JP5040813B2 - 光分岐挿入多重化装置 - Google Patents

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Description

本発明は光通信システムに用いられる光分岐挿入多重化装置に関する。
図1はWDM(Wavelength Division Multiplex)やPXC(Photonics Cross Connect)といった光通信システムに用いられる光分岐挿入多重化装置の代表的な構成例を示す図である。
(a)はF−OADM(Fix Optical Add Drop Multiplexer)と呼ばれるタイプの構成を示しており、左欄は光分岐挿入多重化装置1の内部構成を示し、右欄は複数の光分岐挿入多重化装置1を用いたネットワーク構成を示している。光分岐挿入多重化装置1では、Nチャネル分の信号が多重された信号を光増幅部11で増幅し、分波部(DMUX:Demultiplexer)12で1チャネル毎に分波する。そして、そのうちの1または複数のチャネルをトランスポンダ15を経由して合波部(MUX:Multiplexer)13に入力し、その他のチャネルはスルーとして直接に合波部13に入力する。分波部12の出力と合波部13の入力の接続はコードパッチにより行われる。合波部13ではNチャネル分の信号を多重し、光増幅部14により増幅して出力する。
(b)はR−OADM(Reconfigurable Optical Add Drop Multiplexer)と呼ばれるタイプの構成を示している。光分岐挿入多重化装置1では、Nチャネル分の信号が多重された信号を光増幅部11で増幅し、分波部12で1チャネル毎に分波する。そして、チャネル毎にスルーとトランスポンダ15側への分岐とを行う光スイッチ部16を介し、スルー側が合波部13の入力に接続される。光スイッチ部16はソフトウェアにより遠隔で制御され、1または複数のチャネルがトランスポンダ15を経由する。合波部13ではNチャネル分の信号を多重し、光増幅部14により増幅して出力する。
(c)はR−OADMのうちWSS(Wavelength Selectable Switch)タイプと呼ばれるものの構成を示している。光分岐挿入多重化装置1では、Nチャネル分の信号が多重された信号を光増幅部11で増幅し、波長毎に導通を切替可能な波長選択スイッチ17を通過した後、光増幅部14により増幅して出力する。また、光増幅部11のNチャネル分の信号を分波部12で1チャネル毎に分波し、そのうちの1または複数のチャネルをトランスポンダ15を経由して合波部13に入力し、合波部13から波長選択スイッチ17に入力する。この構成では、右欄に示すようにハブ(HUB)構成を組める利点がある。
ところで、WDMやPXCといった光通信システムは、大容量化の一途をたどっている。そのため光分岐挿入多重化装置内を布線する光コードは、小型化、高密度化されており、装置の扱いや動作も複雑になっている。
装置の立ち上げ時や保守時における光コードの接続にあっては、コネクタが汚れていた場合に光レベルの低下等、通信品質に影響を与え、通信に支障をきたすことになるため、清掃は重要な作業になっている。そのため、コネクタクリーナでコネクタの汚れを清掃してから接続をしていた。
しかし、光コネクタのコア径は10μmであるため、人間の目では清掃状態の良し悪しは判らず、実際に光信号を通してレベルを測定して確認しないと、疎通の良し悪しが確認できないのが実情である。特に高密度の光多芯コネクタでは清掃作業や疎通確認が困難になる。
図2は従来における光レベル確認の手法例を示す図であり、X局の光分岐挿入多重化装置1XとY局の光分岐挿入多重化装置1Yとが2本の光ケーブル2で接続されている。光分岐挿入多重化装置1X、1Yとしては、図1(b)に示したR−OADMタイプをベースにしている。なお、光分岐挿入多重化装置1X、1Yの内部要素の符号には、光ケーブル2の左側(図の上方を北として西(West)側)に位置するものに「(W)」を、光ケーブル2の右側(東(East)側)に位置するものに「(E)」を付してある。
図2において、X局の作業者は、光分岐挿入多重化装置1Xの光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWにフルバンドレーザ測定器3Xを接続し、光増幅部AMP(W)の光増幅器Post-Ampの出力のモニタポートに光スペアナ(スペクトラムアナライザ)4Xを接続し、光スイッチ部SW(W)の光カプラCPLに光パワーメータ測定器5Xを接続する。同様に、Y局の作業者は、光分岐挿入多重化装置1Yの光スイッチ部SW(E)の光スイッチSWにフルバンドレーザ測定器3Yを接続し、光増幅部AMP(E)の光増幅器Post-Ampの出力のモニタポートに光スペアナ4Yを接続し、光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLに光パワーメータ測定器5Yを接続する。
そして、X局の作業者とY局の作業者とが携帯電話等により連絡を取り合いながら、自局〜対向局でペアになり、エンドツーエンド(End to End)で信号を通して、1パス毎に光経路のロスを測定し、基準値に満たない場合には、その部分を清掃して再測定を行っていた。より具体的には、X局側において、フルバンドレーザ測定器3Xで対象となるパスの波長の光信号を発生し、光分岐挿入多重化装置1Xの光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWから流し込む。これを光増幅部AMP(W)の光増幅器Post-Ampの出力のモニタポートで光スペアナ4Xにより該当波長のパワーを測定し、更にY局側の光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLに接続された光パワーメータ測定器5Yで測定する。これにより、光分岐挿入多重化装置1Xの光スイッチ部SW(W)と波長合分波部MUX/DMUX(W)の間の光多芯コードに汚れかあるか否か、および、光分岐挿入多重化装置1Yの波長合分波部MUX/DMUX(E)と光スイッチ部SW(E)の間の光多芯コードに汚れかあるか否かを判断することができる。同様に、Y局側において、フルバンドレーザ測定器3Yで対象となるパスの波長の光信号を発生し、光分岐挿入多重化装置1Yの光スイッチ部SW(E)の光スイッチSWから流し込む。これを光増幅部AMP(E)の光増幅器Post-Ampの出力のモニタポートで光スペアナ4Yにより該当波長のパワーを測定し、更にX局側の光スイッチ部SW(W)の光カプラCPLに接続された光パワーメータ測定器5Xで測定する。これにより、光分岐挿入多重化装置1Yの光スイッチ部SW(E)と波長合分波部MUX/DMUX(E)の間の光多芯コードに汚れかあるか否か、および、光分岐挿入多重化装置1Xの波長合分波部MUX/DMUX(W)と光スイッチ部SW(W)の間の光多芯コードに汚れかあるか否かを判断することができる。
