている走査線に接続されている画素の書き込みを阻害しないように、当該画素内のスイッチ素子以外の各素子(具体的には容量素子Cs、駆動トランジスタTr1、EL素子20)とデータ線DATAは、電気的に接続されないようにする。この状態を実現するための各スイッチ素子の状態は任意であるが、例えば図2の書込終了後期間209に示されるように、スイッチ素子Tr2、Tr3、Tr4、Tr5はオフしている状態とする。 In the period 209 after the end of writing, in order to hold the voltage Vgs (oled) applied to the capacitor Cs in the Cs rewrite period 208, the gate electrode of the driving transistor Tr1 is in a floating state and the pixel is connected. Each element other than the switch element in the pixel (specifically, the capacitive element Cs, the drive transistor Tr1, and the EL so as not to hinder writing of the pixel connected to the selected scan line other than the scan line that is present. The element 20) and the data line DATA are not electrically connected. The state of each switch element for realizing this state is arbitrary. For example, as shown in a period 209 after writing in FIG. 2, the switch elements Tr2, Tr3, Tr4, and Tr5 are in an off state. To do.

以上のように、アドレス期間204においては、データ書込を走査線(Y1〜Ym)ごとに順次行なうことにより、全ての画素に、各々の輝度に対応した電流Ioledを流すだけの駆動トランジスタTr1のゲート−ソース間電圧が容量素子Csに書き込まれる。そして、その電圧は、その後の1フレーム期間201に渡り、容量素子Csによって、保持される。なお、図2におけるアドレス期間204を分割する数の表記は一例であり、本実施形態はこれに限定されない。例えば、走査線本数と同じ又は概ね同じ数であっても良い。また、アドレス期間204の短縮のために、複数のデータ線駆動回路302を用いて複数の走査線を同時に駆動しても良い。例えば二つのデータ線駆動回路302を用いて二つの走査線を同時に駆動すれば、アドレス期間204を分割する数は走査線本数の半分となる。 As described above, in the address period 204, the data writing is sequentially performed for each scanning line (Y1 to Ym), so that the current Ioled corresponding to each luminance is supplied to all the pixels. The gate-source voltage is written into the capacitive element Cs. The voltage is held by the capacitive element Cs over the subsequent one frame period 201. In addition, the notation of the number which divides | segments the address period 204 in FIG. 2 is an example, and this embodiment is not limited to this. For example, the number may be the same as or approximately the same as the number of scanning lines. Further, in order to shorten the address period 204, a plurality of scanning lines may be simultaneously driven using a plurality of data line driving circuits 302. For example, when two scanning lines are driven simultaneously using two data line driving circuits 302, the number of dividing the address period 204 is half of the number of scanning lines.

次に、前述したアドレス期間204において保持した駆動トランジスタTr1のゲート−ソース間電圧Vgs(oled)に従ってEL素子20を発光させる発光期間205に移行する。このとき、駆動トランジスタTr1とEL素子20を直列に接続し、かつ、アドレス期間204において保持した駆動トランジスタTr1のゲート−ソース間電圧Vgs(oled)を保持するために、駆動トランジスタTr1のゲート電極を浮遊にし、かつ、データ線DATAと各画素の各スイッチ素子以外の素子が電気的に接続されない状態にする。この状態を実現するための各スイッチ素子の状態は、例えば図2の発光期間205に示されるように、スイッチ素子Tr4はオンし、スイッチ素子Tr2、Tr3、Tr5はオフしている状態とする。このような状態を実現することで、駆動トランジスタTr1およびEL素子20には数式2を満足する電流Ioledが流れ、データ電流Idataに従った輝度で、EL素子20が発光する。 Next, the process proceeds to a light emission period 205 in which the EL element 20 emits light according to the gate-source voltage Vgs (oled) of the drive transistor Tr1 held in the address period 204 described above. At this time, in order to connect the drive transistor Tr1 and the EL element 20 in series and to hold the gate-source voltage Vgs (oled) of the drive transistor Tr1 held in the address period 204, the gate electrode of the drive transistor Tr1 is set. The floating state is set, and the data line DATA and elements other than the switch elements of each pixel are not electrically connected. The state of each switch element for realizing this state is such that the switch element Tr4 is turned on and the switch elements Tr2, Tr3, Tr5 are turned off as shown in the light emission period 205 of FIG. By realizing such a state, the current Ioled satisfying Equation 2 flows through the drive transistor Tr1 and the EL element 20, and the EL element 20 emits light with luminance according to the data current Idata.

本実施の形態における画素回路とその駆動方法は、閾値保持用キャパシタCtをEL素子の容量Celで代替することによって、Ctを配置することなく、EL素子の駆動電流に対してデータ電流を大きくできる。これは本実施の形態における画素回路とその駆動方法と、図9に示した従来の画素回路とそのEL素子20に流れる電流を表した数式1との比較からもわかる。 In the pixel circuit and the driving method thereof in this embodiment, the data current can be increased with respect to the driving current of the EL element without disposing Ct by replacing the threshold holding capacitor Ct with the capacitance Cel of the EL element. . This can also be seen from a comparison between the pixel circuit in this embodiment and its driving method, and the conventional pixel circuit shown in FIG. 9 and Formula 1 representing the current flowing through the EL element 20.

また本実施の形態において、Ctを画素内に配置しない分、開口率を大きくすることができる。また、開口率を大きくすると、EL素子の容量Celが大きくなるため、さらにデータ電流を大きくすることができる。このように、開口率の増加がデータ電流の増加につながるため効果が相乗し、絶大な効果を得ることができる。 In the present embodiment, the aperture ratio can be increased by the amount Ct is not arranged in the pixel. Further, when the aperture ratio is increased, the capacitance Cel of the EL element is increased, so that the data current can be further increased. Thus, since the increase in aperture ratio leads to the increase in data current, the effects are synergistic, and a great effect can be obtained.

(実施の形態2)
次に、本発明にかかる表示装置の第2の様態について、図4、および図5を参照して説明する。
(Embodiment 2)
Next, a second embodiment of the display device according to the present invention will be described with reference to FIG. 4 and FIG.

本実施の形態における画素回路は、実施の形態1で説明した図1を適用することができる。なお、第2の電源線CATHODEの形成方法を実施の形態1で説明した様態とは異なるものとすることで、特別の効果を得ることができるものである。そこで、第2の電源線CATHODEの形態について、図4(A)、(B)を参照して説明する。 1 described in Embodiment Mode 1 can be applied to the pixel circuit in this embodiment mode. Note that a special effect can be obtained by making the method for forming the second power supply line CATHODE different from the method described in the first embodiment. Therefore, the form of the second power supply line CATHODE will be described with reference to FIGS.

図4(A)は、前述した実施の形態1において説明した表示装置のうち、第2の電源線CATHODEについて模式的に表した図である。図4(A)における第2の電源線CATHODEは、実施の形態1で述べたとおり、全ての画素回路に共通に接続された形態を表している。基板401上に画素部301を形成し、表示素子としてEL素子を成膜し、下部電極とのコンタクト領域402を形成した後、第2の電源線CATHODEを蒸着法などで全面に成膜し、そのまま共通の電極に適用することができる。 FIG. 4A is a diagram schematically illustrating the second power supply line CATHODE in the display device described in Embodiment 1 described above. As described in Embodiment Mode 1, the second power supply line CATHODE in FIG. 4A represents a mode of being commonly connected to all the pixel circuits. A pixel portion 301 is formed over a substrate 401, an EL element is formed as a display element, a contact region 402 with a lower electrode is formed, and then a second power supply line CATHODE is formed over the entire surface by vapor deposition or the like. It can be applied to a common electrode as it is.

なお、表示素子としてEL素子を用いる場合に、第2の電源線をフォトリソグラフィ法などで形状加工ができる。しかし、該加工によるEL素子へのダメージが大きいと考えられる。そのため、蒸着マスクを使用した蒸着法により第2の電源線を形成すれば、EL素子にダメージを大きく与えることなく、形状加工することができる。そこで本実施の形態においては、図4(B)に示すように、第2の電源線を、図中矢印で示した走査線(Y1〜Ym)方向と平行に形状加工する場合について説明する。なお、第2の電源線CATHODEを形状加工して分割する数は、走査線本数と一致させ、走査線に平行な画素1列に付き1本にするのが好適である。しかしながら、分割数自体は任意であり、形状加工される第2の電源線CATHODEの数は何本でも構わない。 Note that in the case where an EL element is used as the display element, the shape of the second power supply line can be processed by a photolithography method or the like. However, it is considered that the EL element is damaged greatly by the processing. Therefore, if the second power supply line is formed by a vapor deposition method using a vapor deposition mask, the shape can be processed without greatly damaging the EL element. Therefore, in this embodiment, as shown in FIG. 4B, the case where the second power supply line is processed in parallel with the scanning line (Y1 to Ym) directions indicated by arrows in the drawing will be described. Note that it is preferable that the number of the second power supply line CATHODE to be processed and divided is equal to the number of scanning lines, and is one for each column of pixels parallel to the scanning lines. However, the number of divisions per se is arbitrary, and the number of second power supply lines CATHODE to be processed is not limited.

また、第2の電源線とコンタクトをとる領域402において第2の電源線CATHODEや下部電極とに接続されている回路は、第2の電源線CATHODEを個別に制御できるような構成になっているのが好ましい。 In addition, the circuit connected to the second power supply line CATHODE and the lower electrode in the region 402 in contact with the second power supply line is configured to be able to individually control the second power supply line CATHODE. Is preferred.

本実施の形態における画素回路304の動作であって、第2の電源線CATHODEを各走査線に固有とすることで可能となる駆動方法を、図5を参照して説明する。なお図5(A)には当該ラインのタイミングチャート、図5(B)には次ラインのタイミングチャートが、それぞれ示されている。ラインとは、同じ走査線に接続されている画素群のことである。 An operation of the pixel circuit 304 in this embodiment and a driving method which can be performed by making the second power supply line CATHODE unique to each scanning line will be described with reference to FIG. Note that FIG. 5A shows a timing chart of the line, and FIG. 5B shows a timing chart of the next line. A line is a group of pixels connected to the same scanning line.

本実施の形態において、画素回路304の構成は、実施の形態1と同じく、図1で示すものを適用することができる。 In this embodiment mode, the structure shown in FIG. 1 can be applied to the pixel circuit 304 as in Embodiment Mode 1.

図5は、図2と同じく、データ線DATA、第2の電源線CATHODE、スイッチ用トランジスタTr2、Tr3、Tr4、Tr5のゲート電極、それぞれの電位の変化を、横軸を時間として表しているタイミングチャートである。本実施の形態における表示装置の駆動は、1フレームを1単位とし、1フレームは1走査線書込期間および発光期間205を有し、1走査線書込期間は、初期化期間202、閾値書込期間203、データ書込期間207、Cs書き換え期間208を有する。 In FIG. 5, as in FIG. 2, the data line DATA, the second power supply line CATHODE, the gate electrodes of the switching transistors Tr2, Tr3, Tr4, and Tr5, and the respective potential changes are shown with the horizontal axis as time. It is a chart. In the present embodiment, the display device is driven by one frame as one unit, and one frame has one scanning line writing period and a light emission period 205. The one scanning line writing period includes an initialization period 202, a threshold writing And a data writing period 207 and a Cs rewriting period 208.

当該ラインが前フレームの発光を終え、1走査線書込期間に移行したとする。すると、当該ラインは、初期化期間202、閾値書込期間203、データ書込期間207、Cs書き換え期間208の各状態を経てデータ電流にしたがった値のVgs(oled)を前フレームのものから当該フレームのものに書き換え、再び発光状態へ移行することができる。 It is assumed that the line has finished emitting light in the previous frame and has shifted to one scanning line writing period. Then, the line has Vgs (oled) of the value according to the data current through the states of the initialization period 202, the threshold write period 203, the data write period 207, and the Cs rewrite period 208 from the previous frame. It can be rewritten to the one of the frame and it can shift to the light emission state again.

ここで、各状態の詳細については、実施の形態1で詳細に述べたので、ここでは説明を省略する。ただし、データ線DATAの入力信号は実施の形態1と異なり、各ラインのデータ書き込みの前に、ラインごとに個別に、初期化を行なうために、第1の電源線ANODEよりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値以上低い値にする必要がある。なお、図5においては、初期化期間202が閾値書込期間203の直前にあるが、特に直前にある必要はなく、閾値書込期間203前に初期化を行っていればよい。例えば、当該ラインの前の前のラインでデータ線DATAが第1の電源線ANODEよりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値以上低い値になったときに初期化することができる。初期化後、Tr3をオフとして閾値電圧をEL素子によって構成される容量素子Celに書き込む。そして当該ラインの選択期間になったら、データ書込を行なうなどの動作を行う。このように動作させれば、閾値書込期間203を十分長く取ることができる。 Here, details of each state have been described in detail in the first embodiment, and thus description thereof is omitted here. However, unlike the first embodiment, the input signal of the data line DATA differs from that of the first power supply line ANODE in order to perform the initialization individually for each line before the data writing of each line. It is necessary to make it lower than the absolute value of the threshold voltage. In FIG. 5, the initialization period 202 is immediately before the threshold writing period 203, but it does not have to be immediately before, and the initialization may be performed before the threshold writing period 203. For example, the initialization can be performed when the data line DATA becomes lower than the absolute value of the threshold voltage of the drive transistor Tr1 by the previous line before the line. After initialization, Tr3 is turned off and a threshold voltage is written to the capacitor element Cel constituted by EL elements. When the line selection period is reached, an operation such as data writing is performed. By operating in this way, the threshold writing period 203 can be made sufficiently long.

なお、図5に示している横軸の長さは、見易くするためにほぼ等間隔で記載されているが、本実施の形態にそのような制限はなく、それぞれの期間の長さは、必要に応じて適宜決定すればよい。 Note that the length of the horizontal axis shown in FIG. 5 is described at almost equal intervals for easy viewing, but this embodiment has no such limitation, and the length of each period is necessary. What is necessary is just to determine suitably according to.

図5で表された本実施の形態における駆動方法では、第2の電源線CATHODEを走査線と平行に形状加工することを特徴とする。その結果、当該ラインを書き込むために当該ラインの第2の電源線CATHODEの電位を変化させたとしても、それが当該ライン以外のラインの動作に影響を及ぼさない。したがって、当該ラインを選択してデータ電流を書き込みつつ、他のラインは前フレームのデータ電流にしたがった値のVgs(oled)を保持したまま発光を続けることができる。すなわち、1フレーム期間201内における発光期間の割合(デューティー比)が実質的に向上する。デューティー比が大きいと、デューティー比が小さいときに比べて発光素子の瞬間輝度が小さくても同じ輝度と認識されるので、実施の形態1で示した効果に加えて、駆動電圧が小さくでき、消費電力を低減できる上に、信頼性を向上させることができる。 The driving method in the present embodiment shown in FIG. 5 is characterized in that the second power supply line CATHODE is processed in parallel with the scanning line. As a result, even if the potential of the second power supply line CATHODE of the line is changed in order to write the line, it does not affect the operation of lines other than the line. Accordingly, while the data current is written by selecting the line, the other lines can continue to emit light while holding Vgs (oled) of the value according to the data current of the previous frame. That is, the ratio (duty ratio) of the light emission period within one frame period 201 is substantially improved. When the duty ratio is large, the same luminance is recognized even if the instantaneous luminance of the light emitting element is small compared to when the duty ratio is small. Therefore, in addition to the effect shown in Embodiment 1, the driving voltage can be reduced and the consumption is reduced. The power can be reduced and the reliability can be improved.

(実施の形態3)
次に、本発明にかかる表示装置の第3の様態について、図6を参照して説明する。本実施形態では、第1の電源線ANODEを変動させて表示装置を駆動する方法について説明する。本実施の形態において、第2の電源線CATHODEは全画素共通に接続されていても良く、本実施形態ではその場合について説明する。しかし本実施の形態においても、第2の電源線CATHODEを形状加工してもよい。
(Embodiment 3)
Next, a third aspect of the display device according to the present invention will be described with reference to FIG. In the present embodiment, a method for driving the display device by changing the first power supply line ANODE will be described. In this embodiment mode, the second power supply line CATHODE may be connected to all the pixels in common, and this embodiment will explain that case. However, also in this embodiment, the second power supply line CATHODE may be processed.

