JP5033672B2 - 雄螺子の測定装置及び判定装置 - Google Patents

Description

この発明は、雄螺子の螺子部の螺旋形状を測定するための雄螺子の測定装置と、この螺子部が規格に適合するか否かの合否判定をするための雄螺子の判定装置に関する。

従来より、雄螺子の螺子部が規格に適合するか否かの合否判定をする検査では、螺子部の螺旋形状を測定することが行われている。この検査では、測定対象の螺子の螺子部の側周面に、規格に適合する形状を有する螺子ゲージを螺子部の軸方向に沿って当接させ、螺旋形状と螺子ゲージの形状とが一致するか否かを目視により測定していた。

しかし、このような検査では、規格に応じて多数の螺子ゲージを予め用意して、測定時に必要な螺子ゲージを選択し、個々に人手により行なわなければならず、測定に手間を要していた。また、繰り返し螺子ゲージを雄螺子の外表面に当接して測定するため、摩耗して測定が不正確になり易かった。多数の雄螺子の測定や検査を行い難かった。

下記特許文献１には、非接触状態で、しかも、自動で雄螺子の形状を測定することが可能な螺子判別装置が提案されている。

この螺子判別装置では、レーザ光を照射し、その投影像から螺子部の外径とピッチとを測定し、測定結果に基づいてリードを演算で求め、リード角に応じて測定部に角度を付け、リード角に沿って螺子部の形状を測定して螺旋形状データを求めることが行われている。
特開平６−１４７８３４号公報

しかしながら、このような従来の自動測定可能な装置では、螺旋形状を測定するために、リード角に応じて測定部を傾斜させなければならず、測定装置の構造が複雑で、測定に長時間を要し易かった。

そこで、この発明は、簡単な構造で短時間で螺子部の螺旋形状を非接触状態で測定することが可能な雄螺子の測定装置を提供することを課題とし、また、この測定装置を用いた合否判定装置を提供することを他の課題とする。

上記課題を解決する請求項１に記載の雄螺子の測定装置は、雄螺子の螺子部に測定光を照射して得られる投影光により前記螺子部の形状を測定する雄螺子の測定装置において、前記螺子部を突出させた状態で前記雄螺子を支持する支持部と、前記測定光を前記螺子部の一方の側方側から照射可能な照射部と、前記測定光により得られる螺子部の軸線に沿う最大断面形状の外縁により、該外縁に対応する前記螺子部の検出位置を検出する検出部と、前記検出位置と前記螺子部の軸線との間の垂直距離を演算することで、前記螺子部の螺旋形状の半径を求める処理部と、を備えたことを特徴とする。

請求項２に記載の雄螺子の測定装置は、請求項１に記載の構成に加え、前記処理部は、前記外縁の第１の検出位置の第１の半径と、該第１の検出位置とは半回転ずれると共にｎ＋０．５（ｎは整数である）ピッチずれた第２の検出位置の第２の半径とを求め、前記第１の半径と前記第２の半径とを加算して前記螺子部の螺旋形状の直径を求めることを特徴とする。

請求項３に記載の雄螺子の測定装置は、請求項２に記載の構成に加え、前記第１の検出位置と前記第２の検出位置とが、前記螺子部の螺子山の頂部及び／又は螺子溝の底部であることを特徴とする。

請求項４に記載の雄螺子の測定装置は、請求項１乃至３の何れか一つに記載の構成に加え、前記処理部は、複数の前記検出位置の前記垂直距離を平均して前記半径又は直径の平均を求めることを特徴とする。

請求項５に記載の雄螺子の判定装置は、請求項１乃至４の何れか一つに記載の雄螺子部の測定装置を備え、記憶部に記憶された判定データと前記螺旋形状の半径又は直径とを比較し、合否を判定する判定部を備えたことを特徴とする。