特開2005−26899号公報 特開2002−223197号公報
従来は上述したように、対向の区間で作業者が連絡を取り合いながら1波ずつ所定の波長の光信号を挿入し、エンドツーエンドで光パワーを測定し、中間の多重区間では光スペアナを用いて測定していたため、次のような問題点があった。
(1)対向の状態でエンドツーエンドの測定をする必要があったため、自装置に閉じての測定が行えず、作業が繁雑であった。
(2)実際に波を立てるため、運用に入ってしまった波長での測定はできず、装置初期立上時に測定を行うか、あるいはシステムの運用を停止して測定を行う必要があった。
(3)経年変化や、運用中のパッケージ故障によるパッケージ交換後に、レベルダイヤ(装置内疎通状態)が悪化してしまうことがあるが、光コネクタの清掃以外に復旧手段はなかった。
(4)多芯の光コネクタを用いた装置では、1芯だけを清掃したくても、多芯であるが故に他の回線も止めて作業を行う必要があり、オペレータへの負担が大きかった。
一方、特許文献1には、故障あるいは障害箇所を具体的に特定しうる光中継装置が開示されている。また、特許文献2には、伝送品質をデジタル信号レベルで容易に保証することができる光ネットワークシステムが開示されている。
しかしながら、特許文献1および特許文献2は、他の装置との関係で故障や品質を監視するものであり、一つの装置に閉じた測定を行えるものではなく、上述した問題点を解決できるものではない。
上記の従来の問題点に鑑み、装置初期構築時、運用中時の区別なく、レベルダイヤを自装置に閉じた状態で測定、確認することを可能にする光分岐挿入多重化装置を提供することを目的とする。
この光分岐挿入多重化装置の一実施態様では、光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置であって、装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する手段と、前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する手段と、前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する手段と、測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する手段と、算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する手段とを備える。
好ましくは、 前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する手段
を備えることができる。
好ましくは、前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する手段を備えることができる。
開示の光分岐挿入多重化装置にあっては、装置初期構築時、運用中時の区別なく、レベルダイヤを自装置に閉じた状態で測定、確認することができ、作業性および運用性の向上を図ることができる。
以下、本発明の好適な実施形態につき説明する。
<第1の実施形態>
図3は本発明の第1の実施形態にかかる光分岐挿入多重化装置の構成例を示す図であり、図1(b)に示したR−OADMタイプをベースにしている。なお、図2では光ケーブル2を挟んで対向する光分岐挿入多重化装置1X、1Yを示したが、図3では一つの光分岐挿入多重化装置1の構成であるため、図2の左右の構成が入れ替わり、合体して一つの光分岐挿入多重化装置1を構成している。
図3において、光分岐挿入多重化装置1は、West側の光ケーブル21に接続され、光増幅器Pre-Ampおよび光増幅器Post-Ampを有する光増幅部AMP(E)と、光増幅部AMP(E)の光増幅器Pre-Ampに接続される波長選択スイッチ部1×2WSS(E)と、光増幅部AMP(E)の光増幅器Post-Ampに接続される波長ブロッカ部BLK(E)とを備えている。なお、光増幅部AMP(E)は分散補償部DCFを有するとともに、光ケーブル21に制御信号を送出することで対向する他の装置の光レベルを制御する監視制御波長処理部OSCを有している。波長選択スイッチ部1×2WSS(E)は図2の構成に対して新たに設けられた部分であり、East側のdrop(分岐)方向の測定を行うための光信号を注入するためのものである。波長ブロッカ部BLK(E)も新たに設けられた部分であり、East側のadd(挿入)方向の測定のために注入された光信号が光ケーブル21側に漏れ出さないようにするためのものである。
また、光分岐挿入多重化装置1は、波長選択スイッチ部1×2WSS(E)に接続される分波部DMUXおよび波長ブロッカ部BLK(E)に接続される合波部MUXを有する波長合分波部MUX/DMUX(E)と、波長合分波部MUX/DMUX(E)の分波部DMUXに光多芯コードを介して接続される複数の光カプラCPLおよび波長合分波部MUX/DMUX(E)の合波部MUXに接続される複数の光スイッチSWを有する光スイッチ部SW(E)とを備えている。光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLの分岐出力端および光スイッチSWの分岐入力端には光レベル測定用の光ダイオードPDが設けられている。波長合分波部MUX/DMUX(E)の合波部MUXの入力側には可変光減衰器VOAおよび光ダイオードPDが設けられている。