図6は、トランジスタの極性が全てPチャネル型の場合において、第1の電源線ANODEを変動させて本発明にかかる表示装置を駆動する場合の入力信号を表している。1フレームが初期化期間202、閾値書込期間203、アドレス期間204、発光期間205で構成されている点は実施の形態1で示した駆動と同じであり、各期間における回路の動作もほぼ同一である。そのため、本実施形態では、実施の形態1と異なる点を主として説明することとする。 FIG. 6 shows an input signal when the display device according to the present invention is driven by changing the first power supply line ANODE when the polarities of the transistors are all P-channel type. The point that one frame is composed of the initialization period 202, the threshold writing period 203, the address period 204, and the light emission period 205 is the same as the driving described in Embodiment 1, and the circuit operation in each period is almost the same. It is. For this reason, in the present embodiment, differences from the first embodiment will be mainly described.

まず、各信号線の電位について説明する。初期化期間202、閾値書込期間203、およびアドレス期間204において、第1の電源線ANODEの電位は低く、第2の電源線CATHODEと同じ又は概ね同じであれば良い。また、発光期間205においては、第1の電源線ANODEの電位は高く、そのときの電位は第2の電源線CATHODEよりも高く、スイッチ素子Tr4がオンしているときに駆動トランジスタTr1が飽和領域で動作する電位であればよい。 First, the potential of each signal line will be described. In the initialization period 202, the threshold writing period 203, and the address period 204, the potential of the first power supply line ANODE is low and may be the same as or substantially the same as that of the second power supply line CATHODE. In the light emission period 205, the potential of the first power supply line ANODE is high, the potential at that time is higher than that of the second power supply line CATHODE, and the drive transistor Tr1 is in the saturation region when the switch element Tr4 is on. Any potential may be used as long as the potential operates at.

図6において第2の電源線CATHODEの電位に関しては図示していないが、消費電力やノイズを小さくする観点から、一定電位であることが好ましい。 Although the potential of the second power supply line CATHODE is not shown in FIG. 6, it is preferably a constant potential from the viewpoint of reducing power consumption and noise.

データ線DATAの電位は、初期化期間202においては、第1の電源線ANODEよりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値以上低い値であればよい。これを満たさない場合、閾値書込期間203において駆動トランジスタTr1のゲート−ソース間電圧が閾値電圧以上にならないため駆動トランジスタTr1がオンせず、EL素子20の容量素子Celに電流が流れないため、閾値電圧を書き込むことができないからである。なお、駆動トランジスタTr1がNチャネル型である場合は、初期化期間202のデータ線DATAの電位は、第1の電源線ANODEよりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値以上高い値であれば良い。 The potential of the data line DATA may be a value lower than the absolute value of the threshold voltage of the driving transistor Tr1 in the initialization period 202 than the first power supply line ANODE. When this is not satisfied, the gate-source voltage of the drive transistor Tr1 does not become equal to or higher than the threshold voltage in the threshold write period 203, and the drive transistor Tr1 is not turned on, and no current flows through the capacitor Cel of the EL element 20. This is because the threshold voltage cannot be written. Note that in the case where the driving transistor Tr1 is an N-channel type, the potential of the data line DATA in the initialization period 202 may be higher than the absolute value of the threshold voltage of the driving transistor Tr1 than the first power supply line ANODE. .

データ線DATAの電位は、アドレス期間204においては、画像データからの輝度情報に従って周辺駆動回路で生成されたデータ電流の値と、駆動トランジスタTr1の電気的特性に従って決定される。つまり、その時々でデータ線DATAの電位は様々に変わるものであるため、図6においては値を決定していない。また、発光期間205におけるデータ線DATAの電位は、EL素子20の状態に影響しないので、任意である。すなわち、データ線DATAの電気的状態を電位で決めるのは、初期化期間202のみであっても良い。 In the address period 204, the potential of the data line DATA is determined according to the value of the data current generated by the peripheral driver circuit in accordance with the luminance information from the image data and the electrical characteristics of the drive transistor Tr1. That is, since the potential of the data line DATA changes variously from time to time, the value is not determined in FIG. Further, the potential of the data line DATA in the light emission period 205 is arbitrary because it does not affect the state of the EL element 20. That is, only the initialization period 202 may determine the electrical state of the data line DATA by the potential.

スイッチ用トランジスタTr2、Tr3、Tr4、Tr5に入力する信号の電位に関しては、スイッチ素子が十分オンまたはオフする電位(線形領域で動作する電位)であれば良いが、消費電力やノイズを小さくする観点から、スイッチとしての機能を損なわない程度に、ゲート電極に加える信号の振幅は小さいほど好ましい。 The potential of the signals input to the switching transistors Tr2, Tr3, Tr4, Tr5 may be any potential at which the switching element is sufficiently turned on or off (potential operating in a linear region), but from the viewpoint of reducing power consumption and noise. Therefore, it is preferable that the amplitude of the signal applied to the gate electrode is as small as possible without impairing the function as a switch.

本実施形態において、動作が実施の形態1と異なる点は、第2の電源線CATHODEの電位は変化させずに、第1の電源線ANODEの電位を変化させ第2の電源線CATHODEの電位と等しくすることである。具体的には以下3点について異なる。第1に、発光期間205から初期化期間202へ移行する際に、第1の電源線ANODEの電位を下げる点が異なる。第2に、アドレス期間204から発光期間205へ移行する際に、第1の電源線ANODEの電位を上げる点が異なる。第3に、初期化期間202、閾値書込期間203、アドレス期間204における第1の電源線ANODEの電位を、電位の低い第2の電源線CATHODEと同じ又はほぼ同じにする点が異なる。しかしながら、これは電位の絶対値が異なっても回路の動作に影響はないことから、本実施の形態と実施の形態1との回路動作上では異なるところはない。そのため回路動作は、実施の形態1と同じであるため説明を省略する。 In this embodiment, the operation is different from that of the first embodiment in that the potential of the second power supply line CATHODE is changed by changing the potential of the first power supply line ANODE without changing the potential of the second power supply line CATHODE. To be equal. Specifically, the following three points are different. First, it is different in that the potential of the first power supply line ANODE is lowered when shifting from the light emission period 205 to the initialization period 202. Second, when the address period 204 is shifted to the light emission period 205, the potential of the first power supply line ANODE is raised. The third difference is that the potential of the first power supply line ANODE in the initialization period 202, the threshold writing period 203, and the address period 204 is the same as or substantially the same as the second power supply line CATHODE having a low potential. However, this does not affect the circuit operation even if the absolute value of the potential is different, so there is no difference in the circuit operation between the present embodiment and the first embodiment. For this reason, the circuit operation is the same as that of the first embodiment, and the description thereof is omitted.

前フレームの発光期間205Aから当該フレームの初期化期間202に移行するとき、第1の電源線ANODEの電位を下げる第1の点における動作について説明する。前フレームの発光期間205Aから当該フレームの初期化期間202に移行するとき、スイッチ素子Tr2、Tr3、Tr5はオフからオンへ、Tr4はオンからオフへ切り換わる。それとほぼ同時に、第1の電源線ANODEの電位を下げて第2の電源線CATHODEの電位とほぼ同じくし、さらにデータ線DATAの電位を、第1の電源線ANODEの低い方の電位(Low状態)よりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値分以上小さくする。実施の形態1では、初期化時のデータ線DATAの電位は第2の電源線CATHODEの高い方の電位(High状態)よりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値分以上小さくしており、この点で本実施の形態とは異なる。なお、駆動トランジスタTr1がNチャネル型であるときは、本実施の形態においては、データ線DATAの電位を、第1の電源線ANODEの低い方の電位よりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値分以上大きくする。実施の形態1では、駆動トランジスタTr1がNチャネル型であるとき、初期化時のデータ線DATAの電位は第2の電源線CATHODEの高い方の電位よりも駆動トランジスタTr1の閾値電圧の絶対値分以上大きくしており、この点で本実施の形態とは異なる。 An operation at a first point for lowering the potential of the first power supply line ANODE when the light emission period 205A of the previous frame shifts to the initialization period 202 of the frame will be described. When the light emission period 205A of the previous frame shifts to the initialization period 202 of the frame, the switch elements Tr2, Tr3, Tr5 are switched from off to on, and Tr4 is switched from on to off. At substantially the same time, the potential of the first power supply line ANODE is lowered to substantially the same as the potential of the second power supply line CATHODE, and the potential of the data line DATA is set to the lower potential (Low state) of the first power supply line ANODE. ) Less than the absolute value of the threshold voltage of the drive transistor Tr1. In the first embodiment, the potential of the data line DATA at the time of initialization is smaller than the higher potential (High state) of the second power supply line CATHODE by at least the absolute value of the threshold voltage of the drive transistor Tr1. This is different from the present embodiment. Note that when the drive transistor Tr1 is an N-channel type, in this embodiment, the absolute value of the threshold voltage of the drive transistor Tr1 is set such that the potential of the data line DATA is lower than the lower potential of the first power supply line ANODE. Make it bigger than a minute. In the first embodiment, when the drive transistor Tr1 is an N-channel type, the potential of the data line DATA at initialization is equal to the absolute value of the threshold voltage of the drive transistor Tr1 than the higher potential of the second power supply line CATHODE. In this respect, this embodiment is different from the present embodiment.

アドレス期間204から発光期間205に移行するとき、第1の電源線ANODEの電位を上げる第2の点における動作について説明する。アドレス期間204から発光期間205に移行するとき、スイッチ素子Tr2、Tr3はオフのまま、Tr4はオフからオンへ、Tr5はオフのままあるいはオンからオフへ、それぞれ切り換わる。そして、スイッチ素子Tr5を確実にオフして、容量素子Csの一方の電極を浮遊にした状態で、第1の電源線ANODEの電位を高い方の電位に上げる。スイッチ素子Tr5を確実にオフして容量素子Csの一方の電極を浮遊にしないと、第1の電源線ANODEの電位を上げる際に容量素子Csに電圧が保持されない。この点は、実施の形態1でも同じである。 The operation at the second point in which the potential of the first power supply line ANODE is increased when the address period 204 shifts to the light emission period 205 will be described. When shifting from the address period 204 to the light emission period 205, the switch elements Tr2 and Tr3 remain off, Tr4 switches from off to on, and Tr5 switches off or from on to off. Then, the switch element Tr5 is securely turned off, and the potential of the first power supply line ANODE is raised to a higher potential in a state where one electrode of the capacitive element Cs is floated. Unless the switch element Tr5 is securely turned off to make one electrode of the capacitor element Cs floating, the voltage is not held in the capacitor element Cs when the potential of the first power supply line ANODE is raised. This is the same as in the first embodiment.

本実施の形態において、第1の電源線ANODEの電位を変動させて本発明にかかる表示装置を駆動する場合、以下の利点が挙げられる。まず、大きな容量が接続されている第2の電源線CATHODEを変動させないことで、駆動時の消費電力が低減できる。また、第1の電源線ANODEは基板側に作りこむことが可能なので、実施の形態2のように、形状加工して走査線ごとに独立に駆動させることが容易である。すなわち、作製時にマスク蒸着などの工程を追加することなく、デューティー比を上げる駆動が実現できる。 In this embodiment, when the display device according to the present invention is driven by changing the potential of the first power supply line ANODE, the following advantages can be given. First, power consumption during driving can be reduced by not changing the second power supply line CATHODE to which a large capacity is connected. In addition, since the first power supply line ANODE can be formed on the substrate side, it is easy to process the shape and drive each scanning line independently as in the second embodiment. In other words, driving that increases the duty ratio can be realized without adding a process such as mask vapor deposition at the time of production.

(実施の形態4)
図12(A)に、1つの画素に2つのTFTを有する画素の素子のレイアウト例を示す。また、図12(A)において、X−X’で示される部分の断面図を図12(B)に示す。
(Embodiment 4)
FIG. 12A shows a layout example of an element of a pixel having two TFTs in one pixel. FIG. 12B is a cross-sectional view of a portion indicated by XX ′ in FIG.

図12(A)に示すように、本発明における画素は、第1のTFT1205、第1の配線1206、第2の配線1207、第2のTFT1208、第3の配線1211、対向電極1212、容量素子1213、画素電極1215、隔壁1216、有機導電体膜1217、有機薄膜1218、基板1219を有していてもよい。なお、第1のTFT1205はスイッチング用TFTとして、第1の配線1206はゲート信号線として、第2の配線1207はソース信号線として、第2のTFT1208は駆動用TFTとして、第3の配線1211は電流供給線として、それぞれ用いられるのが好適である。   As shown in FIG. 12A, a pixel in the present invention includes a first TFT 1205, a first wiring 1206, a second wiring 1207, a second TFT 1208, a third wiring 1211, a counter electrode 1212, a capacitor element. 1213, a pixel electrode 1215, a partition wall 1216, an organic conductor film 1217, an organic thin film 1218, and a substrate 1219 may be included. Note that the first TFT 1205 is a switching TFT, the first wiring 1206 is a gate signal line, the second wiring 1207 is a source signal line, the second TFT 1208 is a driving TFT, and the third wiring 1211 is Each is preferably used as a current supply line.

図12(A)に示すように、第1のTFT1205のゲート電極は、第1の配線1206と電気的に接続され、第1のTFT1205のソースまたはドレイン電極の一方は、第2の配線1207と電気的に接続され、第1のTFT1205のソースまたはドレイン電極の他方は、第2のTFT1208のゲート電極および容量素子1213の一方の電極と電気的に接続されているのが好適である。なお、第1のTFT1205のゲート電極は、図12(A)に示すように、複数のゲート電極によって構成されていても良い。こうすることで、第1のTFT1205のオフ状態におけるリーク電流を低減することができる。   As shown in FIG. 12A, the gate electrode of the first TFT 1205 is electrically connected to the first wiring 1206, and one of the source and drain electrodes of the first TFT 1205 is connected to the second wiring 1207. The other of the source and drain electrodes of the first TFT 1205 is preferably electrically connected to the gate electrode of the second TFT 1208 and one electrode of the capacitor 1213. Note that the gate electrode of the first TFT 1205 may include a plurality of gate electrodes as illustrated in FIG. Thus, leakage current in the off state of the first TFT 1205 can be reduced.

また、第2のTFT1208のソースまたはドレイン電極の一方は、第3の配線1211と電気的に接続され、第2のTFT1208のソースまたはドレイン電極の他方は、画素電極1215と電気的に接続されているのが好適である。こうすることで、画素電極1215に流れる電流を、第2のTFT1208によって制御することができる。 One of the source and drain electrodes of the second TFT 1208 is electrically connected to the third wiring 1211, and the other of the source and drain electrodes of the second TFT 1208 is electrically connected to the pixel electrode 1215. It is preferable. Thus, the current flowing through the pixel electrode 1215 can be controlled by the second TFT 1208.

画素電極1215上には、有機導電体膜1217が設けられ、さらに有機薄膜(有機化合物層)1218が設けられていてもよい。有機薄膜(有機化合物層)1218上には、対向電極1212が設けられていてもよい。なお、対向電極1212は、全ての画素で共通に接続されるように形成されていてもよく、シャドーマスクなどを用いてパターン形成されていてもよい。 An organic conductor film 1217 may be provided on the pixel electrode 1215, and an organic thin film (organic compound layer) 1218 may be further provided. A counter electrode 1212 may be provided on the organic thin film (organic compound layer) 1218. Note that the counter electrode 1212 may be formed so as to be commonly connected to all the pixels, or may be patterned using a shadow mask or the like.

有機薄膜(有機化合物層)1218から発せられた光は、画素電極1215もしくは対向電極1212のうちいずれかを透過して発せられる。このとき、図12(B)において、画素電極側、すなわちTFT等が形成されている側に光が発せられる場合、画素電極1215は透明導電膜によって形成されるのが好適である。対向電極側に光が発せられる場合、対向電極1212は透明導電膜によって形成されるのが好適である。   Light emitted from the organic thin film (organic compound layer) 1218 is emitted through either the pixel electrode 1215 or the counter electrode 1212. At this time, in FIG. 12B, in the case where light is emitted to the pixel electrode side, that is, the side where a TFT or the like is formed, the pixel electrode 1215 is preferably formed using a transparent conductive film. When light is emitted to the counter electrode side, the counter electrode 1212 is preferably formed of a transparent conductive film.