請求項１に記載の発明によれば、測定光により得られる螺子部の軸線に沿う最大断面形状の投影像の外縁により螺子部の検出位置を検出し、この検出位置と螺子部の軸線との間の垂直距離により半径を求めるので、螺子部に非接触状態で螺旋形状の半径を測定することができ、しかも、半径を測定するため、螺子部に存在するリードの影響を受けることなく、簡単な構成で螺子部の螺旋形状を短時間で測定することができる。

請求項２に記載の発明によれば、外縁の第１の検出位置の第１の半径と、第１の検出位置とは半回転ずれると共にｎ＋０．５（ｎは整数である）ピッチずれた第２の検出位置の第２の半径とを求めるので、照射部及び検出部により第１の検出位置と第２の検出位置とを同一方向から測定することが可能で、螺子部を回転させることなく螺子部の螺旋形状を測定することができる。しかも、第１の半径と第２の半径とを加算して螺子部の螺旋形状の直径を求めるので、螺子部に存在するリードの影響を受けることなく、簡単な構成で螺子部の螺旋形状の直径を測定することができる。

請求項３に記載の発明によれば、第１の検出位置と第２の検出位置とが螺子部の螺子山の頂部或いは螺子部の螺子溝の底部であるので、検出部において第１の検出位置及び第２の検出位置を明確に識別し易く、精度よく測定し易い。

請求項４に記載の発明によれば、複数の検出位置の垂直距離を平均して半径又は直径を求めるので、測定結果を安定化して比較し易くできる。

請求項５に記載の雄螺子の判定装置によれば、請求項１乃至５の何れか一つに記載の雄螺子部の測定装置を用いて螺子部の螺旋形状の半径又は直径を演算するので、簡単な構造で短時間で螺子部の螺旋形状を測定することができる上、その測定結果を、記憶部に記憶された判定データと比較して合否を判定するので、螺子部の螺旋形状の測定から合否の判定までを自動で行うことができる。

［実施の形態１］

以下、この発明の実施の形態について説明する。

図１は、この実施の形態の測定装置を備えた雄螺子の測定装置の要部を示す。

この雄螺子１０の測定装置２０は、ベース部２２上に配設され、螺子部１３を突出させた状態で雄螺子１０を支持可能な支持部２１と、支持部２１に支持された雄螺子１０の螺子部１３の螺旋形状を測定するための測定部３０とを備えている。

まず、測定対象の雄螺子１０は、図２に示すように、螺子山１５及び螺子溝１６が螺旋状に形成されたビス、ボルト等の各種の螺子であり、頭部を有していても有しなくてもよい。好ましくは、複数の螺子山１５の頂部や複数の螺子溝１６の底部を結ぶ線が、螺子部１３の軸線Ｌと平行であるものが好適である。軸線Ｌを把握し易いからである。

支持部２１は、ベース部２２に直接又は間接に固定された支柱部２３と、支柱部２３に設けられたチャック部２５とを備え、チャック部２５に設けられた径方向に開閉可能な支持片２７により雄螺子１０の頭部１１を固定及び開放可能に構成されている。

この支持部２１は、チャック部２５に雄螺子１０の頭部１１を支持させると、螺子部１３の軸線Ｌがベース部２２の軸心と平行に配置されるように構成されている。ここでは、支持片２７の端部側の段差部２７ａにより雄螺子１０の頭部１１の螺子部１３側端面を支持することで軸線Ｌを所定方向に配向させている。

測定部３０は、支持部２１に支持された雄螺子１０の螺子部１３に測定光を照射可能な照射部３１と、照射部３１からの測定光により形成される螺子部１３の投影光を受光する検出部３５とを備えている。

照射部３１は、図示しない制御部からの信号線３３からの信号により、帯状のレーザ光等の測定光を発光し、螺子部１３の一方の側面側から、軸線Ｌに対して直交方向となるように測定光を照射可能に構成されている。