また、光分岐挿入多重化装置1は、光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLに光多芯コードを介して接続される複数の光スイッチSWおよび光スイッチ部SW(E)の光スイッチSWに光多芯コードを介して接続される複数の光カプラCPLを有する光スイッチ部SW(W)と、光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWに光多芯コードを介して接続される合波部MUXおよび光スイッチ部SW(W)の光カプラCPLに光多芯コードを介して接続される分波部DMUXを有する波長合分波部MUX/DMUX(W)とを備えている。光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWの分岐入力端および光カプラCPLの分岐出力端には光レベル測定用の光ダイオードPDが設けられている。波長合分波部MUX/DMUX(W)の合波部MUXの入力側には可変光減衰器VOAおよび光ダイオードPDが設けられている。
また、光分岐挿入多重化装置1は、波長合分波部MUX/DMUX(W)の合波部MUXに接続される波長ブロッカ部BLK(W)と、波長合分波部MUX/DMUX(W)の分波部DMUXに接続される波長選択スイッチ部1×2WSS(W)と、波長ブロッカ部BLK(W)に接続される光増幅器Post-Ampおよび波長選択スイッチ部1×2WSS(W)に接続される光増幅器Pre-Ampを有する光増幅部AMP(W)とを備えている。なお、波長ブロッカ部BLK(W)は図2の構成に対して新たに設けられた部分であり、West側のadd方向の測定のために注入された光信号が光ケーブル22側に漏れ出さないようにするためのものである。波長選択スイッチ部1×2WSS(W)も新たに設けられた部分であり、West側のdrop方向の測定を行うための光信号を注入するためのものである。光増幅部AMP(W)は分散補償部DCFを有するとともに、光ケーブル22に制御信号を送出することで対向する他の装置の光レベルを制御する監視制御波長処理部OSCを有している。
更に、光分岐挿入多重化装置1は、光スイッチ部SW(E)の光スイッチSWの分岐入力端および光カプラCPLの分岐出力端と複数のトランスポンダTRPNの間に接続されるマトリクススイッチMatrix SWを有するマトリクススイッチ部M-SW(E)を備えている。マトリクススイッチMatrix SWにおける光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLからの入力部には光ダイオードPDが設けられている。光スイッチ部SW(E)とマトリクススイッチ部M-SW(E)の間は光多芯コードを介して接続される。トランスポンダTRPNは、ナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oとディジタルラッパ部DW LSIとワイドバンド光電変換部WB O/E E/Oとを有しており、ワイドバンド光電変換部WB O/E E/OはクライアントノードCNに接続される。
同様に、光分岐挿入多重化装置1は、光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWの分岐入力端および光カプラCPLの分岐出力端と複数のトランスポンダTRPNの間に接続されるマトリクススイッチMatrix SWを有するマトリクススイッチ部M-SW(W)を備えている。マトリクススイッチMatrix SWにおける光スイッチ部SW(W)の光カプラCPLからの入力部には光ダイオードPDが設けられている。光スイッチ部SW(W)とマトリクススイッチ部M-SW(W)の間は光多芯コードを介して接続される。トランスポンダTRPNは、ナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oとディジタルラッパ部DW LSIとワイドバンド光電変換部WB O/E E/Oとを有しており、ワイドバンド光電変換部WB O/E E/OはクライアントノードCNに接続される。
更に、光分岐挿入多重化装置1は、任意の波長の光信号を発生するフルバンドチューナブルレーザ(Full Band Tunable Laser)FBTLaserおよびフルバンドチューナブルレーザFBTLaserの出力光を所定数(図示の例ではWest側、East側のadd方向、drop方向に対応させて「4」)に分岐するスプリッタSplitterを有するフルバンドチューナブルレーザ部FBTLを備えている。スプリッタSplitterの出力端には光ダイオードPDが設けられており、ポート#1はマトリクススイッチ部M-SW(E)のマトリクススイッチMatrix SWに接続され、ポート#2は波長選択スイッチ部1×2WSS(E)に接続され、ポート#3はマトリクススイッチ部M-SW(W)のマトリクススイッチMatrix SWに接続され、ポート#4は波長選択スイッチ部1×2WSS(W)に接続される。
また、光分岐挿入多重化装置1は、各部(光ダイオードPDを含む)の制御もしくは信号入出力を行うプロセッサCPUを備えている。
図4は波長選択スイッチ部1×2WSS(E)、1×2WSS(W)に用いられる波長選択スイッチの原理を示す図である。(a)は1×Nの波長選択スイッチの概略動作を示しており、波長(λ)およびパワーレベルの異なる複数の光信号が多重された信号が左側から入力されると、外部からの制御に応じ、任意の波長を選択し、かつパワーレベルを調整した後、右側の任意のポートに合波した状態で出力することができる。逆方向の動作も可能であり、右側のポートに光信号が入力されると、任意の波長を選択し、かつパワーレベルを調整した後、左側のポートに合成して出力することができる。図3の波長選択スイッチ部1×2WSS(E)、1×2WSS(W)では、2方向→1方向へ合波するデバイスとして使用している。
(b)は波長選択スイッチの機械的な構成例を示しており、光コード101から入力される光信号は、コリメータ102により平行光線とされて回折格子103に当たり、波長に応じた回折をした後、レンズ104により集光され、MEMS(Micro Electro Mechanical System)によって駆動されるミラー105で反射され、再びレンズ104、回折格子103、コリメータ102を介して光コード101に出力される。
