JP4977421B2 - 部品検査装置 - Google Patents
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Description
(動作)
(発明の効果)
(他の実施例)
2 ボウルフィーダ
3 第1直進フィーダ
4 第1ディスク検査装置
5 移載機構
6 第2ディスク検査装置
13 第1検査ユニット
14 第1選別ユニット
17 第1ディスク(第1円盤)
53 第2検査ユニット
54 第2選別ユニット
57 第2ディスク(第2円盤)
70 反転シュート
73 誘導板(誘導部材)
86 反転シュート
87 誘導板(誘導部材)
W ワーク(被検査部品)
Claims (7)
- 被検査部品を載置して回転方向に搬送可能な第1円盤と、
前記被検査部品を載置して回転方向に搬送可能であり、前記第1円盤の軸方向下側に配置された第2円盤と、
前記第1円盤から前記第2円盤に対して前記被検査部品を上下反転させて移載させる移載機構と、
前記第1及び第2円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する検査ユニットと、
前記検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品を良品と不良品を選別する選別ユニットとを備えており、
前記第1円盤及び前記第2円盤は同軸に配置されており、
前記第2円盤は前記第1円盤より外径が大きい、
部品検査装置。 - 前記第1円盤及び前記第2円盤を駆動する単独の駆動部をさらに備える、請求項1に記載の部品検査装置。
- 前記移載機構は、前記第2円盤に対して、前記第2円盤の回転方向と同じ方向に前記被検査部品を供給する、請求項1又は2に記載の部品検査装置。
- 前記移載機構は、反転シュートを有している、請求項3に記載の部品検査装置。
- 前記移載機構は、前記第1円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を前記反転シュートの入り口に誘導するための誘導部材をさらに有している、請求項4に記載の部品検査装置。
- 前記検査ユニットは、前記第1円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する第1検査ユニットを有しており、
前記選別ユニットは、前記第1検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品の不良品を前記移載機構に到達する前に前記第1円盤から取り除く第1選別ユニットを有している、請求項1〜5のいずれかに記載の部品検査装置。 - 前記検査ユニットは、前記第2円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する第2検査ユニットをさらに有しており、
前記選別ユニットは、前記第2検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品の不良品を前記第2円盤から取り除く第2選別ユニットをさらに有している、請求項6に記載の部品検査装置。
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