帯状の測定光では、帯厚は螺子部１３の螺子山１５及び螺子溝１６に比べて十分に薄い。また、帯幅は、好ましくは各螺子山１５の高さより広いものが好適である。螺子部１３と測定部３０とを相対移動させることで、螺子山１５及び螺子溝１６を連続して測定する際、測定部３０を螺子山１５及び螺子溝１６の形状に応じて軸線Ｌと交差する方向に移動させる必要がなく、精度を向上し易くできるからである。この実施の形態では、両側の螺子山１５を測定可能となるように、螺子部１３の螺旋形状の最大径より大きい帯幅となっている。

検出部３５は、測定光の幅方向の一部が螺子部１３により遮蔽されると共に残部が螺子部１３の側面側を通過することで形成された投影像を受光し、遮蔽された部位と検出部３５に投影光として到達した部位との境界により投影像の外縁を検出可能に構成されている。ここでは、測定光が螺子部１３の一方の側面側から照射されているので、投影像は螺子部の測定光に対する最大断面形状、即ち、螺子部１３の軸線Ｌを含む断面の形状となっている。

この検出部３５では、螺子部１３の任意の検出位置が最大断面形状の縁部となるように配置された状態で形成された投影像の外縁を検出することで、検出位置に対応する外縁の位置を示す検出データが生成される。この検出データは、例えば、検出部３５が光電変換素子からなる場合は、電流等である。

検出部３５で検出された検出データは、信号線３７を介して、図示しない処理部に伝達可能に構成されている。

これらの照射部３１と検出部３５とは、精度良く対向するように位置合わせされていることが必要であり、この測定装置２０では、照射部３１と検出部３５とが互いの相対位置を変化させることなく螺子部１３に対して相対移動可能となっており、具体的には、ベース部２２の軸心や螺子部１３の軸線Ｌに平行に移動可能な図示しない可動部材上に上下動可能に固定して設置されている。

次に、このような測定装置２０により雄螺子１０の螺旋形状を測定する方法について説明する。

まず、雄螺子１０の頭部１１を支持部２１のチャック部２５に固定する。このとき、支持片２７の段差部２７ａを雄螺子１０の頭部１１の螺子部１３側端面を係止することで、螺子部１３の軸線Ｌがベース部２２の軸心と平行になるように固定する。軸線Ｌを精度よく軸心に平行にするために、例えば、心出し治具等を用いて固定してもよい。

次いで、照射部３１から帯状の測定光を螺子部１３の検出位置に照射することで、螺子部１３の最大断面形状の投影像を形成し、検出部３５により投影光を受光する。ここで検出位置とは、例えば、螺子山１５の頂部、螺子溝１６の底部、螺子溝１６の傾斜面など、螺子部１３において加工精度などが要求される各種の部位である。検出位置を投影像の外縁として検出するには、当該検出部位が最大断面形状の縁部となるように螺子部１３を支持部２１に支持させた状態で測定光を照射すればよいが、通常、螺子部１３は周方向に同一の螺旋形状が存在するため、螺子部１３の側周面に方向性がなく、そのため、任意の向きで雄螺子１０を支持部２１に支持させた状態で測定光により形成される投影像の外縁に対応する各位置を検出位置として採用することができる。

投影光が検出部３５で受光されることで、螺子部１３の検出位置に対応する投影像の外縁の位置が、投影光の有無による境界として検出部３５で検出され、これに基づく、電流等の検出データが生成される。測定光が実質的に拡散しない光からなり、螺子部１３における各種の距離と投影像における各種の距離とが一致するため、検出データにより検出された位置は螺子部１３の各検出位置と精度良く対応している。

このように生成された検出データは信号線３７を介して図示しない処理部に伝達される。

この実施の形態１では、測定部３０がベース部２２の軸心及び螺子部１３の軸線Ｌに沿って移動可能に構成されているため、照射部３１で測定光を照射すると共に検出部３５で受光しつつ、測定部３０を螺子部１３の全長に渡り連続して移動させることで、多数の検出位置の検出を実施することができ、これにより螺子部１３の外縁の軸線Ｌに沿う全長の形状が連続的に検出することが可能である。