(c)(d)は(b)における正面図であり、ミラー105の角度により、(c)ではINから入力された光信号がOUT1から出力され、(d)ではINから入力された光信号がOUT2から出力される様子を示している。なお、ミラー105の角度によりパワーレベルの調整も行われる。
図5は波長ブロッカ部BLK(E)、BLK(W)に用いられる波長ブロッカの原理を示す図である。(a)は波長ブロッカの機械的な構成例を示しており、図4(b)に示した波長選択スイッチと同様の構成となっており、1×1の波長選択スイッチと考えることができる。
(a)において、光コード111から入力される光信号は、コリメータ112により平行光線とされて回折格子113に当たり、波長に応じた回折をした後、レンズ114により集光され、MEMSによって駆動されるミラー115で反射され、再びレンズ114、回折格子113、コリメータ112を介して光コード111に出力される。
(b)(c)は(a)における正面図であり、ミラー115の角度により、(b)ではINから入力された光信号がOUTから出力され、(c)ではINから入力された光信号がブロックされてOUTから出力されない様子を示している。なお、ミラー115の角度により単にスイッチ(ON/OFF)動作するだけでなく、減衰量を調整することもできる。
(d)は波長ブロッカを機能ブロックで示したものであり、分波器121と複数のアッテネータ122と合波器123から構成されるものとなる。
図6はトランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oにおける出力レベル制御の原理を示す図である。図はE/O(電気/光変換)におけるレーザの駆動電流(横軸)と光出力(縦軸)の関係を示したものであり、バイアスレベルと変調振幅レベルを変化させることにより光出力レベルを変化させることができる。
図7はEast側add方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図であり、(a)は動作に関係する部分の信号の流れを示し、(b)は動作フローを示している。なお、(b)の動作フローにおけるステップS1〜S14は、(a)において同符号を付した部分で行われる処理である。
この例では、装置の初期立上時に、全てのパスにおいて波長が連続することを想定している。例えば、波長数が40波のシステムでは、λ=1、2、3、・・、i、・・、39、40と測定していく。図7ではi番目の測定を行う場合を示している。また、図中の信号は以下の意味を有している。
・λ<i>:i番目の波長
・P<1>:フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#1の光パワー
・P(SW-<E>-<i>-a):光スイッチ部−East側−i番目の波長−add方向の光パワー
・P(MD-<E>-<i>):波長合分波部−East側−i番目の波長(add方向)の光パワー
・A(E):マトリクススイッチ部M-SW(E)〜光スイッチ部SW(E)間の許容損失
・Loss<A(E)i>:マトリクススイッチ部M-SW(E)〜光スイッチ部SW(E)間のi番目の波長での実測損失
・ΔA(E)i:マトリクススイッチ部M-SW(E)〜光スイッチ部SW(E)間の許容損失と、i番目波長での実測損失との差分
・B(E):光スイッチ部SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間の許容損失
・Loss<B(E)i>:光スイッチ部SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間のi番目の波長での実測損失
・ΔB(E)i:光スイッチ部SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間の許容損失と、i番目波長での実測損失との差分
図7において、先ず、波長ブロッカ部BLK(E)でλ<i>をブロックする(ステップS1)。
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)でフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#1をポート<i>に接続する(ステップS2)。
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLでλ<i>を発光する(ステップS3)。
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#1の出力P<1>を測定・記録する(ステップS4)。
次いで、光スイッチ部SW(E)のadd port<i>の入力P(SW-<E>-<i>-a)を測定・記録する(ステップS5)。
次いで、波長合分波部MUX/DMUX(E)のadd port<i>の入力P(MD-<E>-<i>)を測定・記録する(ステップS6)。
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLを消光する(ステップS7)。
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)でポート<i>とフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#1との接続を解除する(ステップS8)。
次いで、波長ブロッカ部BLK(E)のλ<i>のブロックを解除する(ステップS9)。
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)〜光スイッチ部SW(E)間のLoss<A(E)i>=P<1>-P(SW-<E>-<i>-a)を算出する(ステップS10)。
次いで、許容損失A(E)との差分ΔA(E)i=A(E)-Loss<A(E)i>を算出する(ステップS11)。
次いで、光スイッチ部SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間のLoss<B(E)i>=P(SW-<E>-<i>-a)-P(MD-<E>-<i>)を算出する(ステップS12)。
次いで、許容損失B(E)との差分ΔB(E)i=B(E)-Loss<B(E)i>を算出する(ステップS13)。