また、カラー表示の発光装置においては、R・G・Bそれぞれの発光色を持つEL素子を塗り分けても良いし、単色のEL素子を形成し、カラーフィルタによってR・G・Bの発光を得るようにしても良い。   In a light emitting device for color display, EL elements having R, G, and B emission colors may be separately applied, or a single color EL element is formed, and R, G, and B light is emitted by a color filter. You may make it get.

なお、図12に示した構成はあくまで一例であり、画素レイアウト、断面構成、EL素子の電極の積層順等に関して、図12に示した構成以外にも、様々な構成をとることができる。また、発光層は、図示した有機薄膜で構成される素子の他に、LEDのような結晶性の素子、無機薄膜で構成される素子など、様々な素子を用いることができる。   Note that the configuration illustrated in FIG. 12 is merely an example, and various configurations other than the configuration illustrated in FIG. 12 can be taken with respect to the pixel layout, the cross-sectional configuration, the stacking order of the electrodes of the EL element, and the like. For the light emitting layer, various elements such as a crystalline element such as an LED and an element composed of an inorganic thin film can be used in addition to the element composed of the illustrated organic thin film.

次に、図13(A)を参照して、1つの画素に3つのTFTを有する画素の素子のレイアウト例について説明する。また、図13(A)において、X−X’で示される部分の断面図を図13(B)に示す。 Next, a layout example of a pixel element having three TFTs in one pixel will be described with reference to FIG. FIG. 13B is a cross-sectional view of a portion indicated by X-X ′ in FIG.

図13(A)に示すように、本発明における画素は、基板1300、第1の配線1301、第2の配線1302、第3の配線1303、第4の配線1304、第1のTFT1305、第2のTFT1306、第3のTFT1307、画素電極1308、隔壁1311、有機導電体膜1312、有機薄膜1313、対向電極1314、を有していてもよい。なお、第1の配線1301はソース信号線として、第2の配線1302は書込用ゲート信号線として、第3の配線1303は消去用ゲート信号線として、第4の配線1304は電流供給線として、第1のTFT1305はスイッチング用TFTとして、第2のTFT1306は消去用TFTとして、第3のTFT1307は駆動用TFTとして、それぞれ用いられるのが好適である。   As shown in FIG. 13A, a pixel in the present invention includes a substrate 1300, a first wiring 1301, a second wiring 1302, a third wiring 1303, a fourth wiring 1304, a first TFT 1305, a second TFT The TFT 1306, the third TFT 1307, the pixel electrode 1308, the partition wall 1311, the organic conductor film 1312, the organic thin film 1313, and the counter electrode 1314 may be included. Note that the first wiring 1301 is a source signal line, the second wiring 1302 is a writing gate signal line, the third wiring 1303 is an erasing gate signal line, and the fourth wiring 1304 is a current supply line. The first TFT 1305 is preferably used as a switching TFT, the second TFT 1306 is used as an erasing TFT, and the third TFT 1307 is preferably used as a driving TFT.

図13(A)に示すように、第1のTFT1305のゲート電極は、第2の配線1302と電気的に接続され、第1のTFT1305のソースまたはドレイン電極の一方は、第1の配線1301と電気的に接続され、第1のTFT1305のソースまたはドレイン電極の他方は、第3のTFT1307のゲート電極と電気的に接続されているのが好適である。なお、第1のTFT1305のゲート電極は、図13(A)に示すように、複数のゲート電極によって構成されていても良い。こうすることで、第1のTFT1305のオフ状態におけるリーク電流を低減することができる。   As shown in FIG. 13A, the gate electrode of the first TFT 1305 is electrically connected to the second wiring 1302, and one of the source and drain electrodes of the first TFT 1305 is connected to the first wiring 1301. The other of the source and drain electrodes of the first TFT 1305 is preferably electrically connected to the gate electrode of the third TFT 1307. Note that the gate electrode of the first TFT 1305 may be formed of a plurality of gate electrodes as illustrated in FIG. Thus, leakage current in the off state of the first TFT 1305 can be reduced.

また、第2のTFT1306のゲート電極は、第3の配線1303と電気的に接続され、第2のTFT1306のソースまたはドレイン電極の一方は、第4の配線1304と電気的に接続され、第2のTFT1306のソースまたはドレイン電極の他方は、第3のTFT1307のゲート電極と電気的に接続されているのが好適である。なお、第2のTFT1306のゲート電極は、図13(A)に示すように、複数のゲート電極によって構成されていても良い。こうすることで、第2のTFT1306のオフ状態におけるリーク電流を低減することができる。   In addition, the gate electrode of the second TFT 1306 is electrically connected to the third wiring 1303, and one of the source and drain electrodes of the second TFT 1306 is electrically connected to the fourth wiring 1304, and The other of the source and drain electrodes of the TFT 1306 is preferably electrically connected to the gate electrode of the third TFT 1307. Note that the gate electrode of the second TFT 1306 may include a plurality of gate electrodes as illustrated in FIG. Thus, leakage current in the off state of the second TFT 1306 can be reduced.

また、第3のTFT1307のソースまたはドレイン電極の一方は、第4の配線1304と電気的に接続され、第3のTFT1307のソースまたはドレイン電極の他方は、画素電極1308と電気的に接続されているのが好適である。こうすることで、画素電極1308に流れる電流を、第3のTFT1307によって制御することができる。 One of the source and drain electrodes of the third TFT 1307 is electrically connected to the fourth wiring 1304, and the other of the source and drain electrodes of the third TFT 1307 is electrically connected to the pixel electrode 1308. It is preferable. Thus, the current flowing through the pixel electrode 1308 can be controlled by the third TFT 1307.

画素電極1308上には、有機導電体膜1312が設けられ、さらに有機薄膜(有機化合物層)1313が設けられていてもよい。有機薄膜(有機化合物層)1313上には、対向電極1314が設けられていてもよい。なお、対向電極1314は、全ての画素で共通に接続されるように形成されていてもよく、シャドーマスクなどを用いてパターン形成されていてもよい。 An organic conductor film 1312 may be provided over the pixel electrode 1308, and an organic thin film (organic compound layer) 1313 may be further provided. A counter electrode 1314 may be provided on the organic thin film (organic compound layer) 1313. Note that the counter electrode 1314 may be formed so as to be commonly connected to all the pixels, or may be patterned using a shadow mask or the like.

有機薄膜(有機化合物層)1313から発せられた光は、画素電極1308もしくは対向電極1314のうちいずれかを透過して発せられる。このとき、図13(B)において、画素電極側、すなわちTFT等が形成されている側に光が発せられる場合、画素電極1308は透明導電膜によって形成されるのが好適である。対向電極側に光が発せられる場合、対向電極1314は透明導電膜によって形成されるのが好適である。   Light emitted from the organic thin film (organic compound layer) 1313 is emitted through either the pixel electrode 1308 or the counter electrode 1314. At this time, in FIG. 13B, in the case where light is emitted to the pixel electrode side, that is, the side where a TFT or the like is formed, the pixel electrode 1308 is preferably formed using a transparent conductive film. When light is emitted to the counter electrode side, the counter electrode 1314 is preferably formed using a transparent conductive film.

また、カラー表示の発光装置においては、R・G・Bそれぞれの発光色を持つEL素子を塗り分けても良いし、単色のEL素子を形成し、カラーフィルタによってR・G・Bの発光を得るようにしても良い。   In a light emitting device for color display, EL elements having R, G, and B emission colors may be separately applied, or a single color EL element is formed, and R, G, and B light is emitted by a color filter. You may make it get.

なお、図13に示した構成はあくまで一例であり、画素レイアウト、断面構成、EL素子の電極の積層順等に関して、図13に示した構成以外にも、様々な構成をとることができる。また、発光層は、図示した有機薄膜で構成される素子の他に、LEDのような結晶性の素子、無機薄膜で構成される素子など、様々な素子を用いることができる。   Note that the configuration illustrated in FIG. 13 is merely an example, and various configurations other than the configuration illustrated in FIG. 13 can be employed with respect to the pixel layout, the cross-sectional configuration, the stacking order of the electrodes of the EL element, and the like. For the light emitting layer, various elements such as a crystalline element such as an LED and an element composed of an inorganic thin film can be used in addition to the element composed of the illustrated organic thin film.

次に、図14(A)を参照して、1つの画素に4つのTFTを有する画素の素子のレイアウト例について説明する。また、図14(A)において、X−X’で示される部分の断面図を図14(B)に示す。 Next, a layout example of a pixel element having four TFTs in one pixel will be described with reference to FIG. FIG. 14B is a cross-sectional view of a portion indicated by X-X ′ in FIG.

図14(A)に示すように、本発明における画素は、基板1400、第1の配線1401、第2の配線1402、第3の配線1403、第4の配線1404、第1のTFT1405、第2のTFT1406、第3のTFT1407、第4のTFT1408、画素電極1409、第5の配線1411、第6の配線1412、隔壁1421、有機導電体膜1422、有機薄膜1423、対向電極1424、を有していてもよい。なお、第1の配線1401はソース信号線として、第2の配線1402は書込用ゲート信号線として、第3の配線1403は消去用ゲート信号線として、第4の配線1404は逆方向バイアス用信号線として、第1のTFT1405はスイッチング用TFTとして、第2のTFT1406は消去用TFTとして、第3のTFT1407は駆動用TFTとして、第4のTFT1408は逆方向バイアス用TFTとして、第5の配線1411は電流供給線として、第6の配線1412は逆方向バイアス用電源線として、それぞれ用いられるのが好適である。   As shown in FIG. 14A, a pixel in the present invention includes a substrate 1400, a first wiring 1401, a second wiring 1402, a third wiring 1403, a fourth wiring 1404, a first TFT 1405, a second TFT TFT 1406, third TFT 1407, fourth TFT 1408, pixel electrode 1409, fifth wiring 1411, sixth wiring 1412, partition wall 1421, organic conductor film 1422, organic thin film 1423, counter electrode 1424. May be. Note that the first wiring 1401 is a source signal line, the second wiring 1402 is a writing gate signal line, the third wiring 1403 is an erasing gate signal line, and the fourth wiring 1404 is a reverse bias. As a signal line, the first TFT 1405 is a switching TFT, the second TFT 1406 is an erasing TFT, the third TFT 1407 is a driving TFT, the fourth TFT 1408 is a reverse bias TFT, and a fifth wiring. 1411 is preferably used as a current supply line, and the sixth wiring 1412 is preferably used as a reverse bias power supply line.

図14(A)に示すように、第1のTFT1405のゲート電極は、第2の配線1402と電気的に接続され、第1のTFT1405のソースまたはドレイン電極の一方は、第1の配線1401と電気的に接続され、第1のTFT1405のソースまたはドレイン電極の他方は、第3のTFT1407のゲート電極と電気的に接続されているのが好適である。なお、第1のTFT1405のゲート電極は、図14(A)に示すように、複数のゲート電極によって構成されていても良い。こうすることで、第1のTFT1405のオフ状態におけるリーク電流を低減することができる。   As shown in FIG. 14A, the gate electrode of the first TFT 1405 is electrically connected to the second wiring 1402, and one of the source and drain electrodes of the first TFT 1405 is connected to the first wiring 1401. The other of the source and drain electrodes of the first TFT 1405 is preferably electrically connected to the gate electrode of the third TFT 1407. Note that the gate electrode of the first TFT 1405 may be formed using a plurality of gate electrodes as illustrated in FIG. Thus, leakage current in the off state of the first TFT 1405 can be reduced.

また、第2のTFT1406のゲート電極は、第3の配線1403と電気的に接続され、第2のTFT1406のソースまたはドレイン電極の一方は、第5の配線1411と電気的に接続され、第2のTFT1406のソースまたはドレイン電極の他方は、第3のTFT1407のゲート電極と電気的に接続されているのが好適である。なお、第2のTFT1406のゲート電極は、図14(A)に示すように、複数のゲート電極によって構成されていても良い。こうすることで、第2のTFT1406のオフ状態におけるリーク電流を低減することができる。   In addition, the gate electrode of the second TFT 1406 is electrically connected to the third wiring 1403, and one of the source and drain electrodes of the second TFT 1406 is electrically connected to the fifth wiring 1411, The other of the source and drain electrodes of the TFT 1406 is preferably electrically connected to the gate electrode of the third TFT 1407. Note that the gate electrode of the second TFT 1406 may include a plurality of gate electrodes as illustrated in FIG. Thus, leakage current in the off state of the second TFT 1406 can be reduced.

また、第3のTFT1407のソースまたはドレイン電極の一方は、第5の配線1411と電気的に接続され、第3のTFT1407のソースまたはドレイン電極の他方は、画素電極1409と電気的に接続されているのが好適である。こうすることで、画素電極1409に流れる電流を、第3のTFT1407によって制御することができる。 One of the source and drain electrodes of the third TFT 1407 is electrically connected to the fifth wiring 1411, and the other of the source and drain electrodes of the third TFT 1407 is electrically connected to the pixel electrode 1409. It is preferable. By doing so, the current flowing through the pixel electrode 1409 can be controlled by the third TFT 1407.

また、第4のTFT1408のゲート電極は、第4の配線1404と電気的に接続され、第4のTFT1408のソースまたはドレイン電極の一方は、第6の配線1412と電気的に接続され、第4のTFT1408のソースまたはドレイン電極の他方は、画素電極1409と電気的に接続されているのが好適である。こうすることで、画素電極1409の電位を、第4のTFT1408によって制御することができるので、有機導電体膜1422および有機薄膜1423に、逆方向のバイアスを印加することができる。有機導電体膜1422および有機薄膜1423などで構成される発光素子に逆方向のバイアスを印加することによって、発光素子の信頼性を大きく向上させることができる。 Further, the gate electrode of the fourth TFT 1408 is electrically connected to the fourth wiring 1404, and one of the source and drain electrodes of the fourth TFT 1408 is electrically connected to the sixth wiring 1412, and The other of the source and drain electrodes of the TFT 1408 is preferably electrically connected to the pixel electrode 1409. In this way, the potential of the pixel electrode 1409 can be controlled by the fourth TFT 1408, so that a reverse bias can be applied to the organic conductor film 1422 and the organic thin film 1423. By applying a reverse bias to the light-emitting element including the organic conductor film 1422 and the organic thin film 1423, the reliability of the light-emitting element can be greatly improved.

たとえば、直流電圧(3.65V)で駆動した場合の輝度半減時間が400時間程度である発光素子を、交流電圧(順方向バイアス:3.7V、逆方向バイアス:1.7V、デューティ比50%、交流周波数60Hz)で駆動すると、輝度半減時間は700時間以上となることがわかっている。 For example, a light-emitting element whose luminance half-life is about 400 hours when driven by a DC voltage (3.65 V) is an AC voltage (forward bias: 3.7 V, reverse bias: 1.7 V, duty ratio 50%). It is known that the luminance half-life is 700 hours or more when driven at an AC frequency of 60 Hz.

次に、画素電極1409上には、有機導電体膜1422が設けられ、さらに有機薄膜(有機化合物層)1423が設けられていてもよい。有機薄膜(有機化合物層)1423上には、対向電極1424が設けられていてもよい。なお、対向電極1424は、全ての画素で共通に接続されるように形成されていてもよく、シャドーマスクなどを用いてパターン形成されていてもよい。 Next, an organic conductor film 1422 may be provided over the pixel electrode 1409, and an organic thin film (organic compound layer) 1423 may be further provided. A counter electrode 1424 may be provided over the organic thin film (organic compound layer) 1423. Note that the counter electrode 1424 may be formed so as to be commonly connected to all the pixels, or may be patterned using a shadow mask or the like.

有機薄膜(有機化合物層)1423から発せられた光は、画素電極1409もしくは対向電極1424のうちいずれかを透過して発せられる。このとき、図14(B)において、画素電極側、すなわちTFT等が形成されている側に光が発せられる場合、画素電極1409は透明導電膜によって形成されるのが好適である。対向電極側に光が発せられる場合、対向電極1424は透明導電膜によって形成されるのが好適である。   Light emitted from the organic thin film (organic compound layer) 1423 is emitted through either the pixel electrode 1409 or the counter electrode 1424. At this time, in FIG. 14B, in the case where light is emitted to the pixel electrode side, that is, the side where a TFT or the like is formed, the pixel electrode 1409 is preferably formed using a transparent conductive film. In the case where light is emitted to the counter electrode side, the counter electrode 1424 is preferably formed using a transparent conductive film.