その後、検出された各検出位置に対して、周方向に半回転ずれた別の検出位置、即ち、螺子部１３の軸線Ｌを挟んで反対側となる検出位置の検出を同様にして行う。このとき、先の検出で一部の検出位置のみを検出した場合には、周方向に半回転ずれると共に軸線Ｌに沿ってｎ＋０．５（ｎは整数である）ピッチずれた位置の検出を行う。ここで、ｎ＋０．５ピッチずれた位置とするのは、連続する螺旋形状により先に検出された検出位置と同一の形状の検出位置が配置されているからである。

なお、測定光の帯状形状の測定光の帯幅が螺子部１３の最大幅より広いものであれば、一方の検出位置の検出と、半回転ずれた検出位置の検出とを同時に行うことが可能である。

そして、各検出位置の検出と共に、或いは検出後に、処理部において各検出データに基づいてデータ処理が実行される。ここでは、検出データと螺子部１３の軸線Ｌの位置データとに基づいて、各検出位置と螺子部１３の軸線Ｌとの間の垂直距離が演算され、螺子部の螺旋形状の各位置の半径、例えば、螺子山１５の頂部の半径、螺子溝１６の底部の半径、同一ピッチにおける螺子溝１６の傾斜面の半径などが求められる。更に、この実施の形態では、これらの半径に基づいて、各部の直径も求められる。

ここで、軸線Ｌの位置データは、チャック部２５及び測定装置２０の軸心に基づいて予め処理部に設定されていてもよく、その場合、測定部３０は軸線Ｌを基準にして各位置を検出しているためデータ処理が容易となる。また、各検出位置の検出前に、チャック部２５に雄螺子１０を支持させた後、測定部３０により螺子部１３の全長或いは両端側の投影像に基づいて、中心線を求めて螺子部１３の軸線Ｌの位置データとして設定することも可能である。その場合、雄螺子１０を支持部２１に支持させる際に軸線Ｌと測定装置の軸心との間に多少のずれが生じていても精度よく半径の測定を行うことが可能である。

そして、このような螺子部１３の軸線Ｌの位置データを用い、位置データと各検出データとを加算或いは減算することで垂直距離を算出し、半径を求める。この半径は、螺子部１３の検出位置の１点を測定するだけで、直ちに求められる値であるため、螺子部１３のリードの影響を全く受けることなく容易に測定することが可能である。

具体的に、例えば、螺子山１５の頂部の半径を求めるには、図２に示すように、第１の検出位置としての頂部Ｐ１の検出データと、螺子部１３の軸線Ｌの頂点Ｐ１からの垂線の交点Ｐ２の位置データとを加減算すれば、垂直距離ｒｍ１を半径として求めることができる。

また、螺子山１５の頂部の直径を求めるには、頂部Ｐ１とは周方向に半回転ずれると共に軸線Ｌ方向に０．５ピッチずれた第２の検出位置としての頂部Ｐ３の検出データと、螺子部１３の軸線Ｌの頂点Ｐ３からの垂線の交点Ｐ４の位置データとを加減算すれば、垂直距離ｒｍ２を頂点Ｐ３の半径ｒｍ２として求めることができる。そして、頂点Ｐ１の半径ｒｍ１と頂点Ｐ２の半径ｒｍ２とを加算することで、螺子山１５の頂部の直径を求めることができる。

更に、螺子溝１６の底部の半径を求めるには、第１の検出位置としての底部Ｐ５の検出データと、螺子部１３の軸線Ｌの底部Ｐ５からの垂線の交点Ｐ６の位置データとを加減算すれば、垂直距離ｒｖ１を半径として求めることができる。

また、螺子溝１６の底部の直径を求めるには、底部Ｐ５とは周方向に半回転ずれると共に軸線Ｌ方向に０．５ピッチずれた第２の検出位置としての底部Ｐ７の検出データと、螺子部１３の軸線Ｌの底部Ｐ７からの垂線の交点Ｐ８の位置データとを加減算すれば、垂直距離ｒｖ２を底部Ｐ７の半径ｒｖ２として求めることができる。そして、底部Ｐ５の半径ｒｖ１と底部Ｐ７の半径ｒｖ２とを加算することで、螺子溝１６の底部の直径を求めることができる。