そして、ΔA(E)i、ΔB(E)iの値をプロセッサCPUを通じて外部に通知し、Δがマイナスのパスは清掃、再接続を保守者に促す(ステップS14)。
図8はEast側add方向のレベルダイヤ測定動作の他の例を示す図であり、波長ブロッカ部BLK(E)を使わず、波長合分波部MUX/DMUX(E)にある可変光減衰器VOAを制御することで、図7と同様の測定を実現するようにしたものである。すなわち、被測定波長がWDM伝送路に出るのを波長ブロッカ部BLK(E)でブロックする代わりに、可変光減衰器VOAの減衰量を制御し、同様の機能を実現している。
動作としては、ステップS1'、S9'において、波長ブロッカ部BLK(E)に代え、波長合分波部MUX/DMUX(E)の可変光減衰器VOAを制御することで、λ<i>のブロックおよびブロックの解除を行う点が図7と異なる。
図9はEast側drop方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図である。
この例では、装置の初期立上時に、全てのパスにおいて波長が連続することを想定している。例えば、波長数が40波のシステムでは、λ=1、2、3、・・、i、・・、39、40と測定していく。図9ではi番目の測定を行う場合を示している。また、図中の信号は以下の意味を有している。
・λ<i>:i番目の波長
・P<2>:フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#2の光パワー
・P(SW-<E>-<i>-d):光スイッチ部−East側−i番目の波長−drop方向の光パワー
・P(MS-<E>-<i>):マトリクススイッチ部−East側−i番目の波長(drop方向)の光パワー
・C(E):波長合分波部MUX/DMUX(E)〜光スイッチ部SW(E)間の許容損失
・Loss<C(E)i>:波長合分波部MUX/DMUX(E)〜光スイッチ部SW(E)間のi番目の波長での実測損失
・ΔC(E)i:波長合分波部MUX/DMUX(E)〜光スイッチ部SW(E)間の許容損失と、i番目波長での実測損失の差分
・D(E):光スイッチ部SW(E)〜マトリクススイッチ部M-SW(E)間の許容損失
・Loss<D(E)i>:光スイッチ部SW(E)〜マトリクススイッチ部M-SW(E)間のi番目の波長での実測損失
・ΔD(E)i:光スイッチ部SW(E)〜マトリクススイッチ部M-SW(E)間の許容損失と、i番目の波長での実測損失の差分
図9において、先ず、波長選択スイッチ部1×2WSS(E)にてフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#2からのλ<i>を波長合分波部MUX/DMUX(E)方向に合波する(ステップS51)。
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLでλ<i>を発光する(ステップS52)。
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#2の出力P<2>を測定・記録する(ステップS53)。
次いで、光スイッチ部SW(E)のdrop port<i>の出力P(SW-<E>-<i>-d)を測定・記録する(ステップS54)。
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)のdrop port<i>の入力P(MS-<E>-<i>)を測定・記録する(ステップS55)。
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLを消光する(ステップS56)。
次いで、波長選択スイッチ部1×2WSS(E)のフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#2からのλ<i>の合波を解除する(ステップS57)。
次いで、波長合分波部MUX/DMUX(E)〜光スイッチ部SW(E)間のLoss<C(E)i>=P<2>-P(SW-<E>-<i>-d)を算出する(ステップS58)。
次いで、許容損失C(E)との差分ΔC(E)i=C(E)-Loss<C(E)i>を算出する(ステップS59)。
次いで、光スイッチ部SW(E)〜マトリクススイッチ部M-SW(E)間のLoss<D(E)i>=P(SW-<E>-<i>-d)-P(MS-<E>-<i>)を算出する(ステップS60)。
次いで、許容損失D(E)との差分ΔD(E)i=D(E)-Loss<D(E)i>を算出する(ステップS61)。
そして、ΔC(E)i、ΔD(E)iの値をプロセッサCPUを通じて外部に通知し、Δがマイナスのパスは清掃、再接続を保守者に促す(ステップS62)。
図10はEast側add方向のレベルダイヤ測定および自装置側トランスポンダの出力オフセット調整の動作例を示す図であり、(a)は動作に関係する部分の信号の流れを示し、(b)は動作フローを示している。
この例では、装置の運用中に任意の波長において測定を行い、その結果を元にトランスポンダTRPNの出力コントロールを行うナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの駆動電流を制御する。測定の結果、損失がある場合には、ターゲットとする光レベル差(ここではΔA(E)k)プラス0.1dBのループ制御を行って光出力を上げていき、トランスポンダTRPNの出力を上げ、装置内レベルダイヤの低下分を補填する。ただし、ΔA(E)k、ΔB(E)kの絶対値が、トランスポンダTRPNの出力レベル幅ΔP(T)を超える場合には、トランスポンダTRPNを制御しても規定の装置内損失を補填することはできないため、警報を発出しオペレータに通知する。
図10において、先ず、i=kとして、図7のステップS1〜S9(図8のステップS1'〜S9'でも可)を実行する(ステップS101)。
次いで、i=kとして、図7のステップS10〜ステップS13を実行する(ステップS102)。
次いで、ΔA(E)kもしくはΔB(E)kがマイナスであるか否か判断する(ステップS103)。ΔA(E)kもしくはΔB(E)kがマイナスでない場合は測定結果を通知する(ステップS104)。
