JP5017572B2 - 超音波画像検査方法、及び超音波画像検査装置 - Google Patents
超音波画像検査方法、及び超音波画像検査装置 Download PDFInfo
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Description
3…光学顕微鏡及び超音波顕微鏡として機能する顕微鏡本体
7…基準構造物としての参照板
9…被検査物としての生体組織
14,73…超音波トランスデューサ
51…補正データ算出手段、データ取得手段及びデータ補正手段としてのCPU
54…記憶手段としてのメモリ
60…光学像データ
61…超音波像データ
80…基準構造物としての金属メッシュ
So…超音波
Claims (3)
- 超音波トランスデューサを有する超音波顕微鏡を利用して超音波を二次元走査しながら被検査物に照射し、得られた反射波に基づいて前記被検査物を可視化する超音波画像検査方法であって、
光及び超音波を反射する反射面を有し、光学的及び音響的に可視化できかつ超音波反射係数が既知の金属材料からなり、前記反射面とその反対側面とを貫通するとともに前記超音波の二次元走査範囲に含まれる大きさの透孔が形成された基準構造物を光学顕微鏡で観察して得た光学像データと、当該基準構造物を超音波顕微鏡で観察して得た超音波像データとについてそれぞれ二次元フーリエ変換し、前記超音波像データの変換結果を前記光学像データの変換結果で割ることにより、前記超音波トランスデューサから照射された超音波の焦点域におけるビームスポット形状に応じた補正データを求めるステップと、
前記被検査物の超音波像データを取得するステップと、
前記被検査物の超音波像データを二次元フーリエ変換し、その変換結果を前記補正データで割り、さらに逆フーリエ変換することで、前記被検査物の超音波像の画像ボケを減じる方向に補正するステップと
を含むことを特徴とする超音波画像検査方法。 - 超音波トランスデューサを有する超音波顕微鏡を利用して超音波を二次元走査しながら被検査物に照射し、得られた反射波に基づいて前記被検査物を可視化する超音波画像検査装置であって、
光及び超音波を反射する反射面を有し、光学的及び音響的に可視化できかつ超音波反射係数が既知の金属材料からなり、前記反射面とその反対側面とを貫通するとともに前記超音波の二次元走査範囲に含まれる大きさの透孔が形成された基準構造物を光学顕微鏡で観察して得た光学像データと、当該基準構造物を超音波顕微鏡で観察して得た超音波像データとについてそれぞれ二次元フーリエ変換し、前記超音波像データの変換結果を前記光学像データの変換結果で割ることにより、前記超音波トランスデューサから照射された超音波の焦点域におけるビームスポット形状に応じた補正データを求める補正データ算出手段と、
前記超音波顕微鏡を利用して、前記被検査物の超音波像データを取得するデータ取得手段と、
前記被検査物の超音波像データを二次元フーリエ変換し、その変換結果を前記補正データで割り、さらに逆フーリエ変換することで、前記被検査物の超音波像の画像ボケを減じる方向に補正するデータ補正手段と
を備えたことを特徴とする超音波画像検査装置。 - 前記補正データ算出手段が算出した補正データを記憶する記憶手段をさらに備えたことを特徴とする請求項2に記載の超音波画像検査装置。
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