また、カラー表示の発光装置においては、R・G・Bそれぞれの発光色を持つEL素子を塗り分けても良いし、単色のEL素子を形成し、カラーフィルタによってR・G・Bの発光を得るようにしても良い。   In a light emitting device for color display, EL elements having R, G, and B emission colors may be separately applied, or a single color EL element is formed, and R, G, and B light is emitted by a color filter. You may make it get.

なお、図14に示した構成はあくまで一例であり、画素レイアウト、断面構成、EL素子の電極の積層順等に関して、図14に示した構成以外にも、様々な構成をとることができる。また、発光層は、図示した有機薄膜で構成される素子の他に、LEDのような結晶性の素子、無機薄膜で構成される素子など、様々な素子を用いることができる。   Note that the configuration illustrated in FIG. 14 is merely an example, and various configurations other than the configuration illustrated in FIG. 14 can be employed with respect to the pixel layout, the cross-sectional configuration, the stacking order of the electrodes of the EL element, and the like. For the light emitting layer, various elements such as a crystalline element such as an LED and an element composed of an inorganic thin film can be used in addition to the element composed of the illustrated organic thin film.

次に、本発明に適用できるEL素子の構造について説明する。   Next, the structure of an EL element applicable to the present invention will be described.

本発明に適用できるEL素子は、正孔注入材料からなる正孔注入層、正孔輸送材料からなる正孔輸送層、発光材料からなる発光層、電子輸送材料からなる電子輸送層、電子注入材料からなる電子注入層等が、明確に区別されるような積層構造ではなく、正孔注入材料、正孔輸送材料、発光材料、電子輸送材料、電子注入材料等の材料のうち、複数の材料が混合された層(混合層)を有する構成(以下、混合接合型のEL素子と表記する)でもよい。   The EL device applicable to the present invention includes a hole injection layer made of a hole injection material, a hole transport layer made of a hole transport material, a light emitting layer made of a light emitting material, an electron transport layer made of an electron transport material, and an electron injection material The electron injection layer is not a layered structure that is clearly distinguished, but a plurality of materials among hole injection material, hole transport material, light emitting material, electron transport material, electron injection material, etc. A structure having a mixed layer (mixed layer) (hereinafter referred to as a mixed junction type EL element) may be used.

混合接合型のEL素子の構造を示す模式図を、図15に示す。図15において、1501はEL素子の陽極である。1502はEL素子の陰極である。陽極1501と陰極1502の間に挟まれた層が、EL層に相当する。   A schematic diagram showing the structure of a mixed junction type EL element is shown in FIG. In FIG. 15, reference numeral 1501 denotes an EL element anode. Reference numeral 1502 denotes a cathode of the EL element. A layer sandwiched between the anode 1501 and the cathode 1502 corresponds to an EL layer.

図15(A)において、EL層は、正孔輸送材料からなる正孔輸送領域1503と、電子輸送材料からなる電子輸送領域1504とを含み、前記正孔輸送領域1503は前記電子輸送領域1504よりも陽極側に位置し、且つ、前記正孔輸送領域1503と、前記電子輸送領域1504の間に、前記正孔輸送材料及び前記電子輸送材料の両方を含む混合領域1505が設けられた構成とすることができる。   In FIG. 15A, the EL layer includes a hole transport region 1503 made of a hole transport material and an electron transport region 1504 made of an electron transport material, and the hole transport region 1503 is formed from the electron transport region 1504. And a mixed region 1505 including both the hole transporting material and the electron transporting material is provided between the hole transporting region 1503 and the electron transporting region 1504. be able to.

なお、このとき、陽極1501から陰極1502の方向に、前記混合領域1505内の前記正孔輸送材料の濃度は減少し、前記混合領域1505内の電子輸送材料の濃度は増加することを特徴としても良い。   At this time, in the direction from the anode 1501 to the cathode 1502, the concentration of the hole transport material in the mixed region 1505 decreases, and the concentration of the electron transport material in the mixed region 1505 increases. good.

なお、上記構成において、正孔輸送材料のみからなる正孔輸送領域1503が存在せず、正孔輸送材料及び電子輸送材料の両方を含む混合領域1505内部で各機能材料の濃度の割合が変化する(濃度勾配を有する)構成であってもよい。また、正孔輸送材料のみからなる正孔輸送領域1503及び電子輸送材料のみからなる電子輸送領域1504が存在せず、正孔輸送材料及び電子輸送材料の両方を含む混合領域1505内部で各機能材料の濃度の割合が変化する(濃度勾配を有する)構成であってもよい。また、前記濃度の割合は、陽極や陰極からの距離に依存して変化する構成であってもよい。更に、前記濃度の割合の変化は連続的であってもよい。濃度勾配の設定の仕方は、自由に設定することが可能である。   Note that in the above structure, the hole transport region 1503 made of only the hole transport material does not exist, and the concentration ratio of each functional material changes in the mixed region 1505 including both the hole transport material and the electron transport material. It may be configured (having a concentration gradient). Further, there is no hole transport region 1503 made of only the hole transport material and no electron transport region 1504 made of only the electron transport material, and each functional material is inside the mixed region 1505 including both the hole transport material and the electron transport material. A configuration in which the ratio of the concentration of (having a concentration gradient) may be employed. The concentration ratio may be changed depending on the distance from the anode or the cathode. Further, the change in the concentration ratio may be continuous. The method of setting the concentration gradient can be set freely.

前記混合領域1505内に、発光材料が添加された領域1506を有する。発光材料によって、EL素子の発光色を制御することができる。また、発光材料によって、キャリアをトラップすることができる。発光材料としては、キノリン骨格を含む金属錯体、ベンゾオキサドール骨格を含む金属錯体、ベンゾチアゾ−ル骨格を含む金属錯体等の他、各種蛍光色素を用いることができる。これらの発光材料を添加することによって、EL素子の発光色を制御することができる。   The mixed region 1505 has a region 1506 to which a light emitting material is added. The emission color of the EL element can be controlled by the light emitting material. Further, carriers can be trapped by the light emitting material. As the light emitting material, various fluorescent dyes can be used in addition to a metal complex including a quinoline skeleton, a metal complex including a benzoxador skeleton, a metal complex including a benzothiazol skeleton, and the like. By adding these light emitting materials, the light emission color of the EL element can be controlled.

陽極1501としては、効率よく正孔を注入するため、仕事関数の大きな電極材料を用いることが好ましい。例えば、錫ドープ酸化インジウム(ITO)や、亜鉛ドープ酸化インジウム(IZO)、ZnO、SnO、In2O等の透明電極を用いることができる。また、透光性を有する必要が無いならば、陽極1501は、不透明の金属材料でもよい。 As the anode 1501, it is preferable to use an electrode material having a large work function in order to inject holes efficiently. For example, a transparent electrode such as tin-doped indium oxide (ITO), zinc-doped indium oxide (IZO), ZnO, SnO 2 , or In 2 O 3 can be used. Further, the anode 1501 may be an opaque metal material if it is not necessary to have translucency.

また、正孔輸送材料としては、芳香族アミン系の化合物等を用いることができる。   As the hole transport material, an aromatic amine compound or the like can be used.

また、電子輸送材料としては、キノリン誘導体、8−キノリノールまたはその誘導体を配位子とする金属錯体(特に、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム(Alq3))等を用いることができる。   As the electron transporting material, a metal complex having a quinoline derivative, 8-quinolinol or a derivative thereof as a ligand (particularly, tris (8-quinolinolato) aluminum (Alq3)) or the like can be used.

陰極1502としては、効率よく電子を注入するため、仕事関数の小さな電極材料を用いることが好ましい。アルミニウム、インジウム、マグネシウム、銀、カルシウム、バリウム、リチウム等の金属を単体で用いることができる。また、これらの金属の合金であっても良いし、これらの金属と他の金属との合金であっても良い。   As the cathode 1502, it is preferable to use an electrode material having a small work function in order to inject electrons efficiently. A single metal such as aluminum, indium, magnesium, silver, calcium, barium, or lithium can be used. Moreover, the alloy of these metals may be sufficient and the alloy of these metals and another metal may be sufficient.

図15(A)とは異なる構成のEL素子の模式図を図15(B)に示す。なお、図15(A)と同じ部分は同じ符号を用いて示し、説明は省略する。   FIG. 15B is a schematic diagram of an EL element having a structure different from that in FIG. Note that the same portions as those in FIG. 15A are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図15(B)では、発光材料が添加された領域を有さない。しかし、電子輸送領域1504に添加する材料として、電子輸送性及び発光性の両方を有する材料(電子輸送発光材料)、例えば、トリス(8−キノリノライト)アルミニウム(Alq3)を用いる構成とし、発光を行うことができる。   In FIG. 15B, there is no region to which the light-emitting material is added. However, as a material to be added to the electron transporting region 1504, a material having both electron transporting properties and light emitting properties (electron transporting light emitting material), for example, tris (8-quinolinolite) aluminum (Alq3) is used to emit light. be able to.

または、正孔輸送領域1503に添加する材料として、正孔輸送性及び発光性の両方を有する材料(正孔輸送発光材料)を用いてもよい。   Alternatively, as a material added to the hole-transport region 1503, a material having both hole-transport properties and light-emitting properties (hole-transport light-emitting material) may be used.

図15(A)及び図15(B)とは異なる構成のEL素子の模式図を図15(C)に示す。なお、図15(A)及び図15(B)と同じ部分は同じ符号を用いて示し、説明は省略する。   FIG. 15C shows a schematic diagram of an EL element having a structure different from those in FIGS. 15A and 15B. Note that the same portions as those in FIGS. 15A and 15B are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図15(C)において、正孔輸送材料に比べて最高被占分子軌道と最低被占分子軌道とのエネルギー差が大きい正孔ブロッキング性材料が、混合領域1505内に添加された領域1507を有する。正孔ブロッキング性材料が添加された領域1507を、混合領域1505内の発光材料が添加された領域1506より陰極1502側に配置することによって、キャリアの再結合率を上げ、発光効率を上げることができる。上記、正孔ブロッキング性材料が添加された領域1507を設ける構成は、特に、三重光励起子のよる発光(燐光)を利用するEL素子において有効である。   In FIG. 15C, a hole blocking material having a large energy difference between the highest occupied molecular orbital and the lowest occupied molecular orbital compared to the hole transporting material has a region 1507 added in the mixed region 1505. . The region 1507 to which the hole blocking material is added is arranged closer to the cathode 1502 than the region 1506 to which the light emitting material is added in the mixed region 1505, so that the carrier recombination rate can be increased and the light emission efficiency can be increased. it can. The above-described structure in which the region 1507 to which a hole blocking material is added is provided is particularly effective in an EL element using light emission (phosphorescence) by triple photoexcitons.

図15(A)、図15(B)及び図15(C)とは異なる構成のEL素子の模式図を図15(D)に示す。なお、図15(A)、図15(B)及び図15(C)と同じ部分は同じ符号を用いて示し、説明は省略する。   FIG. 15D is a schematic diagram of an EL element having a structure different from those in FIGS. 15A, 15B, and 15C. Note that the same portions as those in FIGS. 15A, 15B, and 15C are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図15(D)において、電子輸送材料に比べて最高被占分子軌道と最低被占分子軌道とのエネルギー差が大きい電子ブロッキング性材料が、混合領域1505内に添加された領域1508を有する。電子ブロッキング性材料が添加された領域1508を、混合領域1505内の発光材料が添加された領域1506より陽極1501側に配置することによって、キャリアの再結合率を上げ、発光効率を上げることができる。上記、電子ブロッキング性材料が添加された領域1508を設ける構成は、特に、三重項励起子のよる発光(燐光)を利用するEL素子において有効である。   In FIG. 15D, an electron blocking material having a large energy difference between the highest occupied molecular orbital and the lowest occupied molecular orbital compared to the electron transporting material has a region 1508 added in the mixed region 1505. By disposing the region 1508 to which the electron blocking material is added closer to the anode 1501 than the region 1506 to which the light emitting material is added in the mixed region 1505, the carrier recombination rate can be increased and the light emission efficiency can be increased. . The above structure in which the region 1508 to which the electron blocking material is added is provided is particularly effective in an EL element using light emission (phosphorescence) by triplet excitons.

図15(E)は、図15(A)、図15(B)、図15(C)および図15(D)とは異なる混合接合型のEL素子の構成を示す模式図である。図15(E)では、EL素子の電極に接するEL層の部分に、金属材料を添加した領域1509を有する構成の例を示す。図15(E)において、図15(A)〜図15(D)と同じ部分は同じ符号を用いて示し説明は省略する。図15(E)に示す構成は、たとえば、陰極1502としてMgAg(Mg―Ag合金)を用い、電子輸送材料が添加された領域1504の、陰極1502に接する領域にAl(アルミニウム)合金を添加した領域1509を有する構成であってもよい。上記構成によって、陰極の酸化を防止し、且つ、陰極からの電子の注入効率を高めることができる。こうして、混合接合型のEL素子では、その寿命を長くすることができる。また、駆動電圧も低くすることができる。   FIG. 15E is a schematic diagram illustrating a structure of a mixed-junction EL element different from those in FIGS. 15A, 15B, 15C, and 15D. FIG. 15E illustrates an example of a structure in which a region 1509 to which a metal material is added is provided in a portion of an EL layer in contact with an electrode of an EL element. In FIG. 15E, the same portions as those in FIGS. 15A to 15D are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. In the configuration shown in FIG. 15E, for example, MgAg (Mg—Ag alloy) is used as the cathode 1502, and an Al (aluminum) alloy is added to a region in contact with the cathode 1502 in the region 1504 to which the electron transport material is added. A configuration having an area 1509 may be used. With the above structure, oxidation of the cathode can be prevented and the efficiency of electron injection from the cathode can be increased. Thus, the life of the mixed junction type EL element can be extended. Further, the drive voltage can be lowered.

上記混合接合型のEL素子を作製する手法としては、共蒸着法等を用いることができる。   As a method of manufacturing the mixed junction type EL element, a co-evaporation method or the like can be used.

図15(A)〜図15(E)に示したような混合接合型のEL素子では、明確な層の界面が存在せず、電荷の蓄積を低減することができる。こうして、その寿命を長くすることができる。また、駆動電圧も低くすることができる。   In the mixed junction type EL element as shown in FIGS. 15A to 15E, there is no clear layer interface, and charge accumulation can be reduced. In this way, the lifetime can be extended. Further, the drive voltage can be lowered.

なお、図15(A)〜図15(E)に示した構成は、自由に組み合わせて実施することが可能である。   Note that the structures shown in FIGS. 15A to 15E can be implemented in any combination.

なお、混合接合型のEL素子の構成は、これに限定されない。公知の構成を自由に用いることができる。   Note that the structure of the mixed junction EL element is not limited thereto. A known configuration can be used freely.

なお、EL素子のEL層を構成する有機材料としては、低分子材料でも高分子材料でもよい。また、これらの材料を両方用いてもよい。有機化合物材料として低分子材料を用いる場合は、蒸着法によって成膜することができる。一方、EL層として高分子材料を用いる場合では、高分子材料を溶媒に溶かし、スピンコート法やインクジェット方式で成膜することができる。 Note that the organic material constituting the EL layer of the EL element may be a low molecular material or a high molecular material. Moreover, you may use both of these materials. When a low molecular material is used as the organic compound material, the film can be formed by an evaporation method. On the other hand, in the case where a polymer material is used for the EL layer, the polymer material can be dissolved in a solvent and formed into a film by a spin coating method or an inkjet method.

また、EL層は、中分子材料によって構成されていても良い。本明細書中において、中分子系有機発光材料とは、昇華性を有さず、かつ、重合度が20程度以下の有機発光材料を示すものとする。EL層として中分子材料を用いる場合では、インクジェット方式等で成膜することができる。   The EL layer may be made of a medium molecular material. In the present specification, the medium molecular organic light-emitting material refers to an organic light-emitting material having no sublimation property and having a degree of polymerization of about 20 or less. In the case where a medium molecular material is used for the EL layer, it can be formed by an inkjet method or the like.

なお、低分子材料と、高分子材料と、中分子材料とを組み合わせて用いても良い。   Note that a low molecular material, a high molecular material, and a medium molecular material may be used in combination.