ΔA(E)kもしくはΔB(E)kがマイナスである場合は、更に、マイナスの絶対値がトランスポンダTRPNの出力トレランスΔP(T)より小さいか否か判断する(ステップS105)。出力トレランスΔP(T)より小さくない場合は、許容範囲外の損失として、警報を通知する(ステップS106)。
出力トレランスΔP(T)より小さい場合、ここではΔA(E)kがマイナスであるとすると、λ(k)のトランスポンダTRPNを登録し、装置内のλ(k)のパス設定を実施する(ステップS107)。
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの出力P1out(TRPN λ<K>)をモニタして記録する(ステップS108)。
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの駆動電流を制御し、出力パワーを+0.1dB上げる(ステップS109)。
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの出力P2out(TRPN λ<K>)をモニタして記録する(ステップS110)。
次いで、出力増加分ΔPout(TRPN)=P2out(TRPN λ<K>)-P1out(TRPN λ<K>)を算出する(ステップS111)。
そして、|ΔA(E)k|-ΔPout(TRPN)>0の場合はトランスポンダTRPNの出力P1out(TRPN λ<K>)の記録(ステップS108)に戻り、同様の処理を繰り返す。
|ΔA(E)k|-ΔPout(TRPN)≦0の場合は制御を終了する(ステップS112)。
図11はEast側drop方向のレベルダイヤ測定および監視制御波長処理部経由で対向装置の波長合分波部の可変光減衰器制御の動作例を示す図であり、(a)は動作に関係する部分の信号の流れを示し、(b)は動作フローを示している。
この例では、装置の運用中に任意の波長において測定を行い、その結果を元に監視制御波長処理部OSC経由で対向する装置の波長合分波部(MUX/DMUX)の可変光減衰器VOAをコントロールし、自装置に到達する光入力レベルを上げていく。測定の結果、損失がある場合には、ターゲットとする光レベル差(ここではΔC(E)k)プラス0.1dBのループ制御を行い、対向装置の可変光減衰器VOAの減衰値を下げることで、装置内レベルダイヤの低下分を補填する。ただし、ΔC(E)k、ΔD(E)kの絶対値が、波長合分波部(MUX/DMUX)のVOA調整幅ΔP(V)を超える場合には、可変光減衰器VOAを制御しても規定の装置内損失を満たすことはできないため、警報を発出しオペレータに通知する。
図11において、先ず、i=kとして、図9のステップS51〜S57を実行する(ステップS151)。
次いで、i=kとして、図9のステップS58〜S61を実行する(ステップS152)。
次いで、ΔC(E)kもしくはΔD(E)kがマイナスであるか否か判断する(ステップS153)。ΔC(E)kもしくはΔD(E)kがマイナスでない場合は測定結果を通知する(ステップS154)。
ΔC(E)kもしくはΔD(E)kがマイナスである場合は、更に、マイナスの絶対値が波長合分波部のVOA調整トレランスΔP(V)より小さいか否か判断する(ステップS155)。VOA調整トレランスΔP(V)より小さくない場合は、許容範囲外の損失として、警報を通知する(ステップS156)。
VOA調整トレランスΔP(V)より小さい場合、ここではΔC(E)kがマイナスであるとすると、以下のように処理する。なお、対向局のトランスポンダTRPNのλ(k)の登録および装置内のλ(k)のパス設定は実施済とする(ステップS157)。
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの入力P1in(TRPN λ<K>)をモニタして記録する(ステップS158)。
次いで、対向局の波長合分波部MUX/DMUX(W)の可変光減衰器VOAを監視制御波長処理部OSC経由で制御し、信号レベルを+0.1dB上げる(ステップS159)。
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの入力P2in(TRPN λ<K>)をモニタして記録する(ステップS160)。
次いで、出力増加分ΔPin(TRPN)=P2in(TRPN λ<K>)-P1in(TRPN λ<K>)を算出する(ステップS161)。
そして、|ΔC(E)k|-ΔPin(TRPN)>0の場合はトランスポンダTRPNの入力P1in(TRPN λ<K>)の記録(ステップS158)に戻り、同様の処理を繰り返す。
|ΔC(E)k|-ΔPin(TRPN)≦0の場合は制御を終了する(ステップS162)。
以上、East側についての動作を説明したが、West側も対象的な構成となっており、動作は同様となる。
<第2の実施形態>
図12は本発明の第2の実施形態にかかる光分岐挿入多重化装置の構成例を示す図であり、光スイッチ部SW(E)、SW(W)および波長合分波部MUX/DMUX(E)、MUX/DMUX(W)に光ダイオードPDを設けない廉価な構成の場合における簡略な実施方法を示している。すなわち、光ダイオードPDでレベルを測定する代わりに、多重化されたあとの光信号を光チャネルモニタOCMで測定するようにしている。図3との構成上の違いとしては、新たに光チャネルモニタOCMが設けられ、波長ブロッカ部BLK(E)、BLK(W)の入力端から光チャネルモニタOCMに光信号が入力されるようになった点である。
図13はEast側add方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図であり、(a)は動作に関係する部分の信号の流れを示し、(b)は動作フローを示している。
この例では、装置の初期立上時に、全てのパスにおいて波長が連続することを想定している。例えば、波長数が40波のシステムでは、λ=1、2、3、・・、i、・・、39、40と測定していく。図13ではi番目の測定を行う場合を示している。また、図中の信号は以下の意味を有している。
・(A+B)(E):マトリクススイッチ部M-SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間の許容損失
・Loss<(A+B)(E)i>:マトリクススイッチ部M-SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間のi番目の波長での実測損失
