JP4993686B2 - 対応点探索方法および3次元位置計測方法 - Google Patents
対応点探索方法および3次元位置計測方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4993686B2 JP4993686B2 JP2006304622A JP2006304622A JP4993686B2 JP 4993686 B2 JP4993686 B2 JP 4993686B2 JP 2006304622 A JP2006304622 A JP 2006304622A JP 2006304622 A JP2006304622 A JP 2006304622A JP 4993686 B2 JP4993686 B2 JP 4993686B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pixel data
- images
- dimensional
- image
- data string
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
R=f・L/A ・・・・(1)
カメラ10および11は所定の距離Lを隔てて配置されている。このカメラ10および11が互いの光軸が平行且つ、画像座標の水平軸が同一直線上で同じ向きになるように配置されていれば、図2(a)および(b)に示すように、カメラ10で撮像される画像Iにおける基準点pが存在する直線EP1およびカメラ11で撮像される画像Jにおける対応点qが存在する直線EP2、すなわちエピポーラ線EP1およびEP2は、いずれも水平となる。なお、エピポーラ線については、非特許文献1などに解説されているので、ここでの詳細な説明は省略する。
この3次元位置計測装置において、対象物Mを人間の顔とした場合、この対象物Mにおける各点の3次元位置の計測は次のようにして行われる。この3次元位置の計測処理は、ROM20−2に格納された3次元位置計測プログラムに従って、制御部20−1が行う。
制御部20−1は、カメラ10からの対象物Mを捉えた画像Iを入力画像(図5(a))として取り込む(図6に示すステップ101)。また、カメラ11からの対象物Mを捉えた画像J(図5(b))を参照画像として取り込む(ステップ102)。この例では、入力画像Iおよび参照画像Jにおけるエピポーラ線EPは水平となっており、エピポーラ線EPを水平とする座標系に変換する必要はない。
次に、エッジ検出により、入力画像Iおよび参照画像J中から、対象物M(人間の顔)が存在する領域だけを対応点探索の対象領域(以下、オブジェクト領域と呼ぶ)として抽出する(ステップ103)。これにより、図5(c)および(d)に示されるように、オブジェクト領域OB1およびOB2を抽出した入力画像I’および参照画像J’が得られる。
そして、制御部20−1は、入力画像I’中のオブジェクト領域OB1と参照画像J’中のオブジェクト領域OB2とを対象領域として、対応点の探索を行う(ステップ104)。図7にステップ104における対応点の探索処理のフローチャートを示す。制御部20−1は、このフローチャートに従って、対応点の探索を次のようにして行う。
制御部20−1は、オブジェクト領域OB1中の全ての基準点について対応点の探索が完了すると(ステップ210のYES)、各基準点と各対応点とのずれ量dに基づいて、三角測量の原理に基づく下記(2)式によって、カメラから対象物Mの対応点(基準点)までの距離Rを計算する(ステップ105(図6))。
R=f・L/d ・・・・(2)
本実施の形態において、入力画像Iおよび参照画像Jにおけるエピポーラ線の調整は、次のようにして行う。
制御部20−1は、エピポーラ線の調整モードとされると、入力画像Iと参照画像Jとを取り込み(図10に示すステップ301)、2次元位相限定相関法によって入力画像Iと参照画像J間の各対応点を求める(ステップ302)。
現場でも、工場出荷時の調整と同様にして、入力画像Iおよび参照画像Jにおけるエピポーラ線EPの調整を行うことができる。
Claims (2)
- 画像取込手段を介して、対象物を異なる視点から見た複数の画像を取り込む画像取込ステップと、
前記画像取込手段のパラメータおよび基準点から計算されるエピポーラ線に沿って前記複数の画像より所定幅の1次元の画素データ列を切り出す画素データ列切出ステップと、
前記複数の画像から切り出された1次元の画素データ列から位相限定相関関数を計算し、この計算された位相限定相関関数から前記複数の画像中の対応点を探索する対応点探索ステップと、
前記画像取込手段に対して設けられた調整機構を介して前記複数の画像の少なくとも1つについて前記対象物に対する視点を調整する視点調整ステップとを備え、
前記画素データ列切出ステップは、さらに、
前記エピポーラ線に沿って切り出した1次元の画素データ列の近傍の前記エピポーラ線に平行な線に沿う複数の1次元の画素データ列を切り出し、
前記対応点探索ステップは、
前記複数の画像から切り出された複数組の1次元の画素データ列の位相限定相関関数から前記複数の画像中の対応点を探索する
ことを特徴とする対応点探索方法。 - 画像取込手段を介して、対象物を異なる視点から見た複数の画像を取り込む画像取込ステップと、
前記画像取込手段のパラメータおよび基準点から計算されるエピポーラ線に沿って前記複数の画像より所定幅の1次元の画素データ列を切り出す画素データ列切出ステップと、
前記複数の画像から切り出された1次元の画素データ列から位相限定相関関数を計算し、この計算された位相限定相関関数から前記複数の画像中の対応点を探索する対応点探索ステップと、
前記探索された対応点の視差に基づいてその対応点の3次元位置を計測する3次元位置計測ステップと、
前記画像取込手段に対して設けられた調整機構を介して前記複数の画像の少なくとも1つについて前記対象物に対する視点を調整する視点調整ステップとを備え、
前記画素データ列切出ステップは、さらに、
前記エピポーラ線に沿って切り出した1次元の画素データ列の近傍の前記エピポーラ線に平行な線に沿う複数の1次元の画素データ列を切り出し、
前記対応点探索ステップは、
前記複数の画像から切り出された複数組の1次元の画素データ列の位相限定相関関数から前記複数の画像中の対応点を探索する
ことを特徴とする3次元位置計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006304622A JP4993686B2 (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | 対応点探索方法および3次元位置計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006304622A JP4993686B2 (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | 対応点探索方法および3次元位置計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008123142A JP2008123142A (ja) | 2008-05-29 |
JP4993686B2 true JP4993686B2 (ja) | 2012-08-08 |
Family
ID=39507850
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006304622A Expired - Fee Related JP4993686B2 (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | 対応点探索方法および3次元位置計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4993686B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010071922A (ja) * | 2008-09-22 | 2010-04-02 | Yamatake Corp | 3次元位置計測装置 |