また、EL素子は、一重項励起子からの発光(蛍光)を利用するものでも、三重項励起子からの発光(燐光)を利用するものでも、どちらでも良い。   The EL element may be either one that uses light emission (fluorescence) from singlet excitons or one that uses light emission (phosphorescence) from triplet excitons.

次に、本発明が適用できる表示装置を製造するための蒸着装置について、図面を参照して説明する。   Next, a vapor deposition apparatus for manufacturing a display device to which the present invention can be applied will be described with reference to the drawings.

本発明が適用できる表示装置は、EL層を形成して製造されてもよい。EL層は、エレクトロルミネセンスを発現する材料を少なくとも一部に含んで形成される。EL層は機能の異なる複数の層で構成されても良い。その場合、EL層は、正孔注入輸送層、発光層、電子注入輸送層などとも呼ばれる機能の異なる層が組み合わさって構成されていてもよい。   A display device to which the present invention can be applied may be manufactured by forming an EL layer. The EL layer is formed including at least part of a material that exhibits electroluminescence. The EL layer may be composed of a plurality of layers having different functions. In that case, the EL layer may be configured by combining layers having different functions called a hole injecting and transporting layer, a light emitting layer, and an electron injecting and transporting layer.

トランジスタが形成された素子基板に、EL層を形成するための蒸着装置の構成を図16に示す。この蒸着装置は、搬送室1660、1661に複数の処理室を連結している。処理室には、基板を供給するロード室1662、基板を回収するアンロード室1663、その他、加熱処理室1668、プラズマ処理室1672、EL材料を蒸着する成膜処理室1669〜1675、EL素子の一方の電極として、アルミニウム若しくはアルミニウムを主成分とする導電膜を形成する成膜処理室1676を含んでいる。また、搬送室と各処理室の間にはゲートバルブ1677a〜1677mが設けられていて、各処理室の圧力は独立して制御可能とされており、処理室間の相互汚染を防いでいる。   FIG. 16 shows a configuration of a vapor deposition apparatus for forming an EL layer on an element substrate over which a transistor is formed. In this vapor deposition apparatus, a plurality of processing chambers are connected to transfer chambers 1660 and 1661. The processing chamber includes a load chamber 1662 for supplying a substrate, an unload chamber 1663 for recovering the substrate, a heat processing chamber 1668, a plasma processing chamber 1672, film formation processing chambers 1669 to 1675 for depositing an EL material, and an EL element. One electrode includes a film formation treatment chamber 1676 in which aluminum or a conductive film containing aluminum as a main component is formed. In addition, gate valves 1677a to 1677m are provided between the transfer chamber and each processing chamber, and the pressure in each processing chamber can be independently controlled to prevent cross-contamination between the processing chambers.

ロード室1662から搬送室1660に導入された基板は、回転自在に設けられたアーム方式の搬送手段1666により、所定の処理室へ搬入される。また、基板は搬送手段1666により、ある処理室から他の処理室へ搬送される。搬送室1660と搬送室1661とは成膜処理室1670で連結され、ここで搬送手段1666と搬送手段1667により基板の受け渡しが行う。   The substrate introduced from the load chamber 1662 into the transfer chamber 1660 is carried into a predetermined processing chamber by an arm-type transfer means 1666 that is rotatably provided. In addition, the substrate is transferred from one processing chamber to another processing chamber by the transfer means 1666. The transfer chamber 1660 and the transfer chamber 1661 are connected by a film formation chamber 1670, and the substrate is transferred by the transfer unit 1666 and the transfer unit 1667.

搬送室1660及び搬送室1661に連結する各処理室は減圧状態に保持されている。従って、この蒸着装置では、基板は大気に触れることなく連続してEL層の成膜処理が行われる。EL層の成膜処理が終わった表示パネルは、水蒸気などにより劣化する場合があるので、この蒸着装置では、品質を保持するために大気に触れさせる前に封止処理を行うための封止処理室1665が搬送室1661に連結されている。封止処理室1665は大気圧若しくはそれに近い減圧下におかれているので、搬送室1661と封止処理室1665の間にも中間室1664が備えられている。中間室1664は基板の受け渡しと、室間の圧力を緩衝するために設けられている。   Each processing chamber connected to the transfer chamber 1660 and the transfer chamber 1661 is held in a reduced pressure state. Therefore, in this vapor deposition apparatus, the substrate is continuously subjected to film formation of the EL layer without being exposed to the atmosphere. Since the display panel after the EL layer deposition process may be deteriorated by water vapor or the like, in this vapor deposition apparatus, a sealing process for performing a sealing process before exposure to the atmosphere in order to maintain the quality. A chamber 1665 is connected to the transfer chamber 1661. Since the sealing treatment chamber 1665 is placed under atmospheric pressure or a reduced pressure close thereto, an intermediate chamber 1664 is also provided between the transfer chamber 1661 and the sealing treatment chamber 1665. The intermediate chamber 1664 is provided for transferring the substrate and buffering the pressure between the chambers.

ロード室、アンロード室、搬送室及び成膜処理室には室内を減圧に保持するための排気手段が備えられている。排気手段としては、ドライポンプ、ターボ分子ポンプ、拡散ポンプなど各種の真空ポンプを用いることができる。   The load chamber, the unload chamber, the transfer chamber, and the film forming chamber are provided with exhaust means for maintaining the chamber at a reduced pressure. As the exhaust means, various vacuum pumps such as a dry pump, a turbo molecular pump, and a diffusion pump can be used.

図16の蒸着装置において、搬送室1660及び搬送室1661に連結される処理室の数やその構成は、EL素子の積層構造に応じて適宜組み合わせることができる。以下に、その組み合わせの一例を示す。   In the vapor deposition apparatus in FIG. 16, the number of processing chambers connected to the transfer chamber 1660 and the transfer chamber 1661 and the configuration thereof can be appropriately combined depending on the stacked structure of the EL elements. An example of the combination is shown below.

加熱処理室1668は、最初に下部電極や絶縁隔壁等が形成された基板を加熱して脱ガス処理を行う。プラズマ処理室1672は、下地電極表面を希ガスや酸素プラズマ処理を行う。このプラズマ処理は、表面を清浄化、表面状態の安定化、表面の物理的若しくは化学的状態(例えば、仕事関数など)を安定化させるために行う。   The heat treatment chamber 1668 performs degassing treatment by heating the substrate on which the lower electrode, the insulating partition wall, and the like are first formed. The plasma treatment chamber 1672 performs rare gas or oxygen plasma treatment on the surface of the base electrode. This plasma treatment is performed to clean the surface, stabilize the surface state, and stabilize the physical or chemical state (eg, work function) of the surface.

成膜処理室1669は、EL素子の一方の電極と接触する電極バッファ層を形成する処理室である。電極バッファ層はキャリア注入性(正孔注入若しくは電子注入)があり、EL素子の短絡や暗点欠陥の発生を抑制する層である。代表的には、電極バッファ層は、有機無機混合材料であって、抵抗率が5×10〜1×10Ωcmであり、30〜300nmの厚さに形成される。また、成膜室1671は正孔輸送層を成膜する処理室である。 The film formation treatment chamber 1669 is a treatment chamber for forming an electrode buffer layer in contact with one electrode of the EL element. The electrode buffer layer has carrier injection properties (hole injection or electron injection), and is a layer that suppresses the occurrence of short circuits and dark spot defects in EL elements. Typically, the electrode buffer layer is an organic-inorganic mixed material, has a resistivity of 5 × 10 4 to 1 × 10 6 Ωcm, and is formed to a thickness of 30 to 300 nm. The film formation chamber 1671 is a treatment chamber for forming a hole transport layer.

EL素子における発光層は、単色発光をする場合と白色発光をする場合とで、その構成が異なる。蒸着装置において成膜処理室もそれに応じて配置することが好ましい。例えば、表示パネルに発光色が異なる三種類のEL素子を形成する場合には、各発光色に対応した発光層を成膜する必要がある。この場合、成膜処理室1670を第1の発光層の成膜用として、成膜処理室1673を第2の発光層の成膜用として、成膜処理室1674を第3の発光層の成膜用として用いることができる。発光層ごとに成膜処理室を分けることで、異なる発光材料による相互汚染を防止することが出来、成膜処理のスループットを向上させることが出来る。   The structure of the light emitting layer in the EL element differs depending on whether the light emission is monochromatic or white. In the vapor deposition apparatus, it is preferable to arrange the film forming treatment chamber accordingly. For example, when three types of EL elements having different emission colors are formed on the display panel, it is necessary to form a light emitting layer corresponding to each emission color. In this case, the film formation chamber 1670 is used for forming the first light-emitting layer, the film formation chamber 1673 is used for forming the second light-emitting layer, and the film formation chamber 1673 is used for forming the third light-emitting layer. It can be used for membranes. By separating the film formation chamber for each light emitting layer, mutual contamination by different light emitting materials can be prevented, and the throughput of the film formation process can be improved.

また、成膜処理室1670、成膜処理室1673、成膜処理室1674のそれそれで、発光色が異なる三種類のEL材料を順次蒸着しても良い。この場合、シャドーマスクを使い、蒸着する領域に応じて当該マスクをずらして蒸着を行うことになる。   Further, three types of EL materials having different emission colors may be sequentially deposited in each of the film formation chamber 1670, the film formation chamber 1673, and the film formation chamber 1673. In this case, a shadow mask is used, and vapor deposition is performed by shifting the mask in accordance with the region to be vapor deposited.

白色発光するEL素子を形成する場合には、異なる発光色の発光層を縦積みにして形成する。その場合にも、素子基板が成膜処理室を順次移動して、発光層ごとに成膜することができる。また、同じ成膜処理室で異なる発光層を連続して成膜することもできる。   In the case of forming an EL element that emits white light, light emitting layers having different light emission colors are stacked vertically. Also in that case, the element substrate can be sequentially moved through the film formation chamber to form a film for each light emitting layer. In addition, different light emitting layers can be successively formed in the same film formation chamber.

成膜処理室1676では、EL層の上に電極を成膜する。電極の形成は、電子ビーム蒸着法やスパッタリング法を適用することもできるが、好ましくは抵抗加熱蒸着法を用いることが好ましい。   In the film formation treatment chamber 1676, an electrode is formed over the EL layer. The electrode can be formed by electron beam evaporation or sputtering, but resistance heating evaporation is preferably used.

電極の形成まで終了した素子基板は、中間室1664を経て封止処理室1665に搬入される。封止処理室1665は、ヘリウム、アルゴン、ネオン、若しくは窒素などの不活性な気体が充填されており、その雰囲気下で素子基板のEL層が形成された側に封止板を貼り付けて封止する。封止された状態において、素子基板と封止板との間には、不活性気体が充填されていても良いし、樹脂材料を充填しておいても良い。封止処理室1665には、シール材を描画するディスペンサーや、素子基板に対向して封止板を固定する固定ステージやアームなどの機械的要素、樹脂材料を充填するディスペンサー若しくはスピンコーターなどが備えられている。   The element substrate that has been completed up to the formation of the electrode is carried into the sealing treatment chamber 1665 through the intermediate chamber 1664. The sealing treatment chamber 1665 is filled with an inert gas such as helium, argon, neon, or nitrogen, and is sealed by attaching a sealing plate to the element substrate on which the EL layer is formed in the atmosphere. Stop. In a sealed state, an inert gas may be filled between the element substrate and the sealing plate, or a resin material may be filled. The sealing processing chamber 1665 includes a dispenser for drawing a sealing material, a mechanical element such as a fixed stage and an arm for fixing a sealing plate facing the element substrate, a dispenser for filling a resin material, or a spin coater. It has been.

図17は、成膜処理室の内部構成を示す。成膜処理室は減圧下に保たれていて、図17では天板1791と底板1792で挟まれる内側が室内であり、減圧状態に保たれる室内を示している。   FIG. 17 shows the internal configuration of the film forming chamber. The film formation chamber is kept under reduced pressure, and in FIG. 17, the inside between the top plate 1791 and the bottom plate 1792 is a room, and a room kept under reduced pressure is shown.

処理室内には、一つ又は複数個の蒸発源が備えられている。組成の異なる複数の層を成膜する場合や、異なる材料を共蒸着する場合は、複数個の蒸発源を設けることが好ましいからである。図17では、蒸発源1781a、1781b、1781cが蒸発源ホルダ1780に装着されている。蒸発源ホルダ1780は多関節アーム1783によって保持されている。多関節アーム1783は関節の伸縮によって、蒸発源ホルダ1780の位置をその可動範囲内で自在に移動可能としている。また、蒸発源ホルダ1780に距離センサー1782を設け、蒸発源1781a〜1781cと基板1789との間隔をモニターして、蒸着時における最適な間隔を制御しても良い。その場合には、多関節アームに上下方向(Z方向)にも変位する多関節アームとしても良い。   One or a plurality of evaporation sources are provided in the processing chamber. This is because it is preferable to provide a plurality of evaporation sources when a plurality of layers having different compositions are formed or when different materials are co-evaporated. In FIG. 17, evaporation sources 1781 a, 1781 b, and 1781 c are attached to the evaporation source holder 1780. The evaporation source holder 1780 is held by an articulated arm 1783. The articulated arm 1783 can freely move the position of the evaporation source holder 1780 within the movable range by expansion and contraction of the joint. In addition, a distance sensor 1782 may be provided in the evaporation source holder 1780, and an interval between the evaporation sources 1781a to 1781c and the substrate 1789 may be monitored to control an optimum interval during vapor deposition. In that case, it is good also as an articulated arm which displaces to an articulated arm also in the up-down direction (Z direction).

基板ステージ1786と基板チャック1787は一対となって基板1789を固定する。基板ステージ1786はヒータを内蔵させて基板1789を加熱できるように構成しても良い。基板1789は、基板チャック1787の禁緩により、基板ステージ1786に固定されまた搬出入される。蒸着に際しては、必要に応じて蒸着するパターンに対応して開口部を備えたシャドーマスク1790を用いることもできる。その場合、シャドーマスク1790は、基板1789と蒸発源1781a〜1781cの間に配置されるようにする。シャドーマスク1790はマスクチャック1788により、基板1789と密着若しくは一定の間隔を持って固定される。シャドーマスク1790のアライメントが必要な場合には、処理室内にカメラを配置し、マスクチャック1788にX−Y−θ方向に微動する位置決め手段を備えることで、その位置合わせを行う。   A substrate stage 1786 and a substrate chuck 1787 are paired to fix the substrate 1789. The substrate stage 1786 may be configured to heat the substrate 1789 by incorporating a heater. The substrate 1789 is fixed to the substrate stage 1786 and carried in and out by the forcible relaxation of the substrate chuck 1787. In vapor deposition, a shadow mask 1790 having an opening corresponding to the pattern to be vapor deposited can be used as necessary. In that case, the shadow mask 1790 is arranged between the substrate 1789 and the evaporation sources 1781a to 1781c. The shadow mask 1790 is fixed to the substrate 1789 in close contact with the mask chuck 1788 or at a fixed interval. When the shadow mask 1790 needs to be aligned, the camera is arranged in the processing chamber, and the mask chuck 1788 is provided with a positioning unit that finely moves in the XY-θ direction, thereby performing the alignment.

蒸発源1781には、蒸着材料を蒸発源に連続して供給する蒸着材料供給手段が付加されている。蒸着材料供給手段は、蒸発源1781と離れた位置に配置される材料供給源1785a、1785b、1785cと、その両者の間を繋ぐ材料供給管1784を有している。典型的には、材料供給源1785a、1785b、1785cは蒸発源1781に対応して設けられている。図17の場合は、材料供給源1785aと17蒸発源81aが対応している。材料供給源1785bと蒸発源1781b、材料供給源1785cと蒸発源1781cについても同様である。   The evaporation source 1781 is provided with a deposition material supply means for continuously supplying the deposition material to the evaporation source. The vapor deposition material supply means includes material supply sources 1785a, 1785b, and 1785c arranged at positions distant from the evaporation source 1781, and a material supply pipe 1784 connecting the two. Typically, the material supply sources 1785a, 1785b, and 1785c are provided corresponding to the evaporation source 1781. In the case of FIG. 17, the material supply source 1785a corresponds to the 17 evaporation source 81a. The same applies to the material supply source 1785b and the evaporation source 1781b, and the material supply source 1785c and the evaporation source 1781c.

蒸着材料の供給方式には、気流搬送方式、エアロゾル方式などが適用できる。気流搬送方式は、蒸着材料の微粉末を気流に乗せて搬送するもので、不活性ガスなどを用いて蒸発源1781に搬送する。エアロゾル方式は、蒸着材料を溶剤中に溶解または分散させた原料液を搬送し、噴霧器によりエアロゾル化し、エアロゾル中の溶媒を気化させながら行う蒸着である。いずれの場合にも、蒸発源1781には加熱手段が設けられ、搬送された蒸着材料を蒸発させて基板1789に成膜する。図17の場合、材料供給管1784は柔軟に曲げることができ、減圧状態下においても変形しない程度の剛性を持った細管で構成されている。   As an evaporation material supply method, an air current conveyance method, an aerosol method, or the like can be applied. In the air current conveyance method, fine powder of vapor deposition material is carried on an air current and is conveyed to the evaporation source 1781 using an inert gas or the like. The aerosol method is vapor deposition performed by conveying a raw material solution in which a vapor deposition material is dissolved or dispersed in a solvent, aerosolizing it with a sprayer, and vaporizing the solvent in the aerosol. In any case, the evaporation source 1781 is provided with a heating unit, and the conveyed evaporation material is evaporated to form a film on the substrate 1789. In the case of FIG. 17, the material supply pipe 1784 can be bent flexibly, and is composed of a thin pipe having a rigidity that does not deform even under reduced pressure.

気流搬送方式やエアロゾル方式を適用する場合には、成膜処理室内を大気圧若しくはそれ以下であって、好ましくは133Pa〜13300Paの減圧下で成膜を行えば良い。成膜処理室内にはヘリウム、アルゴン、ネオン、クリプトン、キセノン、若しくは窒素などの不活性気体を充填し、または当該気体を供給しながら(同時に排気しながら)、圧力の調節を行うことができる。また、酸化膜を形成する成膜処理室では、酸素、亜酸化窒素などの気体を導入して酸化雰囲気としておいても良い。また、有機材料を蒸着する成膜処理室内には水素などの気体を導入して還元雰囲気にしておいても良い。   In the case of applying an air current conveyance method or an aerosol method, the film formation may be performed under a reduced pressure of 133 Pa to 13300 Pa in the film formation treatment chamber at atmospheric pressure or lower. The film formation chamber can be filled with an inert gas such as helium, argon, neon, krypton, xenon, or nitrogen, or the pressure can be adjusted while supplying the gas (while exhausting the gas). Further, in the film formation treatment chamber in which an oxide film is formed, a gas such as oxygen or nitrous oxide may be introduced to form an oxidizing atmosphere. Alternatively, a reducing atmosphere may be formed by introducing a gas such as hydrogen into a film formation chamber in which an organic material is deposited.

その他の蒸着材料の供給方法として、材料供給管1784の中にスクリューを設け蒸着材料を蒸発源に向けて連続的に押し出す構成としても良い。   As another vapor deposition material supply method, a screw may be provided in the material supply pipe 1784 to continuously extrude the vapor deposition material toward the evaporation source.

この蒸着装置によれば、大画面の表示パネルであっても、均一性良く、連続して成膜することができる。また、蒸発源に蒸着材料が無くなる度に、その都度蒸着材料を補給する必要がないので、スループットを向上することができる。   According to this vapor deposition apparatus, even a large-screen display panel can be continuously formed with good uniformity. Further, it is not necessary to replenish the vapor deposition material each time the vapor deposition material runs out of the evaporation source, so that the throughput can be improved.

なお、本実施の形態で述べた内容は、他の実施の形態と自由に組み合わせて実施することができる。   Note that the description in this embodiment can be implemented in free combination with any of the other embodiments.

(実施の形態5)
図18に、本発明を適用することのできる画素のレイアウト例を示す。
(Embodiment 5)
FIG. 18 shows a layout example of a pixel to which the present invention can be applied.

図18に示すように、本発明における画素は、第1のTFT1801、第2のTFT1802、第3のTFT1803、第4のTFT1804、第5のTFT1805、第1の配線1806、第2の配線1807、第3の配線1808、第4の配線1809、第5の配線1810、第6の配線1811、容量素子コンデンサ1813、画素電極1814、隔壁開口部1815、障壁開口部1815に設けられた発光素子、電極A、電極Bを有していてもよい。なお、第1のTFT1801は駆動用TFTとして用いられるのが好適である。また、第2のTFT1802、第3のTFT1803、第4のTFT1804、第5のTFT1805は、スイッチング用TFTとして用いられるのが好適である。また、第1の配線1806は電流供給線として用いられるのが好適である。また、第2の配線1807、第3の配線1808、第4の配線1809、第5の配線1810は、第2のTFT1802、第3のTFT1803、第4のTFT1804、第5のTFT1805のオン・オフを決める信号線として、第6の配線1811はソース信号線として、それぞれ用いられるのが好適である。   As shown in FIG. 18, the pixel in the present invention includes a first TFT 1801, a second TFT 1802, a third TFT 1803, a fourth TFT 1804, a fifth TFT 1805, a first wiring 1806, a second wiring 1807, Light emitting elements and electrodes provided in the third wiring 1808, the fourth wiring 1809, the fifth wiring 1810, the sixth wiring 1811, the capacitor capacitor 1813, the pixel electrode 1814, the partition wall opening 1815, and the barrier opening 1815 A and electrode B may be provided. Note that the first TFT 1801 is preferably used as a driving TFT. In addition, the second TFT 1802, the third TFT 1803, the fourth TFT 1804, and the fifth TFT 1805 are preferably used as switching TFTs. The first wiring 1806 is preferably used as a current supply line. The second wiring 1807, the third wiring 1808, the fourth wiring 1809, and the fifth wiring 1810 are on / off of the second TFT 1802, the third TFT 1803, the fourth TFT 1804, and the fifth TFT 1805, respectively. The sixth wiring 1811 is preferably used as a source signal line as a signal line for determining the signal line.

図18に示すように、第1のTFT1801のゲート電極は、電極Bと電気的に接続され、第1のTFT1801のソースまたはドレイン電極の一方は、第1の配線1806と電気的に接続され、第1のTFT1801のソースまたはドレイン電極の他方は、電極Aと電気的に接続されていてもよい。なお、第1のTFT1801は、図18に示すように、チャネル領域が複数存在する構成であることが好適である。こうすることで、第1のTFT1801がオフ状態であるとき、リーク電流によって発光素子に電流が流れ、わずかに発光してしまうことを防ぐことができる。   As shown in FIG. 18, the gate electrode of the first TFT 1801 is electrically connected to the electrode B, and one of the source and drain electrodes of the first TFT 1801 is electrically connected to the first wiring 1806, The other of the source and drain electrodes of the first TFT 1801 may be electrically connected to the electrode A. Note that the first TFT 1801 preferably has a structure in which a plurality of channel regions exist as shown in FIG. In this manner, when the first TFT 1801 is in an off state, a current can be prevented from flowing to the light-emitting element due to a leakage current, and light emission can be prevented.

また、第2のTFT1802のゲート電極は、第2の配線1807と電気的に接続され、第2のTFT1802のソースまたはドレイン電極の一方は、電極Aと電気的に接続され、第2のTFT1802のソースまたはドレイン電極の他方は、電極Bと電気的に接続されていてもよい。なお、第2のTFT1802は、図18に示すように、チャネル領域が複数存在する構成であることが好適である。こうすることで、第2のTFT1802がオフ状態であるとき、リーク電流によって容量素子1813に蓄積された電荷が漏れてしまうことを防ぐことができる。   In addition, the gate electrode of the second TFT 1802 is electrically connected to the second wiring 1807, and one of the source and drain electrodes of the second TFT 1802 is electrically connected to the electrode A, and the second TFT 1802 The other of the source and drain electrodes may be electrically connected to the electrode B. Note that the second TFT 1802 preferably has a structure in which a plurality of channel regions exist as shown in FIG. Thus, when the second TFT 1802 is in an off state, the charge accumulated in the capacitor 1813 can be prevented from leaking due to the leakage current.

また、第3のTFT1803のゲート電極は、第3の配線1808と電気的に接続され、第3のTFT1803のソースまたはドレイン電極の一方は、第6の配線1811と電気的に接続され、第3のTFT1803のソースまたはドレイン電極の他方は、電極Aと電気的に接続されていてもよい。なお、第3のTFT1803は、図18に示すように、チャネル領域が複数存在する構成であることが好適である。こうすることで、第3のTFT1803がオフ状態であるとき、リーク電流によって発光素子に流れる電流が変化してしまうことを防ぐことができる。   In addition, the gate electrode of the third TFT 1803 is electrically connected to the third wiring 1808, and one of the source and drain electrodes of the third TFT 1803 is electrically connected to the sixth wiring 1811, and The other of the source and drain electrodes of the TFT 1803 may be electrically connected to the electrode A. Note that as shown in FIG. 18, the third TFT 1803 preferably has a structure in which a plurality of channel regions exist. Thus, when the third TFT 1803 is in an off state, a current flowing through the light-emitting element can be prevented from changing due to a leakage current.

また、第4のTFT1804のゲート電極は、第4の配線1809と電気的に接続され、第4のTFT1804のソースまたはドレイン電極の一方は、画素電極1814と電気的に接続され、第4のTFT1804のソースまたはドレイン電極の他方は、電極Aと電気的に接続されていてもよい。なお、第4のTFT1804は、図18に示すように、チャネル領域が複数存在する構成であることが好適である。こうすることで、第4のTFT1804がオフ状態であるとき、リーク電流によって発光素子に電流が流れ、わずかに発光してしまうことを防ぐことができる。   In addition, the gate electrode of the fourth TFT 1804 is electrically connected to the fourth wiring 1809, and one of the source and drain electrodes of the fourth TFT 1804 is electrically connected to the pixel electrode 1814, and the fourth TFT 1804 is connected. The other of the source and drain electrodes may be electrically connected to the electrode A. Note that the fourth TFT 1804 is preferably formed with a plurality of channel regions as shown in FIG. In this manner, when the fourth TFT 1804 is in an off state, a current can be prevented from flowing to the light emitting element due to a leakage current, and light emission can be prevented slightly.

また、第5のTFT1805のゲート電極は、第5の配線1810と電気的に接続され、第5のTFT1805のソースまたはドレイン電極の一方は、画素電極1814と電気的に接続され、第5のTFT1805のソースまたはドレイン電極の他方は、電極Bと電気的に接続されていてもよい。なお、第5のTFT1805は、図18に示すように、チャネル領域が複数存在する構成であることが好適である。こうすることで、第5のTFT1805がオフ状態であるとき、リーク電流によって容量素子1813に蓄積された電荷が漏れてしまうことを防ぐことができる。   In addition, the gate electrode of the fifth TFT 1805 is electrically connected to the fifth wiring 1810, and one of the source and drain electrodes of the fifth TFT 1805 is electrically connected to the pixel electrode 1814, and the fifth TFT 1805 is connected. The other of the source and drain electrodes may be electrically connected to the electrode B. Note that the fifth TFT 1805 is preferably formed with a plurality of channel regions as shown in FIG. Thus, when the fifth TFT 1805 is in an off state, leakage of charge accumulated in the capacitor 1813 due to leakage current can be prevented.

なお、図18に示すように、複数のTFTにおいて、電流が流れる方向が概ね等しい構成であることが好適である。ここで、電流が流れる方向とは、横方向、縦方向という角度のことであって、電流の流れる向きには依存しない。つまり、横方向であれば、右から左へ電流が流れる場合も、左から右へ電流が流れる場合も、両方を含む。このように、複数のTFTにおいて電流が流れる方向が概ね等しい構成であることで、TFTの特性が均一になり、表示装置の輝度ムラを低減することができる。 As shown in FIG. 18, it is preferable that the plurality of TFTs have a structure in which current flows in substantially the same direction. Here, the direction in which the current flows is an angle between the horizontal direction and the vertical direction, and does not depend on the direction in which the current flows. That is, in the horizontal direction, both the case where the current flows from right to left and the case where the current flows from left to right are included. As described above, since the directions in which current flows in the plurality of TFTs are substantially equal, the characteristics of the TFTs become uniform, and luminance unevenness of the display device can be reduced.

なお、画素電極1814には、有機導電体膜が設けられ、さらに有機薄膜(有機化合物層)が設けられていてもよい。有機薄膜(有機化合物層)には、対向電極が設けられていてもよい。また、対向電極は、全ての画素で共通に接続されるように形成されていてもよく、シャドーマスクなどを用いてパターン形成されていてもよい。 Note that the pixel electrode 1814 may be provided with an organic conductor film, and may further be provided with an organic thin film (organic compound layer). A counter electrode may be provided on the organic thin film (organic compound layer). The counter electrode may be formed so as to be commonly connected to all the pixels, or may be patterned using a shadow mask or the like.

なお、カラー表示の発光装置においては、R・G・Bそれぞれの発光色を持つEL素子を塗り分けても良いし、単色のEL素子を形成し、カラーフィルタによってR・G・Bの発光を得るようにしても良い。 In a light emitting device for color display, EL elements having R, G, and B emission colors may be separately applied, or a single color EL element is formed, and R, G, and B light is emitted by a color filter. You may make it get.

なお、図18に示した構成はあくまで一例であり、画素レイアウト、断面構成、EL素子の電極の積層順等に関して、図18に示した構成以外にも、様々な構成をとることができる。また、発光層は、図示した有機薄膜で構成される素子の他に、LEDのような結晶性の素子、無機薄膜で構成される素子など、様々な素子を用いることができる。 Note that the configuration illustrated in FIG. 18 is merely an example, and various configurations other than the configuration illustrated in FIG. 18 can be employed with respect to the pixel layout, the cross-sectional configuration, the stacking order of the electrodes of the EL element, and the like. For the light emitting layer, various elements such as a crystalline element such as an LED and an element composed of an inorganic thin film can be used in addition to the element composed of the illustrated organic thin film.

(実施の形態6)
本実施の形態では、駆動トランジスタがPチャネル型の薄膜トランジスタ(TFT)の場合における、画素回路の断面形態について、図10を用いて説明する。なお本発明では、EL素子が有する一方の電極を第1の電極、他方の電極を第2の電極とする。
(Embodiment 6)
In this embodiment, a cross-sectional shape of a pixel circuit in the case where a driving transistor is a P-channel thin film transistor (TFT) is described with reference to FIGS. Note that in the present invention, one electrode of the EL element is a first electrode, and the other electrode is a second electrode.

図10(A)に、EL素子6003から発せられる光を第1の電極6004側から取り出す場合の画素回路の断面図を示す。図10(A)では、EL素子6003の第1の電極6004と、TFT6001が電気的に接続されており、TFT6001がPチャネル型であるため、第1の電極6004が陽極である。 FIG. 10A is a cross-sectional view of a pixel circuit in the case where light emitted from the EL element 6003 is extracted from the first electrode 6004 side. In FIG. 10A, the first electrode 6004 of the EL element 6003 and the TFT 6001 are electrically connected, and the TFT 6001 is a p-channel type; therefore, the first electrode 6004 is an anode.

TFT6001は結晶性半導体膜、又は非晶質半導体膜を有する公知の構造とすることができ、ソース電極、ドレイン電極、及びゲート電極を有する。TFT6001は層間絶縁膜6007で覆われており、層間絶縁膜6007上には開口部を有する隔壁6008が形成されている。隔壁6008の開口部においてソース電極又はドレイン電極に接続される第1の電極6004が一部露出しており、該開口部において第1の電極6004から順に電界発光層6005、第2の電極6006が積層されている。 The TFT 6001 can have a known structure including a crystalline semiconductor film or an amorphous semiconductor film, and includes a source electrode, a drain electrode, and a gate electrode. The TFT 6001 is covered with an interlayer insulating film 6007, and a partition wall 6008 having an opening is formed over the interlayer insulating film 6007. A part of the first electrode 6004 connected to the source electrode or the drain electrode is exposed in the opening of the partition wall 6008, and the electroluminescent layer 6005 and the second electrode 6006 are sequentially formed from the first electrode 6004 in the opening. Are stacked.

層間絶縁膜6007は、有機材料、又は無機材料を用い、単層構造、又は積層構造とすることができる。無機材料として、シリコン酸化物、シリコン窒化物を用い、有機材料として、ポリイミド、アクリル、シロキサン、又はポリシラザンを用いることができる。なおシロキサンは、シリコン(Si)と酸素(O)との結合で骨格構造が構成される。置換基として、少なくとも水素を含む有機基(例えばアルキル基、芳香族炭化水素)が用いられる。置換基として、フルオロ基を用いてもよい。または置換基として、少なくとも水素を含む有機基と、フルオロ基とを用いてもよい。ポリシラザンは、珪素(Si)と窒素(N)の結合を有するポリマー材料を出発原料として形成される。また層間絶縁膜6007に、低誘電率材料(low−k材料)と呼ばれる材料を用いてもよい。 The interlayer insulating film 6007 can have a single-layer structure or a stacked structure using an organic material or an inorganic material. Silicon oxide or silicon nitride can be used as the inorganic material, and polyimide, acrylic, siloxane, or polysilazane can be used as the organic material. Siloxane has a skeleton structure formed of a bond of silicon (Si) and oxygen (O). As a substituent, an organic group containing at least hydrogen (for example, an alkyl group or an aromatic hydrocarbon) is used. A fluoro group may be used as a substituent. Alternatively, an organic group containing at least hydrogen and a fluoro group may be used as a substituent. Polysilazane is formed using a polymer material having a bond of silicon (Si) and nitrogen (N) as a starting material. A material called a low dielectric constant material (low-k material) may be used for the interlayer insulating film 6007.

隔壁6008は、層間絶縁膜6007と同様に有機材料、又は無機材料を用いて形成することができる。感光性の有機材料を隔壁6008に用いると、第1の電極6004上の開口部の側壁が連続した曲率を持って形成される傾斜面となる。このような形状により、電界発光層6005が切断し、第1の電極6004と第2の電極6006とが短絡してしまうのを防ぐことができる。 The partition wall 6008 can be formed using an organic material or an inorganic material like the interlayer insulating film 6007. When a photosensitive organic material is used for the partition wall 6008, the sidewall of the opening on the first electrode 6004 becomes an inclined surface formed with a continuous curvature. With such a shape, it is possible to prevent the electroluminescent layer 6005 from being cut and the first electrode 6004 and the second electrode 6006 from being short-circuited.

第1の電極6004は、陽極として適する材料で形成する。陽極として適する材料とは、仕事関数の小さい金属、合金、電気伝導性化合物、及びこれらの混合物が挙げられる。また第1の電極6004側に光を取り出すため、光を透過する材料又は光を透過する程度の膜厚で形成する。具体的には、第1の電極6004には、酸化インジウムスズ(ITO)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)、又はガリウムを添加した酸化亜鉛(GZO)等の透光性導電材料を用いることが可能である。さらに酸化珪素を含む酸化インジウムスズ(以下、ITSOと記す)、ITOに酸化亜鉛(ZnO)を混合したもの、ITSOに酸化亜鉛(ZnO)を混合したものを用いてもよい。また非透光性導電材料として、例えばTiN、ZrN、Ti、W、Ni、Pt、Cr、Ag、Al等の1つ又は複数からなる単層膜の他、窒化チタン膜とアルミニウムを主成分とする膜との積層構造、窒化チタン膜とアルミニウムを主成分とする膜と窒化チタン膜との三層構造等を用いることもできる。ただし非透光性導電材料を用いる場合、光が透過する程度の膜厚(好ましくは、5nm〜30nm程度)で第1の電極6004を形成する。 The first electrode 6004 is formed using a material suitable as an anode. Suitable materials for the anode include metals, alloys, electrically conductive compounds, and mixtures thereof with a low work function. In addition, in order to extract light to the first electrode 6004 side, a material that transmits light or a film thickness that transmits light is formed. Specifically, the first electrode 6004 includes a light-transmitting conductive material such as indium tin oxide (ITO), zinc oxide (ZnO), indium zinc oxide (IZO), or zinc oxide (GZO) to which gallium is added. Can be used. Further, indium tin oxide containing silicon oxide (hereinafter referred to as ITSO), ITO mixed with zinc oxide (ZnO), ITSO mixed with zinc oxide (ZnO) may be used. Further, as a non-translucent conductive material, for example, a single layer film made of one or more of TiN, ZrN, Ti, W, Ni, Pt, Cr, Ag, Al, etc., as well as a titanium nitride film and aluminum as main components. A laminated structure with a film to be formed, a three-layer structure of a titanium nitride film, a film containing aluminum as a main component, and a titanium nitride film can also be used. However, in the case of using a non-light-transmitting conductive material, the first electrode 6004 is formed with a thickness enough to transmit light (preferably, about 5 nm to 30 nm).

第2の電極6006は、陰極として適する材料で形成する。陰極として適する材料とは、仕事関数の小さい金属、合金、電気伝導性化合物、及びこれらの混合物が挙げられる。また第1の電極6004側からのみ光を取り出すため、光を反射もしくは光を遮蔽する材料で形成する。具体的には、Li、Cs、Mg、Ca、Sr等の金属、これらを含む合金(Mg:Ag、Al:Li、Mg:Inなど)、これらの化合物(フッ化カルシウム、窒化カルシウム)、又はYbやEr等の希土類金属を用いることができる。 The second electrode 6006 is formed using a material suitable for a cathode. Suitable materials for the cathode include low work function metals, alloys, electrically conductive compounds, and mixtures thereof. In addition, since light is extracted only from the first electrode 6004 side, it is formed using a material that reflects or shields light. Specifically, metals such as Li, Cs, Mg, Ca, Sr, alloys containing these (Mg: Ag, Al: Li, Mg: In, etc.), these compounds (calcium fluoride, calcium nitride), or Rare earth metals such as Yb and Er can be used.

電界発光層6005は、単数又は複数の層で構成されている。複数の層で構成されている場合、これらの層は、キャリア輸送特性の観点から正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層などに分類することができる。第1の電極6004が陽極のため、順に正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層の順に積層する。なお各層の境目は必ずしも明確である必要はなく、互いの層を構成している材料が一部混合し、界面が不明瞭になっている場合もある。各層には、有機系の材料、無機系の材料を用いることが可能である。有機系の材料として、高分子系、中分子系、低分子系のいずれの材料も用いることが可能である。なお中分子系の材料とは、構造単位の繰返しの数(重合度)が2から20程度の低重合体に相当する。正孔注入層と正孔輸送層との区別は必ずしも厳密なものではなく、これらは正孔輸送性(正孔移動度)が特に重要な特性である意味において同じである。正孔注入層は陽極に接する側の層であり、正孔注入層に接する層を正孔輸送層と呼んで区別することができる。電子輸送層、電子注入層についても同様であり、陰極に接する層を電子注入層と呼び、電子注入層に接する層を電子輸送層と呼び区別することができる。発光層が電子輸送層を兼ねる場合もある。 The electroluminescent layer 6005 is composed of one or a plurality of layers. When composed of a plurality of layers, these layers can be classified into a hole injection layer, a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, an electron injection layer, and the like from the viewpoint of carrier transport characteristics. Since the first electrode 6004 is an anode, a hole injection layer, a hole transport layer, a light-emitting layer, an electron transport layer, and an electron injection layer are sequentially stacked. Note that the boundaries between the layers are not necessarily clear, and there are cases where the materials constituting the layers are partially mixed and the interface is unclear. For each layer, an organic material or an inorganic material can be used. As the organic material, any of a high molecular weight material, a medium molecular weight material, and a low molecular weight material can be used. The medium molecular weight material corresponds to a low polymer having a number of repeating structural units (degree of polymerization) of about 2 to 20. The distinction between a hole injection layer and a hole transport layer is not necessarily strict, and these are the same in the sense that hole transportability (hole mobility) is a particularly important characteristic. The hole injection layer is a layer in contact with the anode, and the layer in contact with the hole injection layer can be distinguished by being called a hole transport layer. The same applies to the electron transport layer and the electron injection layer, and the layer in contact with the cathode is referred to as an electron injection layer, and the layer in contact with the electron injection layer is referred to as an electron transport layer. The light emitting layer may also serve as the electron transport layer.

このような図10(A)に示した画素は、EL素子6003から発せられる光を、白抜きの矢印で示すように、第1の電極6004側から取り出すことができる。 In the pixel shown in FIG. 10A, light emitted from the EL element 6003 can be extracted from the first electrode 6004 side as shown by a hollow arrow.

次に図10(B)に、TFT6011がPチャネル型で、EL素子6013から発せられる光を第2の電極6016側から取り出す場合の、画素回路の断面図を示す。図10(B)では、EL素子6013の第1の電極6014と、TFT6011が電気的に接続されており、TFT6011がPチャネル型であるため、第1の電極6014が陽極となり、第1の電極6014上に電界発光層6015、第2の電極6016が順に積層されている。 Next, FIG. 10B is a cross-sectional view of the pixel circuit in the case where the TFT 6011 is a P-channel type and light emitted from the EL element 6013 is extracted from the second electrode 6016 side. In FIG. 10B, since the first electrode 6014 of the EL element 6013 and the TFT 6011 are electrically connected and the TFT 6011 is a p-channel type, the first electrode 6014 serves as an anode, and the first electrode An electroluminescent layer 6015 and a second electrode 6016 are sequentially stacked over the 6014.

第1の電極6014は、陽極として適する材料で形成し、第2の電極6016からのみ光を取り出すため、光を反射もしくは光を遮蔽する材料で形成する。例えば、TiN、ZrN、Ti、W、Ni、Pt、Cr、Ag、Al等の1つ又は複数からなる単層膜の他、窒化チタンとアルミニウムを主成分とする膜との積層、窒化チタン膜とアルミニウムを主成分とする膜と窒化チタン膜との三層構造等を第1の電極6014に用いることができる。 The first electrode 6014 is formed using a material suitable as an anode, and light is extracted only from the second electrode 6016; therefore, the first electrode 6014 is formed using a material that reflects or shields light. For example, in addition to a single layer film made of one or more of TiN, ZrN, Ti, W, Ni, Pt, Cr, Ag, Al, etc., a laminate of titanium nitride and a film containing aluminum as a main component, a titanium nitride film A three-layer structure of a film mainly containing aluminum and aluminum and a titanium nitride film can be used for the first electrode 6014.

また第2の電極6016は、陰極として適する材料で形成し、第2の電極6016から光を取り出すため、光を透過する材料又は光を透過する程度の膜厚で形成する。具体的には、Li、Cs、Mg、Ca、Sr等の金属、これらを含む合金(Mg:Ag、Al:Li、Mg:Inなど)、これらの化合物(フッ化カルシウム、窒化カルシウム)、又はYbやEr等の希土類金属を用い、光を透過する程度の膜厚(好ましくは、5nm〜30nm程度)とする。なお、酸化インジウムスズ(ITO)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)、又はガリウムを添加した酸化亜鉛(GZO)等の透光性導電材料を用いることも可能である。また、酸化珪素を含む酸化インジウムスズ(ITSO)、ITOに酸化亜鉛(ZnO)を混合したもの、ITSOに酸化亜鉛(ZnO)を混合したものを用いてもよい。このような透光性導電材料を用いる場合、電界発光層6015に電子注入層を設けることが望ましい。 The second electrode 6016 is formed using a material that is suitable as a cathode. In order to extract light from the second electrode 6016, the second electrode 6016 is formed using a material that transmits light or a thickness that transmits light. Specifically, metals such as Li, Cs, Mg, Ca, Sr, alloys containing these (Mg: Ag, Al: Li, Mg: In, etc.), these compounds (calcium fluoride, calcium nitride), or A rare earth metal such as Yb or Er is used, and the film thickness is such that light can be transmitted (preferably about 5 nm to 30 nm). Note that a light-transmitting conductive material such as indium tin oxide (ITO), zinc oxide (ZnO), indium zinc oxide (IZO), or zinc oxide (GZO) to which gallium is added can also be used. Alternatively, indium tin oxide containing silicon oxide (ITSO), ITO mixed with zinc oxide (ZnO), or ITSO mixed with zinc oxide (ZnO) may be used. In the case of using such a light-transmitting conductive material, it is desirable to provide an electron injection layer in the electroluminescent layer 6015.

電界発光層6015は、図10(A)の電界発光層6005と同様に形成することができる。 The electroluminescent layer 6015 can be formed in a manner similar to that of the electroluminescent layer 6005 in FIG.

このような図10(B)に示した画素の場合、EL素子6013から発せられる光を、白抜きの矢印で示すように第2の電極6016側から取り出すことができる。 In the case of the pixel illustrated in FIG. 10B, light emitted from the EL element 6013 can be extracted from the second electrode 6016 side as indicated by a hollow arrow.

次に図10(C)に、TFT6021がPチャネル型で、EL素子6023から発せられる光を第1の電極6024側及び第2の電極6026側から取り出す場合の、画素回路の断面図を示す。図10(C)では、EL素子6023の第1の電極6024と、TFT6021が電気的に接続されており、TFT6021がPチャネル型であるため、第1の電極6024が陽極となり、第1の電極6024上に電界発光層6025、第2の電極6026が順に積層されている。 Next, FIG. 10C is a cross-sectional view of the pixel circuit in the case where the TFT 6021 is a P-channel type and light emitted from the EL element 6023 is extracted from the first electrode 6024 side and the second electrode 6026 side. In FIG. 10C, the first electrode 6024 of the EL element 6023 and the TFT 6021 are electrically connected, and the TFT 6021 is a p-channel type; therefore, the first electrode 6024 serves as an anode and the first electrode An electroluminescent layer 6025 and a second electrode 6026 are stacked over the layer 6024 in this order.

また第1の電極6024から光を取り出すため、第1の電極6024は図10(A)の第1の電極6004と同様に形成することができる。また第2の電極6026からも光を取り出すため、第2の電極6026は図10(B)の第2の電極6016と同様に形成することができる。電界発光層6025は、図10(A)の電界発光層6005と同様に形成することができる。 In addition, since light is extracted from the first electrode 6024, the first electrode 6024 can be formed in a manner similar to that of the first electrode 6004 in FIG. In addition, since light is extracted from the second electrode 6026, the second electrode 6026 can be formed in a manner similar to that of the second electrode 6016 in FIG. The electroluminescent layer 6025 can be formed in a manner similar to that of the electroluminescent layer 6005 in FIG.

このような図10(C)に示した画素の場合、EL素子6023から発せられる光を、白抜きの矢印で示すように第1の電極6024側及び第2の電極6026側から取り出すことができる。 In the case of the pixel shown in FIG. 10C, light emitted from the EL element 6023 can be extracted from the first electrode 6024 side and the second electrode 6026 side as indicated by white arrows. .

本実施の形態では、第1の電極が陽極、第2の電極が陰極の場合について説明したが、第1の電極が陰極、第2の電極が陽極であってもよい。第1の電極が陰極、第2の電極が陽極のとき、駆動トランジスタはNチャネル型薄膜トランジスタであると好ましい。 Although the case where the first electrode is an anode and the second electrode is a cathode has been described in this embodiment mode, the first electrode may be a cathode and the second electrode may be an anode. When the first electrode is a cathode and the second electrode is an anode, the driving transistor is preferably an N-channel thin film transistor.

本実施の形態は、上記の実施の形態と自由に組み合わせることができる。 This embodiment mode can be freely combined with the above embodiment modes.

(実施の形態7)
本発明の表示装置を用いた電子機器として、テレビジョン装置(テレビ、テレビジョン受信機)、デジタルカメラなどのカメラ、デジタルビデオカメラ、携帯電話装置(携帯電話機)、PDA等の携帯情報端末、携帯型ゲーム機、モニター、コンピュータ、カーオーディオ等の音響再生装置、家庭用ゲーム機等の記録媒体を備えた画像再生装置等が挙げられる。その具体例について、図11を参照して説明する。
(Embodiment 7)
As an electronic device using the display device of the present invention, a television device (television, television receiver), a camera such as a digital camera, a digital video camera, a mobile phone device (mobile phone), a portable information terminal such as a PDA, a mobile phone Type game machines, monitors, computers, sound reproduction apparatuses such as car audio, and image reproduction apparatuses equipped with recording media such as home game machines. A specific example will be described with reference to FIG.

図11(A)に示す本発明の表示装置を用いた携帯情報端末は、本体9201、表示部9202等を含む。本発明により、開口率の大きな携帯情報端末を提供することができる。 A portable information terminal using the display device of the present invention illustrated in FIG. 11A includes a main body 9201, a display portion 9202, and the like. According to the present invention, a portable information terminal having a large aperture ratio can be provided.

図11(B)に示す本発明の表示装置を用いたデジタルビデオカメラ9701は、表示部9702等を含む。本発明により、開口率の大きなデジタルビデオカメラを提供することができる。 A digital video camera 9701 using the display device of the present invention illustrated in FIG. 11B includes a display portion 9702 and the like. According to the present invention, a digital video camera having a large aperture ratio can be provided.

図11(C)に示す本発明の表示装置を用いた携帯電話は、本体9101、表示部9102等を含む。本発明により、開口率の大きな携帯電話を提供することができる。 A mobile phone using the display device of the present invention illustrated in FIG. 11C includes a main body 9101, a display portion 9102, and the like. According to the present invention, a mobile phone with a large aperture ratio can be provided.

図11(D)に示す本発明の表示装置を用いた携帯型のテレビジョン装置は、本体9301、表示部9302等を含む。本発明により、開口率の大きな携帯型のテレビジョン装置を提供することができる。 A portable television device using the display device of the present invention illustrated in FIG. 11D includes a main body 9301, a display portion 9302, and the like. According to the present invention, a portable television device with a large aperture ratio can be provided.

図11(E)に示す本発明の表示装置を用いた携帯型のコンピュータは、本体9401、表示部9402等を含む。本発明により、開口率の大きな携帯型のコンピュータを提供することができる。 A portable computer using the display device of the present invention illustrated in FIG. 11E includes a main body 9401, a display portion 9402, and the like. According to the present invention, a portable computer having a large aperture ratio can be provided.

図11(F)に示す本発明の表示装置を用いたテレビジョン装置は、本体9501、表示部9502等を含む。本発明により、開口率の大きな携テレビジョン装置を提供することができる。 A television set using the display device of the present invention illustrated in FIG. 11F includes a main body 9501, a display portion 9502, and the like. According to the present invention, a portable television device having a large aperture ratio can be provided.

以上のように、本発明の表示装置は、あらゆる電子機器に適用することができる。 As described above, the display device of the present invention can be applied to any electronic device.

本発明の表示装置の画素回路を説明する図。4A and 4B each illustrate a pixel circuit of a display device of the present invention. 本発明の表示装置の画素回路の駆動方法を説明する図。8A and 8B illustrate a method for driving a pixel circuit of a display device of the present invention. 本発明の表示装置の構成を説明する図。FIG. 6 illustrates a structure of a display device of the present invention. 本発明の表示装置の電極の形状を説明する図。4A and 4B each illustrate a shape of an electrode of a display device of the present invention. 本発明の表示装置の画素回路の駆動方法を説明する図。8A and 8B illustrate a method for driving a pixel circuit of a display device of the present invention. 本発明の表示装置の画素回路の駆動方法を説明する図。8A and 8B illustrate a method for driving a pixel circuit of a display device of the present invention. 本発明の表示装置の画素回路を説明する図。4A and 4B each illustrate a pixel circuit of a display device of the present invention. 表示装置の画素回路を説明する図。6A and 6B illustrate a pixel circuit of a display device. 表示装置の画素回路を説明する図。6A and 6B illustrate a pixel circuit of a display device. 本発明の表示装置の作製工程を説明する図。4A and 4B illustrate a manufacturing process of a display device of the present invention. 本発明の電子機器を説明する図。8A and 8B each illustrate an electronic device of the invention. 本発明の画素を説明する図FIG. 6 illustrates a pixel of the present invention. 本発明の画素を説明する図FIG. 6 illustrates a pixel of the present invention. 本発明の画素を説明する図FIG. 6 illustrates a pixel of the present invention. 本発明のEL素子の構造を説明する図3A and 3B illustrate a structure of an EL element of the present invention. 本発明の表示装置を製造するための蒸着装置を説明する図The figure explaining the vapor deposition apparatus for manufacturing the display apparatus of this invention 本発明の蒸着装置の成膜処理室を説明する図The figure explaining the film-forming process chamber of the vapor deposition apparatus of this invention 本発明の画素を説明する図FIG. 6 illustrates a pixel of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

ANODE 第1の電源線
CATHODE 第2の電源線
DATA データ線
X1〜Xn データ線
Y1〜Ym 走査線
Tr1 第1のトランジスタ
Tr2 第2のトランジスタ
Tr3 第3のトランジスタ
Tr4 第4のトランジスタ
Tr5 第5のトランジスタ
Idata データ電流
10 EL素子
20 EL素子
201 1フレーム期間
202 初期化期間
203 閾値書込期間
204 アドレス期間
205 発光期間
205A 発光期間(前フレーム)
206 書込開始前期間
207 データ書込期間
208 Cs書き換え期間
209 書込終了後期間
301 画素部
302 データ線駆動回路
303 走査線駆動回路
304 画素回路
401 基板
402 コンタクト領域
501 1走査線書込期間
6001 TFT
6003 EL素子
6004 電極
6005 電界発光層
6006 電極
6007 層間絶縁膜
6008 隔壁
6011 TFT
6013 EL素子
6014 電極
6015 電界発光層
6016 電極
6021 TFT
6023 EL素子
6024 電極
6025 電界発光層
6026 電極
9101 携帯電話本体
9102 表示部
9201 携帯情報端末本体
9202 表示部
9301 携帯型テレビジョン装置本体
9302 表示部
9401 携帯型コンピュータ本体
9402 表示部
9501 テレビジョン装置本体
9502 表示部
9701 デジタルビデオカメラ本体
9702 表示部
1205 第1のTFT
1206 第1の配線
1207 第2の配線
1208 第2のTFT
1211 第3の配線
1212 対向電極
1213 容量素子
1215 画素電極
1216 隔壁
1217 有機導電体膜
1218 有機薄膜
1219 基板
1300 基板
1301 第1の配線
1302 第2の配線
1303 第3の配線
1304 第4の配線
1305 第1のTFT
1306 第2のTFT
1307 第3のTFT
1308 画素電極
1311 隔壁
1312 有機導電体膜
1313 有機薄膜(発光層)
1314 対向電極
1400 基板
1401 第1の配線
1402 第2の配線
1403 第3の配線
1404 第4の配線
1405 第1のTFT
1406 第2のTFT
1407 第3のTFT
1408 第4のTFT
1409 画素電極
1411 第5の配線
1412 第6の配線
1421 隔壁
1422 有機導電体膜
1423 有機薄膜(発光層)
1424 対向電極
1501 陽極
1502 陰極
1503 正孔輸送領域
1504 電子輸送領域
1505 混合領域
1506 発光材料が添加された領域
1507 正孔ブロッキング材料が添加された領域
1508 電子ブロッキング材料が添加された領域
1509 金属材料を添加した領域
1660 搬送室
1661 搬送室
1662 ロード室
1663 アンロード室
1664 中間室
1665 封止処理室
1666 搬送手段
1667 搬送手段
1668 加熱処理室
1669 成膜処理室
1670 成膜処理室
1671 成膜処理室
1672 成膜処理室
1673 成膜処理室
1674 成膜処理室
1675 成膜処理室
1676 成膜処理室
1677a〜1677m ゲートバルブ
1780 蒸発源ホルダ
1781a〜1781c 蒸発源
1782 距離センサー
1783 多関節アーム
1784 材料供給管
1785a〜1785c 材料供給源
1786 基板ステージ
1787 基板チャック
1788 マスクチャック
1789 基板
1790 シャドーマスク
1791 天板
1792 低板
1801 第1のTFT
1802 第2のTFT
1803 第3のTFT
1804 第4のTFT
1805 第5のTFT
1806 第1の配線
1807 第2の配線
1808 第3の配線
1809 第4の配線
1810 第5の配線
1811 第6の配線
1813 コンデンサ
1814 画素電極
1815 隔壁開口部
ANODE First power line CATHODE Second power line DATA Data line X1 to Xn Data line Y1 to Ym Scan line Tr1 First transistor Tr2 Second transistor Tr3 Third transistor Tr4 Fourth transistor Tr5 Fifth transistor Idata Data current 10 EL element 20 EL element 201 1 frame period 202 Initialization period 203 Threshold writing period 204 Address period 205 Light emission period 205A Light emission period (previous frame)
206 period before writing start 207 data writing period 208 Cs rewriting period 209 period after writing end 301 pixel unit 302 data line driving circuit 303 scanning line driving circuit 304 pixel circuit 401 substrate 402 contact region 501 1 scanning line writing period 6001 TFT
6003 EL element 6004 Electrode 6005 Electroluminescent layer 6006 Electrode 6007 Interlayer insulating film 6008 Partition wall 6011 TFT
6013 EL element 6014 Electrode 6015 Electroluminescent layer 6016 Electrode 6021 TFT
6023 EL element 6024 Electrode 6025 Electroluminescent layer 6026 Electrode 9101 Mobile phone main body 9102 Display unit 9201 Portable information terminal main body 9202 Display unit 9301 Portable television apparatus main body 9302 Display unit 9401 Portable computer main body 9402 Display unit 9501 Television apparatus main body 9502 Display portion 9701 Digital video camera body 9702 Display portion 1205 First TFT
1206 1st wiring 1207 2nd wiring 1208 2nd TFT
1211 Third wiring 1212 Counter electrode 1213 Capacitor element 1215 Pixel electrode 1216 Partition 1217 Organic conductor film 1218 Organic thin film 1219 Substrate 1300 Substrate 1301 First wiring 1302 Second wiring 1303 Third wiring 1304 Fourth wiring 1305 1 TFT
1306 Second TFT
1307 Third TFT
1308 Pixel electrode 1311 Partition 1312 Organic conductor film 1313 Organic thin film (light emitting layer)
1314 Counter electrode 1400 Substrate 1401 First wiring 1402 Second wiring 1403 Third wiring 1404 Fourth wiring 1405 First TFT
1406 Second TFT
1407 Third TFT
1408 4th TFT
1409 Pixel electrode 1411 5th wiring 1412 6th wiring 1421 Partition 1422 Organic conductor film 1423 Organic thin film (light emitting layer)
1424 Counter electrode 1501 Anode 1502 Cathode 1503 Hole transport region 1504 Electron transport region 1505 Mixed region 1506 Region 1507 added with light emitting material 1507 Region added with hole blocking material 1508 Region 1509 added with electron blocking material Added region 1660 Transfer chamber 1661 Transfer chamber 1663 Load chamber 1663 Unload chamber 1664 Intermediate chamber 1665 Sealing chamber 1666 Transferr 1667 Transferr 1668 Heat treatment chamber 1669 Film formation chamber 1670 Film formation chamber 1671 Film formation chamber 1672 Deposition Process Chamber 1673 Deposition Process Chamber 1674 Deposition Process Chamber 1675 Deposition Process Chamber 1676 Deposition Process Chambers 1677a-1677m Gate Valve 1780 Evaporation Source Holders 1781a-1781c Evaporation Source 1782 Distance Sensor 1783 Articulated arm 1784 Material supply pipes 1785a to 1785c Material supply source 1786 Substrate stage 1787 Substrate chuck 1788 Mask chuck 1789 Substrate 1790 Shadow mask 1791 Top plate 1792 Low plate 1801 First TFT
1802 Second TFT
1803 Third TFT
1804 4th TFT
1805 5th TFT
1806 1st wiring 1807 2nd wiring 1808 3rd wiring 1809 4th wiring 1810 5th wiring 1811 6th wiring 1813 Capacitor 1814 Pixel electrode 1815 Partition opening

Claims (3)

トランジスタと、第1の容量素子と、発光素子と、第1のスイッチ乃至第4のスイッチとを有し、
前記第1のスイッチは、前記トランジスタのゲートとドレインとの間に電気的に接続され、
前記第2のスイッチは、前記トランジスタのドレインと前記データ線との間に電気的に接続され、
前記第3のスイッチは、前記トランジスタのドレインと前記発光素子との間に電気的に接続され、
前記第4のスイッチは、前記第1の容量素子と前記第2の容量素子との間に電気的に接続されており、
前記第1の容量素子は、前記トランジスタのゲートとソースとの間の電圧を保持する機能を有し、
前記発光素子は、第2の容量素子としての機能を有し、
前記トランジスタのゲートとドレインとを電気的に接続し、且つ、前記第1の容量素子と前記第2の容量素子とを電気的に接続し、前記第1の容量素子及び前記第2の容量素子に前記トランジスタの閾値電圧を入力する第1の動作と、
前記トランジスタのドレインとデータ線とを電気的に接続し、前記第1の容量素子に前記トランジスタのドレイン電流に応じた第1の電圧を入力する第2の動作と、
前記第1の容量素子と前記第2の容量素子とを電気的に接続し、前記第1の容量素子に第2の電圧を入力する第3の動作と、
前記トランジスタと前記発光素子を電気的に接続し、前記第2の電圧に応じた電流を前記発光素子に入力する第4の動作とを行う機能を有し、
前記第1の動作、前記第2の動作、前記第3の動作、及び前記第4の動作は、この順に行われ、
前記第1の動作乃至前記第3の動作において、前記発光素子の陰極に電気的に接続された第1の配線の電位は、前記発光素子の陽極に電気的に接続された第2の配線の電位と同じ又は概ね同じであり、
前記4の動作において、前記第1の配線の電位は、前記第2の配線の電位よりも低いことを特徴とする表示装置。
A transistor, a first capacitor, a light-emitting element, and first to fourth switches ;
The first switch is electrically connected between a gate and a drain of the transistor;
The second switch is electrically connected between the drain of the transistor and the data line,
The third switch is electrically connected between the drain of the transistor and the light emitting element,
The fourth switch is electrically connected between the first capacitor element and the second capacitor element,
The first capacitor element has a function of holding a voltage between a gate and a source of the transistor,
The light emitting element has a function as a second capacitor element,
The gate and drain of the transistor are electrically connected, and the first capacitor and the second capacitor are electrically connected, and the first capacitor and the second capacitor are connected. A first operation of inputting a threshold voltage of the transistor to
A second operation for inputting the first voltage and a drain and a data line electrically connected, according to the drain current of the transistor to the first capacitor of the transistor,
A third operation of electrically connecting the first capacitive element and the second capacitive element and inputting a second voltage to the first capacitive element;
Said transistor and the light emitting element is electrically connected, a current corresponding to the second voltage have a function of performing a fourth operation to be input to the light emitting element,
The first operation, the second operation, the third operation, and the fourth operation are performed in this order,
In the first to third operations, the potential of the first wiring electrically connected to the cathode of the light emitting element is the same as that of the second wiring electrically connected to the anode of the light emitting element. The same or roughly the same as the potential,
4. The display device according to item 4, wherein the potential of the first wiring is lower than the potential of the second wiring .
請求項1において、
前記第1の容量素子と前記第2の容量素子とを電気的に接続する動作では、
前記第1の容量素子と前記第2の容量素子との電荷を分配して、前記第1の容量素子に、電流I2=(C1/(C2+C1))×I1(C1及びC2はそれぞれ前記第1及び第2の容量素子の容量値、I1は前記データ線の電流値)に応じた前記第2の電圧を入力することを特徴とする表示装置。
In claim 1,
In the operation of electrically connecting the first capacitive element and the second capacitive element,
The electric charge is distributed between the first capacitive element and the second capacitive element, and the current I2 = (C1 / (C2 + C1)) 2 × I1 (C1 and C2 are respectively the first capacitive element and the second capacitive element). The display device is characterized in that the second voltage corresponding to the capacitance values of the first and second capacitor elements, I1 being the current value of the data line) is input.
請求項1又は請求項2において、
前記トランジスタのドレインと前記データ線とを電気的に接続し、且つ、前記トランジスタのゲートとドレインとを電気的に接続し、且つ、前記第1の容量素子と前記発光素子とを電気的に接続し、前記発光素子に逆バイアスを印加する動作を行う機能を有することを特徴とする表示装置。
Oite to claim 1 or claim 2,
The drain of the transistor and the data line are electrically connected, the gate and drain of the transistor are electrically connected, and the first capacitor and the light emitting element are electrically connected And a display device having a function of performing an operation of applying a reverse bias to the light emitting element.
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