・Δ(A+B)(E)i:マトリクススイッチ部M-SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間の許容損失と、i番目波長での実測損失の差分
図13において、先ず、波長ブロッカ部BLK(E)でλ<i>をブロックする(ステップS201)。
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)でフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#1をポート<i>に接続する(ステップS202)。
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLでλ<i>を発光する(ステップS203)。
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#1の出力P<1>を測定・記録する(ステップS204)。
次いで、光チャネルモニタOCMで波長合分波部MUX/DMUX(E)のadd port<i>の入力P(MD-<E>-<i>)を測定・記録する(ステップS205)。
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLを消光する(ステップS206)。
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)でポート<i>とフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート#1との接続を解除する(ステップS207)。
次いで、波長ブロッカ部BLK(E)のλ<i>のブロックを解除する(ステップS208)。
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間のLoss<(A+B)(E)i>=P<1>-P(MD-<E>-<i>-a)を算出する(ステップS209)。
次いで、許容損失(A+B)(E)との差分Δ(A+B)(E)i=(A+B)(E)-Loss<A+B)(E)i>を算出する(ステップS210)。
そして、Δ(A+B)(E)iの値をプロセッサCPUを通じて外部に通知し、Δがマイナスのパスは清掃、再接続を保守者に促す(ステップS211)。
光チャネルモニタOCMを用いたEast側add方向のレベルダイヤ測定の場合について説明したが、光チャネルモニタOCMにより二つの区間の損失を合わせて測定するという考え方を前述した第1の実施形態と組み合わせることにより、East側drop方向のレベルダイヤ測定ならびに出力オフセット調整、対向装置制御についても同様に行うことができる。また、West側についても同様である。
更に、図3の光スイッチ部SW(E)と光スイッチ部SW(W)を接続する光多芯コードの損失についても、光スイッチ部SW(E)、SW(W)間をスルーする信号につき、その前後の光レベルを測定することで測定することが可能である。
<他の方式への適用>
上記の実施形態では図1(b)のR−OADMタイプの光分岐挿入多重化装置につき説明したが、光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定するという考え方は、図1(a)のF−OADMタイプの光分岐挿入多重化装置や図1(c)のR−OADM(WSSタイプ)の光分岐挿入多重化装置にも同様に適用することができる。
<総括>
以上説明したように、本実施形態によれば、次のような利点がある。
(1)装置立上時の装置内レベルダイヤ測定を、自装置に閉じてadd/drop方向とも行なうことができ、作業性の向上を図ることができる。
(2)運用中でもレベル測定を行なうことができ、コネクタの清掃をすることなくレベルを制御することでレベル低下の補填を行なうことができ、運用性の向上を図ることができる。
以上、本発明の好適な実施の形態により本発明を説明した。ここでは特定の具体例を示して本発明を説明したが、特許請求の範囲に定義された本発明の広範な趣旨および範囲から逸脱することなく、これら具体例に様々な修正および変更を加えることができることは明らかである。すなわち、具体例の詳細および添付の図面により本発明が限定されるものと解釈してはならない。
(付記1)
光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置であって、
装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する手段と、
前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する手段と、
前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する手段と、
測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する手段と、
算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する手段と
を備えたことを特徴とする光分岐挿入多重化装置。
(付記2)
前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する手段
を備えたことを特徴とする付記1に記載の光分岐挿入多重化装置。
(付記3)
前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する手段
を備えたことを特徴とする付記1または2のいずれか一項に記載の光分岐挿入多重化装置。
(付記4)
光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置の装置内光レベル測定方法であって、
装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する工程と、
前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する工程と、
前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する工程と、
測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する工程と、
算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する工程と
を備えたことを特徴とする装置内光レベル測定方法。
(付記5)
前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する工程
を備えたことを特徴とする付記4に記載の装置内光レベル測定方法。
(付記6)
前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する工程
を備えたことを特徴とする付記4または5のいずれか一項に記載の装置内光レベル測定方法。
光分岐挿入多重化装置の代表的な構成例を示す図である。 従来における光レベル確認の手法例を示す図である。 本発明の第1の実施形態にかかる光分岐挿入多重化装置の構成例を示す図である。 波長選択スイッチの原理を示す図である。 波長ブロッカの原理を示す図である。 トランスポンダのナローバンド可変出力光電変換部における出力レベル制御の原理を示す図である。 East側add方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図である。 East側add方向のレベルダイヤ測定動作の他の例を示す図である。 East側drop方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図である。 East側add方向のレベルダイヤ測定および自装置側トランスポンダの出力オフセット調整の動作例を示す図である。 East側drop方向のレベルダイヤ測定および監視制御波長処理部経由で対向装置の波長合分波部の可変光減衰器制御の動作例を示す図である。 本発明の第2の実施形態にかかる光分岐挿入多重化装置の構成例を示す図である。 East側add方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図である。
符号の説明
1 光分岐挿入多重化装置
21、22 光ケーブル
SW(E)、SW(W) 光スイッチ部
SW 光スイッチ
CPL 光カプラ
MUX/DMUX(E)、MUX/DMUX(W) 波長合分波部
VOA 可変光減衰器
MUX 合波部
DMUX 分波部
AMP(E)、AMP(W) 光増幅部
Pre-Amp 光増幅器
Post-Amp 光増幅器
OSC 監視制御波長処理部
DCF 分散補償部
1×2WSS(E)、1×2WSS(W) 波長選択スイッチ部
BLK(E)、BLK(W) 波長ブロッカ部
FBTL フルバンドチューナブルレーザ部
FBTLaser フルバンドチューナブルレーザ
Splitter スプリッタ
M-SW(E)、M-SW(W) マトリクススイッチ部
Matrix SW マトリクススイッチ
TRPN トランスポンダ
VP NB O/E E/O ナローバンド可変出力光電変換部
DW LSI ディジタルラッパ部
WB O/E E/O ワイドバンド光電変換部
CN クライアントノード
CPU プロセッサ
OCM 光チャネルモニタ

Claims (6)

  1. 光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置であって、
    装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する手段と、
    前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する手段と、
    前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する手段と、
    測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する手段と、
    算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する手段と
    を備えたことを特徴とする光分岐挿入多重化装置。
  2. 前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する手段
    を備えたことを特徴とする請求項1に記載の光分岐挿入多重化装置。
  3. 前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する手段
    を備えたことを特徴とする請求項1または2のいずれか一項に記載の光分岐挿入多重化装置。
  4. 光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置の装置内光レベル測定方法であって、
    装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する工程と、
    前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する工程と、
    前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する工程と、
    測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する工程と、
    算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する工程と
    を備えたことを特徴とする装置内光レベル測定方法。
  5. 前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する工程
    を備えたことを特徴とする請求項4に記載の装置内光レベル測定方法。
  6. 前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する工程
    を備えたことを特徴とする請求項4または5のいずれか一項に記載の装置内光レベル測定方法。
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