このような螺子山１５或いは螺子溝１６の直径を測定する際には、周方向に半回転ずれた位置であって、軸方向に螺子部１３の軸線Ｌに沿ってｎ＋０．５（ｎは１以上の整数）ずれた任意の２点の半径を組み合わせて求めることも可能であり、更に、周方向に任意の回転角度ずれた位置であって、軸方向に回転角度に対応したピッチ分ずれた任意の２点の半径を組み合わせて求めることが可能である。しかし、この実施の形態では、互いに最も近接する検出位置同士の半径を加算して直径を求めることで、螺子部１３の軸方向の位置により変動する誤差等をも測定し易くしている。

そして、このようにして、螺子部１３の軸線Ｌに沿う全長に渡り、投影像により得られる全ての螺子山１５及び螺子溝１６について同様の処理を実行することで、半径及び直径の測定を完了する。

これらの測定で得られた結果は、図示しないモニターに数値及び図等として表示することができる。また、各雄螺子１０の記録として保存したり、他の装置の制御に利用することが可能である。

なお、複数の螺子山１５の頂部や螺子溝１６の底部のような検出位置の軸線Ｌとの垂直距離からぞれぞれ半径を求める代わりに、複数の垂直距離を平均することにより、半径を求めてもよい。

以上のような測定装置２０によれば、測定光により得られる螺子部１３の軸線Ｌに沿う最大断面形状の投影像の外縁により螺子部１３の検出位置を検出し、この検出位置と螺子部１３の軸線Ｌとの間の垂直距離により半径を求めるので、螺子部１３に非接触状態で螺旋形状の半径を測定することができる。しかも、半径を測定しているため、螺子部１３に存在するリードの影響を受けることなく、各検出位置の１点を検出するだけで半径を求めることができ、簡単な構成で螺子部１３の螺旋形状を短時間で測定することが可能である。

また、外縁の第１の検出位置の第１の半径と、第１の検出位置とは半回転ずれると共にｎ＋０．５（ｎは整数である）ピッチずれた第２の検出位置の第２の半径とを求めるので、照射部３１及び検出部３５により第１の検出位置と第２の検出位置とを同一方向から測定することが可能で、螺子部１３を回転させることなく螺子部１３の螺旋形状を測定することができる。しかも、第１の半径と第２の半径とを加算して螺子部１３の螺旋形状の直径を求めるので、螺子部１３に存在するリードの影響を受けることなく、簡単な構成で螺子部１３の螺旋形状の直径を測定することができる。

更に、第１の検出位置と第２の検出位置とが螺子部１３の螺子山１５の頂部或いは螺子部１３の螺子溝１６の底部であるので、検出部３５において第１の検出位置及び第２の検出位置を明確に識別し易く、精度よく測定し易い。

また、複数の検出位置の垂直距離を平均して半径又は直径を求める場合には、測定結果を安定化して比較し易くできる。

なお、上記実施の形態は、この発明の範囲内において適宜変更可能である。例えば、上記では、支持部２１として、雄螺子１０を固定して支持するものについて説明したが、特に限定されるものではなく、支持部２１が螺子部１３の軸線Ｌを中心に回転可能に構成されたものであってもよい。その場合、任意の検出位置について、外縁の半径を測定した後、任意の回転量を回転させると共に、該回転量に対応したピッチの倍数分だけ、測定部３０を螺子部１３の軸線Ｌに沿って移動させ、螺子部１３の外縁の所定各移動した部位の半径を検出するようにしてもよい。このようにすれば、螺子部１３の外縁の直径をより細かい位置で測定することが可能である。

更に、この場合、１８０°回転させて（ｎ＋０．５）ピッチずれた位置を測定するようにすれば、照射部３１から照射する測定光の帯幅が螺子部１３の最大幅に比べて小さい光であっても、螺子部１３の軸線Ｌと対称位置に形成される外縁を測定するために、測定部３０を軸線Ｌに対して直交方向に移動させる必要がなく、装置の構成をより簡単にすることが可能である。
［実施の形態２］

図３は、この実施の形態２を示す。この実施の形態２は、実施の形態１の測定装置を用いた雄螺子の合否判定装置の例である。

この雄螺子の合否判定装置は、実施の形態１の測定装置２０の動作を制御する制御部４１と、各種の雄螺子１０の螺子部１３の規格寸法及び許容誤差からなる判定データが記憶された記憶部４５とが設けられており、測定装置２０のデータ処理部４３において、螺旋形状の各検出位置の直径或いは半径が求められた後、この直径或いは半径が規格に適合するか否かを、データ処理部４３において判別することが可能となっている。

また、データ処理部４３により求められた螺子部１３の螺旋形状の各検出位置の半径或いは直径をを表示するためのモニター４７が設けられている。ここでは、螺子部１３の軸線Ｌに沿う最大直交断面の投影像と共に、各測定結果の直径或いは半径が表示されるように構成されている。

次に、この雄螺子の合否判定装置の動作について説明する。

まず、測定装置２０の支持部２１に雄螺子１０を支持させ、精度よく軸線Ｌをベース部２２の軸心に沿って装着した状態とし、判定処理を開始する。このとき、データ処理部４３には、螺子部１３の軸線Ｌの位置が精度よく設定される。

この軸線Ｌの設定は、手動で入力することも可能であり、また、予め、軸線Ｌの位置が特定されている測定装置２０で、雄螺子１０を支持部２１に支持させるのでもよい。更に、駆動制御部４１からの信号により、測定部３０を螺子部１３の全長や両端部の投影像を測定することで、螺子部１３の外縁の位置から軸線Ｌの位置を求めて設定してもよい。

判定処理では、まず、駆動制御部４１からの信号により、実施の形態１のように、測定部３０により螺子部１３の外縁と軸線Ｌとの間の垂直距離が測定され、検出データがデータ処理部４３に伝達される。

次いで、データ処理部４３でこの検出データに基づいて演算されて直径或いは半径が求められる。

その後、データ処理部４３に設けられている判定部において、記憶部４５に記憶されている判定データを読み出し、求められた直径或いは半径を判定データと比較することで、規格寸法の許容誤差の範囲内であるか否かが判定される。直径或いは半径が許容誤差範囲内である場合、合格と判定する。このとき、判定データとしては、雄螺子１０の径や種類に応じて複数種類の判定データから選択して使用される。この判定データの選択は、予め手動で行ってもよく、測定部３０の測定結果に基づいて自動で選択可能であれば、自動で選択して使用することも可能である。

そして、判定結果が、半径及び直径の値と共にモニター４７に伝達されて表示される。この判定結果に基づいて、測定された雄螺子１０の合否を認識して、例えば、手動で雄螺子１０を合格品と不合格品とに選別することで、判定処理を完了することができる。

なお、より精度よく合否判定を行うため、螺子部１３の多数、より好ましくは全ての螺子山１５、螺子溝１６、螺子溝１６の傾斜面などの半径或いは直径を測定し、全ての値が規格の範囲内であるか、範囲外であるかを判定するようにすることが特に好適である。

以上のような雄螺子１０の判定装置によれば、実施の形態１のような雄螺子１０の測定装置２０を用いて螺子部１０の螺旋形状の半径或いは直径を演算するので、簡単な構造で短時間で螺子部１３の螺旋形状を測定することができる上、その測定結果を、データ処理部４３に設けられた判定部において、記憶部４５に記憶された判定データと比較して合否を判定するので、螺子部１３の螺旋形状の測定から規格の範囲内であるか否かの合否判定までを自動で行うことが可能である。

特に、各検出位置の半径を用いて雄螺子１０の合否判定を行う場合には、螺子部１３の検出位置の１点を測定するだけで、直ちに半径が求められて合否判定を行うことができる。そのため、螺子部１３にリードが存在していても、リードの影響を全く受けることなく極めて速やかに、且つ容易に判定を実施することが可能である。

また、各検出位置の直径を用いて雄螺子１０の合否判定を行う場合であっても、一旦、検出位置の半径を求めてから直径を求めるので、一つの検出位置において半径を求めておき、別の検出位置の１点を測定すれば、この位置の半径を求めて先に求めた半径と加算することで直ちに直径が求めることが可能である。そのため、螺子部１３にリードが存在していても、同様にリードの影響を全く受けることなく極めて速やかに、且つ容易に判定を実施することが可能である。
［実施の形態３］

図４は、この実施の形態３を示す。この実施の形態３では、実施の形態２のような雄螺子１０の判定装置が雄螺子搬送ラインに設けられた例である。

この雄螺子１０の判定装置では、一次側搬送部５１において搬送された例えば螺子作製工程後の雄螺子１０を、駆動制御部４１からの信号で自動で測定装置２０の支持部２１に支持させ、実施の形態１と同様に螺子部１３の螺旋形状の直径或いは半径を測定し、実施の形態２と同様に、判定データ及び許容誤差と比較して合否の判定を行った後、二次側搬送部５３に搬出し、合格品を合格品ストッカ５５に収容し、不合格品を不合格品ストッカ５７に収容するように構成されている。

このような雄螺子１０の判定装置によれば、雄螺子１０の搬入、固定、測定、判定、搬出を全て自動で行うことができ、雄螺子１０の搬送ラインに設けることができ、多数の雄螺子１０の螺子部１３の判定を行うことが容易であり、雄螺子１０の全数の検査を行うことも可能である。

この発明の実施の形態１の雄螺子の測定装置の要部の平面図である。 この発明の実施の形態１の雄螺子の測定装置の測定対象の雄螺子を示す正面図である。 この発明の実施の形態２の合否判定装置を示すブロック図である。 この発明の実施の形態３の合否判定装置を示すブロック図である。

符号の説明

１０ 雄螺子
１３ 螺子部
１５ 螺子山
１６ 螺子溝
２０ 測定装置
２１ 支持部
３０ 測定部
３１ 照射部
３５ 検出部
４１ 駆動制御部
４３ データ処理部
４５ 記憶部

Claims (5)

1. 雄螺子の螺子部に測定光を照射して得られる投影光により前記螺子部の形状を測定する雄螺子の測定装置において、
   前記螺子部を突出させた状態で前記雄螺子を支持する支持部と、
   前記測定光を前記螺子部の一方の側方側から照射可能な照射部と、
   前記測定光により得られる螺子部の軸線に沿う最大断面形状の投影像の外縁により、該外縁に対応する前記螺子部の検出位置を検出する検出部と、
   前記検出位置と前記螺子部の軸線との間の垂直距離を演算することで、前記螺子部の螺旋形状の半径を求める処理部と、を備えたことを特徴とする雄螺子の測定装置。
2. 前記処理部は、前記外縁の第１の検出位置の第１の半径と、該第１の検出位置とは半回転ずれると共にｎ＋０．５（ｎは整数である）ピッチずれた第２の検出位置の第２の半径とを求め、前記第１の半径と前記第２の半径とを加算して前記螺子部の螺旋形状の直径を求めることを特徴とする請求項１に記載の雄螺子の測定装置。
3. 前記第１の検出位置と前記第２の検出位置とが、前記螺子部の螺子山の頂部及び／又は螺子溝の底部であることを特徴とする請求項２に記載の雄螺子の測定装置。
4. 前記処理部は、複数の前記検出位置の前記垂直距離を平均して前記半径又は直径の平均を求めることを特徴とする請求項１乃至３の何れか一つに記載の雄螺子の測定装置。
5. 請求項１乃至４の何れか一つに記載の雄螺子部の測定装置を備え、
   記憶部に記憶された判定データと前記螺旋形状の半径又は直径とを比較し、合否を判定する判定部を備えたことを特徴とする雄螺子の判定装置。

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