JP5338724B2 (ja) * | 2010-03-23 | 2013-11-13 | コニカミノルタ株式会社 | 画像処理装置及び画像処理プログラム |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0516811A (ja) * | 1991-07-08 | 1993-01-26 | Toshiba Corp | 物体検出システム |
JPH07280560A (ja) * | 1994-04-04 | 1995-10-27 | Nippon Soken Inc | 相関演算評価方法 |
JPH07294215A (ja) * | 1994-04-25 | 1995-11-10 | Canon Inc | 画像処理方法及び装置 |
JPH10115506A (ja) * | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Fuji Heavy Ind Ltd | ステレオカメラの調整装置 |
JP2001155154A (ja) * | 1999-11-26 | 2001-06-08 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 移動体搭載撮像装置の撮像ステレオ画像処理方法およびこの方法を実施する装置 |
JP4109077B2 (ja) * | 2002-10-11 | 2008-06-25 | 敬二 実吉 | ステレオカメラの調整装置およびステレオカメラの調整方法 |
JP2004234423A (ja) * | 2003-01-31 | 2004-08-19 | Seiko Epson Corp | ステレオ画像処理方法およびステレオ画像処理装置、並びにステレオ画像処理プログラム |
JP4575027B2 (ja) * | 2004-05-26 | 2010-11-04 | 株式会社山武 | パターン照合装置 |
JP4519678B2 (ja) * | 2005-02-21 | 2010-08-04 | 株式会社東芝 | 電子透かし検出方法及び装置、電子透かし埋め込み方法及び装置 |
-
2006
- 2006-11-09 JP JP2006304622A patent/JP4993686B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008123142A (ja) | 2008-05-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7139424B2 (en) | Stereoscopic image characteristics examination system | |
JP5745178B2 (ja) | 3次元測定方法、装置及びシステム、並びに画像処理装置 | |
JP5580164B2 (ja) | 光学情報処理装置、光学情報処理方法、光学情報処理システム、光学情報処理プログラム | |
JP5715735B2 (ja) | 3次元測定方法、装置、及びシステム、並びに画像処理装置 | |
JP4382797B2 (ja) | 対応点探索方法および3次元位置計測方法 | |
JP4889351B2 (ja) | 画像処理装置及びその処理方法 | |
JP4488804B2 (ja) | ステレオ画像の関連付け方法及び3次元データ作成装置 | |
US10776937B2 (en) | Image processing apparatus and image processing method for setting measuring point to calculate three-dimensional coordinates of subject image with high reliability | |
US7409152B2 (en) | Three-dimensional image processing apparatus, optical axis adjusting method, and optical axis adjustment supporting method | |
KR20150120066A (ko) | 패턴 프로젝션을 이용한 왜곡 보정 및 정렬 시스템, 이를 이용한 방법 | |
US20060215881A1 (en) | Distance measurement apparatus, electronic device, distance measurement method, distance measurement control program and computer-readable recording medium | |
US20020029127A1 (en) | Method and apparatus for measuring 3-D information | |
WO2008133315A1 (ja) | 多点測定方法及び測量装置 | |
WO2011125937A1 (ja) | キャリブレーションデータ選択装置、選択方法、及び選択プログラム、並びに三次元位置測定装置 | |
JP2007323615A (ja) | 画像処理装置及びその処理方法 | |
JP4055998B2 (ja) | 距離検出装置、距離検出方法、及び距離検出プログラム | |
JP2008070120A (ja) | 距離計測装置 | |
JP6040782B2 (ja) | 画像処理装置及びプログラム | |
JP4809134B2 (ja) | 画像処理装置及びその処理方法 | |
JP4993686B2 (ja) | 対応点探索方法および3次元位置計測方法 | |
WO2019097577A1 (ja) | 計測システム、補正処理装置、補正処理方法、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
JPWO2019186985A1 (ja) | 振動計測システム、振動計測装置、振動計測方法、及びプログラム | |
JP2007323616A (ja) | 画像処理装置及びその処理方法 | |
JP2006317418A (ja) | 画像計測装置、画像計測方法、計測処理プログラム及び記録媒体 | |
JP5925109B2 (ja) | 画像処理装置、その制御方法、および制御プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090326 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110614 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110805 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111206 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120123 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120501 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120507 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150518 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |